JP2000278081A - 弾性表面波デバイスとその製造方法 - Google Patents

弾性表面波デバイスとその製造方法

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JP2000278081A
JP2000278081A JP11085824A JP8582499A JP2000278081A JP 2000278081 A JP2000278081 A JP 2000278081A JP 11085824 A JP11085824 A JP 11085824A JP 8582499 A JP8582499 A JP 8582499A JP 2000278081 A JP2000278081 A JP 2000278081A
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Japan
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acoustic wave
surface acoustic
wave device
idt electrode
electrode
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JP11085824A
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Satoshi Matsuo
聡 松尾
Kozo Murakami
弘三 村上
Takafumi Koga
孝文 古賀
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 接続電極と外部引出端子との電気的接続を確
実に得ることのできる弾性表面波デバイスを提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 圧電基板1の上面にアルミニウムあるい
はアルミニウムを主成分とする合金を用いてIDT電極
2とこのIDT電極2に電気的に接続した接続電極3と
を形成して弾性表面波素子を形成し、IDT電極2及び
接続電極3を覆うように圧電基板1の上面全体にレジス
ト膜4を形成し、接続電極3の表面のレジスト膜4を残
すようなパターンで露光し、現像液にてIDT電極2の
表面のレジスト膜4を除去し、陽極酸化によりIDT電
極2の表面を酸化させてアルミナの酸化膜5を形成し、
接続電極3の上面のレジスト膜4を除去し、外部引出端
子6を有するパッケージ7内に弾性表面波素子を収納
し、接続電極3と外部引出端子6とをワイヤ9により電
気的に接続し、パッケージ7の開口部をリッド11で封
止して弾性表面波デバイスを得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は例えば通信機器など
に用いる弾性表面波デバイスとその製造方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来の弾性表面波デバイスについて図8
を参照しながら以下に説明する。
【0003】まず、圧電基板100の表面にアルミニウ
ムを主成分とするIDT電極101及びこのIDT電極
101に電気的に接続した接続電極102を形成して弾
性表面波素子を得る。次に陽極酸化によりIDT電極1
01及び接続電極102の表面にショート不良防止など
のために酸化アルミニウム膜103を形成する。次いで
この弾性表面波素子をパッケージ104内に収納し、接
続電極102とパッケージ104の外部引出端子105
とをワイヤ106により電気的に接続する。その後パッ
ケージ104の開口部を封止剤108を用いてリッド1
07により密封したものであった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この構成によると、接
続電極102上にも酸化アルミニウム膜103が形成さ
れるため、接続電極102とワイヤ106との安定した
電気的接続強度を確保することが難しいという問題点を
有していた。
【0005】そこで本発明は、接続電極と外部引出端子
との電気的接続を確実に得ることのできる弾性表面波デ
バイスを提供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の弾性表面波デバイスは、外部引出端子を有す
るパッケージと、このパッケージ内に収納した圧電基板
上にアルミニウムを主成分とするIDT電極とこのID
T電極に電気的に接続した接続電極を有する弾性表面波
素子と、この接続電極と前記外部引出端子とを電気的に
接続するワイヤとを備え、前記IDT電極の表面は金属
酸化膜で覆われていると共に前記接続電極の少なくとも
前記ワイヤとの接続部分は金属酸化膜の非形成面とした
ものであり、接続電極とワイヤとの電気的接続を確実に
得ることができる。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、外部引出端子を有するパッケージと、このパッケー
ジ内に収納した、圧電基板上にアルミニウムを主成分と
するIDT電極とこのIDT電極に電気的に接続した接
続電極を有する弾性表面波素子と、この接続電極と前記
外部引出端子とを電気的に接続するワイヤとを備え、前
