JP6362098B2 - 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、及びプログラムに関する。

デジタルカメラなどの撮像装置が生成する画像には、撮像素子の性質に由来する欠陥画素が含まれている場合がある。欠陥画素は画質劣化の原因となるため、従来、周辺画素の情報を用いて欠陥画素を補正することが行われている。例えば、特許文献１は、補正対象の欠陥画素が欠陥画素群に含まれるか否かに基づいて補正に用いる周辺画素を選択する技術を開示している。

特開２００８−２７８３９４号公報

補正対象の欠陥画素の周辺に他の欠陥画素が存在する場合があるが、他の欠陥画素の存在が事前に分かっているとは限らない。そのため、補正対象の欠陥画素を、他の欠陥画素を含む周辺画素を用いて補正してしまう場合がある。このような場合、補正精度が低下し、最終的に得られる補正画像の画質劣化につながる可能性がある。

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、周辺画素を用いて欠陥画素を補正する画像処理装置において、周辺画素の中に他の欠陥画素が含まれている場合の補正精度の低下を抑制する技術を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明は、画像に含まれる複数の画素を順に注目画素とし、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定し、前記注目画素が欠陥画素であると判定された場合、前記注目画素の周辺画素を使用して前記注目画素を補正する第１の補正手段であって、前記周辺画素のうち前記注目画素の補正時に既知の欠陥画素については前記注目画素の補正に使用しない、第１の補正手段と、前記第１の補正手段により補正時に未知であった欠陥画素を使用して補正された各補正画素について、前記第１の補正手段により使用された周辺画素を使用して当該補正画素を補正する第２の補正手段であって、前記第１の補正手段により使用された周辺画素のうち欠陥画素については前記第１の補正手段により補正された補正画素を使用する、第２の補正手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置を提供する。

なお、その他の本発明の特徴は、添付図面及び以下の発明を実施するための形態における記載によって更に明らかになるものである。

本発明によれば、周辺画素を用いて欠陥画素を補正する画像処理装置において、周辺画素の中に他の欠陥画素が含まれている場合の補正精度の低下を抑制することが可能となる。

第１及び第２の実施形態に係る画像処理装置１００の構成を示すブロック図。 第１及び第２の実施形態に係る、第一補正部１０２による補正前後の画像データを示す概念図。 第１の実施形態に係る、第二補正部１０７による補正前後の画像データを示す概念図。 第１の実施形態に係る、画像処理装置１００による補正処理のフローチャート。 第２の実施形態に係る、第二補正部１０７による補正前後の画像データを示す概念図。 第２の実施形態に係る、画像処理装置１００による補正処理のフローチャート。 第３の実施形態に係る画像処理装置７００の構成を示すブロック図。 第３の実施形態に係る、第一補正部１０２による補正前の画像データを示す概念図。 第３の実施形態に係る、第一補正部１０２による補正前後の画像データを示す概念図。 第３の実施形態に係る、第二補正部１０７による補正前後の画像データを示す概念図。 第３の実施形態に係る、第二補正部１０７による補正後の画像データ全体を示す概念図。 第３の実施形態に係る、画像処理装置７００による補正処理のフローチャート。

以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。なお、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせすべてが、本発明に必須とは限らない。

［第１の実施形態］
図１は、第１の実施形態に係る画像処理装置１００の構成を示すブロック図である。図１において、１０１は、撮像素子を有する撮像部である。撮像部１０１は、画像処理装置１００による補正対象の画像データを生成する。なお、撮像部１０１は、画像処理装置１００の外部にあってもよいし、画像処理装置１００に含まれていてもよい。後者の場合、画像処理装置１００は、撮像装置として機能する。

１０２は、撮像部１０１から入力された画像データに対する補正を行う第一補正部である。第一補正部１０２は、欠陥画素判定部１０３と、欠陥位置記憶部１０４と、補正処理部１０５とを含む。欠陥画素判定部１０３は、入力画像の各画素が欠陥画素であるか否かを判定する。欠陥位置記憶部１０４は、欠陥画素判定部１０３で欠陥画素と判定された画素の位置情報を記憶する。補正処理部１０５は、欠陥画素判定部１０３で欠陥画素と判定された画素の画素データを、周辺画素の画素データを使用して補正する。その際に、補正処理部１０５は、既に欠陥画素であると判定されている画素の位置情報を欠陥位置記憶部１０４から取得し、周辺画素のうち欠陥画素については、補正のために使用する画素から除外する。

１０６は、補正処理部１０５による補正後の画像データを保持する記録装置である。１０７は、記録装置１０６に保持された画像データに対して更に補正を行う第二補正部である。第二補正部１０７は、参照画素評価部１０８と、補正処理部１０９とを含む。参照画素評価部１０８は、記録装置１０６に保持された画像データの各画素について、補正処理部１０５による補正のために使用された周辺画素の中に欠陥画素が含まれているか否かを判定する。その際に、参照画素評価部１０８は、欠陥位置記憶部１０４から欠陥画素の位置情報を取得し、取得した位置情報に基づいて判定を行う。前述の通り、補正処理部１０５は、補正対象の画素データの補正時に既に欠陥画素であると判定されている画素については、補正のために使用する周辺画素から除外する。しかしながら、このタイミングではまだ欠陥画素判定部１０３による判定が行われていない欠陥画素が周辺画素の中に含まれている可能性があり、補正処理部１０５は、そのような欠陥画素を使用して補正を行ってしまう場合がある。そのような欠陥画素の画素位置は、これ以降のタイミングで欠陥位置記憶部１０４に記録され、これにより、参照画素評価部１０８は、補正処理部１０５による補正時に欠陥画素が使用されたことを検出することができる。補正処理部１０９は、補正時に欠陥画素が使用されたと参照画素評価部１０８により判定された画素の画素データを、記録装置１０６に保持された画像データを使用して補正する。即ち、補正処理部１０９は、補正処理部１０５が使用した周辺画素と同じ周辺画素を使用するが、周辺画素の中の欠陥画素については、補正後の画素データを使用する。補正処理部１０９は、補正後の画像データを出力する。出力先は、記録装置１０６であってもよいし、外部装置（例えば、ディスプレイ）であってもよい。

図２は、第一補正部１０２による補正前後の画像データを示す概念図である。画像データ２５１は、補正前の画像データであり、画像データ２５２は、補正後の画像データである。画像データ２５１は、複数の画素を含み、特に、欠陥画素２０１、２０３、２０５、２０７を含む。図２の例において、第一補正部１０２は、最上列左端から右方向へ順に画素を処理し、右端の画素の次は、１つ下の行の左端から右方向へ順に画素を処理し、以下、同様の順序で処理を続けるものとする。欠陥画素判定部１０３は、この順序で欠陥画素の判定を行い、欠陥画素２０１を最初に検出する。即ち、欠陥画素２０１が、最初の補正対象の欠陥画素となる。但し、画素の処理順序は、これに限定される訳ではない。

補正処理部１０５は、欠陥画素２０１を補正する場合、点線枠２０２内の画素（周辺画素）を用いて補正を行う。即ち、点線枠は、補正のための参照可能画素を表す。点線枠２０２内に欠陥画素は含まれないので、点線枠２０２内の全ての画素が補正のために使用され、また、欠陥画素が使用されることはない。その結果、欠陥画素２０１は、補正精度が比較的高い補正画素２０９となる。

なお、補正処理の具体的なアルゴリズムについては特に限定されないが、一例として、補正処理部１０５は、周辺画素の画素データの平均値を欠陥画素の画素値とすることができる。これは、図３を参照して後述する補正処理部１０９による補正処理についても同様である。

次に、欠陥画素２０３が、点線枠２０４内の画素を用いて補正される。点線枠２０４内には欠陥画素２０５、２０７が存在するが、このタイミングでは欠陥画素２０５、２０７に対する欠陥画素判定部１０３による判定がまだ行われていないため、欠陥画素２０５、２０７は未知の欠陥画素である。そのため、２つの欠陥画素を含む、点線枠２０４内の全ての画素が補正のために使用される。その結果、欠陥画素２０３は、補正精度が比較的低い補正画素２１０となる。

次に、欠陥画素２０５が、点線枠２０６内の画素を用いて補正される。このタイミングでは、欠陥画素２０３は、欠陥画素判定部１０３により既に欠陥画素として判定されている。一方、欠陥画素２０７は、未知の欠陥画素である。そのため、欠陥画素２０３は補正に使用されないが、欠陥画素２０７は補正に使用される。その結果、欠陥画素２０５は、補正精度が補正画素２１０よりは高いが補正画素２０９よりは低い補正画素２１１となる。

最後に、欠陥画素２０７が、点線枠２０８内の画素を用いて補正される。このタイミングでは、欠陥画素２０３、２０５は共に既知の欠陥画素である。そのため、欠陥画素２０３、２０５は補正に使用されず、補正処理部１０５は、点線枠２０８内の残りの画素を使用して補正を行う。その結果、欠陥画素２０７は、補正画素２１２となる。補正画素２１２の補正精度は、補正画素２０９よりは低いものの、補正時に欠陥画素が使用されていないので、比較的高い。

以上のように第一補正部１０２による補正処理が行われた後、第二補正部１０７による補正処理が行われる。図３は、第二補正部１０７による補正前後の画像データを示す概念図である。画像データ２５２は、補正前の画像データ（第一補正部１０２による補正後の画像データ）であり、図２に示したものと同じものである。画像データ２５３は、補正後の画像データである。参照画素評価部１０８は、欠陥画素判定部１０３と同じ順序で、画像データ２５２の各画素の補正時に欠陥画素が使用されたか否かを判定する。その結果、補正画素２１０が、最初の補正対象の画素として検出される。但し、画素の処理順序は、これに限定される訳ではない。

補正処理部１０９は、欠陥画素２０３の補正時と同様、点線枠２０４内の画素を使用して補正画素２１０の画素データを補正する。しかしながら、欠陥画素２０３の補正時と異なり、補正処理部１０９は、欠陥画素２０５、２０７の代わりに、補正画素２１１、２１２を使用して補正を行う。補正画素２１２は欠陥画素を使用せずに補正された画素であるが、補正画素２１１は欠陥画素を１つ使用して補正された画素である。そのため、補正画素２１１を使用するということは、間接的に欠陥画素を１つ使用するということである。その結果、補正画素２１０は、補正画素３０２となる。補正画素３０２の補正精度は、補正画素２１０の補正精度よりは向上しているが、間接的に欠陥画素が１つ使用されたため、補正画素２１２の補正精度には及ばない。

次に、補正処理部１０９は、欠陥画素２０５の補正時と同様、点線枠２０６内の画素を使用して補正画素２１１の画素データを補正する。しかしながら、欠陥画素２０５の補正時と異なり、補正処理部１０９は、欠陥画素２０７の代わりに、欠陥画素を使用せずに補正された補正画素２１２を使用して補正を行う。補正画素２１０については、欠陥画素２０５の補正時と同様、使用されない。その結果、補正画素２１１は、補正画素３０３となる。補正画素３０３の補正精度は、補正画素２０９よりは低いものの、補正時に欠陥画素が使用されていないので、比較的高い。

図４は、第１の実施形態に係る、画像処理装置１００による補正処理のフローチャートである。最初に、Ｓ４０２で、欠陥画素判定部１０３は、撮像部１０１から画像データを取得する。この画像データは、まだ補正されていない欠陥画素を含む。Ｓ４０４で、欠陥画素判定部１０３は、取得した画像データの注目画素（処理対象の画素）が欠陥画素であるか否かを判定する。最初の注目画素は、図２を参照して説明した通り、左上の画素である。注目画素が欠陥画素である場合、処理はＳ４０５に進み、そうでない場合、処理はＳ４０７に進む。

Ｓ４０５で、欠陥画素判定部１０３は、注目画素の画素位置を欠陥位置記憶部１０４に記憶させる。Ｓ４０６で、補正処理部１０５は、注目画素の周辺画素の画素データを使用して注目画素（欠陥画素）を補正する。その際に、補正処理部１０５は、欠陥位置記憶部１０４から既知の欠陥画素の位置情報を取得することにより、既知の欠陥画素を使用せずに補正を行う。補正処理の詳細は、図２を参照して説明した通りである。

Ｓ４０７で、補正処理部１０５は、注目画素の補正済みのデータを記録装置１０６に記録する制御（記録制御）を行う。また、処理がＳ４０４からＳ４０７へ移行した場合は、補正処理部１０５は、補正されていない注目画素を記録装置１０６にそのまま記録する制御（記録制御）を行う。

Ｓ４０８で、第一補正部１０２は、全ての画素の処理が終了したか否かを判定する。未処理の画素がある場合、処理はＳ４０４に戻り、第一補正部１０２は、次の注目画素について同様の処理を繰り返す。全ての画素の処理が終了すると、処理はＳ４１０に進む。

Ｓ４１０で、参照画素評価部１０８は、注目画素の補正処理部１０５による補正に欠陥画素が使用されたか否かを判定する。最初の注目画素は、図３を参照して説明した通り、左上の画素である。欠陥画素が使用された場合、処理はＳ４１１に進む。欠陥画素が使用されていない場合や、注目画素が補正されていない場合は、処理はＳ４１２に進む。

Ｓ４１１で、補正処理部１０９は、注目画素の周辺画素の画素データを使用して注目画素を補正する。その際に、補正処理部１０９は、周辺画素の画素データとして、Ｓ４０７で記録された画素データを使用する。補正処理の詳細は、図３を参照して説明した通りである。

Ｓ４１２で、補正処理部１０９は、注目画素の補正済みのデータを出力する。また、処理がＳ４１０からＳ４１２へ移行した場合は、補正処理部１０９は、補正処理部１０９による補正が行われていない注目画素をそのまま出力する。

Ｓ４１３で、第二補正部１０７は、全ての画素の処理が終了したか否かを判定する。未処理の画素がある場合、処理はＳ４１０に戻り、第二補正部１０７は、次の注目画素について同様の処理を繰り返す。全ての画素の処理が終了すると、本フローチャートの処理は終了する。

以上説明した通り、第１の実施形態によれば、画像処理装置１００は、画像データの各欠陥画素について、周辺画素を使用して補正を行う。そして、画像処理装置１００は、欠陥画素の１回目の補正に他の欠陥画素が使用された場合、この欠陥画素に対して２回目の補正を行う。その際に、画像処理装置１００は、１回目の補正に使用された他の欠陥画素については、１回目の補正により補正された画素データを使用する。

これにより、周辺画素を用いて欠陥画素を補正する画像処理装置において、周辺画素の中に他の欠陥画素が含まれている場合の補正精度の低下を抑制することが可能となる。

なお、本実施形態の説明においては、補正に使用する周辺画素は注目画素に対して水平垂直２画素分ずつの計２４画素であるものとしたが、これに限定されず、より多くの、又はより少ない画素を使用して補正を行ってもよい。

［第２の実施形態］
第１の実施形態では、画像処理装置１００の補正処理部１０９は、補正処理部１０５により補正された画素データを使用して補正を行った。その際に、補正処理部１０９は、補正処理部１０９による補正済みの画素データが存在するか否かは考慮しなかった。また、第二補正部１０７が画素を処理する順序は、第一補正部１０２が画素を処理する順序と同じであった。

これに対し、第２の実施形態では、補正処理部１０９は、補正処理部１０９による補正済みの画素データが存在する場合、その画素データを使用して２回目の補正を行う。また、第二補正部１０７は、第一補正部１０２とは逆の順序で画素を処理する。

なお、第２の実施形態における画像処理装置１００の基本的な構成は、第１の実施形態と同様である（図１参照）。以下、主に第１の実施形態との相違点について説明する。

図５は、第二補正部１０７による補正前後の画像データを示す概念図である。図５において、図３と同一又は同様の要素には同一の符号を付す。画像データ５５３は、補正後の画像データである。図５の詳細については、図６を参照しながら説明する。

図６は、第２の実施形態に係る、画像処理装置１００による補正処理のフローチャートである。図６において、図４と同一又は同様の処理が行われるステップには同一の符号を付す。

Ｓ６０１は、図４のＳ４１０と同様であるが、注目画素の順序が図４とは異なる。具体的には、第二補正部１０７は、最下列右端から左方向へ順に画素を処理し、左端の画素の次は、１つ上の行の右端から左方向へ順に画素を処理し、以下、同様の順序で処理を続ける。従って、最初の注目画素は、右下の画素である。Ｓ６０１で、参照画素評価部１０８は、注目画素の補正処理部１０５による補正に欠陥画素が使用されたか否かを判定する。欠陥画素が使用された場合、処理はＳ６０２に進む。欠陥画素が使用されていない場合や、注目画素が補正されていない場合は、処理はＳ４１２に進む。

Ｓ６０２で、補正処理部１０９は、注目画素の周辺画素の画素データを使用して注目画素を補正する。その際に、補正処理部１０９は、周辺画素の画素データとして、Ｓ４０７で記録された画素データ、又は後述のＳ６０３で更新された画素データを使用する。Ｓ６０３で、補正処理部１０９は、注目画素についてＳ４０７で記録された補正済みのデータを、Ｓ６０２の補正処理により得られたデータで更新する。従って、これ以降の補正処理において現在の注目画素を参照する場合、（補正処理部１０５ではなく）補正処理部１０９による補正済みの画素データを使用することができる。図５を参照して、具体例を説明する。

図５において、補正画素２１１の補正処理は、第１の実施形態と基本的に同様である。但し、第２の実施形態においては、記録装置１０６に記録された補正画素２１１が、補正画素３０３により更新される。そのため、その後に行われる補正画素２１０の補正処理において、補正画素３０３を使用することができる。即ち、第１の実施形態では、補正画素２１０は、補正画素２１１を使用して補正されたのに対し、第２の実施形態では、補正画素２１０は、補正画素２１１の代わりに、補正画素３０３を使用して補正される。補正画素２１１は欠陥画素を使用した補正により得られたものであるが、補正画素３０３は欠陥画素を使用しない補正により得られたものである。そのため、補正画素２１０は、直接的にも間接的にも欠陥画素を使用せずに補正され、補正精度が補正画素３０２（図３）よりも高い補正画素５０２となる。

以上説明した通り、第２の実施形態によれば、画像処理装置１００は、１回目の補正に他の欠陥画素が使用された欠陥画素に対する２回目の補正を行う際に、他の欠陥画素に関する２回目の補正済みのデータが存在すれば、２回目の補正済みのデータを使用する。また、画像処理装置１００は、２回目の補正を行う際の画素の処理順序を、１回目の補正を行う際の画素の処理順序の逆にする。これにより、補正精度が更に向上する。

［第３の実施形態］
第１及び第２の実施形態では、画像処理装置１００は、画素種別（画素の色）については特に考慮しなかった。これに対し、第３の実施形態では、画像処理装置７００は、所定の画素種別の画素についてのみ、２回目の補正を行う。

図７は、第３の実施形態に係る画像処理装置７００の構成を示すブロック図である。図７において、図１と同一又は同様の構成には同一の符号を付す。以下、主に第１及び第２の実施形態との相違点について説明する。

画像処理装置７００の参照画素評価部１０８は、画素種別設定部７０１を含む。画素種別設定部７０１は、第二補正部１０７による処理の対象（即ち、２回目の補正の対象）となる画素種別を設定する。

図８は、第３の実施形態に係る、第一補正部１０２による補正前の画像データを示す概念図である。図８において、斜線部は欠陥画素を示す。図８（ａ）は、ベイヤー配列（Ｒ、Ｇ、ｇ、Ｂ）の画像データ全体を示す。図８（ｂ）は、画像データのうちＲ画素の画素データを示し、図８（ｃ）は、画像データのうちＧ画素の画素データを示し、図８（ｄ）は、画像データのうちｇ画素の画素データを示し、図８（ｅ）は、画像データのうちＢ画素の画素データを示す。

図９は、第３の実施形態に係る、第一補正部１０２による補正前後の画像データを示す概念図である。図９（ａ）、図９（ｂ）、図９（ｃ）、及び図９（ｄ）の左側は、それぞれ、図８（ｂ）、図８（ｃ）、図８（ｄ）、及び図８（ｅ）に対応する。また、図９（ａ）、図９（ｂ）、図９（ｃ）、及び図９（ｄ）の右側は、第一補正部１０２による補正後の画像データを示す。「Ａ」〜「Ｅ」は、図２などと同様、補正精度を示す。本実施形態では、第１及び第２の実施形態と同様、補正に使用する周辺画素は注目画素に対して水平垂直２画素分ずつの計２４画素であるものとするが、これに限定される訳ではない。

図１０は、第３の実施形態に係る、第二補正部１０７による補正前後の画像データを示す概念図である。図１０（ａ）及び図１０（ｂ）の左側は、それぞれ、図９（ａ）及び図９（ｄ）の右側に対応する。即ち、図１０の例では、画素種別「Ｒ（赤）」及び「Ｂ（青）」が処理対象の画素種別である。しかしながら、処理対象の画素種別は、「Ｒ（赤）」及び「Ｂ（青）」に限定される訳ではない。例えば、処理対象の画素種別は、「Ｒ（赤）」及び「Ｂ（青）」のうちの一方であってもよい。また、図１０（ａ）及び図１０（ｂ）の右側は、第二補正部１０７による補正後の画像データを示す。

図１１は、第３の実施形態に係る、第二補正部１０７による補正後の画像データ全体を示す概念図である。図１１の画像データは、図１０（ａ）、図９（ｂ）、図９（ｃ）、及び図１０（ｂ）の右側をベイヤー配列に並べ直したものである。図１１において、補正精度を表す「Ｂ」と青色画素を表す「Ｂ」とを区別するために、画素の色を表す「Ｒ」「Ｇ」「ｇ」「Ｂ」には斜線を付してある。なお、各画素の配列はベイヤー配列に限定される訳ではない。

図１２は、第３の実施形態に係る、画像処理装置７００による補正処理のフローチャートである。図１２において、図６と同一又は同様の処理が行われるステップには同一の符号を付す。

Ｓ１２０１で、画素種別設定部７０１は、第二補正部１０７による処理対象の画素種別を設定する。本実施形態では、画素種別設定部７０１は、「Ｒ（赤）」及び「Ｂ（青）」を処理対象の画素種別として設定するものとする。なお、画素種別設定部７０１は、欠陥画素位置に応じて、処理対象の画素種別を設定してもよい。或いは、画素種別設定部７０１は、本フローチャートの処理開始前に、予め処理対象の画素種別を設定してもよい。

Ｓ１２０２は、図６のＳ６０１と同様であるが、処理対象の画素種別の画素についてのみ判定が行われる点がＳ６０１と異なる。処理対象でない画素種別の画素については、補正に欠陥画素が使用されたか否かに関わらず、処理はＳ４１２へ進む。処理対象の画素種別の画素について、Ｓ４０６における補正に欠陥画素が使用された場合、処理はＳ６０２に進む。その後の処理は、第２の実施形態と同様である。なお、Ｓ１２０２における画素の処理の順序は、第２の実施形態ではなく、第１の実施形態と同様であってもよい。

以上の処理により、図８（ａ）の画像データに対し、図９及び図１０に示す補正が行われ、最終的に図１１に示す画像データが得られる。

以上説明した通り、第３の実施形態によれば、画像処理装置７００は、特定の画素種別の画素に対してのみ、第二補正部１０７による処理を行う。

［その他の実施形態］
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

１００…画像処理装置、１０２…第一補正部、１０３…欠陥画素判定部、１０４…欠陥位置記憶部、１０５…補正処理部、１０６…記録装置、１０７…第二補正部、１０８…参照画素評価部、１０９…補正処理部

Claims (11)

1. 画像に含まれる複数の画素を順に注目画素とし、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定し、前記注目画素が欠陥画素であると判定された場合、前記注目画素の周辺画素を使用して前記注目画素を補正する第１の補正手段であって、前記周辺画素のうち前記注目画素の補正時に既知の欠陥画素については前記注目画素の補正に使用しない、第１の補正手段と、
   前記第１の補正手段により補正時に未知であった欠陥画素を使用して補正された各補正画素について、前記第１の補正手段により使用された周辺画素を使用して当該補正画素を補正する第２の補正手段であって、前記第１の補正手段により使用された周辺画素のうち欠陥画素については前記第１の補正手段により補正された補正画素を使用する、第２の補正手段と、
   を備えることを特徴とする画像処理装置。
2. 前記第２の補正手段は、前記第１の補正手段により使用された周辺画素のうちの欠陥画素のうち、既に前記第２の補正手段による補正が行われている画素については、前記第２の補正手段による補正後の画素を使用する
   ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記第２の補正手段が各画素を補正する順序は、前記第１の補正手段が各画素を補正する順序の逆である
   ことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記画像に含まれる前記複数の画素を記録手段に記録する記録制御手段であって、前記複数の画素のうち欠陥画素については前記第１の補正手段により補正された補正画素を記録する、記録制御手段
   を更に備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
5. 前記第２の補正手段は、前記記録手段に記録された画素を参照して補正を行う
   ことを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
6. 前記第２の補正手段は、前記記録手段に記録された画素を、前記第２の補正手段により補正された画素により更新する
   ことを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
7. 前記第２の補正手段は、前記第１の補正手段により補正時に未知であった欠陥画素を使用して補正された各補正画素のうち、所定の色の画素を補正する
   ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
8. 前記所定の色は、赤及び青のうちの少なくとも一方を含む
   ことを特徴とする請求項７に記載の画像処理装置。
9. 請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置と、
   前記画像を生成する撮像手段と、
   を備えることを特徴とする撮像装置。
10. 画像処理装置による画像処理方法であって、
    前記画像処理装置の第１の補正手段が、画像に含まれる複数の画素を順に注目画素とし、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定し、前記注目画素が欠陥画素であると判定された場合、前記注目画素の周辺画素を使用して前記注目画素を補正する第１の補正工程であって、前記周辺画素のうち前記注目画素の補正時に既知の欠陥画素については前記注目画素の補正に使用しない、第１の補正工程と、
    前記画像処理装置の第２の補正手段が、前記第１の補正工程により補正時に未知であった欠陥画素を使用して補正された各補正画素について、前記第１の補正工程により使用された周辺画素を使用して当該補正画素を補正する第２の補正工程であって、前記第１の補正工程により使用された周辺画素のうち欠陥画素については前記第１の補正工程により補正された補正画素を使用する、第２の補正工程と、
    を備えることを特徴とする画像処理方法。
11. コンピュータを、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。

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