JP2000317406A - パーツフィーダの異常部品自動除去装置 - Google Patents

パーツフィーダの異常部品自動除去装置

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JP2000317406A
JP2000317406A JP11126098A JP12609899A JP2000317406A JP 2000317406 A JP2000317406 A JP 2000317406A JP 11126098 A JP11126098 A JP 11126098A JP 12609899 A JP12609899 A JP 12609899A JP 2000317406 A JP2000317406 A JP 2000317406A
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English (en)
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Miki Kurabe
美希 倉部
Tetsukazu Inoue
哲一 井上
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】異常な電子部品の検出・分離を自動的に行な
え、搬送効率の向上を図るパーツフィーダの異常部品自
動除去装置を提供する。 【解決手段】チップ型電子部品Cを一定方向に連続的に
送り出す通路23を有するパーツフィーダにおいて、通
路23の底面と一側面とを構成する固定ガイド22と、
固定ガイド22に対して接離可能で、通路23の上面と
他の一側面とを構成する内側面を有する可動ガイド27
とを備える。固定ガイド22の内側面および可動ガイド
27の内側面の少なくとも一方に、電子部品Cの進行方
向に漸次狭くなるよう傾斜した幅方向の傾斜面および高
さ方向の傾斜面を有する異常検出部28が形成され、異
常検出部28で電子部品Cが停止したことを検出する検
出手段25と、検出手段25の検出信号に応動し、可動
ガイド27を固定ガイド22に対して開閉させる開閉機
構とを設け、可動ガイド27を開いた時に吸引機構によ
って通路23内の電子部品Cを外部へ吸い出す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はチップ型コンデンサ
やチップ抵抗のようなチップ型電子部品を搬送するパー
ツフィーダ、特に異常部品を自動的に検出・除去する装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、パーツフィーダから供給されたチ
ップ型電子部品をキャリヤテープに自動的に収納できる
ようにした搬送装置が、特公平2−20490号公報に
て知られている。この装置は、パーツフィーダの給送ト
ラックから振動輸送される電子部品を歯形整送環の全周
に形成されたポケット溝に捕捉して給送し、これらポケ
ット溝内の電子部品をキャリヤテープのくぼみ内に装填
し、カバーテープを貼着するものである。上記パーツフ
ィーダの給送トラックの出口端と歯形整送環との間に、
歯形整送環の歯部が入り込める溝を備えた案内保持板を
設け、この保持板内に真空通路を設け、この真空通路の
外端に吸引孔を設けて電子部品を給送トラックからポケ
ット溝へ送り込むようにしている。
【0003】ところで、上記のように給送トラックから
案内保持板の真空通路を介して歯形整送環のポケット溝
に電子部品を送り込む際、何らかの原因で電子部品が給
送トラック内で停止してしまうことがある。この状態の
まま、歯形整送環が回転しても、電子部品が歯形整送環
へ供給されず、設備全体が停止状態となる。電子部品が
給送トラック内で停止する原因としては、電子部品の異
常、つまり電子部品同士の付着、電子部品の割れ、電極
ツノと呼ばれる電極不良、異物の付着などの電子部品の
寸法異常が多い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このようなトラブルを
解消するため、電子部品の給送トラックに画像処理装置
を設け、画像処理装置で電子部品の不良を検出した時、
装置を緊急停止させるものが考えられる。しかし、この
ような緊急停止機構を設けた場合には、搬送障害が発生
する度に設備を停止させ、障害となった電子部品を除去
する作業を行なわなければならないので、搬送効率が著
しく低下するという問題がある。また、画像処理装置に
よって異常部品を検出するには、高価な装置と複雑な処
理を必要とするという欠点がある。
【0005】そこで、本発明の目的は、異常な電子部品
の検出・除去を自動的に行なえ、搬送効率の向上を図る
