JP2001016446A - イメージ読取装置 - Google Patents

イメージ読取装置

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JP2001016446A
JP2001016446A JP11184511A JP18451199A JP2001016446A JP 2001016446 A JP2001016446 A JP 2001016446A JP 11184511 A JP11184511 A JP 11184511A JP 18451199 A JP18451199 A JP 18451199A JP 2001016446 A JP2001016446 A JP 2001016446A
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JP
Japan
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defective pixel
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defective
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Withdrawn
Application number
JP11184511A
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English (en)
Inventor
Toshiyuki Ono
利幸 小野
Yasushi Masuko
泰 増子
Fuyuki Matsui
冬樹 松井
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 使用中に画素セルの欠陥を検出してその旨を
出力すると共に、欠陥画素の補正を行うことができるイ
メージ読取装置を提供する。 【解決手段】 先ず、シャッタ12を閉じた状態でイメ
ージセンサ13から出力されたイメージデータが画像メ
モリ14に入力される。白欠陥画素検出部17でイメー
ジデータ中に白画素が検出されると、欠陥画素として欠
陥画素管理メモリ21に登録される。次に、シャッタ1
2を開いて複数の帳票1を順次読み取り、読み取ったイ
メージデータ中の特定の画素が所定の回数連続して黒画
素であると、黒欠陥画素検出部18によって欠陥画素と
して検出され、欠陥画素管理メモリ12に登録される。
欠陥画素管理メモリ12に登録された欠陥画素情報に基
づいて、障害検出部22で障害検出とその出力が行われ
ると共に、欠陥画素補正部23で画像メモリ14中のイ
メージデータの欠陥画素の補正が行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、線または面状に画
素セルが配列されたイメージセンサを用いてイメージを
読み取るイメージ読取装置、特にその読み取った画素の
欠陥検出及び補正技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、ファクシミリ装置、光学式文字読
取装置、及びバーコード読取装置等のイメージ読取装置
におけるイメージセンサの画素セルの検査は、製造検査
時に白紙及び黒紙を読み取って、その読み取り結果が正
常であるか否かをチェックするようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
イメージ読取装置では、使用中にイメージセンサの画素
セルの欠陥を検出したり、欠陥画素を補正する機能が付
加されていない。このため、ユーザの使用中に一部の画
素セルが破壊したり、光学系に汚れ等が付着して正常な
読み取りができなくなって認識率が低下したり誤認識が
発生しても、それに気付かずに使用を続けるおそれがあ
った。本発明は、前記従来技術が持っていた課題を解決
し、使用中に画素セルの欠陥等を検出してその旨を出力
すると共に、欠陥画素の補正を行うことができるイメー
ジ読取装置を提供するものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の内の第1の発明は、イメージ読取装置にお
いて、線または面状に配列された複数の画素セルを有
し、これらの画素セルに入力された光の強度に基づいて
読み取り対象のイメージを検出して複数の画素で構成さ
れた画像のイメージデータを出力するイメージ検出手段
と、前記イメージデータを格納するイメージ格納手段
と、前記画素セルに光が入力されない状態で前記イメー
ジ検出手段から出力されたイメージデータに基づいて欠
陥画素を検出する第1の欠陥検出手段とを備えている。
更に、このイメージ読取装置は、前記イメージ検出手段
から順次出力された複数のイメージデータ中の画素の変
化を監視することによって欠陥画素を検出する第2の欠
陥検出手段と、前記第1及び第2の欠陥検出手段で検出
された欠陥画素の情報に基づいて前記イメージ検出手段
の異常を検出する異常検出手段と、前記第1及び第2の
欠陥検出手段で検出された欠陥画素の情報に基づいて、
前記イメージ格納手段に格納されたイメージデータ中の
欠陥画素を補正する画素補正手段とを備えている。
【0005】第2の発明は、第1の発明における第2の
欠陥検出手段を、有効画素情報に基づいて前記イメージ
データ中の所定領域の画素についてのみ、その変化を監
視して前記欠陥画素を検出するように構成している。第
3の発明は、第1及び第2の発明に、イメージ検出手段
で検出されて出力された画像のイメージデータと該イメ
ージ検出手段からその直前に出力された画像のイメージ
データとを比較し、これらの2つのイメージデータがほ
ぼ同一である場合に、今回出力されたイメージデータに
対する第2の欠陥検出手段の動作を停止させる画像比較
手段を設けている。
【0006】第4の発明は、第1〜第3の発明における
第1の欠陥検出手段を、イメージ検出手段から出力され
たイメージデータ中の白画素を欠陥画素として検出する
ように構成すると共に、第2の欠陥検出手段を、順次与
えられた複数のイメージデータにおいて特定の画素が所
定回数連続して黒画素である場合に、該特定の画素を欠
陥画素として検出するように構成している。第5の発明
は、第1〜第4の発明における画素補正手段を、欠陥画
素に隣接する単数または複数の正常な画素の濃度の平均
値を、該欠陥画素の濃度として補正するように構成して
いる。
【0007】本発明によれば、以上のようにイメージ読
取装置を構成したので、次のような作用が行われる。線
または面状に配列された画素セルを有するイメージ検出
手段で検出された画像のイメージは、複数の画素で構成
されたメージデータとして出力され、イメージ格納手段
に格納される。第1の欠陥検出手段において、画素セル
に光が入力されない状態でイメージ検出手段から出力さ
れたイメージデータが調べられ、例えば、このイメージ
データ中の白画素が欠陥画素として検出される。第2の
欠陥検出手段において、イメージ検出手段から順次出力
された複数のイメージデータ中の画素の変化が監視さ
れ、例えば、イメージデータ中の特定の画素が所定回数
連続して黒画素である場合に、その特定の画素が欠陥画
素として検出される。異常検出手段では、これらの第1
及び第2の欠陥検出手段で検出された欠陥画素の情報に
基づいてイメージ検出手段の異常が検出される。一方、
画素補正手段では、第1及び第2の欠陥検出手段で検出
された欠陥画素の情報に基づいて、例えば、欠陥画素に
隣接する正常な画素の濃度の平均値が用いられて、イメ
ージデータ中の欠陥画素が補正される。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施形態を示す
イメージ読取装置の構成図である。このイメージ読取装
置は、読み取り対象の帳票1から放射される光を集光す
るレンズ11と、このレンズ11で集光された帳票1の
イメージを画素に分解して光学的に読み取るイメージ検
出手段(例えば、イメージセンサ)13を有している。
レンズ11とイメージセンサ13の間には、このイメー
ジセンサ13に対する光の入射を制御するためのシャッ
タ12が配置されている。イメージセンサ13は、例え
ば、2次元の面状に配列された画素セルを有する電荷結
合素子(CCD)で構成されたものであり、入力された
光の強度に応じて画素毎に、例えば256階調の濃度の
イメージデータを出力するものである。
【0009】イメージセンサ13の出力側には、読み取
った帳票1のイメージデータを格納するためのイメージ
格納手段(例えば、画像メモリ)14が接続されてい
る。画像メモリ14には、画像比較手段(例えば、画像
比較部)15が接続され、この画像比較部15に比較画
像メモリ16が接続されている。画像比較部15は、画
像メモリ14に格納されたイメージデータと、比較画像
メモリ16に格納されたイメージデータとを比較して、
2つのイメージデータの画像がほぼ一致するか否かの比
較を行うものである。2つの画像が一致すると判定され
ると、画像比較部15から一致信号CONが出力される
ようになっている。また、画像比較部15は、一致しな
いと判定した場合には、比較画像メモリ16を、画像メ
モリ14内のイメージデータで書き換える機能を有して
いる。
【0010】画像メモリ14には、第1の欠陥検出手段
(例えば、白欠陥画素検出部)17、及び第2の欠陥検
出手段(例えば、黒欠陥画素検出部)18が接続されて
いる。白欠陥画素検出部17は、例えば、帳票1の読み
取り処理の開始前にシャッタ12を閉じ、イメージセン
サ13から出力されて画像メモリ14に格納されたイメ
ージデータの各画素の濃度を所定の白判定用閾値で判定
するものである。もしも白画素が検出された場合には、
白欠陥画素検出部17から白欠陥画素が出力されるよう
になっている。また、黒欠陥画素検出部18は、複数の
帳票1を順次読み取って処理しているとき、イメージデ
ータの特定の座標が常に黒画素となっているような場合
に、その画素を黒欠陥画素として出力するものである。
【0011】黒欠陥画素検出部18には、有効画素ファ
イル19と黒画素管理メモリ20とが接続されている。
有効画素ファイル19は、画像メモリ14に格納された
イメージデータ中で、黒欠陥画素の判定対象となる有効
領域を示すものである。黒画素管理メモリ20は、例え
ば、イメージデータを構成する画素の座標毎に、黒判定
用閾値で判定された黒画素の連続出現回数をカウントす
るためのメモリを有し、順次読み取った帳票1におい
て、その座標に黒画素が何回連続して検出されているか
を管理するためのものである。黒欠陥画素検出部18に
は、画像比較部15から一致信号CONが与えられるよ
うになっており、この一致信号CONが与えられたとき
には、同一形式の帳票1による黒欠陥画素の誤検出を避
けるために、その帳票1のイメージデータに対する検出
動作が中止されるようになっている。
【0012】白欠陥画素検出部17及び黒欠陥画素検出
部18の出力側には、欠陥画素管理メモリ21が接続さ
れている。欠陥画素管理メモリ21は、白欠陥画素検出
部17で検出された白欠陥画素の座標と、黒欠陥画素検
出部18で検出された黒欠陥画素の座標を登録するもの
である。欠陥画素管理メモリ21には、異常検出手段
(例えば、障害検出部)22が接続されている。障害検
出部22は、欠陥画素管理メモリ21に登録された白欠
陥画素と黒欠陥画素の情報に基づいて、欠陥画素の補正
ができないような障害が発生しているか否かを検出し
て、障害発生時にアラーム信号ALMを出力するもので
ある。例えば、ある特定の欠陥画素に対して、それに隣
接する周囲の画素がすべて欠陥画素であると、その特定
の欠陥画素の濃度を周囲の画素濃度で補完することがで
きないので、障害検出部22で障害として検出されるよ
うになっている。
【0013】また、このイメージ読取装置は、画素補正
手段(例えば、欠陥画素補正部)23とイメージ処理部
24を有している。欠陥画素補正部23は、欠陥画素管
理メモリ21中の欠陥画素情報に基づいて、画像メモリ
14中のイメージデータにおける欠陥画素を補正するも
のである。即ち、欠陥画素管理メモリ21に登録された
欠陥画素に隣接する正常な画素のイメージデータが、画
像メモリ14から読み出され、それらの正常な画素の濃
度の平均値が算出されて、その欠陥画素の濃度と見なさ
れるようになっている。そして、欠陥画素補正部23か
ら、欠陥画素が補正されたイメージデータが出力され、
イメージ処理部24へ与えられるようになっている。イ
メージ処理部24は、与えられたイメージデータを出力
信号OUTとして外部へ転送したり、パターン認識や文
字認識を行ってその結果を出力するものである。
【0014】図2は、図1の動作の一例を示すフローチ
ャートである。また、図3は、図2中の黒欠陥画素検出
処理の詳細を示すフローチャートである。以下、図2及
び図3を参照しつつ、図1の動作を説明する。図1のイ
メージ読取装置に電源が投入されて動作が開始される
と、まず、図2のステップS1において、シャッタ12
が閉じられ、ステップS2へ進む。ステップS2のイメ
ージ入力処理では、シャッタ12が閉じられているの
で、レンズ11で集光された光はイメージセンサ13に
入力されない。従って、イメージセンサ13によって、
すべて黒画素からなるイメージデータが読み取られ、画
像メモリ14に格納される。ステップS2の後、ステッ
プS3へ進む。ステップS3において、白欠陥画素検出
部17が起動され、各画素の濃度が白判定用閾値で判定
される。もしも白画素が検出された場合には、黒である
べきものが白として出力される白欠陥画素の欠陥画素情
報が出力される。ステップS3の後、ステップS4へ進
む。
【0015】ステップS4では、ステップS3で出力さ
れた欠陥画素情報がある場合に、欠陥画素管理メモリ2
1に、その欠陥画素情報が登録される。画像メモリ14
中のすべての画素に対して白欠陥画素の検出が完了する
と、ステップS5へ進む。ステップS5において、シャ
ッタ12が開かれ、ステップS6へ進む。ステップS6
のイメージ入力処理では、読み取り位置にセットされた
帳票1のイメージデータが、レンズ11で集光されてイ
メージセンサ13に入力される。イメージセンサ13で
読み取られた各画素の濃度に対応したイメージデータ
は、画像メモリ14に格納され、ステップS6へ進む。
ステップS6において、画像比較部15が起動され、画
像メモリ14に格納されたイメージデータと、比較画像
メモリ16に格納されたイメージデータとが比較され
る。ここで「不一致」と判定されれば、ステップS8へ
進み、「一致」と判定されれば、ステップS10へ進
む。
【0016】ステップS8において、比較画像メモリ1
6は、画像メモリ14内のイメージデータで書き換えら
れ、ステップS9へ進む。ステップS9において、黒欠
陥画素検出部18による黒欠陥画素検出処理が行われ
る。黒欠陥画素検出処理は、後述するように、イメージ
データ中の特定の座標の画素が常に黒画素となるような
黒欠陥画素を検出して、その欠陥画素情報を欠陥画素メ
モリ21に登録する処理である。ステップS9の後、ス
テップS10へ進む。ステップS10において、欠陥画
素補正部23が起動され、欠陥画素管理メモリ21中の
欠陥画素情報に基づいて、画像メモリ14中のイメージ
データにおける欠陥画素が補正される。補正されたイメ
ージデータはイメージ処理部24に与えられ、ステップ
S11へ進む。
【0017】ステップS11において、イメージ処理部
24が起動され、与えられたイメージデータに対するパ
ターン認識や文字認識等のイメージ処理が行われた後、
ステップS12へ進む。ステップS12において、読み
取り対象の帳票1の処理がすべて完了したか否かが判定
される。「未完」であればステップS6へ戻り、残って
いる帳票1に対して、ステップS6〜S12の処理が繰
り返される。「完了」していれば、このイメージ読取装
置の動作は終了する。
【0018】次に、ステップS9における黒欠陥画素検
出処理の詳細を説明する。黒欠陥画素検出部18が起動
されると、図3のステップS9aにおいて、有効画素フ
ァイル19が参照され、画像メモリ14から黒欠陥画素
の判定対象となる有効領域内の1画素が読み出される。
ステップS9aの後、ステップS9bへ進む。ステップ
S9bにおいて、読み出された画素の濃度が所定の閾値
で白黒の2値に変換され、白黒判定が行われる。ここで
「白」と判定されるとステップS9cへ進み、「黒」と
判定されるとステップS9eへ進む。ステップS9cで
は、「白」と判定された画素の座標に対応する黒画素管
理メモリ20のアドレスのデータが、初期化(即ち、カ
ウント値が0にリセット)され、ステップS9dへ進
む。
【0019】ステップS9dでは、「白」と判定された
画素の座標が、欠陥画素情報として欠陥画素管理メモリ
21に登録されているか否かがチェックされ、登録され
ていれば、その欠陥画素情報は削除される。ステップS
9dの後、ステップS9hへ進む。ステップS9eで
は、「黒」と判定された画素の座標に対応する黒画素管
理メモリ20のアドレスのデータが、更新(即ち、カウ
ント値が1だけカウントアップ)され、ステップS9f
へ進む。ステップS9fにおいて、ステップS9eでカ
ウントアップされたカウント値が、所定回数に達したか
否かによって欠陥の有無が判定される。カウント値が所
定回数に達していれば、欠陥が「あり」と判定されてス
テップS9gへ進み、この所定回数に達していなけれ
ば、まだ欠陥の発生は「なし」と判定されてステップS
9hへ進む。
【0020】ステップS9gでは、欠陥が有ると判定さ
れた画素の座標が、欠陥画素情報として欠陥画素管理メ
モリ21に登録され、ステップS9hへ進む。ステップ
S9hにおいて、画像メモリ14中の黒欠陥画素の判定
対象となる有効領域内の全画素の処理が完了したか否か
が判定される。「未完」であれば、ステップS9aへ戻
り、残っている画素に対してステップS9a〜S9hの
処理が繰り返される。判定対象のすべての画素の処理が
「完了」していれば、ステップS9iへ進む。ステップ
S9iにおいて、障害検出部22が起動され、欠陥画素
管理メモリ21に登録された白欠陥画素と黒欠陥画素の
情報に基づいて、欠陥画素の補正が可能か否かの判定が
行われる。補正が「可能」と判定されると、この黒欠陥
画素検出処理は終了する。補正が「不可能」と判定され
ると、ステップS9iへ進み、障害検出部22から障害
発生を示すアラーム信号ALMが出力され、黒欠陥画素
検出処理は終了する。
【0021】このように、本実施形態のイメージ読取装
置は、次の(1)〜(6)のような利点がある。 (1) 電源投入直後に、シャッタ12を閉じて強制的
に全画素が黒画素となるようなイメージデータを入力
し、そのイメージデータに基づいて欠陥画素を検出する
白欠陥画素検出部17を設けている。これにより、イメ
ージセンサ13において黒画素を白画素として識別する
画素セルを確実に検出することができる。 (2) 複数の帳票の読み取り結果の統計的な処理によ
って、常に黒画素が出力される画素の座標を検出する黒
欠陥画素検出部18を設けている。これにより、イメー
ジセンサ13の画素セルの欠陥、またはレンズ11やイ
メージセンサ13の表面の汚れ等を検出することができ
る。 (3) 同一種類の帳票が連続する場合に、黒欠陥画素
検出処理を中止する画像比較部15を設けている。これ
により、処理時間の短縮ができると共に、黒欠陥画素検
出処理の信頼性を向上することができる。
【0022】(4) 画像メモリ14において、黒欠陥
画素検出処理の対象となる領域を指定する有効画素ファ
イル19を設けている。これにより、例えば、周辺部の
不必要な黒画素を欠陥画素と判定するおそれをなくすこ
とができる。更に、不必要な画素の処理がなくなるの
で、処理時間の短縮が可能になる。 (5) 欠陥画素管理メモリ21に登録された欠陥画素
情報に基づいて、障害を検出してアラーム信号ALMを
出力する障害検出部22を設けている。これにより、オ
ペレータに対してイメージセンサ13の清掃や交換の指
示を行うことができる。 (6) 欠陥画素管理メモリ21に登録された欠陥画素
情報に基づいて、画像メモリ14中のイメージデータの
欠陥画素を補正する欠陥画素補正部23を設けている。
これにより、少数の欠陥画素が存在しても誤りなくイメ
ージ処理をすることができる。
【0023】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例
えば、次の(a)〜(f)のようなものがある。 (a) イメージセンサ13の読み取り対象は帳票1に
限定されない。例えば、ファクシミリ等に適用して手書
き原稿等を読み取ったり、ビデオカメラやディジタルカ
メラ等に適用して映像や画像を読み取るようにしても良
い。 (b) イメージセンサ13は、2次元配列に限定され
ず、1次元のライン・イメージセンサでも良い。 (c) イメージセンサ13の出力信号は256階調と
し、画像メモリ14に画素の濃度に応じたイメージデー
タを格納するようになっているが、白黒2値のイメージ
データが出力されるイメージセンサを用いることもでき
る。
【0024】(d) 非接触のスタンド型のイメージス
キャナや、ハンドスキャン型のイメージセンサ等のよう
に、帳票1の位置が読み取り毎に一定しない場合には、
画像比較部15及び比較画像メモリ16を削除すること
ができる。 (e) 画像比較部15は、画像メモリ14中の全イメ
ージデータを比較する必要はない。例えば、帳票種別コ
ード等の特徴的な箇所を比較して一致/不一致を判定す
るようにしても良い。 (f) イメージセンサ13の読み取り範囲がすべて有
効領域であれば、有効画素ファイル19を削除すること
ができる。また、有効画素ファイル19に代えて、黒欠
陥画素の判定対象外となる無効領域を示す無効画素ファ
イルを用いても良い。
【0025】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、イメージの読み取り前にイメージ検出手段の
画素セルの欠陥画素を検出する第1の欠陥検出手段と、
運用中に連続して読み取ったイメージデータに基づいて
欠陥画素を検出する第2の欠陥検出手段を有している。
これにより、使用中に画素セルの欠陥を検出してその旨
を出力することができるという効果がある。更に、検出
された欠陥画素の情報に基づいて、イメージデータ中の
欠陥画素を補正する画素補正手段を有しているので、少
数の欠陥画素が存在しても誤りなくイメージの読み取り
ができるという効果がある。
【0026】第2の発明によれば、第2の欠陥検出手段
は有効画素についてのみ欠陥の検出を行うように構成し
ている。このため、第1の発明の効果に加えて、処理時
間を短縮することができるという効果がある。第3の発
明によれば、ほぼ同一のイメージデータが連続した場
合、後のイメージデータに対する第2の欠陥検出手段の
動作を中止するようにしている。このため、第1及び第
2の発明の効果に加えて、処理時間を短縮すると共に、
欠陥画素検出処理の信頼性を向上することができるとい
う効果がある。
【0027】第4の発明によれば、第1の欠陥検出手段
では本来黒であるものを白画素として出力する白欠陥画
素を検出し、第2の欠陥検出手段では本来白であるもの
を黒画素として出力する黒欠陥画素を検出している。こ
のため、2種類の欠陥を検出することができ、第1〜第
3の発明の効果に加えて、異常の検出を確実に行うこと
ができるという効果がある。第5の発明によれば、欠陥
画素をそれに隣接する正常な画素の濃度の平均値を用い
て補正する補正手段を設けている。これにより、第1〜
第4の発明の効果に加えて、比較的正確に欠陥画素を補
正することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示すイメージ読取装置の構
成図である。
【図2】図1の動作の一例を示すフローチャートであ
る。
【図3】図2中の黒欠陥画素検出処理の詳細を示すフロ
ーチャートである。
【符号の説明】
11 レンズ 12 シャッタ 13 イメージセンサ 14 画像メモリ 15 画像比較部 16 比較画像メモリ 17 白欠陥画素検出部 18 黒欠陥画素検出部 19 有効画素ファイル 20 黒画素管理メモリ 21 欠陥画素管理メモリ 22 障害検出部 23 欠陥画素補正部 24 イメージ処理部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松井 冬樹 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内 Fターム(参考) 4M118 AA07 AA09 AB10 BA10 CA02 FA06 FA08 5B047 BB02 BB04 CB05 DA06 5C024 AA01 CA09 CA31 FA01 GA11 HA08 HA23 5C062 AA02 AA05 AB17 AC02 AC21 AC55 AC58 5C077 LL01 LL13 LL19 MM03 NP01 PP43 PP46 PP71 PQ22

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 線または面状に配列された複数の画素セ
    ルを有し、これらの画素セルに入力された光の強度に基
    づいて読み取り対象のイメージを検出して複数の画素で
    構成された画像のイメージデータを出力するイメージ検
    出手段と、 前記イメージデータを格納するイメージ格納手段と、 前記画素セルに光が入力されない状態で前記イメージ検
    出手段から出力されたイメージデータに基づいて欠陥画
    素を検出する第1の欠陥検出手段と、 前記イメージ検出手段から順次出力された複数のイメー
    ジデータ中の画素の変化を監視することによって欠陥画
    素を検出する第2の欠陥検出手段と、 前記第1及び第2の欠陥検出手段で検出された欠陥画素
    の情報に基づいて前記イメージ検出手段の異常を検出す
    る異常検出手段と、 前記第1及び第2の欠陥検出手段で検出された欠陥画素
    の情報に基づいて前記イメージ格納手段に格納されたイ
    メージデータ中の欠陥画素を補正する画素補正手段と
    を、 備えたことを特徴とするイメージ読取装置。
  2. 【請求項2】 前記第2の欠陥検出手段は、有効画素情
    報に基づいて前記イメージデータ中の所定領域の画素に
    ついてのみ、その変化を監視して前記欠陥画素を検出す
    るように構成したことを特徴とする請求項1記載のイメ
    ージ読取装置。
  3. 【請求項3】 前記イメージ検出手段で検出されて出力
    された画像のイメージデータと該イメージ検出手段から
    その直前に出力された画像のイメージデータとを比較
    し、これらの2つのイメージデータがほぼ同一である場
    合に、今回出力されたイメージデータに対する前記第2
    の欠陥検出手段の動作を停止させる画像比較手段を設け
    たことを特徴とする請求項1または2記載のイメージ読
    取装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の欠陥検出手段は、前記イメー
    ジ検出手段から出力されたイメージデータ中の白画素を
    欠陥画素として検出するように構成し、 前記第2の欠陥検出手段は、順次与えられた複数のイメ
    ージデータにおいて特定の画素が所定回数連続して黒画
    素である場合に、該特定の画素を欠陥画素として検出す
    るように構成したことを特徴とする請求項1、2または
    3記載のイメージ読取装置。
  5. 【請求項5】 前記画素補正手段は、前記欠陥画素に隣
    接する単数または複数の正常な画素の濃度の平均値を、
    該欠陥画素の濃度として補正するように構成したことを
    特徴とする請求項1、2、3または4記載のイメージ読
    取装置。
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