JP4011023B2 - 光ディスク検査方法 - Google Patents
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Description
情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成された光ディスクの表面に検査のために光学的特性の変化を付与し、該光学的特性の変化による再生特性の変化を検査する検査方法において、
上記光学的特性の変化の付与前に、上記光ディスク上に第1のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記光ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域を検出し、該上記光ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査することを特徴とする。
図1はこの発明の実施の形態1に係る光ディスク検査方法で検査される光ディスクの概略図、図2は図1における光ディスク上の記録領域の一部を拡大して示す概略拡大図、図3はこの発明の実施の形態1に係る光ディスク検査方法の実施に用いられるディスク検査装置の概略図、図4及び図5はディスク検査方法の手順を示すためのフローチャートである。
第1のテスト信号は、ディスクの製造中に生じた欠陥を検査するために記録される。第2のテスト信号は、完成したディスクに対して指紋の付着、傷付けなどにより、意図的に変化を与え(検査のために光学的特性の変化を与え)、そのような変化に対する耐性(光学的特性の変化の付与による再生特性の変化)を検査するために記録される。
図1では、図示及び説明の簡略化のため、1ECCブロック又はその整数倍が1トラック(1周分)に一致するものと仮定している。1ECCブロック又はその整数倍が1トラック(1周分)に一致しない場合には、第1のテスト信号を記録する一続きのトラック及び第1のテスト信号を記録しない一続きのトラックは1トラック(1周分)よりも長くされる。
図2では、図1の事前検査トラック12に相当するトラックが符号21a〜21fで示され、図1の非事前検査トラック13に相当するトラックが符号22a〜22eで示されている。
事前検査トラックトラック21a〜21fと、非事前検査トラック22a〜22eは交互に配置されている。図示の例の欠陥23は、事前検査トラック21b、21c、非事前検査トラック22a、22b、22cの5本のトラックにまたがって存在している。
そのため、付着物、傷などの変化(光学的特性の変化)を与える前に、ディスク上に第1のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、ディスクが上記変化(光学的特性の変化)の付与前から有する欠陥23の影響を受ける領域(欠陥23により光学的影響を受ける領域)を検出し、該欠陥23の影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記変化に対する耐性(光学的特性の変化の付与による再生特性の変化)を検査する。この「欠陥の影響を受ける領域(欠陥により光学的な影響を受ける領域)」は、例えば、該欠陥の影響が検出されたトラック(21b、21c)及びこれに、ディスクの径方向において近接、例えば隣接するトラック(22a、22b、22c)から成るものとして定義される。
図示の検査装置40は、記録再生手段41、記録信号発生手段43、トラック選択手段42、再生信号評価手段45、及び制御手段44を有する。
記録再生手段41は、ディスク11への信号の記録及びディスク11からの信号の再生を行う。
記録信号発生手段43は、上記した第1のテスト信号及び第2のテスト信号を発生する。
トラック選択手段42は、第1のテスト信号を記録すべきトラック(事前検査トラック)及び第2のテスト信号による検査の対象とすべきトラックを選択し、選択結果を内部のメモリ42aに記憶する。トラックを特定するための情報としては、トラック番号、又はそのトラックに属するセクタを示すセクタ番号等を記憶する。
再生評価手段45は、記録再生手段41で再生された信号を受けて、欠陥の影響、付着物、傷などの影響を評価する。
変化付与手段48は、記録再生手段41とは別体で構成されるのが一般的であり、記録再生手段41と変化付与手段48の間のディスクの搬送、並びに記録再生手段41へのディスクの装着、除去、及び変化付与手段48へのディスクの装着、除去は手作業で行われるのが一般的であるが、これを自動的に行う搬送手段(図示しない)を設けても良い。
制御手段44は、この推定の結果に基づいて、事前検査トラック以外のトラックの中から、表面の変化(光学的特性の変化)、例えば付着物、傷等に対する耐性(付着物、傷などによる再生特性の変化)の検査のために使用するトラックを、トラック選択手段42に選択させる。
図4は、事前検査トラックへの第1のテスト信号の記録及び再生、並びにその再生信号に基づく被検査トラックの選択の手順を示し、図5は、被検査トラックの選択後に行われる、非事前検査トラックへの信号の記録及び再生、並びに再生信号に基づく変化に対する耐性の評価(光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の評価)のための手順を示す。
図4において、まず、事前検査トラックを指定する。指定は例えばトラック番号又はセクタ番号により行われる。指定結果はトラック選択手段42内のメモリ42aに記憶される。そして、指定された事前検査トラック21a〜21fに対してランダム信号等(誤り訂正符号を付加したもの)から成る第1のテスト信号を記録し(ステップST31)、その事前検査トラック21a〜21fから信号を再生する(ステップST32)ことにより事前検査トラック21a〜21f上の欠陥を検出する。欠陥の検出は、各事前検査トラックからの再生信号について誤り検出を行って、誤り率が基準値以下かどうかを判定することにより行われる。
