JP2000346903A - 集積回路装置用のテスト装置 - Google Patents
集積回路装置用のテスト装置Info
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31924—Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 少数の電圧源及び電流計で複数の集積回路装
置をテストでき、テスト価格をダウンさせうる集積回路
装置用のテスト装置を提供する。 【解決手段】 集積回路装置２１１と電気的に接続され
る複数個の端子２８１，２８２，２８３を備え、この複
数個の端子２８１，２８２，２８３より少数に設けられ
た電流を測る電流計２３１を有し、所定電圧を発生する
電圧源２２１を設け、集積回路装置２１１のテスト時に
所定電圧を電流計２３１を介して選択的に複数個の端子
２８１，２８２，２８３に伝達すると同時に電流計２３
１を介して所定電圧が伝達されない複数個の端子２８
１，２８２，２８３のうち一部の端子に所定電圧を直接
伝達する電流計接続制御部２６１を具備する。
置をテストでき、テスト価格をダウンさせうる集積回路
装置用のテスト装置を提供する。 【解決手段】 集積回路装置２１１と電気的に接続され
る複数個の端子２８１，２８２，２８３を備え、この複
数個の端子２８１，２８２，２８３より少数に設けられ
た電流を測る電流計２３１を有し、所定電圧を発生する
電圧源２２１を設け、集積回路装置２１１のテスト時に
所定電圧を電流計２３１を介して選択的に複数個の端子
２８１，２８２，２８３に伝達すると同時に電流計２３
１を介して所定電圧が伝達されない複数個の端子２８
１，２８２，２８３のうち一部の端子に所定電圧を直接
伝達する電流計接続制御部２６１を具備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は集積回路装置用のテ
スト装置に係り、特に複数本の電源ピンを具備する集積
回路装置において複数本の電源ピンに流れる電流を測定
するための集積回路装置用のテスト装置に関する。
スト装置に係り、特に複数本の電源ピンを具備する集積
回路装置において複数本の電源ピンに流れる電流を測定
するための集積回路装置用のテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】集積回路装置の製造工程が完了すると集
積回路装置が正常に動作するかを確認するために集積回
路装置のテスト工程が実行される。このテスト工程で
は、テスト装置を用いて集積回路装置の様々な特性を検
査することになる。この従来の集積回路装置用のテスト
装置は、集積回路装置の多様な変数（ｐａｒａｍｅｔｅ
ｒ）を測定することによってその機能を確認することで
集積回路装置の一部の機能を検出するように形成されて
いる。図１は、このような従来の集積回路装置用のテス
ト装置を複数本の電源ピンを有する集積回路装置に接続
した状態を示すブロック図である。
積回路装置が正常に動作するかを確認するために集積回
路装置のテスト工程が実行される。このテスト工程で
は、テスト装置を用いて集積回路装置の様々な特性を検
査することになる。この従来の集積回路装置用のテスト
装置は、集積回路装置の多様な変数（ｐａｒａｍｅｔｅ
ｒ）を測定することによってその機能を確認することで
集積回路装置の一部の機能を検出するように形成されて
いる。図１は、このような従来の集積回路装置用のテス
ト装置を複数本の電源ピンを有する集積回路装置に接続
した状態を示すブロック図である。
【０００３】図１に示すように、従来の集積回路装置用
のテスト装置１０１は、電圧源１２１，１２２，１２
３、電流計１３１，１３２，１３３、及び端子１８１，
１８２，１８３を具備している。ここで、集積回路装置
１１１、例えばメモリ及びロジックが併合された集積回
路装置は、電源ピン１４１，１４２，１４３を具備し、
この電源ピン１４１，１４２，１４３を介してメモリ及
びロジックを動作させるための電源電圧（ＶＣＣ）を外
部から供給している。また、集積回路装置の接地電圧
（ＧＮＤ）ピンは、接地されている。この集積回路装置
１１１の電源ピン１４１，１４２，１４３に流れる電流
を測定するために電源ピン１４１，１４２，１４３は、
端子１８１，１８２，１８３を介して電流計１３１，１
３２，１３３と接続され、この電流計１３１〜１３３は
電圧源１２１，１２２，１２３と接続される。この際、
各電源ピンには、一つの電流計及び一つの電圧源が接続
されている。
のテスト装置１０１は、電圧源１２１，１２２，１２
３、電流計１３１，１３２，１３３、及び端子１８１，
１８２，１８３を具備している。ここで、集積回路装置
１１１、例えばメモリ及びロジックが併合された集積回
路装置は、電源ピン１４１，１４２，１４３を具備し、
この電源ピン１４１，１４２，１４３を介してメモリ及
びロジックを動作させるための電源電圧（ＶＣＣ）を外
部から供給している。また、集積回路装置の接地電圧
（ＧＮＤ）ピンは、接地されている。この集積回路装置
１１１の電源ピン１４１，１４２，１４３に流れる電流
を測定するために電源ピン１４１，１４２，１４３は、
端子１８１，１８２，１８３を介して電流計１３１，１
３２，１３３と接続され、この電流計１３１〜１３３は
電圧源１２１，１２２，１２３と接続される。この際、
各電源ピンには、一つの電流計及び一つの電圧源が接続
されている。
【０００４】また、電源ピン１４１，１４２，１４３に
流れる電流を測定するために電圧源１２１，１２２，１
２３は、電源ピン１４１，１４２，１４３に所定の電源
電圧（ＶＣＣ）を供給し、電流計１３１，１３２，１３
３は電源ピン１４１，１４２，１４３に流れる電流を測
定する。電流計１３１，１３２，１３３により測定され
た電流がテスト規定の範囲内に含まれると、集積回路装
置１１１は正常であり、電源ピン１４１、１４２、１４
３に流れる電流がテスト規定の範囲内に含まれないと集
積回路装置１１１は不良として処理される。
流れる電流を測定するために電圧源１２１，１２２，１
２３は、電源ピン１４１，１４２，１４３に所定の電源
電圧（ＶＣＣ）を供給し、電流計１３１，１３２，１３
３は電源ピン１４１，１４２，１４３に流れる電流を測
定する。電流計１３１，１３２，１３３により測定され
た電流がテスト規定の範囲内に含まれると、集積回路装
置１１１は正常であり、電源ピン１４１、１４２、１４
３に流れる電流がテスト規定の範囲内に含まれないと集
積回路装置１１１は不良として処理される。
【０００５】このように従来の集積回路装置用のテスト
装置は、電源ピン１４１，１４２，１４３に流れる電流
を測定するために各電源ピン毎に一つの電圧源及び一つ
の電流計が接続されている。従って、電源ピン１４１，
１４２，１４３の数だけ電圧源及び電流計が必要とな
る。図１に示した集積回路装置１１１では、電源ピン１
４１，１４２，１４３の数が３本であるため、電圧源１
２１，１２２，１２３及び電流計１３１，１３２，１３
３の数も各々３つになる。
装置は、電源ピン１４１，１４２，１４３に流れる電流
を測定するために各電源ピン毎に一つの電圧源及び一つ
の電流計が接続されている。従って、電源ピン１４１，
１４２，１４３の数だけ電圧源及び電流計が必要とな
る。図１に示した集積回路装置１１１では、電源ピン１
４１，１４２，１４３の数が３本であるため、電圧源１
２１，１２２，１２３及び電流計１３１，１３２，１３
３の数も各々３つになる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の集積
回路装置用のテスト装置によれば、一つの集積回路装置
１１１をテストするためには、電源ピン１４１，１４
２，１４３と同一な数の電圧源１２１，１２２，１２
３、及び電流計１３１，１３２，１３３が要求される。
この電圧源１２１，１２２，１２３及び電流計１３１，
１３２，１３３は、値段が高く、特に電流計１３１，１
３２，１３３は高価なので、一つのテスト装備１０１に
は限られた所定数の電流計のみを保有するしかない。こ
のため、複数本の電源ピンを備える集積回路装置をテス
トするためには、複数の電圧源及び電流計が要求される
ため、それだけテスト価格が上昇することになる。
回路装置用のテスト装置によれば、一つの集積回路装置
１１１をテストするためには、電源ピン１４１，１４
２，１４３と同一な数の電圧源１２１，１２２，１２
３、及び電流計１３１，１３２，１３３が要求される。
この電圧源１２１，１２２，１２３及び電流計１３１，
１３２，１３３は、値段が高く、特に電流計１３１，１
３２，１３３は高価なので、一つのテスト装備１０１に
は限られた所定数の電流計のみを保有するしかない。こ
のため、複数本の電源ピンを備える集積回路装置をテス
トするためには、複数の電圧源及び電流計が要求される
ため、それだけテスト価格が上昇することになる。
【０００７】さらに、所定数の電圧源及び電流計を具備
するテスト装置を用いて複数個の集積回路装置を同時に
テストしようとする場合、テスト可能な集積回路装置の
数は極めて制限される。例えば、テスト装置が１２台の
電圧源及び電流計を具備して３本の電源ピンの集積回路
装置をテストする場合、テスト装置としては一回に４個
の集積回路装置しかテストできない。これは、集積回路
装置のテスト価格を上昇させる要因となっている。本発
明はこのような課題を解決し、少数の電圧源及び電流計
で複数の集積回路装置をテストでき、テスト価格をダウ
ンさせうる集積回路装置用のテスト装置を提供すること
を目的とする。
するテスト装置を用いて複数個の集積回路装置を同時に
テストしようとする場合、テスト可能な集積回路装置の
数は極めて制限される。例えば、テスト装置が１２台の
電圧源及び電流計を具備して３本の電源ピンの集積回路
装置をテストする場合、テスト装置としては一回に４個
の集積回路装置しかテストできない。これは、集積回路
装置のテスト価格を上昇させる要因となっている。本発
明はこのような課題を解決し、少数の電圧源及び電流計
で複数の集積回路装置をテストでき、テスト価格をダウ
ンさせうる集積回路装置用のテスト装置を提供すること
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明による集積回路装置用のテスト装置は、
集積回路装置の機能をテストする集積回路装置用のテス
ト装置において、集積回路装置と電気的に接続する複数
個の端子と、電流を測り複数個の端子より少数に設けら
れた少なくとも一つ以上の電流計と、所定電圧を発生す
る電圧源と、集積回路装置のテスト時に所定電圧を少な
くとも一つ以上の電流計を介して選択的に複数個の端子
に伝達するとともにこの時少なくとも一つ以上の電流計
を介して所定電圧が伝達されない複数個の端子のうち一
部の端子に所定電圧を直接伝達する電流計接続制御部と
を具備する。
ために、本発明による集積回路装置用のテスト装置は、
集積回路装置の機能をテストする集積回路装置用のテス
ト装置において、集積回路装置と電気的に接続する複数
個の端子と、電流を測り複数個の端子より少数に設けら
れた少なくとも一つ以上の電流計と、所定電圧を発生す
る電圧源と、集積回路装置のテスト時に所定電圧を少な
くとも一つ以上の電流計を介して選択的に複数個の端子
に伝達するとともにこの時少なくとも一つ以上の電流計
を介して所定電圧が伝達されない複数個の端子のうち一
部の端子に所定電圧を直接伝達する電流計接続制御部と
を具備する。
【０００９】ここで望ましくは、電圧源は、常に一定の
電圧を供給する定電圧源であり、テスト装備には電流計
接続制御部に接続されて制御信号を発生して電流計接続
制御部を制御する制御信号発生部をさらに具備すること
が好ましい。また、集積回路装置はメモリ及びロジック
を具備し、電流計接続制御部は複数個のスイッチング手
段を具備し、この複数個のスイッチング手段によって少
なくとも一つ以上の電流計は少なくとも一つ以上の電圧
源と前記複数個の端子とに選択的に接続するように設け
ることが好ましい。
電圧を供給する定電圧源であり、テスト装備には電流計
接続制御部に接続されて制御信号を発生して電流計接続
制御部を制御する制御信号発生部をさらに具備すること
が好ましい。また、集積回路装置はメモリ及びロジック
を具備し、電流計接続制御部は複数個のスイッチング手
段を具備し、この複数個のスイッチング手段によって少
なくとも一つ以上の電流計は少なくとも一つ以上の電圧
源と前記複数個の端子とに選択的に接続するように設け
ることが好ましい。
【００１０】また、本発明による集積回路装置用のテス
ト装置の他の実施の形態は、複数個の集積回路装置の機
能をテストする集積回路装置用のテスト装置において、
複数個の集積回路装置と電気的に接続する複数個の端子
と、所定の電圧を発生する電圧源と、少なくとも一つ以
上の電圧源と複数個の端子との間に電気的に接続されて
複数個の端子よりも少数に設けたれた複数個の電流測定
部を具備し、複数個の集積回路装置を同時にテストし、
複数個の電流測定部は集積回路装置の出力端に接続され
る所定の端子より少数に設けられた少なくとも一つ以上
の電流計及び一つの電流計接続制御部を具備して複数個
の集積回路装置をテストする時に所定の電圧を少なくと
も一つ以上の電流計を介して選択的に所定端子に伝達す
るとともにこの時少なくとも一つ以上の電流計を介して
所定電圧が伝達されない所定端子のうち一部の端子に所
定電圧を直接伝達するように設ける。
ト装置の他の実施の形態は、複数個の集積回路装置の機
能をテストする集積回路装置用のテスト装置において、
複数個の集積回路装置と電気的に接続する複数個の端子
と、所定の電圧を発生する電圧源と、少なくとも一つ以
上の電圧源と複数個の端子との間に電気的に接続されて
複数個の端子よりも少数に設けたれた複数個の電流測定
部を具備し、複数個の集積回路装置を同時にテストし、
複数個の電流測定部は集積回路装置の出力端に接続され
る所定の端子より少数に設けられた少なくとも一つ以上
の電流計及び一つの電流計接続制御部を具備して複数個
の集積回路装置をテストする時に所定の電圧を少なくと
も一つ以上の電流計を介して選択的に所定端子に伝達す
るとともにこの時少なくとも一つ以上の電流計を介して
所定電圧が伝達されない所定端子のうち一部の端子に所
定電圧を直接伝達するように設ける。
【００１１】ここで望ましくは、電圧源は常に一定の電
圧を供給する定電圧源であり、複数個の電流接続制御部
に接続されて制御信号を発生して複数個の電流計接続制
御部を制御する制御信号発生部をさらに具備することが
好ましい。また、複数個の集積回路装置は各々メモリ及
びロジックを具備し、各電流計接続制御部は複数個のス
イッチング手段を具備し、この複数個のスイッチング手
段によって少なくとも一つの電流計は前記少なくとも一
つ以上の電圧源と所定の端子とに選択的に接続するよう
に設けることが好ましい。
圧を供給する定電圧源であり、複数個の電流接続制御部
に接続されて制御信号を発生して複数個の電流計接続制
御部を制御する制御信号発生部をさらに具備することが
好ましい。また、複数個の集積回路装置は各々メモリ及
びロジックを具備し、各電流計接続制御部は複数個のス
イッチング手段を具備し、この複数個のスイッチング手
段によって少なくとも一つの電流計は前記少なくとも一
つ以上の電圧源と所定の端子とに選択的に接続するよう
に設けることが好ましい。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
による集積回路装置用のテスト装置の実施の形態を詳細
に説明する。図２は、本発明による集積回路装置用のテ
スト装置の第１の実施の形態を示すブロック図である。
また、図３は、図２に示した電流計接続制御部２３１の
内部構造を示す回路図である。
による集積回路装置用のテスト装置の実施の形態を詳細
に説明する。図２は、本発明による集積回路装置用のテ
スト装置の第１の実施の形態を示すブロック図である。
また、図３は、図２に示した電流計接続制御部２３１の
内部構造を示す回路図である。
【００１３】図２に示すように、本発明による集積回路
装置用のテスト装置２０１の第１の実施の形態は、電圧
源２２１、電流計接続制御部２６１、電流計２３１、制
御信号発生部２７１、及び端子２８１，２８２，２８３
を具備している。図２において、３本の電源ピン２４
１，２４２，２４３を備える集積回路装置２１１を例と
して説明しているが、これに限定されるものではなく、
例えば、電源ピン２４１，２４２，２４３の数を集積回
路装置２１１の特性に応じて減少及び増加することも可
能である。また、図２において、メモリ及びロジックを
内蔵する集積回路装置２１１を例として説明している
が、このメモリ及びロジックを内蔵する集積回路装置と
しては、例えば、ＤＲＡＭロジック複合集積回路装置、
メモリ内蔵ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ
Ｕｎｉｔ）集積回路装置、ラムバス（Ｒａｍｂｕｓ）Ｄ
ＲＡＭ集積回路装置などの集積回路装置がある。
装置用のテスト装置２０１の第１の実施の形態は、電圧
源２２１、電流計接続制御部２６１、電流計２３１、制
御信号発生部２７１、及び端子２８１，２８２，２８３
を具備している。図２において、３本の電源ピン２４
１，２４２，２４３を備える集積回路装置２１１を例と
して説明しているが、これに限定されるものではなく、
例えば、電源ピン２４１，２４２，２４３の数を集積回
路装置２１１の特性に応じて減少及び増加することも可
能である。また、図２において、メモリ及びロジックを
内蔵する集積回路装置２１１を例として説明している
が、このメモリ及びロジックを内蔵する集積回路装置と
しては、例えば、ＤＲＡＭロジック複合集積回路装置、
メモリ内蔵ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ
Ｕｎｉｔ）集積回路装置、ラムバス（Ｒａｍｂｕｓ）Ｄ
ＲＡＭ集積回路装置などの集積回路装置がある。
【００１４】また、集積回路装置２１１は、メモリ及び
ロジックを動作させるための電源電圧（ＶＣＣ）を外部
から供給し、接地電圧（ＧＮＤ）ピンを接地している。
この電圧源２２１は、常に一定の電圧を出力する定電圧
源である。また、電流計２３１は、電源ピン２４１，２
４２，２４３に流れる電流を測定し、端子より少なく設
けた少なくとも１つ以上が備えられている。また、制御
信号発生部２７１は、制御信号ＰＳＷ１乃至ＰＳＷ１２
を発生して電流計接続制御部２６１に提供するように形
成している。
ロジックを動作させるための電源電圧（ＶＣＣ）を外部
から供給し、接地電圧（ＧＮＤ）ピンを接地している。
この電圧源２２１は、常に一定の電圧を出力する定電圧
源である。また、電流計２３１は、電源ピン２４１，２
４２，２４３に流れる電流を測定し、端子より少なく設
けた少なくとも１つ以上が備えられている。また、制御
信号発生部２７１は、制御信号ＰＳＷ１乃至ＰＳＷ１２
を発生して電流計接続制御部２６１に提供するように形
成している。
【００１５】また、電流計接続制御部２６１は、電気線
Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３を介して電圧源２２１と接続され、電
気線Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６を介して端子２８１，２８２，２
８３に接続される。集積回路装置２１１のテスト時に端
子２８１，２８２，２８３は、集積回路装置２１１の電
源ピン２４１，２４２，２４３に１：１に接続される。
また、電流計接続制御部２６１は、制御信号ＰＳＷ１乃
至ＰＳＷ１２に応答して電圧源２２１が選択的に電流計
２３１に接続され、この電流計２３１を選択的に端子２
８１，２８２，２８３に電気的に接続する。即ち、制御
信号ＰＳＷ１乃至ＰＳＷ１２の活性化の成否に応じて電
圧源２２１は、電流計２３１を介して端子２８１，２８
２，２８３のうち一部の端子に接続され、電流計２３１
に接続されない端子は直接電圧源２２１に接続される。
こうして電圧源２２１と電流計２３１とが端子２８１，
２８２，２８３に接続されると、電圧源２２１は電源電
圧（ＶＣＣ）を端子２８１，２８２，２８３に供給す
る。電流計２３１は、端子２８１，２８２，２８３を介
して電源ピン２４１，２４２，２４３に流れる電流を測
定する。電流計２３１により測定された電流がテスト規
定内に含まれると集積回路装置２１１は正常であり、電
流計２３１により測定された電流がテスト規定内に含ま
れないと集積回路装置２１１は不良として処理される。
Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３を介して電圧源２２１と接続され、電
気線Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６を介して端子２８１，２８２，２
８３に接続される。集積回路装置２１１のテスト時に端
子２８１，２８２，２８３は、集積回路装置２１１の電
源ピン２４１，２４２，２４３に１：１に接続される。
また、電流計接続制御部２６１は、制御信号ＰＳＷ１乃
至ＰＳＷ１２に応答して電圧源２２１が選択的に電流計
２３１に接続され、この電流計２３１を選択的に端子２
８１，２８２，２８３に電気的に接続する。即ち、制御
信号ＰＳＷ１乃至ＰＳＷ１２の活性化の成否に応じて電
圧源２２１は、電流計２３１を介して端子２８１，２８
２，２８３のうち一部の端子に接続され、電流計２３１
に接続されない端子は直接電圧源２２１に接続される。
こうして電圧源２２１と電流計２３１とが端子２８１，
２８２，２８３に接続されると、電圧源２２１は電源電
圧（ＶＣＣ）を端子２８１，２８２，２８３に供給す
る。電流計２３１は、端子２８１，２８２，２８３を介
して電源ピン２４１，２４２，２４３に流れる電流を測
定する。電流計２３１により測定された電流がテスト規
定内に含まれると集積回路装置２１１は正常であり、電
流計２３１により測定された電流がテスト規定内に含ま
れないと集積回路装置２１１は不良として処理される。
【００１６】また、図３に示すように電流計接続制御部
２６１は、複数個のスイッチング手段、例えば第１乃至
第１２スイッチ３１１〜３２２を備えている。この第１
乃至第１２スイッチ３１１〜３２２は、制御信号ＰＳＷ
１乃至ＰＳＷ１２により各々制御されている。即ち、制
御信号ＰＳＷ１乃至ＰＳＷ１２が活性化すると、対応す
るスイッチがターンオンされる。例えば、制御信号ＰＳ
Ｗ１，ＰＳＷ７，ＰＷＳ１０が活性化すると、第１スイ
ッチ３１１、第７スイッチ３１７、及び第１０スイッチ
３２０がターンオンされ、それによって電気線Ｌ１は電
流計２３１を介して電気線Ｌ４と接続される。この場
合、第２及び第５スイッチ３１２，３１５と第３及び第
６スイッチ３１３，３１６とが共にターンオンされ、電
気線Ｌ２と電気線Ｌ５、及び電気線Ｌ３と電気線Ｌ６の
各々が相互に接続される。
２６１は、複数個のスイッチング手段、例えば第１乃至
第１２スイッチ３１１〜３２２を備えている。この第１
乃至第１２スイッチ３１１〜３２２は、制御信号ＰＳＷ
１乃至ＰＳＷ１２により各々制御されている。即ち、制
御信号ＰＳＷ１乃至ＰＳＷ１２が活性化すると、対応す
るスイッチがターンオンされる。例えば、制御信号ＰＳ
Ｗ１，ＰＳＷ７，ＰＷＳ１０が活性化すると、第１スイ
ッチ３１１、第７スイッチ３１７、及び第１０スイッチ
３２０がターンオンされ、それによって電気線Ｌ１は電
流計２３１を介して電気線Ｌ４と接続される。この場
合、第２及び第５スイッチ３１２，３１５と第３及び第
６スイッチ３１３，３１６とが共にターンオンされ、電
気線Ｌ２と電気線Ｌ５、及び電気線Ｌ３と電気線Ｌ６の
各々が相互に接続される。
【００１７】このように、電流計接続制御部２６１によ
り電圧源（図２の２２１）と電流計２３１とが端子２８
