JPH07105052B2 - 光ピツクアツプのトラツキング方法 - Google Patents
光ピツクアツプのトラツキング方法Info
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- JPH07105052B2 JPH07105052B2 JP60213042A JP21304285A JPH07105052B2 JP H07105052 B2 JPH07105052 B2 JP H07105052B2 JP 60213042 A JP60213042 A JP 60213042A JP 21304285 A JP21304285 A JP 21304285A JP H07105052 B2 JPH07105052 B2 JP H07105052B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、記録担体の情報トラツクから光学的に情報を
読み出す光ピツクアツプのトラツキング検出方法に関す
る。
読み出す光ピツクアツプのトラツキング検出方法に関す
る。
近年、デジタル化された音声を記録担体の表面の凹凸で
記録したコンパクトデイスクや、TV映像を記録したビデ
オデイスクの普及が著しい。
記録したコンパクトデイスクや、TV映像を記録したビデ
オデイスクの普及が著しい。
特にコンパクトデイスクプレーヤーは据置型から自由に
持ち運べるポータブル型、又は車載用のプレーヤーへの
進出が大いに期待されている。
持ち運べるポータブル型、又は車載用のプレーヤーへの
進出が大いに期待されている。
これらのプレーヤーは、使用側からの要求として薄型，
小型，安価な事が要求されており、従って記録担体から
情報を読み出す光ピツクアツプに関しても同様の要求が
大きくなっている。
小型，安価な事が要求されており、従って記録担体から
情報を読み出す光ピツクアツプに関しても同様の要求が
大きくなっている。
ところで、上記記録担体において、情報を記録したピツ
ト列（情報トラツク）はミクロン単位の微小間隔で、高
密度に形成されており、上記光ピツクアツプは情報を再
生する光ビームが情報トラツクに正確に追従するように
制御する、所謂トラツキングを行っている。トラツキン
グには種々の方法が知られているが、最も単純な方法と
しては以下に説明するプツシユプル法と呼ばれるものが
ある。
ト列（情報トラツク）はミクロン単位の微小間隔で、高
密度に形成されており、上記光ピツクアツプは情報を再
生する光ビームが情報トラツクに正確に追従するように
制御する、所謂トラツキングを行っている。トラツキン
グには種々の方法が知られているが、最も単純な方法と
しては以下に説明するプツシユプル法と呼ばれるものが
ある。
プツシユプル法は、レンズ瞳面でのフアーフイールドパ
ターンの強度分布の左右対称性を検出するもので、例え
ば第７図に示す如く、光スポツトが記録担体の情報トラ
ツク上にある時、そのフアーフイールドパターン73は一
様の明るさとなる。これを２分割センサの受光部71と72
で受光し、その信号の差分を取ればエラー信号は零とな
り、いわゆるオントラツク状態である事を示す。一方、
光スポツトが情報トラツクからはずれるとその量に応
じ、フアーフイールドパターンの強度分布の対称性がく
ずれエラー信号が生じる。
ターンの強度分布の左右対称性を検出するもので、例え
ば第７図に示す如く、光スポツトが記録担体の情報トラ
ツク上にある時、そのフアーフイールドパターン73は一
様の明るさとなる。これを２分割センサの受光部71と72
で受光し、その信号の差分を取ればエラー信号は零とな
り、いわゆるオントラツク状態である事を示す。一方、
光スポツトが情報トラツクからはずれるとその量に応
じ、フアーフイールドパターンの強度分布の対称性がく
ずれエラー信号が生じる。
ところが、第８図（Ａ）に示す如く、エラー信号に応じ
て対物レンズ74を移動させ、光スポツトを記録担体75の
情報トラツク上に形成させると、フアーフイールドパタ
ーンの中心と分割センサの分割線がずれ、トラツキング
エラー信号はオントラツク状態でありながら零とならな
い、即ち、オフセツトエラーが生じる。又、記録担体75
が傾いた時も第８図（Ｂ）に示す如く、記録担体75から
の反射光束の軸ずれが起き、この時もオフセツトエラー
が生じる。
て対物レンズ74を移動させ、光スポツトを記録担体75の
情報トラツク上に形成させると、フアーフイールドパタ
ーンの中心と分割センサの分割線がずれ、トラツキング
エラー信号はオントラツク状態でありながら零とならな
い、即ち、オフセツトエラーが生じる。又、記録担体75
が傾いた時も第８図（Ｂ）に示す如く、記録担体75から
の反射光束の軸ずれが起き、この時もオフセツトエラー
が生じる。
オフセツトエラーを生じる時の分割センサの受光部71,7
2とフアーフイールドパターン73との関係を第９図に示
す。このように、プツシユプル法にはオフセツトエラー
に弱いといった欠点があった。又、フアーフイールドパ
ターンの強度の対称性が敏感に変化するのは、情報トラ
ツクの深さが使用波長をλとする時λ/8の時である事は
広く知られているが、コンパクトデイスクにおいてはそ
の深さはλ/5であり、従来のプツシユプル法では十分な
検出感度が得られなかった。
2とフアーフイールドパターン73との関係を第９図に示
す。このように、プツシユプル法にはオフセツトエラー
に弱いといった欠点があった。又、フアーフイールドパ
ターンの強度の対称性が敏感に変化するのは、情報トラ
ツクの深さが使用波長をλとする時λ/8の時である事は
広く知られているが、コンパクトデイスクにおいてはそ
の深さはλ/5であり、従来のプツシユプル法では十分な
検出感度が得られなかった。
一方、上記オフセツトエラーに強く、検出感度の高いト
ラツキング方法として、従来３ビーム法（特公昭53-131
23）やヘテロダイン法（信学技報80,No.174）が知られ
ている。しかしながら、これらの方法は、プツシユプル
法に比べて構成が複雑となり、また、トラツキングと共
に光ピツクアツプに必須なフオーカシング検出に制約を
加える場合も生じた。
ラツキング方法として、従来３ビーム法（特公昭53-131
23）やヘテロダイン法（信学技報80,No.174）が知られ
ている。しかしながら、これらの方法は、プツシユプル
法に比べて構成が複雑となり、また、トラツキングと共
に光ピツクアツプに必須なフオーカシング検出に制約を
加える場合も生じた。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を解決し、簡単な
構成で高密度な検出が可能であり、またオフセツトエラ
ーにも強い光ピツクアツプのトラツキング方法を提供す
ることにある。
構成で高密度な検出が可能であり、またオフセツトエラ
ーにも強い光ピツクアツプのトラツキング方法を提供す
ることにある。
本発明の上記目的は、記録担体の情報トラックのファー
フィールドパターンを該情報トラックと平行な方向に２
分割して、夫々の光量を受光部で検出して光電変換し、
得られた各々の電流信号を電圧信号に変換し、該各々の
電圧信号を第１の電圧レベルと第２の電圧レベルに２値
化し、該各々の２値化した信号の位相差を基にトラッキ
ングを行う光ピックアップのトラッキング方法であっ
て、前記２値化した２つの信号のうち、一方の信号が前
記第１の電圧レベルのとき、他方の信号の最初の立ち上
がり又は立ち下がりから前記一方の信号が前記第２の電
圧レベルに変化するまでの時間に相当する第１の出力
と、前記２値化した２つの信号のうち、前記他方の信号
が前記第１の電圧レベルのとき、前記一方の信号の最初
の立ち上がり又は立ち下がりから前記他方の信号が前記
第２の電圧レベルに変化するまでの時間に相当する第２
の出力とを生成し、前記第１の出力と前記第２の出力と
を差分することによりパルス幅変調信号を生成し、該生
成されたパルス幅変調信号を基にトラッキングエラー信
号を得ることを特徴とする光ピックアップのトラッキン
グ方法によって達成される。
フィールドパターンを該情報トラックと平行な方向に２
分割して、夫々の光量を受光部で検出して光電変換し、
得られた各々の電流信号を電圧信号に変換し、該各々の
電圧信号を第１の電圧レベルと第２の電圧レベルに２値
化し、該各々の２値化した信号の位相差を基にトラッキ
ングを行う光ピックアップのトラッキング方法であっ
て、前記２値化した２つの信号のうち、一方の信号が前
記第１の電圧レベルのとき、他方の信号の最初の立ち上
がり又は立ち下がりから前記一方の信号が前記第２の電
圧レベルに変化するまでの時間に相当する第１の出力
と、前記２値化した２つの信号のうち、前記他方の信号
が前記第１の電圧レベルのとき、前記一方の信号の最初
の立ち上がり又は立ち下がりから前記他方の信号が前記
第２の電圧レベルに変化するまでの時間に相当する第２
の出力とを生成し、前記第１の出力と前記第２の出力と
を差分することによりパルス幅変調信号を生成し、該生
成されたパルス幅変調信号を基にトラッキングエラー信
号を得ることを特徴とする光ピックアップのトラッキン
グ方法によって達成される。
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第１図は、本発明の方法を用いた光ピツクアツプの概要
を示し、夫々（Ａ）は略断面図、（Ｂ）は光分割器２の
平面図である。
を示し、夫々（Ａ）は略断面図、（Ｂ）は光分割器２の
平面図である。
第１図において、半導体レーザの如き光源１から発せら
れた光束は、光分割器２の第１の面３で反射され、対物
レンズ４により記録担体５の情報記録面に微小スポツト
として集光される。記録担体５からの反射光は、再び対
物レンズ４を通り光分割器２の第１の面３を通過し、第
２の面６の一部に設けられた回折構造体７により回折さ
れてその方向を変え、第１の面と第２の面との間で全反
射しながら光検出器８に入射する。光分割器の第１の面
及び第２の面に設けられる回折構造体７は、必要に応じ
て所望の反射率又は回折効率が得られるよう反射膜を設
けても良い。
れた光束は、光分割器２の第１の面３で反射され、対物
レンズ４により記録担体５の情報記録面に微小スポツト
として集光される。記録担体５からの反射光は、再び対
物レンズ４を通り光分割器２の第１の面３を通過し、第
２の面６の一部に設けられた回折構造体７により回折さ
れてその方向を変え、第１の面と第２の面との間で全反
射しながら光検出器８に入射する。光分割器の第１の面
及び第２の面に設けられる回折構造体７は、必要に応じ
て所望の反射率又は回折効率が得られるよう反射膜を設
けても良い。
上記回折構造体７は、（Ｂ）に示す如く8,9,10の３領域
に分割されており、夫々回折構造体の格子の向きが異な
っている。その結果、これらの領域で回折された光は、
各々光検出器８の分割された受光部11と12,13,14に導か
れる。ここで、対物レンズ４と記録担体５との距離が変
動した場合、良く知られているように記録担体５から光
分割器２に入射する光束は、その入射角度，入射径が変
化する。そして、光軸から偏位した領域８によって回折
された光は、上記変動に応じて矢印Ｂ方向に振れる。従
って、受光部11及び12の検出信号を差分することによっ
てフオーカスエラー信号が得られる。
に分割されており、夫々回折構造体の格子の向きが異な
っている。その結果、これらの領域で回折された光は、
各々光検出器８の分割された受光部11と12,13,14に導か
れる。ここで、対物レンズ４と記録担体５との距離が変
動した場合、良く知られているように記録担体５から光
分割器２に入射する光束は、その入射角度，入射径が変
化する。そして、光軸から偏位した領域８によって回折
された光は、上記変動に応じて矢印Ｂ方向に振れる。従
って、受光部11及び12の検出信号を差分することによっ
てフオーカスエラー信号が得られる。
一方、回折構造体７の領域９と10との分割線は、記録担
体５上の情報トラツクと平行に設けられており、受光部
13及び14は情報トラツクの分割されたフアーフイールド
パターンにおける光強度分布を各々光電検出する。これ
らの検出信号は、第２図に示す回路で信号処理され、ト
ラツキングエラー信号STとして出力される。第２図にお
いて、13,14は第１図に示した光検出器の受光部、15,16
は電流−電圧変換器、17,18はシユミツトトリガ回路の
如き２値化回路、19,20はＤ型フリツプフロツプ回路、2
1は差分検出器、22はローパスフイルタである。
体５上の情報トラツクと平行に設けられており、受光部
13及び14は情報トラツクの分割されたフアーフイールド
パターンにおける光強度分布を各々光電検出する。これ
らの検出信号は、第２図に示す回路で信号処理され、ト
ラツキングエラー信号STとして出力される。第２図にお
いて、13,14は第１図に示した光検出器の受光部、15,16
は電流−電圧変換器、17,18はシユミツトトリガ回路の
如き２値化回路、19,20はＤ型フリツプフロツプ回路、2
1は差分検出器、22はローパスフイルタである。
上記フオーカスエラー信号及びトラツキングエラー信号
は、第１図において不図示のレンズ駆動機構（一般にア
クチユエータと呼ぶ）にフイードバツクされ、対物レン
ズ４を光軸方向及び光軸と垂直な方向に移動させること
によって、フオーカシング及びトラツキングが行われ
る。第１図の光ピツクアツプは、薄型の光分割器を用
い、貼り付け等によって光検出器と一体に構成出来るこ
とから、小型軽量化に適し、光学部品数が少ないので光
学調整も容易で、信頼性が高く、低コストに作製出来
る。
は、第１図において不図示のレンズ駆動機構（一般にア
クチユエータと呼ぶ）にフイードバツクされ、対物レン
ズ４を光軸方向及び光軸と垂直な方向に移動させること
によって、フオーカシング及びトラツキングが行われ
る。第１図の光ピツクアツプは、薄型の光分割器を用
い、貼り付け等によって光検出器と一体に構成出来るこ
とから、小型軽量化に適し、光学部品数が少ないので光
学調整も容易で、信頼性が高く、低コストに作製出来
る。
次に、上記の光ピツクアツプを用いた本発明のトラツキ
ング方法を具体的に説明する。
ング方法を具体的に説明する。
第３図乃至第５図は光スポツトが情報ピツト上を通過す
るときのフアーフイールドパターンの変化の様子を示
し、夫々（Ａ）は記録担体上の光スポツト23と情報ピツ
ト24との位置関係、（Ｂ）はその時のフアーフイールド
パターンを示す。第３図は情報ピツト列（情報トラツ
ク）の中心軸に対し、光スポツトが右側にずれた場合、
第４図は情報トラツクと光スポツトの位置が一致した場
合、第５図は光スポツトが左側にずれた場合である。こ
こで、情報ピツトの深さはλ/5とし、フイールドパター
ンの暗部を斜線部で示した。
るときのフアーフイールドパターンの変化の様子を示
し、夫々（Ａ）は記録担体上の光スポツト23と情報ピツ
ト24との位置関係、（Ｂ）はその時のフアーフイールド
パターンを示す。第３図は情報ピツト列（情報トラツ
ク）の中心軸に対し、光スポツトが右側にずれた場合、
第４図は情報トラツクと光スポツトの位置が一致した場
合、第５図は光スポツトが左側にずれた場合である。こ
こで、情報ピツトの深さはλ/5とし、フイールドパター
ンの暗部を斜線部で示した。
第３図乃至第５図からわかるように、情報トラツクの中
心軸と光スポツトの中心とが一致しない場合、フアーフ
イールドパターンの対称性は崩れ、（Ｂ）のように光検
出器の受光部13,14で光電検出すると、これらの検出信
号には位相差が生じる。本発明は、この位相差からトラ
ツキングエラー信号を得るものである。
心軸と光スポツトの中心とが一致しない場合、フアーフ
イールドパターンの対称性は崩れ、（Ｂ）のように光検
出器の受光部13,14で光電検出すると、これらの検出信
号には位相差が生じる。本発明は、この位相差からトラ
ツキングエラー信号を得るものである。
第６図は、情報トラツクと光スポツトとの位置関係が変
化した場合の、第２図示の処理回路の各部における信号
波形の変化を示す図である。ここで（Ａ）は情報トラツ
クの中心軸と光スポツト23との位置関係を示し、光スポ
ツト23の照射位置は情報トラツクの右側から左側へと変
化する。また、この光スポツトのフアーフイールドパタ
ーンは受光部13,14で検出される。
化した場合の、第２図示の処理回路の各部における信号
波形の変化を示す図である。ここで（Ａ）は情報トラツ
クの中心軸と光スポツト23との位置関係を示し、光スポ
ツト23の照射位置は情報トラツクの右側から左側へと変
化する。また、この光スポツトのフアーフイールドパタ
ーンは受光部13,14で検出される。
第３図〜第５図を参考にすると、第２図の回路におい
て、受光部13,14で検出された電気信号は、電流−電圧
変換器15,16によって各々（Ｂ）及び（Ｃ）に示す電圧
波形と成る。この信号を２値化回路17,18に通すと、各
々（Ｄ），（Ｅ）の如き２値化信号が得られる。これら
信号の例えば立ち下がりの時間差、即ち位相差を検出す
れば、光スポツトと情報ピツトのズレ量が検出出来る事
になる。但し、第５図からも判るように、受光部13と14
からの信号は周波数が異なる場合（図からは２倍の周波
数の相異がある場合が生じる事は容易に判る）があり、
位相差検出に誤差が生じない様、第２図の如きＤ型フリ
ツプフロツプ回路19,20を用いて位相検出を行う。回路1
9は（Ｅ）に示す信号のハイレベルでセツトされ、ロー
レベルでリセツトされる。又、（Ｄ）に示す信号の立ち
下がりで（Ｅ）のレベルがセツト状態の時出力する。回
路20においては（Ｄ）と（Ｅ）の関係が回路19と逆にな
る様結線する。回路20は（Ｄ）に示す信号のハイレベル
でセットされ、ローレベルでリセットされる。又、
（Ｅ）に示す信号の立ち下がりで（Ｄ）のレベルをセッ
ト状態の時出力する。
て、受光部13,14で検出された電気信号は、電流−電圧
変換器15,16によって各々（Ｂ）及び（Ｃ）に示す電圧
波形と成る。この信号を２値化回路17,18に通すと、各
々（Ｄ），（Ｅ）の如き２値化信号が得られる。これら
信号の例えば立ち下がりの時間差、即ち位相差を検出す
れば、光スポツトと情報ピツトのズレ量が検出出来る事
になる。但し、第５図からも判るように、受光部13と14
からの信号は周波数が異なる場合（図からは２倍の周波
数の相異がある場合が生じる事は容易に判る）があり、
位相差検出に誤差が生じない様、第２図の如きＤ型フリ
ツプフロツプ回路19,20を用いて位相検出を行う。回路1
9は（Ｅ）に示す信号のハイレベルでセツトされ、ロー
レベルでリセツトされる。又、（Ｄ）に示す信号の立ち
下がりで（Ｅ）のレベルがセツト状態の時出力する。回
路20においては（Ｄ）と（Ｅ）の関係が回路19と逆にな
る様結線する。回路20は（Ｄ）に示す信号のハイレベル
でセットされ、ローレベルでリセットされる。又、
（Ｅ）に示す信号の立ち下がりで（Ｄ）のレベルをセッ
ト状態の時出力する。
回路19,20の出力を差分検出器21に通すと、（Ｆ）に示
すように、前記検出信号の位相差に応じたパルス幅での
いわゆるPWM（Phase Width Modulation）された信号が
検出される。これをローパスフイルタ22に通すと（Ｇ）
に示す如きアナログ量のトラツキングエラー信号STが検
出出来る。
すように、前記検出信号の位相差に応じたパルス幅での
いわゆるPWM（Phase Width Modulation）された信号が
検出される。これをローパスフイルタ22に通すと（Ｇ）
に示す如きアナログ量のトラツキングエラー信号STが検
出出来る。
第７図乃至第９図で説明した従来のプツシユプル法で
は、受光部71,72からの出力をそのまま差分しているた
め、光軸ずれによる信号レベルの差が直接オフセツトエ
ラーとなるが、本発明の方法では信号レベルではなく、
位相差を検出する為、上記オフセツトエラーの問題を解
決出来る。
は、受光部71,72からの出力をそのまま差分しているた
め、光軸ずれによる信号レベルの差が直接オフセツトエ
ラーとなるが、本発明の方法では信号レベルではなく、
位相差を検出する為、上記オフセツトエラーの問題を解
決出来る。
上記説明においては、パルス波形〔第６図（Ｄ），
（Ｅ）〕の立ち下がりに着目して位相検出を行ったが、
立ち上がりに着目しても同様の信号処理が出来る。
（Ｅ）〕の立ち下がりに着目して位相検出を行ったが、
立ち上がりに着目しても同様の信号処理が出来る。
更に、立ち下がり，立ち上がりから得られた第６図
（Ｆ）の如き位相検出信号を混合させても全く同様にト
ラツキングエラー信号が得られる。
（Ｆ）の如き位相検出信号を混合させても全く同様にト
ラツキングエラー信号が得られる。
第10図乃至第13図は夫々本発明を適用し得る光ピツクア
ツプの変形例を示し、図中、第１図と同一の部材には同
一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
ツプの変形例を示し、図中、第１図と同一の部材には同
一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
第10図は、第１図において対物レンズ４側に配された光
検出器８を光源側に配置した例を示す。本例は、光検出
器８が対物レンズ４を動かす為のアクチユエータで発生
する電磁ノイズの影響を受けにくいという利点がある。
検出器８を光源側に配置した例を示す。本例は、光検出
器８が対物レンズ４を動かす為のアクチユエータで発生
する電磁ノイズの影響を受けにくいという利点がある。
第11図は、光分割器２の回折構造体７の分割線AA′を記
録担体５の面に対し、θだけ傾けた例で、（Ａ）が略断
面図、（Ｂ）が光分割器２の平面図を示す。本例の構成
は、光分割器内の光の導波方向が記録担体５の面にほぼ
平行となる為、第１図の例に比べ光ピツクアツプ全体を
薄型に構成出来る利点がある。
録担体５の面に対し、θだけ傾けた例で、（Ａ）が略断
面図、（Ｂ）が光分割器２の平面図を示す。本例の構成
は、光分割器内の光の導波方向が記録担体５の面にほぼ
平行となる為、第１図の例に比べ光ピツクアツプ全体を
薄型に構成出来る利点がある。
ここまでは、所謂有限結像系を用いた例を示したが、こ
の系は、記録担体の面ブレが大きく、対物レンズが長い
ストロークで追従しなくてはならない場合には、結像倍
率が変化して、記録担体上のスポツト径が変動するとい
った問題が生じる。このような問題を解決した例を以下
に示す。
の系は、記録担体の面ブレが大きく、対物レンズが長い
ストロークで追従しなくてはならない場合には、結像倍
率が変化して、記録担体上のスポツト径が変動するとい
った問題が生じる。このような問題を解決した例を以下
に示す。
第12図は、光分割器２と対物レンズ27との間にコリメー
タレンズ26を配置した例で、対物レンズ27に入射する光
は平行光となっている為、前述の如き問題は生じない。
タレンズ26を配置した例で、対物レンズ27に入射する光
は平行光となっている為、前述の如き問題は生じない。
第13図は、光源１と光分割器29との間にコリメータレン
ズ28を配置した例で、（Ａ）は略断面図、（Ｂ）は光分
割器29の平面図を示す。光分割器29で反射された光束
は、対物レンズ30で記録担体５に集光される。本例では
記録担体５の反射光は光分割器29に主に平行光束で入射
する為、回折構造体31の格子部は、（Ｂ）に示すように
曲率を持っている事が望ましく、光束は曲率を持った格
子によって集光されて、光検出器８に導かれる。
ズ28を配置した例で、（Ａ）は略断面図、（Ｂ）は光分
割器29の平面図を示す。光分割器29で反射された光束
は、対物レンズ30で記録担体５に集光される。本例では
記録担体５の反射光は光分割器29に主に平行光束で入射
する為、回折構造体31の格子部は、（Ｂ）に示すように
曲率を持っている事が望ましく、光束は曲率を持った格
子によって集光されて、光検出器８に導かれる。
以上の実施例では、回折構造体を有する光分割器を用い
た光ピツクアツプを示したが、本発明の方法はプリズム
型のビームスプリツタを用いた一般の光ピツクアツプに
も適用が可能である。また、信号処理回路も第２図の例
に限らず、種々の変形が考えられる。
た光ピツクアツプを示したが、本発明の方法はプリズム
型のビームスプリツタを用いた一般の光ピツクアツプに
も適用が可能である。また、信号処理回路も第２図の例
に限らず、種々の変形が考えられる。
以上説明したように、本発明は、記録担体の情報トラッ
クのファーフィールドパターンを該情報トラックと平行
な方向に２分割して、夫々の光量を受光部で検出して光
電変換し、得られた各々の電流信号を電圧信号に変換
し、該各々の電圧信号を第１の電圧レベルと第２の電圧
レベルに２値化し、該各々の２値化した信号の位相差を
基にトラッキングを行う光ピックアップのトラッキング
方法であって、前記２値化した２つの信号のうち、一方
の信号が前記第１の電圧レベルのとき、他方の信号の最
初の立ち上がり又は立ち下がりから前記一方の信号が前
記第２の電圧レベルに変化するまでの時間に相当する第
１の出力と、前記２値化した２つの信号のうち、前記他
方の信号が前記第１の電圧レベルのとき、前記一方の信
号の最初の立ち上がり又は立ち下がりから前記他方の信
号が前記第２の電圧レベルに変化するまでの時間に相当
する第２の出力とを生成し、前記第１の出力と前記第２
の出力とを差分することによりパルス幅変調信号を生成
し、該生成されたパルス幅変調信号を基にトラッキング
エラー信号を得ることを特徴とする光ピックアップのト
ラッキング方法を採用したので、簡単な構成で高感度な
検出が可能となり、またオフセツトエラーの問題が解決
された。
クのファーフィールドパターンを該情報トラックと平行
な方向に２分割して、夫々の光量を受光部で検出して光
電変換し、得られた各々の電流信号を電圧信号に変換
し、該各々の電圧信号を第１の電圧レベルと第２の電圧
レベルに２値化し、該各々の２値化した信号の位相差を
基にトラッキングを行う光ピックアップのトラッキング
方法であって、前記２値化した２つの信号のうち、一方
の信号が前記第１の電圧レベルのとき、他方の信号の最
初の立ち上がり又は立ち下がりから前記一方の信号が前
記第２の電圧レベルに変化するまでの時間に相当する第
１の出力と、前記２値化した２つの信号のうち、前記他
方の信号が前記第１の電圧レベルのとき、前記一方の信
号の最初の立ち上がり又は立ち下がりから前記他方の信
号が前記第２の電圧レベルに変化するまでの時間に相当
する第２の出力とを生成し、前記第１の出力と前記第２
の出力とを差分することによりパルス幅変調信号を生成
し、該生成されたパルス幅変調信号を基にトラッキング
エラー信号を得ることを特徴とする光ピックアップのト
ラッキング方法を採用したので、簡単な構成で高感度な
検出が可能となり、またオフセツトエラーの問題が解決
された。
更に本発明は、分割した受光部からの出力信号の位相差
を基にトラッキングエラー信号を得る際、最小限の分割
数でトラッキングエラー信号を得ることができるので回
路の単純化にも寄与する。
を基にトラッキングエラー信号を得る際、最小限の分割
数でトラッキングエラー信号を得ることができるので回
路の単純化にも寄与する。
第１図は本発明の方法を用いた光ピツクアツプの例を示
す概略図、第２図は第１図示の光ピツクアツプの信号処
理回路のブロツク図、第３図乃至第５図は夫々光スポツ
トが情報ピツトを通過する際のフアーフイールドパター
ンの変化を示す図、第６図は第２図示の回路における各
部の出力を示す図、第７図乃至第９図は夫々従来のプツ
シユプル法による検出原理を説明する図、第10図乃至第
13図は本発明を適用し得る光ピツクアツプの他の例を示
す概略図である。 13,14……受光部、15,16……電流−電圧変換部、17,18
……２値化回路、19,20……Ｄ型フリツプフロツプ回
路、21……差分検出器、22……ローパスフイルタ。
す概略図、第２図は第１図示の光ピツクアツプの信号処
理回路のブロツク図、第３図乃至第５図は夫々光スポツ
トが情報ピツトを通過する際のフアーフイールドパター
ンの変化を示す図、第６図は第２図示の回路における各
部の出力を示す図、第７図乃至第９図は夫々従来のプツ
シユプル法による検出原理を説明する図、第10図乃至第
13図は本発明を適用し得る光ピツクアツプの他の例を示
す概略図である。 13,14……受光部、15,16……電流−電圧変換部、17,18
……２値化回路、19,20……Ｄ型フリツプフロツプ回
路、21……差分検出器、22……ローパスフイルタ。
フロントページの続き (72)発明者 星 宏明 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 大沢 大 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 山本 昌邦 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 谷口 尚郷 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】記録担体の情報トラックのファーフィール
ドパターンを該情報トラックと平行な方向に２分割し
て、夫々の光量を受光部で検出して光電変換し、得られ
た各々の電流信号を電圧信号に変換し、該各々の電圧信
号を第１の電圧レベルと第２の電圧レベルに２値化し、
該各々の２値化した信号の位相差を基にトラッキングを
行う光ピックアップのトラッキング方法であって、 前記２値化した２つの信号のうち、一方の信号が前記第
１の電圧レベルのとき、他方の信号の最初の立ち上がり
又は立ち下がりから前記一方の信号が前記第２の電圧レ
ベルに変化するまでの時間に相当する第１の出力と、前
記２値化した２つの信号のうち、前記他方の信号が前記
第１の電圧レベルのとき、前記一方の信号の最初の立ち
上がり又は立ち下がりから前記他方の信号が前記第２の
電圧レベルに変化するまでの時間に相当する第２の出力
とを生成し、 前記第１の出力と前記第２の出力とを差分することによ
りパルス幅変調信号を生成し、該生成されたパルス幅変
調信号を基にトラッキングエラー信号を得ることを特徴
とする光ピックアップのトラッキング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60213042A JPH07105052B2 (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 光ピツクアツプのトラツキング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60213042A JPH07105052B2 (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 光ピツクアツプのトラツキング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273433A JPS6273433A (ja) | 1987-04-04 |
| JPH07105052B2 true JPH07105052B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=16632552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60213042A Expired - Fee Related JPH07105052B2 (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 光ピツクアツプのトラツキング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07105052B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6014354A (en) * | 1996-11-06 | 2000-01-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Tracking control device for optical pickup |
| US7102967B1 (en) | 1999-07-08 | 2006-09-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for tracking error detection in optical disk driver |
| US20050068864A1 (en) | 1999-07-08 | 2005-03-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for tracking error detection in optical disk driver |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57181433A (en) * | 1981-04-22 | 1982-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | Tracking system for optical disc reproducer |
-
1985
- 1985-09-25 JP JP60213042A patent/JPH07105052B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57181433A (en) * | 1981-04-22 | 1982-11-08 | Olympus Optical Co Ltd | Tracking system for optical disc reproducer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6273433A (ja) | 1987-04-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |