JP2001084884A - 平面エアブリッジmemsスイッチ - Google Patents
平面エアブリッジmemsスイッチInfo
- Publication number
- JP2001084884A JP2001084884A JP2000212323A JP2000212323A JP2001084884A JP 2001084884 A JP2001084884 A JP 2001084884A JP 2000212323 A JP2000212323 A JP 2000212323A JP 2000212323 A JP2000212323 A JP 2000212323A JP 2001084884 A JP2001084884 A JP 2001084884A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- substrate
- air bridge
- metal
- photoresist
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H59/00—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays
- H01H59/0009—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays making use of micromechanics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/0036—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
- H01H2001/0078—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS] with parallel movement of the movable contact relative to the substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H59/00—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays
- H01H59/0009—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays making use of micromechanics
- H01H2059/0027—Movable electrode connected to ground in the open position, for improving isolation
Landscapes
- Micromachines (AREA)
- Manufacture Of Switches (AREA)
- Waveguide Switches, Polarizers, And Phase Shifters (AREA)
Abstract
ーション層のみを利用して製造可能なRFスイッチ、お
よびRFスイッチの製造方法を提供する。 【解決手段】 本発明によるスイッチは、1つ以上の金
属トレースに隣接して配置されているエアーブリッジ懸
垂ビーム24を含む。エアブリッジ懸垂ビームに隣接し
て、1つ以上の制御パッドを26,28配置し、スイッ
チを静電的に動作させる。懸垂ビームならびに金属トレ
ースおよび接点パッドは全て、単一のメタライゼーショ
ン層によって製作する。スイッチは、ビームの撓みが基
板の面に対してほぼ平行な面内で生ずるように構成され
ている。多数のメタライゼーション層を不要とすること
によって、スイッチ製造の複雑性が大幅に緩和する。更
に、このスイッチ構成により、単一のメタライゼーショ
ン・レベルを用いて、多投多極も可能となる。
Description
びRFスイッチの製作プロセスに関し、更に特定すれ
ば、微小電気機械システム(MEMS:microel
ectromechanical system)技術
によって製造し、基板に対してほぼ平行な単一面におけ
るスイッチの撓み(偏倚)を可能とする平面エアブリッ
ジを含み、このため単一レベルのメタライゼーションの
みがあればよく、公知のスイッチと比較してスイッチの
製造を大幅に簡略化するRFスイッチに関する。
途に用いられている。例えば、かかるRFスイッチは、
可変RF移相器、RF信号スイッチング・アレイ、切り
替え可能な同調素子に用いられ、更に電圧制御発振器
(VCO)の連動スイッチング(gang switc
hing)にも用いられていることが知られている。か
かるRFスイッチの小型化および軽量化を図るために、
微小電気機械システム(MEMS)技術を用いてかかる
スイッチを製造することは公知である。MEMS技術と
は、集積回路を製造するのと非常に類似した方法で、微
細加工を用いて種々の部品を製造するプロセスのことで
ある。
は、通常、1つ以上の金属トレースおよび制御パッドを
有する基板を含む。1つ以上の金属トレースとの1つ以
上の接点を形成するために、エアーブリッジ・ビームを
基板上に形成することは公知である。しかしながら、単
投のみである。かかるスイッチは、通常、多数のメタラ
イゼーション・レベルを必要とする。
とは公知である。即ち、制御パッドを外部DC電圧源に
接続する。DC電圧を制御接点に印加すると、静電力に
よってビームが偏倚し(撓み)、接点の1つと接触する
ことによって、RF接点を規定する金属トレースとビー
ムとの間の回路を閉成する。既知のスイッチの一部に
は、DC電圧を制御パッドから除去すると、ビームの弾
力性によってその正常位置に撓んで戻るものもある。他
の公知のスイッチでは、正常位置にビームを戻すには、
静電力が必要である。かかるスイッチでは、ビームの撓
みは、通常基板の面に対して概略的に垂直な面において
生ずる。
061号特許の図18Aないし図18Dは、多数のメタ
ライゼーション・レベルで形成された、単極構成のRF
スイッチを開示する。即ち、’061特許は、対向する
両縁上に薄い金属ヒンジによって懸垂されたビームを含
むRFスイッチを開示する。更に具体的には、ビームは
基板から離間され、薄い金属ヒンジによって、各縁に沿
って中間付近において懸垂されている。金属トレースが
基板に被着され、ビームのエッジと位置合わせされてい
る。金属トレースに隣接して、基板上に制御パッドが配
置されている。制御パッドにDC電圧を印加すると、静
電引力によってビームが時計方向または反時計方向に回
転し、基板上の金属トレースの1つと接触する。
は、いくつかの欠点があることが知られている。例え
ば、かかるスイッチは、最少でも2レベルの金属デポジ
ション(堆積)を必要とするため、製造プロセスの複雑
化を招く。加えて、かかるスイッチは、動作に比較的高
い電圧、典型的に、20ないし30ボルトを必要とする
ことも公知である。比較的高い電圧が必要なのは、エア
ーブリッジの長さが崩壊の可能性のために制限されるこ
と、またはビームおよびDC制御パッド間の距離が長い
ことのいずれかによるためである。金属フラップまたは
メンブレーンの下に異物が入り込む可能性があるため
に、かかるスイッチは通常単投設計に限定される。何故
なら、通常投数が多くなる程金属堆積段の一層の複雑化
が必要となり、より低いレベルに崩壊する虞れがあるか
らである。加えて、これらの種類のスイッチに対する不
良モードの1つに、いわゆる「張り付き(sticki
ng on)」があり、スイッチが「オン」位置に永続
的に止まってしまう。したがって、MEMS技術を用い
た製造に適しており、製造の複雑性が緩和され、「張り
付き」の問題を解消し、単一のメタライゼーション・レ
ベルのみがあればよい、多投型RFスイッチを提供する
ことが求められている。
RFスイッチおよびRFスイッチの製造プロセスに関す
る。RFスイッチは、多数のストローク(throw)
を含み、単一のメタライゼーション層のみを利用して製
造することが可能である。本発明によるスイッチは、1
つ以上の金属トレースに隣接して配置された、1つ以上
のエアーブリッジ懸垂ビームを含む。エアーブリッジ懸
垂ビームに隣接して、1つ以上の制御パッドが配置さ
れ、スイッチを静電的に動作させる。懸垂ビームならび
に金属トレースおよび接点パッドは、全て単一のメタラ
イゼーション層で製作する。スイッチは、ビームの撓み
(偏倚)が基板の面に対してほぼ平行な面で生ずるよう
に構成されている。多数のメタライゼーション層を不要
とすることにより、スイッチを製造する際の複雑性は大
幅に減少する。更に、このスイッチ構成は、単一のメタ
ライゼーション・レベルを用いて、多投多極も可能であ
る。
下の明細書および添付図面を参照することにより容易に
理解されよう。
(MEMS)技術を用いた製造に適したRFスイッチに
関する。本発明の重要な態様によれば、スイッチの撓み
(偏倚)は、概ね、基板の面に対してほぼ平行な面にお
いて行われる。本発明によるスイッチは、単極単投およ
び多極多投を含む種々の構成において、単一のメタライ
ゼーション・レベルのみを用いて製造することができ、
製造プロセスの簡略化およびスイッチのコスト削減が可
能となる。
の斜視図が示されており、全体的に参照番号20で識別
されている。スイッチ20は、クオーツまたはガリウム
砒素(GaAs)のような半導体基板というような、全
体的に平面状の絶縁基板22上に形成されている。絶縁
基板22は、その上面上を絶縁膜の層(図示せず)で覆
い、電流の漏れを防止することも可能である。図示のよ
うに、スイッチ20は、1つ以上の離間した平行金属ト
レース26、28に隣接して配置されたエアーブリッジ
として形成されたビーム24を含む。静電力を用いてエ
アーブリッジ24を偏倚させ、金属トレース26または
28の一方と接触させることができる。トレース26、
28の一部をエアーブリッジ24と同じ高さまで高くし
て、静電力および接触面積を最大にすることも可能であ
る。更に具体的には、RF入力RFinを、例えば、外部
ブロッキング・コンデンサ30を介して、ビーム24に
印加する。ブロッキング・コンデンサ30は、チョーク
31または終端抵抗32によって、接地に終端させれば
よい。RF出力端子RFoutが金属トレース26に接続
されている。
8は2つの目的を有する。即ち、金属トレース26、2
8は、ビーム24と共に、AC電気接点およびDC制御
パッドとして作用する。即ち、図2および図3に示すよ
うに、金属トレース26、28は、1対の比較的値が大
きい抵抗器37、39を介して、1対のDC電圧源34
および36に接続することができる。抵抗器37、39
は、RF信号をDCから隔離する役割を果たし、1対の
ブロッキング・コンデンサ38、40および終端抵抗器
42を介して終端されている。図2に示すように、DC
電圧を金属トレース26に印加すると、ビーム24が引
き寄せられ、絶縁体の薄膜(図示せず)を介して、金属
トレース26との容量性接触が生ずる。絶縁層は、DC
バイアスが接地に短絡するのを防止するために用いられ
ている。したがって、金属トレース26に電圧を印加す
ることにより、RFスイッチが閉じて、RF入力端子R
F in間に接続されているRF信号をRF出力端子RF
outに接続することが可能となる。同様に、図3に示す
ように、金属トレース28にDC電圧を印加することに
より、ビーム24が偏倚し、金属トレース28と接触し
て、RF入力端子RF inおよびRF出力端子RFout間
の接続を開放する。終端抵抗器42を除去すれば、ブロ
ッキング・コンデンサを他のRF出力に接続するために
使用することが可能となる。このようにして、スイッチ
は単極二投(spdt)スイッチとなる。図1ないし図
3に示すスイッチは、比誘電率(εr)が7で、50な
いし100ナノメートルの窒化シリコンのような高い誘
電性の層の比較的薄い層、またはビーム24および金属
トレース26、28上の窒化アルミニウム(εr=9)
材料のコーティングに基づいて、「オン」位置における
低いリアクタンスを得ている。空気の低い誘電率(εr
=1)によって、スイッチは「オフ」位置において高い
リアクタンスを有する。かかるスイッチでは、一方側に
張り付いた場合(「張り付き」)、他方側に電圧を印加
してこれを引き離すことにより、「張り付き」の問題を
軽減することができる。
するためのプロセス図を図4Aないし図4Hに示す。図
1ないし図3に示したスイッチは単極単投型であるが、
本発明の原理は、例えば図5および図6に示すように、
種々のスイッチ構成にも適用可能であり、多数の極およ
び多数のストロークは全て単一のメタライゼーション・
レベルを用いていることは、当業者には明白なはずであ
る。図4Aに移り、(GaAs)またはその他の半導体
あるいは絶縁型基板というような、基板50を用意す
る。基板50の上面上に第1フォトレジスト52をスピ
ン塗布する。以下で明白となるであろうが、第1フォト
レジスト52の厚さは、エアーブリッジ24直下にある
空気ギャップのサイズを決定する。例えば、第1フォト
レジスト52の厚さは、0.3ないし2ミクロンとする
ことができる。基板50の上面上にフォトレジスト52
の第1レベルをスピン加工した後、従来のフォトリソグ
ラフィ技術によって第1フォトレジスト52を露光し、
現像して、図1に示したように、エアーブリッジ金属ビ
ーム24の支持部54、ならびに電極26および28の
部分を作成する。即ち、デバイスを例えば200℃のよ
うな高温に晒すことにより、第1支持部54の縁を、図
4Bに示すように、丸くなる。第1支持部54の形状を
丸めることにより、ブリッジ24ならびに電極26およ
び28の部分が徐々に隆起することになり、図4Eに示
すように、隆起した金属の機械的強度が増大する。ま
た、この高温処理は、第2フォトレジスト56の現像の
間に第1支持部54が現像されるのも防止する。続い
て、図4Cに示すように、支持部54の上面上に第2フ
ォトレジスト56をスピン塗布する。例えば、図示のよ
うに、支持部54の上面上に、2.5ミクロンの第2フ
ォトレジスト56をスピン塗布する。従来のフォトリソ
グラフィ技術によって、適切なマスクを用いて第2フォ
トレジスト56を露出および現像し、DCパッドおよび
エアーブリッジ金属ビーム24のためのモールド58、
