JP2001052644A - 磁界型エネルギーフィルタ - Google Patents

磁界型エネルギーフィルタ

Info

Publication number
JP2001052644A
JP2001052644A JP2000155923A JP2000155923A JP2001052644A JP 2001052644 A JP2001052644 A JP 2001052644A JP 2000155923 A JP2000155923 A JP 2000155923A JP 2000155923 A JP2000155923 A JP 2000155923A JP 2001052644 A JP2001052644 A JP 2001052644A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
energy filter
filter
type energy
regions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000155923A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3692011B2 (ja
Inventor
Katsushige Tsuno
勝重 津野
Munro Eric
ムンロ エリック
Rose John
ローズ ジョン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2000155923A priority Critical patent/JP3692011B2/ja
Publication of JP2001052644A publication Critical patent/JP2001052644A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3692011B2 publication Critical patent/JP3692011B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ビームパスを長くし偏向角の絶対値の合計を
大きくすると共に、コンパクトな形状を実現する。 【解決手段】 複数の磁界領域M1〜M4を有し入射窓
Iから出射スリットSまでの電子ビームの軌道を偏向す
る磁界型エネルギーフィルタにおいて、少なくとも4個
の磁界領域M1〜M4を有し、2個目M2と3個目M3
の磁界領域の中間に位置する回転対称軸を境にして磁界
の極性が反転し、入射窓と出射スリットを結ぶ直線の左
右両側に偏向磁石M1〜M4を有し、各磁界領域M1〜
M4のビーム偏向角の絶対値の合計を540°超あるい
はおよそ720°とする。これにより、従来のオメガエ
ネルギーフィルタやアルファエネルギーフィルタに比べ
て、ピームパスを長くし偏向角の絶対値の合計を大きく
すると共に、入射窓面Iから出射スリット面Sまでの距
離Dを短くし、コンパクトな形状を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の磁界領域を
有し入射窓から出射スリットまでの電子ビームの軌道を
偏向する磁界型エネルギーフィルタに関する。
【0002】
【従来の技術】図4は電子光学系にオメガエネルギーフ
ィルタを組み込んだ電子顕微鏡の構成例を示す図、図5
はAタイプのオメガエネルギーフィルタの構成を説明す
るための図、図6はBタイプのオメガエネルギーフィル
タの構成を説明するための図、図7はAタイプのオメガ
エネルギーフィルタの基本軌道を説明するための図、図
8はBタイプのオメガエネルギーフィルタの基本軌道を
説明するための図である。
【0003】電子顕微鏡に接続して用いられるエネルギ
ーフィルタとしては、オメガフィルタやキャスターンヘ
ンリー(Castain-Henry)型フィルタ等のインコラム型と
呼ばれるエネルギーフィルタが、鏡筒をまっすぐ一直線
状に保ったまま電子顕微鏡内に組み込めるために盛んに
用いられている。電子光学系にオメガエネルギーフィル
タを組み込んだ電子顕微鏡では、図4に示すように電子
銃11で発生した電子ビームをコンデンサレンズ12を
通して試料14に照射し、対物レンズ13、中間レンズ
15、入射窓16、オメガエネルギーフィルタ17、出
射スリット18、投影レンズ19を通して蛍光板20に
試料の観察像を投影している。このオメガエネルギーフ
ィルタは、Ω字状の軌道に配置した4つの磁石M1、M
2、M3、M4(ビームの回転半径R1、R2、R3、
R4)にビームを次々と偏向させながら通すことによっ
て入射ビームと出射ビームとが同一直線上に並ぶように
したものであり、図5及び図6にマグネットポールピー
スの形状と電子軌道の2つの例を示している。ここで、
入射ビームと出射ビームとが同一直線上に並ぶような直
線あるいは入射窓と出射スリットとを通る直線を「直線
軸」と呼び、図5及び図6に示すようなフィルタの磁界
で偏向を受けたビームの中心の軌道を「フィルタの中心
軌道を示す光軸」と呼ぶこととする。
【0004】このようにオメガエネルギーフィルタを透
過電子顕微鏡の結像レンズ系の中間あるいは後方に挿入
した装置は、電子線エネルギー分光結像法(electron s
pectroscopic imaging、ESI)のための装置として用
いられる。オメガエネルギーフィルタやアルファ型エネ
ルギーフィルタ等の装置では、入射ビームの光軸と出射
ビームの光軸とが一直線上にあり複数の磁界領域を有し
入射窓から出射スリットまでの電子ビームの軌道を偏向
するため、結像レンズ系の中間に挿入して用いられ、イ
ンコラム型のESI装置と呼ばれている。これに対し
て、単一セクター型磁石と、多極子補正装置を組み合わ
せたフィルタは、出射ビームの光軸が入射ビームからお
よそ90°の方向に変化するため、顕微鏡筒の後ろに設
置され、ポストコラム型のフィルタと呼ばれる。
【0005】オメガエネルギーフィルタは、インコラム
型フィルタの代表的なものであり、このフィルタは、元
々キャスターンヘンリー型フィルタと呼ばれた磁界プリ
ズム−静電ミラー−磁界プリズムの組み合わせからなる
インコラム型フィルタの静電ミラーを磁界プリズムで置
き換えて、すべての偏向要素を磁界で構成したものに始
まる。そこで1970年代にフランスで開発されたフィ
ルタは、3つの磁界で構成されていたが、その後ドイツ
でフィルタの収差理論などの研究が行われ、3つの磁石
を用いるよりも、4つの磁石を用いる方が有利であるこ
とが明らかにされ、その後の研究は4つの磁石を用いる
系で検討がなされた。一様場を有するセクター型磁石で
は、磁極面に並行な方向x、即ちエネルギー分散を生じ
る方向にはビームの収束作用を有するものの、磁界方向
yには収束作用はない。そこでオメガエネルギーフィル
タの場合、磁極端面に傾斜をつけて、端面傾斜が作る4
極子レンズ作用によって磁界方向の収束を得ている。図
5及び図6に示した2つの例は、異なる光学設定条件の
下で設計されたものであり、図5に示した磁極面に平行
方向xにも磁界方向yにも3回の結像を行うものがAタ
イプと呼ばれ、図6に示した磁極面に平行方向xに3
回、磁界方向yに2回の結像を行うものがBタイプと呼
ばれている。その基本的光学系の違いは、フィルタの中
心軌道を示す光軸を直線に直して描いた図7に示すAタ
イプの軌道図及び図8に示すBタイプの軌道図において
明らかである。
【0006】ここで、xα、yβの両軌道は、最終的に
蛍光板上に結ぶ顕微鏡像を形成する電子ビームの軌道で
ある。一方、xγ、yδの両軌道は前段のレンズによっ
てフィルタの入射窓面上にフォーカスし、フィルタ通過
後、出射スリット面上にフォーカスする軌道である。電
子ビームは出射スリット面上に達したところではそのエ
ネルギーに応じて十分な分散を生じる。出射スリットに
よって、電子ビームは所望のエネルギー範囲のビームの
みが選択される。なお、蛍光板上の像は出射スリットを
通過したエネルギー範囲のビームによって形成される
が、分散を有したままではぼけの原因となるので、像面
上では分散が消滅していなければならない。これはアク
ロマティック条件と呼ばれている。さらに、オメガエネ
ルギーフィルタでは、中心面対称な軌道を取ることによ
って、像面上の開口収差と歪み収差をうち消しているこ
とが大きな特徴である。
【0007】オメガエネルギーフィルタは、2次収差の
いくつかを零にし残りの収差も小さくするために、第2
の磁石M2と第3の磁石M3の間の面を対称面(中心
面)として、その前後でのビーム軌道が対称となるよう
に設計されている。即ち、像面から出射スリット面まで
の距離をLLとすると、入射ビームの像面は、入射窓面
から距離LLに位置するように調整される。この様な条
件の下で、AタイプとBタイプの違いは、y方向(磁界
方向)の軌道において、Aタイプが図7に示すように対
称面でyβ=0、yδ′=0であるのに対して、Bタイ
プが図8に示すように対称面でyβ′=0、yδ=0で
ある。ここで「 ′」はzに対する微分、すなわち軌道
の傾きである。x軌道は、両ビームにおいて同一条件
で、いずれのタイプでも対称面でxα=0、xγ′=0
となる。
【0008】このような初期条件を選ぶと、Aタイプで
は、図7に示すようにxγ軌道は3回フォーカスするの
に対し、yδ軌道も3回フォーカスするが、Bタイプで
は、図8に示すようにxγは3回フォーカスするもの
の、yδは2回のみのフォーカスとなる。即ち、像は裏
返しになる。このような2つのタイプのオメガエネルギ
ーフィルタがあることは古くから知られている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】電子顕微鏡の場合、エ
ネルギーフィルタは、電子源のエネルギーを制限して単
色性の高いビームを作りだすためのモノクロメータとし
ての利用と、試料によって作られたエネルギーロスを測
定するelectron energy loss spectroscopy(EEL
S)、エネルギーロスした電子を除いてゼロロス電子だ
けで像を作ったり、あるいはロス電子だけで像を作った
りするenergy filtered transmitted electron microsc
opy(EFTEM)としての利用がある。これらの用途
において現在最も求められている特性は大きな分散を持
つことである。
【0010】大きな分散を作るための最も良く知られた
方法はリターディングを行うことである。エネルギーフ
ィルタは、入射電子のエネルギーに対して1/1000
ないしは1/10000程度の分散を持つのが普通なの
で、入射電子のエネルギーを低くすればそれだけ観測で
きるエネルギーの分解能は向上する。しかし、このため
には、エネルギーフィルタを高電圧が印加された場に配
置しなければならないため、装置が複雑化したり大型化
する欠点がある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するものであって、ビームパスを長くし、ビーム偏向
角の絶対値の合計を大きくすると共に、コンパクトな形
状を実現できるようにするものである。
【0012】そのために本発明は、複数の磁界領域を有
し入射窓から出射スリットまでの電子ビームの軌道を偏
向する磁界型エネルギーフィルタにおいて、少なくとも
4個の磁界領域を有し、2個目と3個目の磁界領域の中
間位置に回転対称軸を有し、2個目と3個目の磁界領域
の間を境にして磁界の極性が反転し、また、直線軸の左
右両側に偏向磁石を有し、前記各磁界領域のビーム偏向
角の絶対値の合計を540°超あるいはおよそ720°
とすることを特徴とするものである。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図1は本発明に係る磁界型エネ
ルギーフィルタの実施の形態を示す図、図2は本発明に
係る磁界型エネルギーフィルタのシミュレーション結果
に基づいた基本軌道を説明するための図である。
【0014】図2(a)は、入射窓面上に投影された顕
微鏡像を形成する電子ビームの軌道を表す。入射窓面上
で顕微鏡像を結んだ電子ビームは、合計4回クロスオー
バを結んだ後、出射スリット面上で再び顕微鏡像を結
ぶ。図2(b)は、入射窓を通過した電子ビームの内の
特定の(2つの)エネルギの電子ビームの軌道を示す。
入射窓を通過した電子ビームは、3回フォーカスを結ん
だ後、出射スリット面上で4度目のフォーカスを結ぶ。
電子ビームのエネルギが異なると、電子ビームは異なる
軌道を描いて、出射スリット面上の異なる位置にフォー
カスを結ぶ。従って、出射スリットによって、所望のエ
ネルギの電子ビームのみを選択することができる。図2
(c)は、顕微鏡像を形成する電子ビームの軌道の磁極
面に並行な方向の軌道xαを表す。図2(d)は、顕微
鏡像を形成する電子ビームの軌道の磁界方向の軌道yβ
を表す。図2(e)は、所望のエネルギの電子ビームの
軌道の磁極面に並行な方向の軌道xγと光軸に沿った分
散の大きさ(xχ)を表す。図2(f)は、所望のエネ
ルギの電子ビームの軌道の磁界方向の軌道yδを表す。
【0015】図1において、M1〜M4は磁石、Iは入
射窓、Sは出射スリットを示す。以下図1における動作
を電子ビームの軌道に沿って説明する。電子ビームは図
の矢印で示す光軸の方向に沿って入射し、入射窓I面上
にクロスオーバー(フォーカス)を結んだ後、フィルタ
に入射する。入射窓Iを通過した電子ビームは、偏向角
がφ1である磁石M1に入射し、φ1だけ偏向されて
(図では時計方向の偏向として描かれている)出射し、
フィルタによる最初のフォーカスを結ぶ。次いで電子ビ
ームは、偏向角がφ2である磁石M2に入射し逆方向
(図では反時計方向)にφ2だけ偏向されて出射する。
磁石M2を出射した電子ビームは、直線軸と電子ビーム
軌道と交わる点Oを通過する。そして、この点O近傍で
2度目のフォーカスを結ぶ。点Oを通過した電子ビーム
は、直線軸の反対側にある偏向角がφ3である磁石M3
に入射し、時計方向にφ3だけ偏向されて出射し、3度
目のフォーカスを結ぶ。ここでφ3=−φ2である。次
いで磁石M3を出射した電子ビームは、偏向角がφ4で
ある磁石M4に入射し、反時計方向にφ4だけ偏向され
て出射する。ここでφ4=−φ1である。磁石M4を出
射した電子ビームは、出射スリットに達し、出射スリッ
ト面上で4度目のフォーカスを結ぶ。4度目のフォーカ
スを結んで出射スリットに達した電子ビームは、そのエ
ネルギの違いによって、十分に分散している状態になっ
ている。従って、電子ビームは出射スリットで所望のエ
ネルギのみの電子ビームが出射スリットを通過してフィ
ルタを出射する。
【0016】ここで、磁石M2と磁石M3との中間の位
置にあるO点を中間点と呼ぶ。そして、この点を通って
紙面に垂直な軸は、このフィルタの2回の回転対称軸
(あるいは2回の回転軸)になっている。即ち、このフ
ィルタは、O点を通る軸の2回の回転対称になってい
る。
【0017】この様に、本発明に係る磁界型エネルギー
フィルタでは、直線軸の両側に磁石が配置され、しかも
それらは2回の回転対称となっているので、オメガフィ
ルタやアルファフィルタなど、従来のフィルタが直線軸
の片側だけに磁石を有していたものと比べると、フィル
タの入口と出口との距離、つまり入射窓Iと出射スリッ
トSとの距離Dを長くすることなく、ビームパスを長く
し、ビーム偏向角の絶対値の合計を大きくすることがで
きる。
【0018】従って、上記のようにした本発明に係る磁
界型エネルギーフィルタによれば、従来のオメガフィル
タに比べて形状がよりコンパクトになる。しかも、磁石
のビーム偏向角は、図1に示す構成の場合で、入射側か
ら順に110°、−250°、250°、−110°と
すると、偏向角の絶対値の合計は、720°になる。こ
のビーム偏向角は、アルファフィルタの2倍に増大して
いる。また、従来のオメガフィルタでも、実用的な偏向
角の限界を4個の磁石でそれぞれ125°とし、125
°、−125°、−125°、125°としても、偏向
角の絶対値の合計は500°となるので、およそ1.4
倍に増大している。
【0019】これまで提案された従来のエネルギーフィ
ルタは、磁界1〜4の4つの磁界領域から成る場合、す
べて対称面を挟んだ磁界2と磁界3の磁界極性が同一で
ある。本発明において新たに提案する磁界型エネルギー
フィルタ(これをSフィルタと呼ぶ。)では、回転対称
軸を境にして磁界2と磁界3の磁界の極性が反転してい
る。
【0020】なお、図1および図2では偏向角の絶対値
の合計が720°になる例を示したが、磁界1と磁界2
の磁界の極性も反転しているSフィルタにおいては、偏
向角の絶対値の合計が540°超になるようにすれば、
フィルタの入口と出口との距離つまり入射窓Iと出射ス
リットSとの距離Dを長くすることなくビームパスを長
くしビーム偏向角の絶対値の合計を大きくするという目
的を達することができる。
【0021】もうひとつの重要な特性は、xγ軌道が光
軸と交わる回数である。一般に、xγ軌道がフィルタの
中心軌道を示す光軸と交わる回数が多いほど、分散が大
きくなると考えてよい。従来のオメガフィルタのxγ軌
道がフィルタの中心軌道を示す光軸と交わる回数は、図
5のAタイプも図6のBタイプも図7および図8の図中
に矢印で示す様に、共に3回である。これに対して、本
発明のフィルタは、図2(e)に矢印で示す様に4回で
ある。
【0022】図3は本発明に係る磁界型エネルギーフィ
ルタの他の実施の形態を示す図であり、M5〜M8は磁
石、Iは入射窓、Sは出射スリットを示す。図3におい
て、入射窓のあるビーム入射側の磁石M5、M6を共に
同一のビーム偏向方向となるような磁界として、出射ス
リットのある出射側の磁石M7、M8は、ビーム偏向方
向は磁石M5、M6とは逆となるような磁界にして、2
回の回転対称になるように配置したものである。つま
り、磁石M5、M6のビーム偏向角φ5、φ6に対し、
磁石M7、M8のビーム偏向角φ7(=−φ6)、φ8
(=−φ5)としたものである。これを8字型フィルタ
と呼ぶことにする。この8字型フィルタにおいては、ビ
ーム偏向角の絶対値の合計はおよそ720°となる。
【0023】補足すると、図1に示した本発明に係る磁
界型エネルギーフィルタはオメガフィルタのひとつの変
形であり、図3に示した本発明に係る磁界型エネルギー
フィルタがアルファフィルタの変形であるといえる。
【0024】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上
記実施の形態では、オメガフィルタやアルファフィルタ
を変形して直線軸の両側に2回の回転対称に成るよう磁
石を配置したが、直線軸の一方の側にオメガフィルタの
変形即ちSフィルタを採用し、直線軸の反対側にアルフ
ァフィルタの変形即ち8字型フィルタを採用するなど、
直線軸の両側で異なるタイプの磁石を組み合わせて構成
してもよい。
【0025】また、上記実施の形態では、4個の磁石M
1〜M4、M5〜M8からなる構成で説明したが、本発
明は、磁界型エネルギーフィルタは、4つの磁界領域で
構成することを示したものであり、例えば図1に示す磁
石M2、M3や図3に示す磁石M6、M7のいずれかあ
るいは全てを2分割して構成(例えば、M2をM2−1
とM2−2の2つに分割)してもよいことはいうまでも
ない。つまり、磁石を分割してその間に磁石のないドリ
フト空間を挿入しても本質的には同じだからである。
【0026】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、複数の磁界領域を有し入射窓面から出射スリ
ット面までの電子ビームの軌道を偏向する磁界型エネル
ギーフィルタにおいて、少なくとも4個の磁界領域を有
し、2個目と3個目の磁界領域の中間に位置する回転対
称軸を境にして磁界の極性が反転し、また、直線軸の左
右両側に偏向磁石を有し、前記各磁界領域のビーム偏向
角の絶対値の合計を540°超あるいはおよそ720°
とするので、従来のオメガエネルギーフィルタやアルフ
ァエネルギーフィルタに比べて、ピームパスを長くし偏
向角の絶対値の合計を大きくすることができ、しかも、
入射窓から出射スリットまでの距離を短くし、コンパク
トな形状のエネルギーフィルタを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る磁界型エネルギーフィルタの実
施の形態を示す図である。
【図2】 本発明に係る磁界型エネルギーフィルタの基
本軌道とその比較を説明するための図である。
【図3】 本発明に係る磁界型エネルギーフィルタの他
の実施の形態を示す図である。
【図4】 電子光学系にオメガエネルギーフィルタを組
み込んだ電子顕微鏡の構成例を示す図である。
【図5】 Aタイプのオメガエネルギーフィルタの構成
を説明するための図である。
【図6】 Bタイプのオメガエネルギーフィルタの構成
を説明するための図である。
【図7】 Aタイプのオメガエネルギーフィルタの基本
軌道を説明するための図である。
【図8】 Bタイプのオメガエネルギーフィルタの基本
軌道を説明するための図である。
【符号の説明】
M1〜M4…磁石、I…入射窓、S…出射スリット

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の磁界領域(magnetic fields)を有
    し入射窓(entrance window)から出射スリット(exit sli
    t)までの電子ビームの軌道を偏向する磁界型エネルギー
    フィルタにおいて、少なくとも4個の磁界領域を有し、
    2個目と3個目の磁界領域の中間位置に回転対称軸(rot
    ational symmetry axis)を有し、2個目と3個目の磁界
    領域の間を境にして磁界の極性が反転している磁界型エ
    ネルギーフィルタ。
  2. 【請求項2】 前記複数の磁界領域の1個目と2個目の
    磁界領域で磁界の極性が反転している請求項1記載の磁
    界型エネルギーフィルタ。
  3. 【請求項3】 前記各磁界領域のビーム偏向角の絶対値
    の合計を540°超とする請求項2記載の磁界型エネル
    ギーフィルタ。
  4. 【請求項4】 前記磁界領域は4個であり、各磁界領域
    のビーム偏向角は、入射側から順に110°、−250
    °、250°、−110°である請求項2記載の磁界型
    エネルギーフィルタ。
  5. 【請求項5】 前記複数の磁界領域の1個目と2個目の
    磁界領域で磁界の極性が同じである請求項1記載の磁界
    型エネルギーフィルタ。
  6. 【請求項6】 複数の磁界領域を有し入射窓から出射ス
    リットまでの電子ビームの軌道を偏向する磁界型エネル
    ギーフィルタにおいて、前記入射窓と前記出射スリット
    とを結ぶ直線軸の左右両側に偏向磁石を有する磁界型エ
    ネルギーフィルタ。
  7. 【請求項7】 前記各磁界領域のビーム偏向角の絶対値
    の合計をおよそ720°とする請求項5または6記載の
    磁界型エネルギーフィルタ。
JP2000155923A 1999-06-01 2000-05-26 磁界型エネルギーフィルタ Expired - Fee Related JP3692011B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000155923A JP3692011B2 (ja) 1999-06-01 2000-05-26 磁界型エネルギーフィルタ

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15373299 1999-06-01
JP11-153732 1999-06-01
JP2000155923A JP3692011B2 (ja) 1999-06-01 2000-05-26 磁界型エネルギーフィルタ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001052644A true JP2001052644A (ja) 2001-02-23
JP3692011B2 JP3692011B2 (ja) 2005-09-07

Family

ID=26482270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000155923A Expired - Fee Related JP3692011B2 (ja) 1999-06-01 2000-05-26 磁界型エネルギーフィルタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3692011B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112947423A (zh) * 2021-01-29 2021-06-11 深圳市银星智能科技股份有限公司 清洁路径规划方法、移动机器人及存储介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51151179A (en) * 1975-06-20 1976-12-25 Hitachi Ltd Charge corpuscular ray analyser
JPH0737536A (ja) * 1993-03-26 1995-02-07 Carl Zeiss:Fa 結像用の電子エネルギーフィルタ
JPH09147792A (ja) * 1995-11-28 1997-06-06 Jeol Ltd オメガ型エネルギーフィルター
JPH1173899A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Hitachi Ltd エネルギーフィルタおよびこれを備えた電子顕微鏡

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51151179A (en) * 1975-06-20 1976-12-25 Hitachi Ltd Charge corpuscular ray analyser
JPH0737536A (ja) * 1993-03-26 1995-02-07 Carl Zeiss:Fa 結像用の電子エネルギーフィルタ
JPH09147792A (ja) * 1995-11-28 1997-06-06 Jeol Ltd オメガ型エネルギーフィルター
JPH1173899A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Hitachi Ltd エネルギーフィルタおよびこれを備えた電子顕微鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112947423A (zh) * 2021-01-29 2021-06-11 深圳市银星智能科技股份有限公司 清洁路径规划方法、移动机器人及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
JP3692011B2 (ja) 2005-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3269575B2 (ja) 鏡補正器を有する、荷電素粒子ビーム用結像系
US5449914A (en) Imaging electron energy filter
US9425022B2 (en) Monochromator and charged particle apparatus including the same
JP2001511303A (ja) 粒子−光学装置における球面収差補正用の補正デバイス
JP2004519084A (ja) ミラー補正器を有する粒子ビームシステム
US6384412B1 (en) Electron microscope with an energy filter having hexapole correctors which are coupled with a projective system downstream of the energy filter
JP3471039B2 (ja) 電子ビーム装置
KR20220146593A (ko) 다수의 개별 입자 빔들을 독립적으로 포커싱하기 위한 다중극 렌즈 시퀀스를 갖는 입자 빔 시스템, 그 사용 및 관련 방법
SU1600645A3 (ru) Масс-спектрометр
US10546714B2 (en) Energy filter and charged particle beam system
JP4781211B2 (ja) 電子線装置及びこれを用いたパターン評価方法
JPS5847823B2 (ja) スリツトソウサシキゾウヘンカンカン
US7250599B2 (en) Energy filter image generator for electrically charged particles and the use thereof
JP3571523B2 (ja) オメガ型エネルギーフィルタ
JPH0354831B2 (ja)
US6441378B1 (en) Magnetic energy filter
JP3896043B2 (ja) 電子顕微鏡の球面収差補正装置
JP2001052644A (ja) 磁界型エネルギーフィルタ
JP2007266003A (ja) 収差補正器
US3585384A (en) Ionic microanalyzers
JP3942341B2 (ja) 磁界型エネルギーフィルタ
JP2001006601A (ja) 透過型電子顕微鏡
JPH10302711A (ja) オメガ型エネルギーフィルタ
SU1075329A1 (ru) Электронна ахроматическа линза
JP2002025486A (ja) エネルギフィルタ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040615

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050315

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050511

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050614

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050617

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080624

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090624

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090624

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100624

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100624

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120624

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120624

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees