JP2001099901A

JP2001099901A - テストパタン圧縮方法とテストパタン圧縮装置及びシステム並びに記録媒体

Info

Publication number: JP2001099901A
Application number: JP27604699A
Authority: JP
Inventors: Tamaki Toumiya; 玉紀東宮
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1999-09-29
Filing date: 1999-09-29
Publication date: 2001-04-13
Anticipated expiration: 2019-09-29
Also published as: JP3430079B2; US6751767B1

Abstract

(57)【要約】【課題】再乱数故障シミュレーションによるパタン圧縮
を高速化するとともに、圧縮効率の向上を図る方法及び
システムの提供。【解決手段】ローカルＣＰＵにおいて故障を複数のグル
ープに分割してリモートＣＰＵに割り当て、論理回路の
回路情報とテストパタン、乱数系列初期値情報をリモー
トＣＰＵに供給し、リモートＣＰＵではテストパタン中
の不定値に対して乱数系列初期値情報から乱数を生成し
て０／１を割り付けてテストパタンを生成して故障シミ
ュレーションを実行し、テストパタンの故障検出能力を
検証し故障検出に関与しない端子に対して不定値を割り
当てたテストパタンを生成し、ローカルＣＰＵでは、生
成された複数のテストパタンを取得し、前記複数のテス
トパタンの各々について、まず、異なる処理装置のテス
トパタンの同一パタン番号のパタン同士をマージしてな
るテストパタンを生成し、生成されたテストパタンに対
してパタン番号間のパタンマージを試みる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、論理回路のテスト
パタン生成技術に関し、特に、論理回路の故障を検出す
るテストパタンを圧縮する方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近時、ＬＳＩの大規模化に伴い、論理Ｌ
ＳＩ等の論理回路の故障を検出するためのテストパタン
を生成するテストパタン生成工程において、生成したテ
ストパタンをＬＳＩ試験装置に供給する前に、該テスト
パタンにおける故障検出率を低下させることなくテスト
パタンのパタン長を縮減させるためのパタン圧縮処理工
程を設け、該パタン圧縮処理工程によって圧縮されたテ
ストパタンをＬＳＩ試験装置に供給するという方法が一
般的に用いられている。これは、ＬＳＩの高集積化・高
機能化に伴いテストパタンが大規模化しており、ＬＳＩ
試験装置に具備されるテストパタンメモリ（ローカルメ
モリ）の容量の制限等から、事前にテストパタンの圧縮
処理を行うことで、試験の効率化を図るためである。

【０００３】従来より、テストパタンの圧縮について
は、故障を検出するテストパタンに対して故障検出能力
を低下させない不定値（「不確定値」ともいう）Ｘ（Do
n't Care）の割り当てを行い、不定値Ｘが割り当てら
れている複数のテストパタンについて所定の規則に従い
パタンマージ（併合）を試みることで、テストパタンの
圧縮が行われている。そして、故障を検出するテストパ
タンにおける不定値Ｘの割り当てとしては、故障検出に
関与しない入力端子、例えば、故障が検出された出力端
子に対する経路を持たないような入力端子に不定値Ｘを
割り付ける方法が知られている。

【０００４】テストパタンは、行（ロウ）と列（カラ
ム）からなり、最初から何番目の行であるかをパタン番
号という。またカラムは論理回路の端子に対応してお
り、一行のパタンは、ＬＳＩ試験装置において同時に被
試験デバイス（論理回路）の入力端子に印可されるもの
であり、「テストベクタ」ともいう。なおテストパタン
としては、被試験デバイスの入力端子に印可するパタン
を扱う。

【０００５】以下、論理回路の故障モデル、テストパタ
ン内への不定値Ｘの割り当てについて説明する。論理回
路の故障シミュレーションで扱う故障は、モデル化され
た論理故障であり、通常、単一縮退故障モデルが用いら
れる。この単一縮退故障モデルとは、例えばゲート回路
の出力がその入力とは関係なく常に０に固定される故障
（０縮退故障、stuck-at-0）又は１に固定される故障
（１縮退故障：stuck-at-1）がある。

【０００６】まず、図１０（ａ）に示した組み合わせ回
路を例に論理回路の故障について概説しておく。この組
み合わせ回路において、例えば論理和回路ＯＲ２の出力
が１縮退故障ＳＡ１（stuck-at-1）の場合、ＯＲ２の出
力が“０”となるべきパタンをＯＲ２の入力端に供給し
ても、その出力は“０”とはならず常に“１”を出力す
る。そこで、ＯＲ２の出力が１縮退故障であることを検
出するパタンにおいては、ＯＲ２の２入力に“０”を入
力した際に、ＯＲ２から“１”が出力されることを検出
する必要があり、このためＯＲ２への２入力は（０、
０）とされ、ＯＲ２の出力が一の入力端に接続されてい
る論理積回路ＡＮＤ６に他の入力端に、その出力が接続
されているＯＲ３の出力を“１”とする必要がある。
“０”を出力するＯＲ１への２入力は（０、０）とさ
れ、また“０”を出力するＡＮＤ３の２入力は一方が
“０”であればよい。そして出力端がＯＲ１の入力に接
続されているＡＮＤ１、ＡＮＤ２は、２つ入力のうちそ
れぞれ一方が“０”であればよい。またＯＲ３の２つの
入力はその一方が“１”であればよく、ＡＮＤ４の出力
を“１”とした場合、ＡＮＤ４の２入力はともに“１”
とされ、ＡＮＤ５の出力は“０”又は“１”のいずれで
あってもよい。

【０００７】論理回路の故障を検出するテストパタンに
おいて、入力端子に割り当てられる値が“０”又は
“１”のいずれであってもよいものは、パタン圧縮のた
めに、不定値Ｘが割り当てられる。なお、テストパタン
中の不定値Ｘは、ＬＳＩ試験装置に入力される場合、
“０”又は“１”に設定される。

【０００８】図１０（ａ）に示すように、ＯＲ２の出力
のＳＡ１故障を検出するために、論理回路の入力端子Ｉ
１〜Ｉ10に入力されるテストパタンは、[0 1 0 0 1 0 1
1 01]とされているが、図１０（ｂ）に示すように、端
子I2、I3、I5、I9、I10は、故障検出に関与しない端子
であることからそれぞれ不定値Ｘが割り付けられ、その
結果、生成されたテストパタンは、［0 X X 0 X 0 1 1
X X］となる。不定値Ｘが割り付けられたテストパタン
は、予め定められた所定の規則により他のテストパタン
と行方向にマージされて圧縮される。なお、パタンマー
ジ処理については後に詳述する。

【０００９】またテストパタンの圧縮として、テストパ
タンの並びを入れ替える方法等も従来より知られてい
る。

【００１０】次に、従来のテストパタン圧縮に用いられ
るシステム構成及び動作について説明する。

【００１１】図８は、従来のシステム構成を示す図であ
る。図８を参照すると、パタン圧縮処理を実行する情報
処理装置（「ローカルＣＰＵ」：という）１０Ａにおい
て、試験対象となる論理回路の回路情報３０１を回路情
報読込手段３０４から装置内に読み込み、故障情報３０
２を故障情報読み込み手段３０５から装置内に読み込
み、テストパタン（パタン情報）３０３をパタン情報読
込手段３０６にて装置内に読み込み、全ての故障につい
て再乱数故障シミュレーションを行っている。圧縮対象
となるテストパタン３０３はＡＴＰＧ（Automatic Tes
t Pattern Generation；自動テストパタン生成ツー
ル）により自動で作成されるか、もしくは半自動又は人
手で作成されているものとする。また上記各読み込み手
段３０４、３０５、３０６は、回路情報３０１、故障情
報３０２、パタン情報３０３の各情報がファイル装置に
格納されている場合には、ファイル装置からの入力手段
よりなり、一方、上記回路情報３０１、故障情報３０
２、パタン情報３０３の各情報がネットワーク接続され
た不図示のサーバ装置等に存在する場合には、上記各読
み込み手段３０４、３０５、３０６は、該サーバから回
路情報３０１、故障情報３０２、パタン情報３０３の各
情報をダウンロードする通信手段よりなる。

【００１２】故障情報３０２は、故障と、該故障の論理
回路上での挿入箇所（ノード情報）の対情報のリストか
らなる。上記したように、故障シミュレータで扱う故障
は、論理故障であるＳＡ０（stuck-at-0）又はＳＡ１
（stuck-at-1）が用いられる。

【００１３】再乱数故障シミュレーションは、テストパ
タン中の不定値に対して、乱数を用いて、“０”又は
“１”を割り付けることで不定値を活性化させ、故障シ
ミュレーションを行うものである。

【００１４】すなわち、パタン情報読み込み手段３０６
で装置内に読み込まれたテストパタンには、前述したよ
うに、パタンマージによるパタン圧縮を行うために、故
障検出に必要でない箇所には、不定値Ｘが挿入されてい
る。

【００１５】このテストパタンに対して、不定値Ｘに、
“０”又は“１”を割り当てることで不定値を活性化
し、検査対象の論理回路内部での不定値をなくしてい
る。その際、乱数発生及び不定値への割付手段３０９
で、乱数系列初期値設定手段３０７で設定された乱数系
列初期値情報３０８に基づき生成される疑似乱数を用い
て、その生起確率をランダムなものとした“０”又は
“１”のシーケンスを、順次不定値Ｘに割り当てること
で、不定値Ｘを活性化させたテストパタン３１０を生成
する。このように、乱数を用いて不定値Ｘを活性化させ
ることで、故障検出の可能性を拡げている。

