JP2000349563A - 電力増幅器 - Google Patents

電力増幅器

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JP2000349563A
JP2000349563A JP11154567A JP15456799A JP2000349563A JP 2000349563 A JP2000349563 A JP 2000349563A JP 11154567 A JP11154567 A JP 11154567A JP 15456799 A JP15456799 A JP 15456799A JP 2000349563 A JP2000349563 A JP 2000349563A
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bias
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resistance
power amplifier
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JP11154567A
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Morio Nakamura
守雄 中村
Toshimichi Ota
順道 太田
Masahiro Maeda
昌宏 前田
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で温度補償回路を実現し、温度変
化に対して安定して動作する電力増幅器を実現できるよ
うにする。 【解決手段】 バイアス生成回路20において、抵抗値
がR1の第1の抵抗器21、及び抵抗値がR2で且つ抵
抗温度係数が第1の抵抗器21の抵抗温度係数よりも大
きい第2の抵抗器22が直列に接続されている。第1の
抵抗器21及び第2の抵抗器22の共通接続部はゲート
端子11gと接続されている。第1の抵抗器21の共通
接続部と反対側の端子は、負のバイアス電圧Vggが供給
されるバイアス供給端子23と接続されており、第2の
抵抗器22の共通接続部と反対側の端子は接地端子24
と接続されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力増幅用半導体
素子とチップ部品とを用いた高周波電力増幅回路からな
る電力増幅器において、消費電力量の温度補償が可能な
バイアス回路を有する電力増幅器に関する。
【0002】
【従来の技術】移動体通信システムの送信部に用いられ
ている電力増幅モジュールは、マイクロストリップ線路
が配されたプリント基板上に、電力増幅用半導体素子と
しての、例えば、GaAs半導体からなる電界効果型ト
ランジスタ(以下、単にFETと略称する。)と抵抗器
や容量等のチップ部品とが実装された電力増幅器であ
る。とりわけ、移動体通信システムの基地局等に用いら
れるような高出力特性が必要とされる電力増幅モジュー
ルは、その電力消費量が非常に多いため、該モジュール
の温度設計が極めて重要となってくる。
【0003】以下、従来の電力増幅モジュールについて
図面を参照しながら説明する。
【0004】図10は特開平第6−120414号公報
に開示されている高周波電力増幅モジュールの入力側の
バイアス回路を示している。図10に示すように、FE
T101の高周波信号の入力端子であるゲート端子10
1gにはバイアス回路110が接続されている。バイア
ス回路110は、抵抗値がR1の第1の抵抗器111、
抵抗値がR2の第2の抵抗器112及び抵抗値がR3の
第3の抵抗器113が直列に接続され、第1の抵抗器1
11と第3の抵抗器113との共通接続部とゲート端子
101gとが接続されている。第1の抵抗器111にお
ける共通接続部と反対側の端子は、負のバイアス電圧V
ggが供給されるバイアス供給端子114と接続されてい
る。
【0005】第1〜第3の抵抗器111〜113の抵抗
分割により、バイアス電圧Vggが分圧され、FET10
1のゲート端子101gに所望のゲートバイアス電圧が
印加される。ここで、発振を防ぐための安定器として設
けられている第3の抵抗器113はその抵抗値R3が5
0Ω程度と比較的小さく、一方、バイアス回路110の
インピーダンスを大きくすることにより、高周波電力の
損失を防ぐと共にゲート電流を低減するため、第1の抵
抗器R1及び第2の抵抗器R2は、通常、数百Ω〜数十
kΩの抵抗値を持つことが多く、ゲート端子101gに
印加されるバイアス電圧は実質的に第1の抵抗器111
及び第2の抵抗器112による分圧比によって決定され
る。
【0006】このような従来の高周波電力増幅モジュー
ルでは、バイアス回路110の分圧用抵抗器としての第
1及び第2の抵抗器111、112の各抵抗値の温度変
化を無視できる程度の、すなわち、各抵抗器の抵抗温度
