JP2000510638A - 多重極子質量分光計の軸方向射出方法 - Google Patents
多重極子質量分光計の軸方向射出方法Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.入射端及び出射端並に長さ方向の軸を備えた細長いロッド・セットを有する 質量分光計の動作方法において、前記方法が、 (a)前記ロッド・セットの前記入射端内にイオンを入れ、 (b)前記ロッド・セットの前記出射端に近接する出射レンズに障壁電界を 作り、さらに前記ロッド・セットの少なくとも前記出射レンズに近接する前 記ロッド・セットの前記ロッドの間にRF電界を作ることにより、前記ロッ ド・セット内に前記イオンの少なくとも若干をトラップし、 (c)前記RF及び障壁電界が、前記ロッド・セットの前記出射端に近接す る引き出し領域で相互作用してフリンジ電界を作り、 (d)前記引き出し領域にあるイオンにエネルギーを与えて、選ばれた質量 −電荷比を有するイオンの内少なくとも若干を前記ロッド・セットから前記 障壁電界を通して質量選択的に軸方向に射出し、 (e)前記軸方向に射出されたイオンの少なくとも若干を検出する、 各工程を含むことを特徴とする方法。 2.前記障壁電界がDC電界であることを特徴とする請求の範囲第1項記載の方 法。 3.補助AC電圧を前記出射レンズに印加することを特徴とする請求の範囲第2 項記載の方法。 4.前記工程(d)において、前記補助AC電圧をスキャンすることを特徴とす る請求の範囲第3項記載の方法。 5.DCオフセット電圧を前記ロッドに印加し、前記工程(d)において前記D Cオフセット電圧を選ばれたイオンを励起するための周波数に変調して、前記 障壁電界を通して前記選ばれたイオンを軸方向に質量に依存して射出すること を特徴とする請求の範囲第1項または第2項記載の方法。 6.前記工程(d)において、前記RF電界をスキャンすることを特徴とする請 求の範囲第1項,第2項または第3項記載の方法。 7.前記工程(d)において、前記RF電界の振幅をスキャンすることを特徴と する請求の範囲1,2または3記載の方法。 8.前記工程(d)において、前記ロッド・セットの前記ロッドの間に補足AC 電圧を印加することを特徴とする請求の範囲第1項,第2項または第3項記載 の方法。 9.前記工程(d)において、前記ロッド・セットの前記ロッドの間に補足AC 電圧を印加し、前記補足AC電圧をスキャンすることを特徴とする請求の範囲 第1項,第2項または第3項記載の方法。 10.前記補助AC電圧が前記RF電界の周波数及び位相と同期し、フェーズロッ クした周波数を有することを特徴とする請求の範囲第3項または第4項記載の 方法。 11.前記ロッド・セットの前記軸に沿って軸方向電界を印加する工程を含むこと を特徴とする請求の範囲第1項,第2項または第3項記載の方法。 12.前記ロッド・セットの前記ロッドの間に、イオンの衝突集束及び冷却のため に、低圧ガスを供給する工程を含むことを特徴とする請求の範囲第1項,第2 項または第3項記載の方法。 13.イオン源から前記イオンを供給し、前記第1の既述のロッド・セットと前記 イオン源との間に第2のロッド・セットを与え、前記第2のロッド・セット内 にイオンをプリトラップし、前記第1の既述のロッド・セットからの軸方向射 出及び前記射出に引く続く検出のために前記第2のロッド・セットから前記第 1の既述のロッド・セット内にイオンを選択的に入れる工程を含むことを特徴 とする請求の範囲第1項,第2項または第3項記載の方法。 14.イオンの前記軸方向射出工程の前に、注目する選ばれた質量範囲にはないイ オンの少なくとも若干を前記ロッド・セットから半径方向に射出する工程を含 むことを特徴とする請求の範囲第1項,第2項または第3項記載の方法。 15.前記イオンを軸方向に射出する前に、前記イオンの内少なくとも若干を解離 させるために、前記イオンを励起する工程を含むこととを特徴とする請求の範 囲第1項記載の方法。 16.前記イオンに軸方向電界を印加し前記軸方向電界を振動させることにより、 前記イオンを励起することを特徴とする請求の範囲第15項記載の方法。 17.前記ロッド・セットの前記入射端内にイオンを入れると同時に、前記障壁電 界を通して、前記ロッド・セットの前記出射端からイオンを質量選択的に軸方 向に射出することを特徴とする請求の範囲第1項,第2項または第3項記載の 方法。
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