JP2000315332A - 光学ピックアップの特性測定装置及び光学ピックアップの特性測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率的に光学ピックアップの特性を測定す
る。 【解決手段】 光学ピックアップから出力されるトラッ
キングエラー信号成分は、光ディスクのラジアル方向の
傾きに応じて変化する。このトラッキングエラー信号成
分の測定中に、測定結果が予め設定した下限値以下とな
った場合には、ラジアル方向の傾きの変化の方向を逆方
向する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学ピックアップ
の特性を測定する光学ピックアップの特性測定装置及び
光学ピックアップの特性測定方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、光ディスクドライブに用いら
れる光学ピックアップの特性を測定する光学ピックアッ
プの特性測定装置が知られている。この光学ピックアッ
プの特性測定装置は、例えば、光学ピックアップの出荷
検査や受け入れ検査等に用いられ、光学ピックアップが
規定されている仕様を満足しているかどうかの検査等を
行う。このような光学ピックアップの特性測定装置で
は、光学ピックアップの、例えば、ＲＦ信号レベル、Ｒ
Ｆ信号のジッタ量、ＴＥ（ＥＦ）信号レベル、デフォー
カス量、ＴＥ（ＥＦ）信号バランス及びエラーレート等
の特性を測定する。

【０００３】また、光学ピックアップの特性測定装置で
は、このような光学ピックアップの特性を測定する場
合、一般に、各特性の許容差（トレランス）も測定す
る。許容差とは、測定値のばらつきが許容される限界を
いい、例えば、光学ピックアップが適正に動作する測定
値の範囲をいう。この許容差を測定することによって、
例えば規格外の光ディスクや欠陥のある光ディスク等を
再生したときの特性を予測することができる。

【０００４】このような許容差は、測定値のデータをグ
ラフ上にプロットし、このグラフから測定値の変化を解
析することによって求めるため、通常の光学ピックアッ
プの測定処理のみによっては測定することができない。

【０００５】具体的に、光学ピックアップの特性測定値
データをグラフ上にプロットした図を図９から図１２に
示す。

【０００６】図９は、光ディスクのタンジェンシャル方
向の傾き（デフォーカス）に対するＥＦレベルの変化を
示す図である。ＥＦレベルとは、フォトディテクタから
の出力されるトラッキングエラー信号のレベルである。
この図９から解析すると、ＥＦレベルを検出することが
できるタンジェンシャル方向の傾きの許容差は、−１．
０〜＋１．５（°）となる。

【０００７】図１０は、光ディスクのラジアル方向の傾
きに対するＥＦレベルの変化を示す図である。この図１
０から解析すると、ＥＦレベルを検出することができる
光ディスクのラジアル方向の傾きの許容差は、−０．７
〜＋１．０（°）となる。

【０００８】図１１は、光ディスクのタンジェンシャル
方向の傾きに対するジッタ量の変化を示す図である。こ
の図１１から解析すると、ジッタの発生量に対する光デ
ィスクのタンジェンシャル方向の傾きの許容差は、−
１．７〜＋０．８（°）となる。

【０００９】図１２は、光ディスクのラジアル方向の傾
きに対するジッタの変化を示す図である。この図１２か
ら解析すると、ジッタの発生量に対する光ディスクのラ
ジアル方向の傾きに対するの許容差は、−０．５〜＋
１．３（°）となる。

【００１０】以上のように各光学ピックアップの特性の
許容差を測定値をプロットしたグラフから解析すること
ができる。なお、この図９から図１２に示した値は、あ
るピックアップを測定した場合の一例にすぎない。

【００１１】このような許容差は、光学ピックアップの
特性測定装置の測定項目の全てに対して求めても良い
が、一般には、ジッタ量、ＲＦレベル、ＥＦレベル、Ｅ
Ｆバランス、エラーレート等に対して測定される。これ
は、デフォーカス量、レンズの移動量や光ディスクのラ
ジアル方向の傾き又はタンジェンシャル方向の傾き等の
異なるパラメータの許容値に基づき、これらの特性が判
定されるからである。例えば、ジッタ量は光ディスクの
ラジアル方向の傾きを変化させて特性が測定され、この
測定したジッタ量からこの光ディスクのラジアル方向の
傾きの許容値が求められる。

