JP2001051226A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JP2001051226A
JP2001051226A JP22366499A JP22366499A JP2001051226A JP 2001051226 A JP2001051226 A JP 2001051226A JP 22366499 A JP22366499 A JP 22366499A JP 22366499 A JP22366499 A JP 22366499A JP 2001051226 A JP2001051226 A JP 2001051226A
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polygon mirror
plane
scanning
light beam
optical system
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Katsumi Shimada
克己 島田
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 主走査方向および副走査方向共に所定の角度
をなして光ビームを回転多面鏡に入射させる斜入射光学
系を採用した光走査装置において、回転多面鏡の面出入
りに起因する走査位置変動を確実に抑制することができ
るようにする。 【解決手段】 第2結像光学系34の中心軸zと該中心
軸zおよび前記回転軸に垂直な軸xとを含む平面をx−
z平面、該x−z平面に垂直な軸yおよび中心軸zを含
む平面をy−z平面、x−z平面内において入射ビーム
aと中心軸zのなす角をα、y−z平面内において入射
ビームaと中心軸zのなす角をβ、回転多面鏡20によ
る最大走査角をθm、結像光学系の副走査方向の横倍率
をM、回転多面鏡20の面出入り量をS、被走査面上に
おける副走査方向の走査線の間隔をLとしたとき、各要
素の大きさが、2SMtanβ/cos(α/2+θm
/2)≦L/5の条件を満たすように設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回転多面鏡を偏向
器として使用した光走査装置に関し、より詳細には、回
転多面鏡の各反射面の回転軸からの位置ずれに起因する
走査ムラの改善に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、回転多面鏡(ポリゴンミラ
ー)を使用した偏向器によって偏向反射された光ビーム
により光走査を行う光走査装置がよく知られている。こ
の種の光走査装置はレーザビーム等を光源として使用し
た記録装置や読取装置、例えばプリンタ、スキャナ、放
射線画像情報読取装置等に利用されているが、その一般
的な構成は、光ビームを出射する光源と、この光源から
出射された光ビームを平行光束化するコリメートレンズ
と、コリメートレンズからの光ビームを回転多面鏡の反
射面(偏向面)近傍に線像を結ぶように配置したシリン
ドリカルレンズ等の第1結像光学系と、第1結像光学系
からの光ビームを偏向反射する回転多面鏡と、回転多面
鏡により偏向反射された光ビームを所定の被走査面上で
収束させると共に被走査面上において等速走査させるf
θレンズおよびシリンドリカルレンズ等からなる第2結
像光学系とから構成される。回転多面鏡の入射側と出射
側に設けられた前記2つのシリンドリカルレンズによっ
て、回転多面鏡の面倒れに起因する、走査線の位置が走
査線の方向に対して略直角な副走査方向に変動する走査
線位置変動(ピッチムラ)を抑制する面倒れ補正レンズ
が構成される。
【0003】このような光走査装置においては、回転多
面鏡により偏向反射された光ビームを常に含む断面を主
走査断面、第2結像光学系の中心軸(光軸)を含み主走
査断面に垂直な断面を副走査断面としたとき、前記主走
査断面に対し角度をもって光ビームを入射させ偏向を行
う、いわゆる斜入射光学系を採用することが知られてい
る(例えば特開昭62−30214号)。この特開昭6
2−30214号等を始めとして、斜入射光学系におい
ては、回転多面鏡に入射する光ビームが副走査断面とな
す角、即ち主走査方向の入射角は、通常、0度として考
えられている。
【0004】このように、主走査方向の入射角0度の状
態で、光ビームを回転多面鏡に入射させるには、第1結
像光学系と第2結像光学系との機械的干渉を避けるため
に、回転多面鏡に入射する光ビームが主走査断面となす
角、即ち副走査方向の入射角をある程度大きくとる必要
がある一方、副走査方向の入射角を大きくすると、被走
査面上の走査線の曲がりが大きくなってしまうという問
題がある。
【0005】そこで、例えば、主走査方向にも角度をも
たせて回転多面鏡に光ビームを入射させることによって
上記機械的干渉を避けると共に、副走査方向の入射角を
小さくすることにより、走査線の曲がりを抑制すること
が考えられる。
【0006】一方、上述のように、斜入射光学系を採用
した場合、例え面倒れ補正レンズが設けられていても、
回転多面鏡の製造誤差等に起因して、回転多面鏡の各反
射面の回転軸からの距離が変動し(いわゆる面出入
り)、被走査面上で走査線の位置が走査線の方向に垂直
な副走査方向に変動し(いわゆる走査線位置変動)、画
像ムラが発生し、正確で良好な画像を再現することが困
難となるという現象が生じる。
【0007】そこで、回転多面鏡の反射面への光ビーム
の副走査方向の入射角、第2結像光学系の副走査方向の
横倍率、回転多面鏡の面出入り量、および被走査面上に
おける副走査方向の走査線の間隔が所定の条件式を満た
すように、前記各要素の大きさを設定することで、走査
線位置変動を抑制する方法が、特開平10−32730
2号に提案されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特
開平10−327302号に記載の条件式は、主走査方
向の入射角については考慮されていない。したがって、
上述のように、主走査方向にも角度をもたせて回転多面
鏡に光ビームを入射させて走査線曲がりを抑制しようと
した場合には、特開平10−327302号に記載の条
件式を満足させたとしても、必ずしも走査線位置変動を
抑制することができるとは限らない。
【0009】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、走査線曲がりを抑制するべく主走査方向にも角
度をもたせて光ビームを入射させる斜入射光学系を採用
する場合においても、回転多面鏡の面出入りに起因する
走査線位置変動を確実に抑制することができる光走査装
置を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、主走査方向の
入射角を考慮した条件式を規定したことを特徴とするも
のである。即ち、本発明による光走査装置は、レーザ光
源から出射された光ビームを平行光束化するコリメート
レンズと、光ビームを偏向反射する回転多面鏡と、コリ
メートレンズからの光ビームを回転多面鏡の反射面近傍
に線像を結ぶように配置された第1結像光学系と、第1
結像光学系を通過した後に回転多面鏡により偏向反射さ
れた光ビームを所定の被走査面上で収束させると共に該
被走査面上において等速走査させる第2結像光学系とか
ら構成され、主走査方向および副走査方向共に所定の角
度をなして光ビームを回転多面鏡の反射面に入射させる
光走査装置であって、第2結像光学系の中心軸(z)と
該中心軸(z)および回転多面鏡の回転軸に垂直な軸
(x)とを含む平面をx−z平面、該x−z平面に垂直
な軸(y)および中心軸(z)を含む平面をy−z平面
とし、前記x−z平面内において前記反射面へ入射する
光ビームと中心軸(z)のなす角をα、y−z平面内に
おいて前記反射面へ入射する光ビームと中心軸(z)の
なす角をβ、回転多面鏡による最大走査角をθm、第2
結像光学系の副走査方向の横倍率をM、回転多面鏡の面
出入り量をS、被走査面上における副走査方向の走査線
の間隔をLとしたとき、前記各要素(α、β、θm、
M、S、L)の大きさが、 2・S・M・tanβ/cos(α/2+θm/2)≦L/5 ・・・(1) の条件を満たすことを特徴とするものである。
【0011】この場合、前記各要素の大きさが、 2・S・M・tanβ/cos(α/2+θm/2)≦L/10・・・(2) の条件を満たすものとすれば、一層望ましい。
【0012】
【発明の効果】本発明による光走査装置によれば、前記
各要素(α、β、θm、M、S、L)の大きさが、条件
式(1)或いは(2)を満足するようにしたので、回転
多面鏡の反射面の回動軸に対する位置がずれていても、
被走査面上における走査線位置変動は問題とならず、画