そして、非事前検査トラックを挟んで互いに隣り合い、かつ誤り率が基準値以下である事前検査トラック21d、21e、21fの組合せ乃至は対を検出する(ステップST33)。即ち、ある事前検査トラックについて欠陥が基準値以下かどうかの判定を行い(ステップST33a)、基準値以下であれば、次に直前に判定を受けた事前検査トラックの欠陥は基準値以下かどうかの判定を行い(ステップST33b)、基準値以下であれば、直前の非事前検査トラック(従って誤り率が基準値以下であるとの判定を受けた事前検査トラック相互間に位置する非事前検査トラック)は、欠陥の影響が許容量以下であると推定する(ステップST33c)。
ステップST33a〜33dにより、誤り率が基準値以下である事前検査トラックの間に位置する非事前検査トラックが選択される。
ステップST33c、33dの後、すべての事前検査トラックについて評価が終わったかどうかの判定を行い(ステップST34)、まだであれば、ステップST32に戻る。
すべての事前検査トラックについて評価が終わったら、処理を終了する。
選択された非事前検査トラックを示す情報は、トラック選択手段42内のメモリ42aに記憶される。
意図的変化(検査のための光学的特性の変化)の付与後、ディスクを記録再生手段41に再び装着する。
例えば、第2のテスト信号を記録したトラックの一つを選んで、そこから信号を再生し、再生評価を行う(ステップST53a)。
次に、再生評価を受けた非事前検査トラックが欠陥の影響が小さいトラックかどうかの判定を行い(ステップST53b)、欠陥の影響の小さいものであれば、ステップST53aで得られた再生評価の結果を示す有効なデータとして蓄積する(ステップST53c)。
最後の非事前検査トラックであれば、ステップST55に進み、ステップST53cにおける、各被検査トラックについての評価の結果を、ディスク上のすべての被検査トラックについて総合し、ディスクが全体として満足できる特性(付着物、傷などに対する耐性)を有するかどうか(付着物、傷などに再生特性の変化が十分に小さいかどうか)の総合的判定を行う。
検査のための光学的特性の変化)を付与しているが、第2のテスト信号の記録の後であって再生の前に行うこととしても良い。このようにすれば、表面の変化(光学的特性の変化)による、記録特性の変化とは独立に、再生特性の変化を調べることができる。
例えば、意図的な変化(検査のための光学的特性の変化)がディスクの所定の半径方向位置、例えばディスクの中心から所定の距離の範囲に亘って付与される場合、その距離の範囲内においてのみ第1のテスト信号を間欠的に書込み、その範囲内に位置する非事前検査トラックに対してのみ第2のテスト信号を書込むようにしても良い。
一続きの事前検査トラックの長さを3周分以上とした場合、例えば図6(事前検査トラック及び非事前検査トラックがそれぞれちょうど3周分の場合を示す)の非事前検査トラック13a、13cに隣接する事前検査トラック12a、12cにおける再生評価の結果(誤り率)ではなく、他の事前検査トラック12a、12cで挟まれた事前検査トラック12bにおける再生評価の結果を、一続きの事前検査トラック12a〜12cに対する再生評価の結果として用いても良く、非事前検査トラック13a、13cに隣接する事前検査トラック12a、12cにおける再生評価の結果(誤り率)と、他の事前検査トラック12a、12bで挟まれた事前検査トラック12bにおける再生評価の結果とを(例えば重み付け加算により)合成したものを、一続きの事前検査トラック12a〜12cに対する再生評価の結果として用いても良い。
この場合、図6の事前検査トラック12a、12cに隣接する非事前検査トラック13a、13cにおける再生評価の結果(誤り率)ではなく、他の非事前検査トラック(13a、13c)で挟まれた非事前検査トラック13bにおける再生評価の結果を、一続きの非事前検査トラック13a〜13cについての再生評価(耐性検査)(再生特性の変化の検査)の結果として、用いても良く、事前検査トラック12a、12cに隣接する非事前検査トラック13a、13cにおける再生評価の結果(誤り率)と、他の非事前検査トラック13a、13cで挟まれた非事前検査トラック13bにおける再生評価の結果とを(例えば重み付け加算により)合成したものを、一続きの非事前検査トラック13a〜13cについての再生評価(耐性検査)(再生特性の変化の検査)の結果として用いても良い。
このようにディスクに対する検査は、間接的にディスクの製造方法乃至は製造条件に対する検査であると見ることもできる。
Claims (20)
- 情報記録トラックがスパイラル状又は同心円状に形成された光ディスクの表面に検査のために光学的特性の変化を付与し、該光学的特性の変化による再生特性の変化を検査する検査方法において、
上記光学的特性の変化の付与前に、上記光ディスク上に第1のテスト信号を間欠的に記録し、再生することにより、上記光ディスクが上記光学的特性の変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域を検出し、該光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域以外の領域を用いて、上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査することを特徴とする光ディスク検査方法。 - 上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥により光学的な影響を受ける領域が、上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が検出されたトラック及びこれに光ディスクの径方向において近接するトラックで構成され、上記第1のテスト信号の間欠的な記録が、上記第1のテスト信号を記録したトラックと上記第1のテスト信号を記録しないトラックとが径方向に交互に配置されるように行われることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録したトラックから上記第1のテスト信号を再生し、再生結果を評価することにより、該第1のテスト信号を記録したトラックに、光ディスクの径方向において近接する、上記第1のテスト信号を記録しないトラックが、上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が許容量以下のものであるかどうかの推定を行うことを特徴とする請求項2に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第1のテスト信号を記録したトラックの双方について、上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が基準値以下である場合に、上記第1のテスト信号を記録しないトラックに対する上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が許容量以下であると推定し、
上記第1のテスト信号を記録しないトラックに径方向の内周側及び外周側において近接する、上記第1のテスト信号を記録したトラックのいずれか一方について、上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が基準値を超える場合に、上記第1のテスト信号を記録しないトラックに対する上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が許容量を超えると推定する
ことを特徴とする請求項3に記載の光ディスク検査方法。 - さらに、上記光ディスクが上記光学的変化の付与前から有する欠陥による光学的な影響が許容量以下であると推定されたトラックを、上記検査に用いるトラックとして選択することを特徴とする請求項3又は4に記載の光ディスク検査方法。
- 少なくとも上記選択されたトラックに、上記表面の光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査のための第2のテスト信号を記録し、再生し、上記選択されたトラックからの再生結果を評価することにより上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を検査することを特徴とする請求項5に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録したトラック以外のすべてのトラックに上記第2のテスト信号を記録し、再生し、再生結果のうちの、上記選択された被検査トラックからの再生結果に基づいて上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化を評価することを特徴とする請求項6に記載の光ディスク検査方法。
- 上記選択されたトラックの各々についての上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の検査の結果を、すべての選択されたトラックについて総合評価することにより、光ディスク全体について上記光学的特性の変化の付与による再生特性の変化の評価を行うことを特徴とする請求項6又は7に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号の再生の後であって、上記第2のテスト信号の再生の前に、光ディスク上に上記光学的特性の変化の付与を行うことを特徴とする請求項7に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第2のテスト信号の記録の前に、上記光学的特性の変化の付与を行うことを特徴とする請求項9に記載の光ディスク検査方法。
- 上記光学的特性の変化の付与は、上記光ディスクに対する付着物又は傷の付与であることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録するトラックと、上記第1のテスト信号を記録しないトラックとが1周毎に交互に配置されるようにすることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録しないトラックが3周以上連続して配置されるようにすることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録するトラックが1周以上連続して配置されるようにすることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の光ディスク検査方法。
- 上記第1のテスト信号を記録するトラックが3周以上連続して配置されるようにすることを特徴とする請求項14に記載の光ディスク検査方法。
- 上記光学的特性の変化による再生特性の変化の検査が、上記光ディスク上の上記第1のテスト信号を記録した領域以外の領域を用いて行なわれることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク検査方法。
- 上記光学的特性の変化による再生特性の変化の検査が、上記光ディスク上の上記第1のテスト信号を記録した領域以外の領域に第2のテスト信号を記録し、再生することにより行なわれることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク検査方法。
- 上記第2のテスト信号が、上記第1のテスト信号を記録した領域以外の領域であって、かつ、上記光学的特性の変化の付与の前から存在する欠陥による光学的な影響を受ける領域以外の領域に記録される
ことを特徴とする請求項17に記載の光ディスク検査方法。 - 上記第2のテスト信号の記録の後であって、上記第2のテスト信号の再生前に、光ディスク上に上記光学的特性の変化の付与を行なうことを特徴とする請求項9に記載の光ディスク検査方法。
- 上記再生特性の変化の検査が前記第2のテスト信号を再生したときの誤り率を評価することにより行なわれることを特徴とする請求項6、又は17に記載の光ディスク検査方法。
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