JP2001028134A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の深さのピットが形成されている光ディ
スクにおいて、ピットの深さによってはトラッキングサ
ーボ信号の極性が反転し、サーボ外れを生じる。 【解決手段】 タンジェンシャルプッシュプル信号の極
性と、反射光量信号のエッジ部を検出し、その結果から
ピットの深さを検出してトラッキングサーボ信号の極性
を反転させ、サーボ外れを防ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は記録面の全面あるい
は一部に、あらかじめ凹凸形状を有するピットによって
情報が記録された光ディスクを使用する光ディスク装置
のトラッキングサーボに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ディスク面上にあらかじめ凹凸形状を有
するピットで情報を記録してある光ディスクを再生する
ための光ディスク再生装置において、光ビームをピット
列へ位置決めするためのトラッキングサーボ技術は以前
より種々提案されており、例えば特開昭５８−１５０１
４５号公報にその開示がなされている。

【０００３】図７は位相差（時間差）法によるトラッキ
ングサーボのブロック構成図であり、上記特開昭５８−
１５０１４５号公報第３図乃至は第４図に記載の構成を
描き直したものである。

【０００４】位相差（時間差）法は、光ディスクからの
反射光ビームを、光ディスクの半径方向と接線方向に４
つの素子を有するフォトディテクタにて受光し、これら
フォトディテクタの内、対角に位置するものの出力の和
信号を求め、その和信号の位相差（時間差）を検出して
トラッキングを行なうものである。図７において、フォ
トディテクタ２にはディスクからの反射光を集光して入
射しており、それぞれの部分は入射した光量に応じた信
号を出力する。加算アンプ３−１、３−２はフォトディ
テクタ２のうち対角に位置する部分同士ａとｃ、ｂとｄ
の和信号を求めコンパレータ（比較回路）５−１、５−
２に出力する。コンパレータ５−１、５−２はリファレ
ンス信号＋Ｒｅｆ１、＋Ｒｅｆ２と加算アンプ３−１、
３−２の出力信号を比較しその結果である２値化信号を
出力する。

【０００５】光ビームの反射光はピットにより回折を受
けるため、反射光のフォトディテクタ上での強度分布は
光ビームとピット個々の位置関係によって時間的に変動
する。例えば光ビームがピット列の真上を追従している
場合、ピット上のフォトディテクタの対角位置に有する
素子（ａ＋ｃ）と（ｂ＋ｄ）それぞれの出力の和信号は
同じ変化をするため、コンパレータ５−１、５−２の出
力信号も同じタイミングで同じ変化をする。また光ビー
ムがピット列の真上からずれた位置を追従している場
合、上記（ａ＋ｃ）と（ｂ＋ｄ）それぞれの出力の和信
号は、そのずれ量に応じた位相差（時間差）を、ずれの
方向に応じてどちらかが先に変化する。

【０００６】従ってコンパレータ５−１、５−２の出力
信号間の位相差（時間差）を位相比較回路７で検出して
上記位相差（時間差）に応じたパルスを出力させ、この
パルスをＬＰＦ（ローパスフィルタ）８−１、８−２で
低周波成分のみ抽出して差分回路９でその差を求める事
により、光ビームとピット列とのずれ量と方向を示すト
ラッキング信号を得る事が出来る。

【０００７】またトラッキングサーボ信号を得るための
別の技術の例として、プッシュプル法がある。

【０００８】プッシュプル法は接線方向に分割された反
射光ビームの内周側と外周側の光量差を求めこれをトラ
ッキング信号とする方法であり、図８にはそのプッシュ
プル法によるトラッキングサーボ信号を生成するための
ブロック構成図の例を示している。

【０００９】光ビームをピット列上に照射すると両者の
位置関係により、その反射光はピットにより回折を受け
るが、プッシュプル法ではその反射光を光ディスクの内
周側と外周側各々の方向で２分して検出し、その平均的
な強度に基いてトラッキングサーボ信号を生成する。

【００１０】図８において、反射光が４分割されたフォ
トディテクタ上に集光されるのは先の位相差（時間差）
法と同様であるが、加算回路３−１、３−２はフォトデ
ィテクタの対角に位置する素子では無く、内周側と外周
側に位置する素子それぞれの出力信号を加算して、その
加算結果を差分回路１７に出力する。差分回路１７はこ
れら加算回路３−１、３−２からの２つの信号の差分結
果をＬＰＦ１８に出力し、その差分結果から個々のピッ
トが有する高周波の成分を除去して低域成分、言い換え
れば光ビームとピット列のやや平均的なずれに相当する
信号成分を抽出したものをトラッキングサーボ信号とし
て得るのがプッシュプル法の原理である。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】現在光ディスクではピ
ットやマークの有無と同時にその長さに情報を含ませ
る、ピット（マーク）長記録が一般的に用いられている
が、ピットの深さにも情報を持たせれば更に大容量の情
報の記録を見込む事が出来る。これは既に本出願人が、
特願平１１−１８４６０４号として出願している。

【００１２】技術であるが、この技術では凹凸形状を有
するピットで生じる光の干渉による回折パターンが、ピ
ットの深さによって異なることを利用して、新たな情報
を含ませるものである。

【００１３】図９はピット深さによって記録された情報
の再生原理を示す模式図である。光の波長をλ、光ディ
スク基板の屈折率をｎとした時、ピット３１は深さが
（λ／４ｎ）未満の（λ／６ｎ）程度の比較的浅いピッ
ト、斜線で表したピット３２は深さが（λ／４ｎ）を越
えて（λ／３ｎ）程度の比較的深いピットである。これ
らのピット列を光ビームにて図中の矢印の方向に走査し
た場合、フォトディテクタへの入射光量の総和信号
（ａ）は、光ビームがピット３１上に位置する時とピッ
ト３２上に位置する時とで明確な差はない。即ち光量の
総和信号による情報はピットの深さで大差が無く、むし
ろピットの有無で明確な光量の変化がある方が安定した
情報の再生が可能であるため、光量の総和信号にはピッ
ト深さで余り差が生じない方が望ましく、ピット深さで
これに情報を持たせない方が良い。

【００１４】しかし反射光を光ビームの進行方向で前後
半部に分けてその光量差を求めた信号、タンジェンシャ
ルプッシュプル信号（ｂ）に注目すると、光ビームがピ
ット上に差し掛かりあるいは脱出する時に発生するパル
ス状の信号の極性が、ピットの深さに起因する光の回折
パターンの相違により逆転する。これはピットの有無に
よる総和信号の変化とは全く独立した別個の現象であ
る。

【００１５】従ってこのタンジェンシャルプッシュプル
信号の極性を検出すれば、ピットの長さ・有無だけでは
無く、ピットの深さにも新たな情報を含ませることが可
能となる。これが本出願人が既に出願した上記特願平１
１−１８４６０４号の要旨である。