像にむらが発生せず正確で良好な画像を再現することが
できる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について詳細に説明する。図1は本発明の実施
の形態による光走査装置の概略斜視図である。
【0014】図1に示すように、この光走査装置は、光
ビームaを出射する光源(レーザ光源)10と、この光
源10から出射された光ビームaを平行光束化するコリ
メートレンズ11と、コリメートレンズ11からの光ビ
ームを後述する回転多面鏡20の反射面(偏向面)近傍
に線像を結ぶように配置したシリンドリカルレンズ12
およびプリズム13からなる第1結像光学系14と、第
1結像光学系14からの光ビーム(以下入射ビームaと
いう)を偏向反射する回転多面鏡20と、回転多面鏡2
0により偏向反射された反射ビームbを所定の被走査面
上で収束させると共に被走査面上において等速走査させ
るfθレンズ30、凹シリンドリカルレンズ32からな
る第2結像光学系34とから構成されている。
【0015】ここで、回転多面鏡20により偏向反射さ
れた反射ビームbを常に含む断面を主走査断面、第2結
像光学系34の光軸(中心軸)を含み前記主走査断面に
垂直な断面を副走査断面、回転多面鏡20の回転軸Tに
直交し第2結像光学系34の光軸に垂直な方向を主走査
方向、回転多面鏡20の回転軸Tを含む面内で光軸に垂
直な方向を副走査方向という。上記構成の光走査装置に
おいては、回転多面鏡20の反射面21に対して、主走
査方向および副走査方向共に所定の角度をなして入射ビ
ームaが入射するように、前記各構成要素が配置されて
いる。
【0016】光源10から出射された入射ビームaは、
コリメータレンズ11、シリンドリカルレンズ12、プ
リズム13を経由し、回転多面鏡20の反射面21に線
状に収束されて入射する。
【0017】回転多面鏡20は平面正6角形で6つの反
射面21を有し、その回転軸Tを中心とした回転に伴
い、反射面21で反射した反射ビームbが、fθレンズ
30および凹シリンドリカルレンズ32を透過し被走査
体40に入射し、走査露光する。
【0018】fθレンズ30は、回転多面鏡20により
偏向反射された反射ビームbを被走査体40の被走査面
上で収束させると共に、被走査面上において主走査方向
への光ビーム移動の等速化を図るものである。
【0019】なお、シリンドリカルレンズ12、プリズ
ム13および凹シリンドリカルレンズ32が面倒れ補正
光学系を構成しており、該面倒れ補正光学系により、回
転多面鏡20の各反射面21による被走査面上への反射
ビームbの面倒れ補正を行い、副走査方向への等ピッチ
化が図られる。このfθレンズ30および面倒れ補正光
学系は図示のもの以外にも公知のものが適宜使用可能で
ある。
【0020】ところで、製造誤差や取付誤差等に起因し
て、回転多面鏡20の各反射面21の回転軸Tからの位
置にずれがあると、面倒れ補正光学系が構成されていて
も、被走査面上で副走査方向に走査位置変動が生じてし
まい、画像にむらが発生し正確で良好な画像を再現する
ことが困難となる。上記構成の光走査装置においては、
上述のように、回転多面鏡20の反射面21に対して、
主走査方向および副走査方向共に所定の角度をなして入
射ビームaが入射するように、前記各構成要素が配置さ
れているが、この配置関係は、走査位置変動を抑制する
ことができるように設定されている。以下、この配置関
係について、図2〜図5に示す光路図を参照して詳細に
説明する。
【0021】先ず、第2結像光学系34の中心軸(光
軸)Rをz軸とし、このz軸および回転多面鏡20の回
転軸Tに垂直なx軸と前記z軸(中心軸R)とを含むx
−z平面に垂直な軸をy軸とする直交座標系(x−y−
z)を考える。
【0022】そして、光学定盤面に対してx−z平面を
平行にとり、回転多面鏡20をx−z平面(光学定盤
面)に対して傾け、第2結像光学系34の中心軸Rが光
学定盤面に対して平行となる状態を維持するように、回
転多面鏡20に入射する光ビームを主走査方向および副
走査方向共に傾けた斜入射光学系を考える。なお、回転
多面鏡20の回転軸Tに直交し第2結像光学系34の中
心軸Rに垂直な方向を主走査方向、回転多面鏡20の回
転軸Tを含む面内で中心軸Rに垂直な方向を副走査方向
という。
【0023】図2は光路図の斜視図、図3は図2につい
てx−z平面内で示した光路図である。また、図中のα
はx−z平面内において回転多面鏡20の反射面21へ
入射する入射ビームaと第2結像光学系34の中心軸R
即ちz軸のなす角、即ち、入射光ビームaのx−z平面
への射影と前記z軸とのなす角であり、またβはy−z
平面内において入射ビームaとz軸(中心軸R)のなす
角、即ち前記射影と入射ビームaのなす角である。
【0024】なお、x−z平面は主走査断面に対応し、
y−z平面は副走査断面に対応する。ここで、「主走査
断面に対応」および「副走査断面に対応」といったの
は、一般的には、回転多面鏡20により偏向反射された
反射ビームbを常に含む断面を主走査断面、第2結像光
学系34の中心軸Rを含み主走査断面に垂直な断面を副
走査断面というのに対して、副走査方向だけでなく主走
査方向にも傾けた斜入射光学系とすると、主走査断面が
平面とはならないからである。
【0025】最初に、走査角θを考慮しない(θ=0度
に相当)図2および図3を参照して、x−z平面内にお
いて入射ビームaとz軸のなす角α、y−z平面内にお
いて入射ビームaとz軸のなす角β、結像光学系の副走
査方向の横倍率M、回転多面鏡20の面出入り量Sおよ
び副走査方向の走査線の間隔Lの関係について説明す
る。
【0026】図2に示すように、入射ビームaは、副走
査方向に角度βをなし、また主走査方向に角度αをなし
て入射する。
【0027】回転多面鏡20に面出入りが生じ、反射面
21が図中実線で示す理想的な位置から図中点線で示す
位置まで移動したとき、この反射面21の面出入り量を
S、入射ビームaと図中点線で示す移動した位置におけ
る反射面21との交点の高さをhとすると、 h=(S/cosα)・tanβ ・・・(3) となる。
【0028】反射面21で反射した反射ビームbがx−
y平面と交差する交点の高さは2hとなるから、結像光
学系の副走査方向の横倍率Mを考慮すると、面出入りに
起因する被走査面上における走査位置変動Δは、 Δ=2・S・M・tanβ/cosα・・・・(4) となる。
【0029】次に、反射ビームbをfθレンズ30の光
軸に平行に反射する場合のx−z平面内の光路図を図4
に示す。この図4から判るように、上記式(3)におけ
る「S/cosα」は、「S/cos(α/2)」と対
応するようになる。
【0030】この図4に対して、さらに回転多面鏡20
を所定角度だけ回転させた、任意の走査角θにおけるx
−z平面内の光路図を図5に示す。ここで、走査角θ
は、反射ビームbとz軸とがなす角度とすると共に、z
軸を基準として反時計回りを+(正)として考えるもの
とする。なお、最大走査角をθmとすると、任意の走査
角θのとり得る範囲は−θm≦θ≦+θmとなる。この
図5から判るように、図4における「S/cos(α/
2)」は、「S/cos(α/2−θ/2)」と対応す
るようになる。
【0031】したがって、走査角θの状態においては、
面出入りに起因する被走査面上における走査位置変動Δ
は、 Δ=2・S・M・tanβ/cos(α/2+θ/2)・・・・(5) となる。
【0032】この走査位置変動Δの許容量は、被走査面
上での副走査方向の走査線の間隔(走査ピッチ)Lの大
きさにもよるが、およそL/5以下、より好ましくはL
/10以下であり、これを越えると、被走査面における
露光量のむらが問題となる。例えば、走査線の間隔Lが
100μmの場合には、走査位置変動Δは10μm以下
であるのが好ましい。また、走査角θのとり得る範囲は
−θm≦θ≦+θmであり、この範囲において常に許容
量を満足する必要があるが、cos(α/2+θ/2)
が小さくなればなるほど、即ち(α/2+θ/2)が大
きくなればなるほど式(5)の左辺Δが大きくなるの
で、最終的には、走査位置変動Δは、(α/2+θ/
2)が最大となる(α/2+θm/2)を用いた下記式
(6)を満足しなければならない。
【0033】 Δ=2・S・M・tanβ/cos(α/2+θm/2) ≦L/5〜L/10 ・・・・(6) 逆に、面出入りが生じていても、この条件式(6)を満
足していると、とり得る走査角θの大きさに拘わらず、
被走査面における走査線の位置変動は問題とならない。
なお、最大走査角θmは、画像形成において必要な領域
を走査するために必要とする最大の走査角、換言すれ
ば、有効最大走査角であって、回転多面鏡の1つの回転
面の回転角を意味するものではない。
【0034】したがって、主走査方向および副走査方向
共に所定の角度をなして、光ビームを回転多面鏡の反射
面に入射させる斜入射光学系を採用した光走査装置にお
いて、回転多面鏡の反射面へ入射する入射ビームと第2
結像光学系の中心軸即ちz軸のなす角α、y−z平面内
において入射ビームaとz軸のなす角β、回転多面鏡に
よる最大走査角θm、結像光学系の副走査方向の横倍率
M、回転多面鏡の面出入り量S、被走査体上における副
走査方向の走査線の間隔Lの、夫々の大きさが、上記条
件式(6)を満足するように、各構成要素を配置するこ
とによって、走査線曲がり、さらには走査位置変動とい
う問題を防止することができる。
【0035】なお、上述の説明においては、回転多面鏡
20をx−z平面(光学定盤面)に対して傾けると共
に、第2結像光学系34の中心軸Rが光学定盤面に対し
て平行となる状態を維持するように、回転多面鏡20へ
の入射ビームを主走査方向および副走査方向共に傾けた
斜入射光学系について説明したものであるが、「傾け
る」というのは相対的なものであり、入射ビームを主走
査方向および副走査方向共に傾ける方法は必ずしもこの
ような方法を用いるものでなくてもよい。例えば、第2
結像光学系34を光学定盤面に対して傾け、回転多面鏡
20の回転に伴って反射面21の法線が作る偏向面が光
学定盤面に対して平行となる状態を維持するように、入
射ビームを主走査方向および副走査方向共に傾けた斜入
射光学系としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による光走査装置の概略
斜視図
【図2】走査角を考慮しない状態における光路図(斜視
図)
【図3】図2について、x−z平面内で示した光路図
【図4】反射ビームをfθレンズの光軸に平行に反射す
る場合のx−z平面内の光路図
【図5】図4に対して、さらに回転多面鏡を所定角度だ
け回転させた、任意の走査角におけるx−z平面内の光
路図
【符号の説明】
10 光源 11 コリメータレンズ 12 シリンドリカルレンズ 13 プリズム 14 第1結像光学系 20 回転多面鏡 30 fθレンズ 32 凹シリンドリカルレンズ 34 第2結像光学系 40 被走査体 a 光ビーム(入射ビーム) b 光ビーム(反射ビーム)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源から出射された光ビームを平
    行光束化するコリメートレンズと、光ビームを偏向反射
    する回転多面鏡と、前記コリメートレンズからの光ビー
    ムを前記回転多面鏡の反射面近傍に線像を結ぶように配
    置された第1結像光学系と、該第1結像光学系を通過し
    た後に前記回転多面鏡により偏向反射された光ビームを
    所定の被走査面上で収束させると共に該被走査面上にお
    いて等速走査させる第2結像光学系とから構成され、主
    走査方向および副走査方向共に所定の角度をなして前記
    光ビームを前記反射面に入射させる光走査装置におい
    て、 前記第2結像光学系の中心軸(z)と該中心軸(z)お
    よび前記回転多面鏡の回転軸に垂直な軸(x)とを含む
    平面をx−z平面、該x−z平面に垂直な軸(y)およ
    び前記中心軸(z)を含む平面をy−z平面とし、前記
    x−z平面内において前記反射面へ入射する光ビームと
    前記中心軸(z)のなす角をα、前記y−z平面内にお
    いて前記反射面へ入射する光ビームと前記中心軸(z)
    のなす角をβ、前記回転多面鏡による最大走査角をθ
    m、前記第2結像光学系の副走査方向の横倍率をM、前
    記回転多面鏡の面出入り量をS、前記被走査面上におけ
    る副走査方向の走査線の間隔をLとしたとき、前記各要
    素の大きさが、 2・S・M・tanβ/cos(α/2+θm/2)≦
    L/5 の条件を満たすことを特徴とする光走査装置。
  2. 【請求項2】 前記各要素の大きさが、 2・S・M・tanβ/cos(α/2+θm/2)≦
    L/10 の条件を満たすことを特徴とする請求項1記載の光走査
    装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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