JP2001116550A - 水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法 - Google Patents
水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定が容易であり、しかも測定精度を向上で
きる水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法を提供す
る。 【解決手段】 水底地盤の深さを計測するために用いら
れる水底地盤の深さ計測器１である。水底地盤に設置さ
れる基盤２と、この基盤２上に立設され少なくとも上端
が水面より突出すると共に水面下において通水孔６を有
する筒状の柱部３と、この柱部３内の水面に浮かべられ
少なくとも上端が柱部３の上端より上に突出する基準部
とを備える構成とした。基準部は、フロート４Ｂの上面
に標尺４Ａを立設してなる構成とした。
きる水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法を提供す
る。 【解決手段】 水底地盤の深さを計測するために用いら
れる水底地盤の深さ計測器１である。水底地盤に設置さ
れる基盤２と、この基盤２上に立設され少なくとも上端
が水面より突出すると共に水面下において通水孔６を有
する筒状の柱部３と、この柱部３内の水面に浮かべられ
少なくとも上端が柱部３の上端より上に突出する基準部
とを備える構成とした。基準部は、フロート４Ｂの上面
に標尺４Ａを立設してなる構成とした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、水底地盤の深さを
計測する水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法に関す
る。
計測する水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】例えば護岸工事など、水中において盛土
を行う場合には、深さ計測器などを用いて水底地盤の深
さを定期的に計測し、水底地盤の沈下状況を監視するの
が一般的である。
を行う場合には、深さ計測器などを用いて水底地盤の深
さを定期的に計測し、水底地盤の沈下状況を監視するの
が一般的である。
【０００３】図２には、従来の深さ計測器の一例を示
す。この深さ計測器は、計測する水底地盤Ｇに設置され
る基盤１２と、この基盤１２上に立設され、少なくとも
先端が水面Ｐ１より突出するポール１３とを有してい
る。ポール１３には、鉛直方向に単位目盛りが刻まれた
標尺１４が取り付けられている。この深さ計測器によ
り、水底地盤Ｇの基本水準面下の深さ（水底地盤Ｇと基
本水準面Ｐ０の鉛直距離）Ｈを計測する場合には、先
ず、標尺１４の目盛りを読み取って、水面Ｐ１からポー
ル１３の先端までの距離Ｈ１を測定し、次に、ポール１
３の長さＬから前記距離Ｈ１を減算して水深を求め、こ
れに潮位Ｈ２の補正を加える。これにより、水底地盤Ｇ
の基本水準面下の深さＨを求めることができ、この深さ
Ｈを定期的に計測することにより、一定期間における深
さＨの変化、つまり水底地盤の沈下量ΔＨを計測するこ
とができる。
す。この深さ計測器は、計測する水底地盤Ｇに設置され
る基盤１２と、この基盤１２上に立設され、少なくとも
先端が水面Ｐ１より突出するポール１３とを有してい
る。ポール１３には、鉛直方向に単位目盛りが刻まれた
標尺１４が取り付けられている。この深さ計測器によ
り、水底地盤Ｇの基本水準面下の深さ（水底地盤Ｇと基
本水準面Ｐ０の鉛直距離）Ｈを計測する場合には、先
ず、標尺１４の目盛りを読み取って、水面Ｐ１からポー
ル１３の先端までの距離Ｈ１を測定し、次に、ポール１
３の長さＬから前記距離Ｈ１を減算して水深を求め、こ
れに潮位Ｈ２の補正を加える。これにより、水底地盤Ｇ
の基本水準面下の深さＨを求めることができ、この深さ
Ｈを定期的に計測することにより、一定期間における深
さＨの変化、つまり水底地盤の沈下量ΔＨを計測するこ
とができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の深さ計測器では、波により水面Ｐ１が上下に変動す
ることから、標尺１４の目盛りを読み取るのが容易では
なく、しかも読み取り誤差を生じ易いという問題点があ
った。
来の深さ計測器では、波により水面Ｐ１が上下に変動す
ることから、標尺１４の目盛りを読み取るのが容易では
なく、しかも読み取り誤差を生じ易いという問題点があ
った。
【０００５】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたもので、測定が容易であり、しかも測
定精度を向上できる水底地盤の深さ計測器及び深さ計測
方法を提供することを目的とする。
るためになされたもので、測定が容易であり、しかも測
定精度を向上できる水底地盤の深さ計測器及び深さ計測
方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１記載の発明は、水底地盤の深さを計測する
ために用いられる水底地盤の深さ計測器であって、例え
ば、図１に示すように、前記水底地盤に設置される基盤
（２）と、この基盤上に立設され、少なくとも上端が水
面（Ｐ１）より突出すると共に、前記水面下において通
水孔（６）を有する筒状の柱部（３）と、この柱部内の
水面に浮かべられ、少なくとも上端が前記柱部の上端よ
り上に突出する基準部（例えば、フロート付き標尺４な
ど）とを備える構成とした。
め、請求項１記載の発明は、水底地盤の深さを計測する
ために用いられる水底地盤の深さ計測器であって、例え
ば、図１に示すように、前記水底地盤に設置される基盤
（２）と、この基盤上に立設され、少なくとも上端が水
面（Ｐ１）より突出すると共に、前記水面下において通
水孔（６）を有する筒状の柱部（３）と、この柱部内の
水面に浮かべられ、少なくとも上端が前記柱部の上端よ
り上に突出する基準部（例えば、フロート付き標尺４な
ど）とを備える構成とした。
【０００７】この請求項１記載の発明によれば、柱部内
の水面に浮かべられる基準部の少なくとも上端が柱部の
上端より上に突出するため、基準部に対する柱部上端の
鉛直方向における位置に基づいて、柱部内の水面と柱部
上端との鉛直距離を測定することができ、この測定結果
と柱部の鉛直方向の長さと潮位との関係により、水底地
盤の基本水準面下の深さを導き出すことができる。ま
た、基準部が柱部内の水面に浮かべられているので、波
があっても基準部の上下動は少ない。従って、柱部内の
水面と柱部上端との鉛直距離を容易に測定でき、しかも
測定精度を向上することができる。
の水面に浮かべられる基準部の少なくとも上端が柱部の
上端より上に突出するため、基準部に対する柱部上端の
鉛直方向における位置に基づいて、柱部内の水面と柱部
上端との鉛直距離を測定することができ、この測定結果
と柱部の鉛直方向の長さと潮位との関係により、水底地
盤の基本水準面下の深さを導き出すことができる。ま
た、基準部が柱部内の水面に浮かべられているので、波
があっても基準部の上下動は少ない。従って、柱部内の
水面と柱部上端との鉛直距離を容易に測定でき、しかも
測定精度を向上することができる。
【０００８】ここで、「柱部内の水面と柱部上端との鉛
直距離」を測定する方法としては、例えば、トランシッ
ト、レベルなどの測量機器で「基準部上端と柱部上端と
の鉛直距離」を測量することによって測定する方法や、
例えば、水面をゼロとして鉛直方向に目盛りが刻まれた
標尺を基準部に取り付け、標尺の目盛りを読み取ること
によって測定する方法などが挙げられる。
直距離」を測定する方法としては、例えば、トランシッ
ト、レベルなどの測量機器で「基準部上端と柱部上端と
の鉛直距離」を測量することによって測定する方法や、
例えば、水面をゼロとして鉛直方向に目盛りが刻まれた
標尺を基準部に取り付け、標尺の目盛りを読み取ること
によって測定する方法などが挙げられる。
【０００９】請求項２記載の発明は、請求項１記載の水
底地盤の深さ計測器において、例えば、図１に示すよう
に、前記基準部は、フロート（４Ｂ）の上面に標尺（４
Ａ）を立設してなる構成とした。
底地盤の深さ計測器において、例えば、図１に示すよう
に、前記基準部は、フロート（４Ｂ）の上面に標尺（４
Ａ）を立設してなる構成とした。
【００１０】この請求項２記載の発明によれば、フロー
トの上面には標尺が立設されているので、標尺の目盛り
を読み取るだけで、柱部内の水面と柱部上端との鉛直距
離を求めることができる。従って、水底地盤の基本水準
面下の深さを測定するのが容易となる。
トの上面には標尺が立設されているので、標尺の目盛り
を読み取るだけで、柱部内の水面と柱部上端との鉛直距
離を求めることができる。従って、水底地盤の基本水準
面下の深さを測定するのが容易となる。
【００１１】請求項３記載の発明は、請求項１又は２に
記載の水底地盤の深さ計測器を用いた、水底地盤の深さ
計測方法であって、例えば、図１に示すように、前記基
準部に対する前記柱部上端の鉛直方向における位置に基
づいて、前記柱部内の水面と前記柱部上端との鉛直距離
を測定する測定工程と、この測定工程において測定し
た、前記柱部内の水面と前記柱部上端との鉛直距離をＨ
１、この鉛直距離Ｈ１を測定したときの潮位をＨ２、前
記柱部の鉛直方向の長さをＬとして、前記水底地盤の基
本水準面下の深さＨを次式（１） Ｈ＝Ｌ−Ｈ１−Ｈ２ ・・・（１） により演算する演算工程とを有することを特徴としてい
る。
記載の水底地盤の深さ計測器を用いた、水底地盤の深さ
計測方法であって、例えば、図１に示すように、前記基
準部に対する前記柱部上端の鉛直方向における位置に基
づいて、前記柱部内の水面と前記柱部上端との鉛直距離
を測定する測定工程と、この測定工程において測定し
た、前記柱部内の水面と前記柱部上端との鉛直距離をＨ
１、この鉛直距離Ｈ１を測定したときの潮位をＨ２、前
記柱部の鉛直方向の長さをＬとして、前記水底地盤の基
本水準面下の深さＨを次式（１） Ｈ＝Ｌ−Ｈ１−Ｈ２ ・・・（１） により演算する演算工程とを有することを特徴としてい
る。
【００１２】この請求項３記載の発明によれば、測定工
程において、柱部内の水面と柱部上端との鉛直距離Ｈ１
が測定され、演算工程において、前記鉛直距離Ｈ１、潮
位Ｈ２及び柱部の鉛直方向の長さＬをそれぞれ上記式
（１）に代入することにより、水底地盤の基本水準面下
の深さＨが演算される。
程において、柱部内の水面と柱部上端との鉛直距離Ｈ１
が測定され、演算工程において、前記鉛直距離Ｈ１、潮
位Ｈ２及び柱部の鉛直方向の長さＬをそれぞれ上記式
（１）に代入することにより、水底地盤の基本水準面下
の深さＨが演算される。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図１の図面を参照しながら説明する。図１は、本
発明に係る水底地盤の深さ計測器の一実施の形態例を示
す一部破断正面図である。
いて、図１の図面を参照しながら説明する。図１は、本
発明に係る水底地盤の深さ計測器の一実施の形態例を示
す一部破断正面図である。
【００１４】この実施の形態の水底地盤の深さ計測器１
は、図１に示すように、計測する水底地盤Ｇに設置され
る基盤２と、この基盤２上に立設される筒状の柱部３
と、基準部として例示するフロート付き標尺４とを備え
る。
は、図１に示すように、計測する水底地盤Ｇに設置され
る基盤２と、この基盤２上に立設される筒状の柱部３
と、基準部として例示するフロート付き標尺４とを備え
る。
【００１５】基盤２は、例えば、鉄板等により構成さ
れ、水中において柱部３を略鉛直に支持するのに十分な
質量と大きさを有する。柱部３は、水中において鉛直を
維持できる十分な強度を有する材質により構成される。
この実施の形態では、柱部３としてケーシングパイプ
（直径１６５ｍｍ）が用いられている。柱部３は、例え
ば、溶接などにより基盤２に略垂直に取り付けられ、こ
の柱部３と基盤２が交差する部分には、補強部材５，…
が架設されている。また、柱部３は、少なくとも上端が
水面Ｐ１より突出する長さとされる一方、水面下におい
て通水孔６（例えば、直径２５ｍｍ）を有している。即
ち、柱部３の内部は、柱部３の外部と水位が同じであ
り、且つ柱部３の側壁により波が遮られるため水面の上
下動が少ない状態となっている。
れ、水中において柱部３を略鉛直に支持するのに十分な
質量と大きさを有する。柱部３は、水中において鉛直を
維持できる十分な強度を有する材質により構成される。
この実施の形態では、柱部３としてケーシングパイプ
（直径１６５ｍｍ）が用いられている。柱部３は、例え
ば、溶接などにより基盤２に略垂直に取り付けられ、こ
の柱部３と基盤２が交差する部分には、補強部材５，…
が架設されている。また、柱部３は、少なくとも上端が
水面Ｐ１より突出する長さとされる一方、水面下におい
て通水孔６（例えば、直径２５ｍｍ）を有している。即
ち、柱部３の内部は、柱部３の外部と水位が同じであ
り、且つ柱部３の側壁により波が遮られるため水面の上
下動が少ない状態となっている。
【００１６】フロート付き標尺４は、フロート４Ｂの上
面に標尺４Ａを立設してなるもので、柱部３内の水面に
浮かべられている。標尺４Ａは、その上端が柱部３の上
端より上に突出する長さとされる。標尺４Ａには、水面
Ｐ１をゼロとして鉛直方向に目盛りが刻まれていて、柱
部３の上端位置における目盛りを読み取ることにより、
柱部３の上端と柱部３内の水面Ｐ１との鉛直距離を測定
可能となっている。また、水面Ｐ１と柱部３の上端との
鉛直距離は、柱部３の内径と比較して十分大きな値（例
えば、１０００ｍｍ以上）とされ、これにより、標尺４
Ａをほぼ鉛直に保持することが可能となっている。な
お、フロート４Ｂは、耐水性を有し、標尺４Ａを取り付
けた状態において水に浮かぶものであれば、どのような
構造のものとしてもよい。
面に標尺４Ａを立設してなるもので、柱部３内の水面に
浮かべられている。標尺４Ａは、その上端が柱部３の上
端より上に突出する長さとされる。標尺４Ａには、水面
Ｐ１をゼロとして鉛直方向に目盛りが刻まれていて、柱
部３の上端位置における目盛りを読み取ることにより、
柱部３の上端と柱部３内の水面Ｐ１との鉛直距離を測定
可能となっている。また、水面Ｐ１と柱部３の上端との
鉛直距離は、柱部３の内径と比較して十分大きな値（例
えば、１０００ｍｍ以上）とされ、これにより、標尺４
Ａをほぼ鉛直に保持することが可能となっている。な
お、フロート４Ｂは、耐水性を有し、標尺４Ａを取り付
けた状態において水に浮かぶものであれば、どのような
構造のものとしてもよい。
【００１７】次に、上記深さ計測器１を用いた水底地盤
Ｇの深さ計測方法について説明する。
Ｇの深さ計測方法について説明する。
【００１８】先ず、柱部３の上端位置における標尺４Ａ
の目盛りを、目視又は望遠鏡により読み取って、柱部３
内の水面Ｐ１と柱部３の上端との鉛直距離を測定する
（測定工程）。次に、測定した上記鉛直距離をＨ１、測
定時における潮位をＨ２、柱部３の鉛直方向の長さをＬ
として、水底地盤Ｇの基本水準面下の深さＨを次式
（１） Ｈ＝Ｌ−Ｈ１−Ｈ２ ・・・（１） により求める（演算工程）。ここで、柱部３の鉛直方向
の長さＬは、予め判っている定数である。また、潮位Ｈ
２には、例えば、潮位計による計測値などが用いられ
る。
の目盛りを、目視又は望遠鏡により読み取って、柱部３
内の水面Ｐ１と柱部３の上端との鉛直距離を測定する
（測定工程）。次に、測定した上記鉛直距離をＨ１、測
定時における潮位をＨ２、柱部３の鉛直方向の長さをＬ
として、水底地盤Ｇの基本水準面下の深さＨを次式
（１） Ｈ＝Ｌ−Ｈ１−Ｈ２ ・・・（１） により求める（演算工程）。ここで、柱部３の鉛直方向
の長さＬは、予め判っている定数である。また、潮位Ｈ
２には、例えば、潮位計による計測値などが用いられ
る。
【００１９】そして、上記のように深さＨを定期的に計
測することにより、一定期間における上記深さＨの変
化、つまり水底地盤Ｇの沈下量ΔＨを計測することがで
きる。
測することにより、一定期間における上記深さＨの変
化、つまり水底地盤Ｇの沈下量ΔＨを計測することがで
きる。
【００２０】以上のように、この実施の形態の水底地盤
の深さ計測器１によれば、基準部として例示するフロー