【００１６】しかし、ピット深さでタンジェンシャルプ
ッシュプル信号の極性が反転すると言う事は、ピットの
深さで反射光の回折パターンが変化すると言う事であ
る。そのため反射光の回折パターンによる強度分布を利
用している位相差法やプッシュプル法では、深いピット
と浅いピットでトラッキング信号の極性が反転してしま
う可能性があり、位相差法やプッシュプル法等、従来の
方法では正しくトラッキングサーボ制御が行なえない。

【００１７】本発明は上記の様な、深さの異なるピット
を有する光ディスクにおいても正しくトラッキングサー
ボ制御を行い得る技術を提供するものである。

【００１８】

【課題を解決する手段】上記の課題を解決するために、
本発明は以下のような手段を講じた。

【００１９】即ち、第1の手段は、ピットにより情報を
記録した部位を有する光ディスクを使用すると共に、前
記ピットの深さを検出するピット深さ検出手段と、前記
ピット深さ検出手段の出力に基づいてピット列に光ビー
ムを追従させるためのトラッキング信号の極性を反転さ
せる極性反転手段を備えていることを特徴とする。

【００２０】また、第2の手段は、第1の手段の光ディス
ク装置において、前記ピット深さ検出手段は、前記ピッ
トに照射した光ビームの反射光の光量に応じた信号と、
前記ピット列の接線方向における強度分布の差に応じた
信号とに基き、前記反射光の光量に応じた信号の変化点
における、前記強度分布の差に応じた信号の極性に基い
て、前記ピットの深さを検出する事を特徴とする。

【００２１】また、第3の手段は、第1の手段または第2
の手段の光ディスク装置において、前記ピット深さ検出
手段は、前記接線方向に置ける強度分布の差に応じた信
号を、２つの基準値と比較して２値化する第１及び第２
の比較手段と、前記反射光の光量に応じた信号を、また
別の基準値と比較して２値化する第３の比較手段と、上
記第３の比較手段の出力の変化タイミングで上記第１及
び第２の比較手段の出力を参照し、その参照結果に基づ
いてピットの深さを検出する事を特徴とする。

【００２２】また、第4の手段は、第1の手段の光ディス
ク装置において、前記ピットに照射した光ビームの反射
光を受光素子で受光し、その受光素子からの出力信号の
位相差を位相差検出手段で検出してトラッキング信号を
生成すると共に、前記ピット深さ検出手段の検出結果に
応じてトラッキング信号の極性を切替える事を特徴とす
る。

【００２３】また、第５の手段は、第1の手段の光ディ
スク装置において、前記ピットに照射した光ビームの反
射光の、前記光ディスクの半径方向における強度分布の
差を受光素子で受光し、差分手段によってその受光素子
からの出力信号の強度差に基きトラッキング信号を生成
すると共に、前記ピット深さ検出手段の検出結果に応じ
てトラッキング信号の極性を切替える事を特徴とする。

【００２４】また、第6の手段は、第４の手段または第5
の手段の光ディスク装置において、前記受光素子は前記
光ビームの反射光の、前記ピットの列の接線方向並びに
前記光ディスクの半径方向にそれぞれ略平行な方向の強
度分布を検出出来る配置を有する事を特徴とする。

【００２５】また、第7の手段は、第6の手段の光ディス
ク装置において、前記受光素子は略「田の字」形状に配
置されている事を特徴とする。

【００２６】また、第8の手段は、第6の手段の光ディス
ク装置において、前記受光素子は前記光ディスクの半径
方向に略平行な強度分布を検出出来る素子と、検出しな
い素子とが配置されている事を特徴とする。

【００２７】また、第9の手段は、第1の手段の光ディス
ク装置において、前記光ビームの光の波長をλ、光ディ
スクの基板の屈折率をｎ、任意の整数をｋ、ｍとしたと
き、使用する光ディスク状に形成されるピットの深さ
が、（ｋλ／２ｎ）＜Ｄ１＜｛（λ／４ｎ）＋（ｋλ／
２ｎ）｝、並びに、｛（λ／４ｎ）＋（ｍλ／２ｎ）｝
＜Ｄ２＜｛（ｍ＋１）・λ／２ｎ｝の条件を満たすＤ
１、Ｄ２の何れかに分類される事を特徴としている。

【００２８】また、第１０の手段は、第９の手段の光デ
ィスク装置において、前記整数のｋ、ｍの少なくとも一
方を０とした事を特徴としている。

【００２９】また、第１１の手段は、第1０の手段の光
ディスク装置において、前記ピットの深さに情報を含ま
せた事を特徴としている。

【００３０】また、第１２の手段は、第1、第９、乃至
は第１０の手段の光ディスク装置において、光を照射し
て反射率の異なる記録マークを形成する記録型の光ディ
スクが装着された場合、これに対する前記トラッキング
信号の極性がトラッキングサーボ外れを生じる極性とな
る様に、光ディスクのピットの深さを選択した事を特徴
としている。

【００３１】

【発明の実施の形態】[実施形態１]本発明の一実施例を
図１乃至図６を用いて説明する。

【００３２】図１はトラッキング信号の生成に所謂位相
差法を使用した光ディスク装置に対して本発明を適用し
た場合の、主要部分のブロック図である。

【００３３】光ディスクからの反射光は集光されてフォ
トディテクタ２に入射され、フォトディテクタ２はそれ
ぞれの入射光量に比例した信号を出力する。このフォト
ディテクタは光ビームの進行方向、言い換えれば光ディ
スク上に形成されているピット列の接線方向と、光ディ
スクの半径方向の、２つの方向に反射光を分割する格好
の配置となっている。

【００３４】加算回路３−１、３−２はこのフォトディ
テクタ２の対角に位置する部分ａとｃ、ｂとｄからの出
力の和信号を、加算回路３−３、３−４は光ビーム進行
方向のａとｄ、光ビーム進行方向とは逆方向のｂとｃか
らの出力の和信号を出力する。

【００３５】また、加算回路４はフォトディテクタ２の
出力の総和を求め出力する。加算回路３−１、３−２の
出力はコンパレータ５−１、５−２にてあらかじめ設定
されたレファレンス電圧＋Ｒｅｆ１、＋Ｒｅｆ２とそれ
ぞれ比較され、その比較結果である２値化信号は選択回
路６に入力される。

【００３６】スイッチ（選択回路）６は上記コンパレー
タ５−１、５−２の出力を位相比較回路７のＲ、Ｖ入力
端子の何れに入力するかを切替えるものであり、後述す
るＦＦ回路の出力信号によりこの切替を行う。

【００３７】位相比較回路７はＲ入力とＶ入力を比較
し、両者間の位相差に応じた幅のパルスを、その何れの
位相差が進んでいるかに応じて出力する。例えばこの例
ではＲ入力に比べてＶ入力が遅れている場合にはＵ出力
より、逆にＶ入力が進んでいる場合はＤ出力からその遅
延量に応じた幅のパルスを出力するものとする。

【００３８】位相比較回路７のＵ出力信号及びＤ出力信
号は、それぞれＬＰＦ８−１、８−２によって低域成分
のみが抽出され差分回路９に入力され、差分回路９はＬ
ＰＦ８−１と８−２の出力同士の差分すなわち位相比較
回路７の出力の低域成分の差分をトラッキング信号とし
て出力する。

【００３９】一方、フォトディテクタ２からの出力信号
の総和を求める加算回路４の出力は、コンパレータ（比
較回路）１０にてリファレンス電圧＋Ｒｅｆ４と比較さ
れ、その結果である２値化信号、換言すればピットの有
無による反射光量の大小を表す信号であるが、これはエ
ッジ検出回路１１に入力される。エッジ検出回路１１は
コンパレータ１０の出力信号の立ち上がり・立ち下がり
エッジのうち、図１に於いては非ピット→ピットの遷移
に対応する、立ち下がりエッジでパルスを出力する。

【００４０】またフォトディテクタ２の素子の内、光ビ
ーム進行方向に関して前後方向に位置する素子の出力を
それぞれ求めた、加算回路３−３、３−４の出力は差分
回路１２に入力される。この差分回路２の出力は、反射
光のピット列接線（Ｔａｎｇｅｎｔ）方向の強度分布差
を示す信号である事から、タンジェンシャルプッシュプ
ル信号と呼ばれ、これはコンパレータ（比較回路）１３
−１、１３−２に入力される。コンパレータ１３−１は
タンジェンシャルプッシュプル信号とあらかじめ設定さ
れリファレンス電圧＋Ｒｅｆ３と比較し、タンジェンシ
ャルプッシュプル信号が＋Ｒｅｆ３より大きいとき
“Ｈ”を出力する一方、コンパレータ１３−２はタンジ
ェンシャルプッシュプル信号とあらかじめ設定されリフ
ァレンス電圧−Ｒｅｆ３と比較し、タンジェンシャルプ
ッシュプル信号が−Ｒｅｆ３より小さいとき“Ｈ”を出
力する。

【００４１】コンパレータ１３−１、１３−２の出力は
ＡＮＤゲート（マスク回路）１４−１、１４−２のそれ
ぞれ一方の入力端子に接続されており、またＡＮＤゲー
ト１４−１、１４−２のもう一方の入力端子には共に、
エッジ検出回路１１の出力が接続されている。

【００４２】従ってＡＮＤゲート１４−１、１４−２
は、エッジ検出回路１１の出力からパルスが出力された
時点において、コンパレータ１３−１、１３−２の何れ
かの出力が“Ｈ"であるかに応じてそれぞれパルスを出
力する事になる。

【００４３】なお見方を変えればこれらＡＮＤゲート１
４−１と１４−２は、コンパレータ１３−１と１３−２
の出力である、タンジェンシャルプッシュプル信号を２
値化したものを、エッジ検出回路１１の出力である、反
射光量信号を２値化したものの変化点で参照して出力し
ているものと言う事も可能である。

【００４４】あるいはコンパレータ１３−１、１３−２
が出力を発生しても、エッジ検出回路１１がパルスを発
生する特定のタイミング以外ではこれをマスクし、出力
しない働きをしていると言う事も出来る。

【００４５】ＡＮＤゲート１４−１、１４−２の出力は
ＦＦ回路１５−１、１５−２のクロック入力に接続され
ている。またそのＤ入力は“Ｈ"レベルに接続されてい
るため、ＦＦ回路１５−１、１５−２はクロック入力に
パルスが入力されると出力が“Ｈ”になり、リセット端
子にパルスが入力されると出力が“Ｌ”になるような接
続になっている。

【００４６】一方ＦＦ回路１５−１のリセット端子には
ＦＦ回路１５−２の出力Ｑの立ち上がりにパルスを発生
するパルス発生回路１５−２の出力が、ＦＦ回路１５−
２のリセット端子にはＦＦ回路１５−１の出力Ｑの立ち
上がりにパルスを発生するパルス発生回路１５−１の出
力が接続されているため、上記ＦＦ回路１５−１あるい
は１５−２何れかの出力Ｑが立ち上がると、更に換言す
ればＡＮＤゲート回路１４−１あるいは１４−２からそ
れぞれＦＦ回路１５−１、１５−２に対してパルスが出
力されると、他方のＦＦ回路をリセットする構成となっ
ている。

【００４７】ＦＦ回路１５−１及び１５−２の出力Ｑは
スイッチ６の制御端子Ｃ１，Ｃ２にそれぞれ接続されて
おり、ＦＦ回路の出力が“Ｈ”でＦＦ回路の出力が
“Ｌ”のときはスイッチ６の端子Ｏ１はＡ１側、Ｏ２は
Ｂ２側にそれぞれ接続され、位相比較回路７のＲ入力へ
はコンパレータ５−１の出力、Ｖ入力へはコンパレータ
５−２の出力が選択して接続される。逆に状態が反転し
てＦＦ回路の出力が“Ｌ”、ＦＦ回路の出力が“Ｈ”の
ときは、スイッチ６の端子Ｏ１はＢ１側、Ｏ２はＡ２側
に接続され、位相比較回路７のＲ入力へはコンパレータ
５−２の出力、Ｖ入力へはコンパレータ５−１の出力が
選択されるような構成になっている。

【００４８】既に述べた様に、位相比較回路７はＲ入力
とＶ入力の位相差を比較して、その進み遅れの方向と量
に応じたパルスを出力するものであるため、Ｒ入力とＶ
入力を入れ替えるとパルスを出力する端子が入れ替わ
る。

【００４９】従ってＦＦ回路１５−１及び１５−２の出
力Ｑの状態が変化すれば、差分回路９の出力であるトラ
ッキング信号の極性が反転する事になる。

【００５０】次いで深さが異なるピットを有する光ディ
スクに於いて、そのピット列上を光ビームが追従して行
く際における、図１各部の波形とタイミングを、図２を
用いて説明する。

【００５１】図２中、３１は深さが比較的浅いピット、
ハッチングを施した３２は比較的深いピットである。光
ビーム１がこれらの上を追従して行く際、その反射光量
を表す、加算回路４の出力信号（ａ）はピットの有無に
応じて大小のレベル変化をするものであり、光ビームが
ピットに差し掛かるに連れてレベルは低下し、抜け出す
に連れて増大する。

【００５２】一方、差分回路１２の出力である、タンジ
ェンシャルプッシュプル信号（ｂ）は、先述の通りピッ
ト列の接線方向における、光ビームの反射光の強度分布
の差を求めたものであるから、光ビームの進行方向に対
する前半部と後半部とが異なる状況にある時、より具体
的には光ビームがピットに差し掛かる、あるいは抜け出
す等、ピットの前後エッジ付近に位置する時点に於い
て、それぞれ逆極性を有するパルス状の信号となる。

【００５３】ところでピットからの反射光の強度分布
は、光ビームのピットによる回折の影響を受けた結果で
あり、特に使用する光（光ビーム）の波長をλ、光ディ
スク基板の屈折率をｎとした時、（λ／４ｎ）を境とし
て回折の方向は逆転する。

【００５４】このためピットの深さが上記（λ／４ｎ）
を境として、これ未満の浅いものと、これを越える深い
ものとが形成されていれば、光ビームがピットに差し掛
かりあるいは抜け出す際のタンジェンシャルプッシュプ
ル信号の極性は逆転する事になる。

【００５５】従って上記反射光量を示す、加算回路４の
出力信号（ａ）のレベルが変化する時点におけるタンジ
ェンシャルプッシュプル信号（ｂ）の極性を観測すれ
ば、ピット深さを判断・検出する事が出来、これに基い
てトラッキング信号の極性を逆転させる様な処理を行え
ば、ピットの深さによらず正しいトラッキングサーボ制
御が行える事になる。これが本発明の基本的な考え方で
ある。

【００５６】同時にタンジェンシャルプッシュプル信号
等からピットの深さを検出して、その違いにより例えば
深いピットには別の意味を持たせて記録密度を高めた
り、付加的な情報を持たせる等としても良い。この様な
光ディスクに対しても、本発明によるトラッキングサー
ボ信号極性の切替えは有効であり、ピット深さが異なる
ものが混在しても正しくトラッキング追従が行え、上記
付加的な情報等の再生を的確に行える。

【００５７】なお図２に於いては光ビームが浅いピット
３１に差し掛かった時にタンジェンシャルプッシュプル
信号（ｂ）は正、抜け出す時に負となり、深いピット３
２に関してはこれと逆の変化をするものとして示してい
る。無論この関係は逆であっても回路の接続などを幾ら
か変更すれば簡単に対応出来るものであって構わない。

【００５８】図２に戻って動作の説明を続ける。先の加
算回路４の出力信号（ａ）をコンパレータ１０により基
準電圧＋Ｒｅｆ４で２値化したものが（ｃ）であり、こ
れはピットの深さでは無く、その有無に応じて“Ｈ”と
“Ｌ”のレベル変化をする。そのレベル変化をするのは
ピットのエッジ近傍であって、エッジ検出回路１１では
ここでは（ｃ）の立ち下がり、即ち光ビームがピットに
差し掛かった時点においてのみ、パルス信号（ｄ）を出
力する。

【００５９】一方タンジェンシャルプッシュプル信号
（ｂ）はコンパレータ１３−１、１３−２によりそれぞ
れ相異なる基準値である＋Ｒｅｆ３、−Ｒｅｆ３と比較
され、（ｅ）（ｆ）に示す２値化信号となる。これらと
エッジ検出回路１１の出力である（ｄ）との論理積がＡ
ＮＤゲート１４−１、１４−２の出力（ｇ）（ｈ）であ
るが、浅いピットに於いてはエッジ検出回路１１の出力
パルス（ｄ）が発生する時点でコンパレータ１３−１の
出力が“Ｈ”レベルとなるため、ＡＮＤゲート１４−１
の出力（ｇ）にパルスが発生し、ＦＦ回路１５−１の出
力Ｑを“Ｈ”レベルとする。逆に深いピットの場合には
エッジ検出回路１１の出力パルス（ｄ）が発生する時点
でコンパレータ１３−２の出力が“Ｈ”レベルとなるた
め、ＡＮＤゲート１４−２の出力（ｇ）にパルスが発生
し、ＦＦ回路１５−２の出力Ｑを“Ｈ”レベルとする。

【００６０】そして前述の通り、ＦＦ回路１５−１、１
５−２の出力Ｑによりスイッチ６は切り替わり、位相比
較回路７への入力信号が切替えられるため、トラッキン
グサーボ信号の極性はピット深さに応じて適切なものと
なる様、自動的に切替えが行われる。

【００６１】なお図１に於いて、スイッチ（選択回路）
６は位相比較回路７の入力を切替える構成としている
が、これを位相比較回路７の出力であるＵ、Ｄ端子とＬ
ＰＦ８−１及び８−２の間に挿入し、位相比較回路７の
出力を切替える構成としても同様にトラッキングサーボ
信号の極性を切替える事が出来る。

【００６２】あるいは位相比較回路７自体が例えばＲ入
力とＶ入力の位相差を検出する回路を２組有していて、
片方がＲ入力を基準としてＶ入力の進み遅れを検出し、
他方がＶ入力を基準としてＲ入力の進み遅れを検出する
様な構成である等の場合には、ＦＦ回路１５−１、１５
−２の出力Ｑを用いてその一方だけを動作させるべく、
位相比較回路７の動作を直接切替えても構わない。

【００６３】若しくはスイッチ６をＬＰＦ８−１、８−
２と差分回路９との間に挿入してここでトラッキングサ
ーボ信号の極性を切替える構成や、更には差分回路９の
出力を反転する反転アンプを別途設け、差分回路９とこ
の反転アンプの出力何れかを選択してトラッキングサー
ボ信号とする構成であっても良い。

【００６４】また図１に於いてスイッチ６はコンパレー
タ５−１、５−２からの出力である２値化（ディジタ
ル）信号を選択して出力する構成であるから、図３に示
す様なＡＮＤゲート６−１乃至６−４、ＯＲゲート６−
５及び６−６、インバータ６−７及び６−８で構成した
ものであっても構わない。

【００６５】更に図１に於いてＡＮＤゲート１４−１及
び１４−２を省略し、エッジ検出回路１１の出力をＦＦ
回路１５−１及び１５−２のクロック入力に直接加える
一方、ＦＦ回路１５−１のＤ入力を“Ｈ”レベル固定で
無くコンパレータ１３−１の出力に接続し、またＦＦ回
路１５−２のＤ入力も“Ｈ”レベル固定で無くコンパレ
ータ１３−２の出力に接続しても同様の動作を得る事が
出来る。

【００６６】若しくはエッジ検出回路１１の動作をコン
パレータ１０の出力の立ち下がりでは無く、立ち上がり
に於いてパルスを出力するものであっても、立ち上がり
・立ち下がり双方に於いてパルスを発生するものであっ
ても、多少の回路変更で同様にピット深さに応じてトラ
ッキングサーボ信号の極性を自動的に切替える構成のも
のを得る事が可能である。

