JP2001084650A - 検査用ディスク - Google Patents

検査用ディスク

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JP2001084650A
JP2001084650A JP25737199A JP25737199A JP2001084650A JP 2001084650 A JP2001084650 A JP 2001084650A JP 25737199 A JP25737199 A JP 25737199A JP 25737199 A JP25737199 A JP 25737199A JP 2001084650 A JP2001084650 A JP 2001084650A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
data
data tracks
inspection
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP25737199A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Ikeuchi
哲也 池内
Yasushi Taniguchi
泰 谷口
Yoshitomi Suga
良富 菅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ディスク1回転で複数の障害模様部のデータ
を読み出すことができ、すべての障害模様に対する再生
能力の確認に要する時間を大幅に短縮することが可能な
検査用ディスクを提供する。 【解決手段】 ディスク8上に同心円状のデータトラッ
ク6を持ち、そのデータトラック6上に記憶されたデー
タを読み出す記憶装置の検査用ディスクであって、ディ
スク8上の単一のデータトラック、または複数のデータ
トラックの各々のデータトラック6上に障害模様1,
2,3を複数個配置したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は検査用ディスク、特
に、データ記憶ディスクを使用する記憶装置の再生能力
を検査するために、故意にディスク上に傷や汚れ等の障
害模様を形成し、再生特性を悪化させた検査用ディスク
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、記憶装置の再生能力を検査す
るために、ディスク上に1つ以上のデータトラックに跨
る障害模様(傷や汚れ等)を故意に形成した検査用ディ
スクが用いられており、以下図面を参照しながら従来の
この種検査用ディスクについて説明する。
【0003】図3は従来の検査用ディスクの一例を示す
構成図であり、検査用ディスク4上には、データトラッ
ク6が同心円状のディスクの場合は障害模様1,2,3
が図3(a)に示されるようにディスク回転中心点5か
らディスク外周に向かう直線上に形成されており、ま
た、データトラック7が螺旋状のディスクの場合も障害
模様1,2,3が図3(c)に示されるように、ディス
ク回転中心点5からディスク外周に向かう直線上に形成
されている。各障害模様は、データトラック6が同心円
状のディスクでは図3(b)、データトラック7が螺旋
状のディスクでは図3(d)にそれぞれ示されるよう
に、複数のデータトラックに跨って形成される。
【0004】障害模様が形成された場所のデータを読み
出そうとする記憶装置にあっては、障害模様により読み
出し不可能、あるいは誤ったデータを読み出す可能性が
増加するため、障害模様部の読み出しデータの正誤率
と、記憶装置の再生能力間に相関が生じる。障害模様部
のデータは相関値を上げるため、通常複数読み出され、
また、障害模様の種類と記憶装置の特性により、再生能
力には変化が発生するため、1つのディスク上には複数
の種類の障害模様が形成されている。
【0005】この検査用ディスク上の障害模様の配置
は、製品開発に使用する評価用ディスクの配置を基にし
ており、製品開発においては、特定の障害模様に対し十
分な再生能力があることを評価するため、1回転中に1
種類の障害模様のみを通過することが要求されるので、
検査用ディスクにおいても、前記評価用ディスクの障害
模様の配置をそのまま取り入れ、これを製造工程で使用
している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成では、ディスク1回転で1箇所の障害模様部の
データしか読み出すことができず、製造工程での検査目
的が、特定の障害模様に対する再生能力不足の検出では
なく、評価対象となるすべての障害模様に対する再生能
力を有することの確認であるという観点から、このディ
スクによって複数の障害模様に対する再生能力を検査し
ようとすると、所要時間の大幅な増加を招くという問題
点があった。
【0007】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
であり、ディスク1回転で複数の障害模様部のデータを
読み出すことができ、すべての障害模様に対する再生能
力の確認に要する時間を大幅に短縮することが可能な検
査用ディスクを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の検査用ディスク
は、ディスク上に同心円状または螺旋状のデータトラッ
クを持ち、そのデータトラック上に記憶されたデータを
読み出す記憶装置の検査用ディスクであって、ディスク
上の単一のデータトラック、または複数のデータトラッ
クの各々のデータトラック上に障害模様を複数個配置し
たものである。
【0009】この発明によれば、1回転で複数の障害模
様部のデータを読み出すことができるので、すべての障
害模様に対する再生能力の確認に要する時間を大幅に短
縮することが可能となる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態につ
いて図面を参照しながら説明する。なお、前記従来のも
のと同一の部分については同一符号を用いるものとす
る。
【0011】(実施の形態1)図1は本発明の検査用デ
ィスクの実施の形態1における構成図であり、図1
(a)は検査用ディスクの平面図、図1(b)はディス
ク上の障害模様部の拡大図である。
【0012】図1の検査用ディスク8においては、回転
中心点5に対して同心円状にデータトラック6が存在
し、障害模様1,2,3は同一のデータトラック6上に
放射状に配置され、また、図1(b)に示されるように
複数のデータトラック6を跨ぐように形成されている。
【0013】この検査用ディスク8を使用して、3種類
の障害模様1,2,3に対する再生能力検査を行なう場
合、読み出し用のヘッドは、障害模様1を通過後、ヘッ
ド位置を移動することなく、障害模様2,障害模様3を
順次通過するため、1回転で3種類の障害模様部のデー
タを読み出すことが可能である。この時、ディスク1回
転に要する時間をT、再生能力検査において1障害模様
部データの読み出し回数をNとすると、検査所要時間は
NTとなる。
【0014】従来の図3(a)の検査用ディスク4を使
用して同様の再生能力検査を行なう場合、障害模様1,
2,3が図3(a)の回転中心点5からディスク外周に
向かう直線上に配置されているため、読み出し用のヘッ
ドは、1つの障害模様を通過後、次に読み取る障害模様
位置にヘッドを移動させ、且つ最低1回転しなければ他
の障害模様部のデータを読み出すことが不可能である。
この時、ディスク1回転に要する時間をT、再生能力検
査において1障害模様部データの読み出し回数をN、ヘ
ッド移動はディスクが1回転する間に完了するとすると
検査所要時間は3NTとなる。よって、図1(a)の検
査用ディスクを使用した場合、3NT−NT=2NTの
所要時間の短縮が可能となる。これは最小短縮時間であ
り、ヘッド移動時間がディスク1回転に要する時間Tよ
り大きい場合等においては更なる時間短縮が望める。
【0015】以上のように、本実施の形態によれば、同
心円状のデータトラックの1回転円周上に複数個の障害
模様を配置することにより、製造工程での評価対象とな
るすべての障害模様に対する再生能力の検査を行うにあ
たり、その所要時間を大幅に短縮することができる。
【0016】(実施の形態2)図2は本発明の検査用デ
ィスクの実施の形態2における構成図であり、図2
(a)は検査用ディスクの平面図、図2(b)はディス
ク上の障害模様部の拡大図である。
【0017】図2の検査用ディスク9においては、回転
中心5に対し螺旋状にデータトラック7が存在し、障害
模様1,2,3は同一螺旋円上のデータトラック7に配
置され、また、図2(b)に示されるように、複数のデ
ータトラック7を跨ぐように形成されている。
【0018】この検査用ディスク9を使用して、3種類
の障害模様1,2,3に対する再生能力検査を行なう場
合、読み出し用のヘッドは障害模様1を通過後、ヘッド
位置を移動することなく、障害模様2,障害模様3を順
次通過するため、1回転で3種類の障害模様部のデータ
を読み出すことが可能である。この時、ディスク1回転
に要する時間をT、再生能力検査において1障害模様部
データの読み出し回数をNとすると、検査所要時間は、
前記実施の形態1と同様NTとなる。従来の図3(c)
の検査用ディスク4を使用して同様の再生能力検査を行
なう場合は前記の図3(a)の検査用ディスク4と同
様、検査所要時間は3NTとなり、よって、図2(a)
の検査用ディスクを使用した場合、3NT−NT=2N
Tの所要時間の短縮が可能となる。これは最小短縮時間
であり、ヘッド移動時間がディスク1回転に要する時間
Tより大きい場合等においては更なる時間短縮が望め
る。
【0019】以上のように、本実施の形態によれば、螺
旋状のデータトラックを有する検査用ディスクにおける
螺旋状データトラックの同一回転円周トラック上に、複
数個の障害模様を配置することにより、製造工程での評
価対象となるすべての障害模様に対する再生能力の検査
を行うにあたり、その所要時間を大幅に短縮することが
できる。
【0020】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、1回転で
複数の障害模様部のデータを読み出すことができるの
で、製造工程での評価対象となる記憶装置のすべての障
害模様に対する再生能力の検査を行うにあたり、その検
査時間を大幅に短縮させることができるという有利な効
果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の検査用ディスクの実施の形態1におけ
る構成図
【図2】本発明の検査用ディスクの実施の形態2におけ
る構成図
【図3】従来の検査用ディスクの一例を示す構成図
【符号の説明】
1,2,3 障害模様 4,8,9 検査用ディスク 5 回転中心点 6 同心円状のデータトラック 7 螺旋状のデータトラック
フロントページの続き (72)発明者 菅 良富 香川県高松市古新町8番地の1 松下寿電 子工業株式会社内 Fターム(参考) 5D121 AA13 HH19

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスク上に同心円状または螺旋状のデ
    ータトラックを持ち、そのデータトラック上に記憶され
    たデータを読み出す記憶装置の検査用ディスクであっ
    て、ディスク上の単一のデータトラック、または複数の
    データトラックの各々のデータトラック上に障害模様を
    複数個配置したことを特徴とする検査用ディスク。
  2. 【請求項2】 ディスク上に同心円状のデータトラック
    を持ち、そのデータトラック上に記憶されたデータを読
    み出す記憶装置の検査用ディスクであって、隣接する複
    数の同心円状データトラックに跨る障害模様をこの複数
    の同心円状データトラックの一回転周期に対して複数個
    配置したことを特徴とする検査用ディスク。
  3. 【請求項3】 ディスク上に螺旋状のデータトラックを
    持ち、そのデータトラック上に記憶されたデータを読み
    出す記憶装置の検査用ディスクであって、隣接する複数
    の螺旋状データトラックに跨る障害模様をこの複数の螺
    旋状データトラックの一回転周期に対して複数個配置し
    たことを特徴とする検査用ディスク。
JP25737199A 1999-09-10 1999-09-10 検査用ディスク Pending JP2001084650A (ja)

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