パーツフィーダの異常部品自動除去装置を提供すること
にある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、チップ型電子部品を一定方向に連続的に
送り出す通路を有するパーツフィーダにおいて、上記通
路の底面と一側面とを構成する内側面を有する固定ガイ
ドと、上記固定ガイドに対して接離可能で、上記通路の
上面と他の一側面とを構成する内側面を有する可動ガイ
ドと、上記固定ガイドの内側面および可動ガイドの内側
面の少なくとも一方に形成され、チップ型電子部品の進
行方向に漸次狭くなるよう傾斜した幅方向の傾斜面およ
び高さ方向の傾斜面を有する異常検出部と、上記異常検
出部でチップ型電子部品が停止したことを検出する検出
手段と、上記検出手段の検出信号に応動し、可動ガイド
を固定ガイドに対して開閉させる開閉機構と、上記可動
ガイドを固定ガイドに対して開いた時に、通路内のチッ
プ型電子部品を外部へ吸い出す吸引機構と、を備えたこ
とを特徴とするパーツフィーダの異常部品自動除去装置
を提供する。
【0007】パーツフィーダの通路の途中には、固定ガ
イドの内側傾斜面と可動ガイドの内側傾斜面とからなる
異常検出部が設けられる。この異常検出部より上流側の
通路面積を異常部品でも通過できる程度の大きさとし、
異常検出部より下流側の通路面積を正常部品のみが通過
できる大きさとすれば、異常部品が異常検出部、つまり
固定ガイドと可動ガイドの内側傾斜面の部位に到達する
と、この傾斜面に当たって停止する。すなわち、搬送詰
まりを生じる。この詰まりが検出手段によって検出され
る。詰まりを検出すれば、可動ガイドが固定ガイドに対
して開き、可動ガイドが開くと同時に吸引機構によって
通路内のチップ型電子部品を外部へ吸い出す。これによ
って、詰まりが自動的に解除される。なお、吸引機構に
よって異常部品を吸い出す際、通路内の他の電子部品も
吸い出す恐れがあるが、可動ガイドが開いているので、
他の電子部品が吸い出されるのを防止できる。詰まりを
解除した後、再び可動ガイドが閉じ、後続の電子部品が
通路に沿って搬送される。
【0008】本発明の詰まり検出手段は、画像処理のよ
うな複雑な処理を行なう必要はなく、例えば傾斜面の下
流側に光電センサなどの非接触センサを配置するなどの
簡単な構成で検出できる。もし異常部品が異常検出部で
詰まると、下流側の非接触センサの部位へ部品が流れな
いので、詰まりを容易に検出できる。
【0009】異常検出部の構造としては、幅方向の傾斜
面および高さ方向の傾斜面を設ける必要があるが、幅方
向の傾斜面は左右両側面に設けてもよいし、片側面にの
み設けてもよい。また、高さ方向の傾斜面としては、天
井面を構成する可動ガイドの上面に傾斜面を設けるのが
よい。なぜなら、底面に傾斜面を設けると、部品の流れ
を阻害する可能性があるからである。
【0010】本発明の異常部品自動除去装置は、パーツ
フィーダからターンテーブルなどの他の搬送手段への乗
り移り部の直前に設けるのが望ましい。すなわち、パー
ツフィーダからターンテーブルへ電子部品を乗り移らせ
る場合には、電子部品を1個ずつ分離する必要がある
が、この分離の前に本発明の異常部品自動除去装置で異
常部品を除去することで、正常部品のみをターンテーブ
ルへ供給できる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1〜図6は本発明にかかる異常
部品自動除去装置を電子部品の特性測定・テーピング装
置に適用した一例を示す。この実施例では、電子部品C
は両端部に電極C1,C2を有する角型のチップ部品を
使用した。図1において、1はパーツフィーダ、2はタ
ーンテーブル、3はキャリヤテープである。この実施例
のパーツフィーダ1は、振動ボールフィーダ4から送り
出された電子部品Cをリニアフィーダ5によって直線的
にガイドしながら連続的に搬送するものであり、リニア
フィーダ5の終端部には後述するように異常部品自動除
去装置6が設けられている。異常部品自動除去装置6を
通過した正常な電子部品Cは、取入部7でターンテーブ
ル2のキャビティ12へ1個ずつ収納される。
【0012】ターンテーブル2は円盤状ディスク10と
このディスク10の底面を摺動自在に支える静止したベ
ース11とからなり、ディスク10は図示しない駆動モ
ータによって矢印R方向に一定ピッチ間隔で間欠的に回
転駆動される。ディスク10の外周部には、電子部品C
を1個ずつ収納できるキャビティ12が上記駆動ピッチ
と同一ピッチ間隔で多数個設けられている。キャビティ
12の基準面となる直角な2面には、図3,図5に示す
ように空気穴13の一端部が開口しており、空気穴13
