JP2000258289A - 試験室用加振テーブルアセンブリー - Google Patents
試験室用加振テーブルアセンブリーInfo
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M7/00—Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
- G01M7/02—Vibration-testing by means of a shake table
- G01M7/06—Multidirectional test stands
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B06—GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
- B06B—METHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
- B06B1/00—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
- B06B1/18—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency wherein the vibrator is actuated by pressure fluid
- B06B1/183—Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency wherein the vibrator is actuated by pressure fluid operating with reciprocating masses
Abstract
(57)【要約】
【課題】 全ての方向、例えば、ｘ軸方向、ｙ軸方向及
びｚ軸方向の加振テーブルの加速度レベルを最大にした
試験室用加振テーブルアセンブリーが必要である。 【解決手段】 試験室用加振テーブルアセンブリーを提
供する。試験室はテストすべき製品を受け入れる包囲体
を構成する側壁を有する。加振テーブルアセンブリーは
第１の側及び第２の側を有するテーブル頂上プレートを
有し、製品はテーブル頂上プレートの第１の側に取り外
し可能に固定される。第１の側と第２の側を有する絶縁
層が設けられ、絶縁層の第１の側はテーブル頂上プレー
トの第２の側に固定される。第１の側と第２の側を有す
る下部構造支持部材が設けられ、下部構造支持部材の第
１の側が絶縁層の第２の側に固定される。少なくとも１
つの加振アセンブリーが下部構造支持部材の第２の側に
取付けられる。
びｚ軸方向の加振テーブルの加速度レベルを最大にした
試験室用加振テーブルアセンブリーが必要である。 【解決手段】 試験室用加振テーブルアセンブリーを提
供する。試験室はテストすべき製品を受け入れる包囲体
を構成する側壁を有する。加振テーブルアセンブリーは
第１の側及び第２の側を有するテーブル頂上プレートを
有し、製品はテーブル頂上プレートの第１の側に取り外
し可能に固定される。第１の側と第２の側を有する絶縁
層が設けられ、絶縁層の第１の側はテーブル頂上プレー
トの第２の側に固定される。第１の側と第２の側を有す
る下部構造支持部材が設けられ、下部構造支持部材の第
１の側が絶縁層の第２の側に固定される。少なくとも１
つの加振アセンブリーが下部構造支持部材の第２の側に
取付けられる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は一般に、製造した製
品を振動試験のために取付ける加振テーブルアセンブリ
ーに関し、そして特に、製品の振動試験中の加振テーブ
ルアセンブリーの低周波数応答を増加させた試験室用加
振テーブルアセンブリーに関する。
品を振動試験のために取付ける加振テーブルアセンブリ
ーに関し、そして特に、製品の振動試験中の加振テーブ
ルアセンブリーの低周波数応答を増加させた試験室用加
振テーブルアセンブリーに関する。
【０００２】
【従来の技術】製造した製品の信頼性及び耐久性テスト
用の加振テーブルは、その技術分野で良く知られてい
る。かかる加振テーブルは制御下にある実験室状態で、
或いは組立てラインと共に使用される。しばしば、加振
テーブルは熱室に取付けられ、それは上昇した温度又は
温度サイクルに晒された製造した製品の耐久性テストの
適応性を追加する。
用の加振テーブルは、その技術分野で良く知られてい
る。かかる加振テーブルは制御下にある実験室状態で、
或いは組立てラインと共に使用される。しばしば、加振
テーブルは熱室に取付けられ、それは上昇した温度又は
温度サイクルに晒された製造した製品の耐久性テストの
適応性を追加する。
【０００３】加振テーブルは、典型的には、テストすべ
き製品を取付ける上面ピースと、接着又は機械的留め具
によって上面ピースに固定される底ピースとを有する２
ピースプラットホーム即ち取付テーブルを含む。少なく
とも一つの加振アセンブリーが、典型的には、取付ボル
トによって取付テーブルの底ピースに付けられて、取付
テーブルを振動させ、それにより取付テーブルに取付け
た製品を振動させる。加振アセンブリーは一般にハウジ
ングから構成され、該ハウジングはハウジングに取付け
られた摺動可能ピストンを有する。この摺動可能ピスト
ンは、予測した所定の衝撃応答を達成するために、プロ
グラマー（programmer）即ち衝撃吸収材料をたたく。底
ピースに取付けられた加速度計が、１又は全ての直交す
る方向、例えば、ｘ軸方向（面内）、ｙ軸方向（面
内）、ｚ軸方向（面外）の取付テーブルの加速度レベル
を測定する。
き製品を取付ける上面ピースと、接着又は機械的留め具
によって上面ピースに固定される底ピースとを有する２
ピースプラットホーム即ち取付テーブルを含む。少なく
とも一つの加振アセンブリーが、典型的には、取付ボル
トによって取付テーブルの底ピースに付けられて、取付
テーブルを振動させ、それにより取付テーブルに取付け
た製品を振動させる。加振アセンブリーは一般にハウジ
ングから構成され、該ハウジングはハウジングに取付け
られた摺動可能ピストンを有する。この摺動可能ピスト
ンは、予測した所定の衝撃応答を達成するために、プロ
グラマー（programmer）即ち衝撃吸収材料をたたく。底
ピースに取付けられた加速度計が、１又は全ての直交す
る方向、例えば、ｘ軸方向（面内）、ｙ軸方向（面
内）、ｚ軸方向（面外）の取付テーブルの加速度レベル
を測定する。
【０００４】試験室内の加振テーブルで製品をテストす
るとき、全ての方向、例えば、ｘ軸方向、ｙ軸方向、ｚ
軸方向の、低周波数範囲、例えば、約１０ヘルツ（１０
Ｈｚ）から約２００ヘルツ（２００Ｈｚ）の間、約１０
ヘルツ（１０Ｈｚ）から約１０００ヘルツ（１０００Ｈ
ｚ）の間等の、加振テーブルの加速度レベルを最大にす
ることが重要である。残念ながら、従来技術における在
来の加振テーブルでは低周波数範囲における加速度レベ
ルの最大化が不十分である。事実、ｚ軸加速度がｘ軸、
ｙ軸に沿った加速度よりも一般的に非常に大きいとして
も、ｚ軸加速度は典型的には小さい。
るとき、全ての方向、例えば、ｘ軸方向、ｙ軸方向、ｚ
軸方向の、低周波数範囲、例えば、約１０ヘルツ（１０
Ｈｚ）から約２００ヘルツ（２００Ｈｚ）の間、約１０
ヘルツ（１０Ｈｚ）から約１０００ヘルツ（１０００Ｈ
ｚ）の間等の、加振テーブルの加速度レベルを最大にす
ることが重要である。残念ながら、従来技術における在
来の加振テーブルでは低周波数範囲における加速度レベ
ルの最大化が不十分である。事実、ｚ軸加速度がｘ軸、
ｙ軸に沿った加速度よりも一般的に非常に大きいとして
も、ｚ軸加速度は典型的には小さい。
【０００５】更に、製品は頂プレートに取付けられてい
るので、取付テーブルの頂プレートの加速度レベルを測
定することが重要である。底プレートに取付けられた加
速度計を有していても、頂プレートの加速度レベルの正
確な測定値が常に得られるわけではない。加えて、加速
度計を頂プレートに、製品と同じ側に取付けたとする
と、製品の取付、テスト及び取り外しの際に試験室の操
作者による損傷を受けやすい。
るので、取付テーブルの頂プレートの加速度レベルを測
定することが重要である。底プレートに取付けられた加
速度計を有していても、頂プレートの加速度レベルの正
確な測定値が常に得られるわけではない。加えて、加速
度計を頂プレートに、製品と同じ側に取付けたとする
と、製品の取付、テスト及び取り外しの際に試験室の操
作者による損傷を受けやすい。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】全ての方向、例えば、
ｘ軸方向、ｙ軸方向及びｚ軸方向の加振テーブルの加速
度レベルを最大にした試験室用加振テーブルアセンブリ
ーが必要である。その上、頂プレートの加速度レベルの
正確な測定値を得るために、加速度計を加振テーブルア
センブリーの頂プレートに取付けることを可能にする試
験室用加振テーブルアセンブリーが必要である。加え
て、加振アセンブリー及び他の部品を試験室内の熱環境
から絶縁し、隔離する試験室用加振テーブルアセンブリ
ーにが必要である。
ｘ軸方向、ｙ軸方向及びｚ軸方向の加振テーブルの加速
度レベルを最大にした試験室用加振テーブルアセンブリ
ーが必要である。その上、頂プレートの加速度レベルの
正確な測定値を得るために、加速度計を加振テーブルア
センブリーの頂プレートに取付けることを可能にする試
験室用加振テーブルアセンブリーが必要である。加え
て、加振アセンブリー及び他の部品を試験室内の熱環境
から絶縁し、隔離する試験室用加振テーブルアセンブリ
ーにが必要である。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明は試験室用加振テーブルア
センブリーである。試験室は包囲体を構成する側壁を有
し、包囲体はテストすべき製品を受け入れる。加振テー
ブルアセンブリーは第１の側及び第２の側を有するテー
ブル頂上プレートを有し、製品をテーブル頂上プレート
の第１の側に取り外し可能に固定することができる。第
１の側及び第２の側を有する絶縁層が設けられ、絶縁層
の第１の側をテーブル頂上プレートの第２の側に固定す
る。第１の側及び第２の側を有する下部構造支持部材が
設けられ、下部構造支持部材の第１の側を絶縁層の第２
の側に固定する。少なくとも一つの加振アセンブリーを
下部構造支持部材の第２の側に取付ける。
センブリーである。試験室は包囲体を構成する側壁を有
し、包囲体はテストすべき製品を受け入れる。加振テー
ブルアセンブリーは第１の側及び第２の側を有するテー
ブル頂上プレートを有し、製品をテーブル頂上プレート
の第１の側に取り外し可能に固定することができる。第
１の側及び第２の側を有する絶縁層が設けられ、絶縁層
の第１の側をテーブル頂上プレートの第２の側に固定す
る。第１の側及び第２の側を有する下部構造支持部材が
設けられ、下部構造支持部材の第１の側を絶縁層の第２
の側に固定する。少なくとも一つの加振アセンブリーを
下部構造支持部材の第２の側に取付ける。
【０００８】本発明は加えて、低周波数範囲において加
振テーブルアセンブリーの加速度レベルを増加させる方
法を含む。その方法は、第１の側及び第２の側を有する
テーブル頂上プレートを用意し、テーブル頂上プレート
の第２の側からテーブル頂上プレートの一部を取り除く
ことによってテーブル頂上プレートの重量を減じ、第１
の側及び第２の側を有する下部構造部材を用意し、下部
構造支持部材の一部を取り除くことによって下部構造支
持部材の重量を減じ、下部構造支持部材をテーブル頂上
プレートの第２の側に取付け、そして、少なくとも一つ
の加振アセンブリーを下部構造支持部材の第２の側に取
付けることを包含する。
振テーブルアセンブリーの加速度レベルを増加させる方
法を含む。その方法は、第１の側及び第２の側を有する
テーブル頂上プレートを用意し、テーブル頂上プレート
の第２の側からテーブル頂上プレートの一部を取り除く
ことによってテーブル頂上プレートの重量を減じ、第１
の側及び第２の側を有する下部構造部材を用意し、下部
構造支持部材の一部を取り除くことによって下部構造支
持部材の重量を減じ、下部構造支持部材をテーブル頂上
プレートの第２の側に取付け、そして、少なくとも一つ
の加振アセンブリーを下部構造支持部材の第２の側に取
付けることを包含する。
【０００９】本発明は更に試験室用加振テーブルアセン
ブリーである。加振テーブルアセンブリーは、テストす
べき製品を取付けるための第１の側及び第１の側と実質
的に向い合った第２の側を含むテーブル手段と、テーブ
ル手段の第２の側に取付けられた第１の加振手段と、テ
ーブル手段の第２の側に取付けられた、第１の加振手段
と異なる第２の加振手段と、を有する。
ブリーである。加振テーブルアセンブリーは、テストす
べき製品を取付けるための第１の側及び第１の側と実質
的に向い合った第２の側を含むテーブル手段と、テーブ
ル手段の第２の側に取付けられた第１の加振手段と、テ
ーブル手段の第２の側に取付けられた、第１の加振手段
と異なる第２の加振手段と、を有する。
【００１０】本発明は加えて、加振テーブルアセンブリ
ーを振動させる方法を含む。その方法は、第１の側及び
第２の側を有するテーブル手段を用意し、第１の加振手
段をテーブル手段の第２の側に取付け、第１の加振手段
と異なる第２の加振手段をテーブル手段の第２の側に取
付け、そして、第１の加振手段及び第２の加振手段を作
動させ、それによりテーブル手段を振動させることを含
む。
ーを振動させる方法を含む。その方法は、第１の側及び
第２の側を有するテーブル手段を用意し、第１の加振手
段をテーブル手段の第２の側に取付け、第１の加振手段
と異なる第２の加振手段をテーブル手段の第２の側に取
付け、そして、第１の加振手段及び第２の加振手段を作
動させ、それによりテーブル手段を振動させることを含
む。
【００１１】
【実施例】図１に示すように、本発明は試験室１１内の
製造した製品（図示せず）の信頼性及び耐久性をテスト
するための加振テーブルアセンブリーである。加振テー
ブルアセンブリー１０は基礎１３に取付けられ、加振テ
ーブルアセンブリー１０、及びそれに取付けたテストす
る製品若しくは製造した製品を加振するように作動す
る。基礎１３は加振テーブルアセンブリー１０用の本質
的な免震（vibration-free）支持部である。加振テーブ
ルアセンブリー１０は典型的には下から支持されるが、
任意の方向から支持することができる。本発明の加振テ
ーブルアセンブリー１０は試験室も含めて新規な改良が
なされているが、試験室の作動及び構成は本出願と同じ
譲受人に譲渡され、これにより、ここに援用される米国
特許第5,589,637号に、更に記載される。
製造した製品（図示せず）の信頼性及び耐久性をテスト
するための加振テーブルアセンブリーである。加振テー
ブルアセンブリー１０は基礎１３に取付けられ、加振テ
ーブルアセンブリー１０、及びそれに取付けたテストす
る製品若しくは製造した製品を加振するように作動す
る。基礎１３は加振テーブルアセンブリー１０用の本質
的な免震（vibration-free）支持部である。加振テーブ
ルアセンブリー１０は典型的には下から支持されるが、
任意の方向から支持することができる。本発明の加振テ
ーブルアセンブリー１０は試験室も含めて新規な改良が
なされているが、試験室の作動及び構成は本出願と同じ