60および62を形成する。図4Cに示すように、モー
ルド58および60はそれぞれ金属トレース28および
26に用いられ、一方モールド62はエアーブリッジ金
属ビーム24に用いられる。モールド58、60および
62を形成した後、図4Eに示すように、金属トレース
28、26およびエアーブリッジ金属ビーム24のため
に、フォトレジスト56上およびモールド58、60、
62に、例えば、2ミクロンのアルミニウムのような金
属の導電性金属層64をそれぞれ堆積(デポジット)さ
せる。続いて、ステップ4Fにおいて、アセトンに基板
を浸漬するというような従来のプロセスによって過剰な
金属およびフォトレジスト56をリフトオフし(取り除
き)、金属トレース28、26およびエアーブリッジ金
属ビーム24を形成する。次に、図4Gに示すように、
支持部54を除去し、エアーブリッジ金属ビーム24直
下に空気ギャップ66を規定する。支持部54は、酸素
プラズマによって除去することができる。最後に、二酸
化シリコンまたは窒化シリコンのような誘電体材料の層
68を、スイッチの表面上に堆積する。この層の典型的
な厚さは約50ないし100ナノメートルである(図4
H)。したがって、図1ないし図3に示すように、スイ
ッチ20は、単一のメタライゼーション・レベルを利用
して形成され、単極単投スイッチまたは単極二投スイッ
チが得られる。ここで、エアーブリッジ金属ビーム24
の偏倚は、基板の面に対してほぼ平行な面において生ず
る。
び図6に示す。前述したように、これらの実施形態およ
びその他の構成は、本発明の原理を用いて製造するのに
適しており、特に、単一メタライゼーション層を用いて
製造するのに適している。図5Aを参照すると、図1に
示したスイッチの代替構成が示されており、全体的に参
照番号70で識別されている。この実施形態では、スイ
ッチ70は基板72上に形成され、1対の離間した金属
トレース76、78間に配置されたエアーブリッジ金属
ビーム74を含む。この実施形態では、金属トレース7
6、78は、図1ないし図3に示した実施形態のような
二重機能を有さず、厳密にスイッチ接点のために用いら
れる。したがって、この実施形態では、エアーブリッジ
および接点間に誘電体物質の層を設けて、図1における
ようにDC電圧の短絡を防止する必要はない。図5Aに
示すように、金属トレース76、78は、エアーブリッ
ジ金属ビーム74に対してほぼ垂直に配置することも可
能である。RF入力端子RFinが、エアーブリッジ金属
ビーム74の一端に接続され、RFチョークまたは終端
抵抗器75を介して終端されている。RF出力端子RF
outが金属トレース76の一端に接続されている。
0、82、84、86が設けられている。図5Aに示す
ように、エアーブリッジ・ビーム74の一方側には制御
パッド80、82が配置され、対向側には制御パッド8
4、86が配置されている。DC制御パッド84、86
に電圧を印加することにより、図5Bに示すように、エ
アーブリッジ金属ビーム74をそれらに向かって偏倚さ
せ、金属トレース76に接触させて、入力端子RFinお
よび出力端子RFout間を短絡する。同様に、DC電圧
を制御接触パッド80、82に印加すると、エアーブリ
ッジ・ビーム74は図5Cに示すように80、82に向
かって偏倚し、RF入力端子RFinおよびRF出力端子
RFout間の接続を開放する。DC信号を通過させるこ
とができない容量型スイッチとして動作する図1のスイ
ッチとは異なり、このスイッチはACおよびDC双方で
動作することができる。この場合も、2対の制御パッド
80、82および84、86を使用することができるの
で、「張り付き」問題は極力抑えられる。
8には、端部にポスト88、90が、エアーブリッジ・
ビーム74の高さとほぼ等しい高さに形成されている。
エアーブリッジ・ビーム74間の接続を可能にすること
に加えて、ポスト88、90はエアーブリッジ・ビーム
74がDC制御パッド80、82、84、86に接触す
るのを防止する停止部として作用する。更に、エアーブ
リッジ・ビーム74がDC制御パッドに接触するのを防
止するために、図5Dに示すように、1つ以上の分離ス
トッパ87を、DC制御パッドに沿って配置することも
可能である。ストッパ87の一部89は、エアーブリッ
ジ・ビーム74と同じ高さに隆起している。
す。この実施形態では、全体的に参照番号90で識別す
るスイッチは、1極六投スイッチとして構成されてお
り、複数のエアーブリッジ・ビーム92、94、96を
含む。エアーブリッジ金属ビーム92、94、96は機
械的に互いに分離されているが、電気的には互いに接触
している。エアーブリッジ・ビーム92、94、96
は、各々、1対の金属トレース102および104、1
06よび108、110および112間に配置されてい
る。制御パッド114、116、118、120、12
2、124、126、128、130、132、13
4、136は、それぞれ、エアーブリッジ・ビーム9
2、94、96の対向側に配置されている。RF入力端
子RFinがエアーブリッジ金属ビーム92、94、96
の一端に接続されている。複数のRF出力端子R
Fout1、RFout2、RFout3、RFout4、RFout5、R
Fout6が、金属トレース102、104、106、10
8、110、112の各々に接続されている。
6の各々は、前述したように、静電力によって同様に作
用する。例えば、接点パッド118、120にDC電圧
を印加すると、エアーブリッジ・レベル92が右に偏倚
し、RF入力端子およびRF出力端子RFout2間に短絡
が生ずる。同様に、制御パッド114、116にDC電
圧を印加すると、エアーブリッジ・ビームは左に偏倚
し、RF入力端子およびRF出力端子RFout1間に短絡
が生ずる。スイッチ出力のバランスは、同様に動作す
る。図6に示すスイッチは、したがって、セレクタ・ス
イッチとして用い、RF入力源RFinを6つのRF出力
ポートRFout1ないしRFout6のいずれかに接続するた
めに用いることができる。
ジ・ビーム140の平面図である。図示のように、必要
であれば、ブリッジ140の曲げ剛性をその長さに沿っ
て変化させ、任意の曲げ形状を得ることができる。図7
に示すように、エアーブリッジ・ビーム・ブリッジ14
0のある部分142、144は、比較的狭い領域として
形成して、薄いコンプライアント領域を形成することが
でき、一方ブリッジ部分の他の部分は比較的広い剛直領
域として形成することができる。こうすることの利点
は、作動電圧が低くて済み、所与のブリッジ長に対し
て、ブリッジの導電性を維持できることである。
一のメタライゼーション・レベルのみを用いて、多数の
極および多数のストロークを有する種々のRFスイッチ
を形成するのに適していることは明らかであろう。スイ
ッチをオンおよびオフに切り替えるために別個の制御源
が必要となるという事実は、追加のメタライゼーション
・レベルを必要としない。
の多くの変更および変形が可能である。したがって、請
求の範囲内において、本発明は、先に具体的に説明した
こと以外でも、実施可能であることは理解されよう。
である。
面図である。
面図である。
す図である。
の平面図である。図5Bは、オン位置にあるスイッチと
共に示す、図5Aに図示したスイッチの平面図である。
図5Cは、図5Bと同様であるが、オフ位置にあるスイ
ッチと共に示す図である。図5Dは、本発明の一態様に
よる絶縁ストッパの使用を示す、図5Aと同様の図であ
る。
チの別の代替実施形態の平面図である。
面図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 RFスイッチであって、 1つの第1RF端子を規定するエアーブリッジ・ビーム
として形成された基板と、 前記基板上において、前記ビームに隣接して形成され、
1つ以上の第2RF端子を規定する1つ以上の金属トレ
ースと、を備え、前記ビームが、前記基板とほぼ平行な
面において前記1つ以上の金属トレースに向かって偏倚
するように構成されている、RFスイッチ。 - 【請求項2】 請求項1記載のRFスイッチにおいて、
前記基板がガリウム砒素(GaAs)から形成されるR
Fスイッチ。 - 【請求項3】 請求項1記載のRFスイッチにおいて、
前記1つ以上の金属トレースが、前記ビームに対してほ
ぼ平行であるRFスイッチ。 - 【請求項4】 請求項1記載のRFスイッチにおいて、
前記金属トレースが前記ビームに対してほぼ垂直である
RFスイッチ。 - 【請求項5】 請求項1記載のRFスイッチにおいて、
前記ビームの幅が一定でないRFスイッチ。 - 【請求項6】 請求項1記載のRFスイッチにおいて、
前記基板がシリコンから形成されるRFスイッチ。 - 【請求項7】 RFスイッチを形成するプロセスであっ
て、 (a)基板を用意するステップと、 (b)前記基板上に支持部を形成するステップと、 (c)単一のメタライゼーション層を用いて、前記支持
部に隣接し、かつその上に金属トレースを堆積するステ
ップと、 (d)前記支持部を除去するステップと、を含むプロセ
ス。 - 【請求項8】 請求項7記載のプロセスにおいて、前記
支持部を形成する際、 前記基板上に第1フォトレジストをスピン加工するステ
ップと、 前記支持部を規定する前記第1フォトレジストの部分を
除く全てをフォトリソグラフィによって除去するステッ
プと、 前記第1フォトレジストを比較的高い温度に晒し、前記
第1フォトレジストの角を丸めるステップと、によって
形成することを特徴とするプロセス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/352,999 US6218911B1 (en) | 1999-07-13 | 1999-07-13 | Planar airbridge RF terminal MEMS switch |
US09/352999 | 1999-07-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001084884A true JP2001084884A (ja) | 2001-03-30 |
JP3619430B2 JP3619430B2 (ja) | 2005-02-09 |
Family
ID=23387318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000212323A Expired - Fee Related JP3619430B2 (ja) | 1999-07-13 | 2000-07-13 | 平面エアブリッジmemsスイッチ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6218911B1 (ja) |
JP (1) | JP3619430B2 (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003026060A1 (fr) | 2001-09-13 | 2003-03-27 | Sony Corporation | Substrat pour module hf |
WO2005062332A1 (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Memsスイッチ |
US6917268B2 (en) | 2001-12-31 | 2005-07-12 | International Business Machines Corporation | Lateral microelectromechanical system switch |
KR100513723B1 (ko) * | 2002-11-18 | 2005-09-08 | 삼성전자주식회사 | Mems스위치 |
WO2005117051A1 (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-08 | Yokohama Tlo Company Ltd. | マイクロマシンスイッチ |
WO2006077987A1 (ja) * | 2005-01-21 | 2006-07-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 電気機械スイッチ |
CN100373516C (zh) * | 2004-09-15 | 2008-03-05 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 翘曲膜结构的单刀双掷射频和微波微机械开关及制作方法 |
JP2009033711A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-02-12 | Ntt Docomo Inc | 可変回路、通信装置、移動通信装置、通信システム |
JP2009134256A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、スイッチング素子の製造方法、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP2010224396A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置とその駆動方法、スイッチとその製造方法、及び電子機器 |
JP2010231169A (ja) * | 2009-08-26 | 2010-10-14 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器 |
US7893790B2 (en) | 2002-06-05 | 2011-02-22 | Nxp B.V. | Electronic device and method of matching the impedance thereof |
US8223285B2 (en) | 2007-11-09 | 2012-07-17 | Seiko Epson Corporation | Active matrix device, method for manufacturing switching element, electro-optical display device, and electronic apparatus |
