JP2000251477A - 半導体メモリ - Google Patents
半導体メモリInfo
- Publication number
- JP2000251477A JP2000251477A JP11050018A JP5001899A JP2000251477A JP 2000251477 A JP2000251477 A JP 2000251477A JP 11050018 A JP11050018 A JP 11050018A JP 5001899 A JP5001899 A JP 5001899A JP 2000251477 A JP2000251477 A JP 2000251477A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bit line
- line pair
- potential
- read
- precharge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 書き込み、読み出し後にプリチャージ電源か
らの電流を流さない低消費電力半導体メモリを提供す
る。 【解決手段】 書き込み後はイコライズ回路のみにより
ビット線対を等電位化し、読み出し後はカウンタでセッ
トされた回数まではイコライズ回路のみによりビット線
対を等電位化する半導体メモリ。書き込み後はプリチャ
ージ電源からの電流は流れず、読み出し後のプリチャー
ジ電源からの電流を必要最小限に押え低消費電力メモリ
を実現できる。
らの電流を流さない低消費電力半導体メモリを提供す
る。 【解決手段】 書き込み後はイコライズ回路のみにより
ビット線対を等電位化し、読み出し後はカウンタでセッ
トされた回数まではイコライズ回路のみによりビット線
対を等電位化する半導体メモリ。書き込み後はプリチャ
ージ電源からの電流は流れず、読み出し後のプリチャー
ジ電源からの電流を必要最小限に押え低消費電力メモリ
を実現できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はビット線対のイコラ
イズ、プリチャージを行なう半導体メモリに関する。
イズ、プリチャージを行なう半導体メモリに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体メモリでは読み出し及び書
き込み後、ビット線対を等電位化させるイコライズおよ
び電源電圧VDD(以下VDDとする。)に上げるプリ
チャージを同時に行なっていた。そのためプリチャージ
時にビット線対の電位をVDDに上げるための電流がプ
リチャージ電源から流れる。
き込み後、ビット線対を等電位化させるイコライズおよ
び電源電圧VDD(以下VDDとする。)に上げるプリ
チャージを同時に行なっていた。そのためプリチャージ
時にビット線対の電位をVDDに上げるための電流がプ
リチャージ電源から流れる。
【0003】この課題を解決するため図3に示すように
プリチャージ電源の電圧をVDD/2にした回路が用い
られた。この技術によりプリチャージ時にはビット線対
はVDD/2までしか上がらないことにより低消費電力
化が可能となった。
プリチャージ電源の電圧をVDD/2にした回路が用い
られた。この技術によりプリチャージ時にはビット線対
はVDD/2までしか上がらないことにより低消費電力
化が可能となった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成によるとイコライズおよびプリチャージを同時に行な
うのでビット線対の電位をVDD/2に上げるための電
流がプリチャージ電源から流れる。本発明は上記従来の
問題点を解決するものでプリチャージ電源からの電流を
減少させることにより低消費電力の半導体メモリを実現
することを目的とする。
成によるとイコライズおよびプリチャージを同時に行な
うのでビット線対の電位をVDD/2に上げるための電
流がプリチャージ電源から流れる。本発明は上記従来の
問題点を解決するものでプリチャージ電源からの電流を
減少させることにより低消費電力の半導体メモリを実現
することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の半導体メモリはイコライズ回路のみによりビ
ット線対を等電位化する。書き込み後はイコライズ回路
のみによりビット線対をVDD/2に等電位化し、書き
込み後の読み出しについてはカウンタにセットされた読
み出しサイクルまではイコライズのみによるビット線対
の等電位化を行ない、それ以降は電源電圧の1/2より