【００１２】ところで、従来の光学ピックアップの特性
測定装置では、マニュアル方式か或いは自動測定方式に
より光学ピックアップの特性を測定し、上述したような
許容差を求めるためのグラフを作成していた。

【００１３】マニュアル方式では、オペーレータが所定
のパラメータを手動で可変させ、或いは、所定のパラメ
ータの測定レンジを決定し、光学ピックアップの特性を
測定する。例えば、光ディスクのジッタ量をマニュアル
方式で測定する場合には、オペレータが光ディスクのラ
ジアル方向の傾きを手動で変化させ、或いは、その傾き
の変動範囲をピックアップ毎に手動で設定して行う。

【００１４】自動測定方式では、所定のパラメータの測
定レンジを予め設定しておき、光学ピックアップの特性
を測定する。例えば、光ディスクのジッタ量を自動測定
方式で測定する場合には、光ディスクのラジアル方向の
傾きの変動範囲を予め設定しておき、測定対象となる全
ての光学ピックアップに対して同一の変動範囲で光ディ
スクをラジアル方向に傾けて測定を行う。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、マニュ
アル方式では、オペレータの経験や勘が必要となり、効
率的に測定をすることが困難であった。

【００１６】また、自動測定方式では、欠陥のある光学
ピックアップを測定した場合、予め設定しておいた変動
範囲内でパラメータを変動させると、光学ピックアップ
のサーボループがはずれ測定を継続することができなく
なってしまうことがあった。例えば、ジッタ特性に不良
がある光学ピックアップを測定した場合、所定の変動範
囲で光ディスクの傾けても、ある一定以上の傾きとなる
と検出する光量が急減に減少してしまい、フォーカスサ
ーボループが外れてしまうことがあった。このように測
定を継続できなくなった場合は、オペレータが予め設定
しておいた所定のパラメータの変動範囲を設定し直さな
ければならなく、効率的に測定を行うことができなかっ
た。

【００１７】本発明は、このような実情を鑑みてなされ
たものであり、効率的に光学ピックアップの特性を測定
することが可能な光学ピックアップの特性測定装置及び
光学ピックアップの特性測定方法を提供することを目的
とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明にかかる光学ピッ
クアップの特性測定装置は、光ディスクに対してレーザ
光を照射してその反射光を検出することによりこの光デ
ィスクに記録されている情報を検出する光学ピックアッ
プの特性を測定する光学ピックアップの特性測定装置で
あって、所定のパラメータに応じて変化する光学ピック
アップの特性の測定中に、測定結果が予め設定した上限
値以上となるか或いは下限値以下となった場合には、測
定処理を停止するか或いは上記所定のパラメータの変化
の方向を逆方向する制御手段を備えることを特徴とす
る。

【００１９】本発明にかかる光学ピックアップの特性測
定方法は、光ディスクに対してレーザ光を照射してその
反射光を検出することによりこの光ディスクに記録され
ている情報を検出する光学ピックアップの特性を測定す
る光学ピックアップの特性測定方法であって、所定のパ
ラメータに応じて変化する光学ピックアップの特性の測
定中に、測定結果が予め設定した上限値以上となるか或
いは下限値以下となった場合には、測定処理を停止する
か或いは上記所定のパラメータの変化の方向を逆方向す
ることを特徴とする。

【００２０】この本発明では、所定のパラメータに応じ
て変化する光学ピックアップの特性の測定中に、測定結
果が予め設定した上限値以上となるか或いは下限値以下
となった場合には、測定処理を停止するか或いは上記所
定のパラメータの変化の方向を逆方向する。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。

【００２２】本発明の実施の形態の光学ピックアップの
特性測定装置は、光ディスクドライブで用いられる光学
ピックアップの特性の測定を行う。このような光学ピッ
クアップの特性測定装置は、光学ピックアップの仕様の
検査や、光学ピックアップの特性の調査などに用いら
れ、例えば、光学ピックアップの出荷検査や受け入れ検
査等に用いられる。

【００２３】図１は、本発明の実施の形態の光学ピック
アップの特性測定装置のブロック構成図を示している。

【００２４】本発明の第１の実施の形態の光学ピックア
ップの特性測定装置１は、光学ピックアップ２の特性の
測定を行うものである。

【００２５】光学ピックアップ２は、特性測定装置１の
測定対象であり、レーザダイオード２ａ、ビームスプリ
ッタ２ｂ、対物レンズ２ｃ、フォトディテクタ２ｄ、フ
ォーカシングアクチュエータ２ｅ、トラッキングアクチ
ュエータ２ｆ等を有している。

【００２６】光学ピックアップの特性測定装置１は、光
学ピックアップ２から出射されたレーザ光が照射される
光ディスク３と、光ディスク３がセッティングされる回
転駆動部４と、光学ピックアップ２が有するフォトディ
テクタの出力が供給され再生（ＲＦ）信号等を出力する
マトリクス回路５とを備えている。

【００２７】また、光学ピックアップの特性測定装置１
は、マトリクス回路５からのＦＥ信号に基づきフォーカ
シングサーボコントロールをするフォーカシングサーボ
回路６と、フォーカシングサーボ回路６の出力を増幅し
て光学ピックアップ２のフォーカシングアクチュエータ
２ｅに駆動電圧を供給するフォーカシングドライバ７
と、マトリクス回路５からのＴＥ信号に基づきトラッキ
ングサーボコントロールをするトラッキングサーボ回路
８と、トラッキングサーボ回路８の出力を増幅して光学
ピックアップ２のトラッキングアクチュエータ２ｆに駆
動電圧を供給するトラッキングドライバ９と、マトリク
ス回路５からのＲＦ信号に基づきＲＦ信号の２値化、復
調、エラー訂正等の処理を行う再生信号処理回路１０と
を備えている。

【００２８】また、光学ピックアップの特性測定装置１
は、光ディスク３の回転駆動制御、各種サーボ制御等の
各回路の制御を行うとともに、光学ピックアップ２の各
特性を測定するコントロール回路１１を備えている。

【００２９】光学ピックアップ２は、この特性測定装置
１に例えば着脱自在となっている。この光学ピックアッ
プ２は、レーザダイオード２ａから出射したレーザをビ
ームスプリッタ２ｂや対物レンズ２ｃ等を介して光ディ
スク３上に集光させる。そして、この光学ピックアップ
２は、光ディスク３からの反射光をフォトディテクタ２
ｄ上に結像させる。光学ピックアップ２が有するフォト
ディテクタ２ｄは、光電変換素子であり、結像された反
射光を電気信号に変換する。また、光学ピックアップ２
のフォーカシングアクチュエータ２ｅは、フォーカシン
グドライバ７から供給される駆動電圧に応じて、光ディ
スク３に対して照射するレーザ光の光軸方向に対物レン
ズ２ｃを移動し、レーザ光の合焦点を光ディスク３の記
録面に一致させる。また、光学ピックアップ２のトラッ
キングアクチュエータ２ｆは、トラッキングドライバ９
から供給される駆動電圧に応じて、光ディスク３の半径
方向に対物レンズ２ｃを移動し、レーザ光を光ディスク
３の所定のトラック位置に移動させる。

【００３０】なお、この光学ピックアップ２は、複数の
フォトディテクタ２ｄを備えている。この光学ピックア
ップ２に備えられる複数のフォトディテクタ２ｄの一例
を図２に示す。

【００３１】光学ピックアップ２は、例えば、図２に示
すような、２×２のマトリクス状に配列された４つのフ
ォトディテクタＡ〜Ｄと、このように配列されたフォト
ディテクタＡ〜Ｄの両サイドにサイドスポット検出用の
フォトディテクタＥ，Ｆとを備えている。このようなフ
ォトディテクタＡ〜Ｆは、例えば、光ディスクに３本の
レーザを出射するいわゆる３スポット方式の光学ピック
アップで用いられる。フォトディテクタＡ〜Ｄには、３
スポット方式における中心光となるメインビームが照射
される。すなわち、このフォトディテクタＡ〜Ｄには、
光ディスクのトラックに記録された記録ピット等に対す
る反射光が照射される。また、フォトディテクタＥ，Ｆ
は、上記フォトディテクタＡ〜Ｄに対して光ディスクの
半径方向の両サイドに設けられている。フォトディテク
タＥ，Ｆには、３スポット方式におけるサイドビームが
それぞれ照射される。例えば、このフォトディテクタ
Ｅ，Ｆには、光ディスクのトラックの例えばエッジから
反射した光が照射される。

【００３２】各フォトディテクタＡ〜Ｆは、照射された
反射光の光量を、信号Ａ〜Ｆに変換する。光学ピックア
ップ２は、これら各信号Ａ〜Ｆを、マトリクス回路５に
供給する。