WO2012164725A1 (ja) * | 2011-06-02 | 2012-12-06 | 富士通株式会社 | 電子デバイスとその製造方法、及び電子デバイスの駆動方法 |
KR20190049126A (ko) * | 2017-11-01 | 2019-05-09 | 서강대학교산학협력단 | 전기기계 소자 패키지 및 이의 제조 방법 |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020151281A1 (en) * | 1999-08-12 | 2002-10-17 | Hughes Electronics Corporation | Front end communications system using RF mem switches |
KR100344790B1 (ko) * | 1999-10-07 | 2002-07-19 | 엘지전자주식회사 | 마이크로 기계구조를 이용한 주파수 가변 초고주파 필터 |
US6373007B1 (en) * | 2000-04-19 | 2002-04-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Series and shunt mems RF switch |
US6727778B2 (en) * | 2000-06-06 | 2004-04-27 | Cornell Research Foundation, Inc. | Transmission line structures for use as phase shifters and switches |
US20040091203A1 (en) * | 2000-09-07 | 2004-05-13 | Teraop (Usa) Inc. | Ultra-fast RF MEMS switch and method for fast switching of RFsignals |
US6535091B2 (en) | 2000-11-07 | 2003-03-18 | Sarnoff Corporation | Microelectronic mechanical systems (MEMS) switch and method of fabrication |
US20090163981A1 (en) | 2007-12-21 | 2009-06-25 | Greatbatch Ltd. | Multiplexer for selection of an mri compatible band stop filter or switch placed in series with a particular therapy electrode of an active implantable medical device |
US20090163980A1 (en) | 2007-12-21 | 2009-06-25 | Greatbatch Ltd. | Switch for turning off therapy delivery of an active implantable medical device during mri scans |
US6525396B2 (en) * | 2001-04-17 | 2003-02-25 | Texas Instruments Incorporated | Selection of materials and dimensions for a micro-electromechanical switch for use in the RF regime |
GB0122752D0 (en) * | 2001-09-21 | 2001-11-14 | Koninkl Philips Electronics Nv | A micromechanical switch and method of manufacturing the same |
US6744338B2 (en) * | 2001-11-13 | 2004-06-01 | International Business Machines Corporation | Resonant operation of MEMS switch |
AU2002352866A1 (en) * | 2001-11-26 | 2003-06-10 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Stress control of semiconductor microstructures for thin film growth |
US6798315B2 (en) * | 2001-12-04 | 2004-09-28 | Mayo Foundation For Medical Education And Research | Lateral motion MEMS Switch |
DE60312476T2 (de) * | 2002-01-16 | 2007-06-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Mikro-elektromechanische vorrichtung |
JP4186727B2 (ja) * | 2002-07-26 | 2008-11-26 | 松下電器産業株式会社 | スイッチ |
JP2004134370A (ja) * | 2002-07-26 | 2004-04-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スイッチ |
CN100490044C (zh) * | 2002-07-26 | 2009-05-20 | 松下电器产业株式会社 | 开关 |
KR100492004B1 (ko) * | 2002-11-01 | 2005-05-30 | 한국전자통신연구원 | 미세전자기계적 시스템 기술을 이용한 고주파 소자 |
ES2258735T3 (es) * | 2002-11-19 | 2006-09-01 | Baolab Microsystems S.L. | Dispositivo electrooptico miniaturizado y usos correspondientes. |
US6873223B2 (en) | 2002-12-16 | 2005-03-29 | Northrop Grumman Corporation | MEMS millimeter wave switches |
US6975193B2 (en) | 2003-03-25 | 2005-12-13 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Microelectromechanical isolating circuit |
US6856499B2 (en) | 2003-03-28 | 2005-02-15 | Northrop Gurmman Corporation | MEMS variable inductor and capacitor |