の他端部はベース11に設けられた空気穴14に連通し
ている。上記空気穴13が開口するキャビティ12の基
準面は内周面と回転方向後方側の側面であり、これら基
準面に電子部品Cの直角な2面を吸着することで、電子
部品Cを一定位置に位置決めし、後述する特性測定を行
なう際に、測定端子を電子部品Cの電極C1,C2に正
確に接触させることができる。空気穴14は図示しない
負圧源および正圧源と選択的に接続されている。負圧源
は電子部品Cをキャビティ12に真空吸引する吸引負圧
を発生し、正圧源は電子部品Cをキャビティ12から排
出する圧空を発生する。
【0013】ターンテーブル2の周囲には、複数の測定
ブロック16を有する特性検査部15と、取出チェック
センサ18を有する不良品取出部17とが設けられ、測
定ブロック16で電子部品Cの特性が測定され、不良品
は不良品取出部17でキャビティ12から取り出され
る。良品は不良品取出部17を通過して挿入部19でキ
ャリヤテープ3の凹部3aへ収納される。なお、挿入部
19の後部には取出チェックセンサ21を有する良品取
出部20が設けられ、良品をキャリヤテープ3に収納し
ない場合(例えばバルクケースなどに収納する場合)に
ここで取り出す。
【0014】次に、リニアフィーダ5および異常部品自
動除去装置6について説明する。リニアフィーダ5は周
知のように、微振動を与えることによって電子部品Cを
連続的に搬送するものであり、図4に示すように電子部
品Cを縦向きに一列で案内する凹状の通路23を有する
固定ガイド22を備えている。通路23の終端部上面は
カバー24(図2参照)で閉じられ、カバー24は取入
部7付近におけるキャビティ12の上面を覆っている。
そのため、通路23からキャビティ12へ電子部品Cを
取り入れる際に、空気穴13の真空吸引力を通路23内
の電子部品Cに効果的に作用させることができる。
【0015】カバー24には、固定ガイド22とターン
テーブル2との隙間を監視する光電センサ25が設けら
れている。この実施例では、透過型の光電センサを用い
たが、反射型の光電センサを用いてもよいし、他の非接
触型センサを用いてもよい。光電センサ25は、固定ガ
イド22とターンテーブル2との間に電子部品Cが跨が
った状態で停止した時、これを検出してターンテーブル
2を停止させる機能と、固定ガイド22とターンテーブ
ル2との間を電子部品Cが通過したこと(キャビティに
電子部品が収納されたこと)を検出する機能とを有す
る。また、光電センサ25の直前位置には、カバー24
を貫通して通路23へ突出する出没自在なストッパピン
26が設けられ、このストッパピン26を突出させて先
頭から2番目の部品を停止させることで、先頭の部品の
みをキャビティ12へ収納することができる。ストッパ
ピン26はターンテーブル2の間欠回転に同期して上下
に往復駆動させるのがよい。
【0016】固定ガイド22の終端部近傍には可動ガイ
ド27が設けられている。可動ガイド27は、図6に示
すように、通路23の一側面と上面とを構成するよう断
面逆L字形に形成されている。これに対応して、可動ガ
イド27と対応する固定ガイド22の部位は通路23の
他側面と底面とを構成するよう断面L字形に形成されて
いる。対向する可動ガイド27の内側面と固定ガイド2
2の内側面には、電子部品Cの進行方向に漸次狭くなる
よう傾斜した幅方向の傾斜面27a,22a(図5参
照)が形成されている。また、可動ガイド27の天井面
にも高さ方向の傾斜面27b(図3参照)が形成されて
いる。上記傾斜面22a,27a,27bによって、電
子部品同士の付着、割れ、電極ツノと呼ばれる電極不
良、異物の付着などの異常部品を詰まらせる異常検出部
28が構成される。可動ガイド27は図示しない開閉機
構によって側方へ開閉移動可能であり、図6の(b)は
可動ガイド27が固定ガイド22に対して開かれた状態
を示す。可動ガイド27は異常検出部28で詰まりが発
生した時、すなわち空気穴13から真空吸引したにも拘
わらず、光電センサ25が固定ガイド22とターンテー
ブル2との間を電子部品Cが通過したことを検出できな
い時に開かれる。可動ガイド27が固定ガイド22から
開かれた時、下方から吸引機構(図示せず)により真空
吸引することで、異常検出部28で詰まった異常部品を
外部へ吸い出すことができる。吸引機構は、例えば可動
ガイド27の開き動作に同期して異常検出部28の異常
部品を真空吸引するのが望ましい。可動ガイド27を開
いた時、可動ガイド27より上流側または下流側の部品
も同時に吸い出される恐れがあるが、可動ガイド27を
開くと通路23の上面が大きく開口するので、吸引負圧
が解消され、他の部品が同時に吸い出されるのを防止で
