JPH0815388A - 検査系列生成方法及び検査系列生成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速に短い検査系列を得る組合せ回路の検査
系列方法を提供する。 【構成】 論理検証のためにＬＳＩ設計者が作成した入
力系列で論理シミュレーションを実行し、被検査回路の
回路状態の履歴を記憶する処理１０２と、１０２で実行
した論理シミュレーション結果、すなわち入力系列と被
検査回路の回路状態の履歴の関係から状態遷移グラフを
生成する処理１０３と、状態遷移グラフ中に現在時刻の
タイムフレームの状態が存在するか否かを判断する処理
１０９と、状態遷移グラフの初期状態から現在時刻のタ
イムフレームの回路状態までの経路を求めて、その経路
中の入力系列の和を状態初期化系列として生成する処理
１１０とを備えた検査系列生成方法である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、デジタル回路の検査系
列生成方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の検査系列生成方法は、プレンティ
スホール、イングルウッド クリフ、ニュー ジャージ
（ＰＲＥＮＴＩＣＥ−ＨＡＬＬ，Ｅｎｇｌｅｗｏｏｄ
Ｃｌｉｆｆ，Ｎｅｗ Ｊｅｒｓｅｙ）発行の「フォール
ト トレラント コンピューティング セオリ アンド
テクニックス ボリューム Ｉ（ＦＡＵＬＴ ＴＯＬ
ＥＲＡＮＴ ＣＯＭＰＵＴＩＮＧ Ｔｈｅｏｒｙ ａｎｄ
ＴｅｃｈｎｉｑｕｅｓＶｏｌｕｍｅ Ｉ）」のＣｈａｐ
ｔｅｒ１の１．４．２「スタック アット フォールト
テスティング（Ｓｔｕｃｋ ａｔ Ｆａｕｌｔ Ｔｅｓ
ｔｉｎｇ）」と、１９９０年のデザイン オートメーシ
ョン コンファレンスの資料［Ｔ．Ｊｏｈｎ Ｇｉｒａ
ｌｄｉ，Ｍｉｃｈａｅｌ Ｌ． Ｂｕｓｈｎｅｌｌ，”
ＥＳＴ：Ｔｈｅ Ｎｅｗ Ｆｒｏｎｔｉｅｒ ｉｎ Ａ
ｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｓｔ−Ｐａｔｔｅｒｎ Ｇｅｎ
ｅｒａｔｉｏｎ，”１９９０］およびこれらの参考文献
に記載されている。

【０００３】また従来の検査系列パターンを圧縮する方
法は１９９３年のデザイン オートメーション コンフ
ァレンスの資料［Ｃｏｓｔ−ｆｆｅｃｔｉｖｅ Ｇｅｎ
ｅｒａｔｉｏｎ ｏｆ Ｍｉｎｉｍａｌ Ｔｅｓｔ Ｓ
ｅｔｓ ｆｏｒ Ｓｔｕｃｋ−ａｔ Ｆａｕｌｔｓ ｉ
ｎ Ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎａｌ Ｌｏｇｉｃ Ｃｉｒ
ｃｕｉｔｓ，１９９３］及びこれらの参考文献、特願平
５−３３１８２０号に記載されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな検査系列生成方法では、以下の様な問題点を有して
きた。

【０００５】（１）組合せ回路の検査パターン圧縮に関
して、故障シミュレーションを実行せずに検査パターン
の圧縮を行っているため検査系列生成する故障の数が増
加し、処理時間が遅くなり、また圧縮した検査パターン
数が多くなる。

【０００６】（２）ある組合せ回路の目標故障を検出す
るために論理値を設定した外部入力ピン以外の外部入力
ピンに乱数で論理０または１を設定して故障シミュレー
ションを実行するため、目標故障が再収れんしない分岐
の枝か茎であった場合に目標故障と同時に容易に検出可
能な同じ分岐の他の枝の故障が検出できなくなり、検査
系列生成する故障数が多くなり、また検査系列長が長く
なる。

【０００７】（３）組合せ回路の目標故障の選択をラン
ダムに行っているため、検査系列長が長くなる。

【０００８】本発明は係る点に鑑みてなされたものであ
り、組合せ回路の検査系列生成において目標故障の検査
入力生成で外部ピンが論理ドントケアである箇所に、乱
数で０または１を割り当てずにドントケアのまま故障シ
ミュレーションを実行し、検出可能な故障を検査系列生
成の対象から外し、また再収れんしない分岐が存在する
かを調べ、存在した場合に分岐の枝、茎の同じ種類の全
故障を目標故障とし検査系列生成を行ない、また組合せ
回路において、故障の被覆関係を解析し、被覆されてい
る故障を被覆している故障よりも優先的に目標故障とし
て選択することによって、高速で検査系列長が短い検査
系列生成方法および検査系列生成装置を提供することを
目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明の検査系列生成方
法はこれらの問題点を解決するために、以下の手段
（１）〜（３）を用いる。

【００１０】（１）被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成方法であって、被検査回
路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生成処理が
未処理でかつ第３の処理で検査系列生成処理を行わない
ようにしていない故障の中から任意に１つ目標故障を選
択する第１の処理と前記第１の処理で選択した目標故障
の影響を前記被検査回路の任意の外部出力ピンに伝搬す
るための検査入力パターンを生成し、前記目標故障の伝
搬に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのま
まにしておく第２の処理と、前記第２の処理で生成した
ドントケアを含んだ前記目標故障を検査する検査入力パ
ターンで故障シミュレーションを実行し、前記被検査回
路の任意の外部出力ピンで検出可能な任意の故障を前記
第２の処理である検査系列生成処理を行なわないように
前記故障表を変更する第３の処理とを備えたものであ
る。