記IDT電極の表面は金属酸化膜で覆われていると共に
前記接続電極の少なくとも前記ワイヤとの接続部分は金
属酸化膜の非形成面とした弾性表面波デバイスであり、
接続電極と外部引出端子との電気的接続を確実に得るこ
とのできるものである。
【0008】請求項2に記載の発明は、圧電基板の表面
にアルミニウムを主成分とする少なくともIDT電極と
このIDT電極に電気的に接続した接続電極を形成し弾
性表面波素子を得る第1の工程と、次に前記接続電極の
表面を保護膜で被覆する第2の工程と、次いで陽極酸化
により前記IDT電極の表面に金属酸化膜を形成する第
3の工程と、その後前記保護膜を除去する第4の工程
と、次に前記弾性表面波素子を外部引出端子を有するパ
ッケージ内に収納し前記接続電極とこの外部引出端子と
をワイヤで接続する第5の工程とを備えた弾性表面波デ
バイスの製造方法であり、接続電極と外部引出端子との
電気的接続を確実に得ることのできる弾性表面波デバイ
スを得ることができる。
【0009】請求項3に記載の発明は、第2の工程にお
ける保護膜を第3の工程において陽極酸化に用いる化成
液と非反応とした請求項2に記載の弾性表面波デバイス
の製造方法であり、接続電極の表面に金属酸化膜が形成
されないようにするものである。
【0010】請求項4に記載の発明は、第4の工程にお
いて保護膜は液体と反応させることにより除去するもの
であり、前記液体を第3の工程において形成した酸化膜
と非反応とした請求項2または請求項3に記載の弾性表
面波デバイスの製造方法であり、保護膜を除去する際に
酸化膜に影響を及ぼさないものである。
【0011】請求項5に記載の発明は、第4の工程にお
いて保護膜の除去はプラズマアッシングにより行う請求
項2または請求項3に記載の弾性表面波デバイスの製造
方法であり、酸化膜を傷つけることなく、保護膜のみを
除去することができる。
【0012】以下、本発明の一実施の形態について図面
を参照しながら説明する。
【0013】図1は本実施の形態における弾性表面波デ
バイスの断面図であり、図2は図1に示す弾性表面波デ
バイスのパッケージをリッドで封止する前の上面図、図
3から図7は本実施の形態における弾性表面波素子の製
造方法を説明するための断面図である。
【0014】図1から図7において、1は圧電基板、2
はIDT電極、3は接続電極、4はレジスト膜、5は酸
化膜、6は外部引出端子、7はパッケージ、8は樹脂、
9はアルミニウム等のワイヤ、10は封止剤、11はリ
ッド、12は反射器である。
【0015】まず、圧電基板1の上面にアルミニウムあ
るいはアルミニウムを主成分とし、銅を1〜2wt%を
含む合金を用いてIDT電極2と、このIDT電極2の
両側に反射器12、IDT電極2に電気的に接続した接
続電極3とを形成して弾性表面波素子を形成する。次に
図3に示すようにIDT電極2及び接続電極3を覆うよ
うに圧電基板1の上面全体に環化イソプレンゴム混合キ
シレン溶液等を用いてレジスト膜4を形成する。
【0016】次いで図4、図5に示すように接続電極3
の表面のレジスト膜4を残すようなパターンで露光し、
現像液にてIDT電極2の表面のレジスト膜4を除去す
る。その後図6に示すように、陽極酸化によりIDT電
極2の表面を酸化させてアルミナの酸化膜5を形成す
る。次に図7に示すように接続電極3の上面のレジスト
膜4を除去する。その後、図1、図2に示すように外部
引出端子6を有するパッケージ7の内底面に弾性表面波
素子を樹脂8で固定し、接続電極3と外部引出端子6と
をワイヤ9により電気的に接続する。次いでパッケージ
7の開口部を封止剤10を用いてリッド11で密封して
弾性表面波デバイスを得る。
【0017】以下本発明のポイントについて記載する。
【0018】(1)レジスト膜4は、陽極酸化に用いる
化成液と反応しない材質とする。
【0019】(2)一般的にレジスト膜4を除去する際
に用いる現像液はアルカリ性である。しかしながらID
T電極2を形成するアルミニウムは、アルカリ性溶液と
反応するためIDT電極2がエッチングされるという問
題が生じる。従ってIDT電極2の表面のレジスト膜4
を除去する際に用いる現像液は、IDT電極2に影響を
及ぼさないようにアルミニウムと反応しない有機溶媒系
の現像液を用いる。またレジスト膜4も有機溶媒系の現
像液により除去できるような材料で形成する。
【0020】(3)陽極酸化後、接続電極3の表面のレ
ジスト膜4を除去するときには、IDT電極2の表面に
形成した酸化膜5に悪影響を与えないようにするため
に、溶液を用いて除去する場合は酸化膜5と反応しない
ものを用いる。あるいはプラズマアッシングによりレジ
スト膜4を除去する。
【0021】(4)本発明においては、接続電極3の表
面のワイヤ9との接続部分に酸化膜5が形成されていな
いことが重要であり、ワイヤ9との非接続部分は酸化膜
5の有無はどちらでも構わない。また、実際の弾性表面
波素子においてIDT電極2と接続電極3との距離は非
常に短いものであり、制度良くIDT電極2の表面のみ
のレジスト膜4を除去することは非常に難しい。従って
多少の露光の位置ずれが生じたとしても、確実にIDT
電極2の表面のレジスト膜4を除去し、酸化膜5を形成
するために上記実施の形態においては、ワイヤ9との接
続に関係のない接続電極3のIDT電極2側の表面の一
部分のレジスト膜4も除去したので酸化膜5が形成され
たのである。
【0022】(5)上記実施の形態においては、圧電基
板1上にIDT電極2、接続電極3のみを設けた場合に
ついてのみ説明したが、反射器を設けた場合もIDT電
極2と同様に陽極酸化を行えばよい。
【0023】
【発明の効果】以上本発明によると、接続電極と外部引
出端子との電気的接続を確実に得ることのできる弾性表
面波デバイスを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における弾性表面波デバ
イスの断面図
【図2】図1に示す弾性表面波デバイスのパッケージ開
口部封止前の上面図
【図3】図1に用いた弾性表面波素子の製造方法を説明
するための断面図
【図4】図1に用いた弾性表面波素子の製造方法を説明
するための断面図
【図5】図1に用いた弾性表面波素子の製造方法を説明
するための断面図
【図6】図1に用いた弾性表面波素子の製造方法を説明
するための断面図
【図7】図1に用いた弾性表面波素子の製造方法を説明
するための断面図
【図8】従来の弾性表面波デバイスの断面図
【符号の説明】 1 圧電基板 2 IDT電極 3 接続電極 4 レジスト膜 5 酸化膜 6 外部引出端子 7 パッケージ 8 樹脂 9 ワイヤ 10 封止剤 11 リッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古賀 孝文 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5J097 AA24 AA28 DD25 DD29 HA02 HA04 HA07 KK09 KK10

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部引出端子を有するパッケージと、こ
    のパッケージ内に収納した圧電基板上にアルミニウムを
    主成分とするIDT電極とこのIDT電極に電気的に接
    続した接続電極を有する弾性表面波素子と、この接続電
    極と前記外部引出端子とを電気的に接続するワイヤとを
    備え、前記IDT電極の表面は金属酸化膜で覆われてい
    ると共に前記接続電極の少なくとも前記ワイヤとの接続
    部分は金属酸化膜の非形成面とした弾性表面波デバイ
    ス。
  2. 【請求項2】 圧電基板の表面にアルミニウムを主成分
    とする少なくともIDT電極とこのIDT電極に電気的
    に接続した接続電極を形成し弾性表面波素子を得る第1
    の工程と、次に前記接続電極の表面を保護膜で被覆する
    第2の工程と、次いで陽極酸化により前記IDT電極の
    表面に金属酸化膜を形成する第3の工程と、その後前記
    保護膜を除去する第4の工程と、次に前記弾性表面波素
    子を外部引出端子を有するパッケージ内に収納し前記接
    続電極とこの外部引出端子とをワイヤで接続する第5の
    工程とを備えた弾性表面波デバイスの製造方法。
  3. 【請求項3】 第2の工程における保護膜を第3の工程
    において陽極酸化に用いる化成液と非反応とした請求項
    2に記載の弾性表面波デバイスの製造方法。
  4. 【請求項4】 第4の工程において保護膜は液体と反応
    させることにより除去するものであり、前記液体を第3
    の工程において形成した酸化膜と非反応とした請求項2
    または請求項3に記載の弾性表面波デバイスの製造方
    法。
  5. 【請求項5】 第4の工程において保護膜の除去はプラ
    ズマアッシングにより行う請求項2または請求項3に記
    載の弾性表面波デバイスの製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007208516A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Epson Toyocom Corp 弾性表面波デバイスの製造方法及び弾性表面波デバイス
US7554242B2 (en) 2005-01-17 2009-06-30 Seiko Epson Corporation Surface acoustic wave chip, surface acoustic wave device, and manufacturing method for implementing the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7554242B2 (en) 2005-01-17 2009-06-30 Seiko Epson Corporation Surface acoustic wave chip, surface acoustic wave device, and manufacturing method for implementing the same
JP2007208516A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Epson Toyocom Corp 弾性表面波デバイスの製造方法及び弾性表面波デバイス

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