JP2000295532A - 画像処理装置及び画像処理方法及び記録媒体及び画像処理システム - Google Patents
画像処理装置及び画像処理方法及び記録媒体及び画像処理システムInfo
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 10
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥補正を高速かつ正確に行うことを課題と
する。 【解決手段】 複数の画素を有する撮像手段中の欠陥画
素からの信号を抽出する抽出手段と、抽出手段によって
抽出された複数の欠陥画素の位置情報を１つのブロック
としてまとめるブロック化手段とを有することを特徴と
する画像処理装置を提供する。また、複数の画素を有す
る撮像手段中の複数の欠陥画素の位置情報を１ブロック
として、欠陥画素の位置情報をブロック単位で記憶した
記憶手段と、記憶手段の欠陥画素の位置情報を用いて、
撮像手段中の欠陥画素からの信号に対してブロック単位
で補正を行う補正手段とを有することを特徴とする画像
処理装置を提供する。
する。 【解決手段】 複数の画素を有する撮像手段中の欠陥画
素からの信号を抽出する抽出手段と、抽出手段によって
抽出された複数の欠陥画素の位置情報を１つのブロック
としてまとめるブロック化手段とを有することを特徴と
する画像処理装置を提供する。また、複数の画素を有す
る撮像手段中の複数の欠陥画素の位置情報を１ブロック
として、欠陥画素の位置情報をブロック単位で記憶した
記憶手段と、記憶手段の欠陥画素の位置情報を用いて、
撮像手段中の欠陥画素からの信号に対してブロック単位
で補正を行う補正手段とを有することを特徴とする画像
処理装置を提供する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はセンサー内の欠陥画
素の抽出及びその補正処理に関するものである。
素の抽出及びその補正処理に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、センサー内の画素の欠陥画素を検
出して補正する方法としては図１０に示すように検出し
た欠陥画素パターンを2値画像として保存しておき、被
写体を撮影して補正する際に、保存された欠陥画素パタ
ーンを読み出して順次サーチしていき欠陥画素であれ
ば、被写体画像のその画素を例えば周囲の画素値の平均
値で埋めることによって補正するといった方法が用いら
れていた。
出して補正する方法としては図１０に示すように検出し
た欠陥画素パターンを2値画像として保存しておき、被
写体を撮影して補正する際に、保存された欠陥画素パタ
ーンを読み出して順次サーチしていき欠陥画素であれ
ば、被写体画像のその画素を例えば周囲の画素値の平均
値で埋めることによって補正するといった方法が用いら
れていた。
【０００３】また欠陥画素パターンを持たない場合には
各欠陥画素の座標値を持っておき、補正は被写体画像の
その座標の画素に対して上記と同様な補正を行ってい
た。
各欠陥画素の座標値を持っておき、補正は被写体画像の
その座標の画素に対して上記と同様な補正を行ってい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、センサ
ー内において正常画素に対する欠陥画素の割合はごくわ
ずかであり、欠陥画素パターンをサーチしていく過程に
おいてほとんどは読み飛ばすのみであり、1画像分すべ
てサーチするのは時間がかかって無駄である。
ー内において正常画素に対する欠陥画素の割合はごくわ
ずかであり、欠陥画素パターンをサーチしていく過程に
おいてほとんどは読み飛ばすのみであり、1画像分すべ
てサーチするのは時間がかかって無駄である。
【０００５】また、欠陥画素の座標値を用いる場合には
その欠陥画素の周囲に別の欠陥画素があった場合、補正
がうまくいかない。
その欠陥画素の周囲に別の欠陥画素があった場合、補正
がうまくいかない。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、複数の画素を有する撮像手段中の欠陥画素からの信
号を抽出する抽出手段と、抽出手段によって抽出された
複数の欠陥画素の位置情報を１つのブロックとしてまと
めるブロック化手段とを有することを特徴とする画像処
理装置を提供する。
に、複数の画素を有する撮像手段中の欠陥画素からの信
号を抽出する抽出手段と、抽出手段によって抽出された
複数の欠陥画素の位置情報を１つのブロックとしてまと
めるブロック化手段とを有することを特徴とする画像処
理装置を提供する。
【０００７】また、複数の画素を有する撮像手段中の複
数の欠陥画素の位置情報を１ブロックとして、欠陥画素
の位置情報をブロック単位で記憶した記憶手段と、記憶
手段の欠陥画素の位置情報を用いて、前記撮像手段中の
欠陥画素からの信号に対してブロック単位で補正を行う
補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置を提
供する。
数の欠陥画素の位置情報を１ブロックとして、欠陥画素
の位置情報をブロック単位で記憶した記憶手段と、記憶
手段の欠陥画素の位置情報を用いて、前記撮像手段中の
欠陥画素からの信号に対してブロック単位で補正を行う
補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置を提
供する。
【０００８】また、複数の画素を有する撮像手段中の欠
陥画素からの信号を抽出し、抽出された複数の欠陥画素
の位置情報を１つのブロックとしてまとめることを特徴
とする画像処理方法を提供する。
陥画素からの信号を抽出し、抽出された複数の欠陥画素
の位置情報を１つのブロックとしてまとめることを特徴
とする画像処理方法を提供する。
【０００９】また、複数の画素を有する撮像手段中の複
数の欠陥画素の位置情報を１ブロックとしてブロック単
位の欠陥画素の位置情報を用いて、撮像手段中の欠陥画
素からの信号に対してブロック単位で補正を行うことを
特徴とする画像処理方法提供する。
数の欠陥画素の位置情報を１ブロックとしてブロック単
位の欠陥画素の位置情報を用いて、撮像手段中の欠陥画
素からの信号に対してブロック単位で補正を行うことを
特徴とする画像処理方法提供する。
【００１０】また、複数の画素を有する撮像手段中の欠
陥画素からの信号を抽出する手順と、抽出された複数の
欠陥画素の位置情報を１つのブロックとしてまとめる手
順とを実行させるプログラムを記憶した記憶媒体を提供
する。
陥画素からの信号を抽出する手順と、抽出された複数の
欠陥画素の位置情報を１つのブロックとしてまとめる手
順とを実行させるプログラムを記憶した記憶媒体を提供
する。
【００１１】また、複数の画素を有する撮像手段中の複
数の欠陥画素の位置情報を１ブロックとしてブロック単
位の欠陥画素の位置情報を用いて、撮像手段中の欠陥画
素からの信号に対してブロック単位で補正を行う手順を
実行させるプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。
数の欠陥画素の位置情報を１ブロックとしてブロック単
位の欠陥画素の位置情報を用いて、撮像手段中の欠陥画
素からの信号に対してブロック単位で補正を行う手順を
実行させるプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。
【００１２】さらにまた、被写体の撮像を行う撮像手段
と、前記撮像手段からの信号の画像処理を行う上記に記
載した画像処理装置と、上記画像処理装置で処理された
画像デ−タをモニタするモニタ部と、上記画像処理装置
で処理された画像デ−タの通信を行うネットワ−クと、
ネットワ−ク部に接続された画像デ−タの保存を行う画
像デ−タベ−スとを有することを特徴とする画像処理シ
ステムを提供する。
と、前記撮像手段からの信号の画像処理を行う上記に記
載した画像処理装置と、上記画像処理装置で処理された
画像デ−タをモニタするモニタ部と、上記画像処理装置
で処理された画像デ−タの通信を行うネットワ−クと、
ネットワ−ク部に接続された画像デ−タの保存を行う画
像デ−タベ−スとを有することを特徴とする画像処理シ
ステムを提供する。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は本発明の画像処理装置のシ
ステム構成図であり、図２、図３は図1の画像処理装置
により実行される処理のフロチャ−ト図である。
ステム構成図であり、図２、図３は図1の画像処理装置
により実行される処理のフロチャ−ト図である。
【００１４】図１において、５は撮像手段である例えば
X線センサ−等の複数の画素が配列されたセンサ−から
の画素信号を入力する画像入力部、６は欠陥画素等の情
報を保存したデ−タ保存部、７はデ−タ保存部６に保存
されている情報を用いて、画像入力部５に入力されてい
る画素信号に対して画像処理を行う画像処理部、６は上
記画像入力部５、デ−タ保存部６、画像処理部７等の制
御を行うシステム制御部である。
X線センサ−等の複数の画素が配列されたセンサ−から
の画素信号を入力する画像入力部、６は欠陥画素等の情
報を保存したデ−タ保存部、７はデ−タ保存部６に保存
されている情報を用いて、画像入力部５に入力されてい
る画素信号に対して画像処理を行う画像処理部、６は上
記画像入力部５、デ−タ保存部６、画像処理部７等の制
御を行うシステム制御部である。
【００１５】次に、図1及び図2を用いて欠陥画素の抽出
及び抽出された欠陥画素の保存について説明する。
及び抽出された欠陥画素の保存について説明する。
【００１６】図２において、先ずS1で画像入力部５がセ
ンサ−から被写体を置かないで撮影した白画像の画素信
号を入力する。S2で、システム制御部は、画像入力部の
画素信号を画像処理部に送り、画像処理部に対して欠陥
画素の抽出を行うように指令を出し、画像処理部は全欠
陥画素の抽出を行う。S3で、システム制御部は、画像処
理部に対して上記S2の動作によって抽出された欠陥画素
の信号に対して、それぞれの欠陥画素の位置情報である
座標デ−タを複数の座標デ−タ毎に１ブロックとしてま
とめる動作を行うための指令を出し、画像処理部はブロ
ックにまとめる動作を行う。そして、S4で、システム制
御部は、画像処理部のブロックにまとめられたデ−タを
デ−タ保存部に保存する動作を行う。
ンサ−から被写体を置かないで撮影した白画像の画素信
号を入力する。S2で、システム制御部は、画像入力部の
画素信号を画像処理部に送り、画像処理部に対して欠陥
画素の抽出を行うように指令を出し、画像処理部は全欠
陥画素の抽出を行う。S3で、システム制御部は、画像処
理部に対して上記S2の動作によって抽出された欠陥画素
の信号に対して、それぞれの欠陥画素の位置情報である
座標デ−タを複数の座標デ−タ毎に１ブロックとしてま
とめる動作を行うための指令を出し、画像処理部はブロ
ックにまとめる動作を行う。そして、S4で、システム制
御部は、画像処理部のブロックにまとめられたデ−タを
デ−タ保存部に保存する動作を行う。
【００１７】次に、上記S2、S3の動作の詳細について説
明を行う。
明を行う。
【００１８】まず、S２について説明する。
【００１９】欠陥画素の検出については、或る閾値を決
めてその閾値よりも画素値が小さい画素を欠陥画素とす
る検出法がある。
めてその閾値よりも画素値が小さい画素を欠陥画素とす
る検出法がある。
【００２０】もっと精度良く検出する方法としては、図
４に示すように白画像をブロックに分割してブロック内
の平均値、標準偏差を求めてｎを指定値として、画素値
が平均値±(ｎ×標準偏差)の範囲に入っていない画素を
欠陥画素とする検出法がある。
４に示すように白画像をブロックに分割してブロック内
の平均値、標準偏差を求めてｎを指定値として、画素値
が平均値±(ｎ×標準偏差)の範囲に入っていない画素を
欠陥画素とする検出法がある。
【００２１】次に、S3について説明する。
【００２２】上記S2で検出された欠陥画素の座標データ
を図５のように複数の欠陥画素の座標デ−タを１ブロッ
クとして、ブロック毎の位置情報（ローカル欠陥画素情
報）にまとめるための１例として、図６に示すランレン
グスコードを用いる方法がある。
を図５のように複数の欠陥画素の座標デ−タを１ブロッ
クとして、ブロック毎の位置情報（ローカル欠陥画素情
報）にまとめるための１例として、図６に示すランレン
グスコードを用いる方法がある。
【００２３】ランレングスコ−ドとは、X方向（垂直方
向）或いはY方向（水平方向）につながっている欠陥画
素を１つのかたまりとし、そのかたまりの最初の座標値
と長さ(必要があれば方向も)との情報に符号化するもの
である。
向）或いはY方向（水平方向）につながっている欠陥画
素を１つのかたまりとし、そのかたまりの最初の座標値
と長さ(必要があれば方向も)との情報に符号化するもの
である。
【００２４】このランレングスコードを用いてブロック
分けをする方法を説明する。ここでは、簡単のためにラ
ンレングスコードはX方向のみとする。
分けをする方法を説明する。ここでは、簡単のためにラ
ンレングスコードはX方向のみとする。
【００２５】図６に示すように、例えば座標が（ｎ，
ｍ）と（ｎ＋１，ｍ）の画素はX方向に長さ２で隣接し
ているために、（ｎ，ｍ）Ｌ２という情報に符号化され
る。同様に、（ｎ＋１，ｍ＋１）と（ｎ＋２，ｍ＋１）
の画素は（ｎ＋１，ｍ＋１）Ｌ２に、（ ｎ，ｍ＋
２）、（ｎ＋１，ｍ＋２）、（ｎ＋２，ｍ＋２）と（
ｎ＋３，ｍ＋２）の画素は（ｎ，ｍ＋2）Ｌ４に符号化
される。そして、１つのランレングスコードに隣接する
ランレングスコードの候補としてY座標が±１であるも
のを抽出する。そして、この中でX座標が重なりを持っ
ているものが隣接しているランレングスコードである。
図５では、１つのランレングスコードを（ｎ，ｍ）Ｌ２
をすると、（ｎ，ｍ）Ｌ２のコ−ドに隣接するコ−ドと
してＹ座標が＋１で、Ｘ座標ｎ＋１で重なりを持ってい
る（ｎ＋1，ｍ＋１）Ｌ2が選択される。この動作をすべ
てのランレングスコードについて行うことによってそれ
ぞれのロ−カル欠陥画素情報にまとめることができる。
ｍ）と（ｎ＋１，ｍ）の画素はX方向に長さ２で隣接し
ているために、（ｎ，ｍ）Ｌ２という情報に符号化され
る。同様に、（ｎ＋１，ｍ＋１）と（ｎ＋２，ｍ＋１）
の画素は（ｎ＋１，ｍ＋１）Ｌ２に、（ ｎ，ｍ＋
２）、（ｎ＋１，ｍ＋２）、（ｎ＋２，ｍ＋２）と（
ｎ＋３，ｍ＋２）の画素は（ｎ，ｍ＋2）Ｌ４に符号化
される。そして、１つのランレングスコードに隣接する
ランレングスコードの候補としてY座標が±１であるも
のを抽出する。そして、この中でX座標が重なりを持っ
ているものが隣接しているランレングスコードである。
図５では、１つのランレングスコードを（ｎ，ｍ）Ｌ２
をすると、（ｎ，ｍ）Ｌ２のコ−ドに隣接するコ−ドと
してＹ座標が＋１で、Ｘ座標ｎ＋１で重なりを持ってい
る（ｎ＋1，ｍ＋１）Ｌ2が選択される。この動作をすべ
てのランレングスコードについて行うことによってそれ
ぞれのロ−カル欠陥画素情報にまとめることができる。
【００２６】ここで、ブロック分けをランレングスコー
ドを用いずに、例えば通常のx,y座標を位置データとし
て周囲8画素が隣接しているかチェックして隣接する画
素を全部洗い出すことによって隣接する欠陥画素の座標
デ−タを１ブロックとして、ブロック毎の位置情報（ロ
ーカル欠陥画素情報）にまとめることができる。しかし
ながら、ランググスレンコ−ドを用いた場合には、欠陥
画素の位置情報を少なくすることが可能となるために、
記憶領域の縮小化の点でより優位になる。
ドを用いずに、例えば通常のx,y座標を位置データとし
て周囲8画素が隣接しているかチェックして隣接する画
素を全部洗い出すことによって隣接する欠陥画素の座標
デ−タを１ブロックとして、ブロック毎の位置情報（ロ
ーカル欠陥画素情報）にまとめることができる。しかし
ながら、ランググスレンコ−ドを用いた場合には、欠陥
画素の位置情報を少なくすることが可能となるために、
記憶領域の縮小化の点でより優位になる。
【００２７】次に図１及び図３を用いて、欠陥画素の補
正について説明する。
正について説明する。
【００２８】図３において、先ずＳ５では、制御部がデ
−タ保存部に記憶されているローカル欠陥画素情報を取
り出す。Ｓ6では、画像処理部でＳ５で取り出したロー
カル欠陥画素情報に基ずき被写体画像信号から補正に必
要な範囲を切り出す。そしてＳ７で切り出された欠陥画
素信号に対して欠陥画素の補正を行う。最後にＳ８で
は、補正が行われた画像信号をもとの被写体画像信号に
戻す。これらの動作を全ローカル欠陥画素情報に基いて
補正を繰り返す。
−タ保存部に記憶されているローカル欠陥画素情報を取
り出す。Ｓ6では、画像処理部でＳ５で取り出したロー
カル欠陥画素情報に基ずき被写体画像信号から補正に必
要な範囲を切り出す。そしてＳ７で切り出された欠陥画
素信号に対して欠陥画素の補正を行う。最後にＳ８で
は、補正が行われた画像信号をもとの被写体画像信号に
戻す。これらの動作を全ローカル欠陥画素情報に基いて
補正を繰り返す。
【００２９】次に、図７及び図８を用いてＳ６、Ｓ７の
動作の詳細について説明を行う。
動作の詳細について説明を行う。
【００３０】Ｓ6では、図７のようにデ−タ保存部から
のローカル欠陥画素情報に対応するローカル欠陥画素ブ
ロックを被写体を撮像した画像信号より取り出す。ロー
カル欠陥画素ブロックには、欠陥画素信号と欠陥画素信
号の補正に必要な画素信号が含まれる。ここで、ローカ
ル欠陥画素情報は、欠陥画素のみに関する位置情報であ
ってもよいし、欠陥画素の補正に必要な画素の位置情報
も持っていてもよい。ロ−カル欠陥画素情報が、欠陥画
素のみの位置情報である場合には、その情報に基づいて
補正に必要な範囲を制御部６で演算する必要が生じる
が、ロ−カル欠陥画素情報に補正に必要な範囲の位置情
報も含まれていれば演算の時間を省くことが出来るた
め、より高速な動作が可能となる。
のローカル欠陥画素情報に対応するローカル欠陥画素ブ
ロックを被写体を撮像した画像信号より取り出す。ロー
カル欠陥画素ブロックには、欠陥画素信号と欠陥画素信
号の補正に必要な画素信号が含まれる。ここで、ローカ
ル欠陥画素情報は、欠陥画素のみに関する位置情報であ
ってもよいし、欠陥画素の補正に必要な画素の位置情報
も持っていてもよい。ロ−カル欠陥画素情報が、欠陥画
素のみの位置情報である場合には、その情報に基づいて
補正に必要な範囲を制御部６で演算する必要が生じる
が、ロ−カル欠陥画素情報に補正に必要な範囲の位置情
報も含まれていれば演算の時間を省くことが出来るた
め、より高速な動作が可能となる。
【００３１】Ｓ７では、図８に示すように欠陥画素信号
を欠陥画素の周囲８方向の画素の信号の平均によって補
正している。ここで、周囲８方向のうち欠陥画素の信号
は用いることはできないが、本実施形態では、図７に示
すようにある１つの欠陥画素の周囲に欠陥画素があった
場合にその欠陥画素は同じブロックとして一緒に切り出
され補正が行われているために、どの部分の画素の信号
が補正に利用することができないかを判断することが可
能となる。
を欠陥画素の周囲８方向の画素の信号の平均によって補
正している。ここで、周囲８方向のうち欠陥画素の信号
は用いることはできないが、本実施形態では、図７に示
すようにある１つの欠陥画素の周囲に欠陥画素があった
場合にその欠陥画素は同じブロックとして一緒に切り出
され補正が行われているために、どの部分の画素の信号
が補正に利用することができないかを判断することが可
能となる。
【００３２】そして補正がなされた信号（ロ−カル欠陥
補正画素）は、もとの画像に戻される。
補正画素）は、もとの画像に戻される。
【００３３】ここで、上記では欠陥画素の補正を欠陥画
素の周囲８画素の信号の平均を用いて補正を行うように
したが、欠陥画素の水平方向及び垂直方向のにある周囲
４画素の信号の平均を行うことによって補正を行っても
良い。この場合には、斜め方向に隣接した欠陥画素が存
在したとしても、必ずしも同じグル−プとしなくてもよ
く、水平方向及び垂直方向のいずれかの方向に隣接した
部分をもつ欠陥画素があった場合に同じグル−プとすれ
ばよい。
素の周囲８画素の信号の平均を用いて補正を行うように
したが、欠陥画素の水平方向及び垂直方向のにある周囲
４画素の信号の平均を行うことによって補正を行っても
良い。この場合には、斜め方向に隣接した欠陥画素が存
在したとしても、必ずしも同じグル−プとしなくてもよ
く、水平方向及び垂直方向のいずれかの方向に隣接した
部分をもつ欠陥画素があった場合に同じグル−プとすれ
ばよい。
【００３４】また、周囲８画素よりも補正に使用する画
素の範囲を増やしてもよく、重み付け平均をしてもよ
い。
素の範囲を増やしてもよく、重み付け平均をしてもよ
い。
【００３５】また、図９に示すような色フィルタを配列
したセンサの場合には、隣接した画素の信号を用いて補
正を行えない。そのために、図８のように１画素を介し
た周囲８画素の信号を平均信号で補正を行う場合には、
１画素を介した周囲８画素の部分に欠陥画素がある場合
には、その欠陥画素も１つのグル−プにまとめる必要が
生じる。
したセンサの場合には、隣接した画素の信号を用いて補
正を行えない。そのために、図８のように１画素を介し
た周囲８画素の信号を平均信号で補正を行う場合には、
１画素を介した周囲８画素の部分に欠陥画素がある場合
には、その欠陥画素も１つのグル−プにまとめる必要が
生じる。
【００３６】以上のように、どの画素を用いて補正を行
うかによって、適切な範囲にブロック化し、デ−タ保存
部に欠陥画素の位置情報をブロック単位で記憶して、ブ
ロック単位で切り出して補正を行うことで、欠陥画素の
補正を高速に行うことができると同時に、補正に使用し
ようとする画素が欠陥画素であった場合にもそれが欠陥
画素であることの判断も可能である。
うかによって、適切な範囲にブロック化し、デ−タ保存
部に欠陥画素の位置情報をブロック単位で記憶して、ブ
ロック単位で切り出して補正を行うことで、欠陥画素の
補正を高速に行うことができると同時に、補正に使用し
ようとする画素が欠陥画素であった場合にもそれが欠陥
画素であることの判断も可能である。
【００３７】また、以上の実施の形態の画像処理装置で
は、欠陥画素の抽出、ブロック化、補正を同じ画像処理
装置内の画像処理部で行っていたが、欠陥画素の抽出、
ブロック化と補正を別々の画像処理装置にしてよい。つ
まり、欠陥画素の抽出、グル−プ化用の画像処理装置、
補正用の画像処理装置であってもよい。
は、欠陥画素の抽出、ブロック化、補正を同じ画像処理
装置内の画像処理部で行っていたが、欠陥画素の抽出、
ブロック化と補正を別々の画像処理装置にしてよい。つ
まり、欠陥画素の抽出、グル−プ化用の画像処理装置、
補正用の画像処理装置であってもよい。
【００３８】図９に、本実施の形態の画像処理装置を用
いたディジタルＸ線システムの全体的なシステム図を示
す。
いたディジタルＸ線システムの全体的なシステム図を示
す。
【００３９】図９で、１はＸ線を受光するＸ線センサ、
２は被写体、３はＸ線を発生するＸ線発生装置、４はＸ
線源３を制御するためのＸ線発生装置制御部、２０は、
Ｘ線センサ−からの信号に対して所定の画像処理を行う
本実施形態の画像処理装置、９は画像処理装置で処理さ
れた画像をモニタする診断モニタ、１０は画像処理装置
に対して所定の操作を行う操作部、11は画像処理装置で
処理された画像デ−タの送信媒体であるネットワ−ク、
１２は画像デ−タの出力を行うプリンタ、１３は画像デ
−タのモニタを行うための診断モニタ等が設置されてい
る診断ワ−クステ−ション、１４は画像デ−タを保存す
るための画像デ−タベ−スである。
２は被写体、３はＸ線を発生するＸ線発生装置、４はＸ
線源３を制御するためのＸ線発生装置制御部、２０は、
Ｘ線センサ−からの信号に対して所定の画像処理を行う
本実施形態の画像処理装置、９は画像処理装置で処理さ
れた画像をモニタする診断モニタ、１０は画像処理装置
に対して所定の操作を行う操作部、11は画像処理装置で
処理された画像デ−タの送信媒体であるネットワ−ク、
１２は画像デ−タの出力を行うプリンタ、１３は画像デ
−タのモニタを行うための診断モニタ等が設置されてい
る診断ワ−クステ−ション、１４は画像デ−タを保存す
るための画像デ−タベ−スである。
【００４０】また上述した実施形態の機能を実現するソ
フトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体を、
システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは
装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒
体に格納されたプログラムコードを読み出して実行する
ことによっても、達成される。
フトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体を、
システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは
装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒
体に格納されたプログラムコードを読み出して実行する
ことによっても、達成される。
【００４１】この場合、記憶媒体から読み出されたプロ
グラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現する
ことになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体
は本発明を構成することになる。
グラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現する
ことになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体
は本発明を構成することになる。
【００４２】プログラムコードを供給するための記憶媒
体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディス
ク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ
−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等
を用いることができる。
体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディス
ク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ
−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等
を用いることができる。
【００４３】また、コンピュータが読み出したプログラ
ムコードを実行することにより、前述した実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指
示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ等が実
際の処理の一部をまたは全部を行い、その処理によって
実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
ムコードを実行することにより、前述した実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指
示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ等が実
際の処理の一部をまたは全部を行い、その処理によって
実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００４４】さらに、記憶媒体から読み出されたプログ
ラムコードが、コンピュータに挿入された拡張機能ボー
ドやコンピュータに接続された拡張ユニットに備わるメ
モリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に
基づきその拡張機能ボードや拡張機能ユニットに備わる
ＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処
理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も
含まれる。
ラムコードが、コンピュータに挿入された拡張機能ボー
ドやコンピュータに接続された拡張ユニットに備わるメ
モリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に
基づきその拡張機能ボードや拡張機能ユニットに備わる
ＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処
理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も
含まれる。
【００４５】
【発明の効果】本発明によれば、欠陥画素の補正を高速
かつ正確に行うことができ、例えばランレングスコ−ド
を利用することにより、欠陥画素情報に必要な記憶領域
も少なくすることが可能となる。
かつ正確に行うことができ、例えばランレングスコ−ド
を利用することにより、欠陥画素情報に必要な記憶領域
も少なくすることが可能となる。
【図１】画像処理装置のシステム図である。
【図２】画像処理装置により実行される処理のフロチャ
−ト図である。
−ト図である。
【図３】画像処理装置により実行される処理のフロチャ
−ト図である。
−ト図である。
【図４】欠陥画素の抽出を説明するための図である。
【図５】欠陥画素の切り出しを表す図である。
【図６】ランレングスコ−ドを説明するための図であ
る。
る。
【図７】欠陥画素の切り出し、欠陥補正画素の埋め込み
を表す図である。
を表す図である。
【図８】欠陥画素の補正を表す図である。
【図９】フィルタ配列を考慮した欠陥画素の補正を表す
図である。
図である。
【図１０】ディジタルＸ線システムの全体的システムを
表す図である。
表す図である。
【図１１】従来例を表す図である。
５ 画像入力部 ６ 制御部 ７ 画像処理部 ８ デ−タ保存部 ２０ 画像処理装置
Claims (23)
- 【請求項１】 複数の画素を有する撮像手段中の欠陥画
素からの信号を抽出する抽出手段と、 前記抽出手段によって抽出された複数の欠陥画素の位置
情報を１つのブロックとしてまとめるブロック化手段と
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項２】 請求項１において、前記ブロック化手段
によってブロックにまとめられた欠陥画素の位置情報を
ブロック単位で記憶した記憶手段とを有することを特徴
とする画像処理装置。 - 【請求項３】 請求項１又は請求項２のいずれか１項に
おいて、前記ブロック化手段はランレングスコ−ドを用
いてブロックにまとめることを特徴とする画像処理装
置。 - 【請求項４】 請求項１乃至請求項３のいずれか１項に
おいて、前記ブロックには、欠陥画素の補正のために必
要な画素の位置情報を含むことを特徴とする画像処理装
置。 - 【請求項５】 請求項２乃至請求項４のいずれか１項に
おいて、前記記憶手段中の欠陥画素の位置情報を用い
て、前記撮像手段中の欠陥画素からの信号に対してブロ
ック単位で補正を行う補正手段とを有することを特徴と
する画像処理装置。 - 【請求項６】 複数の画素を有する撮像手段中の複数の
欠陥画素の位置情報を１ブロックとして、欠陥画素の位
置情報をブロック単位で記憶した記憶手段と、 前記記憶手段の欠陥画素の位置情報を用いて、前記撮像
手段中の欠陥画素からの信号に対してブロック単位で補
正を行う補正手段とを有することを特徴とする画像処理
装置。 - 【請求項７】 請求項６において、前記記憶手段はラン
レングスコ−ドを用いてブロックにまとめた欠陥画素の
位置情報を記憶したことを特徴とする画像処理装置。 - 【請求項８】 請求項７又は請求項８のいずれか１項に
おいて、前記ブロックには、欠陥画素の補正のために必
要な画素の位置情報を含むことを特徴とする画像処理装
置。 - 【請求項９】 複数の画素を有する撮像手段中の欠陥画
素からの信号を抽出し、抽出された複数の欠陥画素の位
置情報を１つのブロックとしてまとめることを特徴とす
る画像処理方法。 - 【請求項１０】 請求項１０において、ランレングスコ
−ドを用いてブロックにまとめることを特徴とする画像
処理方法。 - 【請求項１１】 請求項１０において、前記ブロックに
は、欠陥画素の補正のために必要な画素の位置情報を含
むことを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項１２】 請求項９又は請求項１１のいずれか１
項において、前記ブロックにまとめられた欠陥画素の位
置情報を用いて、前記撮像手段中の欠陥画素からの信号
に対してブロック単位で補正を行うことを特徴とする画
像処理方法。 - 【請求項１３】 複数の画素を有する撮像手段中の複数
の欠陥画素の位置情報を１ブロックとしてブロック単位
の欠陥画素の位置情報を用いて、前記撮像手段中の欠陥
画素からの信号に対してブロック単位で補正を行うこと
を特徴とする画像処理方法。 - 【請求項１４】 請求項１３において、前記欠陥画素の
位置情報はランレングスコ−ドを用いた情報を含むこと
を特徴とする画像処理方法。 - 【請求項１５】 請求項１３又は請求項１４のいずれか
１項において、前記ブロックには、欠陥画素の補正のた
めに必要な画素の位置情報を含むことを特徴とする画像
処理方法。 - 【請求項１６】 複数の画素を有する撮像手段中の欠陥
画素からの信号を抽出する手順と、抽出された複数の欠
陥画素の位置情報を１つのブロックとしてまとめる手順
とを実行させるプログラムを記憶した記憶媒体。 - 【請求項１７】 請求項１６において、ランレングスコ
−ドを用いてブロックにまとめる手順を含むことを特徴
とする記憶媒体。 - 【請求項１８】 請求項１６又は請求項１７のいずれか
１項において、前記ブロックには、欠陥画素の補正のた
めに必要な画素の位置情報を含ませる手順を有すること
を特徴とする記憶媒体。 - 【請求項１９】 請求項１６乃至請求項１８のいずれか
１項において、前記ブロックにまとめられた欠陥画素の
位置情報を用いて、前記撮像手段中の欠陥画素からの信
号に対してブロック単位で補正を行う手順を有すること
を特徴とする記憶媒体。 - 【請求項２０】 複数の画素を有する撮像手段中の複数
の欠陥画素の位置情報を１ブロックとしてブロック単位
の欠陥画素の位置情報を用いて、前記撮像手段中の欠陥
画素からの信号に対してブロック単位で補正を行う手順
を実行させるプログラムを記憶した記憶媒体。 - 【請求項２１】 請求項２０において、ランレングスコ
−ドを用いてブロックにまとめる手順を含むことを特徴
とする記憶媒体。 - 【請求項２２】 請求項２０又は請求項２１のいずれか
１項において、前記ブロックには、欠陥画素の補正のた
めに必要な画素の位置情報を含ませる手順を有すること
を特徴とする記憶媒体。 - 【請求項２３】 被写体の撮像を行う撮像手段と、 前記撮像手段からの信号の画像処理を行う請求項５乃至
請求項８のいずれか１項に記載の画像処理装置と、 前記画像処理装置で処理された画像デ−タをモニタする
モニタ部と、 前記画像処理装置で処理された画像デ−タの通信を行う
ネットワ−クと、 前記ネットワ−ク部い接続された前記画像デ−タの保存
を行う画像デ−タベ−スとを有することを特徴とする画
像処理システム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10120599A JP3825935B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 画像処理装置及び画像処理方法及び記録媒体及び画像処理システム |
| US09/544,167 US7061533B1 (en) | 1999-04-08 | 2000-04-06 | Image processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10120599A JP3825935B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 画像処理装置及び画像処理方法及び記録媒体及び画像処理システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000295532A true JP2000295532A (ja) | 2000-10-20 |
| JP3825935B2 JP3825935B2 (ja) | 2006-09-27 |
Family
ID=14294437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10120599A Expired - Fee Related JP3825935B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | 画像処理装置及び画像処理方法及び記録媒体及び画像処理システム |
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|---|---|
| US (1) | US7061533B1 (ja) |
| JP (1) | JP3825935B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006094201A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Casio Comput Co Ltd | 撮像装置、ノイズ処理方法及びプログラム |
| KR100761797B1 (ko) | 2006-05-12 | 2007-09-28 | 엠텍비젼 주식회사 | 결함 픽셀의 위치 어드레스 저장 방법 및 장치 |
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| JP2011114473A (ja) * | 2009-11-25 | 2011-06-09 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 画素欠陥補正装置 |
| WO2014065056A1 (ja) * | 2012-10-23 | 2014-05-01 | ソニー株式会社 | 撮像装置、および画像処理方法、並びにプログラム |
| CN109842768A (zh) * | 2019-01-29 | 2019-06-04 | 上海芯仑光电科技有限公司 | 一种像素采集电路及图像传感器 |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8537144B2 (en) * | 2002-11-29 | 2013-09-17 | Barco N.V. | Method and device for avoiding image misinterpretation due to defective pixels in a matrix display |
| JP4455362B2 (ja) * | 2004-03-11 | 2010-04-21 | 富士フイルム株式会社 | 全反射減衰を利用した測定装置 |
| JP2006000225A (ja) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Canon Inc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP4769441B2 (ja) | 2004-08-19 | 2011-09-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
| US20080117231A1 (en) * | 2006-11-19 | 2008-05-22 | Tom Kimpe | Display assemblies and computer programs and methods for defect compensation |
| JP4289419B2 (ja) * | 2007-05-07 | 2009-07-01 | ソニー株式会社 | 撮像装置、欠陥画素補正装置およびこれらにおける処理方法ならびにプログラム |
| JP5084366B2 (ja) * | 2007-06-21 | 2012-11-28 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像装置の制御方法 |
| JP5254762B2 (ja) * | 2008-11-28 | 2013-08-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、及び撮像装置における信号の補正方法 |
| KR101470019B1 (ko) | 2008-12-26 | 2014-12-05 | 엘지이노텍 주식회사 | 이미지센서의 불량 픽셀 검출 및 보정 방법 |
| US20140368701A1 (en) * | 2013-06-12 | 2014-12-18 | Lilong SHI | Cloning image data patch in hole of pixel array (patch and clone) |
| WO2015069566A1 (en) * | 2013-11-05 | 2015-05-14 | Arizona Board Of Regents For And On Behalf Of Arizona State University | Adaptive detection sensor array and method of providing and using the same |
| JP6362098B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2018-07-25 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、及びプログラム |
| US10025988B2 (en) * | 2015-05-22 | 2018-07-17 | Tektronix, Inc. | Anomalous pixel detection |
| JP2017055309A (ja) * | 2015-09-10 | 2017-03-16 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
| JP2017055308A (ja) | 2015-09-10 | 2017-03-16 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
| KR102575281B1 (ko) * | 2016-10-14 | 2023-09-06 | 한화비전 주식회사 | 결함화소 정보 기록장치, 결함화소 보정장치 및 방법 |
| CN110088828A (zh) * | 2016-10-26 | 2019-08-02 | 堺显示器制品株式会社 | 校正系统 |
| JP2018157371A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び欠陥画素の補正方法 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4703442A (en) * | 1985-09-25 | 1987-10-27 | Rca Corporation | Temperature tracking defect corrector for a solid-state imager |
| US4805023A (en) * | 1985-10-15 | 1989-02-14 | Texas Instruments Incorporated | Programmable CCD imager defect compensator |
| US5185883A (en) * | 1990-10-26 | 1993-02-09 | Data Translation, Inc. | System for locating failure signals by comparing input data with stored threshold value and storing failure addresses in alternating buffers |
| US5400076A (en) * | 1991-11-30 | 1995-03-21 | Sony Corporation | Compressed motion picture signal expander with error concealment |
| JP3125124B2 (ja) * | 1994-06-06 | 2001-01-15 | 松下電器産業株式会社 | 欠陥画素傷補正回路 |
| US5621467A (en) * | 1995-02-16 | 1997-04-15 | Thomson Multimedia S.A. | Temporal-spatial error concealment apparatus and method for video signal processors |
| US5917935A (en) * | 1995-06-13 | 1999-06-29 | Photon Dynamics, Inc. | Mura detection apparatus and method |
| US6002433A (en) * | 1995-08-29 | 1999-12-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
| US5982946A (en) * | 1996-09-20 | 1999-11-09 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method of identifying defective pixels in digital images, and method of correcting the defective pixels, and apparatus and recording media therefor |
| US6573927B2 (en) * | 1997-02-20 | 2003-06-03 | Eastman Kodak Company | Electronic still camera for capturing digital image and creating a print order |
| US6611288B1 (en) * | 1998-02-26 | 2003-08-26 | Micron Technology, Inc. | Dead pixel correction by row/column substitution |
| US6301392B1 (en) * | 1998-09-03 | 2001-10-09 | Intel Corporation | Efficient methodology to select the quantization threshold parameters in a DWT-based image compression scheme in order to score a predefined minimum number of images into a fixed size secondary storage |
| US6819358B1 (en) * | 1999-04-26 | 2004-11-16 | Microsoft Corporation | Error calibration for digital image sensors and apparatus using the same |
-
1999
- 1999-04-08 JP JP10120599A patent/JP3825935B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-04-06 US US09/544,167 patent/US7061533B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8031968B2 (en) | 2002-12-27 | 2011-10-04 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8369651B2 (en) | 2002-12-27 | 2013-02-05 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| JP2006094201A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Casio Comput Co Ltd | 撮像装置、ノイズ処理方法及びプログラム |
| JP4599965B2 (ja) * | 2004-09-24 | 2010-12-15 | カシオ計算機株式会社 | 撮像装置、ノイズ処理方法及びプログラム |
| KR100761797B1 (ko) | 2006-05-12 | 2007-09-28 | 엠텍비젼 주식회사 | 결함 픽셀의 위치 어드레스 저장 방법 및 장치 |
| WO2007133027A1 (en) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Mtekvision Co., Ltd. | Method and apparatus for storing location address of defective pixel |
| JP2011114473A (ja) * | 2009-11-25 | 2011-06-09 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 画素欠陥補正装置 |
| WO2014065056A1 (ja) * | 2012-10-23 | 2014-05-01 | ソニー株式会社 | 撮像装置、および画像処理方法、並びにプログラム |
| US9549157B2 (en) | 2012-10-23 | 2017-01-17 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Imaging apparatus, image processing method, and program |
| US9894302B2 (en) | 2012-10-23 | 2018-02-13 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Imaging apparatus, image processing method, and program |
| CN109842768A (zh) * | 2019-01-29 | 2019-06-04 | 上海芯仑光电科技有限公司 | 一种像素采集电路及图像传感器 |
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