JP2000304623A - Ｉｃのジャンクション温度測定回路、及びその測定方法 - Google Patents
Ｉｃのジャンクション温度測定回路、及びその測定方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明の課題は、基準となる温度におけるＩ
Ｃ内のダイオードの順方向電圧を正確に測定することに
より、正確なＩＣのジャンクション温度の測定を可能と
するＩＣのジャンクション温度測定回路、及びその測定
方法を提供することである。 【解決手段】 電圧源８から電源電圧Ｖｃｃ２を抵抗器
４を介して端子ＩＣ１−Ａに出力し、基準となる温度で
ある被温度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３
の順方向電圧を測定する。次いで、電圧源７から電源電
圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力し、主回路２から発生した
熱により温度が上昇した状態におけるダイオード３の順
方向電圧を測定する。そして、その上昇した温度におけ
るダイオード３の順方向電圧と、基準となる被温度測定
ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧と
の差と、ダイオード３の順方向電圧の温度特性とに基づ
き、被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測定す
る。
Ｃ内のダイオードの順方向電圧を正確に測定することに
より、正確なＩＣのジャンクション温度の測定を可能と
するＩＣのジャンクション温度測定回路、及びその測定
方法を提供することである。 【解決手段】 電圧源８から電源電圧Ｖｃｃ２を抵抗器
４を介して端子ＩＣ１−Ａに出力し、基準となる温度で
ある被温度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３
の順方向電圧を測定する。次いで、電圧源７から電源電
圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力し、主回路２から発生した
熱により温度が上昇した状態におけるダイオード３の順
方向電圧を測定する。そして、その上昇した温度におけ
るダイオード３の順方向電圧と、基準となる被温度測定
ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧と
の差と、ダイオード３の順方向電圧の温度特性とに基づ
き、被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測定す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣのジャンクシ
ョン温度測定回路、及びその測定方法に係り、詳細に
は、ダイオードの順方向電圧の温度特性を利用したＩＣ
のジャンクション温度測定回路、及びその測定方法に関
する。
ョン温度測定回路、及びその測定方法に係り、詳細に
は、ダイオードの順方向電圧の温度特性を利用したＩＣ
のジャンクション温度測定回路、及びその測定方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ダイオードには、周辺温度が高
くなるにしたがって、順方向電圧が低下する温度特性が
あり、一般的なダイオードの順方向電圧の温度特性は、
−２ｍＶ／℃で表すことができることが知られている。
くなるにしたがって、順方向電圧が低下する温度特性が
あり、一般的なダイオードの順方向電圧の温度特性は、
−２ｍＶ／℃で表すことができることが知られている。
【０００３】従来のＩＣのジャンクション温度測定回路
では、ＩＣの主回路が大量の電力を消費することによっ
て発生する熱により、ＩＣのジャンクション温度が条件
を超えていないかどうかを監視するために、ＩＣ内部に
温度測定用のダイオードを備え、そのダイオードの順方
向電圧を測定することにより、上昇するＩＣのジャンク
ション温度を測定している。
では、ＩＣの主回路が大量の電力を消費することによっ
て発生する熱により、ＩＣのジャンクション温度が条件
を超えていないかどうかを監視するために、ＩＣ内部に
温度測定用のダイオードを備え、そのダイオードの順方
向電圧を測定することにより、上昇するＩＣのジャンク
ション温度を測定している。
【０００４】図４は、従来のＩＣのジャンクション温度
測定回路の構成例を示す回路図である。この図４に示す
ように、従来のＩＣのジャンクション温度測定回路は、
被温度測定ＩＣ１内に備えられたダイオード３、抵抗器
４、及び電圧計５から構成されており、電源電圧Ｖｃｃ
が、被温度測定ＩＣ１の主回路２に印加されるととも
に、被温度測定ＩＣ１内のダイオード３のアノードにつ
ながる端子ＩＣ１−Ａに抵抗器４を介して印加される
と、ダイオード３には、順方向に抵抗器４によって決ま
る電流が流れ、端子ＩＣ１−Ａと、ダイオード３のカソ
ードにつながり、グランド等の基準となる電圧レベルに
接続される端子ＩＣ１−Ｋとの間に順方向電圧が発生す
る。このダイオード３の順方向電圧を端子ＩＣ１−Ａに
接続されている電圧計５によって測定し、例えば、ダイ
オード３の順方向電圧の温度特性が−２ｍＶ／℃であれ
ば、その温度特性と、基準となる温度である主回路２か
ら熱が発生される前の被温度測定ＩＣ１の周辺温度と、
に基づいて、上昇したＩＣのジャンクション温度を測定
していた。
測定回路の構成例を示す回路図である。この図４に示す
ように、従来のＩＣのジャンクション温度測定回路は、
被温度測定ＩＣ１内に備えられたダイオード３、抵抗器
４、及び電圧計５から構成されており、電源電圧Ｖｃｃ
が、被温度測定ＩＣ１の主回路２に印加されるととも
に、被温度測定ＩＣ１内のダイオード３のアノードにつ
ながる端子ＩＣ１−Ａに抵抗器４を介して印加される
と、ダイオード３には、順方向に抵抗器４によって決ま
る電流が流れ、端子ＩＣ１−Ａと、ダイオード３のカソ
ードにつながり、グランド等の基準となる電圧レベルに
接続される端子ＩＣ１−Ｋとの間に順方向電圧が発生す
る。このダイオード３の順方向電圧を端子ＩＣ１−Ａに
接続されている電圧計５によって測定し、例えば、ダイ
オード３の順方向電圧の温度特性が−２ｍＶ／℃であれ
ば、その温度特性と、基準となる温度である主回路２か
ら熱が発生される前の被温度測定ＩＣ１の周辺温度と、
に基づいて、上昇したＩＣのジャンクション温度を測定
していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図４に
示すような従来のＩＣのジャンクション温度測定回路で
は、被温度測定ＩＣ１内のダイオード３のアノードにつ
ながる端子ＩＣ１−Ａに抵抗器４に介して印加する電源
電圧として、被温度測定ＩＣ１の主回路２に入力する電
源電圧と同じ電源電圧Ｖｃｃを使用するため、端子ＩＣ
１−Ａに抵抗器４を介して電源電圧Ｖｃｃが印加される
と同時に被温度測定ＩＣ１の主回路２にも電源電圧Ｖｃ
ｃが印加され、主回路２に電流が流れて熱を発生し始
め、ジャンクション温度が上昇し始めてしまうため、基
準となる温度、すなわち、主回路２から熱が発生される
前の被温度測定ＩＣ１の周辺温度と等しい温度における
ダイオード３の順方向電圧を測定することが困難であ
り、正確な被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測
定することが難しいという問題があった。
示すような従来のＩＣのジャンクション温度測定回路で
は、被温度測定ＩＣ１内のダイオード３のアノードにつ
ながる端子ＩＣ１−Ａに抵抗器４に介して印加する電源
電圧として、被温度測定ＩＣ１の主回路２に入力する電
源電圧と同じ電源電圧Ｖｃｃを使用するため、端子ＩＣ
１−Ａに抵抗器４を介して電源電圧Ｖｃｃが印加される
と同時に被温度測定ＩＣ１の主回路２にも電源電圧Ｖｃ
ｃが印加され、主回路２に電流が流れて熱を発生し始
め、ジャンクション温度が上昇し始めてしまうため、基
準となる温度、すなわち、主回路２から熱が発生される
前の被温度測定ＩＣ１の周辺温度と等しい温度における
ダイオード３の順方向電圧を測定することが困難であ
り、正確な被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測
定することが難しいという問題があった。
【０００６】本発明の課題は、上記問題を解決するた
め、基準となる温度におけるＩＣ内のダイオードの順方
向電圧を正確に測定することにより、正確なＩＣのジャ
ンクション温度の測定を可能とするＩＣのジャンクショ
ン温度測定回路、及びその測定方法を提供することであ
る。
め、基準となる温度におけるＩＣ内のダイオードの順方
向電圧を正確に測定することにより、正確なＩＣのジャ
ンクション温度の測定を可能とするＩＣのジャンクショ
ン温度測定回路、及びその測定方法を提供することであ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
ＩＣ内部に備えられたダイオードの順方向電圧を測定し
て、前記ＩＣの主回路から発生する熱によって上昇する
ＩＣのジャンクション温度を測定するＩＣのジャンクシ
ョン温度測定回路において、前記ＩＣの主回路に電源電
圧を供給する主回路用電源と、前記ダイオードに電源電
圧を供給するダイオード用電源と、前記ダイオード用電
源によって前記ダイオードに電源電圧を印加した後、前
記主回路用電源によって前記ＩＣの主回路に電源電圧を
印加するように制御する制御手段と、を備えることを特
徴としている。
ＩＣ内部に備えられたダイオードの順方向電圧を測定し
て、前記ＩＣの主回路から発生する熱によって上昇する
ＩＣのジャンクション温度を測定するＩＣのジャンクシ
ョン温度測定回路において、前記ＩＣの主回路に電源電
圧を供給する主回路用電源と、前記ダイオードに電源電
圧を供給するダイオード用電源と、前記ダイオード用電
源によって前記ダイオードに電源電圧を印加した後、前
記主回路用電源によって前記ＩＣの主回路に電源電圧を
印加するように制御する制御手段と、を備えることを特
徴としている。
【０００８】この請求項１記載の発明によれば、ＩＣ内
部に備えられたダイオードの順方向電圧を測定して、前
記ＩＣの主回路から発生する熱によって上昇するＩＣの
ジャンクション温度を測定するＩＣのジャンクション温
度測定回路において、主回路用電源は、前記ＩＣの主回
路に電源電圧を供給し、ダイオード用電源は、前記ダイ
オードに電源電圧を供給し、制御手段は、前記ダイオー
ド用電源によって前記ダイオードに電源電圧を印加した
後、前記主回路用電源によって前記ＩＣの主回路に電源
電圧を印加するように制御する。
部に備えられたダイオードの順方向電圧を測定して、前
記ＩＣの主回路から発生する熱によって上昇するＩＣの
ジャンクション温度を測定するＩＣのジャンクション温
度測定回路において、主回路用電源は、前記ＩＣの主回
路に電源電圧を供給し、ダイオード用電源は、前記ダイ
オードに電源電圧を供給し、制御手段は、前記ダイオー
ド用電源によって前記ダイオードに電源電圧を印加した
後、前記主回路用電源によって前記ＩＣの主回路に電源
電圧を印加するように制御する。
【０００９】請求項４記載の発明は、ＩＣ内部に備えら
れたダイオードの順方向電圧を測定して、前記ＩＣの主
回路から発生する熱によって上昇するＩＣのジャンクシ
ョン温度を測定するＩＣのジャンクション温度測定方法
において、前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加する主回
路用電源電圧印加工程と、前記ダイオードに電源電圧を
印加するダイオード用電源電圧印加工程と、前記ダイオ
ード用電源電圧印加工程を実行した後に、前記主回路用
電源電圧印加工程を実行するように制御する制御工程
と、を含むことを特徴としている。
れたダイオードの順方向電圧を測定して、前記ＩＣの主
回路から発生する熱によって上昇するＩＣのジャンクシ
ョン温度を測定するＩＣのジャンクション温度測定方法
において、前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加する主回
路用電源電圧印加工程と、前記ダイオードに電源電圧を
印加するダイオード用電源電圧印加工程と、前記ダイオ
ード用電源電圧印加工程を実行した後に、前記主回路用
電源電圧印加工程を実行するように制御する制御工程
と、を含むことを特徴としている。
【００１０】この請求項４記載の発明によれば、ＩＣ内
部に備えられたダイオードの順方向電圧を測定して、前
記ＩＣの主回路から発生する熱によって上昇するＩＣの
ジャンクション温度を測定するＩＣのジャンクション温
度測定方法において、主回路用電源電圧印加工程では、
前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加し、ダイオード用電
源電圧印加工程では、前記ダイオードに電源電圧を印加
し、制御工程では、前記ダイオード用電源電圧印加工程
を実行した後に、前記主回路用電源電圧印加工程を実行
するように制御する。
部に備えられたダイオードの順方向電圧を測定して、前
記ＩＣの主回路から発生する熱によって上昇するＩＣの
ジャンクション温度を測定するＩＣのジャンクション温
度測定方法において、主回路用電源電圧印加工程では、
前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加し、ダイオード用電
源電圧印加工程では、前記ダイオードに電源電圧を印加
し、制御工程では、前記ダイオード用電源電圧印加工程
を実行した後に、前記主回路用電源電圧印加工程を実行
するように制御する。
【００１１】したがって、ＩＣの主回路に電源電圧を印
加する前に、ダイオードに電源電圧を印加した時にダイ
オードに発生する順方向電圧を測定することができ、主
回路から熱が発生する前のＩＣの周辺温度と等しい基準
となるジャンクション温度におけるダイオードの順方向
電圧を正確に測定することが可能となり、より正確なＩ
Ｃのジャンクション温度を測定することが可能となる。
加する前に、ダイオードに電源電圧を印加した時にダイ
オードに発生する順方向電圧を測定することができ、主
回路から熱が発生する前のＩＣの周辺温度と等しい基準
となるジャンクション温度におけるダイオードの順方向
電圧を正確に測定することが可能となり、より正確なＩ
Ｃのジャンクション温度を測定することが可能となる。
【００１２】請求項２記載の発明は、請求項１記載のＩ
Ｃのジャンクション温度測定回路において、前記制御手
段は、前記ダイオード用電源により前記ダイオードに電
源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電
圧と、前記主回路用電源により前記ＩＣの主回路に電源
電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧
との差を検出する電圧検出手段を更に備えることを特徴
としている。
Ｃのジャンクション温度測定回路において、前記制御手
段は、前記ダイオード用電源により前記ダイオードに電
源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電
圧と、前記主回路用電源により前記ＩＣの主回路に電源
電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧
との差を検出する電圧検出手段を更に備えることを特徴
としている。
【００１３】この請求項２記載の発明によれば、請求項
１記載のＩＣのジャンクション温度測定回路において、
前記制御手段は、前記ダイオード用電源により前記ダイ
オードに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生す
る順方向電圧と、前記主回路用電源により前記ＩＣの主
回路に電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する
順方向電圧との差を検出する電圧検出手段を更に備え
る。
１記載のＩＣのジャンクション温度測定回路において、
前記制御手段は、前記ダイオード用電源により前記ダイ
オードに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生す
る順方向電圧と、前記主回路用電源により前記ＩＣの主
回路に電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する
順方向電圧との差を検出する電圧検出手段を更に備え
る。
【００１４】請求項５記載の発明は、請求項４記載のＩ
Ｃのジャンクション温度測定方法において、前記制御工
程は、前記ダイオード用電源電圧印加工程により前記ダ
イオードに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生
する順方向電圧と、前記主回路用電源電圧印加工程によ
り前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイオ
ードに発生する順方向電圧との差を検出する電圧検出工
程を更に含むことを特徴としている。
Ｃのジャンクション温度測定方法において、前記制御工
程は、前記ダイオード用電源電圧印加工程により前記ダ
イオードに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生
する順方向電圧と、前記主回路用電源電圧印加工程によ
り前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイオ
ードに発生する順方向電圧との差を検出する電圧検出工
程を更に含むことを特徴としている。
【００１５】この請求項５記載の発明によれば、請求項
４記載のＩＣジャンクション温度測定方法において、前
記制御工程は、前記ダイオード用電源電圧印加工程によ
り前記ダイオードに電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧と、前記主回路用電源電圧印加
工程により前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に
該ダイオードに発生する順方向電圧との差を検出する電
圧検出工程を更に含む。
４記載のＩＣジャンクション温度測定方法において、前
記制御工程は、前記ダイオード用電源電圧印加工程によ
り前記ダイオードに電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧と、前記主回路用電源電圧印加
工程により前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に
該ダイオードに発生する順方向電圧との差を検出する電
圧検出工程を更に含む。
【００１６】したがって、ＩＣの主回路に電源電圧を印
加する前に、ダイオードに電源電圧を印加した時にダイ
オードに発生する順方向電圧、すなわち主回路から熱が
発生する前のＩＣの周辺温度と等しい基準となるジャン
クション温度におけるダイオードの順方向電圧と、ＩＣ
の主回路に電源電圧を印加して、主回路から熱が発生
し、上昇したジャンクション温度におけるダイオードの
順方向電圧との差を検出することができ、この検出され
た電圧差とダイオードの順方向電圧の温度特性に基づ
き、より容易に正確なＩＣのジャンクション温度を測定
することが可能となる。
加する前に、ダイオードに電源電圧を印加した時にダイ
オードに発生する順方向電圧、すなわち主回路から熱が
発生する前のＩＣの周辺温度と等しい基準となるジャン
クション温度におけるダイオードの順方向電圧と、ＩＣ
の主回路に電源電圧を印加して、主回路から熱が発生
し、上昇したジャンクション温度におけるダイオードの
順方向電圧との差を検出することができ、この検出され
た電圧差とダイオードの順方向電圧の温度特性に基づ
き、より容易に正確なＩＣのジャンクション温度を測定
することが可能となる。
【００１７】請求項３記載の発明は、請求項２記載のＩ
Ｃのジャンクション温度測定回路において、前記ダイオ
ード用電源により前記ダイオードに電源電圧を印加した
時に該ダイオードに発生する順方向電圧を保持する保持
手段を更に備え、前記制御手段は、前記電圧検出手段に
より前記主回路用電源により前記ＩＣの主回路に電源電
圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧
と、前記保持手段に保持された順方向電圧との差を検出
するようにしたことを特徴としている。
Ｃのジャンクション温度測定回路において、前記ダイオ
ード用電源により前記ダイオードに電源電圧を印加した
時に該ダイオードに発生する順方向電圧を保持する保持
手段を更に備え、前記制御手段は、前記電圧検出手段に
より前記主回路用電源により前記ＩＣの主回路に電源電
圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧
と、前記保持手段に保持された順方向電圧との差を検出
するようにしたことを特徴としている。
【００１８】この請求項３記載の発明によれば、請求項
２記載のＩＣのジャンクション温度測定回路において、
保持手段は、前記ダイオード用電源により前記ダイオー
ドに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順
方向電圧を保持し、前記制御手段は、前記電圧検出手段
により前記主回路用電源により前記ＩＣの主回路に電源
電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧
と、前記保持手段に保持された順方向電圧との差を検出
するようにする。
２記載のＩＣのジャンクション温度測定回路において、
保持手段は、前記ダイオード用電源により前記ダイオー
ドに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順
方向電圧を保持し、前記制御手段は、前記電圧検出手段
により前記主回路用電源により前記ＩＣの主回路に電源
電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧
と、前記保持手段に保持された順方向電圧との差を検出
するようにする。
【００１９】請求項６記載の発明は、請求項５記載のＩ
Ｃのジャンクション温度測定方法において、前記ダイオ
ード用電源電圧印加工程により前記ダイオードに電源電
圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧を
保持する保持工程を更に含み、前記制御工程は、前記電
圧検出工程により前記主回路用電源電圧印加工程により
前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧と、前記保持工程により保持さ
れた順方向電圧との差を検出するようにしたことを特徴
といている。
Ｃのジャンクション温度測定方法において、前記ダイオ
ード用電源電圧印加工程により前記ダイオードに電源電
圧を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧を
保持する保持工程を更に含み、前記制御工程は、前記電
圧検出工程により前記主回路用電源電圧印加工程により
前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧と、前記保持工程により保持さ
れた順方向電圧との差を検出するようにしたことを特徴
といている。
【００２０】この請求項６記載の発明によれば、請求項
５記載のＩＣのジャンクション温度測定方法において、
保持工程では、前記ダイオード用電源電圧印加工程によ
り前記ダイオードに電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧を保持し、前記制御工程は、前
記電圧検出工程により前記主回路用電源電圧印加工程に
より前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイ
オードに発生する順方向電圧と、前記保持工程により保
持された順方向電圧との差を検出するようにする。
５記載のＩＣのジャンクション温度測定方法において、
保持工程では、前記ダイオード用電源電圧印加工程によ
り前記ダイオードに電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧を保持し、前記制御工程は、前
記電圧検出工程により前記主回路用電源電圧印加工程に
より前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイ
オードに発生する順方向電圧と、前記保持工程により保
持された順方向電圧との差を検出するようにする。
【００２１】したがって、主回路から熱が発生する前の
ＩＣの周辺温度と等しい基準となるジャンクション温度
におけるダイオードの順方向電圧を保持できるため、そ
の保持した基準となるジャンクション温度におけるダイ
オードの順方向電圧と、ＩＣの主回路に電源電圧を印加
して、主回路から熱が発生し、上昇したジャンクション
温度におけるダイオードの順方向電圧との差を容易に検
出できるため、より容易に正確なＩＣのジャンクション
温度を測定することが可能となる。
ＩＣの周辺温度と等しい基準となるジャンクション温度
におけるダイオードの順方向電圧を保持できるため、そ
の保持した基準となるジャンクション温度におけるダイ
オードの順方向電圧と、ＩＣの主回路に電源電圧を印加
して、主回路から熱が発生し、上昇したジャンクション
温度におけるダイオードの順方向電圧との差を容易に検
出できるため、より容易に正確なＩＣのジャンクション
温度を測定することが可能となる。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を詳細に説明する。 （第１の実施の形態）図１は、本発明を適用した第１の
実施の形態におけるＩＣのジャンクション温度測定回路
１０を示す図である。
の形態を詳細に説明する。 （第１の実施の形態）図１は、本発明を適用した第１の
実施の形態におけるＩＣのジャンクション温度測定回路
１０を示す図である。
【００２３】まず構成を説明する。図１は、本第１の実
施の形態におけるＩＣのジャンクション温度測定回路１
０の概略構成を示す回路図である。この図１において、
ＩＣのジャンクション温度測定回路１０は、被温度測定
ＩＣ１、被温度測定ＩＣ１内の主回路２、被温度測定Ｉ
Ｃ１内に備えられたダイオード３、抵抗器４、電圧計
５、電源シーケンス回路６、電圧源７、及び電圧源８か
ら構成されている。なお、図１において上記従来の図４
に示したＩＣのジャンクション温度測定回路と同一構成
部分には同一符号を付している。
施の形態におけるＩＣのジャンクション温度測定回路１
０の概略構成を示す回路図である。この図１において、
ＩＣのジャンクション温度測定回路１０は、被温度測定
ＩＣ１、被温度測定ＩＣ１内の主回路２、被温度測定Ｉ
Ｃ１内に備えられたダイオード３、抵抗器４、電圧計
５、電源シーケンス回路６、電圧源７、及び電圧源８か
ら構成されている。なお、図１において上記従来の図４
に示したＩＣのジャンクション温度測定回路と同一構成
部分には同一符号を付している。
【００２４】被温度測定ＩＣ１は、内部に主回路２、及
びダイオード３を備え、主回路２は、電圧源７から電源
電圧Ｖｃｃ１を入力され、電流が流れると、電力を消費
し、その電力消費によって熱を発生し、被温度測定ＩＣ
１のジャンクション温度を上昇させる。
びダイオード３を備え、主回路２は、電圧源７から電源
電圧Ｖｃｃ１を入力され、電流が流れると、電力を消費
し、その電力消費によって熱を発生し、被温度測定ＩＣ
１のジャンクション温度を上昇させる。
【００２５】ダイオード３は、例えば、−２ｍＶ／℃の
順方向電圧の温度特性を持ち、ダイオード３の周辺の温
度変化に応じて順方向電圧を変化させる。また、ダイオ
ード３は、アノードが被温度測定ＩＣ１の端子ＩＣ１−
Ａにつながり、カソードが被温度測定ＩＣ１の端子ＩＣ
１−Ｋにつながっており、端子ＩＣ１−Ａは、抵抗器４
を介して電圧源８に接続されており、端子ＩＣ１−Ｋ
は、グランド等の基準となる電圧レベルに接続されてい
る。そして、ダイオード３は、端子ＩＣ１−Ａに電圧源
８から抵抗器４を介して電源電圧Ｖｃｃ２が入力される
と、順方向電流を流し、その時発生する順方向電圧を端
子１Ｃ１−Ａから電圧計５に出力する。
順方向電圧の温度特性を持ち、ダイオード３の周辺の温
度変化に応じて順方向電圧を変化させる。また、ダイオ
ード３は、アノードが被温度測定ＩＣ１の端子ＩＣ１−
Ａにつながり、カソードが被温度測定ＩＣ１の端子ＩＣ
１−Ｋにつながっており、端子ＩＣ１−Ａは、抵抗器４
を介して電圧源８に接続されており、端子ＩＣ１−Ｋ
は、グランド等の基準となる電圧レベルに接続されてい
る。そして、ダイオード３は、端子ＩＣ１−Ａに電圧源
８から抵抗器４を介して電源電圧Ｖｃｃ２が入力される
と、順方向電流を流し、その時発生する順方向電圧を端
子１Ｃ１−Ａから電圧計５に出力する。
【００２６】抵抗器４は、電圧源８と端子ＩＣ１−Ａと
の間に接続され、ダイオード３の特性に応じて安定した
順方向電圧を得られるような順方向電流が流れるように
選択された抵抗値によってダイオード３に流れる順方向
電流を調整する。電圧計５は、端子ＩＣ１−Ａに接続さ
れ、端子ＩＣ１−Ａから入力される電圧、すなわちダイ
オード３の順方向電圧を測定する。
の間に接続され、ダイオード３の特性に応じて安定した
順方向電圧を得られるような順方向電流が流れるように
選択された抵抗値によってダイオード３に流れる順方向
電流を調整する。電圧計５は、端子ＩＣ１−Ａに接続さ
れ、端子ＩＣ１−Ａから入力される電圧、すなわちダイ
オード３の順方向電圧を測定する。
【００２７】電源シーケンス回路６(請求項１〜３記載
の制御工程と、請求項４〜６記載の制御工程とに対応す
る。)は、電圧源７と電圧源８とに接続され、電圧源７
に電源電圧Ｖｃｃ１を出力させるための信号を出力し、
電圧源８に電源電圧Ｖｃｃ２を出力させるための信号を
出力し、電圧源７と電圧源８とが電源電圧を出力するタ
イミングを制御する。
の制御工程と、請求項４〜６記載の制御工程とに対応す
る。)は、電圧源７と電圧源８とに接続され、電圧源７
に電源電圧Ｖｃｃ１を出力させるための信号を出力し、
電圧源８に電源電圧Ｖｃｃ２を出力させるための信号を
出力し、電圧源７と電圧源８とが電源電圧を出力するタ
イミングを制御する。
【００２８】電圧源７（請求項１記載の主回路用電源
と、請求項４記載の主回路用電源電圧印加工程とに対応
する。）は、電源シーケンス回路６から電源電圧Ｖｃｃ
１を出力するための信号を入力され、主回路２に電源電
圧Ｖｃｃ１を出力する。電圧源８（請求項１記載のダイ
オード用電源と、請求項４記載のダイオード用電源電圧
印加工程とに対応する。）は、抵抗器４を介して端子Ｉ
Ｃ１−Ａに接続されており、電源シーケンス回路６から
電源電圧Ｖｃｃ２を出力するための信号を入力され、抵
抗器４にＶｃｃ２を出力し、抵抗器４及びダイオード３
に電流を流す。
と、請求項４記載の主回路用電源電圧印加工程とに対応
する。）は、電源シーケンス回路６から電源電圧Ｖｃｃ
１を出力するための信号を入力され、主回路２に電源電
圧Ｖｃｃ１を出力する。電圧源８（請求項１記載のダイ
オード用電源と、請求項４記載のダイオード用電源電圧
印加工程とに対応する。）は、抵抗器４を介して端子Ｉ
Ｃ１−Ａに接続されており、電源シーケンス回路６から
電源電圧Ｖｃｃ２を出力するための信号を入力され、抵
抗器４にＶｃｃ２を出力し、抵抗器４及びダイオード３
に電流を流す。
【００２９】次に動作を説明する。まず、電源シーケン
ス回路６が、電圧源８に電源電圧Ｖｃｃ２を出力するた