小さい電位(以降(VDD/2−α)とする。)にプリ
チャージを行なう構成をとる。この構成によりプリチャ
ージのプリチャージ電源からの電流を削減し低消費電力
化を図る。
に本発明の半導体メモリはイコライズ回路のみによりビ
ット線対を等電位化する。書き込み後はイコライズ回路
のみによりビット線対をVDD/2に等電位化し、書き
込み後の読み出しについてはカウンタにセットされた読
み出しサイクルまではイコライズのみによるビット線対
の等電位化を行ない、それ以降は電源電圧の1/2より
小さい電位(以降(VDD/2−α)とする。)にプリ
チャージを行なう構成をとる。この構成によりプリチャ
ージのプリチャージ電源からの電流を削減し低消費電力
化を図る。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施形態における
半導体メモリの構成図である。1はデータを保持するメ
モリセル、2はビット線対(BL4、/BL5)を等電
位化するイコライズトランジスタ、6は書き込み後にビ
ット線対(BL4、/BL5)をVDD/2にプリチャ
ージするためのプリチャージ電源、9は読み出し後にビ
ット線対(BL4、/BL5)をVDD/2にプリチャ
ージするためのプリチャージ電源、11、12はそれぞ
れ読み出しサイクル数をカウントするカウンタである。
書き込み用プリチャージ電源6がQprw7を介してビ
ット線対(BL4、/BL5)に、読み出し用プリチャ
ージ電源9がQprr10を介してビット線対(BL
4、/BL5)に接続されている。Qprw7のゲート
にはPRW8が、Qprr10にはカウンタA11とカ
ウンタB12のOR信号とPRread13のNAND
信号が接続されている。Qeq2はビット線対(BL
4、/BL5)に接続されており、Qeq2にEQ3が
入力している。メモリセル1はビット線対(BL4、/
BL5)に、読み出し書き込み回路17はカラムセレク
タ15を介してビット線対に接続されている。
半導体メモリの構成図である。1はデータを保持するメ
モリセル、2はビット線対(BL4、/BL5)を等電
位化するイコライズトランジスタ、6は書き込み後にビ
ット線対(BL4、/BL5)をVDD/2にプリチャ
ージするためのプリチャージ電源、9は読み出し後にビ
ット線対(BL4、/BL5)をVDD/2にプリチャ
ージするためのプリチャージ電源、11、12はそれぞ
れ読み出しサイクル数をカウントするカウンタである。
書き込み用プリチャージ電源6がQprw7を介してビ
ット線対(BL4、/BL5)に、読み出し用プリチャ
ージ電源9がQprr10を介してビット線対(BL
4、/BL5)に接続されている。Qprw7のゲート
にはPRW8が、Qprr10にはカウンタA11とカ
ウンタB12のOR信号とPRread13のNAND
信号が接続されている。Qeq2はビット線対(BL
4、/BL5)に接続されており、Qeq2にEQ3が
入力している。メモリセル1はビット線対(BL4、/
BL5)に、読み出し書き込み回路17はカラムセレク
タ15を介してビット線対に接続されている。
【0007】図2は動作時の図1におけるビット線対
(BL4、/BL5)および制御信号の電位である。
(1)及び(2)は書き込み期間、(3)から(14)
までは読み出し期間であり、CLKは書き込み及び読み
出し動作のサイクルを表す。WEがHighの期間は書
き込み期間、WEがLの期間は読み出し期間である。C
TAはカウンタA11の出力、CTBはカウンタB12
の出力である。CLKがLowのときEQはHighに
なり(3)から(14)の読み出しサイクル期間はCL
KがLowのときにPRreadがHighになる。
(BL4、/BL5)および制御信号の電位である。
(1)及び(2)は書き込み期間、(3)から(14)
までは読み出し期間であり、CLKは書き込み及び読み
出し動作のサイクルを表す。WEがHighの期間は書
き込み期間、WEがLの期間は読み出し期間である。C
TAはカウンタA11の出力、CTBはカウンタB12
の出力である。CLKがLowのときEQはHighに
なり(3)から(14)の読み出しサイクル期間はCL
KがLowのときにPRreadがHighになる。
【0008】書き込み時WEがHighになり(1)の
期間において読み出し書き込み回路17からデータが入
力されビット線対(BL4、/BL5)の一方の電位が
VDDに他方の電位がVSSになる。(2)の期間でE
Q3が活性化し、Qeq2によってビット線対(BL
4、/BL5)が導通しVDD/2に等電位化される。