【００１１】（２）被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成方法であって、被検査回
路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する第１の処
理と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系
列生成処理が未処理でかつ第３の処理で検査系列生成処
理を行わないようにしていない故障の中から、任意に１
つ目標故障を選択し、選択した目標故障が前記第１の処
理で解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇
所であれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中
から前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第４の処
理で検査系列生成処理を行わないようにしていない故障
を付属的な目標故障とする第２の処理と前記第２の処理
で選択した目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外
部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成
し、前記付属的な目標故障が存在した場合に、前記付属
的な目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外部出力
ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成し、前記
目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬に関係しない
外部入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第
３の処理と、前記第３の処理で生成したドントケアを含
んだ前記目標故障を検査する検査入力パターンで故障シ
ミュレーションを実行し、前記被検査回路の任意の外部
出力ピンで検出可能な任意の故障を前記第３の処理であ
る検査系列生成処理を行なわないように前記故障表を変
更する第４の処理とを備えたものである。

【００１２】（３）被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターン系列を生成する検査系列生成方法であって、被検
査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する第１
の処理と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検
査系列生成処理が未処理でかつ第４の処理で検査系列生
成処理を行わないようにしていない故障の中から前記第
１の処理で解析した被覆されている故障を被覆している
故障よりも必ず優先的に目標故障として選択するという
規則に従って１つ目標故障を選択する第２の処理と前記
第２の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査回路
の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パター
ンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部入力
ピンの論理値をドントケアのままにしておく第３の処理
と、前記第３の処理で生成したドントケアを含んだ前記
目標故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレー
ションを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピン
で検出可能な任意の故障を前記第３の処理である検査系
列生成処理を行なわないように前記故障表を変更する第
４の処理とを備えたものである。

【００１３】また本発明の検査系列生成装置はこれらの
問題点を解決するために、以下の手段（４）〜（６）を
用いる。

【００１４】（４）被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成装置であって、被検査回
路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生成処理が
未処理でかつ第３の手段で検査系列生成手段を行わない
ようにしていない故障の中から任意に１つ目標故障を選
択する第１の手段と前記第１の手段で選択した目標故障
の影響を前記被検査回路の任意の外部出力ピンに伝搬す
るための検査入力パターンを生成し、前記目標故障の伝
搬に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのま
まにしておく第２の手段と、前記第２の手段で生成した
ドントケアを含んだ前記目標故障を検査する検査入力パ
ターンで故障シミュレーションを実行し、前記被検査回
路の任意の外部出力ピンで検出可能な任意の故障を前記
第２の手段である検査系列生成処理を行なわないように
前記故障表を変更する第３の手段とを備えたものであ
る。

【００１５】（５）被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターンを生成する検査系列生成装置であって、被検査回
路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する第１の手
段と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系
列生成処理が未処理でかつ第３の手段で検査系列生成処
理を行わないようにしていない故障の中から、任意に１
つ目標故障を選択し、選択した目標故障が前記第１の手
段で解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇
所であれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中
から前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第４の手
段で検査系列生成処理を行わないようにしていない故障
を付属的な目標故障とする第２の手段と前記第２の手段
で選択した目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外
部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成
し、前記付属的な目標故障が存在した場合に、前記付属
的な目標故障の影響を前記被検査回路の任意の外部出力
ピンに伝搬するための検査入力パターンを生成し、前記
目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬に関係しない
外部入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第
３の手段と、前記第３の手段で生成したドントケアを含
んだ前記目標故障を検査する検査入力パターンで故障シ
ミュレーションを実行し、前記被検査回路の任意の外部
出力ピンで検出可能な任意の故障を前記第３の手段であ
る検査系列生成処理を行なわないように前記故障表を変
更する第４の手段とを備えた検査系列生成装置。

【００１６】（６）被検査回路である組合せ回路中の仮
定された縮退故障について、当該故障を検査する入力パ
ターン系列を生成する検査系列生成装置であって、被検
査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する第１
の手段と被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検
査系列生成処理が未処理でかつ第４の手段で検査系列生
成手段を行わないようにしていない故障の中から前記第
１の手段で解析した被覆されている故障を被覆している
故障よりも必ず優先的に目標故障として選択するという
規則に従って１つ目標故障を選択する第２の手段と前記
第２の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査回路
の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パター
ンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部入力
ピンの論理値をドントケアのままにしておく第３の手段
と、前記第３の手段で生成したドントケアを含んだ前記
目標故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレー
ションを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピン
で検出可能な任意の故障を前記第３の手段である検査系
列生成処理を行なわないように前記故障表を変更する第
４の手段とを備えたものである。

【００１７】

【作用】本発明の手段（１）、（４）によれば、組合せ
回路の検査系列生成において目標故障の検査入力生成で
外部ピンが論理ドントケアである箇所に、乱数で０また
は１を割り当てずにドントケアのまま故障シミュレーシ
ョンを実行し、検出可能な故障を以後の検査系列生成の
対象から外すことで、目標故障を絞り込むことができ、
いいかえれば検査系列生成する故障数が減少し、高速に
短い検査系列を生成することとなる。

【００１８】また本発明の手段（２）、（５）によれ
ば、組合せ回路の再収れんしない分岐が存在するかを解
析し、存在した場合に目標故障として再収れんしない分
岐の枝、茎の故障が選択されたとき、その目標故障と同
じ種類でかつ同じ分岐に存在する未検出な分岐の枝と茎
の故障を付属的な目標故障とし、目標故障の検査入力生
成が完了した後、その回路状態で付属的な目標故障の検
査入力生成を行うことで、検査系列生成を行なう故障数
が減少し、高速に短い検査系列を生成することとなる。

【００１９】また本発明の手段（３）、（６）によれ
ば、組合せ回路の故障の被覆関係を解析し、被覆されて
いる故障を被覆している故障よりも優先的に目標故障と
して選択することによって、検査系列生成を行なう故障
数が減少し、高速に短い検査系列を生成することとな
る。

【００２０】

【実施例】初めに検査系列生成の前提として、検査の対
象となる故障は被検査回路に基づいていて仮定された故
障であり、モデル化されたものである。具体的には、縮
退故障である。即ち、回路の信号線が論理０または１に
固定した値となる故障であり、０縮退故障と１縮退故障
とがある。これらの縮退故障は、被検査回路となるＬＳ
Ｉのネットリストに基づいて各信号線毎に予めリストア
ップされて故障表に登録されている。この故障表の例を
（表１）に示す。

【００２１】

【表１】

【００２２】（表１）において、「信号線」は被検査回
路に存在する各信号線を、「故障」は０縮退故障（s-a-
0）か１縮退故障（s-a-1）かを、「検出」は”１”で検
出済みを、「処理」は”１”で処理済み、すなわち検査
系列生成処理の対象として選択されて生成処理が実行さ
れたことを、「冗長故障」は”１”でその故障が冗長故
障であることをそれぞれ示す。例えば、同表における信
号線ａのs-a-0故障は、検査系列処理が実行され、その
結果冗長故障でないことが解り、外部出力ピンで検出さ
れていることを示す。また信号線ｃのs-a-0故障は検査
系列生成処理が実行され、冗長故障でないことがわか
り、検査系列生成に失敗したことを示す。

【００２３】（実施例１）図１は本発明に係る請求項１
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。

【００２４】ステップ１０１は組合せ回路の検査系列生
成処理の開始を示す。ステップ１１０は検査系列生成処
理の終了を示す。

【００２５】まずステップ１０２で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障が存在するか否かを判断し、未検出
故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生
成の対象からはずれていない故障が存在すればステップ
１０３に進み、存在しなければステップ１０９に進む。

【００２６】次にステップ１０３で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障としてランダム
に１つ故障を選択する。

【００２７】ステップ１０４でステップ１０３で選択し
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドントケアの
ものは、乱数で論理値０または１を割り当てないで、ド
ントケアのままにしておく。検査入力生成に成功した場
合はステップ１０５へ進み、失敗するか、目標故障が冗
長故障と判断された場合はステップ１０２に進み次の故
障を処理する。

【００２８】ステップ１０５でステップ１０４で生成し
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。

【００２９】ステップ１０６で１０４で生成したドント
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の１つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また１０４で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに１０４で生成した検査入力パター
ンを追加する。

【００３０】次にステップ１０７で、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ１０８に進
み、越えていなければステップ１０２へ進み次の故障の
処理を行なう。

【００３１】ステップ１０８で、ステップ１０７で圧縮
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値０または１に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。

【００３２】ステップ１０９で、ステップ１０２で目標
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値０
または１に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。

【００３３】図７は本発明に係る請求項４の実施例を示
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。

【００３４】７００は組合せ回路の検査系列生成装置全
体を示す。７００ａは読み込み部分、７００ｂは記憶部
分、７００ｃは処理（演算）部分である。７０１は回路
接続情報ファイル、７０２は故障を定義したファイルで
ある。７０３は、ファイル７０１を入力として読み込み
処理を行なう部分である。７０４は、ファイル７０２を
入力として読み込み処理を行なう部分である。７０５は
回路の接続情報を記憶している部分である。７０６は
（表１）に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。７０７は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。７１５
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。

【００３５】７０８は目標故障選択部であり、故障管理
テーブル７０６を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障としてランダムに１つ
故障を選択する。未検出故障でかつまだ検査系列生成が
未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故
障が存在しなく、かつ７１５に検査入力パターンが存在
しなければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能
をもつ。

【００３６】７０９は検査入力生成部であり、７０８で
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行ない、外部入力ピンの値がドントケアのも
のは、乱数で論理値０または１を割り当てないで、ドン
トケアのままにしておく機能を持つ。また目標故障が冗
長であると判定する機能を持つ。

【００３７】７１０は目標故障絞り込み部であり、７０
９で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように７０６を更新する機能を
持つ。

【００３８】７１１は検査入力パターン圧縮部であり、
７０９で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を７１５の１つの検査入力パターンと圧縮できるか否か
を調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象となっ
た圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の検
査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また７０９
で生成した検査入力パターンが７１５中の全検査入力パ
ターンと圧縮不可能であれば７１５に７０９で生成した
検査入力パターンを追加する機能を持つ。

【００３９】７１２は故障シミュレーション部であり、
７１５からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値０または１に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して７０６を更新する機能を持つ。