US7190245B2 (en) * | 2003-04-29 | 2007-03-13 | Medtronic, Inc. | Multi-stable micro electromechanical switches and methods of fabricating same |
US6882256B1 (en) * | 2003-06-20 | 2005-04-19 | Northrop Grumman Corporation | Anchorless electrostatically activated micro electromechanical system switch |
WO2004114345A2 (en) * | 2003-06-26 | 2004-12-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Micro-electromechanical device and module and method of manufacturing same |
WO2005069330A1 (en) * | 2003-12-30 | 2005-07-28 | Massachusetts Institute Of Technology | Electro-mechanical micro-switch device |
US7486163B2 (en) * | 2003-12-30 | 2009-02-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Low-voltage micro-switch actuation technique |
US7088153B2 (en) * | 2004-08-05 | 2006-08-08 | International Business Machines Corporation | Data storage latch structure with micro-electromechanical switch |
US20060055281A1 (en) * | 2004-09-16 | 2006-03-16 | Com Dev Ltd. | Microelectromechanical electrostatic actuator assembly |
EP1850360A1 (en) * | 2006-04-26 | 2007-10-31 | Seiko Epson Corporation | Microswitch with a first actuated portion and a second contact portion |
US7511593B2 (en) * | 2006-08-14 | 2009-03-31 | Eacceleration Corporation | DVI-compatible multi-pole double-throw mechanical switch |
US8461948B2 (en) | 2007-09-25 | 2013-06-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Electronic ohmic shunt RF MEMS switch and method of manufacture |
JP2009094690A (ja) * | 2007-10-05 | 2009-04-30 | Seiko Instruments Inc | 発振子及び該発振子を有する発振器 |
KR20090044781A (ko) * | 2007-11-01 | 2009-05-07 | 삼성전기주식회사 | Mems 스위치 |
KR101272359B1 (ko) * | 2010-03-01 | 2013-06-07 | 오므론 가부시키가이샤 | 스위치 및 그 제조 방법 및 릴레이 |
US8962443B2 (en) * | 2011-01-31 | 2015-02-24 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same |
US9373452B2 (en) * | 2013-10-08 | 2016-06-21 | R&D Circuits, Inc. | Tuned, interchangable shuttle board relay |
US10243248B2 (en) | 2013-12-31 | 2019-03-26 | Skyworks Solutions, Inc. | Devices and methods related to high power diode switches |
US9935677B2 (en) * | 2015-06-30 | 2018-04-03 | Skyworks Solutions, Inc. | Devices and methods related to high power diode switches with low DC power consumption |
US11189435B2 (en) | 2019-12-10 | 2021-11-30 | International Business Machines Corporation | Switch device facilitating frequency shift of a resonator in a quantum device |
CN115700217B (zh) * | 2021-07-21 | 2024-08-13 | 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 | 一种空气桥的制备方法及一种超导量子器件 |
US20240275009A1 (en) * | 2022-01-25 | 2024-08-15 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Phase shifter and antenna |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4740410A (en) | 1987-05-28 | 1988-04-26 | The Regents Of The University Of California | Micromechanical elements and methods for their fabrication |
US5121089A (en) | 1990-11-01 | 1992-06-09 | Hughes Aircraft Company | Micro-machined switch and method of fabrication |
US5168249A (en) * | 1991-06-07 | 1992-12-01 | Hughes Aircraft Company | Miniature microwave and millimeter wave tunable circuit |
