JP2000301416A - ワイヤ放電加工装置およびワイヤ放電加工モニタ方法 - Google Patents
ワイヤ放電加工装置およびワイヤ放電加工モニタ方法Info
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- JP2000301416A JP2000301416A JP11112586A JP11258699A JP2000301416A JP 2000301416 A JP2000301416 A JP 2000301416A JP 11112586 A JP11112586 A JP 11112586A JP 11258699 A JP11258699 A JP 11258699A JP 2000301416 A JP2000301416 A JP 2000301416A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 加工物と状態量毎の３次元表示とを比較する
ことにより、直感的に不具合原因を識別する。 【解決手段】 ワイヤ放電加工装置における放電加工状
態を示す放電周波数，正常放電パルス数，異常放電パル
ス数，平均加工電流，平均ギャップ電圧，加工速度など
の各種状態量を、加工位置とともに記憶し、３次元加工
モデルの加工面上で、前記記憶した加工位置に合わせて
前記各種状態量の変化に応じて色相・色調・階調を変化
させることにより表示する。
ことにより、直感的に不具合原因を識別する。 【解決手段】 ワイヤ放電加工装置における放電加工状
態を示す放電周波数，正常放電パルス数，異常放電パル
ス数，平均加工電流，平均ギャップ電圧，加工速度など
の各種状態量を、加工位置とともに記憶し、３次元加工
モデルの加工面上で、前記記憶した加工位置に合わせて
前記各種状態量の変化に応じて色相・色調・階調を変化
させることにより表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤ放電加工装
置およびワイヤ放電加工モニタ方法に関するものであ
る。
置およびワイヤ放電加工モニタ方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】ワイヤ放電加工において、加工の精度に
影響する物理量として、放電周波数，有効放電パルス
数，無効放電パルス数，平均加工電流，平均ギャップ電
圧，ワイヤ張力，加工速度などがある。
影響する物理量として、放電周波数，有効放電パルス
数，無効放電パルス数，平均加工電流，平均ギャップ電
圧，ワイヤ張力，加工速度などがある。
【０００３】従来、ワイヤ放電加工では、材質・サイズ
が異なる各種母材に応じた加工条件を設定したり、加工
で生じた不具合の調査を行うため、これらの物理量を作
業員が直接加工中にオシロスコープで時系列的に測定し
たり、例えば特開平０６−００８０５４号公報に開示さ
れたワイヤ放電加工機のように時間の関数として表示さ
せたりしている。
が異なる各種母材に応じた加工条件を設定したり、加工
で生じた不具合の調査を行うため、これらの物理量を作
業員が直接加工中にオシロスコープで時系列的に測定し
たり、例えば特開平０６−００８０５４号公報に開示さ
れたワイヤ放電加工機のように時間の関数として表示さ
せたりしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ワイヤ
放電加工では、微少な前進後退を繰り返しながら加工が
進行するため、加工された場所と時間とが１対１に対応
することはなく、上述した方法では、不具合の生じた場
所と物理量との関係を正確に把握することが難しいとい
う問題がある。
放電加工では、微少な前進後退を繰り返しながら加工が
進行するため、加工された場所と時間とが１対１に対応
することはなく、上述した方法では、不具合の生じた場
所と物理量との関係を正確に把握することが難しいとい
う問題がある。
【０００５】また、例えば特開平２−１４３３０７号公
報に開示されているように、研削加工物を２次元表示
し、加工面の表示階調・表示色相・表示色調を研削量に
応じて変化させることにより、加工の進行段階を意味す
る加工状態をモデル上に表示する方法があるが、この例
では、加工の精度に影響する物理量を測定することを目
的としないため、研削量変化を記憶させておらず、加工
結果との比較分析ができないという問題がある。
報に開示されているように、研削加工物を２次元表示
し、加工面の表示階調・表示色相・表示色調を研削量に
応じて変化させることにより、加工の進行段階を意味す
る加工状態をモデル上に表示する方法があるが、この例
では、加工の精度に影響する物理量を測定することを目
的としないため、研削量変化を記憶させておらず、加工
結果との比較分析ができないという問題がある。
【０００６】さらに、上述した例では研削物が軸対象で
あるため、２次元投影しているが、ワイヤ放電加工で
は、テーパ加工などの上下面異形状加工することが多
く、このものには、２次元化する表示方法は適用できな
い。
あるため、２次元投影しているが、ワイヤ放電加工で
は、テーパ加工などの上下面異形状加工することが多
く、このものには、２次元化する表示方法は適用できな
い。
【０００７】本発明の目的は、加工物と状態量毎の３次
元表示とを比較することにより、直感的に不具合原因を
識別することが可能としたワイヤ放電加工装置およびワ
イヤ放電加工モニタ方法を提供することにある。
元表示とを比較することにより、直感的に不具合原因を
識別することが可能としたワイヤ放電加工装置およびワ
イヤ放電加工モニタ方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るワイヤ放電加工装置は、ワイヤ放電加
工装置における放電加工状態を示す放電周波数，正常放
電パルス数，異常放電パルス数，平均加工電流，平均ギ
ャップ電圧，加工速度などの各種状態量を、加工位置と
ともに記憶する手段と、３次元加工モデルの加工面上
で、前記記憶した加工位置に合わせて前記各種状態量の
変化に応じて色相・色調・階調を変化させることによ
り、表示する手段とを有するものである。
め、本発明に係るワイヤ放電加工装置は、ワイヤ放電加
工装置における放電加工状態を示す放電周波数，正常放
電パルス数，異常放電パルス数，平均加工電流，平均ギ
ャップ電圧，加工速度などの各種状態量を、加工位置と
ともに記憶する手段と、３次元加工モデルの加工面上
で、前記記憶した加工位置に合わせて前記各種状態量の
変化に応じて色相・色調・階調を変化させることによ
り、表示する手段とを有するものである。
【０００９】また本発明に係るワイヤ放電加工モニタ方
法は、ワイヤ放電加工装置における放電加工状態を示す
放電周波数，正常放電パルス数，異常放電パルス数，平
均加工電流，平均ギャップ電圧，加工速度などの各種状
態量を、加工位置とともに記憶し、３次元加工モデルの
加工面上で、前記記憶した加工位置に合わせて前記各種
状態量の変化に応じて色相・色調・階調を変化させるこ
とにより、表示するものである。
法は、ワイヤ放電加工装置における放電加工状態を示す
放電周波数，正常放電パルス数，異常放電パルス数，平
均加工電流，平均ギャップ電圧，加工速度などの各種状
態量を、加工位置とともに記憶し、３次元加工モデルの
加工面上で、前記記憶した加工位置に合わせて前記各種
状態量の変化に応じて色相・色調・階調を変化させるこ
とにより、表示するものである。
【００１０】また加工に不具合が生じた場合に、加工物
と状態量毎の３次元表示とを比較することにより、直感
的に不具合原因を識別するものである。
と状態量毎の３次元表示とを比較することにより、直感
的に不具合原因を識別するものである。
【００１１】また１つの状態量に、色相・色調・階調の
いずれかを用いて、１状態量のみを表示するものであ
る。
いずれかを用いて、１状態量のみを表示するものであ
る。
【００１２】また１つの状態量に、色相・色調・階調の
すべてを用いて、１状態量のみを表示するものである。
すべてを用いて、１状態量のみを表示するものである。
【００１３】また複数の状態量に、色相・色調・階調を
個別に割り当て、複数の状態量を同時に同一モデル上で
表示するものである。
個別に割り当て、複数の状態量を同時に同一モデル上で
表示するものである。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
より説明する。
より説明する。
【００１５】図１は本発明の一実施形態に係るワイヤ放
電加工装置を示す構成図である。
電加工装置を示す構成図である。
【００１６】図１に示す本発明の一実施形態に係るワイ
ヤ放電加工装置は、数値制御装置１を有しており、数値
制御装置１は、入力手段３１と、加工プログラム解析実
行手段３２と、サーボ制御手段３３と、加工電源制御手
段３４と、加工状態量検出手段３５と、加工解析手段３
６と、加工状態量記憶手段３７と、表示制御手段３８
と、表示手段３９とを有している。
ヤ放電加工装置は、数値制御装置１を有しており、数値
制御装置１は、入力手段３１と、加工プログラム解析実
行手段３２と、サーボ制御手段３３と、加工電源制御手
段３４と、加工状態量検出手段３５と、加工解析手段３
６と、加工状態量記憶手段３７と、表示制御手段３８
と、表示手段３９とを有している。
【００１７】数値制御装置１には、作業者が設定する加
工プログラム２１を、キーボードやフロッピーディスク
などの入力手段３１により入力するようになっている。
工プログラム２１を、キーボードやフロッピーディスク
などの入力手段３１により入力するようになっている。
【００１８】加工プログラム解析実行手段３２は、入力
手段３１から入力される加工プログラム２１を解析し、
所望の加工形状・加工速度などから駆動機構制御指令を
サーボ制御手段３３に指令するとともに、所望の加工条
件を加工電源制御手段３４に指令し、かつＣＲＴ等の表
示手段３９への各種表示指令を表示制御手段３８に出力
するようになっている。
手段３１から入力される加工プログラム２１を解析し、
所望の加工形状・加工速度などから駆動機構制御指令を
サーボ制御手段３３に指令するとともに、所望の加工条
件を加工電源制御手段３４に指令し、かつＣＲＴ等の表
示手段３９への各種表示指令を表示制御手段３８に出力
するようになっている。
【００１９】サーボ制御手段３３は、図示しないワイヤ
放電加工機本体に備えた加工用ＸＹテーブル，ＵＶテー
ブル等駆動機構を駆動するために、モータ３〜６に駆動
機構制御指令により一般的なモータサーボ制御を行うよ
うになっているとともに、モータ３〜６の位置フィード
バックデータなどに基づいて加工中の現在位置を検出し
て、その結果を加工解析手段３６に通知するようになっ
ている。
放電加工機本体に備えた加工用ＸＹテーブル，ＵＶテー
ブル等駆動機構を駆動するために、モータ３〜６に駆動
機構制御指令により一般的なモータサーボ制御を行うよ
うになっているとともに、モータ３〜６の位置フィード
バックデータなどに基づいて加工中の現在位置を検出し
て、その結果を加工解析手段３６に通知するようになっ
ている。
【００２０】ワイヤ電極ボビン７およびワイヤ電極上面
ガイド８は、加工用ＵＶテーブルに搭載され、モータ
５、６によってＵＶ平面内を移動する。ワイヤ電極ボビ
ン９およびワイヤ電極下面ガイド１０は、加工用ＸＹテ
ーブルに搭載され、モータ３、４によって、ＵＶ平面と
平行なＸＹ平面内を移動する。
ガイド８は、加工用ＵＶテーブルに搭載され、モータ
５、６によってＵＶ平面内を移動する。ワイヤ電極ボビ
ン９およびワイヤ電極下面ガイド１０は、加工用ＸＹテ
ーブルに搭載され、モータ３、４によって、ＵＶ平面と
平行なＸＹ平面内を移動する。
【００２１】図示しないワイヤ放電加工機本体に備えた
ワイヤ電極１１は、ワイヤ電極上面ガイド８とワイヤ電
極下面ガイド１０との間に張設されており、ワイヤ電極
１１は、モータ３〜６を駆動して、ワイヤ電極上面ガイ
ド８とワイヤ電極下面ガイド１０の相対的な位置関係を
ワーク１２に対して変更することにより、テーパ加工な
どの上下面異形状などの所望の加工位置を得るようにな
っている。
ワイヤ電極１１は、ワイヤ電極上面ガイド８とワイヤ電
極下面ガイド１０との間に張設されており、ワイヤ電極
１１は、モータ３〜６を駆動して、ワイヤ電極上面ガイ
ド８とワイヤ電極下面ガイド１０の相対的な位置関係を
ワーク１２に対して変更することにより、テーパ加工な
どの上下面異形状などの所望の加工位置を得るようにな
っている。
【００２２】加工電源制御手段３４は、加工プログラム
解析手段３２から入力した各種加工条件に従い、加工電
源２に対して印加電流，印加電圧，放電周波数などのフ
ィードバック制御を行うようになっているとともに、加
工電源２からの印加電流検出値，印加電圧検出値などを
加工解析手段３６に通知するようになっている。
解析手段３２から入力した各種加工条件に従い、加工電
源２に対して印加電流，印加電圧，放電周波数などのフ
ィードバック制御を行うようになっているとともに、加
工電源２からの印加電流検出値，印加電圧検出値などを
加工解析手段３６に通知するようになっている。
【００２３】加工状態量検出手段３５は、ワイヤ電極１
１の送り速度など、加工電源２以外の各種状態量を検出
し、加工解析手段３６に通知するようになっている。
１の送り速度など、加工電源２以外の各種状態量を検出
し、加工解析手段３６に通知するようになっている。
【００２４】加工解析手段３６は、サーボ制御手段３３
が出力する加工位置検出値に応じたフィルタ処理・平均
化などの解析作業を、加工状態量検出手段３５が検出し
た各種状態量に対して行い、位置情報に基づくデータベ
ースを加工状態量記憶手段３７に構築するようになって
いる。
が出力する加工位置検出値に応じたフィルタ処理・平均
化などの解析作業を、加工状態量検出手段３５が検出し
た各種状態量に対して行い、位置情報に基づくデータベ
ースを加工状態量記憶手段３７に構築するようになって
いる。
【００２５】加工状態量記憶手段３７は、ハードディス
ク，フロッピーディスク，ＲＡＭなどの各種記憶媒体か
ら構成され、加工解析手段３６から出力される位置情報
に基づくデータベースを記憶するようになっている。
ク，フロッピーディスク，ＲＡＭなどの各種記憶媒体か
ら構成され、加工解析手段３６から出力される位置情報
に基づくデータベースを記憶するようになっている。
【００２６】表示制御手段３８は、加工プログラム２１
から３次元加工モデルの表示データを算出して表示手段
３９上に表示し、また、加工状態量記憶手段３７のデー
タベースから加工位置および加工状態を参照して、加工
位置に相当する３次元加工モデルの加工面上の位置での
３次元表示データに変換し、作業者が入力手段３１によ
り与えた表示指令により色相・色調・階調を制御して、
表示手段３９上に表示するようになっている。
から３次元加工モデルの表示データを算出して表示手段
３９上に表示し、また、加工状態量記憶手段３７のデー
タベースから加工位置および加工状態を参照して、加工
位置に相当する３次元加工モデルの加工面上の位置での
３次元表示データに変換し、作業者が入力手段３１によ
り与えた表示指令により色相・色調・階調を制御して、
表示手段３９上に表示するようになっている。
【００２７】図１において、一般的な放電加工機の加工
実行処理と同様に、作業者が加工プログラム２１を入力
手段３１を使って入力し実行させると、加工解析手段３
６は、放電加工の開始時点から各種加工状態量の収集・
解析および記憶処理を開始する。
実行処理と同様に、作業者が加工プログラム２１を入力
手段３１を使って入力し実行させると、加工解析手段３
６は、放電加工の開始時点から各種加工状態量の収集・
解析および記憶処理を開始する。
【００２８】加工解析手段３６は、加工位置検出値およ
び、印加電流，印加電圧，ワイヤ電極の送り速度，ワイ
ヤ張力などの各種状態量の検出値がサーボ制御手段３３
及び加工電源制御手段３４並びに加工状態量検出手段３
５から入力すると、その加工位置に応じた状態量のデー
タベースとして、表１に示すような位置情報に基づくデ
ータベースを加工状態量記憶手段３７に構築する。
び、印加電流，印加電圧，ワイヤ電極の送り速度，ワイ
ヤ張力などの各種状態量の検出値がサーボ制御手段３３
及び加工電源制御手段３４並びに加工状態量検出手段３
５から入力すると、その加工位置に応じた状態量のデー
タベースとして、表１に示すような位置情報に基づくデ
ータベースを加工状態量記憶手段３７に構築する。
【００２９】
【表１】
【００３０】表１におけるＰ１〜Ｐｎは、加工位置をワ
イヤ電極経路に沿って０．１μｍ〜１００μｍ程度の長
さで区間分けしたものであり、区間内で検出した印加電
流などの各種状態量は、フィルタ処理・時間平均化など
の解析作業を行い、平均加工電流，ピーク加工電流，平
均ギャップ電圧，ピークギャップ電圧，ワイヤ電極送り
速度，ワイヤ張力，加工速度，放電周波数，正常放電パ
ルス数，異常放電パルス数などとしてデータベースに格
納される。
イヤ電極経路に沿って０．１μｍ〜１００μｍ程度の長
さで区間分けしたものであり、区間内で検出した印加電
流などの各種状態量は、フィルタ処理・時間平均化など
の解析作業を行い、平均加工電流，ピーク加工電流，平
均ギャップ電圧，ピークギャップ電圧，ワイヤ電極送り
速度，ワイヤ張力，加工速度，放電周波数，正常放電パ
ルス数，異常放電パルス数などとしてデータベースに格
納される。
【００３１】なお、表１は、表示の一例を示すものであ
り、この表示例に限定されるものではない。
り、この表示例に限定されるものではない。
【００３２】ここで、作業者が加工状態を観察するため
に入力手段３１を使用して、加工状態を表示する指令を
与えると、加工状態量記憶手段３７の格納データは図２
に示すように、３次元加工モデル１２ａ上の加工位置Ｐ
１〜Ｐｎに相当する位置で、加工面上に色相・色調・階
調を加工状態量の変化に対応させて、表示制御手段３８
によって表示手段３９に表示される。
に入力手段３１を使用して、加工状態を表示する指令を
与えると、加工状態量記憶手段３７の格納データは図２
に示すように、３次元加工モデル１２ａ上の加工位置Ｐ
１〜Ｐｎに相当する位置で、加工面上に色相・色調・階
調を加工状態量の変化に対応させて、表示制御手段３８
によって表示手段３９に表示される。
【００３３】図２は、加工状態量の１種である平均ギャ
ップ電圧を、階調の違いにより３次元加工モデル上に表
示させたものである。
ップ電圧を、階調の違いにより３次元加工モデル上に表
示させたものである。
【００３４】図３による表示例は、テーパ加工のように
上下面異形状となる場合のものであり、上面と下面でワ
イヤ電極１１の移動量が異なる場合の加工区間を分割し
て表示する例を示すものであり、３次元加工モデル１２
ｂ上の加工位置Ｐ１〜Ｐｎに相当する位置で、加工状態
量の変化に対応させて３次元加工モデル１２ｂを、表示
データ表示制御手段３８によって表示手段３９に表示す
る。
上下面異形状となる場合のものであり、上面と下面でワ
イヤ電極１１の移動量が異なる場合の加工区間を分割し
て表示する例を示すものであり、３次元加工モデル１２
ｂ上の加工位置Ｐ１〜Ｐｎに相当する位置で、加工状態
量の変化に対応させて３次元加工モデル１２ｂを、表示
データ表示制御手段３８によって表示手段３９に表示す
る。
【００３５】作業者が指示する表示方法には、図２のよ
うに１つの状態量に色相・色調・階調のいずれかを用い
て１状態量のみを表示する方法と、１つの状態量に色相
・色調・階調のすべてを用いて１状態量のみを表示する
方法と、複数の状態量に色相・色調・階調を個別に割り
当て複数の状態量を同時に同一モデル上に表示する方法
がある。
うに１つの状態量に色相・色調・階調のいずれかを用い
て１状態量のみを表示する方法と、１つの状態量に色相
・色調・階調のすべてを用いて１状態量のみを表示する
方法と、複数の状態量に色相・色調・階調を個別に割り
当て複数の状態量を同時に同一モデル上に表示する方法
がある。
【００３６】表示制御手段３８は、加工プログラム２１
から３次元加工モデルの表示データを算出して表示手段
３９上に表示する。
から３次元加工モデルの表示データを算出して表示手段
３９上に表示する。
【００３７】また表示制御手段３８は、加工状態量記憶
手段３７のデータベースから加工位置および加工状態を
参照して、加工位置に相当する３次元加工モデルの加工
面上の位置での３次元表示データに変換し、色相・色調
・階調を制御して表示手段３９上に表示する。
手段３７のデータベースから加工位置および加工状態を
参照して、加工位置に相当する３次元加工モデルの加工
面上の位置での３次元表示データに変換し、色相・色調
・階調を制御して表示手段３９上に表示する。
【００３８】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、加工に不
具合が生じた場合に不具合解決時間を短縮することで
き、したがって生産性を向上することができる。
具合が生じた場合に不具合解決時間を短縮することで
き、したがって生産性を向上することができる。
【００３９】その理由は、加工物と状態量毎の３次元表
示とを比較することにより、直感的に不具合原因を識別
することが可能となるためである。
示とを比較することにより、直感的に不具合原因を識別
することが可能となるためである。
【００４０】さらに加工条件の調整を容易に行って、調
整に要する作業時間を短縮することができる。
整に要する作業時間を短縮することができる。
【００４１】その理由は、加工物と状態量毎の３次元表
示とを比較することにより、各種加工条件のうち加工物
に及ぼす影響が大きいものを直感的に識別することがで
き、条件を絞り込むことにより無駄な調整時間を削減で
きるためである。
示とを比較することにより、各種加工条件のうち加工物
に及ぼす影響が大きいものを直感的に識別することがで
き、条件を絞り込むことにより無駄な調整時間を削減で
きるためである。
【図１】本発明の一実施形態に係るワイヤ放電加工装置
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図２】本発明の一実施形態における表示例を示す図で
ある。
ある。
【図３】本発明の一実施形態における表示例を示す図で
ある。
ある。
１ 数値制御装置 ３１ 入力手段 ３２ 加工プログラム解析実行手段 ３３ サーボ制御手段 ３４ 加工電源制御手段 ３５ 加工状態量検出手段 ３６ 加工解析手段 ３７ 加工状態量記憶手段 ３８ 表示制御手段 ３９ 表示手段
Claims (6)
- 【請求項１】 ワイヤ放電加工装置における放電加工状
態を示す放電周波数，正常放電パルス数，異常放電パル
ス数，平均加工電流，平均ギャップ電圧，加工速度など
の各種状態量を、加工位置とともに記憶する手段と、 ３次元加工モデルの加工面上で、前記記憶した加工位置
に合わせて前記各種状態量の変化に応じて色相・色調・
階調を変化させることにより、表示する手段とを有する
ことを特徴とするワイヤ放電加工装置。 - 【請求項２】 ワイヤ放電加工装置における放電加工状
態を示す放電周波数，正常放電パルス数，異常放電パル
ス数，平均加工電流，平均ギャップ電圧，加工速度など
の各種状態量を、加工位置とともに記憶し、 ３次元加工モデルの加工面上で、前記記憶した加工位置
に合わせて前記各種状態量の変化に応じて色相・色調・
階調を変化させることにより、表示することを特徴とす
るワイヤ放電加工モニタ方法。 - 【請求項３】 加工に不具合が生じた場合に、加工物と
状態量毎の３次元表示とを比較することにより、直感的
に不具合原因を識別することを特徴とする請求項２に記
載のワイヤ放電加工モニタ方法。 - 【請求項４】 １つの状態量に、色相・色調・階調のい
ずれかを用いて、１状態量のみを表示することを特徴と
する請求項２に記載のワイヤ放電加工モニタ方法。 - 【請求項５】 １つの状態量に、色相・色調・階調のす
べてを用いて、１状態量のみを表示することを特徴とす
る請求項２に記載のワイヤ放電加工モニタ方法。 - 【請求項６】 複数の状態量に、色相・色調・階調を個
別に割り当て、複数の状態量を同時に同一モデル上で表
示することを特徴とする請求項２に記載のワイヤ放電加
工モニタ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11112586A JP2000301416A (ja) | 1999-04-20 | 1999-04-20 | ワイヤ放電加工装置およびワイヤ放電加工モニタ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11112586A JP2000301416A (ja) | 1999-04-20 | 1999-04-20 | ワイヤ放電加工装置およびワイヤ放電加工モニタ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000301416A true JP2000301416A (ja) | 2000-10-31 |
Family
ID=14590451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11112586A Pending JP2000301416A (ja) | 1999-04-20 | 1999-04-20 | ワイヤ放電加工装置およびワイヤ放電加工モニタ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000301416A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008100334A (ja) * | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Mitsubishi Electric Corp | 情報表示装置 |
| JP2008296314A (ja) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Seibu Electric & Mach Co Ltd | ワイヤ放電加工装置の物理量変化状態表示システム |
-
1999
- 1999-04-20 JP JP11112586A patent/JP2000301416A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008100334A (ja) * | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Mitsubishi Electric Corp | 情報表示装置 |
| JP2008296314A (ja) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Seibu Electric & Mach Co Ltd | ワイヤ放電加工装置の物理量変化状態表示システム |
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