譲受人に譲渡され、これにより、ここに援用される米国
特許第5,589,637号に、更に記載される。
【００１２】図２を参照すれば、本発明の加振テーブル
アセンブリー１０は、テーブル頂上プレート１２と、絶
縁層１４と、下部構造支持部材１６と、少なくとも一つ
の加振アセンブリー１８とを有し、絶縁層１４はテーブ
ル頂上プレート１２と下部構造支持部材１６との間に固
定されている。図２及び３に示すように、テーブル頂上
プレート１２は、第１の上側２０と、第１の上側２０に
実質的に向い合った第２の底側２２と、第１の上側２０
と第２の底側２２との間のテーブル頂上プレート外縁２
４とを有する。
アセンブリー１０は、テーブル頂上プレート１２と、絶
縁層１４と、下部構造支持部材１６と、少なくとも一つ
の加振アセンブリー１８とを有し、絶縁層１４はテーブ
ル頂上プレート１２と下部構造支持部材１６との間に固
定されている。図２及び３に示すように、テーブル頂上
プレート１２は、第１の上側２０と、第１の上側２０に
実質的に向い合った第２の底側２２と、第１の上側２０
と第２の底側２２との間のテーブル頂上プレート外縁２
４とを有する。
【００１３】なお図２を参照し、図９も参照すれば、加
振アセンブリー１８は加振テーブルアセンブリー１０を
加振するための任意のタイプの加振アセンブリーにする
ことができる。加振アセンブリー１８は、本出願の同じ
譲受人に譲渡され、これにより、ここに援用される１９
９９年５月１２日に出願された米国出願第09/310,443号
に記載されたような低加速度ピストンを備えた空気式の
往復ピストン加振機１７にすることができる。更に、加
振アセンブリー１８は、ここに援用される米国特許第5,
493,944号に記載されたような機械的な振動発生に使用
するための双ピストン空気式ランダム振動加振機１９に
することができる。
振アセンブリー１８は加振テーブルアセンブリー１０を
加振するための任意のタイプの加振アセンブリーにする
ことができる。加振アセンブリー１８は、本出願の同じ
譲受人に譲渡され、これにより、ここに援用される１９
９９年５月１２日に出願された米国出願第09/310,443号
に記載されたような低加速度ピストンを備えた空気式の
往復ピストン加振機１７にすることができる。更に、加
振アセンブリー１８は、ここに援用される米国特許第5,
493,944号に記載されたような機械的な振動発生に使用
するための双ピストン空気式ランダム振動加振機１９に
することができる。
【００１４】本発明の加振テーブルアセンブリー１０で
は、加振テーブルアセンブリーを振動させるのに、１種
類以上の加振アセンブリー１８を別々に、或いは同時に
使用することができることに注目すべきである。事実、
加振テーブルアセンブリー１８は、空気式往復ピストン
加振機１７及び真のランダム振動加振機１９の両方を別
々に、又は同時に利用することができる。同時に２種類
以上の異なるタイプの加振アセンブリー１８、例えば、
３又はそれ以上の異なる加振アセンブリー１８を利用す
ることも又、本発明の範囲内である。
は、加振テーブルアセンブリーを振動させるのに、１種
類以上の加振アセンブリー１８を別々に、或いは同時に
使用することができることに注目すべきである。事実、
加振テーブルアセンブリー１８は、空気式往復ピストン
加振機１７及び真のランダム振動加振機１９の両方を別
々に、又は同時に利用することができる。同時に２種類
以上の異なるタイプの加振アセンブリー１８、例えば、
３又はそれ以上の異なる加振アセンブリー１８を利用す
ることも又、本発明の範囲内である。
【００１５】テーブル頂上プレート１２の第１の上側２
０は、テストすべき製品をテーブル頂上プレート１２の
第１の上側２０に取り外し可能に固定するための、間隔
を隔てた多数の製品止め穴２６を有する。加振テーブル
アセンブリー１０のテーブル頂上プレート１２は、広汎
な種類の製品を適応させるために試験室１１内で交換で
きる。例えば、製品止め穴２６は１０２ｍｍ（４イン
チ）ずつ間隔を隔てた配列にすることができる。異なる
間隔を希望するとき、又はテストすべき製品によって異
なる間隔が必要とされるとき、テーブル頂上プレート１
２を取り除き、１０２ｍｍ（４インチ）ずつよりも大き
な間隔の、或いは１０２ｍｍ（４インチ）ずつよりも小
さな間隔の製品止め穴２６を有するテーブル頂上プレー
ト１２のどちらかに置きかえることによってテーブル頂
上プレート１２を交換することができる。
０は、テストすべき製品をテーブル頂上プレート１２の
第１の上側２０に取り外し可能に固定するための、間隔
を隔てた多数の製品止め穴２６を有する。加振テーブル
アセンブリー１０のテーブル頂上プレート１２は、広汎
な種類の製品を適応させるために試験室１１内で交換で
きる。例えば、製品止め穴２６は１０２ｍｍ（４イン
チ）ずつ間隔を隔てた配列にすることができる。異なる
間隔を希望するとき、又はテストすべき製品によって異
なる間隔が必要とされるとき、テーブル頂上プレート１
２を取り除き、１０２ｍｍ（４インチ）ずつよりも大き
な間隔の、或いは１０２ｍｍ（４インチ）ずつよりも小
さな間隔の製品止め穴２６を有するテーブル頂上プレー
ト１２のどちらかに置きかえることによってテーブル頂
上プレート１２を交換することができる。
【００１６】図４に示すように、本発明の加振テーブル
アセンブリー１０のテーブル頂上プレート１２の別の実
施形態では、テーブル頂上プレート１２は、テーブル頂
上プレート１２の第１の上側２０に形成された少なくと
も一つのＴ形スロット２８を有する。好ましくは、Ｔ形
スロット２８はテーブル頂上プレート１２の全長に延び
る。図５に示すようにＴ字形取付部品３０が、Ｔ形スロ
ット２８内で及びＴ形スロット２８全長に沿って、取り
外し可能に摺動することができる寸法及び形態にされ
る。図６に示すように、各Ｔ字形取付部品３０は、テス
トすべき製品を雄ネジ、ボルト等（図示せず）でテーブ
ル頂上プレート１２の第１の上側２０に取り外し可能に
固定できるように、ネジ山付き製品止め穴３２を有す
る。雄ネジをネジ山付き製品止め穴３２の中に締め付け
ると、Ｔ字形取付部品３０はＴ形スロット２８の内面に
接するように概ね上方に引き付けられ、Ｔ字形取付部品
３０をＴ形スロット２８に対して所望の位置に保持す
る。従って、Ｔ字形取付部品３０は、広汎な種類のテス
トすべき製品をテーブル頂上プレート１２の第１の上側
２０の任意所望の位置で、テーブル頂上プレート１２の
第１の上側２０に適応させ、かつ取り外し可能に固定す
ることができるように、Ｔ形スロット２８に沿って移動
することができる。
アセンブリー１０のテーブル頂上プレート１２の別の実
施形態では、テーブル頂上プレート１２は、テーブル頂
上プレート１２の第１の上側２０に形成された少なくと
も一つのＴ形スロット２８を有する。好ましくは、Ｔ形
スロット２８はテーブル頂上プレート１２の全長に延び
る。図５に示すようにＴ字形取付部品３０が、Ｔ形スロ
ット２８内で及びＴ形スロット２８全長に沿って、取り
外し可能に摺動することができる寸法及び形態にされ
る。図６に示すように、各Ｔ字形取付部品３０は、テス
トすべき製品を雄ネジ、ボルト等（図示せず）でテーブ
ル頂上プレート１２の第１の上側２０に取り外し可能に
固定できるように、ネジ山付き製品止め穴３２を有す
る。雄ネジをネジ山付き製品止め穴３２の中に締め付け
ると、Ｔ字形取付部品３０はＴ形スロット２８の内面に
接するように概ね上方に引き付けられ、Ｔ字形取付部品
３０をＴ形スロット２８に対して所望の位置に保持す
る。従って、Ｔ字形取付部品３０は、広汎な種類のテス
トすべき製品をテーブル頂上プレート１２の第１の上側
２０の任意所望の位置で、テーブル頂上プレート１２の
第１の上側２０に適応させ、かつ取り外し可能に固定す
ることができるように、Ｔ形スロット２８に沿って移動
することができる。
【００１７】好ましくは、加振テーブルアセンブリー１
０のテーブル頂上プレート１２は、約７６２ｍｍ（３０
インチ）の幅、約７６２ｍｍ（３０インチ）の長さ、約
１３ｍｍ（１／２インチ）の厚さの寸法を有し、アルミ
ニウム材料、例えばＡＬ６０６１から構成される。しか
しながら、約７６２ｍｍ（３０インチ）の幅、約７６２
ｍｍ（３０インチ）の長さ、約１３ｍｍ（１／２イン
チ）の厚さよりも大きな寸法で、或いは、約７６２ｍｍ
（３０インチ）の幅、約７６２ｍｍ（３０インチ）の長
さ、約１３ｍｍ（１／２インチ）の厚さよりも小さな寸
法でテーブル頂上プレート１２を構成することも本発明
の範囲内であることに注目すべきである。その上、テー
ブル頂上プレート１２をアルミニウム材料以外の材料か
ら構成することも本発明の範囲内である。
０のテーブル頂上プレート１２は、約７６２ｍｍ（３０
インチ）の幅、約７６２ｍｍ（３０インチ）の長さ、約
１３ｍｍ（１／２インチ）の厚さの寸法を有し、アルミ
ニウム材料、例えばＡＬ６０６１から構成される。しか
しながら、約７６２ｍｍ（３０インチ）の幅、約７６２
ｍｍ（３０インチ）の長さ、約１３ｍｍ（１／２イン
チ）の厚さよりも大きな寸法で、或いは、約７６２ｍｍ
（３０インチ）の幅、約７６２ｍｍ（３０インチ）の長
さ、約１３ｍｍ（１／２インチ）の厚さよりも小さな寸
法でテーブル頂上プレート１２を構成することも本発明
の範囲内であることに注目すべきである。その上、テー
ブル頂上プレート１２をアルミニウム材料以外の材料か
ら構成することも本発明の範囲内である。
【００１８】図３に示すように、テーブル頂上プレート
１２の第２の底側２２は、加振テーブルアセンブリー１
０の重量を減じ、それにより低周波数範囲における加速
度レベルを増加させるために、多数のパターン化した切
取り部３４を有する。テーブル頂上プレート１２の第２
の底側２２のパターン化した切取り部３４はテーブル頂
上プレート１２の第１の上側２０まで延びないことが好
ましいが、テーブル頂上プレート１２の第１の上側２０
まで延びるテーブル頂上プレート１２の第２の底側２２
のパターン化した切取り部３４を有することも本発明の
範囲内であることに注目すべきである。
１２の第２の底側２２は、加振テーブルアセンブリー１
０の重量を減じ、それにより低周波数範囲における加速
度レベルを増加させるために、多数のパターン化した切
取り部３４を有する。テーブル頂上プレート１２の第２
の底側２２のパターン化した切取り部３４はテーブル頂
上プレート１２の第１の上側２０まで延びないことが好
ましいが、テーブル頂上プレート１２の第１の上側２０
まで延びるテーブル頂上プレート１２の第２の底側２２
のパターン化した切取り部３４を有することも本発明の
範囲内であることに注目すべきである。
【００１９】低周波数範囲におけるｘ軸方向、ｙ軸方
向、ｚ軸方向の最大加速度レベルを達成するために、本
出願の発明者は加振テーブルアセンブリー１０の重量を
減ずることが重要であることを発見した。本発明の加振
テーブルアセンブリー１０で低周波数範囲において最大
加速度レベルを達成することを、以下に更に詳細に説明
する。
向、ｚ軸方向の最大加速度レベルを達成するために、本
出願の発明者は加振テーブルアセンブリー１０の重量を
減ずることが重要であることを発見した。本発明の加振
テーブルアセンブリー１０で低周波数範囲において最大
加速度レベルを達成することを、以下に更に詳細に説明
する。
【００２０】テーブル頂上プレート１２の第２の底側２
２は更に、断熱層３８をテーブル頂上プレート１２及び
複数の絶縁層に取付けるための多数の断熱層取付穴３６
と、下部構造支持部材取付穴４０とを含む。断熱層取付
穴３６と、絶縁層及び下部構造支持部材取付穴４０と
は、以下に更に詳細に説明するように、断熱層３８と、
絶縁層１４及び下部構造支持部材１６とを夫々テーブル
頂上プレート１２に取付けることを可能にする。
２は更に、断熱層３８をテーブル頂上プレート１２及び
複数の絶縁層に取付けるための多数の断熱層取付穴３６
と、下部構造支持部材取付穴４０とを含む。断熱層取付
穴３６と、絶縁層及び下部構造支持部材取付穴４０と
は、以下に更に詳細に説明するように、断熱層３８と、
絶縁層１４及び下部構造支持部材１６とを夫々テーブル
頂上プレート１２に取付けることを可能にする。
【００２１】テーブル頂上プレート１２の第２の底側２
２は又、少なくとも１つの加速度計（図示せず）をテー
ブル頂上プレート１２に直接取付けるための加速度計ブ
ロック４２を含む。本発明の加振テーブルアセンブリー
１０は６つの方向、即ち６つの自由度、例えば、ｘ軸方
向、ｙ軸方向、ｚ軸方向の直線加速度、及びｘ軸方向、
ｙ軸方向、ｚ軸方向の回転加速度を有する。操作者に加
振テーブルアセンブリー１０に取付けた製品のテストを
制御させるために、加速度計によって全ての直線加速度
方向の加速度レベルを測定し、及び、適当なセンサーを
使用して回転加速度方向の加速度レベルを測定する。本
発明の加振テーブルアセンブリー１０では、３つの直線
方向加速度レベル測定するために、３つまでの加速度計
をテーブル頂上プレート１２に固定することができる。
２は又、少なくとも１つの加速度計（図示せず）をテー
ブル頂上プレート１２に直接取付けるための加速度計ブ
ロック４２を含む。本発明の加振テーブルアセンブリー
１０は６つの方向、即ち６つの自由度、例えば、ｘ軸方
向、ｙ軸方向、ｚ軸方向の直線加速度、及びｘ軸方向、
ｙ軸方向、ｚ軸方向の回転加速度を有する。操作者に加
振テーブルアセンブリー１０に取付けた製品のテストを
制御させるために、加速度計によって全ての直線加速度
方向の加速度レベルを測定し、及び、適当なセンサーを
使用して回転加速度方向の加速度レベルを測定する。本
発明の加振テーブルアセンブリー１０では、３つの直線
方向加速度レベル測定するために、３つまでの加速度計
をテーブル頂上プレート１２に固定することができる。
【００２２】テーブル頂上プレート１２の第１の上側２
０に溝（図示せず）を設けることも本発明の範囲内であ
る。溝はｚ軸方向の加速度レベルに対して、ｘ軸方向及
びｙ軸方向の加速度レベルを改良するために、加振テー
ブルアセンブリー１０の重量を更に減じる。
０に溝（図示せず）を設けることも本発明の範囲内であ
る。溝はｚ軸方向の加速度レベルに対して、ｘ軸方向及
びｙ軸方向の加速度レベルを改良するために、加振テー
ブルアセンブリー１０の重量を更に減じる。
【００２３】図７に示すように、本発明の加振テーブル
アセンブリー１０は、第１の絶縁側（図示せず）と、第
１の絶縁側に実質的に向い合った第２の絶縁側４６と、
第１の絶縁側及び第２の絶縁側４６の間の絶縁層外縁４
８と、を有する絶縁層１４を更に含む。絶縁層１４は、
絶縁層１４の第１の絶縁側がテーブル頂上プレート１２
の第２の底側２２に接触するように、テーブル頂上プレ
ート１２の第２の底側２２に取り外し可能に固定され
る。絶縁層１４は、テーブル頂上プレート１２に取り外
し可能に固定できるように、テーブル頂上プレート１２
の第２底側２２の絶縁層取付穴４０に整合した多数の取
付穴５０を有する。その上、絶縁層１４は、加速度計ブ
ロック４２を受け入れるために、テーブル頂上プレート
１２の第２の底側２２の加速度計ブロック４２に整合し
た穴５２を有する。
アセンブリー１０は、第１の絶縁側（図示せず）と、第
１の絶縁側に実質的に向い合った第２の絶縁側４６と、
第１の絶縁側及び第２の絶縁側４６の間の絶縁層外縁４
８と、を有する絶縁層１４を更に含む。絶縁層１４は、
絶縁層１４の第１の絶縁側がテーブル頂上プレート１２