【００６７】本実施例における各要素に於いて、各フォ
トディテクタの素子出力はコンパレータを経て２値化さ
れると、その後は殆どがこの２値化した信号の処理で進
められる。特にタンジェンシャルプッシュプル信号に関
するコンパレータ１３−１、１３−２、及び光量の総和
信号に関するコンパレータ１０以降、スイッチ６の制御
に至るまでの、ピットの深さを検出する部位、若しくは
スイッチ６を図３に示すような構成とした場合にはその
スイッチ６に至るまでも、ディジタルＩＣ化する事が可
能であって集積化が容易である。

【００６８】また本実施例では位相差法によりトラッキ
ングサーボ信号を生成しているが、この位相差法は偏芯
の大きな光ディスク等でピット列に光ビームを追従させ
る際に、光ビームを集光させる対物レンズが大きく変位
してもトラッキングサーボ信号にオフセットが生じにく
いと言う利点に加え、フォトディテクタからの信号を２
値化した後の位相差検出はディジタル回路で処理出来る
ため、回路の集積化の面でも更に利点がある。

【００６９】なおフォトディテクタ２に注目すると、本
実施例では光ビームの反射光の内、ピット列の接線方向
と光ディスクの半径方向にそれぞれ略平行な強度分布を
検出する様に素子が配置されている。このためフォトデ
ィテクタの出力からは、その反射光の強度分布に基き、
タンジェンシャルプッシュプル信号とプッシュプル信
号、並びに反射光量の総和に相当する信号の何れも生成
可能である。

【００７０】更に言及すれば、その素子の配置は略「田
の字」型である。この略「田の字」型フォトディテクタ
は従来より光ディスク装置の光ピックアップには多用さ
れて来たものであるため、所謂非点収差法によるフォー
カス誤差信号の生成も可能であると共に、その従来より
ある光ピックアップに新たな素子を付加する事も無く利
用しながら、本発明における、ピット深さを検出しトラ
ッキングサーボ信号の極性を自動的に切替え得ると言う
利点を併せて享受出来る事になる。

【００７１】ところで既に述べた様に、従来の光ディス
クの様にピットの深さが１種類のものであれば、反射光
量の総和信号とも言える加算回路４の出力信号（ａ）の
レベルの変化に伴う、タンジェンシャルプッシュプル信
号（ｂ）の変化の極性は一定となるため、トラッキング
サーボ信号の極性はそのピット深さに適したものに固定
され、従来の光ディスクとの互換性が保たれる。

【００７２】あるいはピットでは無く、光の照射により
反射率が異なる記録マークを形成する、記録タイプの光
ディスクに於いても、反射光量の総和信号は勿論、タン
ジェンシャルプッシュプル信号も得る事が出来る。これ
は記録マークに光ビームが差し掛かりまた抜け出す際、
反射光の光ビーム進行方向の前後方向に強度分布差が生
じるためである。

【００７３】この際記録マークの反射率によってタンジ
ェンシャルプッシュプル信号の極性の変化は一定とな
り、従ってトラッキングサーボ信号の極性は固定され、
記録マークによる情報の再生も正常に行える。

【００７４】但しピットの深さに情報を持たせた光ディ
スクの内容をこの様な記録タイプの光ディスクにコピー
すると、反射光量の総和による情報だけは複写出来る
が、ピットの深さ情報は複写出来ないので、ピット深さ
に持たせた情報のコピーは防止される。

【００７５】若しくは反射率が異なる記録マークを形成
する記録タイプの光ディスクではトラッキングサーボ信
号の極性が固定される事を利用して、これと逆の極性に
トラッキングサーボ信号の極性が固定される様にピット
深さを調整する事も考えられる。この場合、ピットで情
報が記録された光ディスクでは正しくトラッキングサー
ボ制御が可能だが、これをコピーした記録タイプの光デ
ィスクが装着された場合にはトラッキングサーボ信号の
極性が逆転してトラック外れを起こし、情報が再生出来
無く出来るため、新たなコピー防止策にも適用し得る。

【００７６】[実施形態２]続いて本発明の第２の実施例
を図４を用いて説明する。この実施例では反射光を受光
するフォトディテクタの構造が先の実施例１における、
略「田の字」型のものとは異なるものを使用した例であ
る。

【００７７】一般に略「田の字」型のフォトディテクタ
は、個々の光学部品を組合わせて作る光ピックアップに
於いて使用される事が多い。先の実施例では説明を省略
したが、この「田の字」型のフォトディテクタからはフ
ォーカスサーボ信号をも生成する事が多く、その際には
非点収差法と呼ばれる光学的技術を併用する事が殆どで
ある。

【００７８】ところがこの非点収差法は光学系の調整が
幾分敏感であり、個別部品の点数も多い事から組み立て
・調整コストがやや高くなりがちである。

【００７９】一方近年、一つのパッケージの中にフォト
ディテクタや、光源である半導体レーザー等を集積し、
個別部品の点数を減らすと共に光学系の調整を容易にし
たものが広く使われつつある。これは所謂ホログラムレ
ーザーユニットと呼ばれるものであって、光学系の一部
をホログラムと呼ばれる一種の回折格子に代替させ、フ
ォーカスサーボ信号とトラッキングサーボ信号、並びに
記録された情報信号の再生までもその中に内蔵したフォ
トディテクタの出力から生成し得るものである。

【００８０】図４はトラッキング信号の生成に所謂位相
差法を使用した光ディスク装置に対して本発明を適用し
た場合の、主要部分のブロック図であるが、フォトディ
テクタ２２の素子の配置が略「田の字」型では無く、や
や変形したものとなっている。なお先の実施例に対し、
フォトディテクタの素子の呼称を変更している。

【００８１】この図４におけるフォトディテクタ２２も
先の第１の実施例と同様、４つの素子ａ、ｂ、ｃ、ｄを
有するが、反射光は先述した回折格子であるホログラム
によって分割され、断片となってそれぞれの素子上に集
光される。素子ａ、ｂは反射光の内、光ビームの走査・
進行方向の前半分に相当する部分を受光するが、光ディ
スクとの焦点位置のずれに応じて両者への入射光量が変
化する様に上記ホログラムが設計されているので、これ
ら素子ａとｂの出力差からはフォーカスサーボ信号を得
る事が出来る。また素子ｃ、ｄは反射光の後半分に相当
する部分を受光するが、光ディスク内周側・外周側の光
をそれぞれ受光する様に配置されているので、これら素
子ｃ、ｄからは後述する様に位相差法やプッシュプル法
等によりトラッキング信号を得る事が出来る。そして全
ての素子の出力の総和は、反射光量の変化、即ち光ディ
スク上に記録されている情報信号を反映したものとな
る。

【００８２】タンジェンシャルプッシュプル信号を得る
には先述の様に、光ビームの反射光の内、その進行・走
査方向、換言すればピット列の接線方向における光量の
差を求めれば良いので、図４では前半分に相当する反射
光を受光する素子ａ、ｂの出力を加算回路３−４で求め
る一方、後半分に相当する反射光を受光する素子ｃ、ｄ
の出力を加算回路３−３で求め、両者の加算結果の差を
差分回路１２で求めている。

【００８３】また光量の総和信号を求める加算回路４は
先の図１と同様に、ａ、ｂ、ｃ、ｄ、４素子の出力和を
求める接続となっている。

【００８４】一方、位相差法によるトラッキング信号を
生成するために先の図１で見られた加算回路３−１、３
−２はこの図４では存在しない。これはディテクタ２２
の素子配置が先述の様に異なったものであるため、素子
ａやｂ、の信号を用いても位相差法に用いる信号が得ら
れないためである。言い換えればこれら素子ａ、ｂは反
射光の内、光ディスクの半径方向における強度分布を検
出しない様に配置された素子であり、素子ｃ、ｄは検出
出来る様に配置された素子であるとも言える。この様な
先の略「田の字」型に素子が配置されたフォトディテク
タとの相違は、既に述べた通りホログラムレーザーユニ
ットに内蔵して小型の要素部品とするのに適した配置を
選択した事に起因している。

【００８５】もっとも光ディスクの半径方向である、内
外周方向の反射光を受光する２素子の出力があれば、そ
れらの出力には光ビームとピット列との相対的な位置ず
れに応じた位相差が現れるので、位相差法によるトラッ
キング信号の生成が可能である。従ってこの図４では素
子ｃ、ｄの出力を他とは加算する事無く、そのままコン
パレータ５−１と５−２にそれぞれ与えている。

【００８６】なお図４の回路における動作とタイミング
は既に先の実施例で説明したものと変わりは無いので省
略する。

【００８７】なおフォトディテクタ２２に注目すると、
本実施例でも反射光の内、ピット列の接線方向と光ディ
スクの半径方向にそれぞれ略平行な方向の強度分布を検
出し得る様に素子が配置されている。（光ディスクの半
径方向に略平行な方向の強度分布を検出するのが素子
ｃ、ｄであり、ピット列の接線方向に略平行な方向の強
度分布を検出するのが素子ａ、ｂのペアに対する素子
ｃ、ｄのペアである。）このため先の第１の実施例と同
様、フォトディテクタの出力からタンジェンシャルプッ
シュプル信号と位相差法に必要な信号、並びに反射光量
の総和に相当する信号の何れも生成可能である。

【００８８】更に言及すれば、その素子の配置は前述の
如くホログラムレーザーユニットに適しているため、こ
のホログラムレーザーユニットを用いて小型化した光ピ
ックアップに於いてもピット深さを検出し、トラッキン
グサーボ信号の極性を自動的に切替得ると言う本発明の
利点を併せて享受出来る事になる。

【００８９】[実施形態３]続いて本発明にかかる第３の
実施例を図５を用いて説明する。

【００９０】本実施例は先の第１の実施例と同様に、略
「田の字」型に素子が配置されたフォトディテクタを用
いてはいるが、トラッキングサーボ信号の生成に位相差
法では無く、プッシュプル法を用いたものである。

【００９１】この図５に於いて、タンジェンシャルプッ
シュプル信号と反射光量の総和信号を求め、それに基い
てピットの深さを検出・判断し、スイッチ６を切替える
のは先の第１の実施例と変わる所は無い。その動作も同
一である。

【００９２】一方本実施例ではトラッキングサーボ信号
を生成するのに上述の通りプッシュプル法を用いたもの
を想定している。プッシュプル法は光ビームの反射光を
光ディスクの内周側と外周側に分け、その強度差を求め
てトラッキングサーボ信号とする。

【００９３】そのためこの図５において、加算回路３−
１により反射光の光ディスク内周側の成分を受光する素
子ａ、ｂの出力の和を求める一方、加算回路３−２では
光ディスク外周側の成分を受光する素子ｃ、ｄの出力の
和を求め、位相比較回路を通さずに両者の出力振幅の差
を差分回路１７で求める構成となっている。差分結果は
ＬＰＦ１８でその低域成分を抽出し、トラッキングサー
ボ信号として出力される。

【００９４】スイッチ６は検出したピットの深さに応じ
て切替えられるものであるが、この図５では加算回路３
−１及び３−２の出力を差分回路１７に接続する際の極
性を切替える構成としている。無論差分回路１７の出力
に別途反転アンプを設け、これと差分回路１７との出力
の一方を切替えてトラッキングサーボ信号とする構成で
あっても構わない。

【００９５】本実施例ではトラッキングサーボ信号の生
成にプッシュプル法を用いているが、このプッシュプル
法ではピット列だけでは無く、連続した案内溝であるグ
ルーブが混在した光ディスクに於いてもトラッキングサ
ーボ信号を生成する事が出来る。

【００９６】[実施形態４]本発明に掛かる第４の実施例
を図６を用いて説明する。

【００９７】本実施例では第２の実施例と同様に、ホロ
グラムレーザーユニットに内蔵された、略「田の字」形
状では無いフォトディテクタを使用する一方、トラッキ
ングサーボ信号の生成には先の第３の実施例と同様にプ
ッシュプル法を適用した場合を想定している。なおフォ
トディテクタ２２の各素子の呼称を、第１並びに第３の
実施例における略「田の字」形状のものから変更し、第
２の実施例におけるものと同じにしている。

【００９８】図６に於いて、フォトディテクタ２２と加
算回路３−３、３−４、及び加算回路４並びにその後の
回路など、タンジェンシャルプッシュプル信号や反射光
量に相当する信号を求め、ピット深さを検出する部位の
接続と動作は先の第２の実施例と同様である。

【００９９】異なっているのはフォトディテクタ２２の
素子ｃ、ｄの接続であり、スイッチ６を経て差分回路１
７に接続され、その出力振幅の差が求められる構成とな
っている。

【０１００】既に第３の実施例の説明に際して述べた通
り、プッシュプル法は光ビームの反射光を光ディスクの
内周側と外周側に分け、その強度差を求めてトラッキン
グサーボ信号とするものである。一方第２の実施例の説
明に際して述べた様に、素子ｃ、ｄは反射光の後半分に
相当する部分を受光するが、光ディスク内周側・外周側
の光をそれぞれ受光する様に配置されているので、これ
ら素子ｃ、ｄの出力差を求めれば、略「田の字」型のフ
ォトディテクタを用いるのと同様にプッシュプル法によ
るトラッキングサーボ信号を得る事が出来る。

【０１０１】この実施例においてスイッチ６は素子ｃ、
ｄからの出力を切替えて差分回路１７に与え、トラッキ
ングサーボ信号の極性を切替える様になっているが、別
途反転アンプを設けて差分回路１７の出力との切替を行
う等の構成としても構わない。

【０１０２】なお既に第１の実施例に於いて説明した様
に、本発明ではピットからの反射光の回折方向、ひいて
はその強度分布がピットの深さにより異なり、特に使用
する光（光ディスクに照射する光ビーム）の波長をλ、
光ディスクの基板の屈折率をｎとした時、（λ／４ｎ）
を境として逆転する事を利用している。この事は個々に
は述べていないが、何れの実施例に於いても共通の原理
である。

【０１０３】しかしこの回折方向の逆転を生じる深さは
（λ／４ｎ）だけでは無く、実際にはこれを基準として
深さが（λ／２ｎ）増す毎に存在する。従って更に一般
的には光ビームの光の波長をλ、光ディスクの基板の屈
折率をｎ、任意の整数をｋ、ｍとしたとき、ピットの深
さが （ｋλ／２ｎ）＜Ｄ１＜｛（λ／４ｎ）＋（ｋλ／２
ｎ）｝ 並びに ｛（λ／４ｎ）＋（ｍλ／２ｎ）｝＜Ｄ２＜｛（ｍ＋
１）・λ／２ｎ｝ の条件を満たすＤ１、Ｄ２の何れかのグループに分類さ
れれば、反射光の回折方向はこれらのグループに属する
ピットの間で逆転するため、ピットの深さを検出し、ト
ラッキングサーボ信号の極性切替が可能である。

【０１０４】従って光ディスクの製造上、ある程度のピ
ット深さがある方が製造しやすい、等の理由がある場合
にはその条件を満たす様にｋ、ｍを選定すれば良い。ま
たｋとｍは同一の値をとる必要は無いので、ピット深さ
を選定する際の自由度が大きい。

【０１０５】もっとも一般にはピット深さが必要最小限
の深さに留まる方が製造が容易であり、また再生される
信号の品質も良いと言われているため、その際には上記
ｋ、ｍの少なくとも一方を０とすれば良い。

【０１０６】

【発明の効果】本発明の第1の手段の構成による光ディ
スク装置は、ピットの深さの相違を検出してトラッキン
グサーボ信号の極性を自動的に切替えるので、相異なる
深さで形成されたピットを有する光ディスクに対しても
正確なトラッキングサーボ制御が可能であると共に、ピ
ットの深さが１種類である光ディスクに対してはトラッ
キングサーボ信号の極性を切替えないので、従来の光デ
ィスクに対しても互換性を有する。

【０１０７】本発明の第2の手段にかかる光ディスク装
置は、第1の手段の光ディスク装置において、ピット列
に照射した光ビームの反射光の光量に応じた信号の変化
点における、ピット列の接線方向における強度分布の差
に応じた信号の極性に基いて、前記ピットの深さを検出
する。これらの信号は光ピックアップから簡単に生成す
る事が出来る信号であるため、光ピックアップに新たな
フォトディテクタやセンサ類を設ける必要が無く、ピッ
トの深さを判別する事が出来る。

【０１０８】本発明の第3の手段にかかる光ディスク装
置は、第1の手段または第2の手段に記載の光ディスク装
置において、前記接線方向に置ける強度分布の差に応じ
た信号や、前記反射光の光量に応じた信号を比較手段に
より２値化し、その信号の変化タイミングやレベルに基
いてピットの深さを判別する。そのためピット深さ検出
のための回路手段の大半をディジタルＩＣとして集積化
する事が出来、信頼性やコスト、実装面積などの面で優
れている。

【０１０９】本発明の第4の手段にかかる光ディスク装
置は、第1の手段に記載の光ディスク装置において、位
相差法によりトラッキング信号を生成すると共に、前記
ピット深さ検出手段の検出結果に応じてトラッキング信
号の極性を切替える。従って対物レンズが大きく変位し
てもトラッキングサーボ信号にオフセットが生じにくい
他、位相差法に必要な位相差検出手段も大半がディジタ
ル回路であるため、更に回路の集積化が図れて信頼性や
コスト、実装面積などの面でも優れている。

【０１１０】本発明の第5の手段にかかる光ディスク装
置は、第1の手段に記載の光ディスク装置において、プ
ッシュプル法によりトラッキング信号を生成すると共
に、前記ピット深さ検出手段の検出結果に応じてトラッ
キング信号の極性を切替える事を特徴とする。従ってピ
ット列だけで無く、連続したグルーブが混在して形成さ
れている光ディスクに於いてもトラッキングサーボ信号
を生成する事が出来る。

【０１１１】本発明の第6の手段にかかる光ディスク装
置は、第4の手段または第5の手段に記載の光ディスク装
置において、前記受光素子は前記光ビームの反射光の、
前記ピット列の接線方向並びに前記光ディスクの半径方
向にそれぞれ略平行な方向の強度分布を検出出来る配置
を有するため、ピット深さの検出に必要な信号を適切に
生成する事が出来る。

【０１１２】本発明の第7の手段にかかる光ディスク装
置は、第6の手段に記載の光ディスク装置において、前
記受光素子が従来光ピックアップに於いて多用されてい
る、略「田の字」状に配置されているため、従来の光ピ
ックアップを新たな素子を付加する事無く利用する事が
出来る。

【０１１３】本発明の第8の手段にかかる光ディスク装
置は、第6の手段に記載の光ディスク装置において、前
記受光素子は前記光ディスクの半径方向に略平行な強度
分布を検出出来る素子と、出来ない素子とが配置されて
いる。この素子の配置はホログラムレーザーユニットに
適したものであるため、ホログラムレーザーユニットを
用いて、光ピックアップや装置の小型化が図れる。

【０１１４】本発明の第9の手段にかかる光ディスク装
置は、第1の手段の光ディスク装置において、前記光ビ
ームの光の波長をλ、光ディスクの基板の屈折率をｎ、
任意の整数をｋ、ｍとしたとき、使用する光ディスク状
に形成されるピットの深さが、（ｋλ／２ｎ）＜Ｄ１＜
｛（λ／４ｎ）＋（ｋλ／２ｎ）｝、並びに、｛（λ／
４ｎ）＋（ｍλ／２ｎ）｝＜Ｄ２＜｛（ｍ＋１）・λ／
２ｎ｝の条件を満たすＤ１、Ｄ２の何れかに分類される
事を特徴としている。このため、ピットの深さによって
トラッキングサーボ信号の自動切替が行えると共に、光
ディスク製造時の設計自由度が増す。

【０１１５】本発明の第１０の手段にかかる光ディスク
装置は、第９の手段の光ディスク装置において、前記整
数のｋ、ｍの少なくとも一方を０とした事を特徴として
いる。このため光ディスクの製造の時間やコストを抑え
る事が出来ると共に、再生した信号の品質を高くする事
が可能である。

【０１１６】本発明の第１１の手段にかかる光ディスク
装置は、第１の手段、第９の手段、乃至は第１０の手段
の光ディスク装置に於いて、前記ピットの深さに情報を
含ませた事を特徴としている。このためトラッキングサ
ーボ信号の極性の自動切替を行うと共に、その切替を行
った対象のピットから、深さに応じた情報を別途再生す
る事が出来、記録密度の向上や付加的な情報を得る事が
出来る。

【０１１７】本発明の第１２の手段にかかる光ディスク
装置は、第１の手段、第９の手段、乃至は第１０の手段
の光ディスク装置に於いて、光を照射して反射率の異な
る記録マークを形成する記録型の光ディスクが装着され
た場合、これに対する前記トラッキング信号の極性がト
ラッキングサーボ外れを生じる極性となる様に、光ディ
スクのピットの深さを選択した事を特徴とする。そのた
めピットで情報を記録した光ディスクの情報を記録型の
光ディスクに不正にコピーしたものは正常にトラッキン
グサーボ制御が行えず、情報の再生が行えないため、コ
ピーの防止手段とする事が出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態にかかるブロック図であ
る。

【図２】図１の構成の各部の動作を説明する図である。

【図３】図１におけるスイッチ６の別の構成の説明図で
ある。

【図４】本発明の別の実施例にかかるブロック図であ
る。

【図５】本発明のまた別の実施例にかかるブロック図で
ある。

【図６】本発明の更に別の実施例にかかるブロック図で
ある。

【図７】位相差法の原理的の説明図である。

【図８】プッシュプル法の原理の説明図である。

【図９】ピット深さとタンジェンシャルプッシュプル信
号の関連の説明図である。

【符号の説明】

１：光ビーム、２：フォトディテクタ、３−１、３−
２、３−３、３−４：加算回路、４：加算回路、５−
１、５−２：コンパレータ（比較回路）、６：スイッチ
（選択回路）、６−１、６−２、６−３、６−４：ＡＮ
Ｄゲート、６−５、６−６：ＯＲゲート６−７、６−
８：インバータ、７：位相比較回路、８−１、８−２：
ＬＰＦ、９：差分回路、１０：コンパレータ（比較回
路）、１１：エッジ検出回路、１２：差分回路、１３−
１、１３−２：コンパレータ（比較回路）、１４−１、
１４−２：ＡＮＤゲート（マスク回路）、１５−１、１
５−２：ＦＦ回路、１６−１、１６−２：パルス発生回
路、１７：差分回路、１８：ＬＰＦ回路２２：フォトデ
ィテクタ、３１、３２：ピット

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ピットにより情報を記録した部位を有す
   る光ディスクを使用すると共に、前記ピットの深さを検
   出するピット深さ検出手段と、前記ピット深さ検出手段
   の出力に基づいてピット列に光ビームを追従させるため
   のトラッキング信号の極性を反転させる極性反転手段を
   備えていることを特徴とする、光ディスク装置。
2. 【請求項２】 前記ピット深さ検出手段は、前記ピット
   に照射した光ビームの反射光の光量に応じた信号と、前
   記ピット列の接線方向における強度分布の差に応じた信
   号とに基き、前記反射光の光量に応じた信号の変化点に
   おける、前記強度分布の差に応じた信号の極性に基い
   て、前記ピットの深さを検出する事を特徴とする、請求
   項１に記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記ピット深さ検出手段は、前記接線方
   向に置ける強度分布の差に応じた信号を、２つの基準値
   と比較して２値化する第１及び第２の比較手段と、前記
   反射光の光量に応じた信号を、また別の基準値と比較し
   て２値化する第３の比較手段と、上記第３の比較手段の
   出力の変化タイミングで上記第１及び第２の比較手段の
   出力を参照し、その参照結果に基づいてピットの深さを
   検出する事を特徴とする、請求項１乃至２に記載の光デ
   ィスク装置。
4. 【請求項４】 前記ピットに照射した光ビームの反射光
   を受光素子で受光し、その受光素子からの出力信号の位
   相差を位相差検出手段で検出してトラッキング信号を生
   成すると共に、前記ピット深さ検出手段の検出結果に応
   じてトラッキング信号の極性を切替える、請求項１に記
   載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記ピットに照射した光ビームの反射光
   の、前記光ディスクの半径方向における強度分布の差を
   受光素子で受光し、差分手段によってその受光素子から
   の出力信号の強度差に基きトラッキング信号を生成する
   と共に、前記ピット深さ検出手段の検出結果に応じてト
   ラッキング信号の極性を切替える、請求項１に記載の光
   ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記受光素子は前記光ビームの反射光
   の、前記ピットの列の接線方向並びに前記光ディスクの
   半径方向にそれぞれ略平行な方向の強度分布を検出出来
   る配置を有する事を特徴とする、請求項４乃至５に記載
   の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記受光素子は略「田の字」形状に配置
   されている事を特徴とする、請求項６に記載の光ディス
   ク装置。
8. 【請求項８】 前記受光素子は前記光ディスクの半径方
   向に略平行な強度分布を検出出来る素子と、検出しない
   素子とが配置されている事を特徴とする、請求項６に記
   載の光ディスク装置。
9. 【請求項９】 前記光ビームの光の波長をλ、光ディス
   クの基板の屈折率をｎ、任意の整数をｋ、ｍとしたと
   き、使用する光ディスク状に形成されるピットの深さが （ｋλ／２ｎ）＜Ｄ１＜｛（λ／４ｎ）＋（ｋλ／２
   ｎ）｝ 並びに ｛（λ／４ｎ）＋（ｍλ／２ｎ）｝＜Ｄ２＜｛（ｍ＋
   １）・λ／２ｎ｝ の条件を満たすＤ１、Ｄ２の何れかに分類される事を特
   徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 前記整数のｋ、ｍの少なくとも一方を
    ０とした事を特徴とする、請求項９に記載の光ディスク
    装置。
11. 【請求項１１】 前記ピットの深さに情報を含ませた事
    を特徴とする、請求項１、９、乃至は請求項１０に記載
    の光ディスク装置。
12. 【請求項１２】 光を照射して反射率の異なる記録マー
    クを形成する記録型の光ディスクが装着された場合、こ
    れに対する前記トラッキング信号の極性がトラッキング
    サーボ外れを生じる極性となる様に、光ディスクのピッ
    トの深さを選択した事を特徴とする、請求項１、９、乃
    至１０に記載の光ディスク装置。