係数が−200ppm/℃〜+200ppm/℃に収ま
る程度のチップ抵抗器が広く用いられている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の高周波電力増幅モジュールは、温度変化による動作
電流の変動が大きいという問題がある。
【0008】図11は従来の高周波電力増幅モジュール
の温度特性の一例を示している。図11において、横軸
にFETの動作温度としてのケース(筐体)温度を取
る。縦軸には、動作電圧を10Vとして、左側に消費電
流を取り、右側に消費電力を取っている。一般に、FE
Tの動作温度が上昇すると、該FETの動作電流が増加
する。特に、図10に示すような抵抗分圧を用いるバイ
アス回路110においては、ドレイン端子101dに流
れる通常の動作電流の他にゲート端子101gに流れる
ゲートリーク電流が温度上昇に伴って増加するため、第
1の抵抗器111における電位変動により、ゲート端子
101gに供給されるバイアス電位が高くなり、その結
果、動作電流がますます増加することにより、動作温度
がさらに上昇するという正帰還現象が起こる。動作温度
がさらに上昇すると、やがてゲート端子101gの制御
が不能となり、いわゆる熱暴走状態に陥る。このとき、
分圧抵抗の抵抗値が大きい程、ゲートリーク電流の増加
による電位変動が大きくなるので、温度上昇に伴う動作
電流の増加傾向が顕著になる。
【0009】そこで、一般に、電力増幅モジュールは、
図11の直線1に示すように、FET101の動作温度
(チャネル温度)に対して、安定した動作を保証するた
めに負の傾きを持つ最大消費電力(定格消費電力)が定
められており、必ずこの定格電力以下の温度領域で使用
しなければならない。従って、直線2に示すような動作
特性の場合には、動作温度が最高使用温度である100
℃近くにまで上昇すると、電流の増加により定格消費電
力を超えてしまうとになる。従って、温度上昇時の消費
電力を定格値以下に抑えるためには、破線3で示すよう
に、電流値が全体に小さくなるようにゲート端子101
gに印加されるバイアス電圧の設定値を下げざるを得な
い。
【0010】一般に、電力増幅器の消費電力と高周波特
性における歪み特性とはトレードオフの関係にあり、ゲ
ート端子101gに印加されるバイアス電圧を電流値が
小さくなるように設定すると歪み特性が劣化する。この
ため、消費電流の設定値を下げることなく、歪み特性を
維持するには、温度補償回路を内蔵するか又は外部に温
度補償回路を設ける等の付加手段が必要となり、その結
果、モジュールのサイズや製造費用が大幅に増加する。
【0011】例えば、移動体通信システムの基地局とし
て用いる場合においては、電力増幅モジュールの消費電
力量が数Wから数百Wと大きいため、モジュールの発熱
量が非常に多くなる。その結果、ケース温度に対してF
ET101の動作温度が非常に高くなるので、定格消費
電力値に対する制約が一段と厳しくなる。前述したよう
に、従来の温度補償回路を持たない電力増幅モジュール
の場合には、高周波特性及び温度特性を共に満足するこ
とは困難であり、小型で且つ低コストの温度補償付き電
力増幅モジュールが強く要望されている。
【0012】本発明は、前記従来の問題に鑑み、簡単な
構成で温度補償回路を実現し、温度変化に対して安定し
て動作する小型で且つ低コストの電力増幅器を実現でき
るようにすることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明は、電力増幅器のバイアス回路を、直列接続
された抵抗分割を行なう2つの抵抗器のうち、接地側の
抵抗器の抵抗温度係数がバイアス供給側の抵抗器の抵抗
温度係数よりも大きい構成とする。
【0014】具体的に、本発明に係る第1の電力増幅器
は、入力信号を入力端子に受け、受けた入力信号を増幅
して出力する増幅素子と、第1のバイアス基準電位が供
給される第1の供給端子及び第1のバイアス基準電位よ
りも高い第2のバイアス基準電位が供給される第2の供
給端子とを有し、第1のバイアス基準電位及び第2のバ
イアス基準電位に基づいて増幅素子の入力端子に所定の
バイアス電位を供給するバイアス供給回路とを備え、バ
イアス供給回路は、入力端子及び第1の供給端子の間に
設けられている第1の抵抗器と、入力端子及び第2の供
給端子の間に設けられ、抵抗温度係数が前記第1の抵抗
器よりも大きい第2の抵抗器とを有している。
【0015】第1の電力増幅器によると、増幅素子の入
力端子と第2の供給端子との間には、第1の供給端子側
に設けられている第1の抵抗器よりも抵抗温度係数が大
きい第2の抵抗器が設けられているため、増幅素子の動
作温度が上昇した場合に、第2の抵抗器の抵抗値の増加
分が第1の抵抗器の抵抗値の増加分よりも大きくなる。
このため、第1の抵抗器と第2の抵抗器との各抵抗値に
より決定されるバイアス電圧が低くなるので、増幅素子
がFETの場合には、該増幅素子の動作電流の増加が抑
制される。
【0016】第1の電力増幅器において、第1の抵抗器
及び第2の抵抗器が、所定の温度範囲における動作中の
増幅素子の温度上昇に対して増幅素子の動作電流が所定
の消費電力を超えないように設定されていることが好ま
しい。このようにすると、動作中の所定の温度範囲にお
いて、所定の消費電力、すなわち定格消費電力を超えな
くなるので、動作が安定する。
【0017】第1の電力増幅器において、第2の抵抗器
の抵抗温度係数は、第1の抵抗器の抵抗温度係数よりも
10倍以上大きいことが好ましい。このようにすると、
大抵のFETでは定格消費電力を超えないようにでき
る。
【0018】この場合に、第1の抵抗器の抵抗値が10
0Ω〜3kΩであることが好ましい。このようにする
と、消費電力値を定格消費電力よりも確実に小さくでき
る。
【0019】第1の電力増幅器において、第1の抵抗器
の抵抗温度係数は−200ppm/℃〜+200ppm
/℃であり、第2の抵抗器の抵抗温度係数は+2000
ppm/℃よりも大きいことが好ましい。
【0020】この場合にも、第1の抵抗器の抵抗値が1
00Ω〜3kΩであることが好ましい。
【0021】本発明に係る第2の電力増幅器は、それぞ
れが入力信号を入力端子に受け、受けた各入力信号を増
幅して出力する多段の増幅素子と、第1のバイアス基準
電位が供給される第1の供給端子及び第1のバイアス基
準電位よりも高い第2のバイアス基準電位が供給される
第2の供給端子とを有し、第1のバイアス基準電位及び
第2のバイアス基準電位に基づいて多段の増幅素子の各
入力端子に所定のバイアス電位を供給する複数のバイア
ス供給回路とを備え、多段の増幅素子のうちの少なくと
も最終段の増幅素子に対してバイアス電位を供給するバ
イアス供給回路は、該バイアス供給回路の入力端子及び
第1の供給端子の間に設けられている第1の抵抗器と、
入力端子及び第2の供給端子の間に設けられ、抵抗温度
係数が第1の抵抗器よりも大きい第2の抵抗器とを有し
ている。
【0022】第2の電力増幅器によると、多段の増幅素
子により増幅器が構成され、多段の増幅素子のうちの少
なくとも最終段のバイアス供給回路には、増幅素子の入
力端子と第2の供給端子との間に、第1の供給端子側に
設けられている第1の抵抗器よりも抵抗温度係数が大き
い第2の抵抗器が設けられているため、最終段の増幅素
子の消費電流の増加を抑制することができる。一般に多
段の増幅器の場合には、最終段の増幅素子が増幅器の消
費電力の電流制御に関して支配的となるため、該最終段
の増幅素子の消費電流を抑制することにより、電力増幅
器の動作電流の増加が抑制される。
【0023】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)本発明の第1
の実施形態について図面を参照しながら説明する。
【0024】図1は本発明の第1の実施形態に係る高周
波電力増幅器の主要部の回路構成を示している。図1に
示すように、本実施形態に係る電力増幅器は、例えば、
増幅素子としてのGaAsからなるFET11と、FE
T11の入力側に設けられ、FET11のバイアス電圧
を供給するバイアス供給回路20とを有している。
【0025】ソース端子11sが接地されたFET11
は、ゲート端子11gに高周波入力信号及びバイアス電
圧を受け、ドレイン端子11dに入力信号が増幅されて
なる増幅信号を出力する。
【0026】バイアス供給回路20において、抵抗値が
R1の第1の抵抗器21及び抵抗値がR2の第2の抵抗
器22が直列に接続され、該第1の抵抗器21及び第2
の抵抗器22の共通接続部はゲート端子11gと接続さ
れている。第1の抵抗器21の共通接続部と反対側の端
子は、第1のバイアス基準電位としての負のバイアス電
圧Vggが供給される第1の供給端子としてのバイアス供
給端子23と接続されており、第2の抵抗器22の共通
接続部と反対側の端子は、第2のバイアス基準電位とし
ての接地電位が供給される第2の供給端子としての接地
端子24と接続されている。なお、本明細書において
は、バイアス供給端子23に供給される電圧をバイアス
電圧Vggと呼び、該バイアス電圧Vggから抵抗分割によ
り分圧され、ゲート端子11gに印加される電圧をゲー
トバイアス電圧と呼ぶ。
【0027】本実施形態の特徴として、第2の抵抗器2
2の抵抗温度係数は第1の抵抗器21の抵抗温度係数よ
りも大きくなるように設定されている。
【0028】以下、このような感温型抵抗器を持つバイ
アス供給回路20の温度補償効果について通常のバイア
ス供給回路と比較しながら説明する。
【0029】図2は、第1の抵抗器21及び第2の抵抗
器22に、比較用としてそれぞれ温度変化に対して抵抗
値の変化がほとんど無視できるような通常のチップ抵抗
器を用いた場合の増幅器の動作温度と消費電流との関係
を示している。ここでは、第1の抵抗器21の抵抗値R
1を1kΩ、第2の抵抗器22の抵抗値R2を1.2k
Ωとし、バイアス電圧値Vggを−3V、使用可能な温度
範囲を0℃〜100℃としている。図2に示すように、
温度が80℃付近までは20度上昇するごとに、電流が
約0.08A程度増加している。さらに、温度が100
℃付近まで上昇すると、定格消費電力である3Aを超え
てしまうため、増幅器の動作を保証できなくなる。温度
が100℃以上となる領域においては、消費電流の増加
が加速され、熱暴走の兆候が見られる。従って、増幅器
の動作を100℃まで保証するには、室温(25℃)を
基準とすると、25℃から100℃までの75度の温度
上昇に対し、0.6Aの電流の増加分を抑制する必要が
ある。
【0030】図3は検討用として用いたFET11のド
レイン電流のゲートバイアス電圧依存性を示している。
実際に使用する電流値である2.5A付近において、ゲ
ートバイアス電圧が0.1V増加すると、ドレイン電流
は0.65Aだけ増加している。従って、図2におい
て、0.6Aの電流増加分を低減するには、負のゲート
バイアス電圧を0.1Vだけ小さく、すなわち絶対値を
大きくする必要がある。
【0031】FET11のゲート端子11gに印加され
るゲートバイアス電圧は、第1の抵抗器21の抵抗値R
1、第2の抵抗器22の抵抗値R2及びバイアス電圧V
ggから、 Vgg×R2/(R1+R2) で与えられるため、ゲートバイアス電圧の絶対値を大き
くするには、第2の抵抗器R2の抵抗値を大きくすれば
良い。
【0032】図4は第1の抵抗器21の抵抗値R1を1
kΩとし、第2の抵抗器22の抵抗値R2を1.2kΩ
から連続的に増大させた場合のFET11のゲート端子
11gに印加されるゲートバイアス電圧の変化の様子を
表わしている。図4に示すように、ゲートバイアス電圧
値の絶対値を0.1Vだけ大きくするには、抵抗値R2
を1.2kΩkから1.38kΩへと大きくすれば良
い。一般のチップ抵抗器の抵抗値の温度変化は、絶対値
で200ppm/℃以下であり、例えば、抵抗値が1k
Ωの抵抗器の場合は、温度が100度変化しても、抵抗
値の変化量は最大で20Ωとなり、無視できる程度の量
である。それに対して抵抗温度係数が2000ppm/
℃という大きい温度係数を持つ感温抵抗器の場合は、抵
抗値が1kΩの抵抗器で100度の温度変化に対して抵
抗値の変化量が200Ωとなる。
【0033】図5は温度が25℃のときの抵抗値R2が
1.2kΩの抵抗器における、抵抗温度係数と温度が1
00℃のときの抵抗値R2との関係を表わしている。図
5に示すように、第2の抵抗器22として抵抗温度係数
が2000ppm/℃の抵抗器を用いることにより、2
5℃から100℃への温度上昇に伴って、抵抗値R2を
1.2kΩから1.38kΩに増加させることができ
る。
【0034】図6は本実施形態に係る電力増幅器の動作
温度と消費電流との抵抗温度係数依存性を表わしてい
る。図6において、直線1は定格電流を表わし、曲線4
は第2の抵抗器22の抵抗温度係数が2400ppm/
℃の場合の消費電流の変化を表わしている。曲線5〜7
は比較用であって、曲線5は温度係数が0の場合を表わ
し、曲線6は温度係数が500ppm/℃の場合を表わ
し、曲線7は温度係数が1000ppm/℃の場合を表
わしている。なお、直線1において、定格消費電力は動
作電圧を一定とすると定格消費電流にのみ依存するた
め、ここでは定格消費電流としている。
【0035】図6の曲線7に示すように、温度係数が1
000ppm/℃程度であっても、動作温度が0℃から
100℃までは定格電流以下に抑えられているものの、
温度が徐々に上昇し始め、熱暴走の兆候がみられるた
め、温度補償効果は不十分である。
【0036】一方、曲線4に示すように、温度係数が2
400ppm/℃の場合の、消費電流値は、動作温度が
100℃を超えても増加しないため、室温付近における
電流値を低減しなくても高温まで十分に安定した動作が
可能となる。さらに動作温度が上昇して120℃に達し
ても消費電流は減少しており、動作特性は極めて安定で
ある。
【0037】このように、温度係数が小さいと補償でき
る温度範囲が狭くなり、温度係数が大きいほどより高温
まで温度補償を行なえることが分かる。従って、第2の
抵抗器22の抵抗温度係数は、第1の抵抗器21の抵抗
温度係数の10倍以上であることが好ましい。具体的に
は、一般に用いられるチップ抵抗器の温度係数は絶対値
で200ppm/℃以下であるため、第1の抵抗器21
として絶対値で200ppm/℃以下の温度係数を持つ
チップ抵抗器を用いるならば、第2の抵抗器22には温
度係数が2000ppm/℃よりも大きい感温抵抗器を
用いれば良い。
【0038】また、第1の抵抗器21の抵抗値R1は、
ゲートリーク電流が許容される範囲内において小さい方
が好ましい。なぜなら、高温時にゲートリーク電流が増
加する場合に、第1の抵抗器21を通ってゲートリーク
電流が流れるため、該第1の抵抗器21における電圧降
下が、FET11のゲートバイアス電圧値の上昇として
現われるからである。
【0039】図7は本実施形態に係る電力増幅器の動作
温度と消費電流との抵抗値(R1)依存性を表わしてい
る。図7において、直線1は定格消費電流を表わし、曲
線4Aは第1の抵抗器21の抵抗値R1が1kΩで且つ
第2の抵抗器22の抵抗値R2が1.2kΩの場合を表
わし、曲線4Bは抵抗値R1が2kΩで且つ抵抗値R2
が2.4kΩの場合を表わし、曲線4Cは抵抗値R1が
3kΩで且つ抵抗値R2が3.6kΩの場合を表わして
いる。ここでは、第2の抵抗器22の抵抗温度係数はい
ずれも2400ppm/℃であり、バイアス電圧値Vgg
はいずれも−3Vとしている。図7に示すように、第2
の抵抗器22の温度係数を2400ppm/℃と通常よ
りも大きい値の抵抗器を用いているにも関わらず、第1
の抵抗器21の抵抗値R1が3kΩと比較的大きい場合
には、動作温度が100℃を超えると消費電流が上昇し
始めており、熱暴走の兆候が見られる。従って、抵抗値
R1を3kΩよりも大きくすると、温度補償効果がなく
なるおそれがある。
【0040】このように、第1の抵抗器21の抵抗値R
1は、FET11のインピーダンスと比べてバイアス供
給回路20のインピーダンスが十分大きく且つゲートリ
ーク電流が許容される範囲内において可能な限り小さい
方が良い。具体的には、100Ω〜3kΩが好ましい。
【0041】以上、本実施形態によると、抵抗分圧によ
りゲートバイアス電圧値を決定するバイアス供給回路2
0において、接地側に設けられた第2の抵抗器22の抵
抗温度係数を通常のチップ抵抗器の抵抗温度係数よりも
大きくすることにより、動作温度の上昇時に、接地側の
第2の抵抗器22の抵抗値R2の自然増加によって、F
ET11の負のゲートバイアス電圧値の絶対値を大きく
(深く)できるバイアス制御を行なえる。その結果、外
付けの温度補償回路をわざわざ設ける必要がなく、簡単
な回路構成でありながら優れた温度補償効果を得ること
ができる。
【0042】このように、本実施形態に係る電力増幅器
は、従来の電流増幅器の回路構成に対して何ら変更を加
える必要がないため、増幅器のサイズ及びコストも従来
のものとほとんど変わらないので、温度特性に優れる共
に小型で且つ安価な電力増幅器を実現できる。
【0043】(第1の実施形態の第1変形例)以下、本
発明の第1の実施形態の一変形例について図面を参照し
ながら説明する。
【0044】図8は第1の実施形態の一変形例に係る高
周波電力増幅器の主要部の回路構成を示している。ここ
では、図8において、図1に示す構成要素と同一の構成
要素には同一の符号を付すことにより説明を省略する。
図8に示すように、本変形例に係るバイアス供給回路2
0は、FET11のゲート端子11gと第2の抵抗器2
2との間に接続され、抵抗値R3が50Ω程度の第3の
抵抗器25と、一方の電極が第3の抵抗器25と第2の
抵抗器22との間に接続され、他方の電極が接地された
キャパシタ26とをさらに備えている。
【0045】第3の抵抗器25及びキャパシタ26はF
ET11の発振を防ぐために設けられている。第3の抵
抗器25の抵抗値R3は50オーム程度と比較的小さい
ため、第2の抵抗器22の抵抗値R2を抵抗値R3と比
べて十分に大きく、例えば、数百Ω以上とすれば、FE
T11のゲート端子11gに供給される電圧は、第1の
抵抗器21と第2の抵抗器22の抵抗値との比によって
ほぼ決定される。従って、第3の抵抗器25の抵抗温度
係数は無視できるので、第2の抵抗器22に対してのみ
通常の10倍程度の抵抗温度係数を持つ感温抵抗器を用
いれば、第1の実施形態において説明したように、FE
T11の動作温度の上昇に伴って、第2の抵抗器22の
抵抗値R2が自然に増加し、定格消費電力を超えないよ
うにゲートバイアス値の絶対値を大きくするバイアス制
御を行なえるため、温度補償効果を確実に得ることがで
きる。
【0046】(第2の実施形態)以下、本発明の第2の
実施形態について図面を参照しながら説明する。
【0047】図9は本発明の第2の実施形態に係る高周
波電力増幅器の回路構成を示している。図9に示すよう
に、本実施形態に係る高周波電力増幅器は、増幅段を3
段構成とし、各増幅段の入力側には、インピーダンスの
整合をとる整合回路と入力信号のバイアスを供給するバ
イアス供給回路とがそれぞれ接続されている。
【0048】具体的には、増幅器の入力端子30と初段
の第1FET11Aの入力端子であるゲート端子との間
には、入力端子30と接続される機器と第1FET11
Aとのインピーダンスの整合をとる第1の整合回路31
が設けられている。第1の整合回路31の出力端子とゲ
ート端子との間には、抵抗値がR1の第1の抵抗器21
A及び抵抗値がR2の第2の抵抗器22Aからなる第1
のバイアス供給回路20Aが設けられている。
