JP2000352675A - ディスクティルト検出・補正方法および装置。 - Google Patents
ディスクティルト検出・補正方法および装置。Info
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- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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- G11B7/085—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection
- G11B7/08547—Arrangements for positioning the light beam only without moving the head, e.g. using static electro-optical elements
- G11B7/08564—Arrangements for positioning the light beam only without moving the head, e.g. using static electro-optical elements using galvanomirrors
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- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ピックアップの搬送波対信号比を低下させる
コマを誘発させるディスクティルトを検出し、補正する
方法および装置を提供すること。 【解決手段】 光ディスクのディスクティルトにより誘
発されるコマを減少させるために、本発明のピックアッ
プには、光ディスクの半径方向および接線方向のディス
クティルトを検出する、複数のレーザービームを生じさ
せる2次元（2-D）回折格子が取り付けられる。また、半
径方向および接線方向のディスクティルトに応じて、光
ディスクのディスクティルトにより誘発されるコマを補
正するために、駆動装置が、レーザービームの入射角を
変化させる反射手段の反射角を調整する。
コマを誘発させるディスクティルトを検出し、補正する
方法および装置を提供すること。 【解決手段】 光ディスクのディスクティルトにより誘
発されるコマを減少させるために、本発明のピックアッ
プには、光ディスクの半径方向および接線方向のディス
クティルトを検出する、複数のレーザービームを生じさ
せる2次元（2-D）回折格子が取り付けられる。また、半
径方向および接線方向のディスクティルトに応じて、光
ディスクのディスクティルトにより誘発されるコマを補
正するために、駆動装置が、レーザービームの入射角を
変化させる反射手段の反射角を調整する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はディスクティルトを
検出・補正する方法および装置に係り、特に、光ディス
クが半径方向および接線方向へディスクティルトするた
めに生じるコマ（非対象収差）によって引き起こされる
読取りエラーを解決するピックアップの技術に関する。
検出・補正する方法および装置に係り、特に、光ディス
クが半径方向および接線方向へディスクティルトするた
めに生じるコマ（非対象収差）によって引き起こされる
読取りエラーを解決するピックアップの技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは、データが記録および記憶
される記録層を有する透明基板からなっていて、データ
をこの記録層に、ピット、マーク、および磁気光学ドメ
インからなる様々な形式で記憶することができる。光デ
ィスク・システムでは、レーザービームは対物レンズに
より透明基板を通過して、記憶データに焦点が合わせら
れる。それからレーザービームは反射して焦点合わせ用
の同じ対物レンズを通過して戻っていく。異物や擦り傷
のような、ディスクの表面欠陥は、レーザービームの焦
点のスポットサイズと同じような大きさを持ちうるの
で、一般にレーザービームは、いかなる表面欠陥があっ
てもデータを記憶している記録層と焦点がズレるように
するために、ディスク基板の裏面に焦点が合わせられ
る。基板を通過したレーザービームを集束させることに
よって引き起こされるいかなる球面収差も、通常は対物
レンズの設計によって補正される。
される記録層を有する透明基板からなっていて、データ
をこの記録層に、ピット、マーク、および磁気光学ドメ
インからなる様々な形式で記憶することができる。光デ
ィスク・システムでは、レーザービームは対物レンズに
より透明基板を通過して、記憶データに焦点が合わせら
れる。それからレーザービームは反射して焦点合わせ用
の同じ対物レンズを通過して戻っていく。異物や擦り傷
のような、ディスクの表面欠陥は、レーザービームの焦
点のスポットサイズと同じような大きさを持ちうるの
で、一般にレーザービームは、いかなる表面欠陥があっ
てもデータを記憶している記録層と焦点がズレるように
するために、ディスク基板の裏面に焦点が合わせられ
る。基板を通過したレーザービームを集束させることに
よって引き起こされるいかなる球面収差も、通常は対物
レンズの設計によって補正される。
【０００３】一般に、光ディスクは完全に平らなわけで
はなく、平坦の中になにか局所異常があると、入射ビー
ムに対するディスク前面のわずかなティルトとして表わ
れる。さらに、光ディスクがプレーヤの回転テーブルに
歪んで置かれると、ディスク前面は集束レーザービーム
の光学軸に対して傾き、コマ収差が発生する。またティ
ルトは、軸への取付不良やディスク自体の湾曲によって
も引き起こされうる。ディスクティルトはレーザービー
ムの集束スポット品質を低下させるので、その結果、読
み出し時の搬送波対雑音比を減少させたり、クロストー
クおよび記号間干渉を増大させたり、記録感度を低下さ
せたりする。
はなく、平坦の中になにか局所異常があると、入射ビー
ムに対するディスク前面のわずかなティルトとして表わ
れる。さらに、光ディスクがプレーヤの回転テーブルに
歪んで置かれると、ディスク前面は集束レーザービーム
の光学軸に対して傾き、コマ収差が発生する。またティ
ルトは、軸への取付不良やディスク自体の湾曲によって
も引き起こされうる。ディスクティルトはレーザービー
ムの集束スポット品質を低下させるので、その結果、読
み出し時の搬送波対雑音比を減少させたり、クロストー
クおよび記号間干渉を増大させたり、記録感度を低下さ
せたりする。
【０００４】次世代の光ディスクはおそらく、より短波
長で、より開口率が高い対物レンズを利用することにな
るだろうが、そのいずれもがディスクのエリアデータ密
度を高める。あいにく、波長と開口率の値が高データ密
度に合うように調整されていれば、ディスクティルトに
対する感度は高くなる。例えば、対物レンズあるいは光
学ヘッド全体を傾けるというような、力学的にディスク
ティルトの影響をなくそうと試みるいくつかの方法が提
案されてきた。
長で、より開口率が高い対物レンズを利用することにな
るだろうが、そのいずれもがディスクのエリアデータ密
度を高める。あいにく、波長と開口率の値が高データ密
度に合うように調整されていれば、ディスクティルトに
対する感度は高くなる。例えば、対物レンズあるいは光
学ヘッド全体を傾けるというような、力学的にディスク
ティルトの影響をなくそうと試みるいくつかの方法が提
案されてきた。
【０００５】従来技術として合衆国特許5,065,380号で
は、光ディスクの半径方向に3本のレーザービームを持
ったピックアップを使用することによりティルトを検出
する方法を開示している。この方法は半径方向のティル
トだけを測定し、接線方向のティルトを測定せず、ピッ
クアップのトラッキング動作には耐えられない。合衆国
特許5,523,989号では、プッシュプル信号（ゼロ次回折
光ビームと、光ディスクから反射された＋１，−１ 次
回折光ビームとの干渉）に応じてディスクティルトを測
定する、ティルト補正方法を用いた、別のピックアップ
が開示されている。このピックアップはサーボ駆動器を
用いることによりコマを補正する。この発明のピックア
ップは追加のレンズを必要とし、サイズが従来のピック
アップより大きい。
は、光ディスクの半径方向に3本のレーザービームを持
ったピックアップを使用することによりティルトを検出
する方法を開示している。この方法は半径方向のティル
トだけを測定し、接線方向のティルトを測定せず、ピッ
クアップのトラッキング動作には耐えられない。合衆国
特許5,523,989号では、プッシュプル信号（ゼロ次回折
光ビームと、光ディスクから反射された＋１，−１ 次
回折光ビームとの干渉）に応じてディスクティルトを測
定する、ティルト補正方法を用いた、別のピックアップ
が開示されている。このピックアップはサーボ駆動器を
用いることによりコマを補正する。この発明のピックア
ップは追加のレンズを必要とし、サイズが従来のピック
アップより大きい。
【０００６】合衆国特許5,805,543号では、ディスクテ
ィルトを測定するのに、2つの連続レーザーパルスを使
用する方法が開示されているが、その計算は非常に困難
なので、すぐには実行できない。あるタイプのティルト
センサは、ディスク表面に対するティルトを測定する
が、情報ビームがトラッキングして、情報トラックに焦
点が合った後でしか、ディスク表面のティルトは測定す
ることができない。このような方法がクサノ（Kusano）
に付与された合衆国特許5,206,848号に開示されてい
る。これらの装置は、光学記録駆動器とディスクとの間
に相対安定性を必要とするので、駆動器が高速で動作し
ている間の慣性ティルトを測定するのには効果的でな
い。
ィルトを測定するのに、2つの連続レーザーパルスを使
用する方法が開示されているが、その計算は非常に困難
なので、すぐには実行できない。あるタイプのティルト
センサは、ディスク表面に対するティルトを測定する
が、情報ビームがトラッキングして、情報トラックに焦
点が合った後でしか、ディスク表面のティルトは測定す
ることができない。このような方法がクサノ（Kusano）
に付与された合衆国特許5,206,848号に開示されてい
る。これらの装置は、光学記録駆動器とディスクとの間
に相対安定性を必要とするので、駆動器が高速で動作し
ている間の慣性ティルトを測定するのには効果的でな
い。
【０００７】合衆国特許5,805,543号では、光ディスク
のティルトを表示するティルトエラー信号を発生させる
装置が開示されている。この装置は、レーザービームを
ディスク上に集中させ、そのビームをディスクから反射
させるレーザービームの光源と、反射ビームを受け止め
そしてそのビームを第1の方向へ向けさせるために配置
されたビーム分割器と、ビーム分割器からの反射光ビー
ムを少なくとも4つの部分に分散させ、そのそれぞれの
部分に対する検出信号を発生させる機構とからなる。さ
らにこの装置は、第1および第2トラッキングエラー信号
を発生させるために検出信号に応答する回路と、ティル
トエラー信号を発生させるために第1および第2トラッキ
ングエラー信号に応答する回路とからなる。第1および
第2トラッキングエラー信号は検出信号の異なる組合せ
により発生させられ、その両方が交差トラック回折に感
応する。この装置にはディスクティルトを補正するため
の駆動器がない。
のティルトを表示するティルトエラー信号を発生させる
装置が開示されている。この装置は、レーザービームを
ディスク上に集中させ、そのビームをディスクから反射
させるレーザービームの光源と、反射ビームを受け止め
そしてそのビームを第1の方向へ向けさせるために配置
されたビーム分割器と、ビーム分割器からの反射光ビー
ムを少なくとも4つの部分に分散させ、そのそれぞれの
部分に対する検出信号を発生させる機構とからなる。さ
らにこの装置は、第1および第2トラッキングエラー信号
を発生させるために検出信号に応答する回路と、ティル
トエラー信号を発生させるために第1および第2トラッキ
ングエラー信号に応答する回路とからなる。第1および
第2トラッキングエラー信号は検出信号の異なる組合せ
により発生させられ、その両方が交差トラック回折に感
応する。この装置にはディスクティルトを補正するため
の駆動器がない。
【０００８】合衆国特許5,732,054号では、ティルトを
測定し、光学記録駆動器ベースに対するレンズ支持器の
位置をトラッキングする結合センサが開示されている。
光源からのビームが検出器に達するように、光源と2つ
の感光２−セル検出器が駆動器ベースに取り付けられて
いる。そして、２−セル検出器に像を作成するために、
光学スロットあるいはフラグが光源と検出器の間にある
レンズ支持器に取り付けられている。２−セル検出器か
らの出力は、ティルトと、駆動器ベースに対するレンズ
支持器の位置とに関する情報に変換される。
測定し、光学記録駆動器ベースに対するレンズ支持器の
位置をトラッキングする結合センサが開示されている。
光源からのビームが検出器に達するように、光源と2つ
の感光２−セル検出器が駆動器ベースに取り付けられて
いる。そして、２−セル検出器に像を作成するために、
光学スロットあるいはフラグが光源と検出器の間にある
レンズ支持器に取り付けられている。２−セル検出器か
らの出力は、ティルトと、駆動器ベースに対するレンズ
支持器の位置とに関する情報に変換される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】本発明の主な課題は、
光ディスクの半径方向と接線方向のティルトを検出し、
そのディスクティルトにより誘発されるコマを補正する
方法およびピックアップを提供することである。本発明
の別の課題は、ディスクティルトに誘発されるコマを補
正するために、ピックアップの読み取りレーザービーム
の入射角を変えるための反射手段の反射角を調整する単
