JP2000299493A5 - - Google Patents

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光ダイオード(LED)や垂直キャビティ面発光レーザ(VCSE)などの半導体面発光素子の改良に関する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、量子井戸から構成される発光層では、温度に応じてその発光スペクトルのピーク波長が変化する性質がある。このため、温度変化が大きい場合には、光共振器の共振波長が上記発光スペクトルの利得幅から外れて、所望の発光波長が得られる使用温度範囲が制限される場合があった。これに対し、相互にバンドギャップの異なる発光層すなわち発光波長の異なる発光層を光共振器内に複数設けた半導体面発光素子が提案されている。たとえば、特開平10−27945号公報に記載されたものがそれである。これによれば、温度上昇に対して一定の利得を得ることができるので、安定した素子特性を高い温度においても実現できる。
【0015】
上記第1バリア層16乃至第4バリア層28は、何れも例えばi−(Ga0.7Al0.30.52 In 0.48 P単結晶から成る化合物半導体であり、第1活性層18、第2活性層22、第3活性層26を厚み方向において挟むようにして配置されている。各層の厚さは、第1バリア層16および第4バリア層28が、それぞれ45(nm)程度に、第2バリア層20および第3バリア層24が、それぞれ 90(nm) 程度とされている。したがって、3つの活性層18、22、26相互の間隔d12、d23は、何れも 90(nm) 程度にされている。これらの間隔d12、d23は、後述の光共振器の共振波長の1/2 波長程度の値である。
【0016】
また、第1バリア層16乃至第4バリア層28により厚み方向に挟まれた第1活性層18乃至第3活性層26(以下、纏めて活性層18、22、26という)は、何れも例えばi−Ga0.52 In 0.48 P単結晶から成る化合物半導体によって構成された所謂量子井戸である。すなわち、各活性層の厚さは、不連続のエネルギー準位をもった量子井戸構造となるように、例えば第1活性層18が6.8(nm) 程度、第2活性層22が4.9(nm) 程度、第3活性層26が3.8(nm) 程度とされ、十分に電子波の波長100(nm) 以下にそれぞれ設定されている。そのため、活性層18、22、26の発光スペクトルの常温におけるピーク波長は、常温(10℃)においてそれぞれ636(nm) 程度、627(nm) 程度、619(nm) 程度である。本実施例においては、活性層18、22、26が量子井戸から成る発光層を構成している。
【0024】
ここで、本実施例の発光ダイオード10において、前述のように、活性層18、22、26は相互に同じ化合物半導体i−Ga0.52 In 0.48 P単結晶から構成されるとともに、それらの厚みが6.8(nm) 、4.9(nm) 、3.8(nm) 程度とされて、それらの発光スペクトルL18、L22、L26のピーク波長が常温(10℃)においてそれぞれ636(nm) 程度、627(nm) 程度、619(nm) 程度と順次異なるようにされている。すなわち、発光ダイオード10の最高使用温度Tmax において活性層26の発光スペクトル 26 のピーク波長が前記光共振器の共振波長(630nm) と略一致させられ、発光ダイオード10の最低使用温度Tmin において活性層18の発光スペクトル 18 のピーク波長が光共振器の共振波長(630nm) と略一致させられるように、活性層18、22、26の常温のピーク波長がそれらの厚みを調整することにより設定されているのである。
【0025】
上記最高使用温度Tmax は、性能を維持或いは保証するために予め設定された上限値であって、使用環境温度Tで言えばその最高値たとえば105℃、発光ダイオード10のチップ内のジャンクション温度Tで言えばその最高値たとえば120℃である。また、上記最低使用温度Tmin も、性能を維持或いは保証するために予め設定された下限値であって、最高使用環境温度Tで言えばその最低値はたとえば−40℃、発光ダイオード10のチップ内のジャンクション温度Tで言えばその最低値たとえば−25℃である。量子井戸構造の活性層18、22、26の発光波長λの温度シフト∂λ/∂Tは数式1に示す偏微分方程式により表されるように、その発光波長λは発光ダイオード10の使用温度と共に上昇する性質があり、活性層18、22、26が化合物半導体i−Ga0.52 In 0.48 P単結晶から成る場合の発光波長の温度変化率∂λ/∂Tは、数式1から0.12nm/℃となる。このため、活性層18、22、26のうちピーク波長が最短波長である活性層26の発光スペクトル 26 のピーク波長は、その常温値 (619 nm) から最高使用温度Tmax となると 630nmに増加させられて、図3に示すように前記光共振器の共振波長(630nm) と略一致させられるのである。また、活性層18、22、26のうちピーク波長が最長波長である活性層18の発光スペクトル 18 のピーク波長は、その常温値 (636 nm)から最低使用温度Tmin となると 630nmに減少させられて、図4に示すように前記光共振器の共振波長(630nm) と略一致させられるのである。なお、数式1において、hはプランク定数、cは光速、Eは量子井戸材料のバンドギャップである。
【0027】
上述のように、本実施例によれば、ピーク波長が順次異なる複数の活性層18、22、26のうちの発光スペクトルのピーク波長が最短波長である活性層26が、予め設定された最高使用温度Tmax においてそのピーク波長が前記光共振器の光共振波長(630nm) と略一致するように構成され、また、複数の活性層18、22、26のうち発光スペクトルのピーク波長が最長波長である活性層18が、予め設定された最低使用温度Tmin においてそのピーク波長が前記光共振器の光共振波長と略一致するように構成されていることから、使用温度範囲内のいずれの温度においても出力光の利得幅が十分に得られ、使用温度範囲内において安定した光出力が得られるようになる。
【0028】
また、本実施例によれば、複数の活性層18、22、26は、相互に共通の化合物半導体i−Ga0.52 In 0.48 P単結晶から構成され、且つ相互に異なる厚みを備えることにより、異なるピーク波長とされたものであるので、活性層18、22、26の成長工程において厚みに対応する成長時間の制御が行われることにより、容易に発光波長の順次異なるように形成される利点がある。
【0032】
例えば、前述の実施例において、複数の活性層18、22、26は、相互に共通の化合物半導体i−Ga 0.52 In 0.48 単結晶から構成され、且つ相互に異なる厚みを備えることにより、順次異なるピーク波長とされたものであるけれども、相互に共通の厚みを備え、且つ相互に混晶比が異なる化合物半導体から構成されることにより順次異なるピーク波長とされてもよい。このようにすれば、活性層18、22、26の成長工程において混晶比を調節するための弁の開閉が行われることにより、容易に発光波長の異なる複数の活性層18、22、26が形成される利点がある。
【0035】
また、実施例においては、活性層18等がGa 0.52 In 0.48 から構成されたGaInP系の発光ダイオード10に本発明が適用された場合について説明したが、各半導体層が AlGaAs 単結晶、GaAsP 単結晶や InGaAsP単結晶等の化合物半導体から構成される場合にも、本発明は同様に適用される。
【0038】
また、実施例においては、発光ダイオード10の最高使用温度Tmax において活性層26の発光スペクトル 26 のピーク波長が前記光共振器の共振波長(630nm) と略一致させられ、発光ダイオード10の最低使用温度Tmin において活性層18の発光スペクトル 18 のピーク波長が光共振器の共振波長(630nm) と略一致させられるように、活性層18、22、26の常温のピーク波長がそれらの厚みを調整することにより設定されている。上記の略一致とは、完全に一致するだけでなく、たとえば、活性層18或いは26の発光スペクトルL18或いはL26の80%利得が得られる範囲などのように、本発明の一応の効果が得られる範囲である程度ずれた状態を含むことを意味する。
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