１，２８２，２８３に接続される様々な状態を図４乃至
図１０に示す。図４は、図３に示した電気線Ｌ１が電流
計２３１を介して電気線Ｌ４に接続された状態を示す図
である。また、図５は、図３に示した電気線Ｌ２が電流
計２３１を介して電気線Ｌ５に接続された状態を示す図
である。また、図６は、図３に示した電気線Ｌ３が電流
計２３１を介して電気線Ｌ６に接続された状態を示す図
である。また、図７は、図３に示した電気線Ｌ１が電流
計２３１を介して電気線Ｌ４，Ｌ５に接続された状態を
示す図である。また、図８は、図３に示した電気線Ｌ１
が電流計２３１を介して電気線Ｌ４，Ｌ６に接続された
状態を示す図である。また、図９は、図３に示した電気
線Ｌ３が電流計２３１を介して電気線Ｌ５，Ｌ６に接続
された状態を示す図である。また、図１０は、図３に示
した電気線Ｌ１が電流計２３１を介して電気線Ｌ４，Ｌ
５，Ｌ６に接続された状態を示す図である。
り電圧源（図２の２２１）と電流計２３１とが端子２８
１，２８２，２８３に接続される様々な状態を図４乃至
図１０に示す。図４は、図３に示した電気線Ｌ１が電流
計２３１を介して電気線Ｌ４に接続された状態を示す図
である。また、図５は、図３に示した電気線Ｌ２が電流
計２３１を介して電気線Ｌ５に接続された状態を示す図
である。また、図６は、図３に示した電気線Ｌ３が電流
計２３１を介して電気線Ｌ６に接続された状態を示す図
である。また、図７は、図３に示した電気線Ｌ１が電流
計２３１を介して電気線Ｌ４，Ｌ５に接続された状態を
示す図である。また、図８は、図３に示した電気線Ｌ１
が電流計２３１を介して電気線Ｌ４，Ｌ６に接続された
状態を示す図である。また、図９は、図３に示した電気
線Ｌ３が電流計２３１を介して電気線Ｌ５，Ｌ６に接続
された状態を示す図である。また、図１０は、図３に示
した電気線Ｌ１が電流計２３１を介して電気線Ｌ４，Ｌ
５，Ｌ６に接続された状態を示す図である。
【００１８】図４乃至図１０に示すように、電流計２３
１は、一つの端子に接続したり、２つまたは３つの端子
に同時に接続したりすることもある。電流計２３１が図
４乃至図６に示したように接続された場合、テスト装備
２０１（図２参照）は一つの電源ピンに流れる電流のみ
測定することになる。また、電流計２３１が図７乃至図
１０示したように接続された場合、テスト装備２０１は
２本以上の電源ピンに流れる電流を測定することにな
る。図４乃至図１０に示したスイッチ３１１乃至３２２
のオン／オフ状態を下記の表１に示す。
１は、一つの端子に接続したり、２つまたは３つの端子
に同時に接続したりすることもある。電流計２３１が図
４乃至図６に示したように接続された場合、テスト装備
２０１（図２参照）は一つの電源ピンに流れる電流のみ
測定することになる。また、電流計２３１が図７乃至図
１０示したように接続された場合、テスト装備２０１は
２本以上の電源ピンに流れる電流を測定することにな
る。図４乃至図１０に示したスイッチ３１１乃至３２２
のオン／オフ状態を下記の表１に示す。
【００１９】
【表１】
【００２０】集積回路装置２１１が３本の電源ピン２４
１，２４２，２４３のみを具備する場合、電流計２３１
が電源ピン２４１，２４２，２４３に接続される方法は
図４乃至図１０に示した方法に限定される。しかし、集
積回路装置２１１が４本以上の電源ピンを具備する場合
は、電流計２３１が電源ピンに接続されうる方法はさら
に多くなる。このように第１の実施の形態によれば、複
数のスイッチ３１１乃至３２２を備える電流計接続制御
部２６１を設けることで、一つの電圧源２２１及び一つ
の電流計２３１により集積回路装置２１１の複数の電源
ピン２４１，２４２，２４３に流れる電流を測定するこ
とが可能になる。従って、テスト価格のコストダウンを
実現できる。
１，２４２，２４３のみを具備する場合、電流計２３１
が電源ピン２４１，２４２，２４３に接続される方法は
図４乃至図１０に示した方法に限定される。しかし、集
積回路装置２１１が４本以上の電源ピンを具備する場合
は、電流計２３１が電源ピンに接続されうる方法はさら
に多くなる。このように第１の実施の形態によれば、複
数のスイッチ３１１乃至３２２を備える電流計接続制御
部２６１を設けることで、一つの電圧源２２１及び一つ
の電流計２３１により集積回路装置２１１の複数の電源
ピン２４１，２４２，２４３に流れる電流を測定するこ
とが可能になる。従って、テスト価格のコストダウンを
実現できる。
【００２１】次に、図１１を参照して本発明による集積
回路装置用のテスト装置の第２の実施の形態を詳細に説
明する。図１１は、本発明による集積回路装置用のテス
ト装置の第２の実施の形態を示すブロック図である。こ
こで第２の実施の形態において、第１の実施の形態と同
じ構成要素には同一の符号を記載している。図１１に示
すように、本発明による集積回路装置用のテスト装置の
第２の実施の形態は、一つの電圧源５２１、及び２つの
電流計５３１，５３２、並びに端子２８１，２８２，２
８３を具備している。電圧源５２１は、電流計５３１，
５３２と端子２８１，２８２，２８３とを介して集積回
路装置２１１の電源ピン２４１，２４２，２４３に接続
される。この際、電流計５３１，５３２は、電源ピン２
４１，２４２に流れる電流を測定する。また、電圧源５
２１は、再び端子２８３を介して電源ピン２４３に直接
接続されて電源ピン２４３に電源電圧（ＶＣＣ）を供給
する。図１１は、電源ピン２４１，２４２，２４３のう
ち２本の電源ピン２４１，２４２にのみ流れる電流を測
定しようとする場合に適用しうる方法である。例えば、
集積回路装置２１１にメモリ及びロジックを備えている
場合、メモリに電源電圧（ＶＣＣ）を供給する電源ピン
２４１，２４２にのみ流れる電流を測定する場合に図１
１に示した方法が適用できる。このように第２の実施の
形態によると、図１１に示したように、一つの電圧源５
２１と２つの電流計５３１，５３２とを用いて電源ピン
２４１，２４２に流れる電流を測定することによって従
来の技術に比べて、よりテスト価格のコストダウンが可
能になる。
回路装置用のテスト装置の第２の実施の形態を詳細に説
明する。図１１は、本発明による集積回路装置用のテス
ト装置の第２の実施の形態を示すブロック図である。こ
こで第２の実施の形態において、第１の実施の形態と同
じ構成要素には同一の符号を記載している。図１１に示
すように、本発明による集積回路装置用のテスト装置の
第２の実施の形態は、一つの電圧源５２１、及び２つの
電流計５３１，５３２、並びに端子２８１，２８２，２
８３を具備している。電圧源５２１は、電流計５３１，
５３２と端子２８１，２８２，２８３とを介して集積回
路装置２１１の電源ピン２４１，２４２，２４３に接続
される。この際、電流計５３１，５３２は、電源ピン２
４１，２４２に流れる電流を測定する。また、電圧源５
２１は、再び端子２８３を介して電源ピン２４３に直接
接続されて電源ピン２４３に電源電圧（ＶＣＣ）を供給
する。図１１は、電源ピン２４１，２４２，２４３のう
ち２本の電源ピン２４１，２４２にのみ流れる電流を測
定しようとする場合に適用しうる方法である。例えば、
集積回路装置２１１にメモリ及びロジックを備えている
場合、メモリに電源電圧（ＶＣＣ）を供給する電源ピン
２４１，２４２にのみ流れる電流を測定する場合に図１
１に示した方法が適用できる。このように第２の実施の
形態によると、図１１に示したように、一つの電圧源５
２１と２つの電流計５３１，５３２とを用いて電源ピン
２４１，２４２に流れる電流を測定することによって従
来の技術に比べて、よりテスト価格のコストダウンが可
能になる。
【００２２】次に、図１２を参照して本発明による集積
回路装置用のテスト装置の第３の実施の形態を詳細に説
明する。図１２は、本発明による集積回路装置用のテス
ト装置の第３の実施の形態を示すブロック図である。こ
こで第３の実施の形態において、第１及び２の実施の形
態と同じ構成要素には同一の符号を記載している。図１
２に示すように、本発明による集積回路装置用のテスト
装置の第３の実施は、電圧源２２１、制御信号発生部６
７１、第１乃至第４電流測定部６１１，６１２，６１
３，６１４、及び端子２８１乃至２９２を備えている。
第１乃至第４電流測定部６１１，６１２，６１３，６１
４は、第１乃至第４電流計接続制御部２６１，２６２，
２６３，２６４と第１乃至第４電流計２３１，２３２，
２３３，２３４とを備えている。また、第１乃至第４電
流計接続制御部２６１，２６２，２６３，２６４は、端
子２８１乃至２９２を介して集積回路装置２１１，２１
２，２１３，２１４の電源ピン２４１乃至２５２に接続
される。制御信号発生部６７１は、制御信号ＰＳＷ１乃
至ＰＳＷ４８を発生して第１乃至第４電流計接続制御部
２６１，２６２，２６３，２６４を制御する。ここで、
第１乃至第４電流計接続制御部２６１，２６２，２６
３，２６４の回路は、図３に示した電流計接続制御部２
６１と同一であり、その回路構成のスイッチにより接続
される種類も図４乃至図１０と同一なのでその説明を省
略する。
回路装置用のテスト装置の第３の実施の形態を詳細に説
明する。図１２は、本発明による集積回路装置用のテス
ト装置の第３の実施の形態を示すブロック図である。こ
こで第３の実施の形態において、第１及び２の実施の形
態と同じ構成要素には同一の符号を記載している。図１
２に示すように、本発明による集積回路装置用のテスト
装置の第３の実施は、電圧源２２１、制御信号発生部６
７１、第１乃至第４電流測定部６１１，６１２，６１
３，６１４、及び端子２８１乃至２９２を備えている。
第１乃至第４電流測定部６１１，６１２，６１３，６１
４は、第１乃至第４電流計接続制御部２６１，２６２，
２６３，２６４と第１乃至第４電流計２３１，２３２，
２３３，２３４とを備えている。また、第１乃至第４電
流計接続制御部２６１，２６２，２６３，２６４は、端
子２８１乃至２９２を介して集積回路装置２１１，２１
２，２１３，２１４の電源ピン２４１乃至２５２に接続
される。制御信号発生部６７１は、制御信号ＰＳＷ１乃
至ＰＳＷ４８を発生して第１乃至第４電流計接続制御部
２６１，２６２，２６３，２６４を制御する。ここで、
第１乃至第４電流計接続制御部２６１，２６２，２６
３，２６４の回路は、図３に示した電流計接続制御部２
６１と同一であり、その回路構成のスイッチにより接続
される種類も図４乃至図１０と同一なのでその説明を省
略する。
【００２３】従って、テスト装備６０１と集積回路装置
２１１，２１２，２１３，２１４とを図１２に示したよ
うに接続することによってテスト装備６０１は、一つの
電圧源２２１及び４つの電流計２３１，２３２，２３
３，２３４のみで４つの集積回路装置２１１，２１２，
２１３，２１４の電源ピン２４１乃至２５２に流れる電
流を同時に測定することができる。ここで、テスト装備
６０１は、電流計を多く設けるほどさらに多くの集積回
路装置を同時にテストできる。また、電圧源２２１は、
その出力端に接続される負荷の数に関係なく常に一定の
電圧を供給しうる定電圧源である。場合に応じて、電圧
源２２１の出力端には、多くの負荷が加わるので、この
際に電圧源２２１の電圧容量がさらに大きくなる。この
ように負荷が大きくなる場合、電圧源２２１を２つ以上
に追加して構成することもある。また、制御信号発生部
６７１と第１乃至第４電流計接続制御部２６１，２６
２，２６３，２６４とを用いて集積回路装置２１１，２
１２，２１３，２１４の電源ピン２４１乃至２５２に流
れる電流を測定する方法は、図３に示した方法と同じで
あるため、説明を省略する。
２１１，２１２，２１３，２１４とを図１２に示したよ
うに接続することによってテスト装備６０１は、一つの
電圧源２２１及び４つの電流計２３１，２３２，２３
３，２３４のみで４つの集積回路装置２１１，２１２，
２１３，２１４の電源ピン２４１乃至２５２に流れる電
流を同時に測定することができる。ここで、テスト装備
６０１は、電流計を多く設けるほどさらに多くの集積回
路装置を同時にテストできる。また、電圧源２２１は、
その出力端に接続される負荷の数に関係なく常に一定の
電圧を供給しうる定電圧源である。場合に応じて、電圧
源２２１の出力端には、多くの負荷が加わるので、この
際に電圧源２２１の電圧容量がさらに大きくなる。この
ように負荷が大きくなる場合、電圧源２２１を２つ以上
に追加して構成することもある。また、制御信号発生部
６７１と第１乃至第４電流計接続制御部２６１，２６
２，２６３，２６４とを用いて集積回路装置２１１，２
１２，２１３，２１４の電源ピン２４１乃至２５２に流
れる電流を測定する方法は、図３に示した方法と同じで
あるため、説明を省略する。
【００２４】このように第３の実施の形態によると、集
積回路装置の電流ピンに流れる電流を電流計接続制御部
により種々の方法で測定できるため、第１の実施の形態
と同様の効果を得ることができるとともに、複数の電流
計接続制御部を設けることで一度の多くの集積回路装置
を測定することが可能になる。以上、本発明による集積
回路装置用のテスト装置の実施の形態を詳細に説明した
が、本発明は前述した実施の形態に限定されるものでは
なく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。例
えば、４つの電流計接続制御部を備えた第３の実施の形
態を説明したが、これに限定されるものではなく、４つ
以上、または２つ、或いは３つのいずれかの数だけ電流
計接続制御部を設けて測定することも可能である。
積回路装置の電流ピンに流れる電流を電流計接続制御部
により種々の方法で測定できるため、第１の実施の形態
と同様の効果を得ることができるとともに、複数の電流
計接続制御部を設けることで一度の多くの集積回路装置
を測定することが可能になる。以上、本発明による集積
回路装置用のテスト装置の実施の形態を詳細に説明した
が、本発明は前述した実施の形態に限定されるものでは
なく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。例
えば、４つの電流計接続制御部を備えた第３の実施の形
態を説明したが、これに限定されるものではなく、４つ
以上、または２つ、或いは３つのいずれかの数だけ電流
計接続制御部を設けて測定することも可能である。
【００２５】
【発明の効果】このように本発明による集積回路装置用
のテスト装置によれば、端子より少数に設けられた電流
計と電圧源とを用いることで、集積回路装置の複数本の
電源ピンに流れる電流を測定できるため、集積回路装置
のテスト時にかかるテスト価格のコストダウンを実現す
ることができる。
のテスト装置によれば、端子より少数に設けられた電流
計と電圧源とを用いることで、集積回路装置の複数本の
電源ピンに流れる電流を測定できるため、集積回路装置
のテスト時にかかるテスト価格のコストダウンを実現す
ることができる。
【図１】従来の集積回路装置用のテスト装置を複数本の
電源ピンを有する集積回路装置に接続した状態を示すブ
ロック図。
電源ピンを有する集積回路装置に接続した状態を示すブ
ロック図。
【図２】本発明による集積回路装置用のテスト装置の第
１の実施の形態を示すブロック図。
１の実施の形態を示すブロック図。
【図３】図２に示した電流計接続制御部の内部構造を示
す回路図。
す回路図。
【図４】図３に示した電気線Ｌ１が電流計を介して電気
線Ｌ４に接続された状態を示す図。
線Ｌ４に接続された状態を示す図。
【図５】図３に示した電気線Ｌ２が電流計を介して電気
線Ｌ５に接続された状態を示す図。
線Ｌ５に接続された状態を示す図。
【図６】図３に示した電気線Ｌ３が電流計を介して電気
線Ｌ６に接続された状態を示す図。
線Ｌ６に接続された状態を示す図。
【図７】図３に示した電気線Ｌ１が電流計を介して電気
線Ｌ４，Ｌ５に接続された状態を示す図。
線Ｌ４，Ｌ５に接続された状態を示す図。
【図８】図３に示した電気線Ｌ１が電流計を介して電気
線Ｌ４，Ｌ６に接続された状態を示す図。
線Ｌ４，Ｌ６に接続された状態を示す図。
【図９】図３に示した電気線Ｌ３が電流計を介して電気
線Ｌ５，Ｌ６に接続された状態を示す図。
線Ｌ５，Ｌ６に接続された状態を示す図。
【図１０】図３に示した電気線Ｌ１が電流計を介して電
気線Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６に接続された状態を示す図。
気線Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６に接続された状態を示す図。
【図１１】本発明による集積回路装置用のテスト装置の
第２の実施の形態を示すブロック図。
第２の実施の形態を示すブロック図。
【図１２】本発明による集積回路装置用のテスト装置の
第３の実施の形態を示すブロック図。
第３の実施の形態を示すブロック図。
２０１ テスト装備 ２１１ 集積回路装置 ２２１ 電圧源 ２３１ 電流計 ２４１，２４２，２４３ 電源ピン ２６１ 電流計接続制御部 ２７１ 制御信号発生部 ２８１，２８２，２８３ 端子
フロントページの続き (72)発明者 孫 泰 植 大韓民国京畿道龍仁市器興邑甫羅里450番 地 新▲ガル▼三星アパート103棟202号 (72)発明者 呉 世 章 大韓民国京畿道安養市東安区坪村洞898− ２番地 草原大林アパート208棟2502号 Ｆターム(参考） 2G003 AA07 AB02 AE01 2G032 AB01 AD01 AE14 AK01 AK15 9A001 BB05 BB06 KK54 LL05
Claims (10)
- 【請求項１】 集積回路装置の機能をテストする集積回
路装置用のテスト装置において、 前記集積回路装置と電気的に接続する複数個の端子と、 電流を測り、前記複数個の端子より少数に設けられた少
なくとも一つ以上の電流計と、 所定電圧を発生する電圧源と、 前記集積回路装置のテスト時に前記所定電圧を前記少な
くとも一つ以上の電流計を介して選択的に前記複数個の