純な駆動器を提供することである。この駆動器は、圧電
駆動装置あるいは電磁駆動装置からなる。
光ディスクの半径方向と接線方向のティルトを検出し、
そのディスクティルトにより誘発されるコマを補正する
方法およびピックアップを提供することである。本発明
の別の課題は、ディスクティルトに誘発されるコマを補
正するために、ピックアップの読み取りレーザービーム
の入射角を変えるための反射手段の反射角を調整する単
純な駆動器を提供することである。この駆動器は、圧電
駆動装置あるいは電磁駆動装置からなる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明ではピックアップ
に、検出のために複数のレーザービームを発生させる2
次元（2-D）回析格子を取り付ける。これらのレーザー
ビームは、ゼロ次（0次）回折レーザービーム、＋１,−
1 次半径方向回折レーザービーム、および＋−1次（＋
１次および−１次）接線方向回折レーザービームからな
る。さらにピックアップには、半径方向と接線方向のテ
ィルトによる反射レーザービームの干渉を測定する2つ
の検出器を取り付ける。ディスクの半径方向と接線方向
のティルトに応じて反射手段は制御され、ディスクティ
ルトに誘発されるコマを補正するために、ピックアップ
の読み取りレーザービームの入射角を変えるように動作
する。本発明の他の目的、特長、および有利性は、以下
の好適であるが限定的ではない実施形態の詳細な説明か
ら明らかになる。添付図面を参照して説明する。
に、検出のために複数のレーザービームを発生させる2
次元（2-D）回析格子を取り付ける。これらのレーザー
ビームは、ゼロ次（0次）回折レーザービーム、＋１,−
1 次半径方向回折レーザービーム、および＋−1次（＋
１次および−１次）接線方向回折レーザービームからな
る。さらにピックアップには、半径方向と接線方向のテ
ィルトによる反射レーザービームの干渉を測定する2つ
の検出器を取り付ける。ディスクの半径方向と接線方向
のティルトに応じて反射手段は制御され、ディスクティ
ルトに誘発されるコマを補正するために、ピックアップ
の読み取りレーザービームの入射角を変えるように動作
する。本発明の他の目的、特長、および有利性は、以下
の好適であるが限定的ではない実施形態の詳細な説明か
ら明らかになる。添付図面を参照して説明する。
【００１１】
【発明の実施の形態】図1から、本発明によると、デー
タアクセスと、光ディスク30のディスクティルトを検出
するピックアップは、レーザー光源10、2次元（2-D）回
折格子20、光学システム、検出回路50、および駆動装置
60からなる。半導体レーザーのようなレーザー光源10は
レーザービームを発生させ、データアクセスと、ディス
クティルトを検出する。2-D回折格子20はディスクティ
ルトを検出するために、レーザー光源10からのレーザー
ビームを、光ディスク30の接線方向および半径方向への
複数のレーザービームに回折する。本発明によるピック
アップの光学システムは、データアクセスとディスクテ
ィルト検出ができるように、ビーム分割器40、コリメー
タ42、反射装置44および対物レンズ46からなる。検出回
路50は、光ディスク30から反射された回折レーザービー
ムの光強度を、光ディスク30に記録されたデータ信号
と、接線方向と半径方向へのティルト信号とに変換す
る。本発明によれば、駆動装置60は、ディスクティルト
により誘発されるコマを補正するために、光ディスク30
に集められたいかなるピックアップのレーザービームの
入射角をも変えられるように反射装置44の反射角を調整
できる。
タアクセスと、光ディスク30のディスクティルトを検出
するピックアップは、レーザー光源10、2次元（2-D）回
折格子20、光学システム、検出回路50、および駆動装置
60からなる。半導体レーザーのようなレーザー光源10は
レーザービームを発生させ、データアクセスと、ディス
クティルトを検出する。2-D回折格子20はディスクティ
ルトを検出するために、レーザー光源10からのレーザー
ビームを、光ディスク30の接線方向および半径方向への
複数のレーザービームに回折する。本発明によるピック
アップの光学システムは、データアクセスとディスクテ
ィルト検出ができるように、ビーム分割器40、コリメー
タ42、反射装置44および対物レンズ46からなる。検出回
路50は、光ディスク30から反射された回折レーザービー
ムの光強度を、光ディスク30に記録されたデータ信号
と、接線方向と半径方向へのティルト信号とに変換す
る。本発明によれば、駆動装置60は、ディスクティルト
により誘発されるコマを補正するために、光ディスク30
に集められたいかなるピックアップのレーザービームの
入射角をも変えられるように反射装置44の反射角を調整
できる。
【００１２】レーザー光源10により発生したレーザービ
ームは、最初に2-D回折格子20を通過する。この時2-D回
折格子20は、このレーザービームを1つの主レーザービ
ームと複数の副レーザービームとに分解する。これらの
レーザービームはビーム分割器40、コリメータ42の順に
通過し、そこで平行にされる。平行にされたレーザービ
ームは次に、反射装置44によって対物レンズ46へ反射さ
れ、対物レンズ46によりデータアクセスとディスクティ
ルト検出のために光ディスク30に焦点が合わせられる。
次にこれらの集束レーザービームは光ディスク30の記録
層により反射され、対物レンズ46、反射装置44、コリメ
ータ42およびビーム分割器40の順に通過し、そこで検出
回路50の光感知装置へ反射される。検出回路50はこれら
逆レーザービームの光強度を、光ディスク30に記録され
ていたデータ信号と、接線方向と半径方向のティルト信
号とに変換する。駆動装置60は、算出されたティルト信
号に従って、光ディスク30に集束するレーザービームの
入射角を変化させるために反射装置44の反射角を調整し
て、ディスクティルトにより誘発されるコマを補正す
る。
ームは、最初に2-D回折格子20を通過する。この時2-D回
折格子20は、このレーザービームを1つの主レーザービ
ームと複数の副レーザービームとに分解する。これらの
レーザービームはビーム分割器40、コリメータ42の順に
通過し、そこで平行にされる。平行にされたレーザービ
ームは次に、反射装置44によって対物レンズ46へ反射さ
れ、対物レンズ46によりデータアクセスとディスクティ
ルト検出のために光ディスク30に焦点が合わせられる。
次にこれらの集束レーザービームは光ディスク30の記録
層により反射され、対物レンズ46、反射装置44、コリメ
ータ42およびビーム分割器40の順に通過し、そこで検出
回路50の光感知装置へ反射される。検出回路50はこれら
逆レーザービームの光強度を、光ディスク30に記録され
ていたデータ信号と、接線方向と半径方向のティルト信
号とに変換する。駆動装置60は、算出されたティルト信
号に従って、光ディスク30に集束するレーザービームの
入射角を変化させるために反射装置44の反射角を調整し
て、ディスクティルトにより誘発されるコマを補正す
る。
【００１３】本発明に従えば、ディスクティルトを検出
および補正する方法は少なくとも以下のステップからな
ることがわかる。a.光ディスク30の接線方向と半径方向
とへのティルトを検出するステップ、b.検出されたティ
ルト信号にもとづき、光ディスク30に集束するレーザー
ビームの入射角を変えるために、反射装置44の反射角を
調整するステップ。
および補正する方法は少なくとも以下のステップからな
ることがわかる。a.光ディスク30の接線方向と半径方向
とへのティルトを検出するステップ、b.検出されたティ
ルト信号にもとづき、光ディスク30に集束するレーザー
ビームの入射角を変えるために、反射装置44の反射角を
調整するステップ。
【００１４】2-D回折格子20は、図2に示すように、複数
の、半径方向に平行な直線と接線方向（すなわち光ディ
スク30のトラック方向）に平行な直線とからなる。2-D
回折格子により回折された主レーザービームはゼロ次回
折レーザービームであり、副レーザービームは半径方向
の＋１,−１ 次回折レーザービームと、接線方向の＋
１,−１ 次回折レーザービームとからなる。これらの
副レーザービームは主レーザービームに関して対称に配
置されている。図3には主レーザービームと副レーザー
ビームとの光ディスク30上への集束パターンが示されて
いて、それらはS1からS5（引用符の中の数字は2次元回
折の次数を示す）で表示されている。図4(A)および図5
(A)を参照すると、光ディスク30にディスクティルトが
発生していないので、すべての次回折レーザービームと
−1次回折レーザービームの入射角が等しい（φで表
示）。光感知装置に感知された、光ディスクから反射さ
れたレーザービームの光強度分布が、暗領域A1とA2とに
よって図式的に示されていて、A1とA2の面積は等しい
（A1=A2）。図4(B)および図5(B)を参照すると、光ディ
スク30上にティルト角θが存在しているので、＋１次回
折レーザービームと−１次回折レーザービームの入射角
はφθおよびφ+θである。さらに、光感知装置に感知
された、光ディスクから反射されたレーザービームの光
強度分布が、暗領域A1とA2とによって図式的に示されて
いて、A1とA2の面積は異なる（A1≠A2）。その結果、A1
とA2の面積の差によって、検出回路50の光感知装置は、
半径方向と接線方向への光ディスク30のティルト角を測
定することができる。
の、半径方向に平行な直線と接線方向（すなわち光ディ
スク30のトラック方向）に平行な直線とからなる。2-D
回折格子により回折された主レーザービームはゼロ次回
折レーザービームであり、副レーザービームは半径方向
の＋１,−１ 次回折レーザービームと、接線方向の＋
１,−１ 次回折レーザービームとからなる。これらの
副レーザービームは主レーザービームに関して対称に配
置されている。図3には主レーザービームと副レーザー
ビームとの光ディスク30上への集束パターンが示されて
いて、それらはS1からS5（引用符の中の数字は2次元回
折の次数を示す）で表示されている。図4(A)および図5
(A)を参照すると、光ディスク30にディスクティルトが
発生していないので、すべての次回折レーザービームと
−1次回折レーザービームの入射角が等しい（φで表
示）。光感知装置に感知された、光ディスクから反射さ
れたレーザービームの光強度分布が、暗領域A1とA2とに
よって図式的に示されていて、A1とA2の面積は等しい
（A1=A2）。図4(B)および図5(B)を参照すると、光ディ
スク30上にティルト角θが存在しているので、＋１次回
折レーザービームと−１次回折レーザービームの入射角
はφθおよびφ+θである。さらに、光感知装置に感知
された、光ディスクから反射されたレーザービームの光
強度分布が、暗領域A1とA2とによって図式的に示されて
いて、A1とA2の面積は異なる（A1≠A2）。その結果、A1
とA2の面積の差によって、検出回路50の光感知装置は、
半径方向と接線方向への光ディスク30のティルト角を測
定することができる。
【００１５】図6および図7を参照すると、検出回路50
は、第1組の光センサ（51aおよび51b）と第2組の光セン
サ（52aおよび52b）とを有する光感知装置、半径方向テ
ィルト検出回路70および接線方向ティルト検出回路80と
からなる。光センサ51aおよび51bのそれぞれは、反射さ
れた、光ディスク30の半径方向の＋１次および−1次レ
ーザービームの光強度を、半径方向のティルトを計算す
るのに用いられる第1および第2電気信号に変換する。同
様に光センサ52aおよび52bのそれぞれは、反射された、
光ディスク30の接線方向の＋１次および−1次レーザー
ビームの光強度を、接線方向のティルトを計算するのに
用いられる第3および第4電気信号に変換する。半径方向
ティルト検出回路70は第1および第2電気信号の差を計算
し、半径方向ティルト信号を発信する。同様に、接線方
向ティルト検出回路80は第3および第4電気信号の差を計
算し、接線方向ティルト信号を発信する。ピックアップ
がトラッキング動作すると、対物レンズ46は光ディスク
30の半径方向に沿って動く。この対物レンズ46の半径方
向への動きは、検出回路50の半径方向ティルト信号に大
いに影響を及ぼすが、接線方向ティルト信号にはほとん
ど影響を及ぼさない。ピックアップのトラッキング動作
の影響を軽減するために、半径方向ティルト検出回路70
には信号処理が必要とされる。半径方向ティルト信号は
ディスクの振れにより引き起こされるトラッキングエラ
ー信号によって変調され、そしてその周波数は対物レン
ズとティルト信号の移動周波数よりも高いので、ピック
アップのトラッキング動作の影響はフィルタを用いて軽
減できる。ピックアップのトラッキング動作の影響を軽
減するために、半径方向ティルト検出回路70は2つの増
幅器（71aおよび71b）、第1低域フィルタと遮断周波数F
1を有する復調回路とからなる2つの第1処理回路（75aお
よび75b）、遮断周波数F2を有する2つの第2低域フィル
タ（72aおよび72b）、2つの微分器（73aおよび73b）お
よび微分器74からなり、遮断周波数F1は遮断周波数F2よ
り高い。増幅器71aおよび71bはそれぞれ、第1組の光セ
ンサからの第1および第2電気信号を増幅するのに用いら
れる。次に第1および第2電気信号の増幅信号のそれぞれ
は、第1処理回路75aおよび75bへ伝達される。第1処理回
路75aは第1電気信号の増幅信号を処理し、回転する光デ
ィスク30の半径方向への振れ運動により誘発される、第
1電気信号内に寄生する信号を濾過して取り除く。それ
から第1処理回路75aはその処理信号を第2低域フィルタ7
2aへ送信する。低域フィルタ72aおよび72bは対物レンズ
46の動きによって誘発される、増幅され濾過された信号
内に寄生する信号を濾過して取り除く。第1電気信号の
濾過信号は微分器73aにおいてその増幅信号によって微
分され、同様に第2電気信号の濾過信号は微分器73bにお
いてその増幅信号によって微分される。微分器74は、微
分器73aおよび微分器73bのそれぞれから受け取った微分
信号の差を計算し、半径方向ティルト信号を発信する。
は、第1組の光センサ（51aおよび51b）と第2組の光セン
サ（52aおよび52b）とを有する光感知装置、半径方向テ
ィルト検出回路70および接線方向ティルト検出回路80と
からなる。光センサ51aおよび51bのそれぞれは、反射さ
れた、光ディスク30の半径方向の＋１次および−1次レ
ーザービームの光強度を、半径方向のティルトを計算す
るのに用いられる第1および第2電気信号に変換する。同
様に光センサ52aおよび52bのそれぞれは、反射された、
光ディスク30の接線方向の＋１次および−1次レーザー
ビームの光強度を、接線方向のティルトを計算するのに
用いられる第3および第4電気信号に変換する。半径方向
ティルト検出回路70は第1および第2電気信号の差を計算
し、半径方向ティルト信号を発信する。同様に、接線方
向ティルト検出回路80は第3および第4電気信号の差を計
算し、接線方向ティルト信号を発信する。ピックアップ
がトラッキング動作すると、対物レンズ46は光ディスク
30の半径方向に沿って動く。この対物レンズ46の半径方
向への動きは、検出回路50の半径方向ティルト信号に大
いに影響を及ぼすが、接線方向ティルト信号にはほとん
ど影響を及ぼさない。ピックアップのトラッキング動作
の影響を軽減するために、半径方向ティルト検出回路70
には信号処理が必要とされる。半径方向ティルト信号は
ディスクの振れにより引き起こされるトラッキングエラ
ー信号によって変調され、そしてその周波数は対物レン
ズとティルト信号の移動周波数よりも高いので、ピック
アップのトラッキング動作の影響はフィルタを用いて軽
減できる。ピックアップのトラッキング動作の影響を軽
減するために、半径方向ティルト検出回路70は2つの増
幅器（71aおよび71b）、第1低域フィルタと遮断周波数F
1を有する復調回路とからなる2つの第1処理回路（75aお
よび75b）、遮断周波数F2を有する2つの第2低域フィル
タ（72aおよび72b）、2つの微分器（73aおよび73b）お
よび微分器74からなり、遮断周波数F1は遮断周波数F2よ
り高い。増幅器71aおよび71bはそれぞれ、第1組の光セ
ンサからの第1および第2電気信号を増幅するのに用いら
れる。次に第1および第2電気信号の増幅信号のそれぞれ
は、第1処理回路75aおよび75bへ伝達される。第1処理回
路75aは第1電気信号の増幅信号を処理し、回転する光デ
ィスク30の半径方向への振れ運動により誘発される、第
1電気信号内に寄生する信号を濾過して取り除く。それ
から第1処理回路75aはその処理信号を第2低域フィルタ7
2aへ送信する。低域フィルタ72aおよび72bは対物レンズ
46の動きによって誘発される、増幅され濾過された信号
内に寄生する信号を濾過して取り除く。第1電気信号の
濾過信号は微分器73aにおいてその増幅信号によって微
分され、同様に第2電気信号の濾過信号は微分器73bにお
いてその増幅信号によって微分される。微分器74は、微
分器73aおよび微分器73bのそれぞれから受け取った微分
信号の差を計算し、半径方向ティルト信号を発信する。
【００１６】さらに、接線方向ティルト回路80の回路構
成は、図6に示した半径方向ティルト回路70の回路構成
と同様である。したがって、ディスクティルトにより誘
発されるコマを減少させるためには、ピックアップのレ
ーザービームは光ディスク30に直交するように、言い換
えれば集束レーザービームの入射角がゼロになるよう
に、焦点を合わせられなければならない。駆動装置60
は、光ディスク30のティルト角に応じて集束レーザービ
ームの入射角をゼロにするために、反射装置44の反射角
を調整する機能を果たす。
成は、図6に示した半径方向ティルト回路70の回路構成
と同様である。したがって、ディスクティルトにより誘
発されるコマを減少させるためには、ピックアップのレ
ーザービームは光ディスク30に直交するように、言い換
えれば集束レーザービームの入射角がゼロになるよう
に、焦点を合わせられなければならない。駆動装置60
は、光ディスク30のティルト角に応じて集束レーザービ
ームの入射角をゼロにするために、反射装置44の反射角
を調整する機能を果たす。
【００１７】図8には駆動装置60の実施形態が示されて
いる。ディスクティルトにより誘発されるコマは、反射
装置44を半径方向あるいは接線方向に沿って回転させる
ことにより減少させることができる。本発明の反射装置
44は鏡あるいは45度プリズムでよく、それは半径方向お
よび接線方向に沿って配置された複数の棒61a、61b、62
aおよび62bの自由端で支えられている。これらの棒61
a、61b、62aおよび62bの他方の端は固定されている。駆
動装置60は、第1組の圧電駆動器（63aおよび63b）と第2
組の圧電駆動器（64aおよび64b）とからなる。第1組の
圧電駆動器63aおよび63bのそれぞれは、一方の面が棒61
aおよび61bの固定端に配置され、もう一方の面はベース
67aに固く取り付けられている。同様に、第2組の圧電駆
動器64aおよび64bのそれぞれは、一方の面が棒62aおよ
び62bの固定端に配置され、もう一方の面はベース67bに
固く取り付けられている。検出回路50により発信された
半径方向ティルト信号に応じて、第1組の圧電駆動器63a
および63bは、接線方向に平行な軸を回転軸に反射装置4
4を回転させるために棒61aおよび61bを曲げるように励
磁されている。同様に、検出回路50により発信された接
線方向ティルト信号に応じて、第2組の圧電駆動器64aお
よび64bは、半径方向に平行な軸を回転軸に反射装置44
を回転させるために棒62aおよび62bを曲げるように励磁
されている。ティルト角は通常とても小さく、約0.5〜
0.6度なので、圧電駆動器はこの目的に適している。
いる。ディスクティルトにより誘発されるコマは、反射
装置44を半径方向あるいは接線方向に沿って回転させる
ことにより減少させることができる。本発明の反射装置
44は鏡あるいは45度プリズムでよく、それは半径方向お
よび接線方向に沿って配置された複数の棒61a、61b、62
aおよび62bの自由端で支えられている。これらの棒61
a、61b、62aおよび62bの他方の端は固定されている。駆
動装置60は、第1組の圧電駆動器（63aおよび63b）と第2
組の圧電駆動器（64aおよび64b）とからなる。第1組の
圧電駆動器63aおよび63bのそれぞれは、一方の面が棒61
aおよび61bの固定端に配置され、もう一方の面はベース
67aに固く取り付けられている。同様に、第2組の圧電駆
動器64aおよび64bのそれぞれは、一方の面が棒62aおよ
び62bの固定端に配置され、もう一方の面はベース67bに
固く取り付けられている。検出回路50により発信された
半径方向ティルト信号に応じて、第1組の圧電駆動器63a
および63bは、接線方向に平行な軸を回転軸に反射装置4
4を回転させるために棒61aおよび61bを曲げるように励
磁されている。同様に、検出回路50により発信された接
線方向ティルト信号に応じて、第2組の圧電駆動器64aお
よび64bは、半径方向に平行な軸を回転軸に反射装置44
を回転させるために棒62aおよび62bを曲げるように励磁
されている。ティルト角は通常とても小さく、約0.5〜
0.6度なので、圧電駆動器はこの目的に適している。
【００１８】図9は本発明による駆動装置60の別の実施
形態を示している。この実施形態では、第1の実施形態
の第2組の圧電駆動器64aおよび64bに取って代わって、1
組の電磁駆動器65および66が用いられている。これらの
電磁駆動器65および66のそれぞれは、ボイスコイル（44
2aおよび442b）と永久磁石441aおよび441bにより組み立
てることができる。電磁駆動器65および66のそれぞれ
は、反射装置44の2つの対向する側壁に配置されてい
る。磁気力を発生させるためにボイスコイル442aおよび
442bを励磁することによって、反射装置44は半径方向に
平行な軸を回転軸として回転することができる。
形態を示している。この実施形態では、第1の実施形態
の第2組の圧電駆動器64aおよび64bに取って代わって、1
組の電磁駆動器65および66が用いられている。これらの
電磁駆動器65および66のそれぞれは、ボイスコイル（44
2aおよび442b）と永久磁石441aおよび441bにより組み立
てることができる。電磁駆動器65および66のそれぞれ
は、反射装置44の2つの対向する側壁に配置されてい
る。磁気力を発生させるためにボイスコイル442aおよび
442bを励磁することによって、反射装置44は半径方向に
平行な軸を回転軸として回転することができる。
【００１９】以上で説明したディスクティルト検出・補
正の方法および装置は、説明するためだけの本発明の好
適な実施形態であり、開示された本発明の限界および範
囲を定義したつもりではないことがわかる。当業者であ
れば、本発明の範囲内でいくらでも修正および変形がな
されうることを理解されたい。
正の方法および装置は、説明するためだけの本発明の好
適な実施形態であり、開示された本発明の限界および範
囲を定義したつもりではないことがわかる。当業者であ
れば、本発明の範囲内でいくらでも修正および変形がな
されうることを理解されたい。
【図１】本発明によるピックアップの斜視図。
【図２】図1に示されたピックアップに使用されている2
次元回折格子の上面図。
次元回折格子の上面図。
【図３】図2に示された回折格子によって回折されたレ
ーザービームの集束パターンを示した図。
ーザービームの集束パターンを示した図。
【図４】(A)はディスクティルトが存在しない時の、本
発明のピックアップによる、光ディスク上に集束された
レーザービームの入射角を示した図、(B)はディスクテ
ィルトが存在する時の、本発明のピックアップによる、
光ディスク上に集束されたレーザービームの入射角を示
した図、
発明のピックアップによる、光ディスク上に集束された
レーザービームの入射角を示した図、(B)はディスクテ
ィルトが存在する時の、本発明のピックアップによる、
光ディスク上に集束されたレーザービームの入射角を示
した図、
【図５】(A)はディスクティルトが存在しない時の、本
発明のピックアップによる、光ディスクから反射された
回折レーザービームのエネルギー分布を示した図、(B)
はディスクティルトが存在する時の、本発明のピックア
ップによる、光ディスクから反射された回折レーザービ
ームのエネルギー分布を示した図。
発明のピックアップによる、光ディスクから反射された
回折レーザービームのエネルギー分布を示した図、(B)
はディスクティルトが存在する時の、本発明のピックア
ップによる、光ディスクから反射された回折レーザービ
ームのエネルギー分布を示した図。
【図６】本発明によるピックアップの検出回路の回路
図。
図。
【図７】本発明による検出器と回折レーザースポットと
の位置関係を示した図。
の位置関係を示した図。
【図８】ディスクティルトにより誘発されるコマを補正
するのに用いられる、本発明によるピックアップの駆動
装置の1つの実施形態を示した図。
するのに用いられる、本発明によるピックアップの駆動
装置の1つの実施形態を示した図。
【図９】本発明によるピックアップの駆動装置の別の実
施形態を示した図。
施形態を示した図。
【符号の説明】 10:レーザー光源 20:2次元回折格子 30:光ディスク 44:反射装置 46:対物レンズ 50:検出回路 51a光センサ 51b:光センサ 52a:光センサ 52b:光センサ 60:駆動装置 61a:棒 61b:棒 62a:棒 62b:棒 63a:圧電駆動器 63b:圧電駆動器 64a:圧電駆動器 64b:圧電駆動器 65:電磁駆動器 66:電磁駆動器 70:半径方向ティルト検出回路 72a:低域フィルタ 72b:低域フィルタ 73a:微分回路 73b:微分回路 80:接線方向ティルト検出回路 441a:永久磁石 441b:永久磁石 442a:ボイスコイル 442b:ボイスコイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 596170000 Ｎｏ．195，Ｃｈｕｎｇ Ｈｓｉｎｇ Ｒ ｏａｄ，Ｓｅｃ．４，Ｃｈｕｔｕｎｇ，Ｈ ｓｉｎｃｈｕ 31015， Ｔａｉｗａｎ, Ｒ．Ｏ．Ｃ. (72)発明者 何 明 鳳 台湾新竹市光復路一段403巷８弄６−４號 ３樓 Ｆターム(参考） 2H041 AA12 AB14 AC08 AZ02 AZ06 5D118 AA16 AA24 BA01 CA23 CC04 CC12 CD04 CD13 CF11 CG05 CG15 CG24 DB04 DB08 DB12 DC07 EA01 EA11 5D119 AA09 BA01 BB11 EA10 EB13 EC04 EC15 EC44 FA05 JA14 JA52 KA04 KA24
Claims (23)
- 【請求項１】 レーザー光源から発生したレーザービー
ムの光ディスクへの入射角を調整することによって、前
記光ディスクのディスクティルトを検出および補正する
装置であって、 前記光ディスクの半径方向および接線方向へのディスク
ティルトを検出するために、前記レーザービームを主レ
ーザービームと複数の副レーザービームとに回折する2
次元回折格子と、 前記光ディスクから反射された、前記主および副レーザ
ービームの光強度を、前記光ディスクの半径方向ティル
トを表わす半径方向ティルト信号と前記光ディスクの接
線方向のティルトを表わす接線方向ティルト信号とに変
換する検出回路と、 前記主および副レーザービームを前記光ディスクに反射
させるとともに、前記光ディスクの半径方向および接線
方向に回転する反射装置と、 前記半径方向ティルト信号と前記接線方向ティルト信号
とに応じて、前記主および副レーザービームの入射角を
変化させるために前記反射装置を回転させる駆動装置と
からなることを特徴とする光ディスクのディスクティル
トを検出および補正する装置。 - 【請求項２】 請求項1に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記2次元回折格子が、前記光ディスクの半径方向に平
行な複数の直線と、前記光ディスクの接線方向に平行な
複数の直線とによって画成されることを特徴とする光デ
ィスクのディスクティルトを検出および補正する装置。 - 【請求項３】 請求項1に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記主レーザービームはゼロ次回折レーザービームであ
り、 前記副レーザービームは半径方向の＋１次回折レーザー
ビームと−1次回折レーザービームと、接線方向の＋１
次回折レーザービームと−1次回折レーザービームとか
らなることを特徴とする光ディスクのディスクティルト
を検出および補正する装置。 - 【請求項４】 請求項3に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記検出回路は、前記光ディスクの半径方向の前記主レ
ーザービームと前記副レーザービームとを電気信号に変
換する第1組の光センサと、前記光ディスクの接線方向
の前記主レーザービームと前記副レーザービームとを電
気信号に変換する第2組の光センサと、前記第1組の光セ
ンサからの前記電気信号に従って前記半径方向ティルト
信号を発信する半径方向ティルト検出回路と、前記第2
組の光センサからの前記電気信号に従って前記接線方向
ティルト信号を発信する接線方向ティルト検出回路とか
らなることを特徴とする光ディスクのディスクティルト
を検出および補正する装置。 - 【請求項５】 請求項4に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記半径方向ティルト検出回路は低域フィルタ、復調回
路および微分回路からなることを特徴とする光ディスク
のディスクティルトを検出および補正する装置。 - 【請求項６】 請求項4に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記接線方向ティルト検出回路は低域フィルタ、復調回
路および微分回路からなることを特徴とする光ディスク
のディスクティルトを検出および補正する装置。 - 【請求項７】 請求項1に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記反射装置が鏡であることを特徴とする光ディスクの
ディスクティルトを検出および補正する装置。 - 【請求項８】 請求項1に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記反射装置が45度プリズムであることを特徴とする光
ディスクのディスクティルトを検出および補正する装
置。 - 【請求項９】 請求項1に記載の光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置において、 前記反射装置は前記光ディスクの半径方向および接線方
向に配置された複数の棒の自由端により支持され、前記
複数の棒の他方の端は固定されていることを特徴とする
光ディスクのディスクティルトを検出および補正する装
置。 - 【請求項１０】 請求項9に記載の光ディスクのディス
クティルトを検出および補正する装置において、 前記駆動装置は第1組の圧電駆動器と第2組の圧電駆動器
とからなり、 前記第1組の圧電駆動器は前記棒の固定端に配置され、
前記半径方向ティルト信号に従って、前記棒を曲げて、
前記光ディスクの接線方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられ、 前記第2組の圧電駆動器は前記棒の固定端に配置され、
前記接線方向ティルト信号に従って、前記棒を曲げて、
前記光ディスクの半径方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられることを特徴と
する光ディスクのディスクティルトを検出および補正す
る装置。 - 【請求項１１】 請求項1に記載の光ディスクのディス
クティルトを検出および補正する装置において、 前記駆動装置は1対の棒と、 前記光ディスクの接線方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられる1対の圧電駆
動器と、 前記光ディスクの半径方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられる1対の電磁駆
動器とからなることを特徴とする光ディスクのディスク
ティルトを検出および補正する装置。 - 【請求項１２】 請求項11に記載の光ディスクのディス
クティルトを検出および補正する装置において、 前記棒の一方の端が固定されていて、もう一方の端は自
由で、前記反射装置を支持するために用いられていて、 前記圧電駆動器は前記棒の固定端に配置されていて、前
記検出回路の前記半径方向ティルト信号に従って、前記
棒を曲げて、前記光ディスクの接線方向に平行な軸を回
転軸として前記反射装置を回転させるために用いられる
ことを特徴とする光ディスクのディスクティルトを検出
および補正する装置。 - 【請求項１３】 請求項11に記載の光ディスクのディス
クティルトを検出および補正する装置において、 前記反射装置の2つの対向する側壁に配置された、前記
電磁駆動器のそれぞれがボイスコイルと永久磁石とから
なり、前記検出回路の前記接線方向ティルト信号に従っ
て、磁気力を発生させ、前記光ディスクの半径方向に平
行な軸を回転軸として前記反射装置を回転させることを
特徴とする光ディスクのディスクティルトを検出および
補正する装置。 - 【請求項１４】 半径方向ティルト信号と接線方向ティ
ルト信号とに従って、レーザー光源から発生したレーザ
ービームの光ディスクへの入射角を変化させることによ
って、光ディスクのディスクティルトを補正する装置で
あって、 前記レーザービームを前記光ディスクへ反射させるとと
もに、前記光ディスクの前記半径方向と前記接線方向と
に回転する反射装置と、前記半径方向ティルト信号と前
記接線方向ティルト信号とに従って、前記レーザービー
ムの入射角を変化させるように前記反射装置を回転させ
る駆動装置とからなることを特徴とする光ディスクのデ
ィスクティルトを補正する装置。 - 【請求項１５】 請求項14に記載の光ディスクのディス
クティルトを補正する装置において、 前記反射装置は45度プリズムであることを特徴とする光
ディスクのディスクティルトを補正する装置。 - 【請求項１６】 請求項14に記載の光ディスクのディス
クティルトを補正する装置において、 前記反射装置は前記光ディスクの半径方向および接線方
向に配置された複数の棒の自由端により支持され、前記
複数の棒の他の端が固定されていることを特徴とする光
ディスクのディスクティルトを補正する装置。 - 【請求項１７】 請求項16に記載の光ディスクのディス
クティルトを補正する装置において、 前記駆動装置は第1組の圧電駆動器と第2組の圧電駆動器
とからなり、 前記第1組の圧電駆動器は前記棒の固定端に配置され、
前記半径方向ティルト信号に従って、前記棒を曲げて、
前記光ディスクの接線方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられ、 前記第2組の圧電駆動器は前記棒の固定端に配置され、
前記接線方向ティルト信号に従って、前記棒を曲げて、
前記光ディスクの半径方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられることを特徴と
する光ディスクのディスクティルトを補正する装置。 - 【請求項１８】 請求項16に記載の光ディスクのディス
クティルトを補正する装置において、 前記駆動装置は1対の棒と、 前記光ディスクの接線方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いらる1対の圧電駆動
器と、 前記光ディスクの半径方向に平行な軸を回転軸として前
記反射装置を回転させるために用いられる1対の電磁駆
動器とからなることを特徴とする光ディスクのディスク
ティルトを補正する装置。 - 【請求項１９】 請求項18に記載の光ディスクのディス
クティルトを補正する装置において、 前記棒の一方の端が固定されていて、もう一方の端は自
由で、前記反射装置を支持するために用いられていて、 前記圧電駆動器は前記棒の固定端に配置されていて、前
記検出回路の前記半径方向ティルト信号に従って、前記
棒を曲げて、前記反射装置を回転させるために用いられ
ることを特徴とする光ディスクのディスクティルトを補
正する装置。 - 【請求項２０】 請求項18に記載の光ディスクのディス
クティルト補正装置において、 前記反射装置の2つの対向する側壁に配置された、前記
電磁駆動器のそれぞれがボイスコイルと永久磁石とから
なり、前記検出回路の前記接線方向ティルト信号に従っ
て、磁気力を発生させ、前記反射装置を回転させること
を特徴とする光ディスクのディスクティルト補正装置。 - 【請求項２１】 レーザービームを発生させるレーザー
光源と、反射装置と、前記レーザービームの前記光ディ
スクへの入射角を変化させるための前記反射装置の反射
角を調整する対物レンズとからなるピックアップを採用
することにより、光ディスクのディスクティルトを検出
および補正する方法であって、 前記レーザービームを前記光ディスクに集束させ、 前記レーザービームを、ゼロ次回折レーザービームと、
前記ゼロ次回折レーザービームと前記光ディスクの半径
方向において対称に配置された第1組の＋１および−１
次回折レーザービームと、前記ゼロ次回折レーザービ
ームと前記光ディスクの接線方向において対称に配置さ
れた第2組の＋１および−１ 次回折レーザービームと
に回折するステップと、 前記第1組の＋１および−１ 次回折レーザービームと
前記光ディスクから反射された前記ゼロ次回折レーザー
ビームの光強度を第1電気信号と第2電気信号とに変換す
るステップと、 前記第2組の＋１および−１ 次回折レーザービームと
前記光ディスクから反射された前記ゼロ次回折レーザー
ビームの光強度を第3電気信号と第4電気信号とに変換す
るステップと、 前記第1電気信号と前記第2電気信号との差を半径方向テ
ィルト信号として算出するステップと、 前記第3電気信号と前記第4電気信号との差を接線方向テ
ィルト信号として算出するステップと、 前記半径方向ティルト信号に従って、前記レーザービー
ムの前記光ディスクへの入射角を変化させるために、前
記光ディスクの接線方向に平行な軸を回転軸として前記
反射装置を回転させるステップと、 前記接線方向ティルト信号に従って、前記レーザービー
ムの前記光ディスクへの入射角を変化させるために、前
記光ディスクの半径方向に平行な軸を回転軸として前記
反射装置を回転させるステップとからなることを特徴と
する光ディスクのディスクティルトを検出および補正す
る方法。 - 【請求項２２】 請求項21に記載の光ディスクのディス
クティルトを検出および補正する方法において、 前記第1電気信号と前記第2電気信号との差を計算する前
記ステップはさらに、 第1低域フィルタと復調回路からなる第1処理回路を用い
ることにより、前記光ディスクの回転の振れにより誘発
される寄生信号を含んだ前記第1電気信号を濾過して、
前記寄生信号を取り除いた第1処理電気信号に処理する
ステップと、 第2低域フィルタを用いることにより、前記対物レンズ
の動きにより誘発される寄生信号を含んだ前記第1処理
電気信号を濾過して、前記寄生信号を取り除いた第1濾
過電気信号に処理するステップと、 第2低域フィルタを用いることにより、前記対物レンズ
の動きにより誘発される寄生信号を含んだ前記第2処理
電気信号を濾過して、前記寄生信号を取り除いた第2濾
過電気信号に処理するステップと、 微分回路を用いることにより、前記第1濾過信号を前記
第1電気信号で第1微分電気信号に微分するステップと、 微分回路を用いることにより、前記第2濾過信号を前記
第2電気信号で第2微分電気信号に微分するステップと、 微分回路を用いることにより、前記第1微分電気信号と
前記第2微分信号との差を計算して前記半径方向ティル
ト信号として算出するステップとからなることを特徴と
する光ディスクのディスクティルトを検出および補正す
る方法。 - 【請求項２３】 請求項21に記載の光ディスクのディス
クティルトを検出および補正する方法において、 前記第3電気信号と前記第4電気信号の差を計算する前記
ステップはさらに、 第1低域フィルタと復調回路からなる第1処理回路を用い
ることにより、前記光ディスクの回転の振れにより誘発
される寄生信号を含んだ前記第3電気信号を濾過して、
前記寄生信号を取り除いた第3処理電気信号に処理する
ステップと、 第2低域フィルタを用いることにより、前記対物レンズ
の動きにより誘発される寄生信号を含んだ前記第3処理
電気信号を濾過して、前記寄生信号を取り除いた第3濾
過電気信号に処理するステップと、 第2低域フィルタを用いることにより、前記対物レンズ
の動きにより誘発される寄生信号を含んだ前記第4処理
電気信号を濾過して、前記寄生信号を取り除いた第4濾
過電気信号に処理するステップと、 微分回路を用いることにより、前記第3濾過信号を前記
第3電気信号で第3微分電気信号に微分するステップと、 微分回路を用いることにより、前記第4濾過信号を前記
第4電気信号で第4微分電気信号に微分するステップと、 微分回路を用いることにより、前記第3微分電気信号と
前記第4微分信号の差を計算して前記接線方向ティルト
信号として算出するステップとからなることを特徴とす
る光ディスクのディスクティルトを検出および補正する
方法。
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