JP2000322850A - 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド／ディスクテスター - Google Patents
熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド／ディスクテスターInfo
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- JP2000322850A JP2000322850A JP2000114923A JP2000114923A JP2000322850A JP 2000322850 A JP2000322850 A JP 2000322850A JP 2000114923 A JP2000114923 A JP 2000114923A JP 2000114923 A JP2000114923 A JP 2000114923A JP 2000322850 A JP2000322850 A JP 2000322850A
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- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
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- G11B5/596—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
Landscapes
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 磁気ディスクに対する磁気ヘッドの位置付け
において発生する熱ドリフトを補正する閉ループ位置付
けシステムを持ったヘッド／ディスクテスターを与え
る。 【解決手段】 磁気ヘッドの大まかな位置付けを行うス
テップモーターと、細かな位置付けのために使用される
ピエゾアクチュエーター３７を含む。直線エンコーダー
４０及び４２は、ピエゾアクチュエーターを制御する閉
ループ位置付けシステムへフィードバック情報を供給す
る。サーボバーストは、同じ閉ループ位置付けシステム
のための付加的なフィードバックの情報源として使用さ
れる。指示された命令位置への磁気ヘッドの移動の間、
サーボバーストフィードバックはオフにされ、直線エン
コーダーからのフィードバックがＰＩＤループによって
使用される。命令位置に到達したとき、サーボバースト
ループがオンにされ、バースト信号の比が一定に保持さ
れるように、ＰＩＤループの命令位置を変化させる。
において発生する熱ドリフトを補正する閉ループ位置付
けシステムを持ったヘッド／ディスクテスターを与え
る。 【解決手段】 磁気ヘッドの大まかな位置付けを行うス
テップモーターと、細かな位置付けのために使用される
ピエゾアクチュエーター３７を含む。直線エンコーダー
４０及び４２は、ピエゾアクチュエーターを制御する閉
ループ位置付けシステムへフィードバック情報を供給す
る。サーボバーストは、同じ閉ループ位置付けシステム
のための付加的なフィードバックの情報源として使用さ
れる。指示された命令位置への磁気ヘッドの移動の間、
サーボバーストフィードバックはオフにされ、直線エン
コーダーからのフィードバックがＰＩＤループによって
使用される。命令位置に到達したとき、サーボバースト
ループがオンにされ、バースト信号の比が一定に保持さ
れるように、ＰＩＤループの命令位置を変化させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ヘッド／ディス
クテスター、特に、閉ループの位置付けシステムを持っ
た上述のタイプ及び、そのようなテスターの磁気ヘッド
の位置の熱ドリフト（thermal drift）を排除する方法
に関する。
クテスター、特に、閉ループの位置付けシステムを持っ
た上述のタイプ及び、そのようなテスターの磁気ヘッド
の位置の熱ドリフト（thermal drift）を排除する方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】大容量コンピューター記憶装置は通常、
１つまたは複数の電磁変換機及び、対応する数の磁気媒
体ディスクを含む。この分野で「ヘッド」として知られ
ている変換機は、例えば、コンピューターと磁気ディス
クのデータの記憶場所等の、データ源の間の電子情報の
転送のために適応している。情報は、高密度記憶、デー
タの記憶場所への高速アクセス、高信頼性、データの保
全性、及びデバイスの小型化を可能にする、よく知られ
ている規定（または慣例）及び形式に従って伝達され、
データのライト及びリードは、ディスク上のリード／ラ
イトヘッドの位置により遂行される。
１つまたは複数の電磁変換機及び、対応する数の磁気媒
体ディスクを含む。この分野で「ヘッド」として知られ
ている変換機は、例えば、コンピューターと磁気ディス
クのデータの記憶場所等の、データ源の間の電子情報の
転送のために適応している。情報は、高密度記憶、デー
タの記憶場所への高速アクセス、高信頼性、データの保
全性、及びデバイスの小型化を可能にする、よく知られ
ている規定（または慣例）及び形式に従って伝達され、
データのライト及びリードは、ディスク上のリード／ラ
イトヘッドの位置により遂行される。
【０００３】一般に、情報は、ディスク軸の周りに配置
された多数の同心円トラックの中心線に沿って拡張する
幅Ｔの領域である「トラック」に記憶され、「トラッ
ク」から読まれる。（ディスクには、）データの記憶の
ために使用されない、トラック間の領域も存在する。い
くつかの従来技術のディスクでは、リード／ライトヘッ
ドをトラックの中心線（track center line）上または
その近辺に保持するために、比較的高周波の「サーボバ
ースト」信号がトラック間に書き込まれ、それにより、
最適なリード及びライトが成し遂げられる。
された多数の同心円トラックの中心線に沿って拡張する
幅Ｔの領域である「トラック」に記憶され、「トラッ
ク」から読まれる。（ディスクには、）データの記憶の
ために使用されない、トラック間の領域も存在する。い
くつかの従来技術のディスクでは、リード／ライトヘッ
ドをトラックの中心線（track center line）上または
その近辺に保持するために、比較的高周波の「サーボバ
ースト」信号がトラック間に書き込まれ、それにより、
最適なリード及びライトが成し遂げられる。
【０００４】「ディスク駆動装置」または「ディスクド
ライブ」として知られるディスクベースの記憶システム
の製造において、磁気ヘッドは通常、特別な磁気ヘッド
／ディスクテスター上で、それらのパラメータ及び実行
特性に関してテストされる。
ライブ」として知られるディスクベースの記憶システム
の製造において、磁気ヘッドは通常、特別な磁気ヘッド
／ディスクテスター上で、それらのパラメータ及び実行
特性に関してテストされる。
【０００５】従来技術のヘッド／ディスクテスタの例
（米国特許番号5,382,887）の上からの図が図１に示さ
れている。この図の中で、テスターは、往復台（carria
ge）に固定された水平面のＸ−Ｙ座標系と関連して示さ
れている往復台（carriage）１０を持つ。往復台１０
は、基盤２３に取り付けられ、Ｘ軸に沿って拡張してい
る水平面の底部のレール１６及び１８に沿ってスライド
可能である。往復台１０は、それに固定され、内部のリ
ング１３を支えている外部のリング１５を備える。内部
のリング１３は、（リング１５を基準に）中心に位置す
るＸ及びＹ軸の交点から拡張している垂直（Ｚ）軸の周
りで回転できる。リング１３は、テストされる磁気ヘッ
ド１４を持った磁気ヘッド支持１２を保持する（また
は、移動させる）。
（米国特許番号5,382,887）の上からの図が図１に示さ
れている。この図の中で、テスターは、往復台（carria
ge）に固定された水平面のＸ−Ｙ座標系と関連して示さ
れている往復台（carriage）１０を持つ。往復台１０
は、基盤２３に取り付けられ、Ｘ軸に沿って拡張してい
る水平面の底部のレール１６及び１８に沿ってスライド
可能である。往復台１０は、それに固定され、内部のリ
ング１３を支えている外部のリング１５を備える。内部
のリング１３は、（リング１５を基準に）中心に位置す
るＸ及びＹ軸の交点から拡張している垂直（Ｚ）軸の周
りで回転できる。リング１３は、テストされる磁気ヘッ
ド１４を持った磁気ヘッド支持１２を保持する（また
は、移動させる）。
【０００６】磁気ヘッド１４はリング１３及び１５の中
心に位置する。磁気ディスク支持（図示せず）は、基盤
２３から垂直に拡張し、磁気ディスク１１が垂直な回転
軸の周りを回転できるように、水平面への磁気ディスク
１１の保持を与える。往復台１０がレール１６及び１８
に沿ってＸ軸方向にスライドするとき、磁気ヘッド１４
は矢印Ａで示される方向に磁気ディスク１１を横切って
移動する。ステップモーター（図示せず）は、内部リン
グ１３を外部リング１５及び往復台１０を基準に（Ｚ軸
の周りに）選択的に回転させる。基盤２３に固定された
ステップモーター１９は、Ｘ軸方向にレール２１Ｂ及び
２１Ｃに沿ってスライド可能な中間ブロック２１Ａに結
合した親ネジ２１を回転させる。中間ブロック２１Ａ
は、ピエゾアクチュエーター（piezo actuator）１７に
よって往復台に結合している。この構成により、往復台
１０（及び、それにより、ヘッド１４）のＸ軸に沿って
