JP2000285539A - 光磁気ディスクへの信号記録又は再生装置、信号記録又は再生方法、及び光磁気記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 周囲温度に応じてレーザー光の照射レベルを
最適化する。 【解決手段】 光磁気ディスクへの信号記録又は再生装
置は、ピックアップ7からのレーザー光の照射レベルを
制御する制御手段を有する。制御手段に接続され、ディ
スク6の周囲の温度を計測して、該温度情報を発すると
ともに、該周囲温度が通常温度の範囲を超えた際に、検
知信号を発する周囲温度検出手段と、周囲温度に対応し
たレーザー光のレベルが格納されたメモリ5とを具え
る。制御手段は、記録又は再生時に検知信号を受けた際
に、周囲温度に応じたレーザー光のレベルをメモリ5か
ら読み込み、ピックアップ7に給電する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気ディスクへ
の信号記録又は再生する装置、該記録又は再生方法、及
び光磁気記録媒体であるディスクの仕様に係わる。

【０００２】

【従来の技術】記録媒体であるディスク(６)をカートリ
ッジ(60)に回転可能に収納して、デジタル信号の記録又
は再生を行う光磁気ディスク記録又は再生装置が実用化
されている。図２１は、水平面内にて回転中のディスク
(６)への記録原理を示す図である。磁性面を形成したデ
ィスク(６)に上側から磁気ヘッド(72)により磁界を加え
るとともに、下側からピックアップ(７)により記録信号
に同期したレーザー光パルスを当てる。レーザー光パル
スにより局所的に加熱されたディスク(６)上の箇所は、
キュリー温度(約２８０℃)に達すると保持力を失うか
ら、磁気ヘッド(72)により該加熱箇所を一瞬の内に磁化
する。ディスク(６)は回転中であり、該加熱箇所がレー
ザー光から外れると冷えて、磁化の向きが固定される。

【０００３】ディスク再生時には、磁気ヘッド(72)を上
昇させてディスク(６)から離間させる。また、ディスク
(６)上の磁化の向きを壊さないように、ピックアップ
(７)は記録時よりも出力レベルの低いレーザー光を照射
する。周知のカー(Kerr)効果により、ディスク(６)上の
Ｓ極により反射された光と、Ｎ極に反射された光とでは
偏光面の傾きが異なるから、この傾きの差から０と１の
信号を検出する。このように、記録信号に同期したレー
ザー光パルスでディスク(６)を局所的に加熱しながら、
記録信号に対応した極性を有する磁界を与えることによ
って、信号を記録する方式は、一般に光磁界変調方式と
呼ばれる。

【０００４】図２２は、磁気ヘッド(72)により加えられ
る記録外部磁界とレーザー光パルスの関係を示す図であ
り、レーザー光パルスの照射タイミングが悪い例を示
す。図２２にあっては、レーザー光パルスにより熱せら
れたディスク(６)上の部分が冷却する途中で、記録外部
磁界の極性が切り替わる。この為、図２２に符号(87)で
示すように、Ｓ極又はＮ極の何れに磁化されたかが不安
定な箇所が存在する。符号(87)の部分を再生すると、図
２２の矢印Ａで示すように、再生信号にノイズが入り、
ジッター(デジタル再生信号の時間軸方向の揺れ、単位:
ナノセカンド)発生の要因となる。従って、ディスク
(６)を光磁界変調方式で記録する際には、磁気ヘッド(7
2)により印加する外部磁界に対するレーザー光パルスの
照射条件を最適にする必要がある。

【０００５】この対策として、特開平９−２３１６３４
号に示す技術が開示されている。これは通電状態で、図
２３に示すように、記録外部磁界に対し、照射タイミン
グを一定にしながらパルス幅を種々変えたレーザー光を
照射して、テスト信号を記録する。各信号を再生してジ
ッター値を計測し、図２４のように、パルス幅とジッタ
ー値の関係をグラフ化して、最適なレーザー光のパルス
幅を求める。図２４では記録外部磁界に対し、約３０％
のパルス幅のレーザー光が最適である。次に、このパル
ス幅のレーザー光にて、図２５のように、パルス照射タ
イミングを種々変えたレーザー光を照射してテスト信号
を記録する。該信号を再生して前記同様にジッター値を
計測し、図２６のように、パルスの照射タイミングを遅
延させた量とジッター値をグラフ化する。図２６では記
録外部磁界の約１０％のパルス幅だけレーザー光の照射
タイミングを遅らせれば良いことが判る。このレーザー
光のパルス幅と照射タイミングを装置内のメモリ(図示
せず)に格納し、次に所望の信号を記録する際には、該
パルス幅と照射タイミングにて、レーザー光パルスをデ
ィスク(６)に照射する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】特開平９−２３１６３
４号に開示された技術は、レーザー光のパルス幅及びパ
ルス照射タイミングを最適化する方式であり、パルスレ
ベル、即ちパルスの振幅は一定である。しかし、従来に
あっては、ディスク(６)の周囲温度に拘わらず、記録時
には一定レベルのパルスを所定のパルス幅だけ照射し
て、ディスク(６)上の照射箇所をキュリー温度に設定す
る必要がある。従って、周囲温度が低いときにも、記録
時にはディスク(６)上の照射箇所がキュリー温度に達す
る必要があるから、パルスレベルを高めに設定してレー
ザー光を照射する必要がある。然るに、周囲温度が高い
ときに、高めのレベルのレーザー光を照射しても、ディ
スク(６)上の照射箇所は直ぐにキュリー温度に達するか
ら、周囲温度が低いときと同じパルス幅のレーザー光を
照射するのは、無駄なレーザー光を照射していることに
なり、装置の消費電力が増大する。また、斯種ディスク
にあっては後記するように、磁気超解像方式にて記録又
は再生されるものがあり、かかるディスクにあっては再
生時に於いて、レーザー光の照射箇所の温度を正確に制
御する必要がある。このようなディスクの再生時に於い
て、周囲温度が高いときに、高いレベルのレーザー光を
照射すると、記録信号が正確に再生されない虞れがあ
る。即ち、従来にあっては、周囲温度を考慮して、レー
ザー光のレベルを最適化する制御は成されていなかっ
た。本発明の目的は、周囲温度に応じてレーザー光の照
射レベルを最適化することにある。