めの信号を出力すると、電圧源８から電源電圧Ｖｃｃ２
が抵抗器４を介して端子ＩＣ１−Ａに出力され、ダイオ
ード３に順方向電流が流れ、ダイオード３の順方向電圧
が端子ＩＣ１−Ａと端子ＩＣ１−Ｋとの間に生じ、端子
ＩＣ１−Ａから出力される。その端子ＩＣ１−Ａから出
力されるダイオード３の順方向電圧を電圧計５によって
測定する。この時、電圧源７は主回路２に電源電圧Ｖｃ
ｃ１を入力しておらず、主回路２の電力消費による熱は
発生していないため、電圧計５によって測定されるダイ
オード３の順方向電圧は、基準となる被温度測定ＩＣ１
の周辺温度と等しい被温度測定ＩＣのジャンクション温
度に対応したものとなる。
ス回路６が、電圧源８に電源電圧Ｖｃｃ２を出力するた
めの信号を出力すると、電圧源８から電源電圧Ｖｃｃ２
が抵抗器４を介して端子ＩＣ１−Ａに出力され、ダイオ
ード３に順方向電流が流れ、ダイオード３の順方向電圧
が端子ＩＣ１−Ａと端子ＩＣ１−Ｋとの間に生じ、端子
ＩＣ１−Ａから出力される。その端子ＩＣ１−Ａから出
力されるダイオード３の順方向電圧を電圧計５によって
測定する。この時、電圧源７は主回路２に電源電圧Ｖｃ
ｃ１を入力しておらず、主回路２の電力消費による熱は
発生していないため、電圧計５によって測定されるダイ
オード３の順方向電圧は、基準となる被温度測定ＩＣ１
の周辺温度と等しい被温度測定ＩＣのジャンクション温
度に対応したものとなる。
【００３０】次いで、電源シーケンス回路６が、電圧源
７から電源電圧Ｖｃｃ１を出力するための信号を出力す
ると、電圧源７は電源電圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力
し、主回路２には電流が流れ、電力消費による熱が発生
する。この発生した熱によって被温度測定ＩＣ１のジャ
ンクション温度が上昇すると、その温度上昇によって、
ダイオード３の順方向電圧が、例えば、−２ｍＶ／℃の
温度特性で低下する。そして、その上昇した温度におけ
るダイオード３の順方向電圧を電圧計５によって測定す
る。
７から電源電圧Ｖｃｃ１を出力するための信号を出力す
ると、電圧源７は電源電圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力
し、主回路２には電流が流れ、電力消費による熱が発生
する。この発生した熱によって被温度測定ＩＣ１のジャ
ンクション温度が上昇すると、その温度上昇によって、
ダイオード３の順方向電圧が、例えば、−２ｍＶ／℃の
温度特性で低下する。そして、その上昇した温度におけ
るダイオード３の順方向電圧を電圧計５によって測定す
る。
【００３１】そして、基準となる被温度測定ＩＣ１の周
辺温度におけるダイオード３の順方向電圧と、主回路２
から発生した熱によって上昇した温度におけるダイオー
ド３の順方向電圧とを比較して、その差を算出し、−２
ｍＶ／℃の温度特性によって、被温度測定ＩＣ１のジャ
ンクション温度が被温度測定ＩＣ１の周辺温度より何℃
上昇したかを算出することにより、被温度測定ＩＣ１の
ジャンクション温度を測定できる。
辺温度におけるダイオード３の順方向電圧と、主回路２
から発生した熱によって上昇した温度におけるダイオー
ド３の順方向電圧とを比較して、その差を算出し、−２
ｍＶ／℃の温度特性によって、被温度測定ＩＣ１のジャ
ンクション温度が被温度測定ＩＣ１の周辺温度より何℃
上昇したかを算出することにより、被温度測定ＩＣ１の
ジャンクション温度を測定できる。
【００３２】以上のように、まず、電圧源８から電源電
圧Ｖｃｃ２を抵抗器４を介して端子ＩＣ１−Ａに出力
し、ダイオード３に順方向電流を流し、基準となる温度
である被温度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード
３の順方向電圧を測定する。次いで、電圧源７から電源
電圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力するための信号を電源シ
ーケンス回路６から電圧源７に出力し、電圧源７から電
源電圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力し、主回路２から熱が
発生し、温度が上昇した状態におけるダイオード３の順
方向電圧を測定する。そして、その上昇した温度におけ
るダイオード３の順方向電圧と、基準となる被温度測定
ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧と
の差と、ダイオード３の順方向電圧の温度特性とに基づ
き、被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度が基準とな
る被温度測定ＩＣ１の周辺温度から何℃上昇したかを算
出し、被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測定す
る。
圧Ｖｃｃ２を抵抗器４を介して端子ＩＣ１−Ａに出力
し、ダイオード３に順方向電流を流し、基準となる温度
である被温度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード
３の順方向電圧を測定する。次いで、電圧源７から電源
電圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力するための信号を電源シ
ーケンス回路６から電圧源７に出力し、電圧源７から電
源電圧Ｖｃｃ１を主回路２に出力し、主回路２から熱が
発生し、温度が上昇した状態におけるダイオード３の順
方向電圧を測定する。そして、その上昇した温度におけ
るダイオード３の順方向電圧と、基準となる被温度測定
ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧と
の差と、ダイオード３の順方向電圧の温度特性とに基づ
き、被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度が基準とな
る被温度測定ＩＣ１の周辺温度から何℃上昇したかを算
出し、被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測定す
る。
【００３３】したがって、基準となる被温度測定ＩＣ１
の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧を正確に
測定することができるため、その測定された順方向電圧
に基づき、より正確な被温度測定ＩＣ１のジャンクショ
ン温度を測定することが可能となる。
の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧を正確に
測定することができるため、その測定された順方向電圧
に基づき、より正確な被温度測定ＩＣ１のジャンクショ
ン温度を測定することが可能となる。
【００３４】（第２の実施の形態）図２〜図３は、本発
明を適用した第２の実施の形態におけるＩＣのジャンク
ション温度測定回路２０を示す図である。まず構成を説
明する。
明を適用した第２の実施の形態におけるＩＣのジャンク
ション温度測定回路２０を示す図である。まず構成を説
明する。
【００３５】図２は、本第２の実施の形態におけるＩＣ
のジャンクション温度測定回路２０の概略構成を示す回
路図である。この図２において、ＩＣのジャンクション
温度測定回路２０は、被温度測定ＩＣ１、被温度測定Ｉ
Ｃ１内の主回路２、被温度測定ＩＣ１内に備えられたダ
イオード３、抵抗器４、電圧計５、電源シーケンス回路
６、電圧源７、電圧源８、サンプル・ホールド（Ｓ・
Ｈ）回路２１、ＯＰアンプ２２、抵抗器２３、及び抵抗
器２４から構成されている。なお、図２において上記従
来の図４に示したＩＣのジャンクション温度測定回路及
び上記第１の実施の形態における図１に示したＩＣのジ
ャンクション温度測定回路１０と同一構成部分には同一
符号を付している。
のジャンクション温度測定回路２０の概略構成を示す回
路図である。この図２において、ＩＣのジャンクション
温度測定回路２０は、被温度測定ＩＣ１、被温度測定Ｉ
Ｃ１内の主回路２、被温度測定ＩＣ１内に備えられたダ
イオード３、抵抗器４、電圧計５、電源シーケンス回路
６、電圧源７、電圧源８、サンプル・ホールド（Ｓ・
Ｈ）回路２１、ＯＰアンプ２２、抵抗器２３、及び抵抗
器２４から構成されている。なお、図２において上記従
来の図４に示したＩＣのジャンクション温度測定回路及
び上記第１の実施の形態における図１に示したＩＣのジ
ャンクション温度測定回路１０と同一構成部分には同一
符号を付している。
【００３６】被温度測定ＩＣ１、被温度測定ＩＣ１内の
主回路２、被温度測定ＩＣ１内に備えられたダイオード
３、抵抗器４、電圧計５、電源シーケンス回路６、電圧
源７、及び電圧源８は、構成、接続ともに第１の実施の
形態と同一であるため、説明を省略する。
主回路２、被温度測定ＩＣ１内に備えられたダイオード
３、抵抗器４、電圧計５、電源シーケンス回路６、電圧
源７、及び電圧源８は、構成、接続ともに第１の実施の
形態と同一であるため、説明を省略する。
【００３７】サンプル・ホールド回路２１（請求項３記
載の保持手段と、請求項６記載の保持工程とに対応す
る。）は、端子ＩＣ１−Ａと、ＯＰアンプ２２の正入力
端子の間に接続され、基準となる温度である被温度測定
ＩＣ１の周辺温度と等しい温度におけるダイオード３の
順方向電圧が端子ＩＣ１−Ａから入力され、その電圧を
保持して、その保持した電圧をＯＰアンプ２２の正入力
端子に出力する。
載の保持手段と、請求項６記載の保持工程とに対応す
る。）は、端子ＩＣ１−Ａと、ＯＰアンプ２２の正入力
端子の間に接続され、基準となる温度である被温度測定
ＩＣ１の周辺温度と等しい温度におけるダイオード３の
順方向電圧が端子ＩＣ１−Ａから入力され、その電圧を
保持して、その保持した電圧をＯＰアンプ２２の正入力
端子に出力する。
【００３８】ＯＰアンプ２２（請求項２記載の電圧検出
手段と、請求項５記載の電圧検出工程とに対応する。）
は、負入力端子に接続された抵抗器２３、及びＯＰアン
プ２２の負入力端子と出力端子との間に接続された抵抗
器２４とによって反転増幅回路を構成しており、正入力
端子がサンプル・ホールド回路２１に接続され、ＯＰア
ンプ２２の負入力端子が抵抗器２３を介して端子ＩＣ１
−Ａに接続され、サンプル・ホールド回路２１から正入
力端子に入力される電圧Ｖ２と、抵抗器２３に端子ＩＣ
１−Ａから入力される電圧Ｖ１との差を出力端子から検
出電圧Ｖｏとして出力する。
手段と、請求項５記載の電圧検出工程とに対応する。）
は、負入力端子に接続された抵抗器２３、及びＯＰアン
プ２２の負入力端子と出力端子との間に接続された抵抗
器２４とによって反転増幅回路を構成しており、正入力
端子がサンプル・ホールド回路２１に接続され、ＯＰア
ンプ２２の負入力端子が抵抗器２３を介して端子ＩＣ１
−Ａに接続され、サンプル・ホールド回路２１から正入
力端子に入力される電圧Ｖ２と、抵抗器２３に端子ＩＣ
１−Ａから入力される電圧Ｖ１との差を出力端子から検
出電圧Ｖｏとして出力する。
【００３９】次に動作を説明する。図３は、図２に示す
ＩＣのジャンクション温度測定回路２０における電圧の
タイミングを示すタイミングチャートである。この図３
は、電圧源７から出力される電源電圧Ｖｃｃ１、電圧源
８から出力される電源電圧Ｖｃｃ２、端子ＩＣ１−Ａか
ら出力され、抵抗器２３に入力される電圧Ｖ１、サンプ
ル・ホールド回路２１から出力され、ＯＰアンプ２２の
正入力端子に入力される電圧Ｖ２、及びＯＰアンプ２２
から出力される検出電圧Ｖｏのタイミングを示してい
る。
ＩＣのジャンクション温度測定回路２０における電圧の
タイミングを示すタイミングチャートである。この図３
は、電圧源７から出力される電源電圧Ｖｃｃ１、電圧源
８から出力される電源電圧Ｖｃｃ２、端子ＩＣ１−Ａか
ら出力され、抵抗器２３に入力される電圧Ｖ１、サンプ
ル・ホールド回路２１から出力され、ＯＰアンプ２２の
正入力端子に入力される電圧Ｖ２、及びＯＰアンプ２２
から出力される検出電圧Ｖｏのタイミングを示してい
る。
【００４０】まず、電源シーケンス回路６によって電圧
源８から電源電圧Ｖｃｃ２が出力されると、ダイオード
３に順方向電圧が生じ、端子ＩＣ１−Ａから電圧Ｖ１が
出力される。この時、電圧源７は主回路２にＶｃｃ１を
出力していない状態であり、主回路２の電力消費による
熱の発生はないため、端子ＩＣ１−Ａから出力される電
圧Ｖ１は、被温度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオ
ード３の順方向電圧ＶＦ１と等しくなる。
源８から電源電圧Ｖｃｃ２が出力されると、ダイオード
３に順方向電圧が生じ、端子ＩＣ１−Ａから電圧Ｖ１が
出力される。この時、電圧源７は主回路２にＶｃｃ１を
出力していない状態であり、主回路２の電力消費による
熱の発生はないため、端子ＩＣ１−Ａから出力される電
圧Ｖ１は、被温度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオ
ード３の順方向電圧ＶＦ１と等しくなる。
【００４１】サンプル・ホールド回路２１は、この端子
ＩＣ１−Ａから最初に入力される被温度測定ＩＣ１の周
辺温度におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ１を保持
して出力するため、この後、サンプル・ホールド回路２
１から出力される電圧Ｖ２は、被温度測定ＩＣ１の周辺
温度に対するダイオード３の順方向電圧ＶＦ１と常に等
しくなる。ＯＰアンプ２２から出力される検出電圧Ｖｏ
は、電圧Ｖ１と電圧Ｖ２との差であり、この時、電圧Ｖ
１と電圧Ｖ２とはともにＶＦ１で等しいため、検出電圧
Ｖｏは０となる。
ＩＣ１−Ａから最初に入力される被温度測定ＩＣ１の周
辺温度におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ１を保持
して出力するため、この後、サンプル・ホールド回路２
１から出力される電圧Ｖ２は、被温度測定ＩＣ１の周辺
温度に対するダイオード３の順方向電圧ＶＦ１と常に等
しくなる。ＯＰアンプ２２から出力される検出電圧Ｖｏ
は、電圧Ｖ１と電圧Ｖ２との差であり、この時、電圧Ｖ
１と電圧Ｖ２とはともにＶＦ１で等しいため、検出電圧
Ｖｏは０となる。
【００４２】次いで、電源シーケンス回路６によって電
圧源７から電源電圧Ｖｃｃ１を出力すると、主回路２に
電流が流れ、主回路２の電力消費によって発生した熱に
より被温度測定ＩＣのジャンクション温度が上昇する。
そして、その上昇した温度におけるダイオード３の順方
向電圧ＶＦ２が端子ＩＣ１−Ａから出力されるため、電
圧Ｖ１は、主回路２から発生した熱によって上昇した温
度におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２と等しくな
る。電圧Ｖ２は、被温度測定ＩＣ１の周辺温度における
ダイオード３の順方向電圧ＶＦ１と常に等しいため、Ｏ
Ｐアンプ２２から出力される検出電圧Ｖｏ、すなわち電
圧Ｖ１と電圧Ｖ２との差は、被温度測定ＩＣ１の周辺温
度に対するダイオード３の順方向電圧ＶＦ１と主回路２
から発生した熱によって上昇した温度におけるダイオー
ド３の順方向電圧ＶＦ２との差ＶＦ’と等しくなる。
圧源７から電源電圧Ｖｃｃ１を出力すると、主回路２に
電流が流れ、主回路２の電力消費によって発生した熱に
より被温度測定ＩＣのジャンクション温度が上昇する。
そして、その上昇した温度におけるダイオード３の順方
向電圧ＶＦ２が端子ＩＣ１−Ａから出力されるため、電
圧Ｖ１は、主回路２から発生した熱によって上昇した温
度におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２と等しくな
る。電圧Ｖ２は、被温度測定ＩＣ１の周辺温度における
ダイオード３の順方向電圧ＶＦ１と常に等しいため、Ｏ
Ｐアンプ２２から出力される検出電圧Ｖｏ、すなわち電
圧Ｖ１と電圧Ｖ２との差は、被温度測定ＩＣ１の周辺温
度に対するダイオード３の順方向電圧ＶＦ１と主回路２
から発生した熱によって上昇した温度におけるダイオー
ド３の順方向電圧ＶＦ２との差ＶＦ’と等しくなる。
【００４３】このＯＰアンプ２２から出力された検出電
圧Ｖｏの値ＶＦ’と、ダイオード３の順方向電圧の温度
特性−２ｍＶ／℃とによって、被温度測定ＩＣ１のジャ
ンクション温度が基準となる被温度測定ＩＣ１の周辺温
度から何℃上昇したかを算出することにより、被温度測
定ＩＣ１のジャンクション温度を測定できる。
圧Ｖｏの値ＶＦ’と、ダイオード３の順方向電圧の温度
特性−２ｍＶ／℃とによって、被温度測定ＩＣ１のジャ
ンクション温度が基準となる被温度測定ＩＣ１の周辺温
度から何℃上昇したかを算出することにより、被温度測
定ＩＣ１のジャンクション温度を測定できる。
【００４４】以上のように、まず、電圧源８から電源電
圧Ｖｃｃ２を出力して、電圧源７から電源電圧Ｖｃｃ１
を出力していない状態において端子ＩＣ１−Ａから出力
されるダイオード３の順方向電圧ＶＦ１をサンプル・ホ
ールド回路２１に保持し、その保持した電圧ＶＦ１をＯ
Ｐアンプ２２の正入力端子に入力し、次いで、電圧源７
から主回路２にＶｃｃ２を入力することによって主回路
２から発生した熱により被温度測定ＩＣ１のジャンクシ
ョン温度が上昇した状態において端子ＩＣ１−Ａから出
力されるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２を抵抗器２３
を介してＯＰアンプ２２の負入力端子に入力して、被温
度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向
電圧ＶＦ１と主回路２から発生した熱によって上昇した
温度におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２との差Ｖ
Ｆ’をＯＰアンプ２２から検出電圧Ｖｏとして出力す
る。そして、その検出電圧Ｖｏと、−２ｍＶ／℃のダイ
オード３の順方向電圧の温度特性とに基づき、被温度測
定ＩＣ１のジャンクション温度を測定する。
圧Ｖｃｃ２を出力して、電圧源７から電源電圧Ｖｃｃ１
を出力していない状態において端子ＩＣ１−Ａから出力
されるダイオード３の順方向電圧ＶＦ１をサンプル・ホ
ールド回路２１に保持し、その保持した電圧ＶＦ１をＯ
Ｐアンプ２２の正入力端子に入力し、次いで、電圧源７
から主回路２にＶｃｃ２を入力することによって主回路
２から発生した熱により被温度測定ＩＣ１のジャンクシ
ョン温度が上昇した状態において端子ＩＣ１−Ａから出
力されるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２を抵抗器２３
を介してＯＰアンプ２２の負入力端子に入力して、被温
度測定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向
電圧ＶＦ１と主回路２から発生した熱によって上昇した
温度におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２との差Ｖ
Ｆ’をＯＰアンプ２２から検出電圧Ｖｏとして出力す
る。そして、その検出電圧Ｖｏと、−２ｍＶ／℃のダイ
オード３の順方向電圧の温度特性とに基づき、被温度測
定ＩＣ１のジャンクション温度を測定する。
【００４５】したがって、検出電圧Ｖｏとして被温度測
定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧
ＶＦ１と主回路２から発生した熱によって上昇した温度
におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２との差ＶＦ’
を得ることができるため、この検出電圧Ｖｏとダイオー
ド３の順方向電圧の温度特性に基づき、より容易に正確
な被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測定するこ
とができる。
定ＩＣ１の周辺温度におけるダイオード３の順方向電圧
ＶＦ１と主回路２から発生した熱によって上昇した温度
におけるダイオード３の順方向電圧ＶＦ２との差ＶＦ’
を得ることができるため、この検出電圧Ｖｏとダイオー
ド３の順方向電圧の温度特性に基づき、より容易に正確
な被温度測定ＩＣ１のジャンクション温度を測定するこ
とができる。
【００４６】なお、上記第１の実施の形態及び第２の実
施の形態においては、ダイオード３の順方向電圧の温度
特性を−２ｍＶ／℃としたが、本発明はこれに限定され
るものではなく、ＩＣのジャンクション温度測定回路の
仕様に応じて、変更可能である。
施の形態においては、ダイオード３の順方向電圧の温度
特性を−２ｍＶ／℃としたが、本発明はこれに限定され
るものではなく、ＩＣのジャンクション温度測定回路の
仕様に応じて、変更可能である。
【００４７】また、本発明は、複数のデジタル・アナロ
グＩＣを使用するような装置において利用することも可
能であり、その場合には、予め、その装置に備えられて
いる電源シーケンス回路を利用する構成とすれば、新た
に電源シーケンス回路を追加することなくＩＣのジャン
クション温度の測定が可能となる。
グＩＣを使用するような装置において利用することも可
能であり、その場合には、予め、その装置に備えられて
いる電源シーケンス回路を利用する構成とすれば、新た
に電源シーケンス回路を追加することなくＩＣのジャン
クション温度の測定が可能となる。
【００４８】
【発明の効果】請求項１及び請求項４記載の発明によれ
ば、ＩＣの主回路に電源電圧を印加する前に、ダイオー
ドに電源電圧を印加した時にダイオードに発生する順方
向電圧を測定することができ、主回路から熱が発生する
前のＩＣの周辺温度と等しい基準となるジャンクション
温度におけるダイオードの順方向電圧を正確に測定する
ことが可能となり、より正確なＩＣのジャンクション温
度を測定することが可能となる。
ば、ＩＣの主回路に電源電圧を印加する前に、ダイオー
ドに電源電圧を印加した時にダイオードに発生する順方
向電圧を測定することができ、主回路から熱が発生する
前のＩＣの周辺温度と等しい基準となるジャンクション
温度におけるダイオードの順方向電圧を正確に測定する
ことが可能となり、より正確なＩＣのジャンクション温
度を測定することが可能となる。
【００４９】請求項２及び請求項５記載の発明によれ
ば、ＩＣの主回路に電源電圧を印加する前に、ダイオー
ドに電源電圧を印加した時にダイオードに発生する順方
向電圧、すなわち主回路から熱が発生する前のＩＣの周
辺温度と等しい基準となるジャンクション温度における
ダイオードの順方向電圧と、ＩＣの主回路に電源電圧を
印加して、主回路から熱が発生し、上昇したジャンクシ
ョン温度におけるダイオードの順方向電圧との差を検出
することができ、この検出された電圧差とダイオードの
順方向電圧の温度特性に基づき、より容易に正確なＩＣ
のジャンクション温度を測定することが可能となる。
ば、ＩＣの主回路に電源電圧を印加する前に、ダイオー
ドに電源電圧を印加した時にダイオードに発生する順方
向電圧、すなわち主回路から熱が発生する前のＩＣの周
辺温度と等しい基準となるジャンクション温度における
ダイオードの順方向電圧と、ＩＣの主回路に電源電圧を
印加して、主回路から熱が発生し、上昇したジャンクシ
ョン温度におけるダイオードの順方向電圧との差を検出
することができ、この検出された電圧差とダイオードの
順方向電圧の温度特性に基づき、より容易に正確なＩＣ
のジャンクション温度を測定することが可能となる。
【００５０】請求項３及び請求項６記載の発明によれ
ば、主回路から熱が発生する前のＩＣの周辺温度と等し
い基準となるジャンクション温度におけるダイオードの
順方向電圧を保持できるため、その保持した基準となる
ジャンクション温度におけるダイオードの順方向電圧
と、ＩＣの主回路に電源電圧を印加して、主回路から熱
が発生し、上昇したジャンクション温度におけるダイオ
ードの順方向電圧との差を容易に検出できるため、より
容易に正確なＩＣのジャンクション温度を測定すること
が可能となる。
ば、主回路から熱が発生する前のＩＣの周辺温度と等し
い基準となるジャンクション温度におけるダイオードの
順方向電圧を保持できるため、その保持した基準となる
ジャンクション温度におけるダイオードの順方向電圧
と、ＩＣの主回路に電源電圧を印加して、主回路から熱
が発生し、上昇したジャンクション温度におけるダイオ
ードの順方向電圧との差を容易に検出できるため、より
容易に正確なＩＣのジャンクション温度を測定すること
が可能となる。
【図１】本第１の実施の形態におけるＩＣのジャンクシ
ョン温度測定回路１０の概略構成を示す回路図である。
ョン温度測定回路１０の概略構成を示す回路図である。
【図２】本第２の実施の形態におけるＩＣのジャンクシ
ョン温度測定回路２０の概略構成を示す回路図である。
ョン温度測定回路２０の概略構成を示す回路図である。
【図３】図２のＩＣのジャンクション温度測定回路２０
における電圧のタイミングを示すタイミングチャートで
ある。
における電圧のタイミングを示すタイミングチャートで
ある。
【図４】従来のＩＣのジャンクション温度測定回路の構
成例を示す回路図である。
成例を示す回路図である。
１ 被温度測定ＩＣ ２ 主回路 ３ ダイオード ４、２３、２４ ５ 電圧計 ６ 電源シーケンス回路 ７、８ 電圧源 １０、２０ ＩＣのジャンクション温度測定回路 ２１ サンプル・ホールド回路 ２２ ＯＰアンプ ＩＣ１−Ａ、ＩＣ１−Ｋ 端子
Claims (6)
- 【請求項１】ＩＣ内部に備えられたダイオードの順方向
電圧を測定して、前記ＩＣの主回路から発生する熱によ
って上昇するＩＣのジャンクション温度を測定するＩＣ
のジャンクション温度測定回路において、 前記ＩＣの主回路に電源電圧を供給する主回路用電源
と、 前記ダイオードに電源電圧を供給するダイオード用電源
と、 前記ダイオード用電源によって前記ダイオードに電源電
圧を印加した後、前記主回路用電源によって前記ＩＣの
主回路に電源電圧を印加するように制御する制御手段
と、 を備えることを特徴とするＩＣのジャンクション温度測
定回路。 - 【請求項２】前記制御手段は、前記ダイオード用電源に
より前記ダイオードに電源電圧を印加した時に該ダイオ
ードに発生する順方向電圧と、前記主回路用電源により
前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に該ダイオー
ドに発生する順方向電圧との差を検出する電圧検出手段
を更に備えることを特徴とする請求項１記載のＩＣのジ
ャンクション温度測定回路。 - 【請求項３】前記ダイオード用電源により前記ダイオー
ドに電源電圧を印加した時に該ダイオードに発生する順
方向電圧を保持する保持手段を更に備え、 前記制御手段は、前記電圧検出手段により前記主回路用
電源により前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加した時に
該ダイオードに発生する順方向電圧と、前記保持手段に
保持された順方向電圧との差を検出するようにしたこと
を特徴とする請求項２記載のＩＣのジャンクション温度
測定回路。 - 【請求項４】ＩＣ内部に備えられたダイオードの順方向
電圧を測定して、前記ＩＣの主回路から発生する熱によ
って上昇するＩＣのジャンクション温度を測定するＩＣ
のジャンクション温度測定方法において、 前記ＩＣの主回路に電源電圧を印加する主回路用電源電
圧印加工程と、 前記ダイオードに電源電圧を印加するダイオード用電源
電圧印加工程と、 前記ダイオード用電源電圧印加工程を実行した後に、前
記主回路用電源電圧印加工程を実行するように制御する
制御工程と、 を含むことを特徴とするＩＣのジャンクション温度測定
方法。 - 【請求項５】前記制御工程は、前記ダイオード用電源電
圧印加工程により前記ダイオードに電源電圧を印加した
時に該ダイオードに発生する順方向電圧と、前記主回路
用電源電圧印加工程により前記ＩＣの主回路に電源電圧
を印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧との
差を検出する電圧検出工程を更に含むことを特徴とする
請求項４記載のＩＣのジャンクション温度測定方法。 - 【請求項６】前記ダイオード用電源電圧印加工程により
前記ダイオードに電源電圧を印加した時に該ダイオード
に発生する順方向電圧を保持する保持工程を更に含み、 前記制御工程は、前記電圧検出工程により前記主回路用
電源電圧印加工程により前記ＩＣの主回路に電源電圧を
印加した時に該ダイオードに発生する順方向電圧と、前
記保持工程により保持された順方向電圧との差を検出す
るようにしたことを特徴とする請求項５記載のＩＣのジ
ャンクション温度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10984999A JP2000304623A (ja) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Ｉｃのジャンクション温度測定回路、及びその測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10984999A JP2000304623A (ja) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Ｉｃのジャンクション温度測定回路、及びその測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000304623A true JP2000304623A (ja) | 2000-11-02 |
Family
ID=14520760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10984999A Withdrawn JP2000304623A (ja) | 1999-04-16 | 1999-04-16 | Ｉｃのジャンクション温度測定回路、及びその測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000304623A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7052180B2 (en) * | 2002-01-04 | 2006-05-30 | Kelvin Shih | LED junction temperature tester |
| CN102313609A (zh) * | 2010-07-02 | 2012-01-11 | 罗伯特·博世有限公司 | 具有二极管和模/数转换器的温度检测装置 |
-
1999
- 1999-04-16 JP JP10984999A patent/JP2000304623A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7052180B2 (en) * | 2002-01-04 | 2006-05-30 | Kelvin Shih | LED junction temperature tester |
| CN102313609A (zh) * | 2010-07-02 | 2012-01-11 | 罗伯特·博世有限公司 | 具有二极管和模/数转换器的温度检测装置 |
| US8992080B2 (en) | 2010-07-02 | 2015-03-31 | Robert Bosch Gmbh | Temperature detection device having a diode and an analog-digital converter |
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