JP2001114537A - 複層ガラス製造装置 - Google Patents

複層ガラス製造装置

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JP2001114537A
JP2001114537A JP29174499A JP29174499A JP2001114537A JP 2001114537 A JP2001114537 A JP 2001114537A JP 29174499 A JP29174499 A JP 29174499A JP 29174499 A JP29174499 A JP 29174499A JP 2001114537 A JP2001114537 A JP 2001114537A
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JP
Japan
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glass
low
heating element
infrared rays
radiate
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JP29174499A
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English (en)
Inventor
Minoru Miyamoto
宮本  実
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Central Glass Co Ltd
Original Assignee
Central Glass Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】判別しようとする板ガラスは、可視域において
高い透過率を有するため、目視による方法および色彩色
差計による方法は、表面の反射光と裏面の反射光の両方
を同時に検知してしまい、反射光の差異を検出すること
が困難であった。 【解決手段】複層ガラスの製造装置において、低放射ガ
ラスを該複層ガラス製造装置に投入する場所で、低放射
ガラスの表面に発熱体の赤外線を照射し、該低放射ガラ
スの表面から赤外線が反射されているかいないかを非接
触温度計を用いて判定することに基づいて、該低放射ガ
ラスの塗膜面を判別することを特徴とする複層ガラスの
製造装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、板ガラス上に低放
射膜の塗膜形成を行った板ガラスを用いて複層ガラスを
製造する場合の、塗膜面を判別する方法および装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】低放射ガラスを複層ガラスに用いる場合
は、塗膜面の摩耗や汚れを防ぐために、複層ガラスの中
空層側に塗膜面を持ってくることが多い。特に、スパッ
タリング法による金属薄膜を塗膜した低放射ガラスにつ
いては、金属薄膜が酸化するために、化学的な耐久性が
ほとんどなく、複層ガラスの中空層側に塗膜面を配置し
なければならない。
【0003】したがって、低放射ガラスを用いて複層ガ
ラスを製造する場合、該ガラスの塗膜面を、複層ガラス
の製造時に判別する必要がある。
【0004】塗膜面の判別は、塗膜面の反射とガラス面
の反射が可視光で異なることを利用して、目視で行った
り、色彩色差計を用いたりしてきた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、判別し
ようとする板ガラスは、可視域において高い透過率を有
するため、目視による方法および色彩色差計による方法
は、表面の反射光と裏面の反射光の両方を同時に検知し
てしまい、反射光の差異を検出することが困難であっ
た。また、裏面を黒色に塗装すれば、表面だけの反射光
を検知できるが、製品に対してそのような処置をするこ
とは出来ない。
【0006】したがって、色差による塗膜面の判別結果
は非常に間違いが多く、信頼性がきわめて低い方法であ
った。さらに、目視観察による判別方法もあるが、かな
りの熟練を要し、判別結果の信頼性は色差計によるの方
法と大差がなかった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、複層ガラスの
製造装置において、低放射ガラスを該複層ガラス製造装
置に投入する場所で、低放射ガラスの表面に発熱体の赤
外線を照射し、該低放射ガラスの表面から赤外線が反射
されているかいないかを非接触温度計を用いて判定する
ことに基づいて、該低放射ガラスの塗膜面を判別するこ
とを特徴とする複層ガラスの製造装置である。
【0008】また、前記複層ガラスの製造装置におい
て、発熱体を温度制御し、赤外線の波長を5〜20μm
にしたことを特徴とする複層ガラス製造装置である。
【0009】また、前記記載の製造装置において、放射
温度計を用いたことを特徴とする複層ガラス製造装置で
ある。
【0010】板ガラスは波長が5μm以上の赤外線に対
し、わずかに反射するのみで、大部分を吸収し、ほとん
ど透過しない。従って、板ガラスに入射した波長が5μ
m以上の赤外線は、ガラスによる吸収のため、裏面から
反射することがない。低放射膜を塗膜形成した板ガラス
の表面からのみ赤外線が反射され、塗膜の赤外線の反射
率が高いほど、ガラス面の反射との差異が大きくなり、
判別の信頼性が高くなる。
【0011】判別に用いる赤外線の波長は、板ガラスが
ほとんど吸収する5μm以上の赤外線であればよいが、
空気中に存在する水蒸気は波長20μm以上の赤外線を
強く吸収するので、赤外線が通過する空気中の水蒸気の
影響を避けるため、20μm以下の波長にすることが好
ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】図1および図2は、本発明の複層