【０００７】

【課題を解決する為の手段】光磁気ディスクへの信号記
録又は再生装置は、ピックアップ(７)からのレーザー光
の照射レベルを制御する制御手段を有する。制御手段に
接続され、ディスク(６)の周囲の温度を計測して、該温
度情報を発するとともに、該周囲温度が通常温度の範囲
を超えた際に、検知信号を発する周囲温度検出手段と、
周囲温度に対応したレーザー光のレベルが格納されたメ
モリ(５)とを具える。制御手段は、記録又は再生時に検
知信号を受けた際に、周囲温度に応じたレーザー光のレ
ベルをメモリ(５)から読み込み、ピックアップ(７)に給
電する。

【０００８】

【作用及び効果】記録又は再生時に周囲温度検出手段か
ら検知信号を受けた制御手段は、メモリ(５)から周囲温
度に対応したレーザー光のレベルを読み込み、ピックア
ップ(７)から該レベルのレーザー光を照射させる。具体
的には、周囲温度が低いときには高いレベルのレーザー
光を照射し、周囲温度が高いときには低いレベルのレー
ザー光を照射する。従来は、周囲温度が高いときにも、
レベルが高めのレーザー光を照射して、装置の消費電力
が増大していた。然るに、本発明にあっては、周囲温度
に応じた適切なレベルのレーザー光を照射しており、装
置の消費電力が増大することを防止できる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一例を図を用いて
詳述する。近年、従来よりも大容量のデジタルデータを
記録するものとして、磁気超解像(Magnetically induce
d Super Resolution)方式の信号記録再生装置が提案さ
れている。出願人は本発明の内容を、この磁気超解像方
式の装置に応用することを提案しており、先ず磁気超解
像方式について説明する。記録又は再生時にレーザー光
をスポット的にディスク(６)上に照射する点、及び記録
時に磁気ヘッドをディスクに当接させる点は従来と同様
である(図２１参照)。図８は、ディスク(６)の構造を示
す説明図であり、ディスク(６)上に外側から内向きに再
生層(８)、中間層(80)、記録層(81)の３枚の磁性膜を形
成する。記録の原理 記録時には、高いレベルのレーザー光パルスをディスク
(６)に照射する。キュリー温度に熱せられた部分の上か
ら、磁気ヘッド(72)にて磁界を印加する。ディスク回転
に伴って、レーザー光パルスが照射した部分が冷却され
ると、記録層(81)の磁界が固定される。このとき、再生
層(８)は微少レベルのレーザー光が照射されても、反射
光の偏光面が所定の角度に回転しないマスク状態とな
る。即ち、マスク状態ではディスク(６)から０、１の信
号が読み出せない。

【００１０】再生の原理 図７は、ディスク移動方向とディスク(６)上の温度を示
すグラフであり、図９(a)、(b)、(c)は、レーザー光が
ディスク(６)上の単位ビットの記録箇所(85)を通過する
様子を示す平面図である。再生時には、記録時よりも低
いレベルのレーザー光を照射し、該レーザー光はパルス
ではなく一定レベルのビームである。また、記録箇所(8
5)は中間温度を経て前記キュリー温度よりも稍低い高温
度まで温められる。中間温度は、ディスク(６)の材質に
よっても異なるが、大凡１５０℃から２３０℃である。
図９(a)にあっては、レーザー光(86)が記録箇所(85)を
未だ照射しておらず、再生層(８)はマスク状態のままで
ある。図９(b)に示すように、レーザー光(86)が記録箇
所(85)を照射すると、該箇所(85)は徐々に昇温し、中間
温度に達する。レーザー光により照射箇所が中間温度に
温められると、マスク状態が解除され、中間層(80)は記
録層(81)の信号を再生層(８)に転写する(図８参照)。再
生層(８)はレーザー光を反射し、該反射光の偏光面の傾
きから、信号の０又は１を読みとる。

【００１１】更に照射が続き、照射箇所が高温度になる
と、中間層(80)は磁性を失い、記録層(81)の信号は再生
層(８)に転写されない。図９(c)に示すように、ディス
ク(６)の回転により、記録箇所(85)が冷えると、再び再
生層(８)はマスク状態となる。即ち、記録された信号は
レーザー光パルスの照射箇所のうち、一部の領域、即ち
中間温度にまで温まる領域(図７の斜線Ｘ)でしか検出さ
れない。磁気超解像方式にあっては、信号はレーザー光
パルスがディスク(６)を照射する範囲よりも狭い間隔で
高密度記録されるが、このような信号であっても再生す
ることができる。即ち、ディスク(６)の大容量化が図れ
る。

【００１２】(全体構成)図２は、ディスクへの記録又は
再生装置を内蔵した機器の全体斜視図である。機器は例
えば被写体を撮像するカメラであり、ディスクへの記録
又は再生装置は被写体の画像データを記録するのに用い
られ、装置本体(１)の一側面にカートリッジ(60)を収納
する開口(11)を形成している。また、装置本体(１)に
は、後記する検出スイッチ(ＳＷ1)が設けられている。
図３は、ディスクへの記録又は再生装置の斜視図であ
る。カートリッジ(60)が載置されるシャーシ(10)には、
ヘッドレバー(70)が枢支され、該ヘッドレバー(70)の先
端部に磁気ヘッド(72)が設けられている。シャーシ(10)
には、カートリッジ(60)内のディスク(６)を回転させる
ターンテーブル(75)が設けられ、ピックアップ(７)がタ
ーンテーブル(75)に接近離間可能に配備されている。ヘ
ッドレバー(70)はピックアップ(７)に取り付けられて、
ピックアップ(７)とともに移動する。シャーシ(10)上に
は、カートリッジ(60)が載置されたことを検出する存在
確認スイッチ(ＳＷ2)が設けられている。

【００１３】図１は、記録又は再生装置の回路ブロック
図である。記録されるべきデータには、使用者が所望す
る記録信号と、装置内部の発振子(図示せず)から供給さ
れるテスト信号があり、何れの信号を記録するかは、信
号切換スイッチ(ＳＷ3)により切り換えられる。前記検
出スイッチ(ＳＷ1)がＯＮになると、信号切換スイッチ
(ＳＷ3)は自動的にテスト信号側に切り換えられる。信
号切換スイッチ(ＳＷ3)からの信号は、信号変調回路(5
2)にて変調された後に、発振子から構成される同期信号
発生回路(53)に送られる。テスト信号と同期信号は、磁
気ヘッド駆動回路(33)とレーザ駆動回路(31)に送られ
て、記録時に磁界の印加とレーザー光パルスの発生タイ
ミングを同期させる。

【００１４】レーザ駆動回路(31)はピックアップ(７)に
繋がって、ピックアップ(７)からのレーザー光パルスの
出力レベル、出力タイミング、パルス幅を制御する。レ
ーザ駆動回路(31)は制御回路(３)により制御され、該制
御回路(３)にはディスク(６)の周囲の温度を測る周囲温
度検出回路(30)が繋がる。ディスク(６)の周囲の温度と
は、具体的にはピックアップ(７)とディスク(６)間の温
度を指す。制御回路(３)及び磁気ヘッド駆動回路(33)は
メモリ(５)に繋がる。図１７に示すように、メモリ(５)
のテーブルには、後記する初期値Ａ等の各種データが格
納されるとともに、再生信号のレベルを一旦格納する空
き領域(55)が設けられている。装置は、一般に常温で使
用されるものであり、この常温の範囲をＴeとする。図
１の周囲温度検出回路(30)には、この温度範囲Ｔeが格
納され、ディスク(６)の周囲温度が温度範囲Ｔeを越え
たときに、その旨の検知信号を発する。

【００１５】ピックアップ(７)からの出力には、再生信
号の他にフォーカス信号Ｆo、トラッキング信号Ｔrが含
まれ、これらの信号は再生信号増幅回路(34)に入力され
る。ここで、フォーカス信号Ｆoとはレーザー光をディ
スク(６)上に正確に合焦させる為にピックアップ(７)内
の対物レンズ(２)を昇降させる信号である。トラッキン
グ信号Ｔrとはレーザー光が正確にディスク(６)上のト
ラックをトレースする為の信号であり、これらは周知の
信号である。再生信号増幅回路(34)にて再生信号と、フ
ォーカス信号Ｆo及びトラッキング信号Ｔrが分離され、
フォーカス信号Ｆo及びトラッキング信号Ｔrはサーボ回
路(32)に入力される。サーボ回路(32)は、両信号を受け
てピックアップ(７)及びターンテーブル(75)の動作を制
御する。

【００１６】再生信号は、一部がローパスフィルタ(LP
F)(35)にてノイズが除去された後に、復調器(36)にて周
知の誤り訂正等が施された後に、デジタル信号として出
力される。残りの再生信号は、記録再生条件検出回路(5
1)に送られて、該再生信号の出力レベル等の情報が検出
される。これらの情報は一旦メモリ(５)に格納される。
本例に係わる装置には、予め記録時のレーザー光のパル
ス幅と記録外部磁界に対する照射タイミングがメモリ
(５)内に格納されている。このパルス幅と照射タイミン
グを求めるのは、前記と同じ方法である(図２２〜図２
６参照)。

【００１７】(ピックアップ内部)ここで、ピックアップ
(７)の内部の一例を概説する。図４に示すように、ピッ
クアップ(７)はレーザ光源(20)を内蔵し、該光源(20)か
らのレーザ光はミラー体(21)を通過して対物レンズ(２)
によりディスク(６)上に合焦する。対物レンズ(２)は上
下左右に微少量だけ移動可能であり、対物レンズ(２)の
支持構造は後記する。ディスク(６)に反射された光は、
ミラー体(21)に反射されて一部反射ミラー(22)により２
手に分けられる。一方の光からディスク(６)上の記録信
号を検出し、他方の光からフォーカス信号Ｆo及びトラ
ッキング信号Ｔrを検出する。フォーカス信号Ｆo、トラ
ッキング信号Ｔrは夫々検出器(23)(24)により記録信号
を処理して取り出されるが、フォーカス信号Ｆo及びト
ラッキング信号Ｔrを検出する方式は周知技術である。

【００１８】記録信号 ディスク(６)上の記録信号の検出について説明する。デ
ィスク(６)の反射光は、図５に示すように、ディスク
(６)上の磁化の向きによって、偏光面が異なり、ビット
が１(Ｓ極)では斜め上向きに約０．３゜回転し、ビット
が０(Ｎ極)では斜め下向きに約０．３゜回転する。反射
光は図４の波長板(25)を通過して、偏光面が４５゜回転
させられる。この反射光は偏光面が進行方向に対し傾い
ているから、偏光ビームスプリッタ(26)を通過すること
により、Ｓ波とＰ波に分けられる。Ｓ波とＰ波はレベル
検出器(27)にてレベルが検知される。図６に示すよう
に、レベル１の信号ではＳ波の方がＰ波よりもレベルが
高く、レベル０の信号ではその逆となる。この両波のレ
ベルから検出器(27)に入射した光がレベル１か０かが判
る。波長板(25)を設けているのは、以下の理由による。
ディスク(６)の反射光がそのまま偏光ビームスプリッタ
(26)を通過しても、偏光角が約０．３゜であるため、Ｓ
波のレベルがほぼ０に近い。このため、レベル検出器(2
7)がＳ波のレベルを０と誤感知する虞れがあるから、波
長板(25)にて偏光面を４５゜回転させている。尚、両検
出器(23)(24)及びレベル検出器(27)の働きを、ウォーラ
ストンプリズムと呼ばれる１つのプリズム体で行うこと
もある。

【００１９】(ディスク)図１８は、本装置に使用するデ
ィスク(６)の平面図である。ディスク(６)の内周部と外
周部には、予めテスト信号であるデジタル信号が記録さ
れた基準データ格納領域(62)(62)が設けられており、使
用者が信号を記録できる領域は、ディスク(６)上の基準
データ格納領域(62)(62)を除く自由領域(64)である。基
準データ格納領域(62)(62)をディスク(６)の内周部と外
周部に設けた理由は後記する。

【００２０】(再生動作）本装置にあっては、装置に通
電後に、基準データ格納領域（６２）（６２）内のテス
ト信号を再生し、ピックアップ(７)に給電すべきレーザ
ー光のレベルを適切な値に設定する。前記の如く、再生
時はレーザー光はパルスではなく、周囲温度に応じた照
射レベルを保つビームである。また、メモリ(５)には、
ピックアップ(７)に印加すべきレーザー光のレベルであ
る初期値Ａ(単位：ｍＷ)が予め格納されている。再生手
順を図１０及び図１１のフローチャートを用いて説明す
る。

【００２１】先ず、存在確認スイッチ(ＳＷ2)がＯＮと
なってシャーシ(10)上にディスク(６)が存在しているこ
とを確認した後に(Ｓ1)、使用者が検出スイッチ(ＳＷ1)
をＯＮに設定しているか否かを確認する(Ｓ2)。これ
は、以下ステップＳ3からステップＳ13までの制御は、
テスト信号を再生する時間を要するから、急いでディス
ク(６)を再生する使用者が検出スイッチ(ＳＷ1)をＯＦ
Ｆにすることがあるからである。検出スイッチ(ＳＷ1)
がＯＦＦで周囲温度が温度範囲Ｔe内であるときは、そ
のまま初期値Ａをメモリ(５)に格納する(Ｓ9、Ｓ10)。
但し、検出スイッチ(ＳＷ1)がＯＦＦであっても、周囲
温度が温度範囲Ｔeよりも高い又は低いことを周囲温度
検出回路(30)が検出したときは、以下のステップＳ3か
らステップＳ13までの制御を行う。制御回路(３)は、サ
ーボ回路(32)を介して、ターンテーブル(75)を回転さ
せ、ピックアップ(７)をディスク(６)の何れかの基準デ
ータ格納領域(62)(62)に移動させる。このとき、対物レ
ンズ(２)を正規の位置から振るが、この詳細は後記す
る。

【００２２】検出スイッチ(ＳＷ1)がＯＦＦで周囲温度
が温度範囲Ｔeから外れているとき、又は検出スイッチ
(ＳＷ1)がＯＮのときは、制御回路(３)は周囲温度検出
回路(30)から温度情報を受け取る。それとともに、メモ
リ(５)から初期値Ａを読み出し、レーザ駆動回路(31)を
介して、ピックアップ(７)から初期値Ａのレーザー光を
照射させる(Ｓ3)。記録再生条件検出回路(51)は再生信
号のレベルＢを検出し(Ｓ4)、一旦このレベルＢをメモ
リ(５)内に格納する。制御回路(３)は比較回路（５０）
を作動させる。次に、レーザ駆動回路（３１）は初期値
Ａに一定値αを加減したレーザー光を照射する(Ｓ5)。
具体的には、周囲温度が温度範囲Ｔeより低いときは、
Ａ＋αに設定し、周囲温度が温度範囲Ｔeより高いとき
はＡ−αに設定する。記録再生条件検出回路(51)は反射
信号の再生出力Ｂbを検知する(Ｓ6)。尚、検出スイッチ
(ＳＷ1)がＯＮで周囲温度が温度範囲Ｔe内であれば、初
期値Ａを保つ。

【００２３】前記の如く、レーザー光の照射箇所の内、
ディスク(６)上の中間温度の部分Ｘが本来再生されるべ
きである。然るに、周囲温度が温度範囲Ｔeより低いと
きに、温度範囲Ｔe内と同じレベルのレーザー光を照射
すると、中間温度に達するまでに時間がかかるから、図
７の斜線Ｘの部分が本来の位置からずれ、その結果、信
号の再生出力が低下する。また、周囲温度が温度範囲Ｔ
eより高いときに、温度範囲Ｔe内と同じレベルのレーザ
ー光を照射すると、中間温度に達するまでの時間が短い
から、このときもＸの部分が本来の位置からずれて、再
生出力が低下する。故に、周囲温度が温度範囲Ｔe外で
あるときは、レーザー光の照射レベルを加減しているの
である。周囲温度に応じた適切なレベルのレーザー光を
照射することにより、装置の消費電力が増大することを
防止している。

【００２４】比較回路(50)は、記録再生条件検出回路(5
1)が検出した再生出力Ｂbとメモリ(５)内の再生出力Ｂ
を比較する(Ｓ7)。再生出力が高い方のレーザー光のレ
ベルを初期値Ａとして更新し、メモリ(５)に格納する
(Ｓ8)。以下、ステップＳ2からＳ8までの動作をＮ回(Ｎ
は複数)繰り返す(Ｓ11、Ｓ12)。このＮは予め制御回路
(３)に格納されている。仮に再生出力を１度誤って検出
しても、１つの基準データ格納領域(62)について、再生
出力をＮ回繰り返して検出し、メモリ(５)内の初期値Ａ
の値を更新することにより、再生出力が最良でない初期
値Ａがメモリ(５)内に格納されることはない。また、後
記の如く、基準データ格納領域(62)(62)内のテスト信号
を再生する際には、ピックアップ(７)の対物レンズ(２)
を正規の位置から振っている。即ち、対物レンズ(２)
は、自由領域(64)の信号を再生したときに、ＣＮＲが最
大となる位置ではないから、１つの基準データ格納領域
(62)をＮ回再生して、再生レベル変動を減らしている。

【００２５】最後に、制御回路(３)は更新された初期値
Ａに補正係数Ｋを乗じて、これを初期値Ａとする(Ｓ1
3)。これは、本例にあっては、対物レンズ(２)を本来の
位置から側方に振って基準データ格納領域(62)を再生し
ているから、本来の位置に対応した値に設定しているの
であり、詳細は後記する。尚、ディスク(６)の周囲温度
が、温度範囲Ｔeに戻ったときは、前期同様に初期値Ａ
の値を変えながら再生信号のレベルを確認しつつ、初期
値Ａを更新する。使用者がディスク(６)の自由領域(64)
を再生する際には、制御回路(３)はメモリ(５)から初期
値Ａを読み出して、レーザ駆動回路(31)及びピックアッ
プ(７)を介して初期値Ａのレーザー光をディスク(６)に
照射する。

【００２６】(記録動作)記録時には、ピックアップ(７)
からレーザー光パルスを照射するとともに、磁気ヘッド
(72)に記録電流が給電される。本装置にあっては、前記
再生出力検出の後に、テスト信号を自由領域(64)に記録
してその再生出力から、記録時に適切な記録電流とレー
ザー光パルスのレベルを求める。記録時の動作を、図１
３及び図１４のフローチャートを用いて説明する。尚、
図１の信号切換スイッチ(ＳＷ3)はテスト信号側に切り
換えられている。

【００２７】メモリ(５)には、ピックアップ(７)に給電
すべきパルスレベルとして周囲温度が高い場合に対応し
た値であるＣ−β、周囲温度が温度範囲Ｔe内である場
合に対応した値であるＣ、周囲温度が低い場合に対応し
た値であるＣ＋βの３つの値が格納されている。この値
が３つ以上であってもよいのは言うまでもない。また、
磁気ヘッド(72)に当初印加すべき記録電流のレベルとし
てＤ(単位：mＡ)が格納されている。再生時はディスク
(６)上の中間温度に達する部分は、レーザー光の照射箇
所の一部であるから、該レーザー光のレベルを微妙に制
御して、図７のＸの信号を正確に検出する必要がある。
然るに、記録時にあってはレーザー光パルスは照射箇所
をキュリー温度以上に設定すればよく、照射レベルを再
生時ほど微妙に制御する必要はない。記録時にあって
も、周囲温度に応じた適切なレベルのレーザー光パルス
を照射することにより、装置の消費電力が増大すること
を防止している。

【００２８】検出スイッチ(ＳＷ1)がＯＦＦで、周囲温
度がＴe内であるときは、メモリ(５)内のレーザー光パ
ルスのレベルをＣ、記録電流のレベルをＤのまま夫々格
納しておく(Ｓ28、Ｓ29)。検出スイッチ(ＳＷ1)がＯ
Ｎ、又は検出スイッチ(ＳＷ1)がＯＦＦでも周囲温度が
温度範囲Ｔeから外れたときに、以下の制御を行う(Ｓ2
0、Ｓ21)。制御回路(３)は、周囲温度検出回路(30)から
周囲温度を読み込み、メモリ(５)から周囲温度に対応し
たレベルのレーザー光パルスを選択する(Ｓ22)。ピック
アップ(７)を自由領域(64)に移動させ、レーザ駆動回路
(31)を作動させて、ピックアップ(７)からレーザー光パ
ルスを照射する。次に、メモリ(５)から記録電流値Ｄを
読み込み、磁気ヘッド駆動回路(33)を介して磁気ヘッド
(72)に給電し、テスト信号を記録する(Ｓ23)。記録され
たテスト信号を再生するには、先の再生時に更新した初
期値Ａをメモリ(５)から読み込み、該初期値Ａのレーザ
ー光をピックアップ(７)から照射する。このときの再生
出力をＥとする(Ｓ24)。記録再生条件検出回路(51)は出
力Ｅをメモリ(５)に格納する。

【００２９】次に、出願人は磁気ヘッド(72)へ印加する
電流をレベルＤから種々変化させて、その都度、自由領
域(64)にテスト信号を自動的に記録し、該信号の再生出
力から磁気ヘッド(72)へ印加する電流を最小にすること
を提案している。これは、磁気ヘッド(72)への供給電流
は実際には数百ｍＡであり、装置が消費する電力の大部
分を占めているから、消費電力を最小にするためであ
る。しかし、再生出力が低下することは防止しなければ
ならない。記録電流と記録レーザー光パルスの関係を図
１２に示す。前記の如く、記録外部磁界に対する記録レ
ーザー光パルスの照射タイミング及びパルス幅は、予め
設定されている。先ず、制御回路(３)はレベルＤ＋γの
記録電流を磁気ヘッド(72)に印加し(Ｓ25)、周囲温度に
対応したレベルのレーザー光パルスをピックアップ(７)
に供給する。記録終了後は、前記初期値Ａのレーザー光
を照射して記録された信号を再生する。再生出力をＥｅ
とする(Ｓ26)。記録再生条件検出回路(51)は出力Ｅeを
メモリ(５)に格納する。

【００３０】比較回路(50)は、メモリ(５)内の両出力Ｅ
ｅ、Ｅを比較し、出力ＥｅがＥよりも大きければ、レベ
ルＤ＋γをレベルＤとして更新する(Ｓ27)。出力Ｅｅが
Ｅと同等であれば、レベルＤはそのまま残す。次に、制
御回路(３)はレベルＤ−γの記録電流を磁気ヘッド(72)
に給電し(Ｓ30)、周囲温度に対応したレベルのレーザー
光パルスをピックアップ(７)に供給する。記録終了後
は、前記初期値Ａのレーザー光を照射して記録された信
号を再生する。再生出力をＥfとする(Ｓ31)。記録再生
条件検出回路(51)は出力Ｅfをメモリ(５)に格納する。
比較回路(50)は、メモリ(５)内の出力ＥとＥfに差がな
ければ、レベルＤをレベルＤ−γに更新する(Ｓ32)。再
生出力が下がっていれば、レベルＤはそのまま残す。以
下、ステップＳ22からＳ32を繰り返し、最終的なレベル
Ｄをメモリ(５)に格納する。使用者が所望の信号をディ
スク(６)の自由領域(64)に記録する際には、先ず信号切
換スイッチ(ＳＷ3)を記録信号側に切り換える。制御回
路(３)はメモリ(５)からレベルＤを読み込んで、磁気ヘ
ッド駆動回路(33)を介して、該レベルＤの記録電流を磁
気ヘッド(72)に給電する。同時に、メモリ(５)から周囲
温度に対応したレーザー光のレベルを読み込んで、レー
ザ駆動回路(31)を介して該レベルのレーザー光をディス
ク(６)に照射する。

【００３１】ディスク(６)上の単位ビットを再生するの
に要する時間を一般にＴと呼ぶ(図１６参照)。出願人
は、テスト記録用の信号として２Ｔ信号、即ち２Ｔ毎に
ＯＮ、ＯＦＦが切り替わる信号を提案している。出願人
の実験では、テスト記録用の信号として１Ｔ信号を用い
ると、再生時にレーザー光が図７のＸ箇所を正確に照射
しないことがあり、再生出力が低く、再生信号のＣＮＲ
(Career Noise Ratio)が悪くなる。即ち、再生出力を正
しく比較することができない。逆に、テスト記録用の信
号として例えば４Ｔ信号を用いると、レーザー光の照射
範囲に比して、信号のパルス幅が長い。再生出力は４つ
以上のビットを再生した出力の総和となり、ディスク
(６)上に高密度記録された信号を忠実に再生したものと
は言えない。即ち、所謂ＭＳＲ効果が働かない。従っ
て、２Ｔ信号のパルスをテスト記録用の信号として用い
ることを提案している。基準データ格納領域(62)(62)に
記録された信号も２Ｔ信号である。また、出願人はテス
ト信号として、１０ＭHZの信号を記録することを提案し
ている。この信号の最短記録波長は０．２３５μmであ
り、ディスク(６)の回転速度は４．８ｍ／秒である。
尚、上記例では、再生出力の大小からメモリ(５)に格納
すべき初期値Ａを決定しているが、エラーレート(再生
信号中の誤感知した信号の割合)やジッター値から決定
してもよい。

【００３２】基準データ格納領域 基準データ格納領域(62)(62)をディスク(６)の内周部と
外周部に設けた理由を以下に示す。これは、水平面内に
て対物レンズ(２)の振れが許容される範囲が、磁気ヘッ
ド(72)のディスク(６)との対向面積よりも大きいことに
鑑みて工夫された。先ず、対物レンズの支持構造から順
に説明する。 (対物レンズの支持構造)図１９は、対物レンズ(２)の支
持構造の一例を示す平面図であり、図２０は第１コイル
(46)と第２コイル(48)の斜視図である。対物レンズ(２)
は、ホルダ(４)に支持され、該ホルダ(４)はレバー(40)
に左右に振れ可能に嵌まる。該レバー(40)はピックアッ
プ(７)内に設けられた支持台(41)に枢支(42)されてい
る。ホルダ(４)の側方には着磁された磁性片(43)が設け
られ、該磁性片(43)は基台(45)上に互いに離間した２つ
の磁性板(44)(44)を立設して構成される。ホルダ(４)の
側面には、上下に開口(47)した第１コイル(46)が取り付
けられ、該第１コイル(46)の外側に２つの第２コイル(4
8)(48)が並んで設けられている。両第２コイル(48)(48)
は開口(49)を側方に向け、互いに反対向きの電流が流さ
れる。磁性片(43)の一方の磁性板(44)は第１コイル(46)
の開口(47)内に位置し、第２コイル(48)(48)は磁性板(4
4)(44)間に位置する。両磁性板(44)(44)は各第２コイル
(48)の外周部には対向していない。

【００３３】両磁性板(44)(44)間に磁場が形成されてい
るから、第１コイル(46)に通電すると、フレミングの原
理により、ホルダ(４)を昇降させる力が発生する。対物
レンズ(２)が昇降して、ディスク(６)に対するフォーカ
スサーボが働く。第１コイル(46)に給電される電流が、
前記フォーカス信号Ｆoである。また、第２コイル(48)
(48)に通電すると、ピックアップ(７)の上面に平行な面
内を流れる電流により発生する力は、互いに反対向きで
あるから相殺される。磁性板(44)(44)は各第２コイル(4
8)の外周部には対向していないから、第２コイル(48)(4
8)の内周部を上下に流れる電流により、ホルダ(４)を移
動させる力が発生する。フレミングの原理により、ホル
ダ(４)及び対物レンズ(２)は左右に振れる。第２コイル
(48)に給電される電流が、前記トラッキング信号Ｔrで
ある。

【００３４】この対物レンズ(２)の振れ量が大きいと、
信号記録時に対物レンズ(２)が磁気ヘッド(72)から不用
意にズレ易い。また、ピックアップ(７)の大型化を招来
する。逆に、振れ量が小さいと、トラッキングサーボを
正確に行うことができない。この点に鑑みて、対物レン
ズ(２)の振れ量は約５００μｍに設定されている。ま
た、磁気ヘッド(72)は、図２１に示すように、鉄芯(73)
に電線(74)を巻いて構成されるが、ヘッド幅Ｍが大き過
ぎると、鉄芯(73)が磁化されにくい。また、ヘッド幅Ｍ
が小さ過ぎると、信号記録時に磁気ヘッド(72)が正確に
対物レンズ(２)に対向しない。この点に鑑みて、出願人
はヘッド幅Ｍを約４００μｍに設定している。磁気ヘッ
ド(72)の中心から側面までの長さは、４００／２＝２０
０μｍとなる。即ち、磁気ヘッド(72)と対物レンズ(２)
が対向し、互いに中心が重なった状態では、対物レンズ
(２)は磁気ヘッド(72)よりも、 ５００−２００＝３００μｍ だけヘッド幅Ｍを越えて移動できる。ディスク(６)の規
格上、ディスク(６)の偏心が許容される量を仮に５０μ
ｍとしても、３００−５０＝２５０μｍは、対物レンズ
(２)はヘッド幅Ｍを越えて移動できる。