【0049】第1のバイアス供給回路20Aにおける第
1の抵抗器21A及び第2の抵抗器22Aの共通接続部
はゲート端子と接続され、第1の抵抗器21Aにおける
共通接続部と反対側の端子は、負のバイアス電圧Vggが
供給されるバイアス供給端子23と接続されており、第
2の抵抗器22Aにおける共通接続部と反対側の端子
は、接地端子24と接続されている。
【0050】第1FET11Aの出力端子であるドレイ
ン端子と第2FET11Bのゲート端子との間には、第
1FET11Aと第2FET11Bとのインピーダンス
の整合をとる第2の整合回路32が設けられている。第
2の整合回路32の出力端子とゲート端子との間には、
抵抗値がR3の第3の抵抗器21B及び抵抗値がR4の
第4の抵抗器22Bからなる第2のバイアス供給回路2
0Bが設けられている。
【0051】第2のバイアス供給回路20Bにおける第
3の抵抗器21B及び第4の抵抗器22Bの共通接続部
はゲート端子と接続され、第3の抵抗器21Bにおける
共通接続部と反対側の端子は、バイアス供給端子23と
接続されており、第4の抵抗器22Bにおける共通接続
部と反対側の端子は、接地端子24と接続されている。
【0052】第2FET11Bの出力端子であるドレイ
ン端子と、互いに並列接続された第3FET11C及び
第4FET11Dの共通ゲート端子との間には、第2F
ET11Bと第3及び第4FET11C、11Dとのイ
ンピーダンスの整合をとる第3の整合回路33が設けら
れている。第3の整合回路33の出力端子と共通ゲート
端子との間には、抵抗値がR5の第5の抵抗器21C及
び抵抗値がR6の第6の抵抗器22Cからなる第3のバ
イアス供給回路20Cが設けられている。
【0053】第3のバイアス供給回路20Cにおける第
5の抵抗器21C及び第6の抵抗器22Cの共通接続部
は共通ゲート端子と接続され、第5の抵抗器21Cにお
ける共通接続部と反対側の端子は、バイアス供給端子2
3と接続されており、第6の抵抗器22Cにおける共通
接続部と反対側の端子は、接地端子24と接続されてい
る。
【0054】第3の整合回路の出力端子と第3FET1
1Cのゲート端子との間には、第3の整合回路33と第
3FET11Cとのインピーダンスの整合をとる第4の
整合回路34Aが設けられ、第3の整合回路の出力端子
と第4FET11Dのゲート端子との間には、第3の整
合回路33と第4FET11Dとのインピーダンスの整
合をとる第5の整合回路34Bが設けられている。
【0055】第3FET11Cの出力端子であるドレイ
ン端子と増幅器の出力端子36との間には、第3FET
11Cと出力端子36に接続される機器とのインピーダ
ンスの整合をとる第6の整合回路35Aが設けられ、第
4FET11Dの出力端子であるドレイン端子と出力端
子36との間には、第4FET11Dと出力端子36に
接続される機器とのインピーダンスの整合をとる第7の
整合回路35Bが設けられている。
【0056】このように、多段構成の電力増幅器におけ
る複数のバイアス供給回路にバイアス電圧を供給するバ
イアス供給端子23が共有されている場合に、本発明は
有効となる。なぜなら、FETのゲートバイアス電圧を
変動させると、入力信号の高周波特性にも影響を与える
からである。このため、本発明により、例えば、最終段
のみのゲートバイアス電圧を制御すれば、バイアス電圧
Vggを可変としてすべてのFETのゲートバイアス電圧
を個別に制御するのと比べて、増幅器全体の高周波特性
の変動を抑制できる。
【0057】本実施形態の特徴として、多段構成の増幅
器における最終段である第3のバイアス供給回路20C
は、第6の抵抗器22Cの抵抗温度係数が、第5の抵抗
器21Cの抵抗温度係数よりも大きい。
【0058】このようにすると、多段構成の増幅器にお
いては、最終段のFETが増幅器の消費電力の電流制御
に対して支配的となるため、該最終段のFETのバイア
ス電圧値の絶対値が大きくなるので、該FET、ここで
は第3FET11C及び第4FET11Dの動作電流の
増加が抑制される。
【0059】従って、第1の実施形態と同様の条件を有
する第5の抵抗器21C及び第6の抵抗器22Cを用い
ることが好ましい。
【0060】すなわち、第3のバイアス供給回路20C
における第6の抵抗器22Cの抵抗温度係数は、第5の
抵抗器の抵抗温度係数よりも10倍以上大きいことが好
ましい。また、第5の抵抗器21Cに用いる通常のチッ
プ抵抗器の抵抗値の温度変化は±200ppm/℃以内
であるため、第6の抵抗器22Cには、抵抗温度係数が
2000ppm/℃よりも大きい感温抵抗器を用いると
良い。さらに、第5の抵抗器21Cの抵抗値R5は、1
00Ω〜3kΩとすれば良い。
【0061】以上、本実施形態によると、多段構成で且
つ電力を分配及び合成する高周波電力増幅器であって
も、抵抗分圧によりゲートバイアス電圧値を決定する最
終段の第3のバイアス供給回路20Cにおいて、接地側
に設けられた第6の抵抗器22Cの抵抗温度係数を通常
のチップ抵抗器の抵抗温度係数よりも大きくすることに
より、動作温度の上昇時に、接地側の第6の抵抗器22
の抵抗値R6の自然増加によって、第3FET11C及
び第4FET11Dの負のゲートバイアス電圧値の絶対
値を大きく(深く)できる。このため、簡単な回路構成
でありながら優れた温度補償効果を得ることができる。
また、第1FET11A及び第2FET11Bにおいて
はバイアス変動が生じないため、動作特性の変動が抑制
される。
【0062】さらに、本実施形態のように、バイアス供
給端子23を複数のバイアス供給回路により共有される
構成を採る場合は、外付けの温度補償回路を付加する構
成は、すべてのFETのゲートバイアス電圧が変動する
ため、動作特性の変動が大きい。
【0063】なお、最終段である第3のバイアス供給回
路20Cだけでなく、第1のバイアス供給回路20A又
は第2のバイアス供給回路20Bに対しても、接地側の
抵抗器の抵抗温度係数をバイアス電圧供給側の抵抗器の
抵抗温度係数よりも10倍程度以上大きくしてもよい。
【0064】このように、本実施形態に係る電力増幅器
は、多段増幅の場合は発熱量が多くなるため、1つのF
ETで構成するよりも温度設計の制約が厳しくなるが、
従来の回路構成に対して変更を加えることなく、温度特
性に優れると共に小型で且つ安価な電力増幅器を実現で
きる。
【0065】また、本実施形態においては、最終段の増
幅素子を第3FET11C及び第4FET11Dの並列
構成としたが、いずれか一方の構成でも本発明は有効で
ある。
【0066】また、第3のバイアス供給回路20Cが第
3FET11Cのゲート又は第4FET11Dのゲート
と直接接続されている構成の場合にも、本発明は有効で
ある。
【0067】
【発明の効果】本発明に係る第1の電力増幅器による
と、第1のバイアス基準電位よりも高い第2のバイアス
基準電位が供給される第2の供給端子側には、第1の抵
抗器よりも抵抗温度係数が大きい第2の抵抗器が設けら
れているため、動作温度が上昇すると、第1の抵抗器と
第2の抵抗器の各抵抗値により決定されるバイアス電圧
値が低くなる。その結果、増幅素子がFETの場合に
は、該増幅素子の動作電流の増加が抑制されるため、歪
み特性を良好にできる程度に消費電流値を高く設定して
も定格消費電力を超えないようにできるので、外付けの
温度補償回路を設けることなく、簡単な構成で動作特性
を良好にできる。
【0068】本発明に係る第2の電力増幅器によると、
多段の増幅素子により増幅器が構成される場合であって
も、増幅器の消費電力の電流制御に関して支配的である
最終段の増幅素子のみのバイアス電圧を制御できる。従
って、最終段の増幅素子のみのバイアス制御を行なえる
ため、増幅器の高周波特性の変動を抑えながら、増幅素
子の動作電流の増加が抑制されるので、外付けの温度補
償回路を設けずに、簡単な構成で動作特性を良好にでき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る高周波電力増幅
器の主要部を示す回路図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に係る高周波電力増幅
器におけるバイアス供給回路に従来の抵抗器を用いた場
合の増幅器の動作温度と消費電流との関係を示すグラフ
である。
【図3】本発明の第1の実施形態に係る増幅素子(FE
T)のドレイン電流のゲートバイアス電圧依存性を示す
グラフである。
【図4】本発明の第1の実施形態に係る高周波電力増幅
器における第2の抵抗器の抵抗値とゲートバイアス電圧
値との関係を示すグラフである。
【図5】本発明の第1の実施形態に係る高周波電力増幅
器における第2の抵抗器の温度係数と抵抗値との関係を
示すグラフである。
【図6】本発明の第1の実施形態に係る高周波電力増幅
器における動作温度と消費電流との抵抗温度係数依存性
を表わすグラフである。
【図7】本発明の第1の実施形態に係る高周波電力増幅
器における動作温度と消費電流との第1の抵抗器の抵抗
値依存性を表わすグラフである。
【図8】本発明の第1の実施形態の一変形例に係る高周
波電力増幅器の主要部を示す回路図である。
【図9】本発明の第2の実施形態に係る高周波電力増幅
器を示す回路図である。
【図10】従来の高周波電力増幅モジュールを示す回路
図である。
【図11】従来の高周波電力増幅モジュールの動作温度
特性を示すグラフである。
【符号の説明】
11 FET(増幅素子) 11g ゲート端子 11d ドレイン端子 11s ソース端子 20 バイアス供給回路 21 第1の抵抗器 22 第2の抵抗器 23 バイアス供給端子(第1の供給端子) 24 接地端子(第2の供給端子) 25 第3の抵抗器 26 キャパシタ 11A 第1FET(増幅素子) 11B 第2FET(増幅素子) 11C 第3FET(増幅素子) 11D 第4FET(増幅素子) 20A 第1のバイアス供給回路 20B 第2のバイアス供給回路 20C 第3のバイアス供給回路 30 入力端子 31 第1の整合回路 32 第2の整合回路 33 第3の整合回路 34A 第4の整合回路 34B 第5の整合回路 35A 第6の整合回路 35B 第7の整合回路 36 出力端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前田 昌宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5J090 AA01 AA41 CA02 CA57 CA81 CN01 CN03 FA08 FA10 FA12 FA20 FN06 FN09 HA09 HA25 HA29 HA43 HN20 KA12 KA29 KA48 MA08 MA19 MA23 SA14 TA01 TA02 TA04 5J091 AA01 AA41 CA02 CA57 CA81 FA08 FA10 FA12 FA20 FP08 GP02 GP05 HA09 HA25 HA29 HA43 KA12 KA29 KA48 MA08 MA19 MA23 SA14 TA01 TA02 TA04 UW08 5J092 AA01 AA41 CA02 CA57 CA81 FA08 FA10 FA12 FA20 HA09 HA25 HA29 HA43 KA12 KA29 KA48 MA08 MA19 MA23 SA14 TA01 TA02 TA04 VL08

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を入力端子に受け、受けた入力
    信号を増幅して出力する増幅素子と、 第1のバイアス基準電位が供給される第1の供給端子、
    及び前記第1のバイアス基準電位よりも高い第2のバイ
    アス基準電位が供給される第2の供給端子とを有し、前
    記第1のバイアス基準電位及び第2のバイアス基準電位
    に基づいて前記増幅素子の入力端子に所定のバイアス電
    位を供給するバイアス供給回路とを備え、 前記バイアス供給回路は、前記入力端子及び前記第1の
    供給端子の間に設けられている第1の抵抗器と、 前記入力端子及び前記第2の供給端子の間に設けられ、
    抵抗温度係数が前記第1の抵抗器よりも大きい第2の抵
    抗器とを有していることを特徴とする電力増幅器。
  2. 【請求項2】 前記第1の抵抗器及び前記第2の抵抗器
    は、所定の温度範囲における動作中の前記増幅素子の温
    度上昇に対して、前記増幅素子の動作電流が所定の消費
    電力を超えないように設定されていることを特徴とする
    請求項1に記載の電力増幅器。
  3. 【請求項3】 前記第2の抵抗器の抵抗温度係数は、前
    記第1の抵抗器の抵抗温度係数よりも10倍以上大きい
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の電力増幅器。
  4. 【請求項4】 前記第1の抵抗器の抵抗値は100Ω〜
    3kΩであることを特徴とする請求項3に記載の電力増
    幅器。
  5. 【請求項5】 前記第1の抵抗器の抵抗温度係数は−2
    00ppm/℃〜+200ppm/℃であり、前記第2
    の抵抗器の抵抗温度係数は+2000ppm/℃よりも
    大きいことを特徴とする請求項1又は2に記載の電力増
    幅器。
  6. 【請求項6】 前記第1の抵抗器の抵抗値は100Ω〜
    3kΩであることを特徴とする請求項5に記載の電力増
    幅器。
  7. 【請求項7】 それぞれが入力信号を入力端子に受け、
    受けた各入力信号を増幅して出力する多段の増幅素子
    と、 第1のバイアス基準電位が供給される第1の供給端子、
    及び前記第1のバイアス基準電位よりも高い第2のバイ
    アス基準電位が供給される第2の供給端子とを有し、前
    記第1のバイアス基準電位及び第2のバイアス基準電位
    に基づいて前記多段の増幅素子の各入力端子に所定のバ
    イアス電位を供給する複数のバイアス供給回路とを備
    え、 前記多段の増幅素子のうちの少なくとも最終段の増幅素
    子に対してバイアス電位を供給するバイアス供給回路
    は、該バイアス供給回路の入力端子及び前記第1の供給
    端子の間に設けられている第1の抵抗器と、 前記入力端子及び前記第2の供給端子の間に設けられ、
    抵抗温度係数が前記第1の抵抗器よりも大きい第2の抵
    抗器とを有していることを特徴とする電力増幅器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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