ガラスの製造装置を概略的に示す平面図および立面図で
ある。図3は、複層ガラスを製造する装置全体の概略を
示したものである。
【0013】複層ガラスに組み立てるガラス板4はラッ
クコンベア9に立てて積載されており、ラックコンベア
9からガラス投入機10にガラス板を移動させて、複層
ガラスが製造される。塗膜面判別装置7は、ガラス投入
機10に設置することが好ましく、望ましくは板ガラス
4の両側に設置する。塗膜面の有無を判別した後、ガラ
ス板を塗膜面除去機11に移動し、塗膜のあるガラス板
のみについて、ガラス板の辺近傍で、複層ガラスとした
ときのシール材が接着する範囲の塗膜を除去する。塗膜
面除去機11を通った後、複層ガラス組立機12で板ガ
ラス4は複層ガラスに組み立てられ、検査機13で検査
され、出荷される。なお、複層ガラス組立機では、板ガ
ラス4の洗浄、スペーサーの接着、封止等の行程が実施
される。
【0014】塗膜面判別装置7は発熱体2および非接触
温度計1が高さが調整できる支持台3に固定されたもの
である。
【0015】塗膜面を判別する板ガラス4はガラス搬送
ロール5の上を搬送されて複層ガラスに加工される。
【0016】発熱体2は電気抵抗線ヒータをセラミック
コートした金属板で囲んだものを使用することが望まし
い。この場合、電気抵抗線を通電して発熱させて、セラ
ミックコート膜から出る赤外線を用いる。発熱体の温度
を計測して、電流を制御し、発熱体の温度が一定になる
ようにすることを特徴とするが望ましい。発熱体の温度
変化は、塗膜面の判別に支障がない程度に変動してもよ
い。
【0017】発熱体2の代わりに、ハロゲンランプ、セ
ラミック光源、グローバー光源および高圧水銀灯などの
赤外線光源を用いてもよい。
【0018】発熱体から放射される赤外線を、低放射膜
が塗膜された板ガラス4で反射させ、反射した赤外線を
非接触温度計に入射させて、発熱体の見かけ上の温度を
計測する。低放射ガラスの塗膜の赤外線反射率が高いほ
ど、計測される発熱体の温度は実際の発熱体の表面温度
に近くなる。板ガラス4の赤外線を反射させる面が塗膜
面のないガラス表面の場合、ほとんど赤外線を反射しな
いので、計測される温度は、発熱体表面の温度よりかな
り低い値になる。また板ガラスは波長5μm以上の赤外
線をほとんど吸収するので、裏面に低放射膜があり、裏
面の反射による誤差を小さくするために、赤外線の波長
を5μm以上にすることが望ましい。
【0019】非接触温度計は放射温度計を用いることが
好ましい。
【0020】塗膜面の判別は、計測された温度の値の大
小、あるいは、発熱体の温度と計測された温度の比を求
め、この比の大小で行う。
【0021】発熱体温度と非接触温度計で測定された温
度の比による判別は、発熱体温度が変化しても、判別に
ほとんど影響しないので、非接触温度計の測定値でのみ
判別するよりも好ましい。
【0022】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明を詳細に説
明する。
【0023】図1に示す非接触温度計と発熱体を、図3
に示す複層ガラス製造装置のガラス投入機10に設置
し、図4に示すように、赤外線の入射と反射の開き角度
θを30度とし、非接触温度計と板ガラスからの光路長
L2を150mm、発熱体から板ガラスまでの光路長L
1を90mmとした。
【0024】非接触温度計には赤外線の波長が8〜14
μmで測定可能な放射温度計を用い、発熱体は容量10
0Wで、高放射率のセラミックコーティング板を用い
た。なお、発熱体表面の温度を熱電対で測定し、発熱体
温度を制御した。
【0025】発熱体表面温度を100℃に設定したとこ
ろ、低放射膜面側で赤外線を反射させた場合は89℃と
計測され、また塗膜の無いガラス面で赤外線を反射させ
た場合は40℃と計測され、ほぼ100%の確実性で、
塗膜面を判別して複層ガラスを生産することができた。
【0026】
【発明の効果】本発明の複層ガラスの製造装置により、
低放射ガラスの膜面を確実に判別して、複層ガラスを生
産することすることが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】装置の概略を示す平面図。
【図2】装置の概略を示す立面図。
【図3】複層ガラス製造装置の機械配置の概略を示すブ
ロック図。
【図4】実施例における発熱体と放射温度計および板ガ
ラスの位置関係を示す図。
【符号の説明】
1 非接触温度計 2 発熱体 3 高さ調節台 4 板ガラス 5 ガラス搬送ロール 6 赤外線 7 塗膜面判別装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複層ガラスの製造装置において、板ガラス
    の投入位置に、低放射ガラスの表面に赤外線を照射する
    ための発熱体と、該低放射ガラスの表面から反射される
    赤外線量測定するための非接触温度計を設けたことを特
    徴とする複層ガラスの製造装置。
  2. 【請求項2】発熱体を温度制御し、赤外線の波長を5〜
    20μmにしたことを特徴とする請求項1記載の複層ガ
    ラス製造装置。
  3. 【請求項3】非接触温度計に放射温度計を用いたことを
    特徴とする請求項1乃至請求項2に記載の複層ガラス製
    造装置。
JP29174499A 1999-10-14 1999-10-14 複層ガラス製造装置 Pending JP2001114537A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007292631A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Central Glass Co Ltd ガラス板面の識別方法およびその装置

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