の位置は、モーター１９、親ネジ２１及び、ブロック２
１Ａにより大まかな方法で制御される。軸付近の、ブロ
ック２１Ａに対する往復台１０の相対位置はピエゾアク
チュエーター１７により細かな方法で制御される。
心に位置する。磁気ディスク支持（図示せず）は、基盤
２３から垂直に拡張し、磁気ディスク１１が垂直な回転
軸の周りを回転できるように、水平面への磁気ディスク
１１の保持を与える。往復台１０がレール１６及び１８
に沿ってＸ軸方向にスライドするとき、磁気ヘッド１４
は矢印Ａで示される方向に磁気ディスク１１を横切って
移動する。ステップモーター（図示せず）は、内部リン
グ１３を外部リング１５及び往復台１０を基準に（Ｚ軸
の周りに）選択的に回転させる。基盤２３に固定された
ステップモーター１９は、Ｘ軸方向にレール２１Ｂ及び
２１Ｃに沿ってスライド可能な中間ブロック２１Ａに結
合した親ネジ２１を回転させる。中間ブロック２１Ａ
は、ピエゾアクチュエーター（piezo actuator）１７に
よって往復台に結合している。この構成により、往復台
１０（及び、それにより、ヘッド１４）のＸ軸に沿って
の位置は、モーター１９、親ネジ２１及び、ブロック２
１Ａにより大まかな方法で制御される。軸付近の、ブロ
ック２１Ａに対する往復台１０の相対位置はピエゾアク
チュエーター１７により細かな方法で制御される。
【０００７】直線エンコーダー２０及び２２は、往復台
１０の両側に、往復台の移動に対し平行で、往復台１０
の中心線を基準に対称に配置される。各エンコーダー
は、静止部分、すなわち、基盤２３に付けられた、部分
２０ａ及び２２ａと、可動部分、すなわち、外部リング
１５に付けられた、部分２０ｂ及び２２ｂとの２つの部
分から成る。１つの形式として、ヘッド１４の現在の位
置は、エンコーダー２０及び２２の読み取り値の相加平
均（arithmetic mean）により得られる。
１０の両側に、往復台の移動に対し平行で、往復台１０
の中心線を基準に対称に配置される。各エンコーダー
は、静止部分、すなわち、基盤２３に付けられた、部分
２０ａ及び２２ａと、可動部分、すなわち、外部リング
１５に付けられた、部分２０ｂ及び２２ｂとの２つの部
分から成る。１つの形式として、ヘッド１４の現在の位
置は、エンコーダー２０及び２２の読み取り値の相加平
均（arithmetic mean）により得られる。
【０００８】ヘッド１４の望まれる位置と現在値との差
異は、ピエゾアクチュエーター１７に適用されるフィー
ドバック制御信号を供給する制御器−増幅器２５により
決められる。その信号への応答で、ピエゾアクチュエー
ター１７は、それのＸ方向の寸法（長さ）を調整する。
結果として、往復台１０は、ヘッド１４を望まれる位置
に位置するために動く。
異は、ピエゾアクチュエーター１７に適用されるフィー
ドバック制御信号を供給する制御器−増幅器２５により
決められる。その信号への応答で、ピエゾアクチュエー
ター１７は、それのＸ方向の寸法（長さ）を調整する。
結果として、往復台１０は、ヘッド１４を望まれる位置
に位置するために動く。
【０００９】テスト中に室温が変化したとき、ヘッド／
ディスクテスターの全ての部分、特に、往復台１０、磁
気ヘッド支持１２、及び磁気ヘッド１４は熱膨張または
熱収縮により、それらの寸法を変化させてしまう。多様
な部分の熱膨張係数の違いのため、これらの寸法の変化
は、ヘッド／ディスクテスターの異なった部分に対して
同じではない。さらに、熱伝達性及び保温特性の違いに
より、異なった部分に対する温度変化の速度も同じでは
ない。結果として、温度変化中の状態では、エンコーダ
ー２０及び２２の相加平均の読み取り値はヘッド１４の
真の位置を反映しない。
ディスクテスターの全ての部分、特に、往復台１０、磁
気ヘッド支持１２、及び磁気ヘッド１４は熱膨張または
熱収縮により、それらの寸法を変化させてしまう。多様
な部分の熱膨張係数の違いのため、これらの寸法の変化
は、ヘッド／ディスクテスターの異なった部分に対して
同じではない。さらに、熱伝達性及び保温特性の違いに
より、異なった部分に対する温度変化の速度も同じでは
ない。結果として、温度変化中の状態では、エンコーダ
ー２０及び２２の相加平均の読み取り値はヘッド１４の
真の位置を反映しない。
【００１０】たとえ室温が一定のときでも、ヘッド／デ
ィスクテスターの異なった部品は、それらのテスターの
熱源（例えば、モーター）への近さに依存して、異なっ
た加熱をされる。さらに、温度が変化したとき、磁気デ
ィスク１１の大きさもまた変化する。結果として、磁気
ディスク１１に対する磁気ヘッド１４の位置は、温度変
化のある場合は予測不可能である。
ィスクテスターの異なった部品は、それらのテスターの
熱源（例えば、モーター）への近さに依存して、異なっ
た加熱をされる。さらに、温度が変化したとき、磁気デ
ィスク１１の大きさもまた変化する。結果として、磁気
ディスク１１に対する磁気ヘッド１４の位置は、温度変
化のある場合は予測不可能である。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】温度が安定していない
状態においても、テスターの磁気ディスクに対して正確
な磁気ヘッドの位置付けを成し遂げるヘッド／ディスク
テスターを供給することが本発明の目的である。本発明
のもう１つの目的は、そのようなヘッド／ディスクテス
ターで磁気ヘッドの位置の熱ドリフトを排除する位置付
けの方法を与えることである。もう１つの目的は、それ
がどの程度続くかに関わりなく、いかなるテスト中に
も、例えば、０．００２５μｍのオーダーで、位置付け
の繰り返し（または、再現性）を確実にするヘッド／デ
ィスクテスターを供給することである。
状態においても、テスターの磁気ディスクに対して正確
な磁気ヘッドの位置付けを成し遂げるヘッド／ディスク
テスターを供給することが本発明の目的である。本発明
のもう１つの目的は、そのようなヘッド／ディスクテス
ターで磁気ヘッドの位置の熱ドリフトを排除する位置付
けの方法を与えることである。もう１つの目的は、それ
がどの程度続くかに関わりなく、いかなるテスト中に
も、例えば、０．００２５μｍのオーダーで、位置付け
の繰り返し（または、再現性）を確実にするヘッド／デ
ィスクテスターを供給することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明に従うと、ヘッド
／ディスクテスターは、２つのフィードバック源（また
は、フィードバック情報源）を使用する、熱ドリフトが
補正される閉ループの位置付けシステムを備える。第１
の情報源、直線エンコーダー、は熱ドリフトが無い状態
での、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの位置を反映す
る。第１情報源の動作範囲は比較的広く、磁気ディスク
全体をカバーし、この情報源は、磁気ヘッドを１つの記
憶場所から他の場所へ移動させるために使用される。第
２の情報源、テストしているディスクのサーボ信号、は
全ての温度状態において、磁気ディスクに対する磁気ヘ
ッドの位置を反映する。第２情報源の動作範囲は比較的
狭く、磁気ディスクのトラック近辺をカバーし、この情
報源は磁気ヘッドを指示（または、命令）された位置に
保持するために使用される。
／ディスクテスターは、２つのフィードバック源（また
は、フィードバック情報源）を使用する、熱ドリフトが
補正される閉ループの位置付けシステムを備える。第１
の情報源、直線エンコーダー、は熱ドリフトが無い状態
での、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの位置を反映す
る。第１情報源の動作範囲は比較的広く、磁気ディスク
全体をカバーし、この情報源は、磁気ヘッドを１つの記
憶場所から他の場所へ移動させるために使用される。第
２の情報源、テストしているディスクのサーボ信号、は
全ての温度状態において、磁気ディスクに対する磁気ヘ
ッドの位置を反映する。第２情報源の動作範囲は比較的
狭く、磁気ディスクのトラック近辺をカバーし、この情
報源は磁気ヘッドを指示（または、命令）された位置に
保持するために使用される。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明と同様に、本発明の上述及
び他の目的、多様な特徴は、以下の説明より、それが付
随する図面と共に読まれたときに、さらに理解されるだ
ろう。
び他の目的、多様な特徴は、以下の説明より、それが付
随する図面と共に読まれたときに、さらに理解されるだ
ろう。
【００１４】熱ドリフトが補正される閉ループ位置付け
システムを持った、本発明の模範的なヘッド／ディスク
テスターが図式的に図２に示されている。多くの点で従
来技術の図１のヘッド／ディスクテスターと同様なよう
に、図２のヘッド／ディスクテスターは、水平な（Ｘ
軸）レール３６及び３８に沿って、矢印Ａの方向にガイ
ドされる往復台３０を支える基盤４３を持つ。往復台３
０は、内部のリング３３を支え、往復台３０の水平面の
座標系のＸ及びＹ軸の交点の周りに中心を持つ外部のリ
ング３５を支える。内部リング３３は、テストされる磁
気ヘッド３４を持った磁気ヘッド支持３２を保持する
（または、移動させる）。往復台３０は、ステップモー
ター３９により、（水平面のレール４１Ｂ及び４１Ｃ上
をＸ方向にスライド可能な）中間ブロック４１Ａに結合
した親ネジ４１を介して、矢印で示される方向に直線上
に駆動される。往復台３０は次に、ピエゾアクチュエー
ター３７によって、ブロック２１Ａに対してＸ方向に駆
動される。もう１つのステップモーター（図示せず）
は、外部リング３５及び往復台３０に対して（Ｚ軸のま
わりに）、内部リング３３、磁気ヘッド支持３２、及び
磁気ヘッド３４を回転させるために使用される。
システムを持った、本発明の模範的なヘッド／ディスク
テスターが図式的に図２に示されている。多くの点で従
来技術の図１のヘッド／ディスクテスターと同様なよう
に、図２のヘッド／ディスクテスターは、水平な（Ｘ
軸）レール３６及び３８に沿って、矢印Ａの方向にガイ
ドされる往復台３０を支える基盤４３を持つ。往復台３
０は、内部のリング３３を支え、往復台３０の水平面の
座標系のＸ及びＹ軸の交点の周りに中心を持つ外部のリ
ング３５を支える。内部リング３３は、テストされる磁
気ヘッド３４を持った磁気ヘッド支持３２を保持する
（または、移動させる）。往復台３０は、ステップモー
ター３９により、（水平面のレール４１Ｂ及び４１Ｃ上
をＸ方向にスライド可能な）中間ブロック４１Ａに結合
した親ネジ４１を介して、矢印で示される方向に直線上
に駆動される。往復台３０は次に、ピエゾアクチュエー
ター３７によって、ブロック２１Ａに対してＸ方向に駆
動される。もう１つのステップモーター（図示せず）
は、外部リング３５及び往復台３０に対して（Ｚ軸のま
わりに）、内部リング３３、磁気ヘッド支持３２、及び
磁気ヘッド３４を回転させるために使用される。
【００１５】直線エンコーダー４０及び４２は往復台３
０の両側に配置される。各エンコーダーは、静止部分、
すなわち、基盤４３に付けられた、部分４０ａ及び４２
ａと、可動部分、すなわち、外部リング３５に付けられ
た、部分４０ｂ及び４２ｂとの２つの部分から成る。ヘ
ッド３４の現在の位置（及び、それのリード／ライトギ
ャップ（read/write gap））は、エンコーダー４０及び
４２の読み取り値の相加平均（arithmetic mean）によ
り得られる。
０の両側に配置される。各エンコーダーは、静止部分、
すなわち、基盤４３に付けられた、部分４０ａ及び４２
ａと、可動部分、すなわち、外部リング３５に付けられ
た、部分４０ｂ及び４２ｂとの２つの部分から成る。ヘ
ッド３４の現在の位置（及び、それのリード／ライトギ
ャップ（read/write gap））は、エンコーダー４０及び
４２の読み取り値の相加平均（arithmetic mean）によ
り得られる。
【００１６】その他に基盤４３に取り付けられているも
のは、磁気ディスク３１を垂直軸の周りで回転させられ
るスピンドル（spindle）４４である。スピンドル４４
の光学エンコーダー（図示せず）は、磁気ディスク３１
の角度の配置に対応した一連のセクターパルス（sector
pulse）を発生する。
のは、磁気ディスク３１を垂直軸の周りで回転させられ
るスピンドル（spindle）４４である。スピンドル４４
の光学エンコーダー（図示せず）は、磁気ディスク３１
の角度の配置に対応した一連のセクターパルス（sector
pulse）を発生する。
【００１７】ここまでで説明されてきたヘッド／ディス
クテスターは、Guzik Technical Enterprises（San Jos
e, Calif.）により製造されているModel 2550 Read-Wri
te Analyzerと関連して使用されているModel S1701 Spi
nstandと同等である。
クテスターは、Guzik Technical Enterprises（San Jos
e, Calif.）により製造されているModel 2550 Read-Wri
te Analyzerと関連して使用されているModel S1701 Spi
nstandと同等である。
【００１８】本発明のヘッド／ディスクテスターの顕著
な特徴は、テスターが、熱ドリフトのあるなかで、磁気
ディスク３１に対する磁気ヘッド３４の正確な位置付け
を確実にする位置付けシステムを装備することである。
な特徴は、テスターが、熱ドリフトのあるなかで、磁気
ディスク３１に対する磁気ヘッド３４の正確な位置付け
を確実にする位置付けシステムを装備することである。
【００１９】位置付けシステムはサーボ分析器４５及び
位置制御器４９を含む。サーボ分析器の入力の１つは磁
気ヘッド３４のリード信号出力に接続される。スピンド
ルエンコーダー（spindle encoder）は、サーボ分析器
のもう１つの入力に一連のセクターパルス（sector pul
se）を入力する。サーボ分析器４５の１つの出力は磁気
ヘッド３４の書き込み素子（write element）に接続さ
れる。
位置制御器４９を含む。サーボ分析器の入力の１つは磁
気ヘッド３４のリード信号出力に接続される。スピンド
ルエンコーダー（spindle encoder）は、サーボ分析器
のもう１つの入力に一連のセクターパルス（sector pul
se）を入力する。サーボ分析器４５の１つの出力は磁気
ヘッド３４の書き込み素子（write element）に接続さ
れる。
【００２０】位置制御器４９の２つの入力は直線エンコ
ーダー４０及び４２の出力に接続され、位置制御器４９
の他のもう２つの入力はサーボ分析器４５のサーボバー
スト振幅（servo burst amplitude）出力に接続され
る。一連のセクターパルスは、位置制御器４９のもう１
つの入力に入力される。位置制御器４９の出力はピエゾ
アクチュエーター３７に電気的に接続される。
ーダー４０及び４２の出力に接続され、位置制御器４９
の他のもう２つの入力はサーボ分析器４５のサーボバー
スト振幅（servo burst amplitude）出力に接続され
る。一連のセクターパルスは、位置制御器４９のもう１
つの入力に入力される。位置制御器４９の出力はピエゾ
アクチュエーター３７に電気的に接続される。
【００２１】本発明の位置付けシステムは、（「サーボ
バースト」と呼ばれている）磁気ディスク上のデータト
ラックの中心を基準に異なった空間的な（放射方向の）
オフセットで書き込まれた特別な信号の組を使用する。
あるいは、ディスクに予め書き込まれたサーボバースト
を持ったディスクに応用されてもよく、そのような形式
では、サーボバーストの書き込み操作は必要とされな
い。
バースト」と呼ばれている）磁気ディスク上のデータト
ラックの中心を基準に異なった空間的な（放射方向の）
オフセットで書き込まれた特別な信号の組を使用する。
あるいは、ディスクに予め書き込まれたサーボバースト
を持ったディスクに応用されてもよく、そのような形式
では、サーボバーストの書き込み操作は必要とされな
い。
【００２２】ディスク上に書き込まれたサーボバースト
はまた、円周方向にデータトラックから分離される。結
果として、ディスクが放射方向に拡張している基準軸を
過ぎて回転するとき、サーボバーストとデータトラック
との空間的な位置は（ディスクの回転に対応する）時間
の関数として表される。この方法で見られるサーボバー
ストとデータトラックの例は図３に示されている。
はまた、円周方向にデータトラックから分離される。結
果として、ディスクが放射方向に拡張している基準軸を
過ぎて回転するとき、サーボバーストとデータトラック
との空間的な位置は（ディスクの回転に対応する）時間
の関数として表される。この方法で見られるサーボバー
ストとデータトラックの例は図３に示されている。
【００２３】
【実施例】図３の上部は、磁気ディスクのデータトラッ
クに対し、時間と、トラックに沿った物理的な位置との
関数として書き込まれているサーボ及びデータ信号の軌
跡を示す。データトラックの位置は、トラックの中心線
ＴＣＬ（track center line）の付近に中心がある。磁
気ヘッドの書き込み部分によってディスクに書き込まれ
た信号は、ＴＣＬに対し横方向に幅Ｔを持つ。図３に示
されているように、Ａ及びＢで示される２つのサーボバ
ーストは、最初に、連続して（または、逐次的に）ディ
スクに書き込まれ、そこにおいて、バーストＡはＴＣＬ
の一方の片側にＴ／４の距離だけ（放射方向に）オフセ
ットを持ち、バーストＢはＴＣＬのもう一方の片側にＴ
／４の距離だけ（放射方向に）オフセットを持つ。バー
ストＡ及びＢに続いて（すなわち、サーボ信号から円周
方向にオフセットを持って）、データが、ＴＣＬ（また
は、ＴＣＬの付近）に中心のあるデータトラックに書き
込まれる（あるいは、書き込むことができる）。図３の
中間部及び下部は、それぞれ、ライトサーボゲート信号
及びリードサーボゲート信号を図示しており、それら
は、バースト信号Ａ及びＢのそれぞれのライト及びリー
ドに対応する時間で第１状態を持ち、その他の時間に第
２状態を持つ２進信号である。リードゲート信号のパル
スは、最適な特性のために、ライトゲート信号のパルス
内の中央に位置するように示されている。
クに対し、時間と、トラックに沿った物理的な位置との
関数として書き込まれているサーボ及びデータ信号の軌
跡を示す。データトラックの位置は、トラックの中心線
ＴＣＬ（track center line）の付近に中心がある。磁
気ヘッドの書き込み部分によってディスクに書き込まれ
た信号は、ＴＣＬに対し横方向に幅Ｔを持つ。図３に示
されているように、Ａ及びＢで示される２つのサーボバ
ーストは、最初に、連続して（または、逐次的に）ディ
スクに書き込まれ、そこにおいて、バーストＡはＴＣＬ
の一方の片側にＴ／４の距離だけ（放射方向に）オフセ
ットを持ち、バーストＢはＴＣＬのもう一方の片側にＴ
／４の距離だけ（放射方向に）オフセットを持つ。バー
ストＡ及びＢに続いて（すなわち、サーボ信号から円周
方向にオフセットを持って）、データが、ＴＣＬ（また
は、ＴＣＬの付近）に中心のあるデータトラックに書き
込まれる（あるいは、書き込むことができる）。図３の
中間部及び下部は、それぞれ、ライトサーボゲート信号
及びリードサーボゲート信号を図示しており、それら
は、バースト信号Ａ及びＢのそれぞれのライト及びリー
ドに対応する時間で第１状態を持ち、その他の時間に第
２状態を持つ２進信号である。リードゲート信号のパル
スは、最適な特性のために、ライトゲート信号のパルス
内の中央に位置するように示されている。
【００２４】動作中、ヘッドの読み込み部分は、トラッ
クに沿って書き込まれた情報を表す信号を生成するため
に使用される。磁気ヘッドの読み込み部分がＴＣＬの周
りに対称に位置したとき、それの出力信号はデータトラ
ック上の情報のために最適化される。振幅がＴＣＬに沿
って読み込まれたときに比べ、ヘッドの読み込み部分は
ヘッドのすぐ下にある記憶された信号に対応する振幅を
持った出力信号を生成するので、磁気ヘッドの読み込み
部分がＴＣＬに対し、図３の矢印Ｘの方向に、横方向に
ずれて位置した場合（正のオフセット）、サーボバース
トＡにより検出される振幅は増大し、サーボバーストＢ
による振幅は減少する。磁気ヘッドの読み込み部分が矢
印Ｘの反対方向に位置した場合（負のオフセット）、振
幅がＴＣＬに沿って読み込まれたときに比べ、サーボバ
ーストＡによる振幅は減少し、サーボバーストＢによる
振幅は増大する。特定のオフセットに対し、サーボバー
ストＢからの読み出し信号の振幅に対するサーボバース
トＡからの読み出し信号の振幅の比は一定である（また
は、定数となる）。
クに沿って書き込まれた情報を表す信号を生成するため
に使用される。磁気ヘッドの読み込み部分がＴＣＬの周
りに対称に位置したとき、それの出力信号はデータトラ
ック上の情報のために最適化される。振幅がＴＣＬに沿
って読み込まれたときに比べ、ヘッドの読み込み部分は
ヘッドのすぐ下にある記憶された信号に対応する振幅を
持った出力信号を生成するので、磁気ヘッドの読み込み
部分がＴＣＬに対し、図３の矢印Ｘの方向に、横方向に
ずれて位置した場合（正のオフセット）、サーボバース
トＡにより検出される振幅は増大し、サーボバーストＢ
による振幅は減少する。磁気ヘッドの読み込み部分が矢
印Ｘの反対方向に位置した場合（負のオフセット）、振
幅がＴＣＬに沿って読み込まれたときに比べ、サーボバ
ーストＡによる振幅は減少し、サーボバーストＢによる
振幅は増大する。特定のオフセットに対し、サーボバー
ストＢからの読み出し信号の振幅に対するサーボバース
トＡからの読み出し信号の振幅の比は一定である（また
は、定数となる）。
【００２５】従来技術において、サーボバーストは、例
えば、リード／ライトヘッドをトラックの中心に移動さ
せそれをそこに保持する市販のハードディスク等で、ヘ
ッドをデータトラックに対し位置付けするための補助と
してシステムで使用されている。しかしながら、ヘッド
をトラックの中心に位置付けすることだけを必要とする
市販のハードディスクとは異なり、ヘッド／ディスクテ
スターは、異なったオフセットでの測定を実行するため
に、磁気ヘッドをトラックの中心からそれぞれのオフセ
ットへ繰り返し移動させることを必要とする。ヘッドの
高い精度のオフセットへの位置付けの、繰り返しでの、
確立はヘッドのテスティングのためのシステムにおいて
極めて重要である。ヘッドのパラメータ及びサーボバー
ストの振幅はそのヘッドによって異なるため、これらの
オフセットへの位置付けはサーボ情報だけを使用して決
定することができない。
えば、リード／ライトヘッドをトラックの中心に移動さ
せそれをそこに保持する市販のハードディスク等で、ヘ
ッドをデータトラックに対し位置付けするための補助と
してシステムで使用されている。しかしながら、ヘッド
をトラックの中心に位置付けすることだけを必要とする
市販のハードディスクとは異なり、ヘッド／ディスクテ
スターは、異なったオフセットでの測定を実行するため
に、磁気ヘッドをトラックの中心からそれぞれのオフセ
ットへ繰り返し移動させることを必要とする。ヘッドの
高い精度のオフセットへの位置付けの、繰り返しでの、
確立はヘッドのテスティングのためのシステムにおいて
極めて重要である。ヘッドのパラメータ及びサーボバー
ストの振幅はそのヘッドによって異なるため、これらの
オフセットへの位置付けはサーボ情報だけを使用して決
定することができない。
【００２６】これらの問題を解決し、ヘッドに対する正
確で繰り返し可能な（または、再現可能な）オフセット
を与えるために、本発明はヘッドの位置付け操作のため
に２つのフィードバック源（情報源）を使用する。１つ
の情報源は、基盤４３に対する往復台３０の位置を検出
する１組の直線エンコーダーであり、２つめの情報源
は、トラックの中心線に対するヘッドの実際の位置を表
す磁気ヘッドから読み込まれるサーボバースト情報であ
る。第１の情報源、直線エンコーダー、は、例えば、１
つのトラックからもう１つのトラックへ等の、ディスク
上で磁気ヘッドを１つの位置からもう１つの位置へ移動
させるために使用される。第２の情報源、サーボバース
ト情報、は磁気ヘッドをトラックの中心線に対して、特
定の放射方向のオフセット（を持った位置）に保持する
ために使用される。
確で繰り返し可能な（または、再現可能な）オフセット
を与えるために、本発明はヘッドの位置付け操作のため
に２つのフィードバック源（情報源）を使用する。１つ
の情報源は、基盤４３に対する往復台３０の位置を検出
する１組の直線エンコーダーであり、２つめの情報源
は、トラックの中心線に対するヘッドの実際の位置を表
す磁気ヘッドから読み込まれるサーボバースト情報であ
る。第１の情報源、直線エンコーダー、は、例えば、１
つのトラックからもう１つのトラックへ等の、ディスク
上で磁気ヘッドを１つの位置からもう１つの位置へ移動
させるために使用される。第２の情報源、サーボバース
ト情報、は磁気ヘッドをトラックの中心線に対して、特
定の放射方向のオフセット（を持った位置）に保持する
ために使用される。
【００２７】本発明の好まれる実施例に従うと、サーボ
バーストＡ及びＢは高周波信号である。テストを開始す
る前に、図３の上部に図示されているように、これらの
サーボバーストは各セクターの頭の部分の、データトラ
ックのすぐ前に書き込まれる。その図に示されているよ
うに、サーボバーストＡはヘッドの書き込み幅（write-
width）の１／４に等しくオフセットを持って書き込ま
れる。サーボバーストＢはヘッドの書き込み幅の−１／
４に等しくオフセットを持って書き込まれる。他のオフ
セットも他の実施例にて使用されてもよい。
バーストＡ及びＢは高周波信号である。テストを開始す
る前に、図３の上部に図示されているように、これらの
サーボバーストは各セクターの頭の部分の、データトラ
ックのすぐ前に書き込まれる。その図に示されているよ
うに、サーボバーストＡはヘッドの書き込み幅（write-
width）の１／４に等しくオフセットを持って書き込ま
れる。サーボバーストＢはヘッドの書き込み幅の−１／
４に等しくオフセットを持って書き込まれる。他のオフ
セットも他の実施例にて使用されてもよい。
【００２８】図４は、２つのフィードバック情報源から
の情報を処理するサーボ分析器４５をブロック図の形式
で示している。この図に図示されているように、サーボ
分析器４５は、スピンドル４４のエンコーダーからの入
力信号を受信するシーケンサ（順序決定装置）６５を含
む。シーケンサ６５はライト増幅器６６を通して、磁気
ヘッド３４の書き込み素子に接続される。磁気ヘッド３
４の読み込み素子はリード増幅器６１へ接続され、それ
は直列で、検出器６２、ＡＤ変換機（ＡＤＣ）６３、平
均器６４、及び、最後に位置制御器４９に接続される。
平均器６４は、シーケンサ６５からの信号でゲート制御
される。
の情報を処理するサーボ分析器４５をブロック図の形式
で示している。この図に図示されているように、サーボ
分析器４５は、スピンドル４４のエンコーダーからの入
力信号を受信するシーケンサ（順序決定装置）６５を含
む。シーケンサ６５はライト増幅器６６を通して、磁気
ヘッド３４の書き込み素子に接続される。磁気ヘッド３
４の読み込み素子はリード増幅器６１へ接続され、それ
は直列で、検出器６２、ＡＤ変換機（ＡＤＣ）６３、平
均器６４、及び、最後に位置制御器４９に接続される。
平均器６４は、シーケンサ６５からの信号でゲート制御
される。
【００２９】動作中、サーボの書き込み及び読み込み動
作はサーボ分析器４５により実行される。スピンドル４
４は、スピンドルがディスク３１を回転させるとき、均
等な時間間隔で一連の（または、逐次的な）セクターパ
ルスを発生する。これらのパルスはシーケンサ６５に入
力され、それは２つの制御信号「ライトサーボゲート」
及び「リードサーボゲート」を生成する。ライトサーボ
ゲートは、図３の上部に示されているサーボバーストを
書き込むためにヘッド３４の書き込み素子を駆動するラ
イト増幅器６６を有効（enable）にするために使用され
る。
作はサーボ分析器４５により実行される。スピンドル４
４は、スピンドルがディスク３１を回転させるとき、均
等な時間間隔で一連の（または、逐次的な）セクターパ
ルスを発生する。これらのパルスはシーケンサ６５に入
力され、それは２つの制御信号「ライトサーボゲート」
及び「リードサーボゲート」を生成する。ライトサーボ
ゲートは、図３の上部に示されているサーボバーストを
書き込むためにヘッド３４の書き込み素子を駆動するラ
イト増幅器６６を有効（enable）にするために使用され
る。
【００３０】ヘッド３４の読み込み素子はリード信号を
発生し、それはサーボ分析器４５のリード増幅器６１に
より増幅される。検出器６２は、サーボバーストの比較
的高周波に中心を持つ高品質バンドパスフィルターを使
用して、増幅されたリード信号をフィルタリングし、リ
ード信号の包絡線（envelope）を表す信号を生成する。
この包絡線信号はサンプリングＡＤ変換機（ＡＤＣ）６
３によりサンプリング及びデジタル化される。ＡＤＣ
（６３）からのデジタル値は、サーボバーストの振幅の
統計的推定を与えるために平均器６４で平均化（また
は、相加平均）される。平均器６４は、シーケンサ６５
のリードサーボゲート出力の手段でサーボバーストと同
期化される。図３の下部に示されているように、リード
サーボゲートは、サーボバーストが有効なときだけハイ
（high）になる。リードサーボゲートの第１のパルス
中、平均器６４はサーボバーストＡの包絡線のサンプリ
ングされた値を平均化する。第２のパルス中、平均器６
４はサーボバーストＢの包絡線の値を平均化する。リー
ドサーボゲートの２つのハイ（high）状態の発生に続い
て、平均器６４はサーボバーストＡ及びＢの検出された
振幅の、それぞれの平均化された値を表す信号をサーボ
分析器４５の出力に供給する。これらの出力信号は、例
えば図５に示されるタイプの、ヘッド３４のための位置
制御器４９に入力される。
発生し、それはサーボ分析器４５のリード増幅器６１に
より増幅される。検出器６２は、サーボバーストの比較
的高周波に中心を持つ高品質バンドパスフィルターを使
用して、増幅されたリード信号をフィルタリングし、リ
ード信号の包絡線（envelope）を表す信号を生成する。
この包絡線信号はサンプリングＡＤ変換機（ＡＤＣ）６
３によりサンプリング及びデジタル化される。ＡＤＣ
（６３）からのデジタル値は、サーボバーストの振幅の
統計的推定を与えるために平均器６４で平均化（また
は、相加平均）される。平均器６４は、シーケンサ６５
のリードサーボゲート出力の手段でサーボバーストと同
期化される。図３の下部に示されているように、リード
サーボゲートは、サーボバーストが有効なときだけハイ
（high）になる。リードサーボゲートの第１のパルス
中、平均器６４はサーボバーストＡの包絡線のサンプリ
ングされた値を平均化する。第２のパルス中、平均器６
４はサーボバーストＢの包絡線の値を平均化する。リー
ドサーボゲートの２つのハイ（high）状態の発生に続い
て、平均器６４はサーボバーストＡ及びＢの検出された
振幅の、それぞれの平均化された値を表す信号をサーボ
分析器４５の出力に供給する。これらの出力信号は、例
えば図５に示されるタイプの、ヘッド３４のための位置
制御器４９に入力される。
【００３１】テスト中、ヘッド３４は通常、トラックの
中心線を基準にして異なった（放射方向の）オフセット
に移動することを必要とする。（図５に示されている）
位置制御器４９はこれらの位置付け動作を実行するため
に使用される。制御器４９は、制御器７１、３つの加算
器７２、７３、及び８０、比例積分微分（ＰＩＤ（prop
ortional-integral-derivative））閉ループ制御ユニッ
ト７４、増幅器７５、位置平均器７８、除算器７９、メ
モリー８２、スケーラー（scaler）７７、及び２つのス
イッチ７６及び８１を含む。図５に示されているよう
に、任意の指示されたオフセット（命令位置）への移動
中、制御器７１はスイッチ７６及び８１を位置２へ動か
す。スイッチ７６及び８１がこの位置にあるとき、加算
器７２の入力の１つはゼロになり、それにより、「命令
位置」と「補正された命令位置」は等しくなる。これ
は、サーボバーストのフィードバックが無効になってい
ることを意味する。直線エンコーダー４０及び４２から
のフィードバック信号Ｓ1及びＳ2は、ヘッド３４を命令
位置に移動させるために使用される。直線エンコーダー
の現在の位置を反映するフィードバック信号Ｓ1及びＳ2
の値は位置平均器７８で平均化される。結果である（Ｓ
1＋Ｓ2）／２は加算器７３で命令位置から減算される。
現在位置と命令位置との間の差異（位置付けエラー）
は、増幅器７５を介してピエゾアクチュエーター３７へ
伝わる制御信号を修正するために、ＰＩＤ（比例積分微
分）ユニット７４で処理される。ＰＩＤ制御の結果とし
て、位置付けエラーはかなり小さくなる。通常のオフセ
ット操作に対して、移動は１０ミリ秒以内に終了する。
そのような短い時間での熱ドリフトは無視することがで
きる。
中心線を基準にして異なった（放射方向の）オフセット
に移動することを必要とする。（図５に示されている）
位置制御器４９はこれらの位置付け動作を実行するため
に使用される。制御器４９は、制御器７１、３つの加算
器７２、７３、及び８０、比例積分微分（ＰＩＤ（prop
ortional-integral-derivative））閉ループ制御ユニッ
ト７４、増幅器７５、位置平均器７８、除算器７９、メ
モリー８２、スケーラー（scaler）７７、及び２つのス
イッチ７６及び８１を含む。図５に示されているよう
に、任意の指示されたオフセット（命令位置）への移動
中、制御器７１はスイッチ７６及び８１を位置２へ動か
す。スイッチ７６及び８１がこの位置にあるとき、加算
器７２の入力の１つはゼロになり、それにより、「命令
位置」と「補正された命令位置」は等しくなる。これ
は、サーボバーストのフィードバックが無効になってい
ることを意味する。直線エンコーダー４０及び４２から
のフィードバック信号Ｓ1及びＳ2は、ヘッド３４を命令
位置に移動させるために使用される。直線エンコーダー
の現在の位置を反映するフィードバック信号Ｓ1及びＳ2
の値は位置平均器７８で平均化される。結果である（Ｓ
1＋Ｓ2）／２は加算器７３で命令位置から減算される。
現在位置と命令位置との間の差異（位置付けエラー）
は、増幅器７５を介してピエゾアクチュエーター３７へ
伝わる制御信号を修正するために、ＰＩＤ（比例積分微
分）ユニット７４で処理される。ＰＩＤ制御の結果とし
て、位置付けエラーはかなり小さくなる。通常のオフセ
ット操作に対して、移動は１０ミリ秒以内に終了する。
そのような短い時間での熱ドリフトは無視することがで
きる。
【００３２】位置付けエラーがゼロに達したとき、制御
器７１は、全てのセクターに対し、（除算器７９で計算
された）サーボバーストＡとサーボバーストＢの振幅の
比をメモリー８２の配列に保存（セーブ）する。この
（メモリーの）配列は指示された命令位置のために使用
される（または、命令位置のために割り当てられてい
る）。全てのバーストの比が保存されたとき、制御器７
１はスイッチ７６及び８１を位置１に動かし、それによ
りサーボバーストのフィードバックを有効にする。引き
続いてのサーボ制御動作は次のようになる。
器７１は、全てのセクターに対し、（除算器７９で計算
された）サーボバーストＡとサーボバーストＢの振幅の
比をメモリー８２の配列に保存（セーブ）する。この
（メモリーの）配列は指示された命令位置のために使用
される（または、命令位置のために割り当てられてい
る）。全てのバーストの比が保存されたとき、制御器７
１はスイッチ７６及び８１を位置１に動かし、それによ
りサーボバーストのフィードバックを有効にする。引き
続いてのサーボ制御動作は次のようになる。
【００３３】各セクターに対し、制御器７１は、指示さ
れた命令位置及びこのセクターに対応するメモリーのア
ドレスを出力する。加算器８０は、（除算器７９により
計算された）現在のサーボバーストＡとＢの振幅の比を
メモリー８２に保存された比から減算する。結果（「サ
ーボエラー」）はスケーラー７７でサーボ制御係数（se
rvo control factor）により乗算される。サーボ制御係
数はヘッド３４及び磁気ディスク３１の特性に依存す
る。それは、特定の型のヘッド及び磁気ディスクに対し
ては、簡単な較正手順を介して決定される。較正は、ヘ
ッド及び磁気ディスクが変化する度に繰り返される必要
はない。スケーラー７７の出力信号（「サーボシフ
ト」）は加算器７２への入力となり、それは次に、命令
位置からサーボシフトを減算する。加算器７２の入力は
ゼロではないので、「補正さえた命令位置」は実際の
（または、元の）命令位置とは異なり、そして、その差
異は、ヘッドをトラックの中心からの指示されたオフセ
ットへ移動する（または、戻す）ために必要な補正に等
しい。ＰＩＤ制御ユニットは、ヘッド３４をトラックの
中心からの指示されたオフセットへ移動する（または、
戻す）ために増幅器７５を介してピエゾアクチュエータ
ー３７に適用される制御信号を修正する。結果として、
サーボバーストＡ及びＢの比は一定に保持される。
れた命令位置及びこのセクターに対応するメモリーのア
ドレスを出力する。加算器８０は、（除算器７９により
計算された）現在のサーボバーストＡとＢの振幅の比を
メモリー８２に保存された比から減算する。結果（「サ
ーボエラー」）はスケーラー７７でサーボ制御係数（se
rvo control factor）により乗算される。サーボ制御係
数はヘッド３４及び磁気ディスク３１の特性に依存す
る。それは、特定の型のヘッド及び磁気ディスクに対し
ては、簡単な較正手順を介して決定される。較正は、ヘ
ッド及び磁気ディスクが変化する度に繰り返される必要
はない。スケーラー７７の出力信号（「サーボシフ
ト」）は加算器７２への入力となり、それは次に、命令
位置からサーボシフトを減算する。加算器７２の入力は
ゼロではないので、「補正さえた命令位置」は実際の
（または、元の）命令位置とは異なり、そして、その差
異は、ヘッドをトラックの中心からの指示されたオフセ
ットへ移動する（または、戻す）ために必要な補正に等
しい。ＰＩＤ制御ユニットは、ヘッド３４をトラックの
中心からの指示されたオフセットへ移動する（または、
戻す）ために増幅器７５を介してピエゾアクチュエータ
ー３７に適用される制御信号を修正する。結果として、
サーボバーストＡ及びＢの比は一定に保持される。
【００３４】サーボバーストのフィードバックが有効に
なっている間、直線エンコーダー４０及び４２からのフ
ィードバックが無効になっていないことに注意すること
は重要である。さらに、サーボバーストからのフィード
バックがバーストの振幅が読み込まれた後、各セクター
で一度だけ適用されるのに対し、直線エンコーダー４０
及び４２からのフィードバックは連続的に適用される。
なっている間、直線エンコーダー４０及び４２からのフ
ィードバックが無効になっていないことに注意すること
は重要である。さらに、サーボバーストからのフィード
バックがバーストの振幅が読み込まれた後、各セクター
で一度だけ適用されるのに対し、直線エンコーダー４０
及び４２からのフィードバックは連続的に適用される。
【００３５】テスト中に、ヘッドが以前に使用されたオ
フセットの１つへ移動することを要求された場合、次の
構成（または、手順）が使用される。
フセットの１つへ移動することを要求された場合、次の
構成（または、手順）が使用される。
【００３６】以前に使用されたオフセットへの移動中、
制御器７１はサーボバーストのフィードバックを無効に
し、ヘッド３４を上述されたような要求される位置に移
動させるために、直線エンコーダー４０及び４２からの
フィードバックを使用する。位置付けエラーが特定の限
界値（例えば、０．０２５μｍ）以下になったとき、制
御器７１は各セクターに対する指示された命令位置に対
応するメモリーアドレスを出力する。制御器７１はスイ
ッチ７６及び８１を位置１に移動させ、それにより、サ
ーボバーストのフィードバックを有効にする。引き続き
のサーボ制御動作は、新しいオフセットへの移動の場合
のために上述したのと同じである。
制御器７１はサーボバーストのフィードバックを無効に
し、ヘッド３４を上述されたような要求される位置に移
動させるために、直線エンコーダー４０及び４２からの
フィードバックを使用する。位置付けエラーが特定の限
界値（例えば、０．０２５μｍ）以下になったとき、制
御器７１は各セクターに対する指示された命令位置に対
応するメモリーアドレスを出力する。制御器７１はスイ
ッチ７６及び８１を位置１に移動させ、それにより、サ
ーボバーストのフィードバックを有効にする。引き続き
のサーボ制御動作は、新しいオフセットへの移動の場合
のために上述したのと同じである。
【００３７】上述した位置付けシステムにより到達する
ことができるオフセットの範囲を拡大するために、図３
に示された２つのバーストの代わりに、さらに多いバー
ストを使用することができる。８つのバーストを持った
例が図６に示されている。図６に示されているように、
この場合のリードサーボゲート信号は５つのパルスから
成る。バーストの振幅の５つの値、Ａ、Ｂ、Ｃ（または
Ｈ）、Ｄ（またはＧ）、Ｅ（またはＦ）はサーボ分析器
４５の出力から位置制御器４９の入力へ伝達される。８
つのバーストの場合の位置制御器４９の機能図が図７に
示されている。図７は、除算器９１に代わる、３つの付
加的なブロック：比較器９０、除算器９１、及びバース
トセレクタ９２、の部分が図５（２つのバーストの場合
の位置制御器４９の機能図）と異なる。
ことができるオフセットの範囲を拡大するために、図３
に示された２つのバーストの代わりに、さらに多いバー
ストを使用することができる。８つのバーストを持った
例が図６に示されている。図６に示されているように、
この場合のリードサーボゲート信号は５つのパルスから
成る。バーストの振幅の５つの値、Ａ、Ｂ、Ｃ（または
Ｈ）、Ｄ（またはＧ）、Ｅ（またはＦ）はサーボ分析器
４５の出力から位置制御器４９の入力へ伝達される。８
つのバーストの場合の位置制御器４９の機能図が図７に
示されている。図７は、除算器９１に代わる、３つの付
加的なブロック：比較器９０、除算器９１、及びバース
トセレクタ９２、の部分が図５（２つのバーストの場合
の位置制御器４９の機能図）と異なる。
【００３８】磁気ヘッド３４が新しいオフセットに移動
する場合、位置付けエラーが０になった時点で、比較器
９０は最初のセクターに対し、バーストＡ、Ｂ、Ｃ（ま
たはＨ）、Ｄ（またはＧ）、Ｅ（またはＦ）を比較し、
３つの最大振幅のバーストＢ 1≦Ｂ2≦Ｂ3を見つけ出
す。除算器９１は２つのバーストの振幅の比Ｂ1／Ｂ2及
びＢ2／Ｂ3を見つけ出す。バーストセレクタ９２は、３
つのバーストの中から、最もその比が１に近い２つＮ
(1)及びＮ(2)を選択する（Ｂ1≦Ｂ2≦Ｂ3なので、Ｂ1／
Ｂ3は常にＢ1／Ｂ2及びＢ2／Ｂ3の両者よりも大きい
（または、等しい））。数値Ｎ(1)及びＮ(2)と、それら
のバーストの比は制御器７１によってメモリー８２の配
列に保存される。トラックの他の全てのセクターに対し
て、制御器７１は比較器９０をオフにし、バーストセレ
クタ９２を（現在の選択場所に）固定する。それによ
り、バーストセレクタ９２はＮ(1)及びＮ(2)の比をメモ
リー８２に送信する。全てのバーストの比が保存された
とき、制御器７１はスイッチ７６及び８１を位置１に動
かし、それにより、サーボバーストのフィードバックを
有効にする。バーストＮ(1)及びＮ(2)は次に、２バース
トの場合に説明されたのと同じ方法で、後に続くサーボ
制御動作で使用される。
する場合、位置付けエラーが０になった時点で、比較器
９０は最初のセクターに対し、バーストＡ、Ｂ、Ｃ（ま
たはＨ）、Ｄ（またはＧ）、Ｅ（またはＦ）を比較し、
３つの最大振幅のバーストＢ 1≦Ｂ2≦Ｂ3を見つけ出
す。除算器９１は２つのバーストの振幅の比Ｂ1／Ｂ2及
びＢ2／Ｂ3を見つけ出す。バーストセレクタ９２は、３
つのバーストの中から、最もその比が１に近い２つＮ
(1)及びＮ(2)を選択する（Ｂ1≦Ｂ2≦Ｂ3なので、Ｂ1／
Ｂ3は常にＢ1／Ｂ2及びＢ2／Ｂ3の両者よりも大きい
（または、等しい））。数値Ｎ(1)及びＮ(2)と、それら
のバーストの比は制御器７１によってメモリー８２の配
列に保存される。トラックの他の全てのセクターに対し
て、制御器７１は比較器９０をオフにし、バーストセレ
クタ９２を（現在の選択場所に）固定する。それによ
り、バーストセレクタ９２はＮ(1)及びＮ(2)の比をメモ
リー８２に送信する。全てのバーストの比が保存された
とき、制御器７１はスイッチ７６及び８１を位置１に動
かし、それにより、サーボバーストのフィードバックを
有効にする。バーストＮ(1)及びＮ(2)は次に、２バース
トの場合に説明されたのと同じ方法で、後に続くサーボ
制御動作で使用される。
【００３９】磁気ヘッド３４が以前に使用されたオフセ
ットに移動するとき、制御器７１は、ヘッド３４を要求
される位置に移動するために、サーボバーストのフィー
ドバックを無効にし、直線エンコーダー４０及び４２か
らのフィードバックを使用する。位置付けエラーが特定
の限界値（例えば、０．０２５μｍ）以下になったと
き、制御器７１は、指示された命令位置のために使用さ
れるべきバーストの数値Ｎ(1)及びＮ(2)をメモリー８２
から読み出す。そして、バーストＮ(1)及びＮ(2)の比を
使用するために、それは比較器９０を無効にし、バース
トセレクタ９２を固定する。その後、制御器７１は、各
セクターに対する指示された命令位置に対応したメモリ
ーアドレスを出力する。制御器７１は、スイッチ７６及
び８１を位置１に動かし、それにより、サーボバースト
のフィードバックを有効にする。引き続きのサーボ制御
動作は、２バーストの場合に対し説明したものと同じで
ある。
ットに移動するとき、制御器７１は、ヘッド３４を要求
される位置に移動するために、サーボバーストのフィー
ドバックを無効にし、直線エンコーダー４０及び４２か
らのフィードバックを使用する。位置付けエラーが特定
の限界値（例えば、０．０２５μｍ）以下になったと
き、制御器７１は、指示された命令位置のために使用さ
れるべきバーストの数値Ｎ(1)及びＮ(2)をメモリー８２
から読み出す。そして、バーストＮ(1)及びＮ(2)の比を
使用するために、それは比較器９０を無効にし、バース
トセレクタ９２を固定する。その後、制御器７１は、各
セクターに対する指示された命令位置に対応したメモリ
ーアドレスを出力する。制御器７１は、スイッチ７６及
び８１を位置１に動かし、それにより、サーボバースト
のフィードバックを有効にする。引き続きのサーボ制御
動作は、２バーストの場合に対し説明したものと同じで
ある。
【００４０】図６に示されているバーストの組は、−７
／４Ｔと＋７／４Ｔとの間の可能なオフセットの範囲を
確実にする（ここで、Ｔは磁気ヘッドのライト幅であ
る）。同じ時間に異なったオフセットで書き込まれたバ
ーストの中心は、１０／４離れているので（図６参
照）、それらはお互いに影響を与える事が無く、各オフ
セットに対し、それらの（例えば、ＣまたはＨの）一方
だけが使用される。バースト選択の上述の手順は、範囲
［１／２，１］内の比を持ったバーストの組の選択を導
く。これは、バーストの振幅がノイズレベルに近づき過
ぎることがなく、かつ、大きすぎないことを確実にす
る。この領域で、オフセットに対するバーストの振幅の
比の感度は高い。結果として、サーボバーストのフィー
ドバックの質及び、それによるヘッドの位置付けの再現
性は増大する。
／４Ｔと＋７／４Ｔとの間の可能なオフセットの範囲を
確実にする（ここで、Ｔは磁気ヘッドのライト幅であ
る）。同じ時間に異なったオフセットで書き込まれたバ
ーストの中心は、１０／４離れているので（図６参
照）、それらはお互いに影響を与える事が無く、各オフ
セットに対し、それらの（例えば、ＣまたはＨの）一方
だけが使用される。バースト選択の上述の手順は、範囲
［１／２，１］内の比を持ったバーストの組の選択を導
く。これは、バーストの振幅がノイズレベルに近づき過
ぎることがなく、かつ、大きすぎないことを確実にす
る。この領域で、オフセットに対するバーストの振幅の
比の感度は高い。結果として、サーボバーストのフィー
ドバックの質及び、それによるヘッドの位置付けの再現
性は増大する。
【００４１】
【発明の効果】上記の構成により、本発明は、磁気ヘッ
ドのデータトラックに対する位置を、たとえ温度が安定
していないような状態であっても、必要なだけ同じ場所
に保持することを可能にする。
ドのデータトラックに対する位置を、たとえ温度が安定
していないような状態であっても、必要なだけ同じ場所
に保持することを可能にする。
【００４２】本発明は特定の例への参照と共に示され説
明されてきたが、これらの例は本発明の応用の範囲また
は分野を制限せず、請求項の範囲内のいかなる修正及び
変更も可能であることが理解される。例えば、ヘッド／
ディスクテスターは磁気ヘッドのテストに関連して説明
されてきたが、同様なヘッド／ディスクテスター及び同
様な位置付けシステムがヘッドスタック（head stack）
の磁気ヘッドのテストにも応用できる。上述のサーボ制
御方法は、いかなるタイプの磁気ヘッド／ディスクテス
ターの熱ドリフトを補正するためにも使用することがで
きる。いかなる数のバースト及び、それらのバーストの
いかなる配置も、図３または図６に示されているものの
代わりに使用することができる。
明されてきたが、これらの例は本発明の応用の範囲また
は分野を制限せず、請求項の範囲内のいかなる修正及び
変更も可能であることが理解される。例えば、ヘッド／
ディスクテスターは磁気ヘッドのテストに関連して説明
されてきたが、同様なヘッド／ディスクテスター及び同
様な位置付けシステムがヘッドスタック（head stack）
の磁気ヘッドのテストにも応用できる。上述のサーボ制
御方法は、いかなるタイプの磁気ヘッド／ディスクテス
ターの熱ドリフトを補正するためにも使用することがで
きる。いかなる数のバースト及び、それらのバーストの
いかなる配置も、図３または図６に示されているものの
代わりに使用することができる。
【図１】従来技術のヘッド／ディスクテスターの上から
の図である。
の図である。
【図２】本発明のテスターの上からの図である。
【図３】磁気ディスクから読まれたサーボバースト信号
及びデータ信号のタイミング図と、ライトサーボゲート
信号及びリードサーボゲート信号のタイミング図であ
る。
及びデータ信号のタイミング図と、ライトサーボゲート
信号及びリードサーボゲート信号のタイミング図であ
る。
【図４】サーボ分析器の機能ブロック図である。
【図５】位置付け制御器の機能ブロック図である。
【図６】磁気ディスクから読まれたサーボバースト信号
及びデータ信号のタイミング図と、８つのサーボバース
トの組のためのリードサーボゲート信号のタイミング図
である。
及びデータ信号のタイミング図と、８つのサーボバース
トの組のためのリードサーボゲート信号のタイミング図
である。
【図７】８つのサーボバーストの組を使用している位置
付け制御器の機能ブロック図である。
付け制御器の機能ブロック図である。
１０ 往復台 １１ 磁気ディスク １２ 磁気ヘッド支持 １３ 内部のリング １４ 磁気ヘッド １５ 外部のリング １６ レール １７ ピエゾアクチュエーター １８ レール １９ ステップモーター ２０ 直線エンコーダー ２０ａ 直線エンコーダーの静止部分 ２０ｂ 直線エンコーダーの可動部分 ２１ 親ネジ ２１Ａ 中間ブロック ２１Ｂ、２１Ｃ レール ２２ａ 直線エンコーダーの静止部分 ２２ｂ 直線エンコーダーの可動部分 ２３ 基盤 ２５ 制御器−増幅器 ３０ 往復台 ３１ 磁気ディスク ３２ 磁気ヘッド支持 ３３ 内部のリング ３４ 磁気ヘッド ３５ 外部のリング ３６ レール ３７ ピエゾアクチュエーター ３８ レール ３９ ステップモーター ４０ 直線エンコーダー ４０ａ 直線エンコーダーの静止部分 ４０ｂ 直線エンコーダーの静止部分 ４１ 親ネジ ４１Ａ 中間ブロック ４１Ｂ、４１Ｃ レール ４２ａ 直線エンコーダーの静止部分 ４２ｂ 直線エンコーダーの静止部分 ４３ 基盤 ４４ スピンドル ４５ サーボ分析器 ４９ 位置制御器 ６１ リード増幅器 ６２ 検出器 ６４ 平均器 ６５ シーケンサ ６６ ライト増幅器 ７１ 制御器 ７２ 加算器 ７３ 加算器 ７４ 閉ループ制御ユニット ７５ 増幅器 ７６ スイッチ ７７ スケーラー ７８ 位置平均器 ７９ 除算器 ８０ 加算器 ８１ スイッチ ８２ メモリー ９０ 比較器 ９１ 除算器 ９２ バーストセレクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 イーリアー・ボクヒタイン アメリカ合衆国カリフォルニア州サンタク ララ、カーメン・コート1302 (72)発明者 アナトーリ・ビー・スタイン アメリカ合衆国カリフォルニア州ロスアー ルトース、ストーンブルック・ドライブ 10944 (72)発明者 ネイハム・ガジック アメリカ合衆国カリフォルニア州パロアル トー、オールド・アドービ・ロード4183 (72)発明者 アレクサンデル・ヴァルラハノフ アメリカ合衆国カリフォルニア州パロアル トー、ラモーナ・ストリート3440、アパー トメント12
Claims (19)
- 【請求項１】 ディスク軸の周りに配置された磁気ディ
スク上の円形トラックの中心線（ＴＣＬ）に沿って拡張
している、前記ディスク軸の周りに配置された前記磁気
ディスク上のデータトラックに対する所望のオフセット
（を持った位置）への磁気ヘッドの位置付のための、熱
ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った
ヘッド／ディスクテスターであって： Ａ．基盤； Ｂ．前記基盤に取り付けられ、磁気ディスクを前記ディ
スク軸の周りに回転できるように支えるために適応して
いるスピンドル； Ｃ．前記基盤に支えられ、読み取り素子及び書き込み素
子を持った磁気ヘッドを前記磁気ディスクに重なる領域
に支えるための組立品を持った移動可能な往復台； Ｄ．前記往復台を前記磁気ヘッドと共に前記磁気ディス
クに対し、ディスク軸を横切る方向に移動させるための
位置付け手段； Ｅ．安定した温度状態で、前記磁気ディスクの前記デー
タトラックに対する前記磁気ヘッドの位置を決めるため
の第１のフィードバック手段； Ｆ．変化する温度状態で、前記磁気ディスクの前記デー
タトラックに対する前記磁気ヘッドの位置を決めるため
の第２のフィードバック手段であって、前記磁気ディス
ク上の、予め決められた前記トラックの中心線から放射
方向へのオフセット（を持った位置）にあるサーボバー
スト信号に応答する前記第２フィードバック手段；と Ｇ．前記位置付け手段を制御し、それにより、前記磁気
ヘッドを、実質的に前記トラック中心線から所望のオフ
セット（を持った位置）に位置させるために、前記第１
フィードバック手段及び第２フィードバック手段に応答
する閉ループ位置決め装置（または、閉ループポジショ
ナー）、から成る閉ループ位置付けシステムを持ったヘ
ッド／ディスクテスター。 - 【請求項２】 前記位置付け手段が：前記磁気トラック
中心線に対する基準上の位置への前記磁気ヘッドの開ル
ープ位置付けを成し遂げるための複数のモーターと、 少なくとも１つの、前記ヘッドの閉ループ位置付けを成
し遂げるためのピエゾアクチュエーターを含む、請求項
１に記載のヘッド／ディスクテスター。 - 【請求項３】 前記第１フィードバック手段が、前記基
盤に対する前記往復台の移動方向に沿った、前記往復台
の位置を検出するための、少なくとも１つの直線エンコ
ーダーを含む、請求項１に記載のヘッド／ディスクテス
ター。 - 【請求項４】 前記第２フィードバック手段が、前記磁
気ディスクに予め書き込まれた前記サーボバースト信号
の振幅を検出するための検出器を含む、請求項１に記載
のヘッド／ディスクテスター。 - 【請求項５】 前記第２フィードバック手段がさらに、
前記検出されたサーボバースト信号の振幅をサンプリン
グし、前記予め書き込まれたバースト信号の平均値（ま
たは、相加平均）を決める平均器を含む、請求項４に記
載のヘッド／ディスクテスター。 - 【請求項６】 前記磁気ディスクのトラックに沿った複
数の位置に、前記サーボバースト信号を予め書き込むた
めと、前記予め書き込まれたバースト信号の振幅を検出
するための手段をさらに備える、請求項４に記載のヘッ
ド／ディスクテスター。 - 【請求項７】 前記磁気ディスクのトラックの中心線か
ら複数のオフセット（を持った位置）に、前記サーボバ
ースト信号を予め書き込むためと、前記予め書き込まれ
たバースト信号の振幅を検出するための手段をさらに備
える、請求項４に記載のヘッド／ディスクテスター。 - 【請求項８】 前記閉ループ位置付け装置が、比例積分
微分（ＰＩＤ）制御ループ、前記サーボバースト信号の
平均化された振幅の比を決める除算器、指示されたヘッ
ドの位置に対応する前記比を格納するメモリー、及び、
前記比の変化に応じて前記ＰＩＤ制御ループの命令位置
を変更する付加的なサーボループを含む、請求項１に記
載のヘッド／ディスクテスター。 - 【請求項９】 前記付加的なサーボループが、前記磁気
ヘッドの指示された位置への移動中に無効（または、動
作していない状態）であり、前記移動が終了した後に有
効（動作状態）である、請求項８に記載のヘッド／ディ
スクテスター。 - 【請求項１０】 磁気ヘッドのテストの開始前に、少な
くとも２つのサーボバースト信号が磁気ヘッドにより磁
気ディスク上の、前記磁気ディスクのデータトラックの
中心線から複数のオフセット（を持った位置）に予め書
き込まれる、磁気ヘッド／ディスクテスターの位置付け
の方法であって： Ａ．前記磁気ディスクに対する、前記磁気ヘッドの、前
記磁気ディスクの全体の幅の実質的な部分を含む広い領
域内にある位置を反映する第１のフィードバック源（ま
たは、情報源）を使用する閉ループ位置付け装置（また
は、閉ループポジショナー）により、前記磁気ディスク
上で前記磁気ヘッドを１つの位置からもう１つの位置へ
移動させること；と Ｂ．前記磁気ディスク上の前記中心線から横方向のオフ
セット（を持った位置）に保存（または、記憶）され
た、予め書き込まれたサーボバースト信号の組であり、
前記磁気ディスクの前記データトラック近辺の比較的狭
い領域で、前記磁気ディスクに対する前記磁気ヘッドの
局所的な位置を反映する第２のフィードバック源（また
は、情報源）に応答する付加的な閉ループを使用して、
前記磁気ディスク上の指示された位置で前記磁気ヘッド
の位置を調整すること、の手段から成る磁気ヘッド／デ
ィスクテスターの位置付けの方法。 - 【請求項１１】 前記磁気ディスクに対する前記磁気ヘ
ッドの位置を決めるためにサーボバースト信号の比が使
用される、請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１２】 前記サーボバースト信号が前記磁気デ
ィスクのトラックに沿った複数の位置に予め書き込まれ
る、請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１３】 複数のサーボバースト信号が、前記磁
気ディスクのトラックの中心線から異なったオフセット
（持った位置）に予め書き込まれ、それにより、前記第
２フィードバック源の比較的広い動作範囲をもたらす、
請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１４】 前記第２のフィードバック源と共に使
われるバーストを選択するための手段であって： ｉ．最大の振幅を持った３つのバースト信号Ｂ1≦Ｂ2≦
Ｂ3を選択すること； ｉｉ．比Ｂ1／Ｂ2及びＢ2／Ｂ3を計算すること； ｉｉｉ．最も１に近い比に対応する２つのバーストを選
択すること、の副手段を使用する手段をさらに含む、請
求項１３に記載の方法。 - 【請求項１５】 狭帯域のバンドパスフィルタリング及
び（／または）平均化が、前記第２のフィードバック源
に対し比較的高いノイズ耐性をもたらす、請求項１１に
記載の方法。 - 【請求項１６】 前記バーストの比がメモリーに格納さ
れ、その後にメモリーから読み出され、予め決められた
以前の位置への前記磁気ヘッドの移動を制御するために
使用される、請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１７】 幅Ｔを持ち、ディスク軸の周りに配置
された円形トラックの中心線に沿って拡張する、磁気デ
ィスク上のデータトラックに対し、磁気リード／ライト
ヘッドを位置付けするための信号を生成及び格納するた
めのシステムであって： Ａ．基盤； Ｂ．前記ディスクの周りに前記磁気ディスクを回転でき
るように支えるための、前記基盤に取り付けられたディ
スク支持組立品； Ｃ．前記基盤に取り付けられ、書き込み幅Ｔを持った磁
気リード／ライトヘッドを含み、そして、前記ヘッドを
前記トラック中心線に対する基準上の位置に選択的に位
置付けするための、付随する位置付け組立品を含むヘッ
ド支持組立品； Ｄ．前記トラック中心線に対して、関連する、所望のオ
フセット（を持った位置）によって特徴付けられる１つ
または複数の位置へ前記リード／ライトヘッドを連続的
（または、逐次的に）に位置付けるための制御器であっ
て： ｉ．前記ディスクが回転するときに、比較的短い期間
に、時間的に連続して（または、逐次的に）、各々が前
記トラック中心線から予め決められた距離の横方向のオ
フセット持つ、２つまたはそれ以上のサーボバーストを
書き込むための手段；と ｉｉ．前記オフセット（を持った位置）の各々で前記サ
ーボバーストを読み取り、前記オフセット（を持った位
置）の各々に関連する、読み込まれた各バーストを表す
信号を生成し、格納する手段、を含む前記制御器、から
成るシステム。 - 【請求項１８】 適用された、所望のオフセットに関連
した、前記格納された信号を検索する（または、取り出
す）ために、適用された、所望のオフセット信号に応答
し、そして、閉ループ法（または、閉ループを使用した
方法）で、前記検索された（または、取り出された）信
号に従って前記磁気リード／ライトヘッドを位置付ける
ために、前記検索された（または、取り出された）信号
を前記制御器に適用する手段をさらに備える、請求項１
７に記載のシステム。 - 【請求項１９】 書き込み幅Ｔを持ったリード／ライト
ヘッドを、幅Ｔを持ち、ディスク軸の周りに配置された
円形トラックの中心線に沿って拡張する磁気ディスク上
のデータトラックに対して位置付けるための方法であっ
て、 Ａ．前記ディスクが回転するときに、比較的短い期間
に、時間的に連続して（または、逐次的に）、各々が前
記トラック中心線から予め決められた距離の横方向のオ
フセットを持った位置に書き込まれる、２つまたはそれ
以上のサーボバーストを前記ディスク上に書き込むこ
と； Ｂ．前記リード／ライトヘッドを、前記トラック中心線
に対し複数の所望のオフセット（を持った位置）に位置
付け、そして、前記各々のオフセット（を持った位置）
で、連続的に（または、逐次的に）前記サーボバースト
を読み取り、前記所望の各オフセット（を持った位置）
での前記バーストを表す振幅の値を決めること； Ｃ．前記振幅値を前記所望のオフセットのそれぞれに関
連付けて格納すること；と Ｄ．閉ループ法（または、閉ループを使用した方法）に
て、前記磁気リード／ライトヘッドを前記所望のオフセ
ット（を持った場所）の選択された１つに再位置付けす
るために、前記格納された値のそれぞれの（または、対
応する）１つを使用すること、の手段から成る方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/295912 | 1999-04-21 | ||
| US09/295,912 US6023145A (en) | 1999-04-21 | 1999-04-21 | Head and disk tester with a thermal drift-compensated closed-loop positioning system |
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|---|---|---|---|
| JP2010170945A Division JP4955090B2 (ja) | 1999-04-21 | 2010-07-29 | 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド／ディスクテスター |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000322850A true JP2000322850A (ja) | 2000-11-24 |
| JP2000322850A5 JP2000322850A5 (ja) | 2007-06-07 |
| JP4762398B2 JP4762398B2 (ja) | 2011-08-31 |
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Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000114923A Expired - Fee Related JP4762398B2 (ja) | 1999-04-21 | 2000-04-17 | 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド／ディスクテスター |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010170945A Expired - Fee Related JP4955090B2 (ja) | 1999-04-21 | 2010-07-29 | 熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持った磁器ヘッド／ディスクテスター |
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|---|---|
| US (1) | US6023145A (ja) |
| JP (2) | JP4762398B2 (ja) |
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