【００３５】磁気ヘッド(72)とピックアップ(７)は前記
の如く、一体に移動するから、仮に磁気ヘッド(72)がデ
ィスク(６)の最内周又は最外周からディスク半径方向に
沿って自由領域(64)側に２５０μｍの領域に進入する
と、ピックアップ(７)は十分に振れない。故に、磁気ヘ
ッド(72)にて記録した信号を再生する際に、正確にトラ
ッキングサーボを行うことができない。この為、ディス
ク(６)の最内周又は最外周からディスク半径方向に２５
０μｍの領域は、磁気ヘッド(72)が進入することはでき
ないが、対物レンズ(２)がレーザー光を照射することが
できる範囲である。

【００３６】出願人は、この点から、ディスク(６)の最
内周又は最外周からディスク半径方向に沿って自由領域
(64)側に２５０μｍの領域に、予め治具回路(図示せず)
によりテスト信号を記録しておき、基準データ格納領域
(62)(62)とすることを着想した。基準データ格納領域(6
2)(62)には、ピックアップ(７)が進入できても、磁気ヘ
ッド(72)が進入できないから、ディスク(６)上の記録可
能な自由領域(64)を狭めることにはならない。従って、
ディスク(６)の記録可能容量が減ることはない。基準デ
ータ格納領域(62)(62)内のテスト信号を再生するには、
該基準データ格納領域(62)(62)の自由領域(64)側端部に
対物レンズ(２)を移動させた後に、トラッキング信号Ｔ
rを給電して、基準データ格納領域(62)(62)に向けてホ
ルダ(４)及び対物レンズ(２)を強制的に振る。

【００３７】テスト信号を再生する際には、対物レンズ
(２)を正規の位置から対物レンズ(２)を振って、テスト
信号を再生する。然るに、自由領域(64)の信号を再生す
る際には、対物レンズ(２)は通常は正規の位置に設置さ
れる。図１５は、ディスク移動方向とディスク(６)上の
温度の関係を示すグラフであり、点線はディスク(６)の
内周部に位置する基準データ格納領域(62)を再生して得
たレベルＡのレーザー光パルスを示す。対物レンズ(２)
を振った位置から正規の位置に戻して、前記図１０のフ
ローチャートに於いて更新したレベルＡのレーザー光パ
ルスを照射すると、図１５に点線で示すように、ディス
ク(６)上の中間温度に達する箇所が本来の位置であるＸ
からズレてしまい、信号を正確に再生できない。この
為、前記図１１のフローチャートのステップＳ１３で、
レベルＡのレーザー光パルスに補正係数Ｋを乗じて、図
１５に実線で示すように、レベルＡのレーザー光パルス
を正規の状態に戻している。これにより、自由領域(64)
の信号を正確に再生せんとしている。

【００３８】上記実施例の説明は、本発明を説明するた
めのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限定
し、或は範囲を減縮する様に解すべきではない。又、本
発明の各部構成は上記実施例に限らず、特許請求の範囲
に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能であることは
勿論である。

【図面の簡単な説明】

【図１】ディスクへの記録又は再生装置の回路ブロック
図である。

【図２】ディスクへの記録又は再生装置を内蔵した機器
の全体斜視図である。

【図３】ディスクへの記録又は再生装置の斜視図であ
る。

【図４】ピックアップの内部を概説した図である。

【図５】０と１の偏光面の傾きを示す図である。

【図６】Ｓ波とＰ波のレベルを示す図である。

【図７】ディスク移動方向とディスク上の温度を示すグ
ラフである。

【図８】ディスクの構造を示す説明図である。

【図９】(a)、(b)、(c)は、レーザー光がディスク上の
記録箇所を通過する様子を示す平面図である。

【図１０】再生手順を示すフローチャートである。

【図１１】再生手順を示すフローチャートである。

【図１２】記録磁界、レーザー光パルス、磁気ヘッドへ
の記録電流、再生信号の関係を示す説明図である。

【図１３】記録手順を示すフローチャートである。

【図１４】記録手順を示すフローチャートである。

【図１５】ディスク移動方向とディスク上の温度を示す
グラフである。

【図１６】Ｔを示す図である。

【図１７】メモリ内のテーブルを示す図である。

【図１８】ディスクの平面図である。

【図１９】対物レンズの支持構造を示す平面図である。

【図２０】第１コイルと第２コイルの斜視図である。

【図２１】水平面内にて回転中のディスクへの記録原理
を示す図である。

【図２２】外部磁界とレーザー光パルスの関係を示す図
であり、レーザー光パルスの照射タイミングが悪い例を
示す。

【図２３】テスト信号を記録する為の記録外部磁界と、
パルス幅を種々変えたレーザー光パルスの関係を示す図
である。

【図２４】レーザー光パルス幅とジッター値の関係を示
すグラフである。

【図２５】テスト信号を記録する為の記録外部磁界と、
パルス遅延量を種々変えたレーザー光パルスの関係を示
す図である。

【図２６】レーザー光パルスの遅延量とジッター値の関
係を示すグラフである。

【符号の説明】

(５) メモリ (６) ディスク (７) ピックアップ (62) 基準データ格納領域 (72) 磁気ヘッド

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディスク(６)にレーザー光を照射するピ
   ックアップ(７)と、ディスク(６)に形成された磁性膜を
   記録信号に応じて磁化する磁気ヘッド(72)と、ピックア
   ップ(７)からのレーザー光の照射レベルを制御する制御
   手段を具え、記録時にはレーザー光パルスにてディスク
   (６)を加熱しつつ磁界を印加し、再生時には記録時より
   も低レベルのレーザー光をディスク(６)に照射して、反
   射光の偏光面から記録信号の０と１を検出する光磁気デ
   ィスクへの信号記録又は再生装置に於いて、 制御手段に接続され、ディスク(６)の周囲の温度を計測
   して、該温度情報を発するとともに、該周囲温度が通常
   温度の範囲から外れた際に、検知信号を発する周囲温度
   検出手段と、 周囲温度に対応したレーザー光のレベルが格納されたメ
   モリ(５)とを具え、 制御手段は、記録又は再生時に検知信号を受けた際に、
   周囲温度に応じたレーザー光のレベルをメモリ(５)から
   読み込み、ピックアップ(７)に給電することを特徴とす
   る光磁気ディスクへの信号記録又は再生装置。
2. 【請求項２】 メモリ(５)には、ディスク(６)再生時に
   当初ピックアップ(７)に給電すべきレーザー光のレベル
   である初期値Ａが格納され、制御手段により駆動される
   比較手段がメモリ(５)に接続され、 制御手段は、メモリ(５)内の初期値Ａのレーザー光を照
   射して得た再生信号出力Ｂと、温度情報に基づいて初期
   値Ａから一定値αだけ増減したレベルのレーザー光を照
   射して得た再生信号出力Ｂｂとを一旦メモリ(５)に格納
   し、 比較手段は、再生信号出力が大きな方のレーザー光のレ
   ベルを初期値Ａとしてメモリ(５)内を更新することを特
   徴とする請求項１に記載の光磁気ディスクへの信号記録
   又は再生装置。
3. 【請求項３】 メモリ(５)には磁気ヘッド(72)に当初供
   給すべき記録電流のレベルＤが格納され、 制御手段は、メモリ(５)内のレベルＤの記録電流を給電
   して得た再生信号のレベルと、レベルＤから一定値γだ
   け増減したレベルの記録電流を給電して得た再生信号の
   レベルとを一旦メモリ(５)に格納し、 比較手段は、再生信号出力が大きな方の記録電流をレベ
   ルＤとし、且つ再生信号出力が同じならばレベルの小さ
   な方の記録電流をレベルＤとしてメモリ(５)内を更新す
   る請求項１又は２に記載の光磁気ディスクへの信号記録
   又は再生装置。
4. 【請求項４】 ディスク(６)を挟んで、ディスク(６)に
   レーザー光を照射するピックアップ(７)と、ディスク
   (６)に形成された磁性膜を記録信号に応じて磁化する磁
   気ヘッド(72)と、ピックアップ(７)からのレーザー光パ
   ルスの照射レベルを制御する制御手段を具え、記録時に
   はレーザー光パルスにてディスク(６)を加熱しつつ磁界
   を印加し、再生時には記録時よりも低レベルのレーザー
   光をディスク(６)に照射して、反射光の偏光面から記録
   信号を検出する光磁気ディスクへの信号記録又は再生装
   置に於いて、 ディスク(６)の周囲の温度情報を発する周囲温度検出手
   段を設け、当初ピックアップ(７)に給電すべきレーザー
   光のレベルである初期値Ａが予め設定され、テスト信号
   再生時には、 初期値Ａのレーザー光を照射して再生信号出力Ｂを得る
   工程、 再生信号出力Ｂを一旦装置内に格納する工程、 温度情報に基づいて初期値Ａから一定値αだけ増減した
   レベルのレーザー光を照射して再生信号出力Ｂｂを得る
   工程、 再生信号出力Ｂｂを一旦装置内に格納する工程、 再生信号出力ＢとＢｂのうち、出力が大きな方のレーザ
   ー光のレベルを初期値Ａとして更新する工程を有し、 次に信号を再生する際には、温度情報に基づいてディス
   ク(６)に初期値Ａのレーザー光を照射することを特徴と
   する光磁気ディスクへの信号記録又は再生方法。
5. 【請求項５】 ディスク(６)を挟んで、ディスク(６)に
   レーザー光を照射するピックアップ(７)と、ディスク
   (６)に形成された磁性膜を記録信号に応じて磁化する磁
   気ヘッド(72)と、ピックアップ(７)からのレーザー光パ
   ルスの照射レベルを制御する制御手段を具え、記録時に
   はレーザー光パルスにてディスク(６)を加熱しつつ磁界
   を印加し、再生時には記録時よりも低レベルのレーザー
   光をディスク(６)に照射して、反射光の偏光面から記録
   信号を検出する光磁気ディスクへの信号記録又は再生装
   置に於いて、 当初磁気ヘッド(72)に印加すべき記録電流のレベルＤが
   予め設定され、テスト信号記録時に、 レベルＤの記録電流を給電して記録した信号の再生出力
   Ｅを得る工程、 該再生出力Ｅを一旦装置内に格納する工程、 レベルＤから一定値γだけ増減した記録電流を給電して
   記録した信号の再生出力Ｅｅを得る工程、 該再生出力Ｅｅを一旦装置内に格納する工程、 両再生出力ＥとＥｅを比較し、同じ値で有れば小さい方
   の記録電流をレベルＤとして更新し、異なる値で有れば
   大きい方の記録電流をレベルＤとして更新する工程を有
   し、 次に信号を記録する際には、磁気ヘッド(72)にレベルＤ
   の記録電流を印加することを特徴とする光磁気ディスク
   への信号記録又は再生方法。
6. 【請求項６】 全面に磁性膜を形成して、ピックアップ
   (７)と磁気ヘッド(72)間に配備され、一部に再生テスト
   信号が予め記録された基準データ格納領域(62)が設けら
   れ、対物レンズ(２)のレーザー光の照射部分と重なった
   箇所に位置した磁気ヘッド(72)により、磁性膜に信号が
   記録される円盤状の光磁気記録媒体に於いて、 基準データ格納領域(62)(62)を内周部又は外周部に設
   け、 円盤半径方向に沿った該基準データ格納領域(62)の長さ
   は、対物レンズ(２)が、磁気ヘッド(72)のヘッド幅Ｍを
   越えて外向きに振れ移動できる距離に基づいて形成され
   たことを特徴とする光磁気記録媒体。