ト付き標尺４が柱部３内の水面に浮かべられているの
で、波があってもフロート付き標尺４の上下動は少な
い。従って、標尺４Ａの目盛りを読み取るのが容易とな
り、測定精度を向上することができる。また、フロート
４Ｂの上面には標尺４Ａが立設されているので、標尺４
Ａの目盛りを読み取るだけで、前記鉛直距離Ｈ１を簡単
に求めることができる。
の深さ計測器１によれば、基準部として例示するフロー
ト付き標尺４が柱部３内の水面に浮かべられているの
で、波があってもフロート付き標尺４の上下動は少な
い。従って、標尺４Ａの目盛りを読み取るのが容易とな
り、測定精度を向上することができる。また、フロート
４Ｂの上面には標尺４Ａが立設されているので、標尺４
Ａの目盛りを読み取るだけで、前記鉛直距離Ｈ１を簡単
に求めることができる。
【００２１】なお、本発明は、この実施の形態で示した
水底地盤の深さ計測器１に限定されるものではなく、こ
れ以外にも種々のバリエーションがありえる。例えば、
柱部３の形状及び材質は適宜に変更可能である。また、
この実施の形態では、基準部としてフロート付き標尺４
を例示したが、これに限られるものではなく、柱部３内
の水面に浮かべられた状態で少なくとも上端が柱部３の
上端より上に突出するものであれば、どのような構造の
ものとしても良い。例えば、標尺のない基準部とするこ
とも可能であり、その場合には、例えば、トランシッ
ト、レベルなどの測量機器で「基準部の上端と柱部３の
上端との鉛直距離」を測量することによって、前記鉛直
距離Ｈ１を導き出すことが可能である。また、通水孔６
の形成位置、数量、大きさや、フロート４Ｂの材質、形
状など、その他、具体的な細部構造等についても本発明
の趣旨を逸脱しない範囲で適宜に変更可能であることは
勿論である。
水底地盤の深さ計測器１に限定されるものではなく、こ
れ以外にも種々のバリエーションがありえる。例えば、
柱部３の形状及び材質は適宜に変更可能である。また、
この実施の形態では、基準部としてフロート付き標尺４
を例示したが、これに限られるものではなく、柱部３内
の水面に浮かべられた状態で少なくとも上端が柱部３の
上端より上に突出するものであれば、どのような構造の
ものとしても良い。例えば、標尺のない基準部とするこ
とも可能であり、その場合には、例えば、トランシッ
ト、レベルなどの測量機器で「基準部の上端と柱部３の
上端との鉛直距離」を測量することによって、前記鉛直
距離Ｈ１を導き出すことが可能である。また、通水孔６
の形成位置、数量、大きさや、フロート４Ｂの材質、形
状など、その他、具体的な細部構造等についても本発明
の趣旨を逸脱しない範囲で適宜に変更可能であることは
勿論である。
【００２２】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、基準部が
柱部内の水面に浮かべられているので、波があっても基
準部の上下動は少ない。従って、柱部内の水面と柱部上
端との鉛直距離を容易に測定でき、しかも測定精度を向
上することができる。
柱部内の水面に浮かべられているので、波があっても基
準部の上下動は少ない。従って、柱部内の水面と柱部上
端との鉛直距離を容易に測定でき、しかも測定精度を向
上することができる。
【００２３】請求項２記載の発明によれば、標尺の目盛
りを読み取るだけで、柱部内の水面と柱部上端との鉛直
距離を求めることができる。従って、水底地盤の基本水
準面下の深さを測定するのが容易となる。
りを読み取るだけで、柱部内の水面と柱部上端との鉛直
距離を求めることができる。従って、水底地盤の基本水
準面下の深さを測定するのが容易となる。
【００２４】請求項３記載の発明によれば、測定工程に
おいて、柱部内の水面と柱部上端との鉛直距離Ｈ１が測
定され、演算工程において、前記鉛直距離Ｈ１、潮位Ｈ
２及び柱部の鉛直方向の長さＬをそれぞれ前記式（１）
に代入することにより、水底地盤の基本水準面下の深さ
Ｈが演算される。
おいて、柱部内の水面と柱部上端との鉛直距離Ｈ１が測
定され、演算工程において、前記鉛直距離Ｈ１、潮位Ｈ
２及び柱部の鉛直方向の長さＬをそれぞれ前記式（１）
に代入することにより、水底地盤の基本水準面下の深さ
Ｈが演算される。
【図１】本発明に係る水底地盤の深さ計測器の一実施の
形態例を示す一部破断正面図である。
形態例を示す一部破断正面図である。
【図２】従来の水底地盤の深さ計測器の一例を示す正面
図である。
図である。
１ 水底地盤の深さ計測器 ２ 基盤 ３ 柱部 ４ フロート付き標尺（基準部） ４Ａ 標尺 ４Ｂ フロート ６ 通水孔
Claims (3)
- 【請求項１】水底地盤の深さを計測するために用いられ
る水底地盤の深さ計測器であって、 前記水底地盤に設置される基盤と、 この基盤上に立設され、少なくとも上端が水面より突出
すると共に、前記水面下において通水孔を有する筒状の
柱部と、 この柱部内の水面に浮かべられ、少なくとも上端が前記
柱部の上端より上に突出する基準部とを備えることを特
徴とする水底地盤の深さ計測器。 - 【請求項２】前記基準部は、フロートの上面に標尺を立
設してなることを特徴とする請求項１記載の水底地盤の
深さ計測器。 - 【請求項３】請求項１又は２に記載の水底地盤の深さ計
測器を用いた、水底地盤の深さ計測方法であって、 前記基準部に対する前記柱部上端の鉛直方向における位
置に基づいて、前記柱部内の水面と前記柱部上端との鉛
直距離を測定する測定工程と、 この測定工程において測定した、前記柱部内の水面と前
記柱部上端との鉛直距離をＨ１、この鉛直距離Ｈ１を測
定したときの潮位をＨ２、前記柱部の鉛直方向の長さを
Ｌとして、 前記水底地盤の基本水準面下の深さＨを次式（１） Ｈ＝Ｌ−Ｈ１−Ｈ２ ・・・（１） により演算する演算工程とを有することを特徴とする水
底地盤の深さ計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29420699A JP2001116550A (ja) | 1999-10-15 | 1999-10-15 | 水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29420699A JP2001116550A (ja) | 1999-10-15 | 1999-10-15 | 水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001116550A true JP2001116550A (ja) | 2001-04-27 |
Family
ID=17804706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29420699A Pending JP2001116550A (ja) | 1999-10-15 | 1999-10-15 | 水底地盤の深さ計測器及び深さ計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001116550A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004046647A1 (en) * | 2002-11-19 | 2004-06-03 | Council Of Scientific And Industrial Research | A tide staff system |
| CN108507548A (zh) * | 2018-05-02 | 2018-09-07 | 华侨大学 | 一种海底凹坑几何形态测量装置及其测量方法 |
| WO2018168564A1 (ja) * | 2017-03-12 | 2018-09-20 | 株式会社ナイルワークス | 圃場の水深測定用ドローン |
-
1999
- 1999-10-15 JP JP29420699A patent/JP2001116550A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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