US5619061A (en) | 1993-07-27 | 1997-04-08 | Texas Instruments Incorporated | Micromechanical microwave switching |
US6020564A (en) * | 1998-06-04 | 2000-02-01 | Wang Electro-Opto Corporation | Low-voltage long life electrostatic microelectromechanical system switches for radio-frequency applications |
-
1999
- 1999-07-13 US US09/352,999 patent/US6218911B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-07-13 JP JP2000212323A patent/JP3619430B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6917259B2 (en) | 2001-09-13 | 2005-07-12 | Sony Corporation | High-frequency module substrate device |
WO2003026060A1 (fr) | 2001-09-13 | 2003-03-27 | Sony Corporation | Substrat pour module hf |
KR100895208B1 (ko) | 2001-09-13 | 2009-05-06 | 소니 가부시끼 가이샤 | 고주파 모듈 기판 장치 |
US6977569B2 (en) | 2001-12-31 | 2005-12-20 | International Business Machines Corporation | Lateral microelectromechanical system switch |
US6917268B2 (en) | 2001-12-31 | 2005-07-12 | International Business Machines Corporation | Lateral microelectromechanical system switch |
US7893790B2 (en) | 2002-06-05 | 2011-02-22 | Nxp B.V. | Electronic device and method of matching the impedance thereof |
KR100513723B1 (ko) * | 2002-11-18 | 2005-09-08 | 삼성전자주식회사 | Mems스위치 |
WO2005062332A1 (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Memsスイッチ |
WO2005117051A1 (ja) * | 2004-05-31 | 2005-12-08 | Yokohama Tlo Company Ltd. | マイクロマシンスイッチ |
CN100373516C (zh) * | 2004-09-15 | 2008-03-05 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 翘曲膜结构的单刀双掷射频和微波微机械开关及制作方法 |
WO2006077987A1 (ja) * | 2005-01-21 | 2006-07-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 電気機械スイッチ |
JP2006228717A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気機械スイッチ |
US7683746B2 (en) | 2005-01-21 | 2010-03-23 | Panasonic Corporation | Electro-mechanical switch |
JP2009033711A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-02-12 | Ntt Docomo Inc | 可変回路、通信装置、移動通信装置、通信システム |
JP2009134256A (ja) * | 2007-11-09 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | アクティブマトリクス装置、スイッチング素子の製造方法、電気光学表示装置、および電子機器 |
JP4518200B2 (ja) * | 2007-11-09 | 2010-08-04 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス装置、スイッチング素子の製造方法、電気光学表示装置、および電子機器 |
US8223285B2 (en) | 2007-11-09 | 2012-07-17 | Seiko Epson Corporation | Active matrix device, method for manufacturing switching element, electro-optical display device, and electronic apparatus |
JP2010224396A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置とその駆動方法、スイッチとその製造方法、及び電子機器 |
JP2010231169A (ja) * | 2009-08-26 | 2010-10-14 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器 |
WO2012164725A1 (ja) * | 2011-06-02 | 2012-12-06 | 富士通株式会社 | 電子デバイスとその製造方法、及び電子デバイスの駆動方法 |
JP5637308B2 (ja) * | 2011-06-02 | 2014-12-10 | 富士通株式会社 | 電子デバイスとその製造方法、及び電子デバイスの駆動方法 |
US9221672B2 (en) | 2011-06-02 | 2015-12-29 | Fujitsu Limited | Electronic device, method of manufacturing the electronic device, and method of driving the electronic device |
KR20190049126A (ko) * | 2017-11-01 | 2019-05-09 | 서강대학교산학협력단 | 전기기계 소자 패키지 및 이의 제조 방법 |
KR101990806B1 (ko) * | 2017-11-01 | 2019-06-19 | 서강대학교산학협력단 | 전기기계 소자 패키지 및 이의 제조 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6218911B1 (en) | 2001-04-17 |