【００１６】疑似乱数を用いて不定値が活性化されたテ
ストパタン３１０と、読み込んだ回路情報、故障情報を
用いて、故障シミュレーション手段３１１で故障シミュ
レーションを実行する。

【００１７】故障シミュレーション手段３１１は、よく
知られているように、故障情報３０２に規定されている
故障を論理回路のノード上に設定し、テストパタンを入
力として、該論理回路を論理シミュレータで論理シミュ
レーションした結果の出力パタンと、故障が挿入されな
い状態で、該テストパタンを入力として該論理回路を論
理シミュレータで論理シミュレーションした出力パタン
とが互いに不一致のとき、故障が検出されたものとす
る。

【００１８】そして、故障シミュレーション手段３１１
から出力された故障検出結果に基づき、不定値を活性化
したテストパタンに対して、パタン番号ごとの故障検出
能力を検証し、故障を検出しないパタン番号のパタンを
破棄し、また故障を検出するパタン番号についても故障
検出に関与しない端子には、不定値割付手段３１２で不
定値Ｘを割り付けてテストパタン（パタン情報）３１３
を作成する。

【００１９】不定値割付手段３１２から出力されたテス
トパタンをパタンマージ手段３１５でマージし、所定の
条件を満たす場合、マージされたテストパタンをパタン
出力手段３１６が出力パタン情報３１７として出力す
る。

【００２０】また故障検出状態リスト出力手段３１８
は、故障検出状態情報３１４からファイル又は出力装置
に出力故障検出状態情報３１９を出力する。

【００２１】図９は、従来のシステムのパタン圧縮処理
を説明するための流れ図である。図１１は、再乱数故障
シミュレーションを用いたパタン圧縮を説明するための
模式図である。図９及び図１１を参照して、従来のシス
テムのパタン圧縮処理について説明する。

【００２２】回路情報、故障情報、及びテストパタンを
読み込む（ステップＳ２１〜Ｓ２３）。

【００２３】論理回路に対して定義された故障リストｆ
１〜ｆ８（図１１（ａ）参照）を検出するためのテスト
パタンが作成され、パタン番号１のパタン（「パタン
１」という）は故障ｆ１、ｆ２、ｆ３を検出し、パタン
番号２のパタン（「パタン２」という）は故障ｆ４、ｆ
５、ｆ６を検出し、パタン番号３のパタン（「パタン
３」という）は故障ｆ７、ｆ８を検出する（図１１
（ｂ）参照）。

【００２４】次に、乱数系列の初期値を設定した後、パ
タン１〜３に対して、疑似乱数を用いて不定値Ｘに
“０”又は“１”を割り当てる（図９のステップＳ２
４、Ｓ２５）。割り当て方法の一例としては、例えば数
値０．０と１．０の間の疑似乱数を生成する関数の値が
０．５未満か以上であるかにより“０”、“１”を割り
当てるという方法等が用いられる。ここで、乱数系列の
初期値設定とは、疑似乱数生成関数において疑似乱数の
計算に用いる初期値を設定するものであり、疑似乱数生
成関数（ローカルＣＰＵ上のプロセッサで実行される）
は、与えられた初期値を最初の乱数Ｒ₀（「たね乱数」
ともいう）として所定の漸化式Ｒ_n+1＝ｆ（Ｒ_n）等によ
る算術演算を実行することで、順次、乱数系列（Ｒ₁、
Ｒ₂、…Ｒ_m、…）を生成する。

【００２５】例えば図１１（ｂ）に示すパタン１〜３に
対して、パタン１のカラム９、１０、１３、１４の不定
値Ｘが、疑似乱数系列の１〜４番目の乱数（Ｒ₁〜Ｒ₄）
による“０”又は“１”の割り付けによる不定値の活性
化対象となり、パタン２のカラム４、６、１０、１３、
１４の不定値Ｘが、疑似乱数系列の５〜９番目の乱数
（Ｒ₅〜Ｒ₉）による“０”又は“１”の割り付けによる
不定値の活性化対象となり、パタン３のカラム３、４、
６、８、１０、１２、１４の不定値Ｘが、疑似乱数系列
の１０〜１６番目の乱数（Ｒ₁₀〜Ｒ₁₆）による“０”又
は“１”の割り付けによる不定値の活性化対象となり、
上記疑似乱数のシーケンスに基づき“０”又は“１”が
割り付けられたテストパタン（不定値を活性化したテス
トパタン）として、例えば図１１（ｃ）に示すようなパ
タン１〜３となる。

【００２６】再び、図９を参照して、不定値Ｘを“０”
又は“１”で活性化したテストパタンを用いて、故障シ
ミュレーションを行う（ステップＳ２６）。

【００２７】故障シミュレーションの結果、図１１
（ｄ）に示す例においては、パタン１では、故障ｆ１〜
ｆ４、ｆ５、ｆ８を検出し、パタン２は、故障ｆ５、ｆ
６、ｆ７を検出し、パタン３では故障を検出できない。

【００２８】この結果、図１１（ｅ）に示すように、故
障を検出しないパタン３は破棄され、パタン１、パタン
２のパタン長２に圧縮され、さらに、各パタンで故障検
出に関係しない端子に不定値を割り付ける。

【００２９】ここで、パタン３を破棄するとは、パタン
３のすべての端子が故障検出に関与しないことと等価で
あり、パタン３の全端子に不定値Ｘを割り付け、全端子
に不定値Ｘが割り付けられたパタンは、パタンマージ手
段３１５で、他の任意のパタンとマージされることか
ら、実質的に削除されることに相当する。すなわち、図
１１（ｅ）の段階でパタン３を削除せずに、図１１
（ｆ）の工程で、パタン３のすべてのカラムの値を不定
値Ｘとしたパタン［X X X X X X X X X X X X X X XX］
を生成してもよい。

【００３０】そして、作成されたテストパタンをパタン
マージ手段３１５でパタンマージする（図９のステップ
Ｓ２７）。

【００３１】つづいて、パタンマージされたテストパタ
ンが、予め定められた所定の終了を満たしているか否か
を判定し（図９のステップＳ２８）、終了条件を満たさ
ない場合には、図９のステップＳ２４の乱数系列の初期
値設定から処理を繰り返し、一方、終了条件を満たす場
合には、条件パタン出力手段３１６から出力パタン情報
を出力する（図９のステップＳ２９）。ここで、終了条
件としては、故障検出率が予め設定された目標故障検出
率に達した場合等が用いられる。あるいは、パタン圧縮
率が予め設定された一定値に達している場合、もしくは
繰り返し回数が所定の回数を超えた場合等であってもよ
い。

【００３２】次に、パタンマージ手段３１５の処理につ
いて詳細に説明する。２つのパタンに対して、ある端子
（カラム）についてその値が互いに同じであるか、また
は少なくとも一方が不定値Ｘである場合、「マージ可能
である」といい、２つのパタンがすべての端子（カラ
ム）についてマージ可能である場合、該２つのパタン
は、マージ可能であるという。この条件を満たさない２
つのパタンはマージ不可能である。

【００３３】マージ可能な２つのパタンは１つのパタン
にマージされ、マージ後のパタンはそれぞれのカラムに
おいて、２つのパタンで共通の値又は不定値でない方の
値となる。

【００３４】図１２に示した例を参照して、パタンマー
ジについて具体的に説明する。図１２に示すように、パ
タン番号１のパタンは［X 1 0 X X 0 X 1］、パタン番
号２のパタンは［X X 0 1 X 0 0 1］であり、パタン番
号１、２において、入力端子ａ、ｅに対応するカラムは
ともに不定値Ｘであり、入力端子ｃ、ｈに対応するカラ
ムはともに“０”、“１”であり、入力端子ｂ、ｄ、
ｆ、ｇに対応するカラムは一方が不定値Ｘ、他方が
“０”又は“１”であり、全ての端子ａ〜ｈについてマ
ージ可能であることから、２つのパタンは、１つパタン
にマージされ、マージ後のパタン［X 1 0 1 X 0 0 1］
に圧縮される。

【００３５】パタンマージ手段３１５では、テストパタ
ン中の全てのパタン番号の組み合わせに対してパタンの
マージを試みる。

【００３６】また、図８には示されていないが、テスト
パタンの順序を逆転するようにしてもよい。これは、パ
タン番号の並びを逆順に並び替えて故障シミュレーショ
ンを行うものであり、故障検出に必要でないパタンを特
定し、これを破棄することで、テストパタンを圧縮する
ものである。逆転故障シミュレーション方法は、文献
（“SOCRATES:A Highly Efficient Automatic Test Pat
tern Generation System." IEEE. Trans. On CAD.,pp12
6-137, Jan.1988）等の記載が参照される。このよう
に、テストパタンの順序を逆転する工程を含む場合も、
上記した処理手順に従い、テストパタン中の不定値への
乱数を用いた“０”又は“１”の割付、故障シミュレー
ション、テストパタンへの不定値の割付、パタンマー
ジ、パタン順序の逆転を所定の終了条件を満たすまで繰
り返す。

【００３７】なお、テストパタンに不定値を割り付ける
手段、パタンマージ手段については、例えば特開平８−
２１２７９９号公報等の記載が参照される。またテスト
パタンに対して“０”または“１”のいずれかの状態を
割り当てる工程、不定値に０又は１が割り当てられたテ
ストパタンのうちで論理回路の故障を検出できないテス
トパタンを破棄するとともに、テストパタン内で故障を
検出するのに不要な箇所を不定値に変更する工程、破棄
されずに残ったテストパタンのうちで所定の規則にした
がって併合することが可能なテストパタン同士を併合す
る工程、テストパタンセットに含まれる複数のテストパ
タンの順序の変更する工程を含む方法は、特願平１１−
１３９１４４号（本願出願時未公開）等の記載も参照さ
れる。

【００３８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の方法は、パタン圧縮に要する処理時間が長い、
という問題点を有している。

【００３９】その理由は、テストパタン中の不定値への
乱数を用いた“０”又は“１”の割り付け、故障シミュ
レーション、テストパタンへの不定値の割り付け、パタ
ンマージによるパタン圧縮のための一連の処理を単一の
情報処理装置上で行っているためである。

【００４０】故障シミュレーションは正常な論理回路と
故障を挿入した論理回路とのシミュレーション結果を比
較するものであるため、検査対象の論理回路の回路規模
の増大、及び論理回路に対して定義される故障の数の増
加に伴い、故障解析に要する処理時間は増大する。すな
わち、大規模集積回路等に対して、パタン圧縮のための
一連の処理を単一の情報処理装置上で行う場合、膨大な
演算量が必要とされ、処理時間は長大化の一途を辿るこ
とになる。

【００４１】したがって本発明は、上記問題点に鑑みて
なされたものであって、その目的は、再乱数故障シミュ
レーションによるパタン圧縮を高速化するとともに、圧
縮効率の向上を図る方法、システム及び装置、並びにプ
ログラムを記録した記録媒体を提供することにある。こ
れ以外の本発明の目的、特徴、作用効果については、当
業者であれば以下の説明から直ちに明らかとされるであ
ろう。

【００４２】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明に係る方法は、論理回路に対して定義される故障を検
査するテストパタン中の不定値に対して、乱数系列に基
づき“０”又は“１”を割り付けることで前記不定値を
活性化したテストパタンを作成し、前記不定値を活性化
したテストパタンを用いて前記論理回路の故障シミュレ
ーションを実行し、前記故障シミュレーションの実行結
果に基づき、前記不定値を活性化したテストパタン中で
故障検出に関与しない端子の値に不定値を割り付けてな
るテストパタンを生成出力する工程を含む再乱数故障シ
ミュレーション工程と、前記再乱数故障シミュレーショ
ン工程によって生成出力される前記テストパタンに対し
てパタンマージを行う工程と、を複数の処理装置で分散
して行うパタン圧縮方法であって、前記論理回路に対し
て定義される故障を前記複数の処理装置の数に適合させ
て複数のグループに分割して前記複数の処理装置にそれ
ぞれ割り当て、前記複数の処理装置が、前記各処理装置
にそれぞれ割り当てられた故障グループを用いて前記論
理回路に対する前記再乱数故障シミュレーション工程を
互いに独立して実行する、ことを特徴とする。

【００４３】本発明においては、前記乱数の初期値を、
前記再乱数故障シミュレーション工程を実行する複数の
処理装置間で共通に用いることにより、前記複数の処理
装置での再乱数故障シミュレーションによる圧縮前のテ
ストパタンを同一とし、テストパタン長の増大を抑止し
ている。

【００４４】本発明においては、前記複数の処理装置で
の前記再乱数故障シミュレーション工程実行の結果生成
されたテストパタンをパタンマージする際に、異なる処
理装置で生成されたテストパタンに対して、同じパタン
番号のパタン同士をマージすることによって圧縮前のテ
ストパタンと同じ長さに保ち、その後、異なるパタン番
号のパタン同士をパタンマージを行い、テストパタンの
長さを圧縮する。

【００４５】本発明に係る装置は、一の処理装置と、前
記一の処理装置にそれぞれ接続される第１乃至第Ｎ（但
しＮは２以上の正整数）の処理装置を備え、テストパタ
ンを圧縮して出力する装置において、前記一の処理装置
が、検査対象の論理回路に対して定義される故障を複数
のグループ（「故障グループ」という）に分割し、前記
分割した故障グループを、前記第１乃至第Ｎの処理装置
に割り当てる故障分割手段と、を備え、前記分割した故
障グループを対応する前記第１乃至第Ｎの処理装置にそ
れぞれ供給するとともに、前記論理回路の回路情報と、
圧縮処理対象のテストパタンと、乱数系列の初期値情報
とを、前記第１乃至第Ｎの処理装置に供給し、前記第１
乃至第Ｎの処理装置は、それぞれ、前記テストパタン中
の不定値に対して、前記乱数系列の初期値情報から生成
された乱数系列に基づき“０”又は“１”を割り付けて
不定値を活性化したテストパタンを生成する手段と、前
記論理回路に前記分割された故障を挿入し前記不定値を
活性化したテストパタンを用いて故障シミュレーション
を実行する手段と、前記故障シミュレーションの実行に
よって得られた故障検出結果情報に基づき、前記不定値
を活性化したテストパタンの故障検出能力を検証し、前
記不定値を活性化したテストパタンに対して前記論理回
路の故障検出に関与しない入力端子に不定値を割り当て
てなるテストパタンを生成する不定値割付手段と、を備
え、前記一処理装置が、前記第１乃至第Ｎの処理装置の
前記不定値割付手段によりそれぞれ生成されたテストパ
タンを取得し、前記複数のテストパタンについて、ま
ず、異なる処理装置で生成されたテストパタンの同一パ
タン番号のパタン同士をマージしてなる一のテストパタ
ンを生成し、前記生成された一のテストパタンに対して
パタン番号間でのパタンマージを試みるパタンマージ手
段を備えた、ことを特徴とする。

【００４６】本発明に係る記録媒体は、一の処理装置
と、前記一の処理装置にそれぞれ接続される第１乃至第
Ｎ（但しＮは２以上の正整数）の処理装置を備え、テス
トパタンを圧縮して出力する装置において、（ａ）検査
対象の論理回路に対して定義される故障を複数のグルー
プに分割し、前記分割した故障を前記第１乃至第Ｎの処
理装置に割り当てる分割処理と、（ｂ）前記分割した故
障情報を前記第１乃至第Ｎの処理装置にそれぞれ供給す
るとともに、前記論理回路の回路情報と、圧縮処理対象
のテストパタンと、乱数系列生成の初期値情報とを前記
第１乃至第Ｎの処理装置に供給する処理と、（ｃ）前記
第１乃至第Ｎの処理装置でそれぞれ生成された複数のテ
ストパタンを取得し、前記複数のテストパタンについ
て、まず、異なる処理装置で生成されたテストパタンの
同一番号のパタン同士をマージしてなる一のテストパタ
ンを生成し、前記生成された一のテストパタンに対して
パタン番号間でのパタンマージを試みる処理と、の上記
（ａ）乃至（ｃ）の処理を前記一の処理装置で実行させ
るためのプログラムを記録したものであり、（ｄ）前記
一の処理装置から送信された前記テストパタン中の不定
値に対して、前記乱数系列生成の初期値情報から疑似乱
数系列を生成して“０”又は“１”を割り付けることで
前記不定値を活性化したテストパタンを生成する処理
と、（ｅ）前記論理回路に前記分割された故障を挿入し
前記不定値を活性化したテストパタンを用いて故障シミ
ュレーションを実行する処理と、（ｆ）前記故障シミュ
レーションの実行によって得られた故障検出結果情報に
基づき、前記不定値を活性化したテストパタンの故障検
出能力を検証し、前記不定値を活性化したテストパタン
に対して前記論理回路の故障検出に関与しない入力端子
の値に不定値を割り当てたテストパタンを生成する処理
と、の上記（ｄ）乃至（ｆ）の処理をそれぞれ前記第１
乃至第Ｎの処理装置で実行させるためのプログラムをそ
れぞれ記録している。

【００４７】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について説明
する。本発明は、その好ましい一実施の形態において、
システム構成として、一の処理装置（１０）と、この一
の処理装置（１０）に接続される第１乃至第Ｎ（但しＮ
は２以上の正整数）の処理装置（２０ ₁〜２０_N）とを備
えた分散処理システムとして構成されている。

【００４８】この一の処理装置（１０）において、論理
回路の故障シミュレーションに挿入される故障を複数の
グループに分割し、分割した故障を前記第１乃至第Ｎの
処理装置（２０₁〜２０_N）に割り当て、それぞれ対応す
る第１乃至第Ｎの処理装置（２０₁〜２０_N）に供給する
とともに、前記論理回路の回路情報と、圧縮処理対象の
テストパタンと、乱数系列生成の初期値情報とを第１乃
至第Ｎの処理装置（２０₁〜２０_N）に対して供給する。

【００４９】第１乃至第Ｎの処理装置（２０₁〜２０_N）
では、それぞれ、前記テストパタン中の不定値に対し
て、共通の乱数系列生成の初期値情報から疑似乱数を生
成して“０”又は“１”を割り当てることで、不定値を
活性化したテストパタンを生成する。第１乃至第Ｎの処
理装置（２０₁〜２０_N）の乱数発生及び不定値への割付
手段２０１において、共通の初期値情報から共通の算術
演算処理により疑似乱数系列を生成した場合、第１乃至
第Ｎの処理装置（２０₁〜２０_N）において共通の疑似乱
数系列が生成され、該テストパタン中の不定値に対し
て、順次、乱数の値に基づき、“０”又は“１”を割り
当てることで生成されるテストパタンは、第１乃至第Ｎ
の処理装置（２０₁〜２０_N）の間で同一の内容となる。

【００５０】つづいて、第１乃至第Ｎの処理装置（２０
₁〜２０_N）では、それぞれ、前記分割された故障を前記
論理回路に挿入し、前記不定値を活性化したテストパタ
ンを用いて前記論理回路の故障シミュレーションを実行
する。

【００５１】次に、第１乃至第Ｎの処理装置（２０₁〜
２０_N）では、それぞれ、故障シミュレーションの実行
によって得られた故障検出結果情報に基づき、前記不定
値を活性化したテストパタンの故障検出能力を検証し、
故障の検出を行わないパタン番号は削除し、前記不定値
を活性化したテストパタンに対して、故障を検出するパ
タン番号（行）のパタンについて、前記論理回路の故障
検出に関与しない入力端子に対応するカラムに不定値を
割り当てたテストパタンを生成する。

【００５２】一の処理装置（１０）では、第１乃至第Ｎ
の処理装置（２０₁〜２０_N）から取得した複数のテスト
パタンについて、まず、異なる処理装置で生成されたテ
ストパタンの同一パタン番号のパタン同士をマージして
生成してなるテストパタンに対して、異なるパタン番号
間でのパタンのマージを試みる。そしてパタンマージ後
のテストパタンが所定の終了条件を満たすものであるか
否かを判定し、終了条件を満たさない場合には、テスト
パタン及び乱数の初期値情報を、第１乃至第Ｎの処理装
置（２０₁〜２０_N）に供給し、第１乃至第Ｎの処理装置
（２０₁〜２０_N）では、再び、不定値の活性化、故障シ
ミュレーション、不定値の割付処理を行い、一の処理装
置（１０）では第１乃至第Ｎの処理装置（２０₁〜２
０_N）から取得した複数のテストパタンについてパタン
をマージする。一方、所定の終了条件を満たす場合に
は、一の処理装置（１０）はパタン情報を出力する。

【００５３】本発明の一実施の形態によれば、パタン圧
縮を複数の処理装置で同時並行的に分散して行っている
ため、パタン圧縮の時間を特段に短縮することができ
る。

【００５４】また、不定値を活性化したテストパタンを
生成するための乱数の初期値を、再乱数故障シミュレー
ション工程を実行する複数の処理装置間で共通に用い、
複数の処理装置でそれぞれ作成されたテストパタン同士
のパタンマージを、異なる処理装置からのテストパタン
の同じパタン番号のパタン同士を先にマージし、その後
に、異なるパタン番号のパタン同士をマージしているた
め、分散処理によるパタン長の増大が生じない。

【００５５】本発明においては、前記一の処理装置（１
０）において、（ａ）検査対象の論理回路に対して定義
される故障を複数のグループに分割し、前記分割された
故障を前記第１乃至第Ｎの処理装置に割り当てる分割処
理と、（ｂ）前記分割された故障情報と、前記論理回路
の回路情報と、圧縮処理対象のテストパタンとを、前記
第１乃至第Ｎの処理装置に供給し、さらに乱数系列生成
の初期値情報を前記第１乃至第Ｎの処理装置に供給する
処理と、（ｃ）前記第１乃至第Ｎの処理装置でそれぞれ
生成された複数のテストパタンを取得し、前記複数のテ
ストパタンの各々について、まず、同一番号のパタン同
士をマージしてなる一のテストパタンを生成し、前記生
成された一のテストパタンに対してパタンマージを試み
る処理と、の上記（ａ）乃至（ｃ）の各処理は、前記一
の処理装置（１０）でプログラムを実行することで実現
される。

【００５６】また第１乃至第Ｎの処理装置処理装置（２
０₁〜２０_N）の各々において、（ｄ）前記テストパタン
中の不定値に対して、前記乱数系列生成の初期値情報か
ら疑似乱数系列を生成して“０”又は“１”を割り付け
ることで不定値を活性化したテストパタンを生成する処
理と、（ｅ）前記論理回路に前記分割された故障を挿入
し前記不定値を活性化したテストパタンを用いて故障シ
ミュレーションを実行する処理と、（ｆ）前記故障シミ
ュレーションの実行によって得られた故障検出結果情報
に基づき、前記不定値を活性化したテストパタンに対し
て、前記論理回路の故障検出に関与しない入力端子に不
定値を割り当てたテストパタンを生成する処理と、の上
記（ｄ）乃至（ｆ）の処理は、それぞれ、前記第１乃至
第Ｎの処理装置（２０₁〜２０_N）でプログラムを実行す
ることによって実現される。この場合、これらのプログ
ラムを記録した記録媒体から、該プログラムを処理装置
１０、２０に読み込んでインストールして実行すること
よって本発明を実施することができる。

【００５７】

【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。図１は、本発明の一実施例のシステム構成を模式
的に示す図であり、テストパタンの圧縮を複数のＣＰＵ
間の分散処理で行うシステムの全体構成を示す図であ
る。

【００５８】図１において、ローカルＣＰＵ１０と複数
のリモートＣＰＵ２０₁〜２０₃とは不図示のネットワー
ク等を介して相互接続されている。ローカルＣＰＵ１
０、リモートＣＰＵ２０₁〜２０₃はそれぞれワークステ
ーション等の情報処理装置として構成してもよく、ネッ
トワークとしてはＬＡＮ（ローカルエリアネットワー
ク）等公知のものが用いられる。あるいは、ローカルＣ
ＰＵ１０及びリモートＣＰＵ２０₁〜２０₃を、複数のプ
ロセッサエレメント（ＰＥ）が共通バスに接続されて分
散処理を行うマルチプロセッサのＰＥとして構成しても
よいことは勿論である。またリモートＣＰＵの台数は３
台に限定されるものでないことは勿論である。

【００５９】図１を参照すると、ローカルＣＰＵ１０に
おいて、故障リスト（ｆ１〜ｆ８）をリモートＣＰＵの
数に対応する数のグループに分割する。そして、ローカ
ルＣＰＵ１０で保持している論理回路の回路情報、テス
トパタン（パタン情報）は、それぞれそのまま、リモー
トＣＰＵ２０₁〜２０₃に送信し、また分割した故障リス
トをそれぞれ対応するリモートＣＰＵ２０₁〜２０_nに送
信する。図１では、分割した故障リストｆ１〜ｆ３と、
故障リストｆ４〜ｆ６、故障リストｆ７、ｆ８をそれぞ
れリモートＣＰＵ２０₁〜２０₃に送信している。

【００６０】リモートＣＰＵ２０₁〜２０₃では、ローカ
ルＣＰＵ１０から送信されたテストパタン中の不定値Ｘ
に対して乱数に基づく“０”又は“１”の割り付けを行
い不定値を活性化する処理と、分割故障リストと、回路
情報、テストパタンに基づき故障シミュレーションを実
行する処理と、テストパタンにおいて故障検出に関与し
ない端子への不定値の割付処理と、からなる再乱数故障
シミュレーションを行い、故障結果に基づき、不定値を
割り付けたテストパタンをローカルＣＰＵ１０に返却す
る。

【００６１】図２は、本発明の一実施例のシステム構成
の詳細を示す図である。なおリモートＣＰＵ２０₁〜２
０₃は、その基本構成についてすべて同様の構成とされ
ており、図２には、リモートＣＰＵ２０はその一台が示
されている。

【００６２】図２を参照すると、ローカルＣＰＵ１０に
おいて、検査対象となる論理回路の回路情報１０１を回
路情報読込手段１０４から装置内に読み込み、故障情報
１０２を故障情報読み込み手段１０５から装置内に読み
込み、圧縮対象となるテストパタン（パタン情報）１０
３をパタン情報読み込み手段１０６から装置内に読み込
む。

【００６３】回路情報読込手段１０４から読み込まれた
回路情報は、回路情報送信手段１−９を介してリモート
ＣＰＵ２０に送信される。

【００６４】パタン情報読込手段１０６から読み込まれ
たパタン情報は、パタン情報送信手段１１１を介してリ
モートＣＰＵ２０に送信される。

【００６５】故障情報読み込み手段１０５から読み込ま
れた故障情報は、故障分割手段１１０において、リモー
トＣＰＵ２０の数に対応させて複数のグループに分割さ
れ、それぞれ分割故障情報１１２として出力され、グル
ープに分割された故障情報１１２は、故障情報送信手段
１１３を介して、各グループ毎に対応するリモートＣＰ
Ｕ２０に送信される。なお、論理回路に対して定義され
る故障の数が、リモートＣＰＵ２０の数に満たない場
合、故障の割り当ては適宜行われる。例えば、故障１つ
を１つのリモートＣＰＵ２０にそれぞれ割り当てる等の
方法があるが、故障がこのように小数の場合には、任意
の割り当てであってよい。

【００６６】またローカルＣＰＵ１０は、乱数系列初期
値設定手段１０７で設定された乱数系列初期値情報１０
７を各リモートＣＰＵ２０に送信する。

【００６７】リモートＣＰＵ２０は、ローカルＣＰＵ１
０から送信されたテストパタンに対してローカルＣＰＵ
１０から受け取った乱数初期値情報１０８に基づき、乱
数を発生させ、パタン内の不定値に０又は１を割付けた
テストパタンを生成出する割付手段２０１を備える。

【００６８】ローカルＣＰＵ１０パタン情報送信手段１
１１を介してリモートＣＰＵ２０に送信されたテストパ
タンには、故障検出に必要でない箇所に不定値Ｘが挿入
されている。

【００６９】ローカルＣＰＵ１０から送信されたテスト
パタン中の不定値Ｘに対して、リモートＣＰＵ２０の乱
数発生及び不定値への割付手段２０１（「不定値活性化
手段」ともいう）は、乱数初期値情報１０８に基づき発
生した、疑似乱数系列を用いて、その生起確率をランダ
ムなものとした“０”又は“１”シーケンスを割り当て
ることで、不定値を活性化したテストパタンを生成し、
これをパタン情報２０２として出力する。

【００７０】リモートＣＰＵ２０の乱数発生及び不定値
への割付手段２０１により生成された不定値を活性化し
たテストパタン２０２と、ローカルＣＰＵ１０から送信
された回路情報、及び分割故障情報を用いて故障シミュ
レーション手段２０３で故障シミュレーションを行って
故障検出状態情報２０６を出力する。

【００７１】故障検出情報２０６に基づき、テストパタ
ン（不定値を活性化したテストパタン）２０２につい
て、故障検出されないパタン番号のパタンは破棄し、ま
た不定値割付手段２０４は、故障を検出するパタン番号
のパタンに対して、故障検出に関係しない端子（カラ
ム）の値に不定値を割り付けたテストパタンを生成し、
パタン情報２０５として出力する。

【００７２】ローカルＣＰＵ１０は、リモートＣＰＵ２
０の不定不定値割付手段２０４から出力されたパタン情
報２０５を取得し、パターンマージ手段１１４でマージ
して、マージしたテストパタンをパタン情報３１５とし
て出力する。

【００７３】マージ後のテストパタンが、所定の終了条
件を満たしている場合には、マージ後のパタン情報３１
５はパタン出力手段３１６を介して出力パタン情報３１
７として出力される。

【００７４】ローカルＣＰＵ１０は、リモートＣＰＵ２
０からの故障検出状態情報２０６を取得し、故障検出状
態情報リスト出力手段１１８で、出力故障検出状態情報
１１９の一覧を出力する。なお、この処理は、本発明の
主題には直接関係しないので、内容の詳細は省略する。

【００７５】ところで、テストパタン中の不定値Ｘへの
“０”又は“１”の割り付け情報として、ローカルＣＰ
Ｕ１０から複数のリモートＣＰＵ２０に対して、不定値
のテストパタン内での位置情報とその割り付け値情報の
一覧を直接送信する場合、テストパタン中に挿入されて
いる不定値Ｘの数の増大に応じてデータ転送量が増大す
る。そこで、本発明の一実施例では、ローカルＣＰＵ１
０の乱数系列初期値設定手段１０７で設定された乱数系
列初期値情報１０７を各リモートＣＰＵ２０に配信し、
各リモートＣＰＵ２０側では、ローカルＣＰＵ１０から
配信された共通の乱数系列初期値情報１０７を用いて複
数のリモートＣＰＵ２０間で共通の疑似乱数系列を発生
させて、テストパタン中の不定値Ｘへの“０”又は
“１”の割り付けを行っている。すなわち、本発明の一
実施例においては、ローカルＣＰＵ１０から複数のリモ
ートＣＰＵ２０に対して、乱数系列生成のための初期値
情報を送信するだけでよく、テストパタン中に挿入され
ている不定値Ｘの数に依存することなくデータ転送量は
一定とされる。

【００７６】図３は、本発明の一実施例の処理手順を示
す流れ図である。図２及び３を参照して、本発明の一実
施例の処理手順について以下に説明する。

【００７７】まずローカルＣＰＵ１０において、論理回
路の回路情報を読み込んで該回路情報をリモートＣＰＵ
２０に送信し（ステップＳ１、Ｓ２）、故障情報を読み
込み、複数のグループに分割して、分割した故障情報を
リモートＣＰＵ２０に送信し（ステップＳ３、Ｓ４、Ｓ
５）、パタン情報を読み込み（ステップＳ６）、パタン
情報をリモートＣＰＵ２０に送信する（ステップＳ
６）。

【００７８】ローカルＣＰＵ１０は、乱数系列の初期値
を設定し（ステップＳ８）、リモートＣＰＵ２０に対し
て乱数系列初期値情報を送信する。

【００７９】リモートＣＰＵ２０では、ローカルＣＰＵ
１０から送信された回路情報、故障情報、パタン情報を
蓄積する記憶部から、それぞれ、回路情報、故障情報、
パタン情報を読み込み（ステップＳ９〜Ｓ１１）、ロー
カルＣＰＵ１０から送信されたテストパタンに対して、
ローカルＣＰＵ１０から受け取った乱数初期値情報に基
づき疑似乱数系列を発生させ、パタン内の不定値に対し
て乱数の値に基づき、“０”又は“１”を割付けること
で不定値Ｘを活性化したテストパタンを作成し（ステッ
プＳ１２）、故障シミュレーションを行う（ステップＳ
１３）。

【００８０】故障シミュレーション実行の結果、不定値
Ｘを活性化したテストパタンについて故障検出能力をパ
タン番号毎に検証し、故障検出されないパタン番号のパ
タン破棄し、また故障を検出するパタンについて故障検
出に関係しない端子（カラム）の値に不定値を割り付
け、テストパタンを生成する。

【００８１】ローカルＣＰＵ１０は、リモートＣＰＵ２
０からのパタン情報を取得してパターンマージし（ステ
ップＳ１４）、マージ後のパタン情報が、所定の終了条
件を満たしているか否か判定し（ステップＳ１５）、所
定の終了条件を満たしている場合、マージ後のパタン情
報を出力する（ステップＳ１６）。

【００８２】一方、図３のステップＳ１５において、所
定の終了条件を満たしていない場合には、ステップＳ７
に戻り、テストパタンをパタン情報送信手段１１１を介
して再びリモートＣＰＵ２０に送信し、さらに、乱数系
列の初期値設定情報を送信する。

【００８３】図３のステップＳ７において、ローカルＣ
ＰＵ１０のパタン情報送信手段１１１を介してリモート
ＣＰＵ２０に再度送信するテストパタンとしては、複数
のリモートＣＰＵ２０の再乱数故障シミュレーション工
程によってそれぞれ生成されたテストパタンに対してロ
ーカルＣＰＵ１０のパタンマージ手段１１４でマージし
たテストパタンが用いられる。あるいは、ローカルＣＰ
Ｕ１０のパタン情報読込手段１０６で装置内に読み込ん
だ元のテストパタンを用い、乱数系列の初期値情報の設
定を変えることで、リモートＣＰＵ２０の再乱数故障シ
ミュレーション工程を行うようにしてもよい。

【００８４】複数のリモートＣＰＵ２０では、再び、回
路情報、故障情報、パタン情報を不図示の記憶部から読
み込み（図３のステップＳ９〜Ｓ１１）、ローカルＣＰ
Ｕ１０から送信された乱数系列の初期値設定情報に基づ
き乱数系列を生成して、ローカルＣＰＵ１０から送信さ
れたテストパタン中の不定値Ｘに対して疑似乱数系列に
基づき“０”又は“１”の割り付け（図３のステップＳ
１２）、故障シミュレーション、テストパタンへの不定
値の割り付け処理を繰り返す（図３のステップＳ１
３）。

【００８５】このように、複数のリモートＣＰＵ２０を
用いて再乱数故障シミュレーション工程を、故障グルー
プ単位に、並行的に実行させ、さらにローカルＣＰＵ１
０によるパタンマージ工程を実行させることにより、従
来のシステムと比べて、パタン圧縮に要する処理時間を
短縮させている。

【００８６】パタンマージ手段１１４で行われるパタン
のマージは、図１２を参照して説明した通り、２つのパ
タンがすべての端子（カラム）について同じ値又は少な
くとも一方が不定値である場合に、それぞれの端子につ
いて不定値Ｘでない方の値を採用して一つのパタンとす
る。

【００８７】ところで、パタンのマージの順序が適切に
行われない場合、テストパタンのパタン長が圧縮前のパ
タン長よりも大きくなってしまう可能性がある。

【００８８】そこで、本発明の一実施例においては、次
のようなパタンマージが用いられている。図４は、本発
明の一実施例において用いられるパタンマージ方法を説
明するための模式図である。

【００８９】パタンの圧縮を図るために、各リモートＣ
ＰＵ＃１〜＃３からのテストパタン＃１〜＃３をマージ
するに際して、複数のリモートＣＰＵ＃１〜＃３におい
て、それぞれ再乱数故障シミュレーション結果に基づき
故障検出に関与しない入力端子に不定値Ｘを割り付けて
生成したテストパタン＃１〜＃３に対して、同じパタン
番号のパタン同士を先にマージして、一つのテストパタ
ンを作成する。

【００９０】すなわち、図４（ａ）に示すように、テス
トパタン＃１、＃２、＃３の１行（番）目の各パタン
（１）、（４）、（７）をマージして、図４（ｂ）のテ
ストパタンの１行目のパタン（（１）＋（４）＋
（７））を生成し、テストパタン＃１、＃２、＃３の２
行目の各パタン（２）、（５）、（８）をマージして、
図４（ｂ）のテストパタンの２行目のパタン（（２）＋
（５）＋（８））を生成し、テストパタン＃１、＃２、
＃３の３行目の各パタン（３）、（６）、（８）をマー
ジして、図４（ｂ）のテストパタンの３行目のパタン
（（３）＋（６）＋（８））を生成する。

【００９１】次に、このようにして作成されたテストパ
タンに対して、異なるパタン番号のパタンをマージする
ことで、パタン長を、パタン圧縮前よりも増加させない
ようにすることができる。

【００９２】すなわち、図４（ｃ）に示すように、図４
（ｂ）のテストパタンの２、３行目のパタンをマージ
し、圧縮前のパタン長３よりも短い長さである２に圧縮
している。そして、図４（ｃ）に示すテストパタンが出
力パタン情報１１７として出力される。

【００９３】各リモートＣＰＵで故障シミュレーション
を行うパタンへの乱数割付を同じ乱数系列で行い、同じ
番号のパタン同士を先にマージしてから異なるパタン番
号のパタンをマージすることで、常に、圧縮前のパタン
長よりも大きくならないようにすることができる。

【００９４】これは、全く同じ乱数系列を用いて同一の
テストパタン内の不定値に対して０又は１を割付たパタ
ン同士であれば、同じパタン番号のパタン同士は、マー
ジ可能な条件を満たすためである。すなわち、テストパ
タン中の各不定値に対して、同一の乱数初期値を用いて
生成した乱数により、順に“０”又は“１”の割り付け
がなされた複数のテストパタンでは、同一のパタン番号
のパタン（同一番号のテストベクトル）において、もと
の不定値Ｘに対して付与された“０”又は“１”の値は
一致しており、故障シミュレーション後、不定値Ｘが割
付られた場合でも、マージ可能な条件を満たしているた
めである。すなわち、複数のパタンがすべての端子につ
いて同じ値であるか、少なくとも一方が不定値であるた
めである。

【００９５】一方、図５は、比較例として、リモートＣ
ＰＵ＃１〜＃３でそれぞれ再乱数故障シミュレーション
結果に基づき故障検出に関与しない入力端子に不定値Ｘ
を割り付けて生成したテストパタンを、リモートＣＰＵ
＃１〜＃３内で個別にマージしたものを、ローカルＣＰ
Ｕ１０側でマージするようにした場合を示したものであ
る。この場合、もとのテストパタンよりも長くなり、所
望する圧縮効率を達成できない場合がある。

【００９６】すなわちリモートＣＰＵ＃１においてテス
トパタン＃１についてテストベクトル（１）と（２）を
マージして長さ２のテストパタン（（１＋２）と
（３））とし、リモートＣＰＵ＃２においてテストパタ
ン＃２についてテストベクトル（４）と（６）をマージ
して長さ２のテストパタン（（４＋６）と（５））と
し、リモートＣＰＵ＃３においてテストパタン＃３につ
いてテストベクトル（８）と（９）をマージして長さ２
のテストパタン（（７）と（８＋９））とし、パタン長
２の３つのテストパタンをローカルＣＰＵ１０におい
て、長さ方向に合成すると、図５（ｂ）に示すように、
長さ６のテストパタンが得られ、このテストパタンにつ
いて、（３）、（５）、（８）＋（９）のパタンが互い
にマージ可能とされ、マージされたテストパタンは、図
５（ｃ）に示すように、パタン長が４となり、元のテス
トパタンのパタン長３よりも１つ長くなってしまってい
る。

【００９７】上記した本発明の一実施例においては、故
障分割手段１１０にて、故障を複数のグループに分割し
て複数のリモートＣＰＵに対して割り当てる際、前記リ
モートＣＰＵの処理能力、負荷状況に応じて、故障を割
り当てるようにしてもよい。

【００９８】さらに、リモートＣＰＵ間に、性能差や負
荷が均等でない場合等への対策として、故障分割手段１
１０で行われる故障の分割数を、リモートＣＰＵ数より
も多くしておき、処理性能が高く、割り当てた故障グル
ープに対する再乱数故障シミュレーション工程が終了
し、空き（アイドル）状態のＣＰＵに対して、次の故障
グループを与えるようにしてもよい。

【００９９】処理性能が高く、負荷の小さいリモートＣ
ＰＵでは、数多くの故障の検出を行うための故障シミュ
レーションを行うように負荷分散させることで、処理性
能の低いＣＰＵや負荷の高いＣＰＵにより、システム全
体の処理時間が影響されることを回避している。

【０１００】図６は、本発明の一実施例の作用効果を説
明するための図であり、再乱数故障シミュレーションを
行うＣＰＵ（リモートＣＰＵ）の数とテストパタン圧縮
時間（TAT：Turn Around Time）を示す図である。図６
において、横軸はＣＰＵの台数（１台、２台、４台）、
縦軸はパタン圧縮処理のＴＡＴ（単位秒）であり、菱形
印、四角印、三角印は、それぞれ６４５Ｋ（Ｋ＝１
０³）、１Ｍ（Ｍ＝１０⁶）、１．８Ｍの論理回路を示し
ており、再乱数故障シミュレーション工程とパターンマ
ージ工程とをそれぞれ２回繰り返し、目標故障検出率９
５％で実行したものである。図６からも、ＣＰＵの台数
を増加させるにしたがい、ＴＡＴが減少している。

【０１０１】図７は、上記した本発明の一実施例のＣＰ
Ｕの装置構成を示す図である。図７には、図２に示した
ローカルＣＰＵ１０における読み込み手段１０４〜１０
６、乱数系列初期値設定手段１０７、故障分割手段１１
０、情報送信手段１０９、１１１、１１３、パタンマー
ジ手段１１４、及びリモートＣＰＵ２０における乱数発
生及び不定値への割付手段２０１、故障シミュレーショ
ン手段２０３、不定値割付手段２０４を、それぞれプロ
グラムを実行することで機能させるための各ＣＰＵの装
置構成の一例が示されている。すなわち、上記各手段の
処理・機能を実行するプログラムを記録した記録媒体１
７を媒体駆動装置１６を介して読み出し、ＲＡＭ等のメ
モリ１２にロードし、プロセッサ１１にてメモリ１２に
格納されたプロララム命令を実行することで本発明を実
施することができる。ここで、入力装置１４は、プロセ
ッサ１１に対する指示、もしくはプロセッサ１１に対す
るデータ（回路情報、故障情報、パタン情報）を入力す
る。また出力装置１５は、表示装置、印字装置等のほ
か、パタン情報等が出力されるファイル装置、通信装置
を含む。

【０１０２】なお、上記実施例では、リモートＣＰＵが
再乱数故障シミュレーションを分担し、ローカルＣＰＵ
が、リモートＣＰＵへの故障情報、パタン情報、乱数初
期値情報の分配、パタンマージを行う構成を示したが、
ローカルＣＰＵが、その処理性能から負荷に余裕がある
場合、リモートＣＰＵとともに、再乱数故障シミュレー
ションを行う構成としてもよい。

【０１０３】また上記実施例において、ローカルＣＰＵ
１０からリモートＣＰＵ２０に乱数系列の初期値情報を
送信し、初期値情報を複数のリモートＣＰＵ２０間で共
通とし、リモートＣＰＵ２０の乱数発生及び不定値への
割付手段２０１では、例えば初期値情報を最初の乱数Ｒ
₀として、Ｒ_n+1＝ｆ（Ｒ_n）なる算術演算（疑似乱数生
成関数）を実行し、発生される疑似乱数系列が、複数の
リモートＣＰＵ２０間で共通となるように構成している
が、本発明はかかる構成に限定されるものでない。すな
わち、本発明においては、乱数系列が複数のリモートＣ
ＰＵ２０間で共通となるものであればよく、例えば複数
のリモートＣＰＵ２０が共通の乱数表をそれぞれ不図示
の記憶部に備え、乱数表から共通に乱数系列を選択する
という形態、あるいは、複数のリモートＣＰＵ２０で予
め共通の初期値に基づき疑似乱数系列を所定個数作成し
不図示の記憶部に記憶保持しておき、各リモートＣＰＵ
２０の乱数発生及び不定値への割付手段２０１では、不
図示の記憶部に記憶されている乱数系列について共通の
位置の乱数から、順次、共通に選択することで、テスト
パタン中の不定値への“０”又は“１”の割り付けを行
うようにしてもよい。

【０１０４】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、下
記記載の効果を奏する。

【０１０５】本発明の第１の効果は、自動テストパタン
生成の処理全体においてパタン圧縮に要する時間を特段
に短縮することができる、ということである。

【０１０６】その理由は、本発明においては、パタン圧
縮を複数のＣＰＵで分散処理で行う構成としたためであ
る。

【０１０７】本発明の第２の効果は、分散処理によるパ
タン長の増大が生じず、分散を行わない場合と同等なパ
タン長のパタンが得られる、ということである。

【０１０８】その理由は、分散処理によって作成したパ
タン同士のパタンマージを同じ番号のパタン同士を先に
マージしその後で異なるパタン番号のパタン同士をマー
ジしているためである。

【０１０９】本発明の第３の効果は、分散処理を行って
も、テストパタンのパタン長の増大を回避することがで
きる、ということである。その結果、故障シミュレーシ
ョンの処理時間の増大がなく、パタン圧縮処理の時間増
大も防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のシステムを説明するための
模式図である。

【図２】本発明の一実施例のシステム構成を示す図であ
る。

【図３】本発明の一実施例の処理手順を示す流れ図であ
る。

【図４】本発明の一実施例におけるパタンマージを説明
するための模式図である。

【図５】パタンマージの比較例を説明するための模式図
である。

【図６】本発明の一実施例を用いた圧縮処理結果を示す
図である。

【図７】本発明の一実施例の装置構成を示す図である。

【図８】従来のシステムの構成を示す図である。

【図９】従来のシステムの処理手順を示す流れ図であ
る。

【図１０】（ａ）は論理回路（組合せ回路）の故障、
（ｂ）は不定値割付を説明するための図である。

【図１１】従来の再乱数故障シミュレーションの処理を
模式的に示す図である。

【図１２】パタンマージを説明するための図である。

【符号の説明】１０、１０ＡローカルＣＰＵ１１プロセッサ１２メモリ１３バス１４入力装置１５出力装置１６媒体駆動装置１７記録媒体２０、２０₁〜２０₃ リモートＣＰＵ１０１、３０１回路情報１０２、３０２故障情報１０３、３０３パタン情報１０４、３０４回路情報読込手段１０５、３０５故障情報読み込み手段１０６、３０６パタン情報読み込み手段１０７、３０７乱数系列初期値設定手段１０８、３０８乱数系列初期値情報１０９回路情報送信手段１１０故障分割手段１１１パタン情報送信手段１１２分割故障情報１１３故障情報送信手段１１４、３１５パタンマージ手段１１５パタン情報１１６、３１６パタン情報出力手段１１７、３１７出力パタン情報１１８、３１８故障検出状態リスト出力手段１１９、３１９出力故障検出状態２０１、３０９乱数発生及び不定値への割付手段２０２、２０５、３１０、３１３パタン情報２０３、３１１故障シミュレーション手段２０４、３１２不定値割付手段２０６、３１４故障検出状態情報

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】論理回路に対して定義される故障を検査す
るテストパタン中の不定値に対して、乱数系列に基づき
“０”又は“１”を割り付けることで前記不定値を活性
化したテストパタンを作成する処理と、前記不定値を活
性化したテストパタン及び故障情報を用いて前記論理回
路の故障シミュレーションを実行する処理と、前記故障
シミュレーションの実行結果に基づき、前記不定値を活
性化したテストパタン中で故障検出に関与しない端子の
値に不定値を割り付けてなるテストパタンを生成出力す
る処理とを含む再乱数故障シミュレーション工程と、前記再乱数故障シミュレーション工程によって生成出力
される前記テストパタンに対してパタンマージを行う工
程と、を含むテストパタン圧縮処理を複数の処理装置で分散し
て行うテストパタン圧縮方法であって、前記論理回路に対して定義される故障を複数のグループ
（「故障グループ」という）に分割し、前記分割した故
障グループを前記複数の処理装置にそれぞれ割り当て、前記複数の処理装置が、前記各処理装置にそれぞれ割り
当てられた故障グループを用いて前記論理回路に対する
前記再乱数故障シミュレーション工程を互いに独立して
実行する、ことを特徴とするパタン圧縮方法。
【請求項２】前記乱数系列生成の初期値を、前記再乱数
故障シミュレーション工程を実行する前記複数の処理装
置間で共通に用いることにより、前記各処理装置の前記
再乱数故障シミュレーション工程における、前記不定値
を活性化したテストパタンを同一とする、ことを特徴と
する請求項１記載のパタン圧縮方法。
【請求項３】前記複数の処理装置の前記再乱数故障シミ
ュレーション工程によってそれぞれ生成出力される前記
テストパタンをパタンマージするにあたり、まず、異な
る処理装置で作成された複数のテストパタンに対して、
同じパタン番号のパタン同士をマージすることによっ
て、パタン長がパタンマージ前の元のテストパタンと同
じ長さのテストパタンを生成し、その後、該生成された
テストパタンに対して、異なるパタン番号のパタン同士
をパタンマージを行うことで、パタン長を圧縮する、こ
とを特徴とする請求項１又は２記載のパタン圧縮方法。
【請求項４】前記故障を複数のグループ（「故障グルー
プ」という）に分割して前記複数の処理装置に割り当て
るに際して、前記各処理装置の処理能力、及び／又は負
荷状況に応じて、前記各故障グループの前記各処理装置
への割り当てを決定する、ことを特徴とする請求項１乃
至３のいずれか一に記載のパタン圧縮方法。
【請求項５】前記故障を複数のグループ（「故障グルー
プ」という）に分割するにあたり、前記故障グループの
数を前記複数の処理装置の数よりも大とし、アイドル状
態の処理装置が存在する場合、割り当てられていない処
理待ちの故障グループを前記アイドル状態の処理装置に
割り当てるように制御する、ことを特徴とする請求項１
乃至４のいずれか一に記載のパタン圧縮方法。
【請求項６】複数の処理装置に共通入力されるテストパ
タンに対して、前記テストパタン中の不定値に“０”又
は“１”を、前記複数の処理装置間で、共通のシーケン
スで割り付けることで、前記不定値を活性化したテスト
パタンを生成し、前記複数の処理装置では、それぞれ、検査対象の論理回
路に対して定義される故障のうち、前記各処理装置に対
応して分割して割り当てられた故障と、前記不定値を活
性化したテストパタンと、前記論理回路の回路情報とを
用いて前記論理回路の故障シミュレーションを実行し、前記複数の処理装置では、それぞれ、前記故障シミュレ
ーションの実行結果に基づき、前記不定値を活性化した
テストパタンに対して、前記論理回路の故障検出に関与
しない端子の値に不定値を割り当てたテストパタンを生
成し、前記複数の処理装置でそれぞれ生成された複数のテスト
パタンに対して、異なる処理装置で生成されたテストパ
タンの同一パタン番号同士をマージして新たなテストパ
タンを生成し、前記新たなテストパタンに対してパタン
番号間でのパタンマージを行う、ことを特徴とするテストパタン圧縮方法。
【請求項７】前記複数の処理装置において、それぞれ乱
数系列を発生させるための初期値として共通の初期値を
用い、前記複数の処理装置に共通入力される前記テスト
パタン中の不定値に対して、前記初期値に基づき発生し
た乱数系列に基づき、“０”又は“１”を割り付けるこ
とで、前記不定値を活性化したテストパタンを生成す
る、ことを特徴とする請求項６記載のテストパタン圧縮
方法。
【請求項８】一の処理装置と、前記一の処理装置にそれ
ぞれ接続される第１乃至第Ｎ（但しＮは２以上の正整
数）の処理装置を用いてテストパタンの圧縮を分散処理
にて行う方法であって、前記一の処理装置において、検査対象の論理回路に対し
て定義される故障を複数のグループ（「故障グループ」
という）に分割し、前記分割した故障グループを前記第
１乃至第Ｎの処理装置に割り当て、前記分割した故障グ
ループを対応する前記第１乃至第Ｎの処理装置にそれぞ
れ供給するととに、前記論理回路の回路情報と、圧縮処
理対象のテストパタンと、乱数系列の初期値情報とを前
記第１乃至第Ｎの処理装置に供給し、前記第１乃至第Ｎの処理装置では、それぞれ、前記テストパタン中の不定値に対して、前記乱数系列の
初期値情報から生成された乱数系列に基づき“０”又は
“１”を割り付けて不定値を活性化したテストパタンを
生成し、前記論理回路に対して前記分割された故障を挿入し前記
不定値を活性化したテストパタンを用いて故障シミュレ
ーションを実行し、前記故障シミュレーションの実行によって得られた故障
検出結果情報に基づき、前記不定値を活性化したテスト
パタンの故障検出能力を検証し、前記不定値を活性化し
たテストパタンに対して前記論理回路の故障検出に関与
しない入力端子の値に不定値を割り当ててなるテストパ
タンを生成し、前記一処理装置において、前記第１乃至第Ｎの処理装置
でそれぞれ生成された複数のテストパタンを取得し、前
記複数のテストパタンについて、まず、異なる処理装置
のテストパタンの同一パタン番号のパタン同士をマージ
してなる一のテストパタンを生成し、前記生成された一のテストパタンに対してパタン番号間
でのパタンマージを試みる、ことを特徴とする、テストパタン圧縮方法。
【請求項９】前記乱数系列が、初期値に基づく算術演算
処理によって求められ、同一の初期値に対して同一の乱
数系列が再現される疑似乱数系列である、ことを特徴と
する請求項１、２、７、８のいずれか一に記載のテスト
パタン圧縮方法。
【請求項１０】複数の処理装置が、それぞれ、前記複数
の処理装置に共通入力されるテストパタンに対して、前
記テストパタン中の不定値に“０”又は“１”を、前記
複数の処理装置間で共通のシーケンスで割り付けること
で、前記不定値を活性化したテストパタンを生成する不
定値活性化手段と、検査対象の論理回路に対して定義される故障のうち、前
記各処理装置に対応して分割して割り当てられた故障
と、前記不定値を活性化したテストパタンと前記論理回
路の回路情報とを用いて前記論理回路の故障シミュレー
ションを実行する故障シミュレーション実行手段と、前記故障シミュレーションの実行結果に基づき、前記不
定値を活性化したテストパタンに対して、前記論理回路
の故障検出に関与しない端子の値に不定値を割り当てた
テストパタンを生成する不定値割付手段と、を備え、前記複数の処理装置でそれぞれ生成された複数のテスト
パタンを受け取り、前記複数のテストパタンに対して、
異なる処理装置で生成されたテストパタンの同一パタン
番号同士をマージして新たなテストパタンを生成し、前
記新たなテストパタンに対してパタン番号間でのパタン
マージを行う処理装置をさらに備えたことを特徴とする
テストパタン圧縮装置。
【請求項１１】前記複数の処理装置の前記各不定値活性
化手段において、それぞれ乱数系列を発生させるための
初期値として共通の初期値を用い、前記複数の処理装置
に共通入力される前記テストパタン中の不定値に対し
て、前記初期値に基づき発生した乱数系列に基づき、
“０”又は“１”を割り付けることで、前記不定値を活
性化したテストパタンを生成する、ことを特徴とする請
求項１０記載のテストパタン圧縮装置。
【請求項１２】一の処理装置と、前記一の処理装置にそ
れぞれ接続される第１乃至第Ｎ（但しＮは２以上の正整
数）の処理装置を備え、テストパタンを圧縮して出力す
る装置において、前記一の処理装置が、検査対象の論理回路に対して定義
される故障を複数のグループ（「故障グループ」とい
う）に分割し、前記分割した故障グループを、前記第１
乃至第Ｎの処理装置に割り当てる故障分割手段と、を備
え、前記分割した故障グループを対応する前記第１乃至
第Ｎの処理装置にそれぞれ供給するとともに、前記論理
回路の回路情報と、圧縮処理対象のテストパタンと、乱
数系列の初期値情報とを前記第１乃至第Ｎの処理装置に
供給し、前記第１乃至第Ｎの処理装置は、それぞれ、前記テストパタン中の不定値に対して、前記乱数系列の
初期値情報から生成された乱数系列に基づき“０”又は
“１”を割り付けて不定値を活性化したテストパタンを
生成する手段と、前記論理回路に前記分割された故障を挿入し前記不定値
を活性化したテストパタンを用いて故障シミュレーショ
ンを実行する手段と、前記故障シミュレーションの実行によって得られた故障
検出結果情報に基づき、前記不定値を活性化したテスト
パタンの故障検出能力を検証し、前記不定値を活性化し
たテストパタンに対して前記論理回路の故障検出に関与
しない入力端子に不定値を割り当ててなるテストパタン
を生成する不定値割付手段と、を備え、前記一処理装置が、前記第１乃至第Ｎの処理装置の前記
不定値割付手段によりそれぞれ生成されたテストパタン
を取得し、前記複数のテストパタンについて、まず、異
なる処理装置で生成されたテストパタンの同一パタン番
号のパタン同士をマージしてなる一のテストパタンを生
成し、前記生成された一のテストパタンに対してパタン
番号間でのパタンマージを試みるパタンマージ手段を備
えた、ことを特徴とする、テストパタン圧縮装置。
【請求項１３】前記故障分割手段が、前記各処理装置の
処理能力及び／又は前記各処理装置の負荷状況に応じ
て、前記故障グループの前記各処理装置への割り当てを
決定する、ことを特徴とする請求項１２記載のテストパ
タン圧縮装置。
【請求項１４】前記故障分割手段が、故障グループの数
を、前記複数の処理装置の数よりも大とし、アイドル状
態の処理装置が存在する場合、未だ処理装置に割り当て
られていず処理待ちの故障グループを、前記アイドル状
態の処理装置に割り当てる、ことを特徴とする請求項１
２又は１３記載のテストパタン圧縮装置。
【請求項１５】前記乱数系列が、初期値に基づく算術演
算処理によって求められ、同一の初期値に対して同一の
乱数系列が再現される疑似乱数系列である、ことを特徴
とする請求項１１又は１２に記載のテストパタン圧縮装
置。
【請求項１６】ローカルＣＰＵ（中央演算処理装置）
と、前記ローカルＣＰＵにそれぞれ接続される複数のリ
モートＣＰＵとを備え、テストパタンを圧縮して出力す
る分散処理システムにおいて、前記ローカルＣＰＵが、検査対象の論理回路の回路情報を装置内に読み込む回路
情報読込手段と、故障情報を装置内に読み込む故障情報読み込み手段と、テストパタンを装置内に読み込むパタン情報読み込み手
段と、読み込んだ回路情報を前記複数のリモートＣＰＵに送信
する送信手段と、テストパタンを前記複数のリモートＣＰＵに送信する送
信手段と、前記読み込んだ故障情報を前記リモートＣＰＵの数に対
応させて複数のグループに分割する故障分割手段と、前記グループに分割された故障情報を各グループ毎に対
応するリモートＣＰＵに送信する送信手段と、乱数系列の初期値情報を設定する手段と、前記乱数系列の初期値情報を各リモートＣＰＵに送信す
る手段と、を備え、前記各リモートＣＰＵは、前記ローカルＣＰＵから送信されたテストパタンに対し
て前記ローカルＣＰＵから受け取った前記乱数系列の初
期値情報に基づき乱数系列を発生させ、乱数値に基づき
前記テストパタン内の不定値に“０”又は“１”を割り
付けることで、前記不定値を活性化したテストパタンを
生成出する不定値活性化手段と、前記論理回路に前記分割された故障を挿入し前記不定値
を活性化したテストパタンを用いて故障シミュレーショ
ンを実行する手段と、前記故障シミュレーションの実行によって得られた故障
検出結果情報に基づき、前記不定値を活性化したテスト
パタンの故障検出能力を検証し、前記不定値を活性化し
たテストパタンに対して前記論理回路の故障検出に関与
しない入力端子の値に不定値を割り当ててなるテストパ
タンを生成する不定値割付手段と、を備え、前記ローカルＣＰＵが、前記複数のリモートＣＰＵの前
記不定値割付手段でそれぞれ生成された複数のテストパ
タンを取得し、まず前記複数のテストパタンについて、
異なる処理装置のテストパタンの同一のパタン番号のパ
タン同士をマージしてなる一のテストパタンを生成し、
前記生成された一のテストパタンに対してパタン番号間
でのパタンマージを試みるパタンマージ手段を備えた、
ことを特徴とする分散処理システム。
【請求項１７】前記乱数系列が、初期値に基づく算術演
算処理によって求められ、同一の初期値に対して同一の
乱数系列が再現される疑似乱数系列である、ことを特徴
とする請求項１６記載のテストパタン圧縮システム。
【請求項１８】一の処理装置と、前記一の処理装置にそ
れぞれ接続される第１乃至第Ｎ（但しＮは２以上の正整
数）の処理装置を備え、テストパタンを圧縮して出力す
る装置において、（ａ）検査対象の論理回路に対して定義される故障を複
数のグループに分割し、前記分割した故障を前記第１乃
至第Ｎの処理装置に割り当てる分割処理と、（ｂ）前記分割した故障情報を前記第１乃至第Ｎの処理
装置にそれぞれ供給するとともに、前記論理回路の回路
情報と、圧縮処理対象のテストパタンと、乱数系列生成
の初期値情報とを前記第１乃至第Ｎの処理装置に供給す
る処理と、（ｃ）前記第１乃至第Ｎの処理装置でそれぞれ生成され
た複数のテストパタンを取得し、前記複数のテストパタ
ンについて、まず、異なる処理装置で生成されたテスト
パタンの同一番号のパタン同士をマージしてなる一のテ
ストパタンを生成し、前記生成された一のテストパタン
に対してパタン番号間でのパタンマージを試みる処理
と、の上記（ａ）乃至（ｃ）の処理を前記一の処理装置で実
行させるためのプログラムを記録し、（ｄ）前記一の処理装置から送信された前記テストパタ
ン中の不定値に対して、前記乱数系列生成の初期値情報
から疑似乱数系列を生成して“０”又は“１”を割り付
けることで前記不定値を活性化したテストパタンを生成
する処理と、（ｅ）前記論理回路に前記分割された故障を挿入し前記
不定値を活性化したテストパタンを用いて故障シミュレ
ーションを実行する処理と、（ｆ）前記故障シミュレーションの実行によって得られ
た故障検出結果情報に基づき、前記不定値を活性化した
テストパタンの故障検出能力を検証し、前記不定値を活
性化したテストパタンに対して前記論理回路の故障検出
に関与しない入力端子の値に不定値を割り当てたテスト
パタンを生成する処理と、の上記（ｄ）乃至（ｆ）の処理をそれぞれ前記第１乃至
第Ｎの処理装置で実行させるためのプログラムをそれぞ
れ記録した記録媒体。