端子に伝達するとともに、この時前記少なくとも一つ以
上の電流計を介して前記所定電圧が伝達されない前記複
数個の端子のうち一部の端子に前記所定電圧を直接伝達
する電流計接続制御部とを具備することを特徴とする集
積回路装置用のテスト装置。 - 【請求項２】 前記電圧源は、常に一定の電圧を供給す
る定電圧源であることを特徴とする請求項１に記載の集
積回路装置用のテスト装置。 - 【請求項３】 前記電流計接続制御部に接続され、制御
信号を発生して前記電流計接続制御部を制御する制御信
号発生部をさらに具備することを特徴とする請求項１に
記載の集積回路装置用のテスト装置。 - 【請求項４】 前記集積回路装置は、メモリ及びロジッ
クを具備することを特徴とする請求項１に記載の集積回
路装置用のテスト装置。 - 【請求項５】 前記電流計接続制御部は、複数個のスイ
ッチング手段を具備し、前記複数個のスイッチング手段
によって前記少なくとも一つ以上の電流計が前記少なく
とも一つ以上の電圧源と前記複数個の端子とに選択的に
接続されることを特徴とする請求項１に記載の集積回路
装置用のテスト装置。 - 【請求項６】 複数個の集積回路装置の機能をテストす
る集積回路装置用のテスト装置において、 前記複数個の集積回路装置と電気的に接続する複数個の
端子と、 所定の電圧を発生する電圧源と、 前記少なくとも一つ以上の電圧源と前記複数個の端子と
の間に電気的に接続され、前記複数個の端子より少数に
設けられた複数個の電流測定部とを具備し、 前記複数個の集積回路装置を同時にテストし、 前記複数個の電流測定部は、前記集積回路装置の出力端
に接続される所定の端子より少数に設けられた少なくと
も一つ以上の電流計及び一つの電流計接続制御部を具備
し、前記複数個の集積回路装置をテストする時に前記所
定の電圧を前記少なくとも一つ以上の電流計を介して選
択的に前記所定端子に伝達するとともに、この時前記少
なくとも一つ以上の電流計を介して前記所定電圧が伝達
されない前記所定端子のうち一部の端子に前記所定電圧
を直接伝達することを特徴とする集積回路装置用のテス
ト装置。 - 【請求項７】 前記電圧源は、常に一定の電圧を供給す
る定電圧源であることを特徴とする請求項６に記載の集
積回路装置用のテスト装置。 - 【請求項８】 前記複数個の電流接続制御部に接続さ
れ、制御信号を発生して前記複数個の電流計接続制御部
を制御する制御信号発生部をさらに具備することを特徴
とする請求項６に記載の集積回路装置用のテスト装置。 - 【請求項９】 前記複数個の集積回路装置は、各々メモ
リ及びロジックを具備することを特徴とする請求項６に
記載の集積回路装置用のテスト装置。 - 【請求項１０】 前記各電流計接続制御部は、複数個の
スイッチング手段を具備し、前記複数個のスイッチング
手段によって前記少なくとも一つの電流計が前記少なく
とも一つの電圧源と前記所定の端子とに選択的に接続さ
れることを特徴とする請求項６に記載の集積回路装置用
のテスト装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019990021150A KR100327333B1 (ko) | 1999-06-08 | 1999-06-08 | 다수개의 전원 핀들을 갖는 집적회로 장치를 테스트하는 테스트 장비 |
| KR1999P-21150 | 1999-06-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000346903A true JP2000346903A (ja) | 2000-12-15 |
| JP4493776B2 JP4493776B2 (ja) | 2010-06-30 |
Family
ID=19590772
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000008378A Expired - Fee Related JP4493776B2 (ja) | 1999-06-08 | 2000-01-17 | 集積回路装置用のテスト装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4493776B2 (ja) |
| KR (1) | KR100327333B1 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4155036A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-15 | General Connector Corp. | Apparatus for testing cooking range electrical circuitry |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5923676U (ja) * | 1982-08-04 | 1984-02-14 | 株式会社アドバンテスト | 自己診断機能を持つｉｃ試験装置 |
-
1999
- 1999-06-08 KR KR1019990021150A patent/KR100327333B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-01-17 JP JP2000008378A patent/JP4493776B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4155036A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-15 | General Connector Corp. | Apparatus for testing cooking range electrical circuitry |
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