【００４０】ファイル７１３は全故障に対する検査系列
を示すテストパターンファイルである。

【００４１】ファイル７１４は故障検出率や冗長故障な
どを示すレポートファイルである。図４は本発明に係る
請求項１及び請求項４の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図４（ａ）は目標
故障を選択する時点での故障表を示した図である。図４
（ａ）の意味は表１と同様である。

【００４２】図４（ｂ）は目標故障ｂの検査系列生成を
示した図である。図４（ｂ）において、４０１は故障ｂ
の影響の外部出力ピンへの伝搬に全く関係しない外部入
力ピン群である。４０２は故障ｂの影響を外部出力ピン
へ伝搬するのに設定すべき必要最小限の外部入力ピン群
である。４０３は故障ｂの影響を観測できる外部出力ピ
ンである。

【００４３】図４（ｃ）は故障ｂを検出するために生成
した検査入力パターンでの故障シミュレーションの実行
を示した図である。図４（ｃ）において、４０４は故障
ｅの影響を観測できる外部出力ピンである。

【００４４】図４（ｄ）は故障ｂの検査入力パターンで
目標故障の絞り込みを行って、故障表を更新を示した図
である。図４（ｄ）の「対象」は検査系列生成の対象に
なるか否かを意味し、「１」は対象とならない、「０」
は対象となることを示す。

【００４５】まずステップ１０３で、図４（ａ）の故障
表を参照して、未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対
象である故障であるｂ，ｅ，ｇ，ｈの中からｂを目標故
障として選択する。次に、ステップ１０４で、図４
（ｂ）に示すように、目標故障ｂの検査入力生成を行な
い、４０２の外部入力ピンに論理値０または１を設定す
ると、その結果故障ｂの影響は外部出力ピン４０３に伝
搬する。ここで、ドントケアである外部入力ピン４０１
には乱数を用いて値０または１に設定せず、ドントケア
のままにしておく。次にステップ１０５で、図４（ｃ）
に示すように故障ｂの検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行した結果、外部出力ピン４０３で故障
ｂ，ｇが、外部出力ピン４０４で故障ｅが検出できる。
この検出結果を基に故障表を更新すると、図４（ｄ）に
示すよう故障ｂ，ｅ，ｇが検査系列生成の対象からはず
れ、検査系列生成を実行する故障の数が少なくなる。

【００４６】以上のように、本実施例によれば、ドント
ケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレーション
を実行し、目標故障の選択範囲を狭めることで検査系列
生成処理を行なう故障数を削減でき、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が削減できる可能性があるので高速
に短い検査系列を生成できる。

【００４７】（実施例２）図２は本発明に係る請求項２
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。

【００４８】ステップ２０１は組合せ回路の検査系列生
成処理の開始を示す。ステップ２１１は検査系列生成処
理の終了を示す。

【００４９】まずステップ２０２で回路の中の各分岐が
再収れんしているか否かを解析し、再収れんしていない
分岐の枝、茎の同種類の故障を１つのグループとし、目
標故障を選択するときに、まとめて目標故障とするよう
に故障表を更新する。。

【００５０】次にステップ２０３で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障が存在するか否かを判断し、未検出
故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生
成の対象からはずれていない故障が存在すればステップ
２０４に進み、存在しなければステップ２１０に進む。

【００５１】次にステップ２０４で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障としてランダム
に１つ故障を選択する。もし、選択した目標故障が再収
れんしない分岐の茎か枝の故障であれば、その分岐の茎
及び枝の目標故障と同種類の故障を付属的な目標故障と
する。

【００５２】ステップ２０５でステップ１０３で選択し
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。また付属的な目標故障が存在すれば、その
付属的な目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドント
ケアのものは、乱数で論理値０または１を割り当てない
で、ドントケアのままにしておく。検査入力生成に成功
した場合はステップ２０６へ進み、失敗するか、目標故
障が冗長故障と判断された場合はステップ２０３に進み
次の故障を処理する。

【００５３】ステップ２０６でステップ２０５で生成し
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。

【００５４】ステップ２０７で２０５で生成したドント
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の１つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また２０５で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに２０５で生成した検査入力パター
ンを追加する。

【００５５】次にステップ２０８で、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ２０９に進
み、越えていなければステップ２０３へ進み次の故障の
処理を行なう。

【００５６】ステップ２０９で、ステップ２０８で圧縮
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値０または１に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。

【００５７】ステップ２１０で、ステップ２０３で目標
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値０
または１に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。

【００５８】図８は本発明に係る請求項５の実施例を示
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。

【００５９】８００は組合せ回路の検査系列生成装置全
体を示す。８００ａは読み込み部分、８００ｂは記憶部
分、８００ｃは処理（演算）部分である。８０１は回路
接続情報ファイル、８０２は故障を定義したファイルで
ある。８０３は、ファイル８０１を入力として読み込み
処理を行なう部分である。８０４は、ファイル８０２を
入力として読み込み処理を行なう部分である。８０５は
回路の接続情報を記憶している部分である。８０６は
（表１）に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。８０７は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。８１６
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。

【００６０】８０８は分岐解析部であり、回路テーブル
８０５を入力とし、再収れんしていない分岐を見つけ出
し、同じ分岐の枝と茎の同種類の故障を１つのグループ
みなした目標故障として選択するように８０６を更新す
る機能を持つ。

【００６１】８０９は目標故障選択部であり、故障管理
テーブル８０６を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障としてランダムに１つ
故障を選択する。もし、選択した目標故障が再収れんし
ない分岐の茎か枝の故障であれば、その分岐の茎及び枝
の、目標故障と同種類の故障を付属的な目標故障とする
機能を持つ。未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処
理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が
存在しなく、かつ８１６に検査入力パターンが存在しな
ければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能をも
つ。

【００６２】８１０は検査入力生成部であり、８０９で
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行なう機能を持つ。また付属的な目標故障が
存在すれば、その付属的な目標故障の影響を任意の外部
出力ピンに伝搬するために必要最小限の外部入力ピンの
値を決定し、検査入力生成を行なう機能を持つ。ここ
で、外部入力ピンの値がドントケアのものは、乱数で論
理値０または１を割り当てないで、ドントケアのままに
しておく機能を持つ。また目標故障が冗長故障と判定す
る機能を持つ。

【００６３】８１１は目標故障絞り込み部であり、８１
０で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように８０６を更新する機能を
持つ。

【００６４】８１２は検査入力パターン圧縮部であり、
８１０で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を８１６中の１つの検査入力パターンと圧縮できるか否
かを調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象とな
った圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の
検査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また８１
０で生成した検査入力パターンが８１６中の全検査入力
パターンと圧縮不可能であれば８１６に８１０で生成し
た検査入力パターンを追加する機能を持つ。

【００６５】８１３は故障シミュレーション部であり、
８１６からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値０または１に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して８０６を更新する機能を持つ。

【００６６】ファイル８１４は全故障に対する検査系列
を示すテストパターンファイルである。

【００６７】ファイル８１５は故障検出率や冗長故障な
どを示すレポートファイルである。図５は本発明に係る
請求項２及び請求項５の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図５（ａ）は被検
査回路の各分岐の構造を示した図である。図５（ａ）に
おいて、５０１は被検査回路（組合せ回路）であり、５
０２は再収れんをしない分岐であり、５０３は再収れん
している分岐である。図５（ｂ）は目標故障を選択する
時点での故障表を示した図である。図５（ｂ）の「付
属」は目標故障の付属的な目標故障を示し、故障名が記
述されている。「なし」が記述されている場合は、付属
的な目標故障がないことを示す。

【００６８】図５（ｃ）は目標故障ａの検査系列生成を
示した図である。図５（ｃ）において、５０８は故障ａ
の影響を外部出力ピンへ伝搬するのに設定すべき必要最
小限の外部入力ピン群である。５０９は故障ｃの影響を
外部出力ピンへ伝搬するのに設定すべき必要最小限の外
部入力ピン群である。５１０は故障ａ，ｂ，ｃの影響の
外部出力ピンへの伝搬に全く関係しない外部入力ピン群
である。５０４は故障ａの影響を観測できる外部出力ピ
ンである。５０５は故障ｃの影響を観測できる外部出力
ピンである。５０６は故障ａの伝搬経路、５０７は故障
ｃの伝搬経路である。

【００６９】まずステップ２０２で、図５（ａ）に示す
ように回路５０１中の分岐５０２、５０３が再収れんし
ているか否かを解析し、その結果分岐５０２は再収れん
しない、分岐５０３は再収れんすることがわかる。その
解析結果を図５（ｂ）に反映させる。ここで分岐５０２
の茎の故障がａ、２つの枝の故障をそれぞれ故障ｂ，ｃ
とする。故障ａ，ｂ，ｃの種類は同じである。図５
（ｂ）から目標故障として故障ａを選択すると故障ｂ，
ｃが付属的な目標故障となることがわかる。また目標故
障として故障ｂを選択すると故障ａ，ｃが付属的な目標
故障となることがわかる。また目標故障として故障ｃを
選択すると故障ａ，ｂが付属的な目標故障となることが
わかる。次に２０４ステップで、図５（ｂ）の故障表を
参照して未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対象であ
る故障であるａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆの中からａを目標
故障として選択する。次に、ステップ２０５で、図５
（ｃ）に示すように、目標故障ａの検査入力生成を行な
い、５０８の外部入力ピンに論理値０または１を設定す
ると、その結果故障ａの影響は故障伝搬経路５０６を通
って外部出力ピン５０４に伝搬する。このとき、付属的
な目標故障である故障ｂも検出できることがわかる。つ
ぎに、そのままの回路状態で付属的な目標故障ｃの検査
入力生成を行ない、５０９の外部入力ピンに論理値０ま
たは１を設定すると、その結果故障ｃの影響は故障伝搬
経路５０７を通って外部出力ピン５０５に伝搬する。こ
こで、ドントケアである外部入力ピン５１０には乱数を
用いて値０または１に設定せず、ドントケアのままにし
ておく。

【００７０】以上のように、本実施例によれば、回路中
の再収れんしない分岐を見つけ出し、同じ分岐の茎、枝
の同種類の故障を１つのグループとして、目標故障にし
て同時に複数個の故障の検査系列生成を実行することに
より、検査系列生成処理の実行回数が削減でき、圧縮バ
ッファ中の検査入力パターン数が削減できる可能性があ
るので高速に短い検査系列を生成できる。

【００７１】（実施例３）図３は本発明に係る請求項３
の実施例を示すために用いる組合せ回路の検査系列生成
方法の流れ図である。

【００７２】ステップ３０１は組合せ回路の検査系列生
成処理の開始を示す。ステップ３１１は検査系列生成処
理の終了を示す。

【００７３】まずステップ３０２で故障の被覆関係を解
析し、故障表に反映させる。次にステップ３０３で未検
出故障でかつまだ検査系列生成が未処理でかつ検査系列
生成の対象からはずれていない故障が存在するか否かを
判断し、未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が存在
すればステップ３０４に進み、存在しなければステップ
３１０に進む。

【００７４】次にステップ３０４で未検出故障でかつま
だ検査系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象から
はずれていない故障群の中から目標故障として、被覆さ
れている故障を被覆している故障よりも優先的に選択す
るという規則に従って１つ故障を選択する。

【００７５】ステップ３０５でステップ３０４で選択し
た目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬するため
に必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査入力生
成を行なう。ここで、外部入力ピンの値がドントケアの
ものは、乱数で論理値０または１を割り当てないで、ド
ントケアのままにしておく。検査入力生成に成功した場
合はステップ３０６へ進み、失敗するか、目標故障が冗
長故障と判断された場合はステップ３０３に進み次の故
障を処理する。

【００７６】ステップ３０６でステップ３０５で生成し
たドントケアを含んだ検査入力パターンで故障シミュレ
ーションを実行し、検出できた故障を検査系列生成の対
象からはずす。

【００７７】ステップ３０７で３０５で生成したドント
ケアを含んだ検査入力パターンを圧縮バッファ中の１つ
の検査入力パターンと圧縮できるか否かを調べ、圧縮可
能であれば圧縮して、圧縮の対象となった圧縮バッファ
中の検査入力パターンを圧縮した後の検査入力パターン
に置き換える。また３０５で生成した検査入力パターン
が圧縮バッファ中の全検査入力パターンと圧縮不可能で
あれば圧縮バッファに３０５で生成した検査入力パター
ンを追加する。

【００７８】次にステップ３０８で、圧縮バッファ中の
検査入力パターン数が圧縮バッファのサイズを越えてい
るか否かを判断し、越えていればステップ３０９に進
み、越えていなければステップ３０３へ進み次の故障の
処理を行なう。

【００７９】ステップ３０９で、ステップ３０８で圧縮
バッファ中の検査入力パターン数が圧縮バッファのサイ
ズを越えた場合に、圧縮バッファから溢れた検査入力パ
ターンに対して外部入力ピンの値がドントケアであるも
のに乱数で論理値０または１に設定して故障シミュレー
ションを実行し、検出された故障を未検出故障群から削
除する。

【００８０】ステップ３１０で、ステップ３０３で目標
故障として選択する故障がないと判断された場合、圧縮
バッファ中に存在する全検査入力パターンに対して外部
入力ピンの値がドントケアであるものに乱数で論理値０
または１に設定して故障シミュレーションを実行し、検
出された故障を未検出故障群から削除する。

【００８１】図９は本発明に係る請求項６の実施例を示
すために用いる組合せ回路の検査系列生成装置の構成図
である。

【００８２】９００は組合せ回路の検査系列生成装置全
体を示す。９００ａは読み込み部分、９００ｂは記憶部
分、９００ｃは処理（演算）部分である。９０１は回路
接続情報ファイル、９０２は故障を定義したファイルで
ある。９０３は、ファイル９０１を入力として読み込み
処理を行なう部分である。９０４は、ファイル９０２を
入力として読み込み処理を行なう部分である。９０５は
回路の接続情報を記憶している部分である。９０６は
（表１）に示すような故障の管理テーブルを記憶してい
る部分である。９０７は被検査回路中の全故障対して生
成した検査系列などを記憶している部分である。９１６
は検査入力パターンを圧縮して記憶している部分であ
る。

【００８３】９０８は故障被覆解析部であり、回路テー
ブル９０５を入力とし、故障の被覆関係を解析し、故障
テーブル９０６に反映させる機能を持つ。

【００８４】９０９は目標故障選択部であり、故障管理
テーブル９０６を入力とし、未検出故障でかつまだ検査
系列生成が未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれ
ていない故障群の中から目標故障として、被覆されてい
る故障を被覆している故障よりも優先的に選択するとい
う規則に従って１つ故障を選択する機能を持つ。

【００８５】また未検出故障でかつまだ検査系列生成が
未処理でかつ検査系列生成の対象からはずれていない故
障が存在しなく、かつ９１６に検査入力パターンが存在
しなければ、検査系列生成全体の処理を終了させる機能
をもつ。

【００８６】９１０は検査入力生成部であり、９０９で
選択した目標故障の影響を任意の外部出力ピンに伝搬す
るために必要最小限の外部入力ピンの値を決定し、検査
入力生成を行ない、外部入力ピンの値がドントケアのも
のは、乱数で論理値０または１を割り当てないで、ドン
トケアのままにしておく機能を持つ。また目標故障が冗
長であると判定する機能を持つ。

【００８７】９１１は目標故障絞り込み部であり、９１
０で生成したドントケアを含んだ検査入力パターンで故
障シミュレーションを実行し、検出できた故障を検査系
列生成の対象からはずすように９０６を更新する機能を
持つ。

【００８８】９１２は検査入力パターン圧縮部であり、
９１０で生成したドントケアを含んだ検査入力パターン
を９１６の１つの検査入力パターンと圧縮できるか否か
を調べ、圧縮可能であれば圧縮して、圧縮の対象となっ
た圧縮バッファ中の検査入力パターンを圧縮した後の検
査入力パターンに置き換える機能を持つ。。また９１０
で生成した検査入力パターンが９１６中の全検査入力パ
ターンと圧縮不可能であれば９１６に９１０で生成した
検査入力パターンを追加する機能を持つ。

【００８９】９１３は故障シミュレーション部であり、
９１６からの検査入力パターンに対して外部入力ピンの
値がドントケアであるものに乱数で論理値０または１に
設定して故障シミュレーションを実行し、検出された故
障に対して９０６を更新する機能を持つ。

【００９０】ファイル９１４は全故障に対する検査系列
を示すテストパターンファイルである。

【００９１】ファイル９１５は故障検出率や冗長故障な
どを示すレポートファイルである。図６は本発明に係る
請求項３及び請求項６の組合せ回路の検査系列生成の動
作を説明するために用いる図である。図６（ａ）は回路
中の故障の被覆関係の解析を示す図である。図６（ａ）
において、６０１はＡＮＤゲートであり、６０２はＡＮ
Ｄゲートの出力信号線であり、６０７、６０５はＡＮＤ
ゲートの入力信号線である。６０３は６０２の１縮退故
障、６０４は６０５の１縮退故障、６０６は６０７の１
縮退故障である。図６（ｂ）は目標故障を選択する時点
での故障表を示した図である。図６（ｂ）の「被覆」は
被覆関係を示し、「する」は被覆する故障を表し、「さ
れる」は被覆される故障を表す。図６（ｃ）は目標故障
６０４の検査系列生成を示した図である。

【００９２】まずステップ３０２で図６（ａ）のように
故障６０３は故障６０４と６０６を被覆するという関係
を計算し、図６（ｂ）に示す故障表に反映させる。次に
ステップ３０３、３０４で、図６（ｂ）の故障表を参照
して、未検出かつ未処理かつ検査系列生成の対象である
故障である６０３、６０４、６０６の中から被覆される
故障を優先させて６０４を目標故障として選択する。次
に、ステップ３０５で、図６（ｃ）に示すように、目標
故障６０４の検査入力生成を行なう。ここでＡＮＤゲー
トの部分に注目すると、６０４を検出するためには信号
線６０７に論理値１を、信号線６０５に論理値０を必ず
割り当てなければならない。この検査入力パターンで故
障６０３も検出できることがわかる。

【００９３】以上のように、本実施例によれば、故障の
被覆関係を解析して、被覆される故障を被覆する故障よ
りも優先的に選択することによって、被覆される故障の
検査入力パターンで被覆する故障を検出することができ
るので、すなわち検査系列生成処理を行なう故障数を削
減でき、圧縮バッファ中の検査入力パターン数が削減で
きる可能性があるので高速に短い検査系列を生成でき
る。

【００９４】

【発明の効果】以上述べてきたように、本発明に係る検
査系列方法は、従来の組合せ回路の検査系列生成方法が
有していた、（１）組合せ回路の検査パターン圧縮に関
して、故障シミュレーションを実行せずに検査パターン
の圧縮を行っているため検査系列生成する故障の数が増
加し、処理時間が遅くなり、また圧縮した検査パターン
数が多くなる、（２）ある組合せ回路の目標故障を検出
するために論理値を設定した外部入力ピン以外の外部入
力ピンに乱数で論理０または１を設定して故障シミュレ
ーションを実行するため、目標故障が再収れんしない分
岐の枝か茎であった場合に目標故障と同時に容易に検出
可能な同じ分岐の他の枝の故障が検出できなくなり、検
査系列生成する故障数が多くなり、また検査系列長が長
くなる、（３）組合せ回路の目標故障の選択をランダム
に行っているため、検査系列長が長くなる、という課題
を解決したものであり、高速に短い検査系列を生成する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１における順序回路の検査系列
生成方法の流れ図

【図２】本発明の実施例２における順序回路の検査系列
生成方法の流れ図

【図３】本発明の実施例３における順序回路の検査系列
生成方法の流れ図

【図４】本発明の実施例１における順序回路の検査系列
生成の動作説明図

【図５】本発明の実施例２における順序回路の検査系列
生成の動作説明図

【図６】本発明の実施例３における順序回路の検査系列
生成の動作説明図

【図７】本発明の実施例１における順序回路の検査系列
生成装置の構成図

【図８】本発明の実施例２における順序回路の検査系列
生成装置の構成図

【図９】本発明の実施例３における順序回路の検査系列
生成装置の構成図

【符号の説明】

１０２ 未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障が存在
するか否かを判断する処理 １０３ 未検出故障でかつまだ検査系列生成が未処理で
かつ検査系列生成の対象からはずれていない故障群の中
から目標故障としてランダムに１つ故障を選択する処理 １０４ １０３で選択した目標故障の影響を任意の外部
出力ピンに伝搬するために必要最小限の外部入力ピンの
値を決定し、検査入力生成を行なう処理。ここで、外部
入力ピンの値がドントケアのものは、乱数で論理値０ま
たは１を割り当てないで、ドントケアのままにしてお
く。 １０５ １０４で生成したドントケアを含んだ検査入力
パターンで故障シミュレーションを実行し、検出できた
故障を検査系列生成の対象からはずす処理

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
   た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
   を生成する検査系列生成方法であって、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
   成処理が未処理でかつ第３の処理で検査系列生成処理を
   行わないようにしていない故障の中から任意に１つ目標
   故障を選択する第１の処理と、 前記第１の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査
   回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
   ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
   入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第２の
   処理と、 前記第２の処理で生成したドントケアを含んだ前記目標
   故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
   ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
   出可能な任意の故障を前記第２の処理である検査系列生
   成処理を行なわないように前記故障表を変更する第３の
   処理とを備えた検査系列生成方法。
2. 【請求項２】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
   た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
   を生成する検査系列生成方法であって、 被検査回路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する
   第１の処理と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
   成処理が未処理でかつ第３の処理で検査系列生成処理を
   行わないようにしていない故障の中から、任意に１つ目
   標故障を選択し、選択した目標故障が前記第１の処理で
   解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇所で
   あれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中から
   前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第４の処理で
   検査系列生成処理を行わないようにしていない故障を付
   属的な目標故障とする第２の処理と、 前記第２の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査
   回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
   ターンを生成し、前記付属的な目標故障が存在した場合
   に、前記付属的な目標故障の影響を前記被検査回路の任
   意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを
   生成し、前記目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬
   に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのまま
   にしておく第３の処理と、 前記第３の処理で生成したドントケアを含んだ前記目標
   故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
   ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
   出可能な任意の故障を前記第３の処理である検査系列生
   成処理を行なわないように前記故障表を変更する第４の
   処理とを備えた検査系列生成方法。
3. 【請求項３】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
   た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
   系列を生成する検査系列生成方法であって、 被検査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する
   第１の処理と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
   成処理が未処理でかつ第４の処理で検査系列生成処理を
   行わないようにしていない故障の中から前記第１の処理
   で解析した被覆されている故障を被覆している故障より
   も必ず優先的に目標故障として選択するという規則に従
   って１つ目標故障を選択する第２の処理と、 前記第２の処理で選択した目標故障の影響を前記被検査
   回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
   ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
   入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第３の
   処理と、 前記第３の処理で生成したドントケアを含んだ前記目標
   故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
   ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
   出可能な任意の故障を前記第３の処理である検査系列生
   成処理を行なわないように前記故障表を変更する第４の
   処理とを備えた検査系列生成方法。
4. 【請求項４】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
   た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
   を生成する検査系列生成装置であって、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
   成処理が未処理でかつ第３の手段で検査系列生成手段を
   行わないようにしていない故障の中から任意に１つ目標
   故障を選択する第１の手段と、 前記第１の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査
   回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
   ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
   入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第２の
   手段と、 前記第２の手段で生成したドントケアを含んだ前記目標
   故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
   ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
   出可能な任意の故障を前記第２の手段である検査系列生
   成処理を行なわないように前記故障表を変更する第３の
   手段とを備えた検査系列生成装置。
5. 【請求項５】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
   た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
   を生成する検査系列生成装置であって、 被検査回路の分岐部分が再収れんするか否かを解析する
   第１の手段と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
   成処理が未処理でかつ第３の手段で検査系列生成処理を
   行わないようにしていない故障の中から、任意に１つ目
   標故障を選択し、選択した目標故障が前記第１の手段で
   解析した再収れんしない分岐部分の枝または茎の箇所で
   あれば、前記分岐の全ての枝と茎の未検出故障の中から
   前記目標故障と同じ種類の縮退故障でかつ第４の手段で
   検査系列生成処理を行わないようにしていない故障を付
   属的な目標故障とする第２の手段と、 前記第２の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査
   回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
   ターンを生成し、前記付属的な目標故障が存在した場合
   に、前記付属的な目標故障の影響を前記被検査回路の任
   意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パターンを
   生成し、前記目標故障及び前記付属的な目標故障の伝搬
   に関係しない外部入力ピンの論理値をドントケアのまま
   にしておく第３の手段と、 前記第３の手段で生成したドントケアを含んだ前記目標
   故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
   ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
   出可能な任意の故障を前記第３の手段である検査系列生
   成処理を行なわないように前記故障表を変更する第４の
   手段とを備えた検査系列生成装置。
6. 【請求項６】被検査回路である組合せ回路中の仮定され
   た縮退故障について、当該故障を検査する入力パターン
   系列を生成する検査系列生成装置であって、 被検査回路中の全縮退故障について被覆関係を解析する
   第１の手段と、 被検査回路の故障表を参照し、未検出でかつ検査系列生
   成処理が未処理でかつ第４の手段で検査系列生成手段を
   行わないようにしていない故障の中から前記第１の手段
   で解析した被覆されている故障を被覆している故障より
   も必ず優先的に目標故障として選択するという規則に従
   って１つ目標故障を選択する第２の手段と、 前記第２の手段で選択した目標故障の影響を前記被検査
   回路の任意の外部出力ピンに伝搬するための検査入力パ
   ターンを生成し、前記目標故障の伝搬に関係しない外部
   入力ピンの論理値をドントケアのままにしておく第３の
   手段と、 前記第３の手段で生成したドントケアを含んだ前記目標
   故障を検査する検査入力パターンで故障シミュレーショ
   ンを実行し、前記被検査回路の任意の外部出力ピンで検
   出可能な任意の故障を前記第３の手段である検査系列生
   成処理を行なわないように前記故障表を変更する第４の
   手段とを備えた検査系列生成装置。