JP2001015928A - Multilayer printed wiring board and its manufacture - Google Patents

Multilayer printed wiring board and its manufacture

Info

Publication number
JP2001015928A
JP2001015928A JP11189365A JP18936599A JP2001015928A JP 2001015928 A JP2001015928 A JP 2001015928A JP 11189365 A JP11189365 A JP 11189365A JP 18936599 A JP18936599 A JP 18936599A JP 2001015928 A JP2001015928 A JP 2001015928A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
wiring board
printed wiring
forming
conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11189365A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4599488B2 (en
Inventor
Touto O
東冬 王
Kota Noda
宏太 野田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP18936599A priority Critical patent/JP4599488B2/en
Publication of JP2001015928A publication Critical patent/JP2001015928A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4599488B2 publication Critical patent/JP4599488B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a multilayer printed wiring board having functions of capacitor in its build-up wiring layer and its manufacturing method. SOLUTION: An intermediate conductor circuit 16 is provided between adjacent conductor circuits formed in a build-up wiring layer, a dielectric layer 15 containing at least a high-inductivity material is formed between the intermediate conductor circuit 16 and one of the adjacent conductor circuits for imparting capacitor functions in the build-up wiring layer and the conductor layers are connected by via holes 25 and 26. In this way, an excellent power supply stability in a high-frequency area can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ビルドアップ配線
層を備える多層プリント配線板に関し、とくに、層間樹
脂絶縁層内に形成された導体回路間に、コンデンサー機
能を有する誘電体層を形成した多層プリント配線板を提
案する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board having a build-up wiring layer, and more particularly to a multilayer printed wiring board having a dielectric layer having a capacitor function formed between conductive circuits formed in an interlayer resin insulating layer. We propose a printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、信号の高周波数化に伴ない、パッ
ケージ基板の材料特性として低誘電率、低誘電正接であ
ることが求められており、そのため、パッケージ基板の
材料は、セラミックから樹脂へとその主流が移りつつあ
る。このような背景の下、樹脂基板を用いたプリント配
線板に関する技術としては、例えば、特公平4−555
55号公報に開示されたものがある。この文献において
は、内層導体回路形成がされたガラスエポキシ基板上に
エポキシアクリレートを用いて層間樹脂絶縁層を形成
し、続いて、フォトリソグラフィーの手法を用いてバイ
アホール形成用開口を設け、その表面を粗化処理し、め
っきレジストを設けた後、めっき処理によって外層導体
回路およびバイアホールを形成する方法が提案されてい
る。
2. Description of the Related Art In recent years, as the frequency of a signal has been increased, it has been required that the material characteristics of a package substrate have a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. And the mainstream is shifting. Against this background, techniques relating to a printed wiring board using a resin substrate include, for example, Japanese Patent Publication No. 4-555.
There is one disclosed in Japanese Patent Application Publication No. 55-55. In this document, an interlayer resin insulating layer is formed using epoxy acrylate on a glass epoxy substrate on which an inner-layer conductor circuit is formed, and subsequently, an opening for forming a via hole is provided by using a photolithography method, and the surface thereof is formed. After providing a plating resist after roughening the outer layer, a plating method is used to form an outer conductor circuit and a via hole.

【0003】しかしながら、エポキシアクリレートなど
の樹脂からなる層間樹脂絶縁層は、導体である導体回路
との密着性を確保するために、その表面ならびに導体回
路の表面を粗化しなければならない。このため、高周波
数の信号を伝搬させると、表皮効果により、粗化された
導体回路の表面部分のみを伝搬し、その表面の凹凸に起
因して信号にノイズが生じてしまうという問題がある。
この問題は、セラミック基板に比べて低誘電率および低
誘電正接を持つ樹脂基板を使用する場合に、特に顕著で
あった。
However, the surface of the interlayer resin insulation layer made of a resin such as epoxy acrylate and the surface of the conductor circuit must be roughened in order to ensure adhesion to the conductor circuit as a conductor. For this reason, when a high-frequency signal is propagated, there is a problem that the skin effect causes propagation only on the surface portion of the roughened conductor circuit, and noise is generated in the signal due to the unevenness of the surface.
This problem was particularly remarkable when a resin substrate having a lower dielectric constant and a lower dielectric loss tangent than a ceramic substrate was used.

【0004】また、樹脂基板は、導体基板やセラミック
基板に比べて放熱性が悪いために蓄熱しやすく、その結
果、導体回路を構成する銅イオンの拡散速度が高くな
り、マイグレーションを引き起こして層間絶縁が破壊さ
れるという問題があった。そこで、上述したような問題
点を解決するために、樹脂などの基板の片面に樹脂をス
ピンコートなどで塗布形成し、その樹脂層上に導体パタ
ーンとの密着性を向上させ得る金属( クロム、ニッケ
ル、チタン等) を設ける技術が特開平7-45948 号公報や
特開平7-94865 号公報において、提案されている。
[0004] Further, the resin substrate has a lower heat radiation property than the conductor substrate and the ceramic substrate, and thus easily stores heat. As a result, the diffusion speed of copper ions constituting the conductor circuit increases, causing migration and causing interlayer insulation. Was destroyed. Therefore, in order to solve the above-described problems, a resin such as a resin is applied on one side of a substrate by spin coating or the like, and a metal (chromium, A technique of providing nickel, titanium, etc.) has been proposed in JP-A-7-45948 and JP-A-7-94865.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ICを
載置するプリント配線板のサイズをより小さくして、そ
のようなプリント配線板を搭載した携帯電話等の装置全
体の小型化が強く要望されている状況においては、IC
チップ以外の抵抗やコンデンサーなどの電子部品を搭載
するエリアが小さいので、プリント配線板上にそれらの
電子部品を実装することはますます困難になってきてい
る。本発明は、従来技術が抱える上記課題を解決するた
めになされたものであり、その主たる目的は、ビルドア
ップ配線層内にコンデンサー機能を有する誘電体層を形
成した多層プリント配線板を提供することにある。本発
明の他の目的は、このような多層プリント配線板を有利
に製造できる方法を提案することにある。
However, there is a strong demand for a smaller printed wiring board on which an IC is mounted, and to reduce the overall size of a device such as a mobile phone equipped with such a printed wiring board. In some situations, IC
Since the area for mounting electronic components such as resistors and capacitors other than chips is small, it is becoming increasingly difficult to mount those electronic components on a printed wiring board. The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems of the related art, and a main object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board in which a dielectric layer having a capacitor function is formed in a build-up wiring layer. It is in. Another object of the present invention is to propose a method by which such a multilayer printed wiring board can be advantageously manufactured.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】発明者らは、上記目的の
実現に向け鋭意研究した結果、以下のような内容を要旨
構成とする発明に想到した。 (1)すなわち、本発明の多層プリント配線板は、絶縁
基板上に、導体層と層間樹脂絶縁層とが交互に積層さ
れ、その導体層間がビアホールにて接続されたビルドア
ップ配線層が形成されてなる多層プリント配線板におい
て、隣接する内層および外層の導体層の間に中間導体層
を設け、その隣接する導体回路のいずれか一方と、中間
導体層との間に、少なくとも高誘電性材料を含む誘電体
層が形成されていることを特徴とする多層プリント配線
板である。このような多層プリント配線板において、一
部のビアホールは、誘電体層を介して隣接する内層また
は外層の導体層に接続されていることが望ましい。さら
に、上記高誘電性材料は、BaTiO3を代表とするペロブス
カイト化合物からなる高誘電性材料またはそれとエポキ
シ、ポリフェニレンエーテル(PPE )、ポリイミド等の
有機材料との混合体から形成されることが望ましい。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have intensively studied for realizing the above-mentioned object, and as a result, have arrived at an invention having the following content as a gist configuration. (1) That is, in the multilayer printed wiring board of the present invention, a build-up wiring layer in which conductive layers and interlayer resin insulating layers are alternately laminated on an insulating substrate and the conductive layers are connected by via holes is formed. In the multilayer printed wiring board, an intermediate conductor layer is provided between adjacent inner and outer conductor layers, and at least a high dielectric material is interposed between any one of the adjacent conductor circuits and the intermediate conductor layer. A multilayer printed wiring board characterized by having a dielectric layer including the same. In such a multilayer printed wiring board, it is desirable that some via holes are connected to adjacent inner or outer conductor layers via a dielectric layer. Further, the high dielectric material is desirably formed of a high dielectric material composed of a perovskite compound represented by BaTiO 3 or a mixture thereof with an organic material such as epoxy, polyphenylene ether (PPE), or polyimide.

【0007】(2)また、本発明の多層プリント配線板
の製造方法は、絶縁基板上に、導体層と層間樹脂絶縁層
とが交互に積層され、その導体層間がビアホールにて接
続されたビルドアップ配線層が形成されてなる多層プリ
ント配線板の製造に当たって、その製造工程中に、少な
くとも下記〜の工程、すなわち、 第1の樹脂絶縁層上に第1の導体回路を形成する工
程、 前記第1の導体回路を覆って第2の樹脂絶縁層を形成
する工程、 前記第2の樹脂絶縁層の表面から上記第1の導体回路
に達する開口を形成し、その開口内に、少なくとも高誘
電性材料を含む誘電性物質を充填して、誘電体層を形成
する工程、 上記第2の樹脂絶縁層の表面に、上記誘電体層を覆う
第2の導体回路を形成する工程、 前記第2の導体回路を覆って、第3の樹脂絶縁層を形
成する工程、 前記第3の樹脂絶縁層の表面から上記第1および第2
の導体回路に達する開口をそれぞれ形成し、それらの開
口に対してビアホールを形成する工程、を含むことを特
徴とする。
(2) In the method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, a conductive layer and an interlayer resin insulating layer are alternately laminated on an insulating substrate, and the conductive layers are connected by via holes. In manufacturing a multilayer printed wiring board having an up wiring layer formed, at least the following steps (1) to (6) during the manufacturing process, that is, a step of forming a first conductive circuit on a first resin insulating layer; Forming a second resin insulation layer covering the first conductor circuit; forming an opening from the surface of the second resin insulation layer to the first conductor circuit; and forming at least a high dielectric property in the opening. Filling a dielectric substance containing a material to form a dielectric layer; forming a second conductive circuit covering the dielectric layer on a surface of the second resin insulating layer; The third resin covering the conductor circuit Forming the edge layer step, the third of the first from the surface of the resin insulating layer and the second
Forming openings each reaching the conductive circuit of the above, and forming a via hole for each of the openings.

【0008】上記多層プリント配線板の製造方法におい
て、誘電体層は、BaTiO3を代表とするペロブスカイト化
合物からなる高誘電性材料またはそれとエポキシ、ポリ
フェニレンエーテル(PPE )、ポリイミド等の有機材料
との混合体から形成されることが望ましい。さらに、上
記誘電体層は、スパッタ法、蒸着法、CVD法、印刷
法、フィルムラミネート法、ロールコータを用いた方
法、スピンコータを用いた方法、またはカーテンコータ
を用いた方法のいずれかの方法で形成されることが望ま
しい。
In the above-mentioned method for manufacturing a multilayer printed wiring board, the dielectric layer is made of a high dielectric material made of a perovskite compound represented by BaTiO 3 or a mixture thereof with an organic material such as epoxy, polyphenylene ether (PPE), or polyimide. Desirably formed from the body. Furthermore, the dielectric layer is formed by any one of a sputtering method, a vapor deposition method, a CVD method, a printing method, a film laminating method, a method using a roll coater, a method using a spin coater, or a method using a curtain coater. Preferably, it is formed.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板は、
ビルドアップ配線層内の樹脂絶縁層内に形成された隣接
する導体回路間に、中間導体回路を設け、その隣接する
導体回路のいずれか一方と、前記中間導体回路との間に
コンデンサー機能を有する誘電体層が形成されているこ
とを特徴とする。このような構成によれば、高周波領域
における電源動作が安定な多層プリント配線板を得るこ
とができる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The multilayer printed wiring board of the present invention
An intermediate conductor circuit is provided between adjacent conductor circuits formed in the resin insulation layer in the build-up wiring layer, and a capacitor function is provided between any one of the adjacent conductor circuits and the intermediate conductor circuit. It is characterized in that a dielectric layer is formed. According to such a configuration, it is possible to obtain a multilayer printed wiring board having a stable power supply operation in a high frequency region.

【0010】上記多層プリント配線板において、一部の
ビアホールは、誘電体層を介して隣接する内層または外
層の導体回路に接続されることが望ましい。また、上記
誘電体層は、BaTiO3を代表とするペロブスカイト化合物
からなる高誘電性材料またはそれとエポキシ、ポリフェ
ニレンエーテル(PPE )、ポリイミド等の有機材料との
混合体から形成されることが望ましい。その理由は、安
定した誘電率を得ることができるからである。また、誘
電層の表面積および厚みは、それぞれ1962.5μm2 以上
および0.05〜50μmであることが望ましい。その理由
は、大きな容量を得るためであり、厚みに下限を設けた
のは、層間での絶縁破壊を防止するためである。
In the above-mentioned multilayer printed wiring board, it is desirable that some via holes are connected to adjacent inner or outer conductor circuits via a dielectric layer. The dielectric layer is preferably formed of a high dielectric material made of a perovskite compound represented by BaTiO 3 or a mixture thereof with an organic material such as epoxy, polyphenylene ether (PPE), or polyimide. The reason is that a stable dielectric constant can be obtained. The surface area and the thickness of the dielectric layer are desirably 1962.5 μm 2 or more and 0.05 to 50 μm, respectively. The reason for this is to obtain a large capacity, and the lower limit is set for the thickness in order to prevent dielectric breakdown between layers.

【0011】上記誘電体層を形成する方法としては、ス
パッタ法、蒸着法、CVD法、印刷法、フィルムラミネ
ート法、ロールコータを用いた方法、スピンコータを用
いた方法、またはカーテンコータを用いた方法があり、
コストの観点からロールコータを用いた方法が最も好ま
しい。
As a method for forming the above dielectric layer, a sputtering method, a vapor deposition method, a CVD method, a printing method, a film laminating method, a method using a roll coater, a method using a spin coater, or a method using a curtain coater There is
From the viewpoint of cost, a method using a roll coater is most preferable.

【0012】以下、本発明の多層プリント配線板を製造
する一方法について説明する。 (1) まず、樹脂基板の表面に内層導体回路としての銅パ
ターンを形成した配線基板を作製する。樹脂基板として
は、無機繊維を有する樹脂基板が望ましく、具体的に
は、ガラス布エポキシ基板、ガラス布ポリイミド基板、
ガラス布ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板およびガ
ラス布フッ素樹脂基板から選ばれる少なくとも1種以上
がよい。この樹脂基板への内層導体回路のパターン形成
は、樹脂基板両面に銅箔を張った銅張積層板をエッチン
グ処理して行う。また、この基板にドリルで貫通孔を明
け、貫通孔の壁面および銅箔表面に無電解めっき処理を
施してスルーホールを形成する。無電解めっきとして
は、銅めっきがよい。なお、フッ素樹脂基板のようにめ
っきのつきまわりが悪い基板の場合は、有機金属ナトリ
ウムからなる前処理液(商品名:テトラエッチ)による
処理、プラズマ処理などの表面改質を行う。
Hereinafter, one method of manufacturing the multilayer printed wiring board of the present invention will be described. (1) First, a wiring board in which a copper pattern as an inner conductor circuit is formed on the surface of a resin board is manufactured. As the resin substrate, a resin substrate having inorganic fibers is desirable, specifically, a glass cloth epoxy substrate, a glass cloth polyimide substrate,
At least one selected from a glass cloth bismaleimide-triazine resin substrate and a glass cloth fluororesin substrate is preferred. The pattern formation of the inner-layer conductor circuit on the resin substrate is performed by etching a copper-clad laminate having copper foil on both surfaces of the resin substrate. Further, a through hole is formed in the substrate by a drill, and the wall surface of the through hole and the surface of the copper foil are subjected to electroless plating to form a through hole. Copper plating is preferable as the electroless plating. In the case of a substrate such as a fluororesin substrate, which has poor coverage of plating, surface modification such as treatment with a pretreatment liquid (trade name: tetra-etch) made of organometallic sodium or plasma treatment is performed.

【0013】次に、内層導体回路のパターンの厚付けの
ために電解めっき処理を行う。この電解めっきとしては
銅めっきがよい。なお、スルーホール内壁および電解め
っき膜表面を粗化処理してもよい。粗化処理としては、
黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水
溶液によるスプレー処理、あるいは銅−ニッケル−リン
針状合金めっきによる処理などがある。また、必要に応
じてスルーホール内に導電ペーストを充填し、この導電
ペーストを覆う導体層を無電解めっきもしくは電解めっ
きにて形成することもできる。
Next, electrolytic plating is performed to thicken the pattern of the inner conductor circuit. Copper plating is preferable as the electrolytic plating. The inner wall of the through hole and the surface of the electrolytic plating film may be roughened. As the roughening process,
Examples include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, and treatment with copper-nickel-phosphorus needle-like alloy plating. Alternatively, a conductive paste may be filled in the through holes as necessary, and a conductive layer covering the conductive paste may be formed by electroless plating or electrolytic plating.

【0014】(2) 前記(1) で作製した配線基板の両面に
樹脂絶縁層を形成する。この樹脂絶縁層は、多層プリン
ト配線板の層間樹脂絶縁層として機能する。この樹脂絶
縁層は、未硬化液(未硬化の樹脂)を塗布したり、フィ
ルム状の樹脂を熱圧してラミネートすることにより形成
される。
(2) A resin insulating layer is formed on both surfaces of the wiring board prepared in (1). This resin insulating layer functions as an interlayer resin insulating layer of the multilayer printed wiring board. This resin insulating layer is formed by applying an uncured liquid (uncured resin) or laminating a film-shaped resin by applying heat and pressure.

【0015】(3) 次に、この樹脂絶縁層表面から内層の
導体回路パターンに達する開口をレーザ照射によって形
成する。この開口は、後述するような隣接する2つの導
体層間に誘電体層を形成するためのもので、使用される
レーザ光は、炭酸ガスレーザ、紫外線レーザ、エキシマ
レーザあるいはUVレーザなどがある。そして、炭酸ガ
スレーザ光にて穴明けした場合はデスミア処理を行う。
このデスミア処理は、クロム酸、過マンガン酸塩などの
水溶液からなる酸化剤を使用して行うことができ、ま
た、酸素プラズマ、CF4 と酸素の混合プラズマやコロ
ナ放電などで処理してもよい。また、低圧水銀ランプを
用いて紫外線を照射することにより、表面改質すること
もできる。特にCF4 と酸素の混合プラズマは、樹脂表
面に、水酸基やカルボニル基などの親水性基を導入する
ことができ、後のCVDやPVD処理がしやすいため、
有利である。
(3) Next, an opening from the surface of the resin insulating layer to the conductive circuit pattern of the inner layer is formed by laser irradiation. This opening is for forming a dielectric layer between two adjacent conductor layers as described later, and a laser beam used includes a carbon dioxide gas laser, an ultraviolet laser, an excimer laser and a UV laser. When a hole is formed by the carbon dioxide laser beam, a desmear process is performed.
This desmear treatment can be performed using an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid or permanganate, or may be treated with oxygen plasma, mixed plasma of CF 4 and oxygen, corona discharge, or the like. . The surface can also be modified by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp. In particular, the mixed plasma of CF 4 and oxygen can introduce a hydrophilic group such as a hydroxyl group or a carbonyl group on the resin surface, and is easy to perform later CVD or PVD treatment.
It is advantageous.

【0016】(4) 前記(3) であけた誘電体層形成のため
の開口内に、少なくとも高誘電性材料を含んだ誘電物質
を充填して、内層の導体回路パターンにオーム性接触す
るような誘電体層を形成する。ここで、高誘電性材料と
しては、ペロブスカイト化合物を代表するBaTiO3が最適
であり、その他にPZT 、PLZTあるいはBST を用いること
もできる。さらに、二成分系または三成分系のペロブス
カイト化合物を用いることもできる。さらに、前記高誘
電性材料とエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂またはポリフ
ェニレンエーテル樹脂等との混合体から、誘電層を形成
することもできる。このような混合体としては、BaTiO3
とエポキシ樹脂、BaTiO3とポリイミド樹脂、BaTiO3とポ
リフェニレンエーテル樹脂との組み合わせから選ばれる
いずれかが好ましい。
(4) A dielectric material containing at least a high-dielectric material is filled into the opening for forming the dielectric layer formed in (3) above, so that the ohmic contact is made with the conductive circuit pattern of the inner layer. Forming a suitable dielectric layer. Here, BaTiO 3 , which is a perovskite compound, is most suitable as the high dielectric material, and PZT, PLZT or BST can also be used. Further, a binary or ternary perovskite compound can also be used. Further, the dielectric layer can be formed from a mixture of the above-mentioned highly dielectric material and an epoxy resin, a polyimide resin or a polyphenylene ether resin. As such a mixture, BaTiO 3
And an epoxy resin, a combination of BaTiO 3 and a polyimide resin, and a combination of BaTiO 3 and a polyphenylene ether resin.

【0017】上記誘電層の形成は、大容量を得るために
はBaTiO3が好適であり、製造コストの点からは、BaTiO3
とエポキシ樹脂との混合体が好適である。また、誘電性
ペーストとしては、高誘電性材料と熱硬化性樹脂との混
合物が望ましい。
The formation of the dielectric layer, in order to obtain a large capacity is preferably BaTiO 3, in terms of production cost, BaTiO 3
Mixtures of epoxy and epoxy resins are preferred. As the dielectric paste, a mixture of a high dielectric material and a thermosetting resin is desirable.

【0018】上記誘電体層は、高誘電性材料を含んだ誘
電性ペーストを印刷法等によって開口内に充填する方法
や、高誘電性材料をスパッタリング法、蒸着法、CVD
法等を用いて開口内に直接的に形成される。誘電体セラ
ミックスの薄膜によって誘電体層を形成する場合には、
スパッタリング法や蒸着法のようなPVD法が有利であ
る。
The dielectric layer may be formed by filling a dielectric paste containing a high dielectric material into an opening by a printing method or the like, or by sputtering a high dielectric material, a vapor deposition method, or a CVD method.
It is formed directly in the opening using a method or the like. When forming a dielectric layer by a thin film of dielectric ceramics,
PVD methods such as sputtering and evaporation are advantageous.

【0019】(5) 次に、誘電体層が露出する樹脂絶縁層
の表面に、PVD法、CVD法あるいはめっき法によっ
て、銅からなる導体層(中間導体層)を形成し、適切な
エッチング処理によって、誘電体層にオーム性接触する
ような導体回路( 中間導体回路) を形成する。PVD法
としては、スパッタリング、イオンビームスパタリング
などの蒸着法が具体的に挙げられる。また、CVD法と
しては、アリルシクロペンタジフェニルパラジウム、ジ
メチルゴールドアセチルアセテート、スズテトラメチル
アクリロニトリル、ジコバルトオクタカルボニルアクリ
ロニトリルなどの有機金属(MO)を供給材料とするP
E−CVD(Plasma Enhanced CVD)などが具体的に挙げ
られる。
(5) Next, a conductor layer (intermediate conductor layer) made of copper is formed on the surface of the resin insulation layer where the dielectric layer is exposed by PVD, CVD or plating, and an appropriate etching treatment is performed. Thus, a conductor circuit (intermediate conductor circuit) that makes ohmic contact with the dielectric layer is formed. Specific examples of the PVD method include vapor deposition methods such as sputtering and ion beam sputtering. In addition, as the CVD method, P which uses an organic metal (MO) such as allylcyclopentadiphenylpalladium, dimethylgold acetylacetate, tin tetramethylacrylonitrile, or dicobalt octacarbonylacrylonitrile as a supply material
Specific examples include E-CVD (Plasma Enhanced CVD).

【0020】(6) 前記(5) で形成した中間導体回路を覆
って、前記(2) と同様の方法で樹脂絶縁層を形成する。
この樹脂絶縁層は、未硬化液(未硬化の樹脂)を塗布し
たり、フィルム状の樹脂を熱圧してラミネートすること
により形成される。 (7) さらに、前記(6) で形成した樹脂絶縁層の表面か
ら、上記(1) で形成した内層の導体回路に達する開口を
設けるとともに、上記(5) で形成した中間導体回路に達
する開口を設ける。これらの開口は、上記(3) の処理と
同様なレーザ照射によって形成するが、開口径とその深
さに応じて適切なレーザ照射条件を採用する。前者は、
内層の導体回路と電気的接続されるビアホール形成用の
開口であり、後者は、誘電体層と電気的接続されるビア
ホール形成用の開口である。
(6) A resin insulating layer is formed in the same manner as in (2), covering the intermediate conductor circuit formed in (5).
This resin insulating layer is formed by applying an uncured liquid (uncured resin) or laminating a film-shaped resin by applying heat and pressure. (7) Further, an opening is provided from the surface of the resin insulating layer formed in (6) to the conductor circuit of the inner layer formed in (1), and an opening is formed to reach the intermediate conductor circuit formed in (5). Is provided. These openings are formed by the same laser irradiation as in the above process (3), but appropriate laser irradiation conditions are adopted according to the opening diameter and the depth. The former is
An opening for forming a via hole electrically connected to the conductor circuit of the inner layer, and the latter is an opening for forming a via hole electrically connected to the dielectric layer.

【0021】(8) ついで、前記(6) で形成した樹脂絶縁
層表面および前記(7) で形成した開口の内壁面に、スパ
ッタリングによって薄い導体層を設ける。この導体層と
しては、上記(5) の工程で形成された導体層との密着性
や酸化防止、あるいは電解めっきの導電層としての機能
を損なうことのない点を考慮して、銅層をスパッタリン
グにより設けるのが望ましい。薄付け導体層の厚みは、
1μm以下であることが望ましい。さらに、上記スパッ
タリングによる導体層上に、同種の無電解めっき層を形
成してもよい。この無電解めっきとしては、銅めっきが
最適であり、その厚みは、0.1 〜3μmの範囲であるこ
とが望ましい。その理由としては、後に行う電解めっき
の導電層としての機能を損なうことなく、エッチング除
去できるからである。
(8) Next, a thin conductor layer is provided by sputtering on the surface of the resin insulating layer formed in (6) and on the inner wall surface of the opening formed in (7). As the conductor layer, a copper layer is sputtered in consideration of adhesion to the conductor layer formed in the above step (5), oxidation prevention, or a function as a conductive layer for electrolytic plating. It is desirable to provide by. The thickness of the thin conductor layer is
It is desirable that the thickness be 1 μm or less. Further, an electroless plating layer of the same type may be formed on the conductor layer by sputtering. As the electroless plating, copper plating is optimal, and its thickness is desirably in the range of 0.1 to 3 μm. The reason for this is that etching can be removed without impairing the function of the electroplating performed later as a conductive layer.

【0022】(9) 次に、前記(8) で形成した導体層上に
めっきレジストを形成する。このめっきレジストは、感
光性ドライフィルムをラミネートして露光、現像処理し
て形成される。 (10) さらに、前記(6) にて得られた導体層をめっきリ
ードとする電解めっき処理を行って導体層を厚付けし
て、外層の導体回路を形成するとともに、ビアホール形
成用の開口をそれぞれめっき充填する。電解めっき層の
厚さは、5〜30μmがよい。 (11) 前記(10)でおける電解めっき処理の後、めっきレ
ジストを剥離させる。 (12) さらに必要に応じて、外層の導体回路表面に、銅
層を、めっき法、PVD法あるいはCVD法で形成し、
さらに前記 (2)〜(11)の工程を繰り返すことにより多層
化したプリント配線板を製造する。
(9) Next, a plating resist is formed on the conductor layer formed in the above (8). This plating resist is formed by laminating a photosensitive dry film, exposing, and developing. (10) Further, the conductor layer obtained in the above (6) is subjected to electrolytic plating using a plating lead to thicken the conductor layer to form a conductor circuit of an outer layer, and an opening for forming a via hole is formed. Each is filled with plating. The thickness of the electrolytic plating layer is preferably 5 to 30 μm. (11) After the electrolytic plating treatment in the above (10), the plating resist is peeled off. (12) If necessary, a copper layer is formed on the surface of the outer conductor circuit by a plating method, a PVD method or a CVD method,
Further, by repeating the steps (2) to (11), a multilayer printed wiring board is manufactured.

【0023】なお、以上の説明では、導体回路の形成方
法としてセミアディティブ法を採用したが、フルアディ
ティブ法を採用することもできる。このフルアディティ
ブ法では、樹脂絶縁層表面にCVDあるいはPVD処理
にて薄い導体層を形成した後、感光性ドライフィルムを
ラミネートするか、または液状の感光性樹脂を塗布し、
露光、現像処理してめっきレジストを設け、無電解めっ
き処理を施して厚付け導体層を形成して、導体回路を形
成する。あるいは、樹脂絶縁層表面にめっきレジストを
形成した後、CVDあるいはPVD処理にて薄い導体層
を設け、さらにめっきレジスト表面に付着したこの導体
層を研磨などで除去するか、めっきレジストそのものを
除去し、この導体層を触媒として無電解めっきを行い、
導体回路を形成することもできる。
In the above description, the semi-additive method is employed as a method of forming a conductor circuit, but a full-additive method may be employed. In this fully additive method, after forming a thin conductor layer on the surface of the resin insulating layer by CVD or PVD processing, a photosensitive dry film is laminated or a liquid photosensitive resin is applied,
A plating resist is provided by exposure and development, and a thick conductor layer is formed by electroless plating to form a conductor circuit. Alternatively, after forming a plating resist on the surface of the resin insulating layer, a thin conductor layer is provided by CVD or PVD processing, and the conductor layer attached to the plating resist surface is removed by polishing or the like, or the plating resist itself is removed. , Electroless plating using this conductor layer as a catalyst,
Conductive circuits can also be formed.

【0024】以下、実施例をもとに詳述する。Hereinafter, a detailed description will be given based on embodiments.

【実施例】(実施例1) (1) BT(ビズマレイミドトリアジン)樹脂からなる厚
さ 0.8mmの基板1の両面に18μmの銅箔2がラミネー
トされているBTレジン銅張積層板(三菱ガス化学製、
商品名:HL830-0.8T12D )を出発材料とした(図1(a)
参照)。まず、この銅張積層板をドリル削孔し(図1
(b) 参照)、次いでパラジウム−スズコロイドを付着さ
せ、下記組成の無電解めっき水溶液で下記条件にて無電
解めっきを施し、基板全面に 0.7μmの無電解めっき膜
を形成した。
EXAMPLES (Example 1) (1) A BT resin copper-clad laminate (Mitsubishi Gas Co., Ltd.) in which 18 μm copper foils 2 are laminated on both sides of a 0.8 mm thick substrate 1 made of BT (bismaleimide triazine) resin Made of chemical,
Product name: HL830-0.8T12D) (Fig. 1 (a))
reference). First, the copper clad laminate was drilled (Fig. 1
(See (b)), and then a palladium-tin colloid was adhered, and electroless plating was performed with an electroless plating aqueous solution having the following composition under the following conditions to form a 0.7 μm electroless plating film on the entire surface of the substrate.

【0025】〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30 ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分[Electroless plating aqueous solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions 30 minutes at 70 ° C liquid temperature

【0026】さらに、下記組成の電解めっき水溶液で下
記条件にて電解銅めっきを施し、厚さ15μmの電解銅め
っき膜を形成した(図1(c) 参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、商品名:カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
Further, electrolytic copper plating was performed with an electrolytic plating aqueous solution having the following composition under the following conditions to form an electrolytic copper plating film having a thickness of 15 μm (see FIG. 1C). [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (manufactured by Atotech Japan, trade name: Capparaside GL) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0027】(2) 全面に無電解めっき膜および電解めっ
き膜からなる導体層(スルーホール3を含む)を形成し
た基板を、水洗いし、乾燥した後、酸化浴(黒化浴)と
して、NaOH(20g/l)、NaClO2(50g/l)、Na3PO4
(15.0g/l)の水溶液を用い、還元浴として、NaOH
( 2.7g/l)、NaBH4( 1.0g/l)の水溶液を用いた
酸化還元処理に供し、導体層およびスルーホール全表面
に粗化層4を設けた。
(2) The substrate on which a conductor layer (including through holes 3) made of an electroless plating film and an electrolytic plating film is formed on the entire surface is washed with water and dried, and then used as an oxidation bath (blackening bath). (20 g / l), NaClO 2 (50 g / l), Na 3 PO 4
(15.0 g / l) aqueous solution and NaOH
(2.7 g / l) and a redox treatment using an aqueous solution of NaBH 4 (1.0 g / l) to provide a roughened layer 4 on the entire surface of the conductor layer and the through hole.

【0028】(3) 次に、銅粒子を含む導電ペースト5を
スクリーン印刷により、スルーホール3内に充填し、乾
燥、硬化させた。そして、導体上面の粗化層4およびス
ルーホール3からはみ出した導電ペースト5を、#400
のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベルトサンダ
ー研磨により除去し、さらにこのベルトサンダー研磨に
よる傷を取り除くためのバフ研磨を行い、基板表面を平
坦化した(図1(e) 参照)。
(3) Next, the conductive paste 5 containing copper particles was filled in the through holes 3 by screen printing, dried and cured. Then, the conductive paste 5 protruding from the roughened layer 4 and the through hole 3 on the upper surface of the conductor is # 400
Was removed by belt sanding using a belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.), and buffing was performed to remove scratches due to the belt sanding, thereby flattening the substrate surface (see FIG. 1 (e)).

【0029】(4) 前記(3) で平坦化した基板表面に、常
法に従ってパラジウムコロイド触媒を付与してから無電
解めっきを施すことにより、厚さ 0.6μmの無電解銅め
っき膜6を形成した(図1(f) 参照)。
(4) An electroless copper plating film 6 having a thickness of 0.6 μm is formed by applying a palladium colloid catalyst according to a conventional method and then performing electroless plating on the substrate surface flattened in the above (3). (See FIG. 1 (f)).

【0030】(5) ついで、以下の条件で電解銅めっきを
施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜7を形成し、導体回
路9となる部分の厚付け、およびスルーホール3に充填
された導電ペースト5を覆う導体層(ふためっき層)10
となる部分を形成した。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、商品名:カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
(5) Next, electrolytic copper plating is performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 7 having a thickness of 15 μm, a portion to be a conductor circuit 9 is thickened, and the conductive hole filled in the through hole 3 is formed. Conductor layer (lid plating layer) 10 covering paste 5
Was formed. [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (manufactured by Atotech Japan, trade name: Capparaside GL) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0031】(6) 導体回路9および導体層10となる部分
を形成した基板の両面に、市販の感光性ドライフィルム
を張りつけ、マスクを載置して、 100mJ/cm2 で露光、
0.8%炭酸水素ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmの
エッチングレジスト8を形成した(図2(a) 参照)。
(6) A commercially available photosensitive dry film is adhered to both sides of the substrate on which the portions to be the conductor circuits 9 and the conductor layers 10 are formed, a mask is placed, and exposure is performed at 100 mJ / cm 2 .
The resist was developed with 0.8% sodium bicarbonate to form an etching resist 8 having a thickness of 15 μm (see FIG. 2A).

【0032】(7) そして、エッチングレジスト8を形成
していない部分のめっき膜を、硫酸と過酸化水素の混合
液を用いるエッチングにて溶解除去し、さらに、めっき
レジスト8を5%KOH で剥離除去して、独立した導体回
路9(以下、この導体回路を「内層導体回路」とい
う。)および導電ぺースト5を覆う導体層10(以下、こ
の導体層のことを単に「ふためっき層」という。)を形
成した( 図2(b) 参照) 。
(7) Then, the plating film in the portion where the etching resist 8 is not formed is dissolved and removed by etching using a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the plating resist 8 is stripped with 5% KOH. The conductor circuit 9 (hereinafter, this conductor circuit is referred to as “inner layer conductor circuit”) and the conductor layer 10 covering the conductive paste 5 (hereinafter, this conductor layer is simply referred to as “lid plating layer”) ) Was formed (see FIG. 2 (b)).

【0033】(8) 次に、内層導体回路9およびふためっ
き層10の側面を含む全表面に、銅−ニッケル−リン合金
からなる厚さ 2.5μmの粗化層11を形成し、さらにこの
粗化層11の表面に厚さ 0.3μmのSn層を設けた(図2
(c) 参照)。その形成方法は以下のようである。即ち、
基板を酸性脱脂してソフトエッチングし、次いで、塩化
パラジウムと有機酸からなる触媒溶液で処理して、パラ
ジウム触媒を付与し、この触媒を活性化した後、硫酸銅
8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/l、クエン酸15g/
l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/l、
界面活性剤(日信化学工業製、サーフィノール465 )
0.1g/lの水溶液からなるpH=9の無電解めっき浴
にてめっきを施し、内層導体回路9およびふためっき層
10の全表面に銅−ニッケル−リン合金の粗化層11を設け
た。
(8) Next, a 2.5 μm-thick roughened layer 11 made of a copper-nickel-phosphorus alloy is formed on the entire surface including the side surfaces of the inner conductor circuit 9 and the lid plating layer 10. A Sn layer having a thickness of 0.3 μm was provided on the surface of the passivation layer 11 (FIG.
(c)). The formation method is as follows. That is,
The substrate was acid degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a palladium catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l and nickel sulfate 0.6 g / L, citric acid 15g /
1, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l,
Surfactant (Nissin Chemical Industries, Surfynol 465)
Plating is performed in an electroless plating bath having a pH of 9 consisting of a 0.1 g / l aqueous solution, and the inner conductor circuit 9 and the lid plating layer are plated.
A roughened layer 11 of a copper-nickel-phosphorus alloy was provided on the entire surface of 10.

【0034】(9) 基板の両面に、厚さ50μmの熱硬化型
ポリオレフィン樹脂シート(住友3M製、商品名:15
92)を温度50〜180 ℃まで昇温しながら圧力10kg/cm
2 で加熱プレスして積層し、ポリオレフィン系樹脂から
なる層間樹脂絶縁層12を設けた。
(9) A 50 μm-thick thermosetting polyolefin resin sheet (manufactured by Sumitomo 3M, trade name: 15)
92) to a temperature of 50 to 180 ° C and a pressure of 10 kg / cm.
The layers were laminated by heating and pressing at 2 , and an interlayer resin insulating layer 12 made of a polyolefin-based resin was provided.

【0035】(10) ついで、波長10.4μmの炭酸ガスレ
ーザにて、ポリオレフィン系樹脂からなる樹脂絶縁層12
に直径80μm、深さ50μmの誘電層形成用の開口14を設
けた(図2(d) 参照)。上記開口14を形成する炭酸ガス
レーザの照射条件は、、パルスエネルギーが8〜13m
J、パルス幅が10-12 〜10-4s、パルス間隔が1ms以
上、ショット数が10〜100 である。さらに、CF4 およ
び酸素混合気体のプラズマ処理により、デスミアおよび
ポリオレフィン系樹脂絶縁層表面の改質を行った。この
改質により、表面には、OH基やカルボニル基、COOH基な
どの親水性基が確認された。なお、酸素プラズマ処理条
件は、電力 800W、 500mTorr、20分間である。
(10) Then, a carbon dioxide laser having a wavelength of 10.4 μm is used to form a resin insulating layer 12 made of polyolefin resin.
Further, an opening 14 for forming a dielectric layer having a diameter of 80 μm and a depth of 50 μm was provided (see FIG. 2D). The irradiation condition of the carbon dioxide laser for forming the opening 14 is such that the pulse energy is 8 to 13 m.
J, the pulse width is 10 -12 to 10 -4 s, the pulse interval is 1 ms or more, and the number of shots is 10 to 100. Furthermore, the surface of the desmear and polyolefin-based resin insulating layer was modified by plasma treatment with a mixed gas of CF 4 and oxygen. By this modification, hydrophilic groups such as OH groups, carbonyl groups, and COOH groups were confirmed on the surface. The oxygen plasma processing conditions are power 800 W, 500 mTorr, and 20 minutes.

【0036】(11) さらに、誘電層形成用の開口14内
に、ポリフェニレンエーテル(PPE)にBaTiO3を75
%配合した誘電性ペーストを、ロールコータを用いた方
法で充填して、粗化層11を介して内層導体回路9と接触
するように誘電体層15を形成する(図2(e) 参照)。 (12) 次に、銅をターゲットにしたスパッタリングを、
気圧 0.6Pa、温度80℃、電力200 W、時間5分間の条
件で行って、前記(11)にて形成された誘電体層15の表面
と、ポリオレフィン系樹脂からなる樹脂絶縁層12の表面
に銅スパッタ層を形成する。このように形成された銅ス
パッタ層の厚さは 0.1μmであった。なお、スパッタリ
ング装置としては、日本真空技術株式会社製のSV−45
40を使用した。
(11) Further, in the opening 14 for forming the dielectric layer, 75 BaTiO 3 is added to polyphenylene ether (PPE).
% Of the dielectric paste is filled by a method using a roll coater to form a dielectric layer 15 so as to be in contact with the inner conductor circuit 9 via the roughened layer 11 (see FIG. 2 (e)). . (12) Next, sputtering using copper as a target,
The pressure was set to 0.6 Pa, the temperature was set to 80 ° C., the power was set to 200 W, and the time was set to 5 minutes, and the surface of the dielectric layer 15 formed in (11) and the surface of the resin insulating layer 12 made of polyolefin resin were formed. Form a copper sputter layer. The thickness of the thus formed copper sputtered layer was 0.1 μm. In addition, as a sputtering device, SV-45 manufactured by Japan Vacuum Engineering Co., Ltd.
40 was used.

【0037】(13) 前記(12)で形成した銅スパッタ層に
エッチング処理を施して、誘電体層15に対応する位置に
導体回路16(以下、この導体回路を「外層導体回路」と
いう。)を形成する。 (14)さらに、前記(9) の処理と同様に、前記(13)におい
て形成された外層導体回路16を覆って、厚さ50μmの熱
硬化型ポリオレフィン樹脂シート(住友3M製、商品
名:1592)を温度50〜180 ℃まで昇温しながら圧力
10kg/cm2 で加熱プレスして積層し、ポリオレフィン系
樹脂からなる樹脂絶縁層17を設けた( 図3(a) 参照)。
(13) The copper sputter layer formed in the above (12) is subjected to an etching treatment, and a conductor circuit 16 is provided at a position corresponding to the dielectric layer 15 (hereinafter, this conductor circuit is referred to as an “outer layer conductor circuit”). To form (14) Further, similarly to the process of (9), a 50 μm-thick thermosetting polyolefin resin sheet (trade name: 1592, manufactured by Sumitomo 3M) covering the outer conductor circuit 16 formed in (13). ) The temperature while raising the temperature to 50-180 ℃
Lamination was performed by heating and pressing at 10 kg / cm 2 , and a resin insulating layer 17 made of a polyolefin-based resin was provided (see FIG. 3A).

【0038】(15) ついで、前記(10)と同様の方法で、
波長10.4μmの炭酸ガスレーザにて、ポリオレフィン系
樹脂からなる樹脂絶縁層17の表面から外層導体回路16に
達する直径80μm、深さ50μmのビアホール形成用の開
口18と、同じく樹脂絶縁層17表面からスルーホール上の
ふためっき層10に達する直径80μm、深さ50μmのビア
ホール形成用の開口19を設けた(図3(b) 参照)。
(15) Then, in the same manner as in the above (10),
Using a carbon dioxide gas laser with a wavelength of 10.4 μm, an opening 18 for forming a via hole with a diameter of 80 μm and a depth of 50 μm reaching the outer conductor circuit 16 from the surface of the resin insulation layer 17 made of polyolefin resin, and a through hole also from the surface of the resin insulation layer 17 An opening 19 for forming a via hole having a diameter of 80 μm and a depth of 50 μm reaching the lid plating layer 10 on the hole was provided (see FIG. 3B).

【0039】さらに、CF4 および酸素混合気体のプラ
ズマ処理により、デスミアおよびポリオレフィン系樹脂
絶縁層表面の改質を行った。この改質により、表面に
は、OH基やカルボニル基、COOH基などの親水性基が確認
された。なお、酸素プラズマ処理条件は、電力 800W、
500mTorr、20分間である。 (16) 次に、銅をターゲットにしたスパッタリングを、
気圧 0.6Pa、温度80℃、電力200 W、時間5分間の条
件で行って、前記樹脂絶縁層17の表面、開口18および開
口19の内壁面に銅スパッタ層20を形成する。このように
形成された銅スパッタ層20の厚さは 0.1μmであった
(図3(c) 参照)。なお、スパッタリング装置として
は、日本真空技術株式会社製のSV−4540を使用した。
Further, the surface of the desmear and polyolefin resin insulating layer was modified by plasma treatment with a mixed gas of CF 4 and oxygen. By this modification, hydrophilic groups such as OH groups, carbonyl groups, and COOH groups were confirmed on the surface. The oxygen plasma processing conditions were as follows: power 800W,
500 mTorr for 20 minutes. (16) Next, sputtering using copper as a target,
The process is performed under the conditions of a pressure of 0.6 Pa, a temperature of 80 ° C., a power of 200 W, and a time of 5 minutes to form a copper sputtered layer 20 on the surface of the resin insulating layer 17 and the inner wall surfaces of the openings 18 and 19. The thickness of the copper sputtered layer 20 thus formed was 0.1 μm (see FIG. 3 (c)). In addition, SV-4540 manufactured by Japan Vacuum Engineering Co., Ltd. was used as a sputtering apparatus.

【0040】(17) さらに、銅スパッタ層20上に、感光
性ドライフィルムを張りつけ、フォトマスクフィルムを
載置して、100mJ /cm2 で露光、0.8 %炭酸ナトリウム
で現像処理し、厚さ15μmのめっきレジスト21を設け
た。さらに、上記(1) の処理にしたがって電解銅めっき
を施して、厚さ15μmの電解銅めっき膜22を形成し、外
層導体回路を厚付けするとともに、バイアホール形成用
開口18および19内にめっき充填を行った(図3(d) 参
照)。
(17) Further, a photosensitive dry film is stuck on the copper sputtered layer 20, a photomask film is mounted thereon, exposed at 100 mJ / cm 2 , developed with 0.8% sodium carbonate, and processed to a thickness of 15 μm. The plating resist 21 was provided. Further, electrolytic copper plating is performed in accordance with the above process (1) to form an electrolytic copper plating film 22 having a thickness of 15 μm, the outer conductor circuit is thickened, and plating is performed in the via holes forming openings 18 and 19. Filling was performed (see FIG. 3 (d)).

【0041】(18) そしてさらに、めっきレジスト21を
5%KOH で剥離除去した後、そのめっきレジスト21下の
銅スパッタ層20を硝酸および硫酸/過酸化水素混合液を
用いたエッチングにて溶解除去し、電解銅めっき膜22と
銅スパッタ層20とからなる外層導体回路24、スルーホー
ル上のふためっき層10に接続されるビアホール25および
中間導体回路16に接続されるビアホール26を形成すると
ともに、内層導体回路9と中間導体回路16との間にコン
デンサー機能を有する誘電体層15を形成した(図3(e)
参照)。 (19) さらに、前記(8) 〜(10)および(12)〜(18)の処理
を繰り返すことにより、外層導体回路24およびビアホー
ル26の上にそれぞれビアホール27が形成されるととも
に、ビアホール27を充填した電解銅めっき層と同一面内
に最外層の導体回路28が形成された多層プリント配線板
を得た(図4(a) 参照)。
(18) Further, after the plating resist 21 is peeled off with 5% KOH, the copper sputter layer 20 under the plating resist 21 is dissolved and removed by etching using a mixed solution of nitric acid and sulfuric acid / hydrogen peroxide. Then, an outer layer conductor circuit 24 composed of the electrolytic copper plating film 22 and the copper sputter layer 20, a via hole 25 connected to the lid plating layer 10 on the through hole and a via hole 26 connected to the intermediate conductor circuit 16 are formed, A dielectric layer 15 having a capacitor function was formed between the inner conductor circuit 9 and the intermediate conductor circuit 16 (FIG. 3E).
reference). (19) Further, by repeating the processes (8) to (10) and (12) to (18), a via hole 27 is formed on the outer layer conductor circuit 24 and the via hole 26, and the via hole 27 is formed. A multilayer printed wiring board having the outermost conductive circuit 28 formed in the same plane as the filled electrolytic copper plating layer was obtained (see FIG. 4A).

【0042】(20) 一方、DMDGに溶解させた60重量
%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオ
リゴマー(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケト
ンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダ
ゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ-CN)1.6 g、感光性
モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、R
604 )3g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学
製、DPE6A ) 1.5g、分散系消泡剤(サンノプコ社製、
S−65)0.71gを混合し、さらにこの混合物に対して光
開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)を2g、
光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)を 0.2
g加えて、粘度を25℃で 2.0Pa・sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターNo.
4、6rpm の場合はローターNo.3によった。
(20) On the other hand, 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of an epoxy group of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) of 60% by weight dissolved in DMDG, 15.0 g of 80% by weight bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, 1.6 g of imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, 2E4MZ-CN), polyvalent acrylic monomer as a photosensitive monomer (Nippon Kayaku, R
604) 3 g, similarly polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, DPE6A) 1.5 g, dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco,
S-65) of 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator was added to the mixture.
0.2 of Michler's ketone (Kanto Chemical) as photosensitizer
g was added to obtain a solder resist composition whose viscosity was adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm and the rotor No.
In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. 3 was used.

【0043】(21) 前記(19)で得られた多層配線基板
を、垂直に立てた状態でロールコーターの一対の塗布用
ロール間に挟み、ソルダーレジスト組成物を20μmの厚
さで塗布した。 (22) 次いで、70℃で20分間、70℃で30分間の乾燥処理
をそれぞれ行った後、1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、
DMTG現像処理した。さらに、80℃で1時間、 100℃で1
時間、 120℃で1時間、 150℃で3時間の条件でそれぞ
れ加熱処理し、バイアホール、ランド、格子状の電源層
の上面の一部が開口した(開口径 200μm)ソルダーレ
ジスト層(厚み20μm)30を形成した。
(21) The multilayer wiring board obtained in the above (19) was sandwiched between a pair of application rolls of a roll coater in an upright state, and a solder resist composition was applied to a thickness of 20 μm. (22) Next, after performing a drying treatment at 70 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, respectively, the substrate was exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 ,
DMTG development processing was performed. In addition, 1 hour at 80 ° C, 1 hour at 100 ° C
Heat treatment at 120 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist layer (opening diameter: 200 μm) with a part of the upper surface of the via hole, land, and grid-like power supply layer (opening diameter: 200 μm) 30) formed.

【0044】(23) 次に、ソルダーレジスト層30を形成
した基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸ナトリ
ウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lの水溶液か
らなるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬
して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき層31を形成
した。さらに、その基板を、シアン化金カリウム2g/
l、塩化アンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50
g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/lの水溶液からな
る無電解金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニ
ッケルめっき層31上に厚さ0.03μmの金めっき層32を形
成した。
(23) Next, the substrate on which the solder resist layer 30 was formed was subjected to electroless electrolysis (pH = 5) consisting of an aqueous solution of nickel chloride 30 g / l, sodium hypophosphite 10 g / l, and sodium citrate 10 g / l. It was immersed in a nickel plating solution for 20 minutes to form a nickel plating layer 31 having a thickness of 5 μm at the opening. Further, the substrate was treated with 2 g of potassium potassium cyanide /
l, ammonium chloride 75 g / l, sodium citrate 50
g / l, immersed in an electroless gold plating solution consisting of an aqueous solution of sodium hypophosphite 10 g / l at 93 ° C. for 23 seconds to form a gold plating layer 32 having a thickness of 0.03 μm on the nickel plating layer 31. did.

【0045】(24) そして、ソルダーレジスト層30の開
口部に、はんだペーストを印刷して 200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ33を形成し、はんだバンプ33
を有するプリント配線板を製造した(図4(b) 参照)。
(24) A solder paste is printed on the opening of the solder resist layer 30 and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump 33.
(See FIG. 4 (b)).

【0046】上記実施例によって製造されたプリント配
線板について、形成された誘電層の容量を調べた結果、
500 穴で750pF の容量が確認され、温度に対する安定性
も良好であることが確認された。
As a result of examining the capacitance of the formed dielectric layer for the printed wiring board manufactured according to the above embodiment,
A capacity of 750 pF was confirmed in the 500 holes, and the stability to temperature was also confirmed to be good.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明の多層プリント配線板によれば、
ビルドアップ配線層内の隣接する導体回路間に中間導体
回路を設け、その中間導体回路と隣接する導体回路のい
ずれかとの間に、少なくとも高誘電性材料を含む誘電体
層を形成して、配線層内にコンデンサー機能を付与する
ことができるので、高周波領域での優れた電源安定性を
得ることができるという効果がある。
According to the multilayer printed wiring board of the present invention,
An intermediate conductor circuit is provided between adjacent conductor circuits in the build-up wiring layer, and a dielectric layer containing at least a high dielectric material is formed between the intermediate conductor circuit and any of the adjacent conductor circuits. Since the capacitor function can be provided in the layer, there is an effect that excellent power supply stability in a high frequency region can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a) 〜(f) は、本発明にかかる多層プリント配
線板の製造工程の一部を示す図である。
FIGS. 1A to 1F are views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a) 〜(e) は、本発明にかかる多層プリント配
線板の製造工程の一部を示す図である。
2 (a) to 2 (e) are views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図3】(a) 〜(e) は、本発明にかかる多層プリント配
線板の製造工程の一部を示す図である。
FIGS. 3 (a) to 3 (e) are views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4 】(a) および(b) は、本発明にかかる多層プリン
ト配線板の製造工程の一部を示す図である。
FIGS. 4 (a) and (b) are views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 銅箔 3 スルーホール 4、11 粗化層 5 充填材 7、18 電解銅めっき 8 エッチングレジスト 9 導体回路( 内層導体回路) 10 導体層 12 樹脂絶縁層(ポリオレフィン系樹脂層) 14 誘電体層形成用開口 15 誘電体層 16 中間導体回路 17 樹脂絶縁層(ポリオレフィン系樹脂層) 18、19 ビアホール形成用開口 20 銅スパッタ層 21 めっきレジスト 22 電解銅めっき 24 導体回路(外層導体回路) 25、26、27 ビアホール 28 導体回路(外層導体回路) 30 ソルダーレジスト層 31 ニッケルめっき層 32 金めっき層 33 はんだバンプ REFERENCE SIGNS LIST 1 substrate 2 copper foil 3 through hole 4, 11 roughened layer 5 filler 7, 18 electrolytic copper plating 8 etching resist 9 conductor circuit (inner conductor circuit) 10 conductor layer 12 resin insulation layer (polyolefin resin layer) 14 dielectric Layer forming opening 15 Dielectric layer 16 Intermediate conductor circuit 17 Resin insulation layer (polyolefin resin layer) 18, 19 Via hole forming opening 20 Copper sputter layer 21 Plating resist 22 Electrolytic copper plating 24 Conductor circuit (Outer layer conductor circuit) 25, 26, 27 Via hole 28 Conductor circuit (Outer layer conductor circuit) 30 Solder resist layer 31 Nickel plating layer 32 Gold plating layer 33 Solder bump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // H01G 4/33 H01G 4/06 102 Fターム(参考) 4E351 AA01 BB03 BB33 CC06 DD04 DD43 DD48 GG06 5E082 AB03 BC14 BC39 EE05 EE37 FF14 FG03 FG04 FG26 FG34 FG42 FG46 JJ15 JJ21 MM05 MM06 5E346 AA06 AA12 AA13 AA15 AA23 AA32 AA43 BB01 BB16 BB20 CC21 CC31 CC33 DD02 DD07 DD22 DD32 DD48 EE31 EE33 EE38 FF02 FF03 FF45 GG01 GG15 GG17 GG22 GG23 GG25 GG27 GG28 HH33 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) // H01G 4/33 H01G 4/06 102 F term (Reference) 4E351 AA01 BB03 BB33 CC06 DD04 DD43 DD48 GG06 5E082 AB03 BC14 BC39 EE05 EE37 FF14 FG03 FG04 FG26 FG34 FG42 FG46 JJ15 JJ21 MM05 MM06 5E346 AA06 AA12 AA13 AA15 AA23 AA32 AA43 BB01 BB16 BB20 CC21 CC31 CC33 DD02 DD07 DD22 DD32 GG17 GG23 GG17 GG17 GG33 GG17 GG17 GG33

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基板上に、導体層と層間樹脂絶縁層
とが交互に積層され、その導体層間がビアホールにて接
続されたビルドアップ配線層が形成されてなる多層プリ
ント配線板において、 隣接する2つの導体層の間に中間導体層を設け、その隣
接する導体回路のいずれか一方と中間導体層との間に、
少なくとも高誘電性材料を含む誘電体層が形成されてい
ることを特徴とする多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board comprising a build-up wiring layer in which conductive layers and interlayer resin insulating layers are alternately laminated on an insulating substrate, and the conductive layers are connected by via holes. An intermediate conductor layer is provided between the two conductor layers, and between one of the adjacent conductor circuits and the intermediate conductor layer,
A multilayer printed wiring board comprising a dielectric layer containing at least a high dielectric material.
【請求項2】 一部のビアホールは、上記誘電体層を介
して隣接する導体層に接続されていることを特徴とする
請求項1に記載のプリント配線板。
2. The printed wiring board according to claim 1, wherein a part of the via hole is connected to an adjacent conductor layer via the dielectric layer.
【請求項3】 上記誘電体層は、BaTiO3を代表とするペ
ロブスカイト化合物からなる高誘電性材料またはそれと
エポキシ、ポリフェニレンエーテル(PPE )、ポリイミ
ド等の有機材料との混合体から形成されることを特徴と
する請求項1に記載の多層プリント配線板。
3. The method according to claim 1, wherein the dielectric layer is formed of a high dielectric material composed of a perovskite compound represented by BaTiO 3 or a mixture thereof with an organic material such as epoxy, polyphenylene ether (PPE), or polyimide. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein:
【請求項4】 絶縁基板上に、導体層と層間樹脂絶縁層
とが交互に積層され、その導体層間がビアホールにて接
続されたビルドアップ配線層が形成されてなる多層プリ
ント配線板の製造に当たって、その製造工程中に、少な
くとも下記〜の工程、すなわち、 第1の樹脂絶縁層上に第1の導体回路を形成する工
程、 前記第1の導体層を覆って第2の樹脂絶縁層を形成す
る工程、 前記第2の樹脂絶縁層の表面から上記第1の導体回路
に達する開口を形成し、その開口内に、少なくとも高誘
電性材料を含む誘電性物質を充填して、誘電体層を形成
する工程、 上記第2の樹脂絶縁層の表面に、上記誘電体層を覆う
第2の導体回路を形成する工程、 前記第2の導体回路を覆って、第3の樹脂絶縁層を形
成する工程、 前記第3の樹脂絶縁層の表面から上記第1および第2
の導体回路に達する開口をそれぞれ形成し、それらの開
口に対してビアホールを形成する工程、を含むことを特
徴とする多層プリント配線板の製造方法。
4. When manufacturing a multilayer printed wiring board in which conductive layers and interlayer resin insulating layers are alternately laminated on an insulating substrate and a build-up wiring layer in which the conductive layers are connected by via holes is formed. During the manufacturing process, at least the following steps, namely, a step of forming a first conductive circuit on the first resin insulating layer, and forming a second resin insulating layer covering the first conductive layer Forming an opening reaching the first conductive circuit from the surface of the second resin insulating layer, filling the opening with a dielectric substance containing at least a high dielectric material, and forming a dielectric layer on the opening. Forming; forming a second conductor circuit covering the dielectric layer on the surface of the second resin insulation layer; forming a third resin insulation layer covering the second conductor circuit Step, from above the surface of the third resin insulating layer 1st and 2nd
Forming an opening reaching each of the conductive circuits, and forming a via hole in each of the openings.
【請求項5】 上記誘電体層は、BaTiO3を代表とするペ
ロブスカイト化合物からなる高誘電性材料またはそれと
エポキシ、ポリフェニレンエーテル(PPE )、ポリイミ
ド等の有機材料との混合体から形成されることを特徴と
する請求項4に記載の多数プリント配線板の製造方法。
5. The method according to claim 1, wherein the dielectric layer is formed of a high dielectric material made of a perovskite compound represented by BaTiO 3 or a mixture thereof with an organic material such as epoxy, polyphenylene ether (PPE), or polyimide. The method for producing a multi-printed wiring board according to claim 4, wherein:
【請求項6】 上記誘電層は、スパッタ法、蒸着法、C
VD法、印刷法、フィルムラミネート法、ロールコータ
を用いた方法、スピンコータを用いた方法、またはカー
テンコータを用いた方法のいずれかの方法で形成される
ことを特徴とする請求項4または5に記載の多層プリン
ト配線板の製造方法。
6. The dielectric layer is formed by a sputtering method, a vapor deposition method,
6. The method according to claim 4, wherein the film is formed by any one of a VD method, a printing method, a film laminating method, a method using a roll coater, a method using a spin coater, and a method using a curtain coater. A method for producing the multilayer printed wiring board according to the above.
JP18936599A 1999-07-02 1999-07-02 Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof Expired - Lifetime JP4599488B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18936599A JP4599488B2 (en) 1999-07-02 1999-07-02 Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18936599A JP4599488B2 (en) 1999-07-02 1999-07-02 Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001015928A true JP2001015928A (en) 2001-01-19
JP4599488B2 JP4599488B2 (en) 2010-12-15

Family

ID=16240111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18936599A Expired - Lifetime JP4599488B2 (en) 1999-07-02 1999-07-02 Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4599488B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6699748B2 (en) 2002-05-30 2004-03-02 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of fabricating capacitor having a photosensitive resin layer as a dielectric
US6704208B2 (en) 2001-10-01 2004-03-09 Victor Company Of Japan, Ltd. Printed circuit board and manufacturing method thereof
WO2004054340A1 (en) * 2002-12-11 2004-06-24 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Multilayer printed circuit board and method for manufacturing same
JP2005026670A (en) * 2003-06-10 2005-01-27 Dainippon Printing Co Ltd Multilayer wiring substrate and method for manufacturing the same
JP2007335448A (en) * 2006-06-12 2007-12-27 Mitsubishi Gas Chem Co Inc Process for producing printed wiring board
JP2008130779A (en) * 2006-11-21 2008-06-05 Aica Kogyo Co Ltd Method for manufacturing capacitor incorporating multilayer printed wiring board
US7872853B2 (en) 2007-01-31 2011-01-18 Tdk Corporation Thin film capacitor, manufacturing method of the same, and electronic component

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019106429A (en) 2017-12-11 2019-06-27 凸版印刷株式会社 Glass wiring substrate, method for manufacturing the same, and semiconductor device

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62128597A (en) * 1985-11-29 1987-06-10 日立コンデンサ株式会社 Multilayer printed wiring board
JPH05218660A (en) * 1992-01-31 1993-08-27 Hitachi Aic Inc Manufacture of multilayer circuit board
JPH05343855A (en) * 1992-06-08 1993-12-24 Cmk Corp Multilayer printed wiring board and manufacture thereof
JPH06140737A (en) * 1992-10-29 1994-05-20 Kyocera Corp Circuit board
JPH0832197A (en) * 1994-07-15 1996-02-02 Toshiba Chem Corp Multilayer copper-clad laminated board with built-in capacitor, and copper-clad laminated board
JPH09116247A (en) * 1995-10-16 1997-05-02 Oki Purintetsudo Circuit Kk Manufacture of capacitor including build up type printed wiring board, its printed wiring board, and mounting structure of capacitor on the board
JPH10322029A (en) * 1997-05-22 1998-12-04 Kyocera Corp Multilayered wiring board
JPH1168319A (en) * 1997-08-11 1999-03-09 Shinko Electric Ind Co Ltd Multi-layer circuit board and manufacture therefor

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62128597A (en) * 1985-11-29 1987-06-10 日立コンデンサ株式会社 Multilayer printed wiring board
JPH05218660A (en) * 1992-01-31 1993-08-27 Hitachi Aic Inc Manufacture of multilayer circuit board
JPH05343855A (en) * 1992-06-08 1993-12-24 Cmk Corp Multilayer printed wiring board and manufacture thereof
JPH06140737A (en) * 1992-10-29 1994-05-20 Kyocera Corp Circuit board
JPH0832197A (en) * 1994-07-15 1996-02-02 Toshiba Chem Corp Multilayer copper-clad laminated board with built-in capacitor, and copper-clad laminated board
JPH09116247A (en) * 1995-10-16 1997-05-02 Oki Purintetsudo Circuit Kk Manufacture of capacitor including build up type printed wiring board, its printed wiring board, and mounting structure of capacitor on the board
JPH10322029A (en) * 1997-05-22 1998-12-04 Kyocera Corp Multilayered wiring board
JPH1168319A (en) * 1997-08-11 1999-03-09 Shinko Electric Ind Co Ltd Multi-layer circuit board and manufacture therefor

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6704208B2 (en) 2001-10-01 2004-03-09 Victor Company Of Japan, Ltd. Printed circuit board and manufacturing method thereof
US6699748B2 (en) 2002-05-30 2004-03-02 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of fabricating capacitor having a photosensitive resin layer as a dielectric
US7091589B2 (en) 2002-12-11 2006-08-15 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Multilayer wiring board and manufacture method thereof
GB2401485A (en) * 2002-12-11 2004-11-10 Dainippon Printing Co Ltd Multilayer printed circuit board and method for manufacturing same
GB2401485B (en) * 2002-12-11 2006-07-26 Dainippon Printing Co Ltd Multilayer wiring board and manufacture method thereof
WO2004054340A1 (en) * 2002-12-11 2004-06-24 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Multilayer printed circuit board and method for manufacturing same
US7690109B2 (en) 2002-12-11 2010-04-06 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Method of manufacturing a multilayer wiring board
US8069560B2 (en) 2002-12-11 2011-12-06 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer wiring board
JP2005026670A (en) * 2003-06-10 2005-01-27 Dainippon Printing Co Ltd Multilayer wiring substrate and method for manufacturing the same
JP4537753B2 (en) * 2003-06-10 2010-09-08 大日本印刷株式会社 Multilayer wiring board and manufacturing method thereof
JP2007335448A (en) * 2006-06-12 2007-12-27 Mitsubishi Gas Chem Co Inc Process for producing printed wiring board
JP2008130779A (en) * 2006-11-21 2008-06-05 Aica Kogyo Co Ltd Method for manufacturing capacitor incorporating multilayer printed wiring board
US7872853B2 (en) 2007-01-31 2011-01-18 Tdk Corporation Thin film capacitor, manufacturing method of the same, and electronic component

Also Published As

Publication number Publication date
JP4599488B2 (en) 2010-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2000015015A1 (en) Multilayer printed wiring board and method for manufacturing the same
JP4212006B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board
JP2003023252A (en) Multilayered printed wiring board
JP2003023253A (en) Multilayered printed wiring board
JP2001015931A (en) Multilayer printed wiring board and manufacture thereof
JP4599488B2 (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
JP2002374066A (en) Method for manufacturing multilayered printed circuit substrate
JP2001168531A (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method therefor
JP2002271040A (en) Method for manufacturing multilayer printed wiring board
JP4468527B2 (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof.
JP2001217549A (en) Multilayer circuit board
JP4468528B2 (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof.
JP2001015918A (en) Multilayer printed wiring board and manufacture thereof
JP4159136B2 (en) Multilayer printed wiring board
JP2000091750A (en) Method for forming through hole, multilayered printed wiring board and manufacture thereof and through hole forming substrate
JP3219396B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board
JP2001102751A (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
JP3348846B2 (en) Method of manufacturing multilayer printed wiring board and multilayer printed wiring board
JP2001196740A (en) Method for manufacturing multilayer printed wiring board
JP2000138456A (en) Multilayered printed wiring board and its manufacture
JP2002271027A (en) Multi-layer printed board
JP4553402B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board
JP3219395B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board
JP2000294929A (en) Manufacture of multilayer printed wiring board and the multilayer printed wiring board
JP2002204075A (en) Method of manufacturing multilayer printed wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090407

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090608

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100305

TRDD Decision of grant or rejection written
RD12 Notification of acceptance of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432

Effective date: 20100722

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100803

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100805

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100831

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131008

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4599488

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term