JP2000516768A - 赤外線を発光する発光ダイオードの製造方法 - Google Patents

赤外線を発光する発光ダイオードの製造方法

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JP2000516768A JP10507482A JP50748298A JP2000516768A JP 2000516768 A JP2000516768 A JP 2000516768A JP 10507482 A JP10507482 A JP 10507482A JP 50748298 A JP50748298 A JP 50748298A JP 2000516768 A JP2000516768 A JP 2000516768A
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、有利にはGaAsからなる半導体基板(1)上に、層系列を取付け、この層系列が、半導体基板(1)から出発して、第1のAlGaAs被覆層(2)、GaAs及び/又はAlaAsを含む活性層(3)、及び第2のAlGaAs被覆層(4)を有し、その際、第1のAlGaAs被覆層(2)及び活性層(3)をMOVPE(金属有機物気相エピタキシー)方法により、かつ第2のAlGaAs被覆層(4)をLPE(液相エピタキシー)方法により、製造する、赤外線を発光する発光ダイオードの製造方法に関する。さらに第2のAlGaAs被覆層(4)の上に、LPE(液相エピタキシー)方法によって、少なくともほぼ10μmの厚さを有しかつ赤外線スペクトル範囲において光学的に透明な導電性の出力結合層(5)を析出させる。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の名称:赤外線を発光する発光ダイオードの製造方法 本発明は、有利にはGaAsからなる半導体基板上に、発光ダイオードの動作 中に赤外線(IR)ビームを送出する活性層系列を取付け、この層系列が、半導 体基板から出発して、第1のAlGaAs被覆層、GaAs及び/又はAlGa Asを含む活性層、及び第2のAlGaAs被覆層を有する、赤外線を発光する 発光ダイオードの製造方法に関する。 ルミネセンスダイオード又は発光ダイオード(LED)は、とくに光学通信技 術において送信要素として必要になる。放射される光の所望の波長に依存して、 種々の半導体系が利用され、これらの半導体系のそれぞれ基礎となる半導体材料 は、それぞれ独立した技術的な問題設定を伴う種々の製造方法も生じる。ほぼ4 00〜800nmの波長を有する可視スペクトル範囲において、AlGaInP 合金系が利用され、この合金系においてアルミニウム含有量の調節によって、比 較的広い色範囲から所望の波長を確定することができる。赤外線範囲におけるさ らに長い波長で動作しかつ通常AlGaAs系に基づく発光ダイオードは、これ とは区別され、この系においてほぼ10%〜30%の 典型的な範囲におけるアルミニウム含有量を調節することによって、ほぼ800 nm以上の放射光の波長を達成することができる。本発明は、AlGaAs系を 基礎としたこのような赤外線発光ダイオードの製造に関する。従来の赤外線発光 ダイオードにおいて、GaAs基板上に取付けられるすべての層系列は、LPE (液相エピタキシー)方法によって製造されていた。これにおいてエピタキシャ ル層の構成のために、相応して所望のドーピング材料から構成された所定の温度 において過飽和の溶融物が、GaAsからなる基板結晶に接触させられるので、 それに続く冷却の際に、基板結晶上にGaAs又はAlGaAsのエピタキシャ ル層が構成される。このようにして状態図に相応して異なった組成の単結晶層を 成長させることができる。液相エピタキシー方法は、比較的高い成長速度を有し 、かつそれ故に比較的厚いエピタキシャル層の製造にも適している。ちょうどこ こにおいて興味がある赤外線発光ダイオードにおける層系列の製造に関連して、 従来の方法にしたがって析出した比較的厚いAlGaAs−LPE層が、機械的 応力を、したがって曲がったEpiウエハを生じ、これらのウエハが、後続の技 術ステップにおいて処理困難であることは、不利とみなされる。この理由により 、ウエハ複合体における赤外線を発光する発光ダイオードの従来利用された製造 方法は、最大2インチのウエハ直径を有する半導体基 板に制限されている。 本発明の別の実施態様において、赤外線を発光する発光ダイオードは、発光ダ イオードから放射される光の光学的出力結合効率を改善するために、いわゆる出 力結合層を装備している。その際、光学的な出力結合効率は、まずおおいに基礎 となる半導体材料の層構成によって決まる。まとめて活性層と称する薄い層内に おいて本来の光発生が行なわれ、かつ例えば二重ヘテロ層構造を有する発光ダイ オードにおけるように、いわゆる活性領域を、又はホモpn発光ダイオードにお けるように、pn接合部の回りに構成された光発生領域を含む場合、放射される 波長に対して低い吸収率を有する両側に配置された被覆層は、出力結合効率をは っきりと改善することができる。そのために層構造の製造の際に、光発生領域( 活性層)において設定されるものより大きなエネルギーギャップを有する比較的 厚い半導体層を取付けなければならない。現在このような構造の製造は、その場 では液相エピタキシー方法(LPE)によって、又は種々の気相エピタキシー方 法(VPE)の組合せによってしか製造されず、その際、後者において光発生構 造は、通常MOVPE方法によって、かつ厚い出力結合層は、VPE方法によっ て製造される。このような厚い出力結合層を有するLED構造を製造するために MOVPE方法を使用する際の欠点は、比較的低い析出速度にある。ほぼ10μ m以上の厚さを有する比較的厚いウインドウ層又はとくに大きな出力結合効率上 昇を可能にする有利にはGaAsからなる出力結合層を製造するために、従来M OVPE方法とVPE方法とからなる組合せが使用されている。本発明によれば 、厚い出力結合層を備えたLED構造を製造することができる新しい方法の組合 せを提供するようにする。その際、困難は、とりわけ前記のパラメータによって 敏感な層構造(活性領域の場合に二重ヘテロ層又はpn接合部)の損傷の程度が 決まるので、出力結合層に対する組成と製造条件が外部の効率に影響を及ぼすこ とにある。 米国特許第5,233,204号明細書、又はK.H.Huang他著、Appl.Phys.Lett. ,61(9)、31、8月、1992、第1045〜1047頁によれば、AlGaI nP合金系に基づく波長555ないし620の可視スペクトル範囲における発光 ダイオードの製造が公知になっている。これらの発光ダイオードは、GaAs基 板から出発して、nタイプの第1のAlGaInP被覆層、nタイプのAlGa InPからなる活性層、及びpタイプの第2のAlGaInP被覆層を有する層 系列を含んでいる。両方の被覆層は、それぞれほぼ800nmの厚さを有し、活 性領域は、ほぼ500nmの厚さを有する。第1のAlGaInP被覆層、活性 領域及び第2のAlGaInP被覆層は、MOCVD(金属有機化学的蒸着)方 法によって製造される。さ らに第2のAlGaInP被覆層の上に、少なくとも15μmの厚さを有するG aP、AlGaAs又はGaAsPからVPE(気相エピタキシー)方法によっ て製造される光学的に透明な出力結合層を構成することは周知である。その際、 出力結合層は、側方に放射される光量を持ち上げかつ光を吸収する基板により吸 収される光量を減少することによって、発光ダイオードの有効な光放射を増加す るために使われる。出力結合層は、このために少なくとも0.06・発光ダイオ ードの幅の厚さを有する。その際、出力結合層の光学屈折率は、全反射角によっ て決まる発光ダイオード内において吸収される光の割合を減少するように、選定 される。 本発明の課題は、比較的厚いAlGaAs層を析出する際に、発生する機械的 応力を減少し、かつその結果、2インチより大きなウエハ直径におけるウエハ複 合体に多数の発光ダイオードを問題なく製造するためにも適している、GaAs 半導体基板及びAlGaAs系に基づく層系列によって赤外線を発光する発光ダ イオードを製造する方法を提供することにある。 この課題は、請求の範囲第1項に記載の方法によって解決される。 本発明による方法の有利な態様及び構成は、請求の範囲第2〜9項の対象であ る。 本発明は次の点にある。すなわち第1のAlGaA s被覆層及び活性層をMOVPE(金属有機物気相エピタキシー)方法により、 かつ第2のAlGaAs被覆層をLPE(液相エピタキシー)方法により、製造 する。AlGaAs系を基礎とする赤外線を発光する発光ダイオードの製造にお けるMOVPE及びLPEからなる本発明による方法組合せは、従来利用された 方法に対して、次のような利点を有する: エピタキシャル層の良好なキャリヤ移動度及び高度の寿命にとって重要な最適 な構造上の整合の意味において、機械的応力に関してとくに微妙な第1のAlG aAs被覆層及び活性層は、MOVPE方法によって製造され、このMOVPE 方法において利用された金属は、低い蒸気圧において担体ガスとして有利にはト リメチルガリウムによって気相における運搬に関して行なわれる。その際、析出 は、GaAs結晶の融点よりもずっと下で行なわれ、それによりエピタキシー装 置からの不純物の組込みは、はっきりと抑圧される。典型的にはほぼ10μmの 被覆層及び活性領域からなる活性層構造の総合厚さの際、MOVPE方法におい て利用できる析出速度は、まだ十分に高い。第2のA1GaAs被覆層の製造の ため、LPE方法が選択され、このLPE方法は、さらに簡単にかつさらに望ま しいコストで行なうことができ、かつ著しく高い析出速度を提供し、それ故にさ らに大きな層厚にとくに適している。このようにして製造されたEpiウエハは 、その製造の後に、従来周知の方法によって製造されたEpiウエハよりもはっ きりとわずかな曲がりを有する。 第1のカバー層の上におけるほぼ10μm以上の厚さを有する比較的厚いウイ ンドウ層又は出力結合層の又はさもなければほぼ70μm以上の厚さを有する自 己支持する出力結合層の製造のために、本発明の基本方式にしたがって次のこと が提案される。すなわち第1の被覆層及び活性層のためのMO気相エピタキシー と第2の被覆層及び出力結合層のための液相エピタキシーとの方法の組合せを設 け、この方法組合せが、所望の赤外線を発光する発光ダイオードを製造するため の新しい有利な実現を提供し、その際、液相析出のために、とくに光を発生する 層構造のできるだけわずかな熱負荷に悪影響を及ぼすLPE方法の変形が、した がって例えば温度差LPE方法が適用される。GaAsの形の吸収する基板の後 続のエッチング除去又は切離しによって、このようにして製造されたIR発光ダ イオードがとくに高い出力結合効率を有することが達成される。 本発明のその他の特徴、利点及び目的適合性は、図面による実施例の次の説明 によって明らかである。ここでは: 図1は、本発明の第1の実施例によるIR発光ダイオードの概略的な断面図を 示し; 図2は、本発明の第2の実施例によるIR発光ダイオードの概略的な断面図を 示し;かつ 図3は、本発明の第3の実施例によるIR発光ダイオードの概略的な断面図を 示している。 本発明による方法にしたがって製造された赤外線を発光する発光ダイオードの 図1に示された実施例は、GaAsからなる半導体基板1を含み、この半導体基 板上に、発光ダイオードの範囲においてIRビームを送出する活性層系列が取付 けられており、この層系列は、半導体基板1から出発して、x=0.35を有す る第1のAlxGa1-xAs被覆層2、活性層3、及びx=0.35を有する第2 のAlxGa1-xAs被覆層4を有する。図1による実施例による活性層3は、ほ ぼ830nmの放射IRビームの波長を有するAlGaAs二重ヘテロ構造をな しており;その代わりに活性層3は、ホモpn接合部によって構成してもよい。 図1に示された層構造は、とくに高速の赤外線を発光する発光ダイオードの製造 にとくに適している。 第1のAlxGa1-xAs被覆層2と活性層3は、MOVPE(金属有機物気相 エピタキシー)方法によって製造されるが、一方第2のAlxGa1-xAs被覆層 4は、LPE(液相エピタキシー)方法によって製造される。 図2に示された実施例において、第2のAlxGa1-xAs被覆層4の上に追加 的にx=0.2〜0.4を 有するAlxGa1-xAs出力結合層5が析出し、このAlxGa1-xAs出力結合 層5は、LPE(液相エピタキシー)方法によって析出し、かつほぼ10μm〜 ほぼ50μmの総合厚さを有する。参照符号6及び7は、電気的に導通する電極 端子を示し、これらの電極端子は、図1による表示において簡単化のために省略 されている。 図3による実施例において、AlxGa1-xAs出力結合層5は、少なくともほ ぼ50μmの厚さを有する自己支持する層として構成されており、かつ光学的に 吸収する基板1は、エッチング又は類似の切離しステップによって切離されてい る。この実施例において、自己支持する出力結合層5は、ある程度透明な基板と して使われ、この基板は、層2、3、4及び6、7からなる構造を支持している 。 図2及び3に示された実施例は、とくに明るい赤外線を発光する発光ダイオー ドの製造にとくに適している。 符号リスト 1 半導体基板、2 第1のAlxGa1-xAs被覆層、3 活性層、4 第2 のAlxGa1-xAs被覆層、5 AlxGa1-xAs出力結合層、6、7 電気的 に導通する電極端子

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.有利にはGaAsからなる半導体基板(1)上に、発光ダイオードの動作中 に赤外線ビームを送出する活性層系列を取付け、この層系列が、半導体基板(1 )から出発して、第1のAlGaAs被覆層(2)、GaAs及び/又はAlG aAsを含む活性層(3)、及び第2のAlGaAs被覆層(4)を有する、赤 外線を発光する発光ダイオードの製造方法において、第1のAlGaAs被覆層 (2)及び活性層(3)をMOVPE(金属有機物気相エピタキシー)方法によ り、かつ第2のAlGaAs被覆層(4)をLPE(液相エピタキシー)方法に より、製造することを特徴とする、赤外線を発光する発光ダイオードの製造方法 。 2.第1のAlGaAs被覆層(2)及び/又は第2のAlGaAs被覆層が、 ほぼ10%〜ほぼ35%のそれぞれ1つのAl含有量を有する、請求項1記載の 方法。 3.赤外線を発光する多数の発光ダイオードの製造をウエハ複合体において行な い、その際、ウエハが、2インチより大きな直径を有する、請求項1又は2記載 の方法。 4.第2のAlGaAs被覆層(4)の上に、LPE(液相エピタキシー)方法 によって、少なくともほ ぼ10μmの厚さを有しかつ赤外線スペクトル範囲において光学的に透明な導電 性の出力結合層(5)を析出させる、請求項1から3までのいずれか1項記載の 方法。 5.出力結合層(5)が、自己支持するように構成され、かつ少なくともほぼ5 0μmの厚さを有する、請求項4記載の方法。 6.自己支持する出力結合層(5)の製造の後に、有利にはGaAsからなる半 導体基板(1)を切離す、請求項5記載の方法。 7.出力結合層(5)が、有利にはほぼ20%〜ほぼ35%のAl含有量を含む AlGaAsからなる、請求項5又は6記載の方法。 8.複数のLPE個別ステップにおいて出力結合層(5)を製造する、請求項5 から7までのいずれか1項記載の方法。 9.温度差LPE方法によって出力結合層(5)を製造する、請求項4から8ま でのいずれか1項記載の方法。
JP10507482A 1996-08-07 1997-08-04 赤外線を発光する発光ダイオードの製造方法 Pending JP2000516768A (ja)

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