JP3619430B2 (ja) | 2005-02-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2001084884A (ja) | 平面エアブリッジmemsスイッチ | |
EP0484142B1 (en) | Micro-machined switch and method of fabrication | |
JP3808052B2 (ja) | 微細電気機械的スイッチ(mems)の製造方法 | |
US5880921A (en) | Monolithically integrated switched capacitor bank using micro electro mechanical system (MEMS) technology | |
JP3443046B2 (ja) | マイクロ電子機械的装置 | |
US6440767B1 (en) | Monolithic single pole double throw RF MEMS switch | |
US7053737B2 (en) | Stress bimorph MEMS switches and methods of making same | |
US6232847B1 (en) | Trimmable singleband and tunable multiband integrated oscillator using micro-electromechanical system (MEMS) technology | |
US5168249A (en) | Miniature microwave and millimeter wave tunable circuit | |
US7212091B2 (en) | Micro-electro-mechanical RF switch | |
EP1395516B1 (en) | Membrane for micro-electro-mechanical switch, and methods of making and using it | |
USRE45733E1 (en) | MEMS millimeter wave switches | |
US6841839B2 (en) | Microrelays and microrelay fabrication and operating methods | |
US7342710B2 (en) | Mems switch and method of fabricating the same | |
US6977196B1 (en) | Micro-electromechanical switch fabricated by simultaneous formation of a resistor and bottom electrode | |
JP2001143595A (ja) | マイクロ・エレクトロメカニカルrfスイッチをベースにした折り返しバネとその製造方法 | |
US6982616B2 (en) | Switch with current potential control | |
US7548144B2 (en) | MEMS switch and method of fabricating the same | |
JPH05259712A (ja) | ダイナミックに同調可能な小型マイクロ波およびミリメータ波装置 | |
JP3137112B2 (ja) | マイクロマシンスイッチおよびその製造方法 | |
US7977137B1 (en) | Latching zip-mode actuated mono wafer MEMS switch method | |
JP3207161B2 (ja) | マイクロ電気機械システムスイッチ | |
US20080210531A1 (en) | Micro-switching device and manufacturing method for the same | |
WO2003015128A2 (en) | An electromechanical switch and method of fabrication | |
US20070116406A1 (en) | Switch |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040210 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20040507 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20040518 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040809 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041015 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041112 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081119 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091119 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091119 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101119 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111119 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111119 Year of fee payment: 7 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111119 Year of fee payment: 7 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111119 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121119 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121119 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121119 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131119 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |