JP2001076137A - 印影照合方法 - Google Patents

印影照合方法

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JP2001076137A
JP2001076137A JP24832599A JP24832599A JP2001076137A JP 2001076137 A JP2001076137 A JP 2001076137A JP 24832599 A JP24832599 A JP 24832599A JP 24832599 A JP24832599 A JP 24832599A JP 2001076137 A JP2001076137 A JP 2001076137A
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rotation angle
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JP24832599A
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English (en)
Inventor
Yoshiki Nakamatsu
芳樹 中松
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 短時間で登録印影と被照合印影の正確な回転
角と中心位置とを探索する。 【解決手段】 第1段階の処理では、登録印影と被照合
印影の重ね合わせる場合、登録印影の回転を粗く行い
(ステップS9)、重ね合わせも粗い位置間隔で行う
(ステップS7)。更に、評価関数も粗い画素間隔で計
算する(ステップS6)。第2段階の処理では、第1段
階で得られた登録印影の回転角と被照合印影の中心位置
を初期値として、勾配を計算する(ステップS11)。
次に、求めた勾配に基づき、次の位置と角度の候補を計
算する(ステップS12)。次の位置と角度の候補によ
る評価関数を計算し、値が改善されなくなるまで処理を
繰り返す(ステップS13、S14、S16)。値が改
善されなくなった場合は、その時点の中心位置と回転角
を解として出力する(ステップS15)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、帳票等のデジタル
画像から抽出した被照合印影を登録印影と照合する際
に、両者が最もよく一致する回転中心の位置と回転角を
正確に求める印影照合方法に関する。
【0002】
【従来の技術】登録印影と被照合印影を照合するために
は正確な位置合わせが必要である。また、一般に両者は
ある角度だけ回転しており正確な回転角を見つけること
も必要である。試行錯誤的に位置と回転角を見つけるこ
とも可能であるが、探索に多大な時間を要し、このよう
な方法は現実的ではない。
【0003】従来、このような印影照合方法として、例
えば特公平3−25825号公報等に示されるように、
前処理として登録印影と被照合印影の中心位置を求めて
から、第1段階として両者を低分解能の画像に変換し、
粗い回転角で回転させて粗い回転角を見出す。第2段階
として、見出した回転角の近傍において高分解能で精密
な回転角で照合を行うことにより印鑑照合を行う方法が
あった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に登録
印影と被照合印影の重畳を行わないで中心位置を正確に
見出すことは困難であり、必ず数ピクセル程度の位置ず
れがあるのが普通である。
【0005】従って、上記のような従来の方法におい
て、前処理の段階で位置ずれがあれば、正しい回転角の
近傍を第1段階で見つけることは必ずしもできない。そ
の結果、第2段階においても、正しい回転角の近傍で探
索を始めない限り正しい回転角は見つからない。また、
位置ずれの補正もできないままである。
【0006】このように、上記従来の印影照合方法で
は、短時間で正確な回転角と中心位置を探索することは
困難であった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、前述の課題を
解決するため次の構成を採用する。 〈構成1〉第1段階の処理と第2段階の処理からなる印
影照合方法であって、第1段階では、登録印影の中心位
置または被照合印影の中心候補を軸に、登録印影または
被照合印影を所定の基準回転角よりも粗い回転角で回転
させると共に、被照合印影の中心候補の近傍で、登録印
影と被照合印影とのパターンの距離を表す評価関数を用
いて、回転させた登録印影と被照合印影が最も一致する
位置を所定の基準位置間隔よりも粗く探索し、かつ、評
価関数の計算処理を、所定の基準画素間隔よりも粗い画
素間隔で行って、登録印影または被照合印影の回転角と
被照合印影の中心位置を求める処理を行い、第2段階で
は、第1段階の処理で得られた回転角と被照合印影の中
心位置とを初期値として、評価関数の値が小さくなる方
向を表す勾配を計算する処理と、勾配計算処理で求めた
勾配に基づき、次の位置と角度の候補を、基準位置間隔
および基準回転角で計算する処理と、次の位置と角度の
候補の計算処理で求めた次の位置と角度により、評価関
数を基準画素間隔で計算し、値が小さくなっていた場合
は更に次の位置と角度の候補を基準位置間隔および基準
回転角で計算し、一方、次の位置と角度により計算した
評価関数の値が小さくなっていなければ、その時点の位
置と角度を、被照合印影の中心位置および回転角の解と
して出力する処理を行うことを特徴とする印影照合方
法。
【0008】〈構成2〉構成1に記載の印影照合方法に
おいて、第1段階では、登録印影の中心位置を軸に粗く
回転し、登録印影の回転角を求めることを特徴とする印
影照合方法。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
例を用いて詳細に説明する。図1は本発明の印影照合方
法の具体例を示すフローチャートであるが、これに先立
ち本発明の印影照合方法を実現するためのシステム構成
を説明する。
【0010】〈構成〉図2は、本発明の印影照合システ
ムの構成図である。図示のシステムは、帳票読み取り部
1、帳票イメージ作業領域部2、登録印鑑イメージ格納
部3、印鑑照合部4、印影表示部5からなる。
【0011】帳票読み取り部1は、照明部とイメージセ
ンサ等からなり、帳票に照射した反射光を読み取って画
像データとする機能を有している。帳票イメージ作業領
域部2は、帳票読み取り部1によって読み取った画像デ
ータから印影画像を抽出するといった処理を行うための
機能部であり、対応する処理のソフトウェアやこれを実
行するプロセッサ、メモリ等から機能構成されている。
登録印鑑イメージ格納部3は、帳票読み取り部1によっ
て読み取った印鑑イメージを格納する機能部であり、ハ
ードディスク装置や半導体メモリあるいはネットワーク
等からなる。
【0012】印鑑照合部4は、帳票読み取り部1から帳
票イメージを、登録印鑑イメージ格納部3から登録印鑑
のイメージを読み取り、両者が最も一致する位置、角度
を検出する機能部であり、対応する処理のソフトウェア
やこれを実行するプロセッサ、メモリ等から機能構成さ
れており、図1に示すような処理を行うものである。
【0013】印影表示部5は、登録印影や帳票イメージ
を表示するための表示部であり、CRTや液晶ディスプ
レイ等からなる。
【0014】〈動作〉このような印鑑照合システムにお
いて、印鑑の登録時では、帳票読み取り部1によって帳
票のイメージを読み取り、この帳票イメージから印鑑の
イメージを取出し、これを登録印鑑イメージ格納部3に
格納する。
【0015】印鑑の照合時では次のような処理を行う。
先ず、帳票読み取り部1によって印鑑が押印された帳票
を読み取り、帳票イメージ作業領域部2に格納する。登
録印鑑イメージ格納部3は、帳票イメージ作業領域部2
に格納された帳票イメージと、登録印鑑イメージ格納部
3に格納されている登録印鑑のイメージを取出し、両者
が最も一致する位置、角度を検出する。これについては
後で詳細に説明する。
【0016】印影表示部5は、登録印影、帳票イメージ
を表示する。その時、印鑑照合部4が検出した位置と回
転角に基づいて両者を重ね合わせて表示してもよい。更
に、重ね合わせたときの重なり具合から一致率を計算し
表示する。
【0017】次に、本具体例の印影照合方法を説明す
る。
【0018】登録印影と被照合印影の位置、角度を探索
するに当たり、例えば次のような評価関数を用いる。
【0019】図3は、評価関数の説明図である。θ度回
転した登録印影画像Reg(i,j,θ)、登録印影の中心(d
x,dy)、被照合印影画像Chk(i,j)、被照合印影の中心
候補(cx,cy)とすると、評価関数f(cx、cy、
θ)は図3中の(a)の式(1)のように表される。こ
こで、D={(x,y)|(x,y)は登録印影の外接
矩形に含まれる座標}である。
【0020】この評価関数は二つのパターンの距離を意
味し、小さいほどよくマッチングしていることを示す。
【0021】一般に、この関数を位置・角度を変えなが
ら計算するのは大変時間がかかる。そこで、本発明の印
影照合方法では、処理を第1段階と第2段階とに分け、
第1段階では粗い探索を行うことにより計算時間の節減
を図っている。即ち、第1段階では、以下のように処理
を行う。
【0022】1.位置は数画素おきで登録印影と被照合
印影を重ね合わせる。 2.角度は数度おきで登録印影を回転させる。 3.評価関数も粗く計算する。例えば3画素毎に採用す
る等により、上記Dのとる値を間引きしたD′(D′⊂
D)を採用する。従って、図中の式(1)の代わりに
図中(b)に示す式(2)を計算する。
【0023】つまり、第1段階では、例えば、基準位置
間隔を1画素、基準回転角を1度とした場合、数画素お
き、数度おきといったこれより粗い間隔で処理を行い、
かつ、評価関数の基準画素間隔が1画素とした場合に、
3画素毎といった粗い画素間隔で行う。
【0024】そして、第2段階では、第1段階で得られ
た解を元に、最急降下法により解を改善する。そのとき
はD′ではなくDを採用する。つまり、第2段階では処
理を基準位置間隔、基準回転角、評価関数の計算も基準
画素間隔で行う。
【0025】以下、第1段階と第2段階の処理を図1の
フローチャートに沿って説明する。図1において、ステ
ップS1〜ステップS10は第1段階の処理、ステップ
S11〜ステップS16は第2段階の処理を表してい
る。
【0026】[ステップS1]前処理として登録印影の
中心(dx,dy)、登録印影の外接矩形、被照合印影の中
心位置の近似値(rx,ry)を得る。尚、被照合印影の中
心位置の近似値は、公知の画像処理方法等により求める
ものとする。
【0027】[ステップS2]θ←0、min=∞とす
る。即ち、初期値をセットする。
【0028】[ステップS3]登録印影を中心(dx,d
y)を軸にθ度回転させる。
【0029】[ステップS4]被照合印影の中心候補
(x,y)として、 x=rx−Δ、y=ry−Δ とする。尚、Δ、Δは探索範囲を表す定数である。
【0030】[ステップS5]回転させた登録印影の中
心と被照合印影の中心候補(x,y)を重ね合わせる。
【0031】[ステップS6]min>f′(x,y,θ)な
らmin=f′(x,y,θ)とし、そのときの(x,y,θ)を
(cx,cy,θ)とする。即ち、これは、図3(b)の式
(2)を計算し、その値f′(x,y,θ)がそれまでの最
小値minよりも小さい場合は、その値を新たな最小値min
とする処理である。これにより、探索範囲内でのf′
(x,y,θ)が求められ、その時の(cx,cy,θ)が、粗
い探索での中心位置と回転角となる。
【0032】[ステップS7]D″内で次の被照合印影
の中心候補(x,y)を選ぶ。上記1.で記述したよう
に、前回の候補の隣接画素ではなく、少し離して選ぶ。
例えば、xにδ(δ>1)加える。または、yにδ加
え、x=rx−Δとする。つまり、x方向に数画素移
動させるか、y方向に数画素移動させるといった処理を
行う。
【0033】但し、D″={(X,Y)|rx−Δ
X≦rx+Δ,ry−Δ≦Y≦ry+Δ}であ
る。
【0034】[ステップS8]D″内を全て探索する。
【0035】[ステップS9]θ←θ+δθとする。即
ち、上記2.で説明したように、角度も例えば数度おき
といった粗い間隔で回転させる。
【0036】[ステップS10]0≦θ<360の範囲
を全て探索する。
【0037】このようにして、第1段階では、粗い探索
での中心位置(cx,cy)と回転角θ を求めることがで
きる。続いて第2段階の処理を行う。第2段階ではθ
を改めてθとおいてその処理を開始する。
【0038】[ステップS11]マッチングが改善する
方向、即ちfの値が小さくなる方向へ探索する。そのた
め Δf=f(cx+1,cy、θ)−f(cx−1,cy,θ)…(3) Δf=f(cx,cy+1、θ)−f(cx,cy−1,θ)…(4) Δθf=f(cx,cy、θ−1)−f(cx,cy,θ)…(5) を計算する。
【0039】これらの処理は、評価関数f(cx,c
y、θ)の勾配を計算する処理である。即ち、ある座標
を基準にして+方向に1画素(または1度)移動(また
は回転)させた場合の評価関数の値と、−方向に1画素
(または1度)移動(または回転)させた場合の評価関
数の値とを比較し、どの方向に移動させた方が値が小さ
くなるかを計算するものである。
【0040】[ステップS12]−Δ=−(Δf,Δ
f,Δθf)の方向に中心位置と角度を進める。即
ち、 cx′=cx+1 Δf<0のとき cx′=cx−1 Δf>0のとき …(6) cx′=cx Δf=0のとき
【0041】これらは、例えば、Δf<0のときと
は、+方向に1画素移動させた場合の方が評価関数の値
が小さいため、+方向に中心位置を進めるといった意味
である。
【0042】 cy′=cy+1 Δf<0のとき cy′=cy−1 Δf>0のとき …(7) cy′=cy Δf=0のとき
【0043】 θ′=θ+1 Δθf<0のとき θ′=θ−1 Δθf>0のとき …(8) θ′=θ Δθf=0のとき として、(cx′,cy′,θ′)を候補とする。
【0044】[ステップS13] m=min{f(cx−1,cy,θ),f(cx+1,cy,θ),f(cx ,cy−1,θ),f(cx,cy+1,θ),f(cx,cy,θ−1),f (cx,cy,θ+1),f(cx′,cy′,θ′)} …(9) を計算する。即ち、(cx,cy,θ)を1画素ずつま
たは角度を1度ずつ移動させた場合の評価関数の中での
最小値を求める。
【0045】[ステップS14]f(cx,cy、θ)
≦mか否かを判定する。即ち、(cx,cy,θ)を1
画素または1度ずつ移動させた場合よりも、(cx,c
y,θ)の評価関数が小さいかを判定する。
【0046】[ステップS15]上記ステップS14に
おいてf(cx,cy、θ)≦mなら、(cx,cy,
θ)を解として処理を終了する。即ち、(cx,cy,
θ)を1画素または1度ずつ移動させた場合よりも、
(cx,cy,θ)の評価関数が小さいということは、
(cx,cy,θ)が最もマッチングしていることを意
味するため、これを解とする。
【0047】[ステップS16]上記ステップS14に
おいてf(cx,cy、θ)>mなら、mを与える位置
と角度を新しい(cx,cy,θ)としてステップS1
1に戻る。即ち、(cx,cy,θ)の評価関数より
も、(cx,cy,θ)をいずれかの方向に進めた方が
評価関数が小さくなるため、更に探索を行う。
【0048】〈効果〉以上のように、上記具体例によれ
ば、第1段階で位置、回転角度を粗く変化させ、評価関
数も粗く計算することで時間を節減して解の近似値を求
め、第2段階では、最急降下法を用いて第1段階の解を
改善する。第2段階では、評価が改善する方向にのみ探
索を進めるため探索時間がわずかで済む。従って、全体
の処理を短時間で行うことができる。また、回転角度だ
けでなく、位置についても探索するため、前処理での位
置は正確な値でなくてもよい。
【0049】《利用形態》上記具体例では、登録印影を
回転させたが、逆に被照合印影を回転させて両者が一致
する角度を求めるようにしてもよい。
【0050】但し、登録印影を回転させた方が処理量が
少なく、処理時間が短時間で済むという効果がある。こ
れは、登録印影の場合はその外接矩形がはっきり分かっ
ているため、その外接矩形内のデータを回転させればよ
いのに対し、被照合印影では中心位置も概略値であり、
また、外接矩形も登録印影より広い範囲としなければな
らない。従って、被照合印影を回転させて処理を行うと
登録印影を回転させる場合よりも処理量が増えることに
なるからである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の印影照合方法の具体例を示すフローチ
ャートである。
【図2】本発明の印影照合システムの構成図である。
【図3】評価関数の説明図である。
【符号の説明】
1 帳票読み取り部 2 帳票イメージ作業領域部 3 登録印鑑イメージ格納部 4 印鑑照合部 5 印影表示部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1段階の処理と第2段階の処理からな
    る印影照合方法であって、 前記第1段階では、 登録印影の中心位置または被照合印影の中心候補を軸
    に、前記登録印影または前記被照合印影を所定の基準回
    転角よりも粗い回転角で回転させると共に、 前記被照合印影の中心候補の近傍で、前記登録印影と前
    記被照合印影とのパターンの距離を表す評価関数を用い
    て、回転させた前記登録印影と前記被照合印影が最も一
    致する位置を所定の基準位置間隔よりも粗く探索し、 かつ、前記評価関数の計算処理を、所定の基準画素間隔
    よりも粗い画素間隔で行って、前記登録印影または前記
    被照合印影の回転角と前記被照合印影の中心位置を求め
    る処理を行い、 前記第2段階では、 前記第1段階の処理で得られた回転角と前記被照合印影
    の中心位置とを初期値として、前記評価関数の値が小さ
    くなる方向を表す勾配を計算する処理と、 前記勾配計算処理で求めた勾配に基づき、次の位置と角
    度の候補を、前記基準位置間隔および前記基準回転角で
    計算する処理と、 前記次の位置と角度の候補の計算処理で求めた次の位置
    と角度により、前記評価関数を前記基準画素間隔で計算
    し、値が小さくなっていた場合は更に次の位置と角度の
    候補を前記基準位置間隔および前記基準回転角で計算
    し、一方、次の位置と角度により計算した評価関数の値
    が小さくなっていなければ、その時点の位置と角度を、
    前記被照合印影の中心位置および回転角の解として出力
    する処理を行うことを特徴とする印影照合方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の印影照合方法におい
    て、 第1段階では、 登録印影の中心位置を軸に粗く回転し、当該登録印影の
    回転角を求めることを特徴とする印影照合方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010108242A (ja) * 2008-10-30 2010-05-13 Fujitsu Frontech Ltd 画像処理プログラム、画像処理装置および画像処理方法
JP2011198347A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Republic Of Korea (National Inst Of Scientific Investigation Director Ministry Of Public Administration & Security) 偽造印影検査方法及び記録媒体

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