の第２の底側２２に接触するように、テーブル頂上プレ
ート１２の第２の底側２２に取り外し可能に固定され
る。絶縁層１４は、テーブル頂上プレート１２に取り外
し可能に固定できるように、テーブル頂上プレート１２
の第２底側２２の絶縁層取付穴４０に整合した多数の取
付穴５０を有する。その上、絶縁層１４は、加速度計ブ
ロック４２を受け入れるために、テーブル頂上プレート
１２の第２の底側２２の加速度計ブロック４２に整合し
た穴５２を有する。
【００２４】好ましい実施形態では、絶縁層１４はテー
ブル頂上プレート１２の寸法よりも小さな寸法を有す
る。好ましくは、絶縁層１４は約７３７ｍｍ（２９イン
チ）の幅、約７３７ｍｍ（２９インチ）の長さ、約６．
４ｍｍ（１／４インチ）の厚さの寸法を有し、加振テー
ブルアセンブリー１０の低周波数応答を良くするガラス
複合材料、例えば、GLASTIC（登録商標）から構成され
る。しかしながら、約７３７ｍｍ（２９インチ）の幅、
約７３７ｍｍ（２９インチ）の長さ、約６．４ｍｍ（１
／４インチ）の厚さよりも大きな寸法で、或いは、約７
３７ｍｍ（２９インチ）の幅、約７３７ｍｍ（２９イン
チ）の長さ、約６．４ｍｍ（１／４インチ）の厚さより
も小さな寸法で絶縁層１４を構成することも本発明の範
囲内であることに注目すべきである。その上、ガラス複
合材料以外の絶縁特性を有する材料から絶縁層１４を構
成することも又、本発明の範囲内である。
ブル頂上プレート１２の寸法よりも小さな寸法を有す
る。好ましくは、絶縁層１４は約７３７ｍｍ（２９イン
チ）の幅、約７３７ｍｍ（２９インチ）の長さ、約６．
４ｍｍ（１／４インチ）の厚さの寸法を有し、加振テー
ブルアセンブリー１０の低周波数応答を良くするガラス
複合材料、例えば、GLASTIC（登録商標）から構成され
る。しかしながら、約７３７ｍｍ（２９インチ）の幅、
約７３７ｍｍ（２９インチ）の長さ、約６．４ｍｍ（１
／４インチ）の厚さよりも大きな寸法で、或いは、約７
３７ｍｍ（２９インチ）の幅、約７３７ｍｍ（２９イン
チ）の長さ、約６．４ｍｍ（１／４インチ）の厚さより
も小さな寸法で絶縁層１４を構成することも本発明の範
囲内であることに注目すべきである。その上、ガラス複
合材料以外の絶縁特性を有する材料から絶縁層１４を構
成することも又、本発明の範囲内である。
【００２５】絶縁層１４は、好ましくは、テーブル頂上
プレート１２が絶縁層１４に、ほぼ均一な量で重なるよ
うに、テーブル頂上プレート１２に取付けられる。絶縁
層１４に対するテーブル頂上プレート１２の重なり部
は、テーブル頂上プレート１２の第２の底側２２に重な
りスペース５４を作る。
プレート１２が絶縁層１４に、ほぼ均一な量で重なるよ
うに、テーブル頂上プレート１２に取付けられる。絶縁
層１４に対するテーブル頂上プレート１２の重なり部
は、テーブル頂上プレート１２の第２の底側２２に重な
りスペース５４を作る。
【００２６】なお図７を参照すれば、本発明の加振テー
ブルアセンブリー１０は又、第１断熱側５６と、実質的
に第１断熱側５６に向い合った第２断熱側５８とを有す
る上記に簡単に述べた断熱層３８を含む。断熱層３８の
少なくとも第１断熱側５６の一部は、絶縁層の絶縁層外
縁４８に隣接した重なりスペース５４で、テーブル頂上
プレート１２の第２の底側２２に接するように配置され
る。複数のストリップ６０が、断熱層３８の第２断熱側
５８の少なくとも一部に接するように配置される。多数
のネジ又は他の固定機構（図示せず）を、ストリップ６
０の取付穴６２及び断熱層３８の取付穴３６を通して、
テーブル頂上プレート１２の第２の底側２２の断熱層取
付穴３６に螺合的に固定し、それにより、断熱層３８を
テーブル頂上プレート１２の第２の底側２２に取外し可
能に固定する。
ブルアセンブリー１０は又、第１断熱側５６と、実質的
に第１断熱側５６に向い合った第２断熱側５８とを有す
る上記に簡単に述べた断熱層３８を含む。断熱層３８の
少なくとも第１断熱側５６の一部は、絶縁層の絶縁層外
縁４８に隣接した重なりスペース５４で、テーブル頂上
プレート１２の第２の底側２２に接するように配置され
る。複数のストリップ６０が、断熱層３８の第２断熱側
５８の少なくとも一部に接するように配置される。多数
のネジ又は他の固定機構（図示せず）を、ストリップ６
０の取付穴６２及び断熱層３８の取付穴３６を通して、
テーブル頂上プレート１２の第２の底側２２の断熱層取
付穴３６に螺合的に固定し、それにより、断熱層３８を
テーブル頂上プレート１２の第２の底側２２に取外し可
能に固定する。
【００２７】加振テーブルアセンブリー１０の断熱層３
８は、好ましくは、実質的に絶縁層１４の絶縁層外縁４
８からテーブル頂上プレート１２のテーブル頂上プレー
ト外縁２４を越えて試験室１１の壁１５まで延びる。断
熱層３８及び絶縁層１４は、製品に隣接した試験室１１
内の領域から加振アセンブリー１８及び断熱層の下の試
験室内の領域への熱伝達を抑える環境障壁である。熱の
移動を抑えることにより、製品のテスト中、所定のレベ
ルに製品を加熱し、又は冷却するのに少ないエネルギー
しか必要としない。
８は、好ましくは、実質的に絶縁層１４の絶縁層外縁４
８からテーブル頂上プレート１２のテーブル頂上プレー
ト外縁２４を越えて試験室１１の壁１５まで延びる。断
熱層３８及び絶縁層１４は、製品に隣接した試験室１１
内の領域から加振アセンブリー１８及び断熱層の下の試
験室内の領域への熱伝達を抑える環境障壁である。熱の
移動を抑えることにより、製品のテスト中、所定のレベ
ルに製品を加熱し、又は冷却するのに少ないエネルギー
しか必要としない。
【００２８】その上、断熱層３８は、好ましくは、シリ
コン含浸ガラスシート材料から構成される。しかしなが
ら、断熱層３８をシリコン含浸ガラスシート材料以外の
材料から構成することも、本発明の範囲内であることに
注目すべきである。図８に示すように、本発明の加振テ
ーブルアセンブリー１０は、加振テーブルアセンブリー
１０の主荷重支持部品として作動する比較的剛な下部構
造支持部材１６を付加的に含む。下部構造支持部材１６
は、第１の下部構造側６６と、第１の下部構造側６６と
実質的に向い合った第２の下部構造側６８とを有し、下
部構造支持部材１６の第１の下部構造側６６は、下部構
造支持部材１６を絶縁層１４とテーブル頂上プレート１
２とに取り外し可能に固定するために、絶縁層１４の第
２の絶縁側４６に接して配置される。多数の切取り部分
７０が、加振テーブルアセンブリー１０の全体重量を減
じるために、下部構造支持部材１６を完全に貫いて形成
される。
コン含浸ガラスシート材料から構成される。しかしなが
ら、断熱層３８をシリコン含浸ガラスシート材料以外の
材料から構成することも、本発明の範囲内であることに
注目すべきである。図８に示すように、本発明の加振テ
ーブルアセンブリー１０は、加振テーブルアセンブリー
１０の主荷重支持部品として作動する比較的剛な下部構
造支持部材１６を付加的に含む。下部構造支持部材１６
は、第１の下部構造側６６と、第１の下部構造側６６と
実質的に向い合った第２の下部構造側６８とを有し、下
部構造支持部材１６の第１の下部構造側６６は、下部構
造支持部材１６を絶縁層１４とテーブル頂上プレート１
２とに取り外し可能に固定するために、絶縁層１４の第
２の絶縁側４６に接して配置される。多数の切取り部分
７０が、加振テーブルアセンブリー１０の全体重量を減
じるために、下部構造支持部材１６を完全に貫いて形成
される。
【００２９】下部構造支持部材１６を絶縁層１４及びテ
ーブル頂上プレート１２に取り外し可能に固定するため
に、下部構造支持部材１６は下部構造支持部材１６に形
成された、貫通して延びる多数の穴７２を有する。多数
のネジ又は他の固定機構７４が、下部構造支持部材１６
の穴７２を通り、絶縁層１４の取付穴５０を通って、テ
ーブル頂上プレート１２の第２の底側２２の絶縁層及び
下部構造支持部材取付穴４０の中に入り、テーブル頂上
プレート１２の第２の底側２２に螺合的に取付けられ
る。
ーブル頂上プレート１２に取り外し可能に固定するため
に、下部構造支持部材１６は下部構造支持部材１６に形
成された、貫通して延びる多数の穴７２を有する。多数
のネジ又は他の固定機構７４が、下部構造支持部材１６
の穴７２を通り、絶縁層１４の取付穴５０を通って、テ
ーブル頂上プレート１２の第２の底側２２の絶縁層及び
下部構造支持部材取付穴４０の中に入り、テーブル頂上
プレート１２の第２の底側２２に螺合的に取付けられ
る。
【００３０】好ましくは、下部構造支持部材１６はテー
ブル頂上プレートの寸法よりも小さい寸法を有し、アル
ミニウム材料、例えばＡＬ６０６１Ｔ６から構成され
る。しかしながら、下部構造支持部材１６をテーブル頂
上プレート１２の寸法と等しいか、又はテーブル頂上プ
レート１２の寸法よりも小さい寸法で構成し、アルミニ
ウム材料以外の材料から構成することも本発明の範囲内
であることに注目すべきである。
ブル頂上プレートの寸法よりも小さい寸法を有し、アル
ミニウム材料、例えばＡＬ６０６１Ｔ６から構成され
る。しかしながら、下部構造支持部材１６をテーブル頂
上プレート１２の寸法と等しいか、又はテーブル頂上プ
レート１２の寸法よりも小さい寸法で構成し、アルミニ
ウム材料以外の材料から構成することも本発明の範囲内
であることに注目すべきである。
【００３１】下部構造支持部材１６は、加振アセンブリ
ー１８を固定するための、少なくとも１つの加振アセン
ブリー取付パッド７６を更に有する（図９）。取付パッ
ド７６は各々、加振アセンブリー１８の対応するアライ
メント穴（図示せず）に受け入れ可能なアライメントピ
ン７８を含む。下部構造支持部材１６に対する加振アセ
ンブリー１８の向きの変化は、作動中の加振テーブルア
センブリー１０の加速度レベルを含めた特性を変化させ
るので、取付パッド７６のアライメントピン７８は、加
振アセンブリー１８を下部構造支持部材１６に取付ける
ときに正確な所望の向きに維持するのを助け、かつ他の
加振テーブルアセンブリー１０との間で一致した振動プ
ロフィールを維持するのを助ける。
ー１８を固定するための、少なくとも１つの加振アセン
ブリー取付パッド７６を更に有する（図９）。取付パッ
ド７６は各々、加振アセンブリー１８の対応するアライ
メント穴（図示せず）に受け入れ可能なアライメントピ
ン７８を含む。下部構造支持部材１６に対する加振アセ
ンブリー１８の向きの変化は、作動中の加振テーブルア
センブリー１０の加速度レベルを含めた特性を変化させ
るので、取付パッド７６のアライメントピン７８は、加
振アセンブリー１８を下部構造支持部材１６に取付ける
ときに正確な所望の向きに維持するのを助け、かつ他の
加振テーブルアセンブリー１０との間で一致した振動プ
ロフィールを維持するのを助ける。
【００３２】図９に示すように、本発明の加振テーブル
アセンブリー１０は、テーブル頂上プレートの第１の上
側に取り外し可能に固定した製品を揺動させ、かつ振動
させるために、下部構造支持部材の第２の下部構造側の
加振アセンブリー取付パッドに取付けられた少なくとも
一つの加振アセンブリーを更に含む。加振テーブルアセ
ンブリー１０の加振アセンブリーは、励振及び衝撃応答
を加振テーブルアセンブリー１０のテーブル頂上プレー
トに与える任意の装置で良い。好ましくは、加振アセン
ブリーは空気作動式加振機であるが、他のタイプの加振
アセンブリーも本発明の範囲内である。加振テーブルア
センブリー１０は広汎な種類の加振アセンブリーを適応
させることができ、かつ異なる加振アセンブリーを同時
に適応させることもできる。
アセンブリー１０は、テーブル頂上プレートの第１の上
側に取り外し可能に固定した製品を揺動させ、かつ振動
させるために、下部構造支持部材の第２の下部構造側の
加振アセンブリー取付パッドに取付けられた少なくとも
一つの加振アセンブリーを更に含む。加振テーブルアセ
ンブリー１０の加振アセンブリーは、励振及び衝撃応答
を加振テーブルアセンブリー１０のテーブル頂上プレー
トに与える任意の装置で良い。好ましくは、加振アセン
ブリーは空気作動式加振機であるが、他のタイプの加振
アセンブリーも本発明の範囲内である。加振テーブルア
センブリー１０は広汎な種類の加振アセンブリーを適応
させることができ、かつ異なる加振アセンブリーを同時
に適応させることもできる。
【００３３】挿入物（図示せず）を加振アセンブリー１
８と下部構造支持部材１６の第２の下部構造側６８との
間に取り外し可能に固定することができる。挿入物は、
好ましくは、加振テーブルアセンブリー１０の作動中、
加振アセンブリー１８の弾性を最適化し、加振テーブル
アセンブリー１０の低周波数応答を改善するシリコン材
料から構成される。挿入物、及び挿入物の加振アセンブ
リー１８との関係における作動は、本出願と同じ譲受人
に譲渡され、ここに援用される１９９８年１１月３日に
出願された米国特許出願第09/185,327号に記載されてい
る。
８と下部構造支持部材１６の第２の下部構造側６８との
間に取り外し可能に固定することができる。挿入物は、
好ましくは、加振テーブルアセンブリー１０の作動中、
加振アセンブリー１８の弾性を最適化し、加振テーブル
アセンブリー１０の低周波数応答を改善するシリコン材
料から構成される。挿入物、及び挿入物の加振アセンブ
リー１８との関係における作動は、本出願と同じ譲受人
に譲渡され、ここに援用される１９９８年１１月３日に
出願された米国特許出願第09/185,327号に記載されてい
る。
【００３４】低周波数範囲において最大加速度を達成す
ることは製品のテストにおいて重要である。図１０に示
すように、本発明の加振テーブルアセンブリー１０は、
低周波数の応答、特に、加振テーブルアセンブリー１０
のｚ軸方向の応答を増加させるために、減少した重量を
有する。線８０は本発明の加振テーブルアセンブリー１
０の低周波数応答を表し、一方、線８２は在来の加振テ
ーブルの応答を表す。最大加速度レベルが、ｘ軸方向、
ｙ軸方向、ｚ軸方向の６つの方向で実現された。その
上、ｘ軸方向及びｙ軸方向の加速度レベルをｚ軸方向に
対して増加させた。
ることは製品のテストにおいて重要である。図１０に示
すように、本発明の加振テーブルアセンブリー１０は、
低周波数の応答、特に、加振テーブルアセンブリー１０
のｚ軸方向の応答を増加させるために、減少した重量を
有する。線８０は本発明の加振テーブルアセンブリー１
０の低周波数応答を表し、一方、線８２は在来の加振テ
ーブルの応答を表す。最大加速度レベルが、ｘ軸方向、
ｙ軸方向、ｚ軸方向の６つの方向で実現された。その
上、ｘ軸方向及びｙ軸方向の加速度レベルをｚ軸方向に
対して増加させた。
【００３５】加振テーブルアセンブリー１０は更に、加
速度計を直接、テーブル頂上プレート１２に取付けてい
る。加速度計をテーブル頂上プレート１２に直接的に取
付けることによって、加速度レベルのより正確な示数を
得ることができ、テーブル頂上プレート１２に取付けた
製品のより良いテストを提供する。その上、本発明の加
振テーブルアセンブリー１０では、加速度計は、加速度
レベルに関する正確な情報を依然として与えながら、製
品の取付、テスト及び取り外しから保護される。本発明
の加振テーブルアセンブリー１０は既存の試験室の中で
交換することができる。従って、加振テーブルアセンブ
リー１０を、新しい試験室を購入する出費を被ることな
く、使用者用のキットの形態で入手することができる。
速度計を直接、テーブル頂上プレート１２に取付けてい
る。加速度計をテーブル頂上プレート１２に直接的に取
付けることによって、加速度レベルのより正確な示数を
得ることができ、テーブル頂上プレート１２に取付けた
製品のより良いテストを提供する。その上、本発明の加
振テーブルアセンブリー１０では、加速度計は、加速度
レベルに関する正確な情報を依然として与えながら、製
品の取付、テスト及び取り外しから保護される。本発明
の加振テーブルアセンブリー１０は既存の試験室の中で
交換することができる。従って、加振テーブルアセンブ
リー１０を、新しい試験室を購入する出費を被ることな
く、使用者用のキットの形態で入手することができる。
【００３６】
【発明の効果】本発明の加振テーブルアセンブリー１０
は、特に、高加速度寿命試験テスト（ＨＡＬＴ（登録商
標））及び高加速度応力選別テスト（ＨＡＳＳ（登録商
標））の両方の製品試験に有益である。ＨＡＬＴ（登録
商標）テストは、製品の製造に先立って試作製品の何処
が壊れるかを限定するための試作製品に関する技術段階
の試験である。ＨＡＳＳ（登録商標）は、どの製品ユニ
ットが消費者に届く前に壊れるかを限定するための、全
ての製造製品ユニットに実施される製造段階の選別試験
である。これら両方のタイプのテストでは、低周波数範
囲の最大加速度レベルが重要である。本発明の加振テー
ブルアセンブリー１０は製品テストを通して低周波数範
囲において最大加速度レベルを達成した。
は、特に、高加速度寿命試験テスト（ＨＡＬＴ（登録商
標））及び高加速度応力選別テスト（ＨＡＳＳ（登録商
標））の両方の製品試験に有益である。ＨＡＬＴ（登録
商標）テストは、製品の製造に先立って試作製品の何処
が壊れるかを限定するための試作製品に関する技術段階
の試験である。ＨＡＳＳ（登録商標）は、どの製品ユニ
ットが消費者に届く前に壊れるかを限定するための、全
ての製造製品ユニットに実施される製造段階の選別試験
である。これら両方のタイプのテストでは、低周波数範
囲の最大加速度レベルが重要である。本発明の加振テー
ブルアセンブリー１０は製品テストを通して低周波数範
囲において最大加速度レベルを達成した。
【００３７】以上の本発明の例示的な説明及び例示とな
る好ましい実施形態を、教示された種々の変更及び別の
実施形態を伴って、図面により説明し、詳細に記載し
た。本発明は示され、説明され、図示されたが、当業者
には本発明の真の精神及び範囲から逸脱することなく、
形態及び詳細における均等な変更ができ、そして、本発
明の範囲は従来技術によって除外されるものを除き請求
の範囲のみによって限定されることが理解されよう。そ
の上、ここで開示したように、本発明をここで開示した
特定の要素を欠いて適当に実施しても良い。
る好ましい実施形態を、教示された種々の変更及び別の
実施形態を伴って、図面により説明し、詳細に記載し
た。本発明は示され、説明され、図示されたが、当業者
には本発明の真の精神及び範囲から逸脱することなく、
形態及び詳細における均等な変更ができ、そして、本発
明の範囲は従来技術によって除外されるものを除き請求
の範囲のみによって限定されることが理解されよう。そ
の上、ここで開示したように、本発明をここで開示した
特定の要素を欠いて適当に実施しても良い。
【図１】図１は、本発明によって構成された、テーブル
頂上プレート、絶縁層及び下部構造部を有する加振テー
ブルアセンブリーを示す斜視図である。
頂上プレート、絶縁層及び下部構造部を有する加振テー
ブルアセンブリーを示す斜視図である。
【図２】図２は本発明によって構成された図１の加振テ
ーブルアセンブリーを示す別の斜視図である。
ーブルアセンブリーを示す別の斜視図である。
【図３】図３は、加振テーブルアセンブリーのテーブル
頂上プレートから絶縁層、下部構造支持部材及び加振ア
センブリーを取り除いた、本発明によって構成された図
１の加振テーブルアセンブリーのテーブル頂上プレート
を示す底面図である。
頂上プレートから絶縁層、下部構造支持部材及び加振ア
センブリーを取り除いた、本発明によって構成された図
１の加振テーブルアセンブリーのテーブル頂上プレート
を示す底面図である。
【図４】図４は、本発明によって構成された、テーブル
頂上プレートに製品を取り外し可能に固定するための、
テーブル頂上プレートに形成されたＴ形スロットを有す
る加振テーブルアセンブリーの別の実施形態を示す断面
図である。
頂上プレートに製品を取り外し可能に固定するための、
テーブル頂上プレートに形成されたＴ形スロットを有す
る加振テーブルアセンブリーの別の実施形態を示す断面
図である。
【図５】図５は、本発明によって構成された、Ｔ形スロ
ット内に取り外し可能、かつ摺動可能に受け入れられる
Ｔ字形取付部品を示す側面図である。
ット内に取り外し可能、かつ摺動可能に受け入れられる
Ｔ字形取付部品を示す側面図である。
【図６】図６は本発明によって構成された図５のＴ字形
取付部品を示す平面図である。
取付部品を示す平面図である。
【図７】図７は、本発明によって構成された、加振テー
ブルアセンブリーのテーブル頂上プレートに取付けた絶
縁層を有する図１の加振テーブルアセンブリーを示す底
面図である。
ブルアセンブリーのテーブル頂上プレートに取付けた絶
縁層を有する図１の加振テーブルアセンブリーを示す底
面図である。
【図８】図８は、本発明によって構成された、加振テー
ブルアセンブリーの絶縁層に取付けた下部構造支持部材
を有する図１の加振テーブルアセンブリーを示す底面図
である。
ブルアセンブリーの絶縁層に取付けた下部構造支持部材
を有する図１の加振テーブルアセンブリーを示す底面図
である。
【図９】図９は、本発明によって構成された、下部構造
支持部材に取付けた加振アセンブリーを有する図１の加
振テーブルアセンブリーを示す底面図である。
支持部材に取付けた加振アセンブリーを有する図１の加
振テーブルアセンブリーを示す底面図である。
【図１０】図１０は、本発明によって構成された加振テ
ーブルアセンブリーの周波数に対する加速度レベルを、
従来技術の在来の加振テーブルアセンブリーと比較して
示すグラフである。
ーブルアセンブリーの周波数に対する加速度レベルを、
従来技術の在来の加振テーブルアセンブリーと比較して
示すグラフである。
【図１１】図１１は、本発明によって構成された図１の
加振テーブルアセンブリーを有する試験室を示す斜視図
である。
加振テーブルアセンブリーを有する試験室を示す斜視図
である。
１０ 加振テーブルアセンブリー １１ 試験室 １２ テーブル頂上プレート １４ 絶縁層 １６ 下部構造支持部材 １８ 加振アセンブリー ２８ Ｔ形スロット ３０ Ｔ字形取付部品 ３８ 断熱層 ４２ 加速度計ブロック
Claims (24)
- 【請求項１】 試験室用加振テーブルアセンブリーにお
いて、試験室は包囲体を構成する側壁を有し、包囲体は
テストすべき製品を受け入れ、前記加振テーブルアセン
ブリーが、 第１の側及び第２の側を含み、製品を第１の側に取外し
可能に固定することができるテーブル頂上プレートと、 第１の側及び第２の側を含み、その第１の側をテーブル
頂上プレートの第２の側に固定された絶縁層と、 第１の側及び第２の側を含み、その第１の側を前記絶縁
層の第２の側に固定された下部構造支持部材と、 前記下部構造支持部材の第２の側に取付けられた少なく
とも１つの加振アセンブリーと、を有する、前記加振テ
ーブルアセンブリー。 - 【請求項２】 テーブル手段の第２の側に取付けられた
第１の加振手段と、テーブル手段の第２の側に取付けら
れた第２の加振手段と、を更に有し、前記第１の加振手
段が前記第２の加振手段と異なって構成されている、請
求項１に記載の加振テーブルアセンブリー。 - 【請求項３】 テーブル頂上プレートの第１の側が少な
くとも１つの溝を含む、請求項１に記載の加振テーブル
アセンブリー。 - 【請求項４】 製品をテーブル頂上プレートの第１の側
に取外し可能に固定するための手段を更に有する、請求
項１に記載の加振テーブルアセンブリー。 - 【請求項５】 前記固定するための手段がＴ字形取付部
品を摺動可能に受け入れるＴ形スロットと、Ｔ形スロッ
トに沿って移動することができるＴ字形取付部品とを含
み、該Ｔ字形取付部品を、Ｔ形スロットに対するＴ字形
取付部品の移動を抑えるためにＴ形スロット内に固定す
ることができる、請求項４に記載の加振テーブルアセン
ブリー。 - 【請求項６】 テーブル頂上プレートの第２の側が少な
くとも１つの切取り部分を含む、請求項１に記載の加振
テーブルアセンブリー。 - 【請求項７】 テーブル頂上プレートがテーブル頂上プ
レートの第２の側に加速度計ブロックを含み、加速度計
ブロックに取付けられた少なくとも１つの加速度計を更
に有する、請求項１に記載の加振テーブルアセンブリ
ー。 - 【請求項８】 試験室内で交換可能な加振テーブルアセ
ンブリーを更に有する、請求項１に記載の加振テーブル
アセンブリー。 - 【請求項９】 テーブル頂上プレートの第２の側に固定
された断熱層を更に有し、該断熱層は絶縁層から試験室
の側壁まで延びる、請求項１に記載の加振テーブルアセ
ンブリー。 - 【請求項１０】 下部構造支持部材が少なくとも１つの
切取り部分を有する、請求項１に記載の加振テーブルア
センブリー。 - 【請求項１１】 下部構造支持部材が、各加振アセンブ
リーを取付けるための少なくとも１つの加振アセンブリ
ーパッドを有する、請求項１に記載の加振テーブルアセ
ンブリー。 - 【請求項１２】 加振アセンブリーを方向付けするため
の、加振アセンブリーパッドのアライメントピンを更に
有する、請求項１１に記載の加振テーブルアセンブリ
ー。 - 【請求項１３】 下部構造支持部材と少なくとも１つの
加振アセンブリーとの間に取り外し可能に固定された交
換可能な挿入装置を更に有し、該挿入装置は加振テーブ
ルアセンブリーの所望の衝撃応答定数を達成するために
所定のバネ定数を有する、請求項１に記載の加振テーブ
ルアセンブリー。 - 【請求項１４】 第１の側及び第２の側を有するテーブ
ル頂上プレートを用意する段階と、 テーブル頂上プレートの第２の側からテーブル頂上プレ
ートの一部を取り除くことによってテーブル頂上プレー
トの重量を減じる段階と、 第１の側及び第２の側を有する下部構造支持部材を用意
する段階と、 下部構造支持部材の一部を取り除くことによって下部構
造支持部材の重量を減じる段階と、 下部構造支持部材をテーブル頂上プレートの第２の側に
取付ける段階と、 少なくとも１つの加振アセンブリーを下部構造支持部材
の第２の側に取付ける段階と、を有する低周波数範囲に
おいて加振テーブルアセンブリーの加速度レベルを増加
させる方法。 - 【請求項１５】 テーブル頂上プレートの第１の側に溝
を形成することによってテーブル頂上プレートの重量を
減じる段階を更に有する、請求項１４に記載の方法。 - 【請求項１６】 テーブル頂上プレートと下部構造支持
部材との間に絶縁層を取付ける段階を更に有する、請求
項１４に記載の方法。 - 【請求項１７】 第１の加振手段をテーブル手段の第２
の側に取付ける段階と、第２の加振手段をテーブル手段
の第２の側に取付ける段階と、第１の加振手段を第２の
加振手段と異なるように構成する段階と、第１の加振手
段及び第２の加振手段を作動させ、それによりテーブル
手段を加振する段階と、を更に有する、請求項１４に記
載の方法。 - 【請求項１８】 試験すべき製品を取付けるための第１
の側及び実質的に第１の側に向い合った第２の側を有す
るテーブル手段と、 テーブル手段の第２の側に取付けられた第１の加振手段
と、 テーブル手段の第２の側に取付けられた第２の加振手段
と、を有し、 第１の加振手段が第２の加振手段と異なるように構成さ
れる、試験室用加振テーブルアセンブリー。 - 【請求項１９】 第１の加振手段が空気式往復運動ピス
トン加振アセンブリーである、請求項１８に記載の加振
テーブルアセンブリー。 - 【請求項２０】 第２の加振手段が、自由に動かすこと
ができるプログラマー（programmer）を有する双ピスト
ン空気式ランダム振動加振アセンブリーである、請求項
１８に記載の加振テーブルアセンブリー。 - 【請求項２１】 少なくとも１つの追加の加振手段を更
に有し、その各々の追加の加振手段が、第１の加振手
段、第２の加振手段、及び他の追加の加振手段各々とは
異なるように構成される、請求項１８に記載の加振テー
ブルアセンブリー。 - 【請求項２２】 テーブル手段と少なくとも１つの加振
アセンブリーとの間に取り外し可能に固定された交換可
能な挿入装置を更に有し、該挿入装置は加振テーブルア
センブリーの所望の衝撃応答定数を達成するために所定
のバネ定数を有する、請求項１８に記載の加振テーブル
アセンブリー。 - 【請求項２３】 第１の側及び第２の側を有するテーブ
ル手段を用意する段階と、 テーブル手段の第２の側に第１の加振手段を取付ける段
階と、 テーブル手段の第２の側に第２の加振手段を取付け、第
１の加振手段が第２の加振手段と異なるように構成され
る段階と、 第１の加振手段及び第２の加振手段を作動させ、それに
よりテーブル手段を加振する段階と、を有する加振テー
ブルアセンブリーを加振する方法。 - 【請求項２４】 テーブル手段の第２の側に少なくとも
１つの追加の加振手段を取付ける段階を更に有し、各追
加の加振手段が、第１の加振手段、第２の加振手段、及
び他の追加の加振手段各々とは異なるように構成され
る、請求項２３に記載の方法。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/261,090 US6112596A (en) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | Shaker table assembly for a test chamber |
| US09/310443 | 1999-05-12 | ||
| US09/310,443 US6105433A (en) | 1999-03-02 | 1999-05-12 | Shaker table assembly for a reliability test chamber utilizing different types of vibrator assemblies |
| US09/261090 | 1999-05-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000258289A true JP2000258289A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=26948391
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11263086A Pending JP2000258289A (ja) | 1999-03-02 | 1999-09-17 | 試験室用加振テーブルアセンブリー |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6105433A (ja) |
| JP (1) | JP2000258289A (ja) |
| AU (1) | AU3710900A (ja) |
| TW (1) | TW421717B (ja) |
| WO (1) | WO2000051749A1 (ja) |
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