【００３３】光ディスク３は、特性測定装置１の回転駆
動部４にセッティングされ、この回転駆動部４により回
転駆動される。また、この光ディスク３は、この特性測
定装置１のリファレンスとして用いられる。すなわち、
特性測定装置１は、このリファレンスとして用いられる
光ディスク３の反射光から得られる情報に基づき、光学
ピックアップ２の特性の測定を行う。

【００３４】マトリクス回路５は、上記光学ピックアッ
プ２の各フォトディテクタＡ〜Ｆの出力である信号Ａ〜
Ｆが供給され、これら信号Ａ〜Ｆに基づき、再生（Ｒ
Ｆ）信号、フォーカシングエラー（ＦＥ）信号、及びト
ラッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成する。マトリク
ス回路５は、信号Ａ〜Ｆに基づき、例えば、以下のよう
にＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を生成する。す
なわち、マトリクス回路５は、信号Ａ〜Ｄに基づき、Ａ
＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄを演算し、ＲＦ信号を生成する。また、マ
トリクス回路５は、非点収差法に基づいてＦＥ信号を出
力する。つまり、マトリクス回路５は、信号Ａ〜Ｄに基
づき、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を演算し、この演算結果
をＦＥ信号として出力する。また、マトリクス回路５
は、信号Ｅ，Ｆに基づき、Ｅ−Ｆを演算し、この演算結
果をＴＥ信号として出力する。

【００３５】フォーカシングサーボ回路６には、マトリ
クス回路５からＦＥ信号が供給される。フォーカシング
サーボ回路６は、このＦＥ信号に対して所定のフィルタ
リング処理等を行った後、このＦＥ信号が０となるよう
な制御量の信号をフォーカシングドライバ７を介して光
学ピックアップ２のフォーカシングアクチュエータ２ｅ
に供給する。このように、このフォーカシングサーボ回
路６は、光学ピックアップ２から出射するレーザ光を光
ディスク３の記録面にジャストフォーカスとなるように
制御する。

【００３６】トラッキングサーボ回路８には、マトリク
ス回路５からＴＥ信号が供給される。トラッキングサー
ボ回路８は、このＴＥ信号に対して所定のフィルタリン
グ処理等を行った後、このＴＥ信号が０となるような制
御量の信号をトラッキングドライバ９を介して光学ピッ
クアップ２のトラッキングアクチュエータ２ｆに供給す
る。このように、このトラッキングサーボ回路８は、光
学ピックアップ２から出射するレーザ光を光ディスク３
の記録トラックにジャストトラックになるように制御す
る。

【００３７】再生信号処理回路１０には、マトリクス回
路５からＲＦ信号が供給される。再生信号処理回路１０
は、供給されたＲＦ信号に対して、フィルタリング処
理、２値化処理、復調処理、エラー訂正処理等を行っ
て、光ディスク３から再生した再生データを出力する。

【００３８】コントロール回路１１は、光ディスク３の
回転駆動制御、各種サーボ制御等の各回路の制御を行う
とともに、光学ピックアップ２の各特性を測定する。

【００３９】コントロール回路１１は、回転駆動部３を
制御して光ディスク３の回転駆動制御をしたり、また、
図示しない光ディスク３の傾きの検出機構からの検出信
号に基づき、出射されたレーザ光の光軸方向に対する光
ディスク３の傾きを制御するスキューサーボ制御を行
う。なお、コントロール回路１１は、通常、光ディスク
３の反射面をレーザ光の光軸方向に対して垂直となるよ
うに光ディスク３の傾きを制御するが、光学ピックアッ
プ２の測定内容に応じて、光ディスク３の反射面をレー
ザ光の光軸方向に対して所定の傾きを持たせるようにす
る。例えば、図３に示すように、レーザ光の光軸ｘと光
ディスク３の中心ｏとが作る平面上に沿って光ディスク
３の回転軸を傾けて、光ディスク３の反射面をラジアル
方向に所定の角度θ₁だけ傾ける。また、例えば、図４
に示すように、レーザ光の光軸ｘと光ディスク３の中心
ｏとが作る平面と垂直な方向の面に沿って光ディスク３
の回転軸を傾けて、光ディスク３の反射面をタンジェン
シャル方向に所定の角度θ₂だけ傾ける。なお、図４に
示しているレーザ光は、光ディスク３のトラック上に照
射されており、光ディスク３の中心ｏに照射しているも
のではない。

【００４０】また、コントロール回路１１には、光学ピ
ックアップ２の各フォトディテクタＡ〜Ｆの出力である
信号Ａ〜Ｆや、再生信号処理回路１０により２値化され
たＲＦ信号の２値化信号及びそのクロック信号が供給さ
れ、これらの信号に基づき光学ピックアップ２の特性の
測定を行う。これらの測定結果は、例えば、端子１２を
介してモニタ等の出力装置に供給される。

【００４１】つぎに、この光学ピックアップの特性測定
装置１による光学ピックアップ２の特性測定処理につい
て説明する。

【００４２】この光学ピックアップの特性測定装置１で
は、例えば、以下の項目に示す測定を行い、光学ピック
アップ２の特性を調べる。

【００４３】・ＲＦ信号レベル ・ＴＥ信号レベル（ＥＦレベル） ・ＲＦ信号のジッタ量 ・ディファレンス

【００４４】各測定項目におけるコントロール回路１１
の処理内容は以下に示すとおりである。

【００４５】ＲＦ信号レベルの測定 コントロール回路１１は、光学ピックアップ２から供給
される信号Ａ〜Ｄをデジタルデータに変換する。続い
て、各信号Ａ〜Ｄの総和を演算し、この総和から交流成
分の電圧算出演算を行い、ＲＦ信号レベルを求める。

【００４６】そして、コントロール回路１１は、光ディ
スク３を０°（即ちレーザ光の光軸と光ディスク３の反
射面が直交する傾き）からラジアル方向への傾きを順次
変更して、各傾きにおけるＲＦ信号のレベルを求め、そ
の測定値をグラフ上にプロットしていく。

【００４７】ここで、コントロール回路１１は、ＲＦ信
号レベルの下限のリミット値を予め設定しておく。そし
て、測定したＲＦ信号レベルが、下限のリミット値以下
となると、測定を停止するか、或いは、ラジアル方向へ
の傾きを逆方向に変更させて測定を続行させる。

【００４８】ＴＥ信号レベルの測定 コントロール回路１１は、光学ピックアップ２から供給
される信号Ｅ，Ｆをデジタルデータに変換する。続い
て、各信号Ｅ，Ｆの差を演算し、この差から交流成分の
電圧算出演算を行い、ＴＥ信号レベルを求める。

【００４９】そして、コントロール回路１１は、光ディ
スク３を０°（即ちレーザ光の光軸と光ディスク３の反
射面が直交する傾き）からタンジェンシャル方向への傾
きを順次変更して、各傾きにおけるＴＥ信号のレベルを
求め、その測定値をグラフ上にプロットしていく。

【００５０】ここで、コントロール回路１１は、ＴＥ信
号レベルの下限のリミット値を予め設定しておく。そし
て、測定したＴＥ信号レベルが、下限のリミット値以下
となると、測定を停止するか、或いは、タンジェンシャ
ル向への傾きを逆方向に変更させて測定を続行させる。

【００５１】例えば、このＴＥ信号レベルの下限のリミ
ット値を９（ｍＶ）としたとする。このときの光ディス
ク３のタンジェンシャル方向への傾きに対するある光学
ピックアップのＴＥ信号レベルの測定値をグラフ上にプ
ロットすると、例えば、図５に示すようになる。

【００５２】また、コントロール回路１１は、光ディス
ク３を０°からラジアル方向への傾きを順次変更して、
各傾きにおけるＴＥ信号のレベルを求め、その測定値を
グラフ上にプロットしてもよい。

【００５３】このときも、コントロール回路１１は、Ｔ
Ｅ信号レベルの下限のリミット値を予め設定しておく。
そして、測定したＴＥ信号レベルが、下限のリミット値
以下となると、測定を停止するか、或いは、ラジアル方
向への傾きを逆方向に変更させて測定を続行させる。

【００５４】例えば、このＴＥ信号レベルの下限のリミ
ット値を８（ｍＶ）としたとしたとする。このときの光
ディスク３のラジアル方向への傾きに対するある光学ピ
ックアップのＴＥ信号レベルの測定値をグラフ上にプロ
ットすると、例えば、図６に示すようになる。

【００５５】ジッタ量の測定 コントロール回路１１は、再生信号処理回路から供給さ
れる２値化信号と、そのクロック信号とのエッジ成分を
求め、２値化信号とクロック信号との位相差を求める。
続いて、この位相差からジッタ量の平均値や最大値を計
測する。

【００５６】そして、コントロール回路１１は、光ディ
スク３を０°（即ちレーザ光の光軸と光ディスク３の反
射面が直交する傾き）からタンジェンシャル方向への傾
きを順次変更して、各傾きにおけるジッタ量を求め、そ
の測定値をグラフ上にプロットしていく。

【００５７】ここで、コントロール回路１１は、ジッタ
量の上限のリミット値を予め設定しておく。そして、測
定したジッタ量が、上限のリミット値以上となると、測
定を停止するか、或いは、タンジェンシャル向への傾き
を逆方向に変更させて測定を続行させる。

【００５８】例えば、このジッタ量の上限のリミット値
を１５（ｎｓ）としたとしたとする。このときの光ディ
スク３のタンジェンシャル方向への傾きに対するある光
学ピックアップのジッタ量の測定値をグラフ上にプロッ
トすると、図７に示すようになる。

【００５９】また、コントロール回路１１は、光ディス
ク３を０°からラジアル方向への傾きを順次変更して、
各傾きにおけるジッタ量を求め、その測定値をグラフ上
にプロットしてもよい。

【００６０】このときも、コントロール回路１１は、ジ
ッタ量の上限のリミット値を予め設定しておく。そし
て、測定したジッタ量が、上限のリミット値以上となる
と、測定を停止するか、或いは、ラジアル方向への傾き
を逆方向に変更させて測定を続行させる。

【００６１】例えば、このジッタ量の上限のリミット値
を１５（ｎｓ）としたとしたとする。このときの光ディ
スク３のラジアル方向への傾きに対するある光学ピック
アップのジッタ量の測定値は、例えば以下の表１に示す
ようになり、これをグラフ上にプロットすると、例え
ば、図８に示すようになる。

【００６２】

【表１】

【００６３】ディファレンス量 コントロール回路１１は、ＲＦ信号レベル、ＴＥ信号レ
ベル、ジッタ量のディファレンス量を測定して、このデ
ィファレンス量に対してリミット値を設けて測定の停止
或いは逆方向への測定の継続を行っても良い。このディ
ファレンス量とは、ある測定データと、このある測定デ
ータの直前に測定したデータとの差分量のことをいう。

【００６４】例えば、ジッタ測定の際に、ジッタのディ
ファレンス量を求める場合には、以下のように処理を行
う。

【００６５】まず、コントロール回路１１は、光ディス
クがある傾きとなったときに測定したジッタ量と、この
傾きとなる直前の傾きのときの差分を求める。

【００６６】そして、コントロール回路１１は、光ディ
スク３を０°からラジアル方向への傾きを順次変更し
て、各傾きにおけるジッタのディファレンス量を求め、
その測定値をグラフ上にプロットしてもよい。

【００６７】このときも、コントロール回路１１は、デ
ィファレンス量の上限のリミット値を予め設定してお
く。そして、測定したディファレンス量が、上限のリミ
ット値以上となると、測定を停止するか、或いは、ラジ
アル方向への傾きを逆方向に変更させて測定を続行させ
る。

【００６８】例えば、このディファレンス量の上限のリ
ミット値を５（ｎｓ）としたとしたとする。このときの
光ディスク３のラジアル方向への傾きに対するある光学
ピックアップのディファレンス量の測定値は、例えば以
下の表２に示すようになる。

【００６９】

【表２】

【００７０】以上のように光学ピックアップ２の各特性
測定を測定する特性測定装置１では、下限又は上限のリ
ミット値をサーボループが外れない程度の値として設定
しておく。このことにより、特性測定装置１では、各特
性を自動測定することができ、且つ、サーボループが外
れることによって測定続行ができないという状態になら
ない。

【００７１】また、特性測定装置では、リミット値を越
える値は、グラフ上から大きく外れた値であり、各特性
の許容差を解析するために特に必要な情報ではないた
め、これらの値を除いても許容差を解析することが可能
である。

【００７２】例えば、図５から解析すると、ＥＦレベル
を検出することができるタンジェンシャル方向の傾きの
許容差は、−１．０〜＋１．５（°）となる。図６から
解析すると、ＥＦレベルを検出することができる光ディ
スクのラジアル方向の傾きの許容差は、−０．７〜＋
１．０（°）となる。図７から解析すると、ジッタの発
生量に対する光ディスクのタンジェンシャル方向の傾き
の許容差は、−１．７〜＋０．８（°）となる。また、
図８から解析すると、ジッタの発生量に対する光ディス
クのラジアル方向の傾きに対するの許容差は、−０．５
〜＋１．３（°）となる。

【００７３】以上のように本発明を適用した実施の形態
の光学ピックアップの特性測定装置１では、光学ピック
アップのサーボループがはずれずれず、自動的に測定レ
ンジを決定して特性測定を行うことができる。

【００７４】

【発明の効果】本発明にかかる光学ピックアップの特性
測定装置及び光学ピックアップの特性測定方法では、所
定のパラメータに応じて変化する光学ピックアップの特
性の測定中に、測定結果が予め設定した上限値以上とな
るか或いは下限値以下となった場合には、測定処理を停
止するか或いは上記所定のパラメータの変化の方向を逆
方向する。このことにより、本発明では、効率的に光学
ピックアップの特性を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した光学ピックアップの特性測定
装置のブロック図である。

【図２】上記光学ピックアップの特性測定装置の測定対
象である光学ピックアップに備えられるフォトディテク
タの一例を示す図である。

【図３】ラジアル方向に傾けた光ディスクとレーザ光と
の位置関係を示す図である。

【図４】ラジアル方向に傾けた光ディスクとレーザ光と
のの位置関係を示す図である。

【図５】上記光学ピックアップの特性測定装置により測
定した光ディスクのタンジェンシャル方向の傾きに対す
るＥＦレベルの変化を示す図である。

【図６】上記光学ピックアップの特性測定装置により測
定した光ディスクのラジアル方向の傾きに対するＥＦレ
ベルの変化を示す図である。

【図７】上記光学ピックアップの特性測定装置により測
定した光ディスクのタンジェンシャル方向の傾きに対す
るジッタ量の変化を示す図である。

【図８】上記光学ピックアップの特性測定装置により測
定した光ディスクのラジアル方向の傾きに対するジッタ
の変化を示す図である。

【図９】従来の光学ピックアップの特性測定装置により
測定した光ディスクのタンジェンシャル方向の傾きに対
するＥＦレベルの変化を示す図である。

【図１０】従来の光学ピックアップの特性測定装置によ
り測定した光ディスクのラジアル方向の傾きに対するＥ
Ｆレベルの変化を示す図である。

【図１１】従来の光学ピックアップの特性測定装置によ
り測定した光ディスクのタンジェンシャル方向の傾きに
対するジッタ量の変化を示す図である。

【図１２】従来の光学ピックアップの特性測定装置によ
り測定した光ディスクのラジアル方向の傾きに対するジ
ッタの変化を示す図である。

【符号の説明】

１ 光学ピックアップの特性測定装置、２ 光学ピック
アップ、３ 光ディスク、４ 回転駆動部、５ マトリ
クス回路、６ フォーカシングサーボ回路、８トラッキ
ングサーボ回路、１０ 再生信号処理回路、１１ コン
トロール回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに対してレーザ光を照射して
   その反射光を検出することによりこの光ディスクに記録
   されている情報を検出する光学ピックアップの特性を測
   定する光学ピックアップの特性測定装置において、 所定のパラメータに応じて変化する光学ピックアップの
   特性の測定中に、測定結果が予め設定した上限値以上と
   なるか或いは下限値以下となった場合には、測定処理を
   停止するか或いは上記所定のパラメータの変化の方向を
   逆方向する制御手段を備えることを特徴とする光学ピッ
   クアップの特性測定装置。
2. 【請求項２】 光ディスクに対してレーザ光を照射して
   その反射光を検出することによりこの光ディスクに記録
   されている情報を検出する光学ピックアップの特性を測
   定する光学ピックアップの特性測定方法において、 所定のパラメータに応じて変化する光学ピックアップの
   特性の測定中に、測定結果が予め設定した上限値以上と
   なるか或いは下限値以下となった場合には、測定処理を
   停止するか或いは上記所定のパラメータの変化の方向を
   逆方向することを特徴とする光学ピックアップの特性測
   定方法。