きる。なお、固定ガイド22および可動ガイド27の構
造は、図6と左右対称形状であってもよい。
【0017】上記のように、異常部品がリニアフィーダ
5を流れても、異常検出部28で自動的に排除できるの
で、詰まりの度に設備を停止させる必要がなく、搬送効
率を大幅に向上させることができる。異常検出部28は
正常な電子部品Cだけが通過し得るので、ターンテーブ
ル2のキャビティ12には正常部品が収納される。した
がって、後の特性測定工程やテーピング工程において、
異常部品の混入を防止できる。
【0018】本発明の異常部品自動除去装置は、パーツ
フィーダの終端部に限らず、その途中に設けてもよい。
また、本発明の異常部品自動除去装置は、直線的に部品
を搬送する部位に限らず、円弧状に搬送する部位に設け
てもよい。上記実施例では、ターンテーブルの回転途中
で電子部品の電気的特性の測定を行なうようにしたが、
測定に代えて印刷やその他の作業を行なってもよいし、
単に搬送のみを行なうものでもよい。ターンテーブル
は、実施例のようにキャビティの側面と底面とが別部材
で構成されたものに限らず、キャビティの側面および底
面が一体回転するものでもよい。本発明の対象とするチ
ップ型電子部品はセラミックコンデンサ、チップ抵抗、
圧電部品など如何なるチップ部品であってもよい。ま
た、その形状は、直方体形状に限らず、円柱形状であっ
てもよい。
【0019】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、固定ガイドの内側傾斜面と可動ガイドの内側傾
斜面とからなる異常検出部で異常部品を詰まらせ、検出
手段で詰まりを検出した時、可動ガイドを開いて吸引機
構により詰まった電子部品を吸い出すようにしたので、
異常部品の検出と除去とを自動的に行なうことができ
る。そのため、設備を緊急停止させる必要がなく、搬送
効率の大幅な向上が図れる。また、異常検出部の詰まり
は、異常検出部の下流側の部品の流れによって簡単に検
出できるので、画像処理装置のような複雑な装置は必要
でなく、安価に構成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる本発明にかかる異常部品自動除
去装置を電子部品の特性測定・テーピング装置に適用し
た一例の概略平面図である。
【図2】図1の取入部の拡大図である。
【図3】図2のA−A線断面図である。
【図4】異常部品自動除去装置の斜視図である。
【図5】異常部品自動除去装置の平面図である。
【図6】図4のB−B線断面図である。
【符号の説明】
1 パーツフィーダ 5 リニアフィーダ 6 異常部品自動除去装置 7 取入部 22 固定ガイド 23 通路 25 光電センサ(検出手段) 26 ストッパピン 27 可動ガイド 22a,27a,27b 傾斜面 28 異常検出部 C 電子部品
フロントページの続き Fターム(参考) 3F079 AD06 BA06 CA41 CB21 CC03 5E313 AA03 AA18 CC03 CC04 CD01 CD02 CD06 DD03 DD08 DD11 DD41

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】チップ型電子部品を一定方向に連続的に送
    り出す通路を有するパーツフィーダにおいて、上記通路
    の底面と一側面とを構成する内側面を有する固定ガイド
    と、上記固定ガイドに対して接離可能で、上記通路の上
    面と他の一側面とを構成する内側面を有する可動ガイド
    と、上記固定ガイドの内側面および可動ガイドの内側面
    の少なくとも一方に形成され、チップ型電子部品の進行
    方向に漸次狭くなるよう傾斜した幅方向の傾斜面および
    高さ方向の傾斜面を有する異常検出部と、上記異常検出
    部でチップ型電子部品が停止したことを検出する検出手
    段と、上記検出手段の検出信号に応動し、可動ガイドを
    固定ガイドに対して開閉させる開閉機構と、上記可動ガ
    イドを固定ガイドに対して開いた時に、通路内のチップ
    型電子部品を外部へ吸い出す吸引機構と、を備えたこと
    を特徴とするパーツフィーダの異常部品自動除去装置。
  2. 【請求項2】上記異常検出部より上流側の通路面積を異
    常部品でも通過できる程度の大きさとし、異常検出部よ
    り下流側の通路面積を正常部品のみが通過できる大きさ
    としたことを特徴とする請求項1に記載のパーツフィー
    ダの異常部品自動除去装置。
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