このときPRWは活性化せず、ビット線対間での電荷の
移動のみによりビット線対を等電位化するので書き込み
用プリチャージ電源6からビット線対(BL4、/BL
5)に電流は流れない。完全にビット線対(BL4、/
BL5)を等電位化した後リーク電流を防ぐためPRW
8が活性化し書き込み用プリチャージ電源6に接続され
VDD/2に安定する。
期間において読み出し書き込み回路17からデータが入
力されビット線対(BL4、/BL5)の一方の電位が
VDDに他方の電位がVSSになる。(2)の期間でE
Q3が活性化し、Qeq2によってビット線対(BL
4、/BL5)が導通しVDD/2に等電位化される。
このときPRWは活性化せず、ビット線対間での電荷の
移動のみによりビット線対を等電位化するので書き込み
用プリチャージ電源6からビット線対(BL4、/BL
5)に電流は流れない。完全にビット線対(BL4、/
BL5)を等電位化した後リーク電流を防ぐためPRW
8が活性化し書き込み用プリチャージ電源6に接続され
VDD/2に安定する。
【0009】(3)から(10)の期間は書き込みが終
った後の読み出し及びプリチャージサイクルである。書
き込みが終った後ビット線対はVDD/2に等電位化さ
れている。この状態からWE信号がLowになり(3)
の読み出しが始まるとビット線対の一方の電位が下が
る。次に(4)でEQ信号がHighになりビット線対
のイコライズのみが行なわれ、ビット線対が等電位化さ
れる。このときVDD/2からβだけ電位が下がる。ま
た読み出し用プリチャージ電源からは電流が流れない。
(5)から(8)まで同様の動作を繰り返すことによっ
てビット線対の電位はVDD/2−3βまで下がる。カ
ウンタA11にWEの立ち下がりをトリガとして4回目
の読み出しサイクルで活性化する信号を出力するように
セットしておくと(9)のサイクルでCTA信号がHi
ghになる。これにより(10)においてPRRがLo
wになり読み出し用プリチャージトランジスタ10が導
通し、読み出し用プリチャージ電源からビット線対に電
流が流れビット線対の電位がVDD/2−αになる。た
だしα<4βである。このときカウンタA11を0にク
リアする。読み出しの毎サイクルVDD/2までプリチ
ャージする従来の半導体メモリでは4回までのプリチャ
ージに消費する電荷量は4Cβである(ここでCはビッ
ト線の容量である。)。これに対し本発明の4回目まで
の読み出しサイクルでのプリチャージに消費する電荷量
は(4β−α)Cである。よって読み出しの毎サイクル
でビット線対(BL4、/BL5)をVDD/2にプリ
チャージする場合にくらべてαCだけ電荷量を低減する
ことができる。
った後の読み出し及びプリチャージサイクルである。書
き込みが終った後ビット線対はVDD/2に等電位化さ
れている。この状態からWE信号がLowになり(3)
の読み出しが始まるとビット線対の一方の電位が下が
る。次に(4)でEQ信号がHighになりビット線対
のイコライズのみが行なわれ、ビット線対が等電位化さ
れる。このときVDD/2からβだけ電位が下がる。ま
た読み出し用プリチャージ電源からは電流が流れない。
(5)から(8)まで同様の動作を繰り返すことによっ
てビット線対の電位はVDD/2−3βまで下がる。カ
ウンタA11にWEの立ち下がりをトリガとして4回目
の読み出しサイクルで活性化する信号を出力するように
セットしておくと(9)のサイクルでCTA信号がHi
ghになる。これにより(10)においてPRRがLo
wになり読み出し用プリチャージトランジスタ10が導
通し、読み出し用プリチャージ電源からビット線対に電
流が流れビット線対の電位がVDD/2−αになる。た
だしα<4βである。このときカウンタA11を0にク
リアする。読み出しの毎サイクルVDD/2までプリチ
ャージする従来の半導体メモリでは4回までのプリチャ
ージに消費する電荷量は4Cβである(ここでCはビッ
ト線の容量である。)。これに対し本発明の4回目まで
の読み出しサイクルでのプリチャージに消費する電荷量
は(4β−α)Cである。よって読み出しの毎サイクル
でビット線対(BL4、/BL5)をVDD/2にプリ
チャージする場合にくらべてαCだけ電荷量を低減する
ことができる。
【0010】(11)から(14)は読み出し後のプリ
チャージが終った後さらに読み出しを続ける場合の動作
である。カウンタB12にPRRの立ち上がりをトリガ
として2回目の読み出しサイクルで活性化する信号を出
力するようにセットしておくと(13)のサイクルでC
TBがHighになる。これにより(14)においてP
RRがLowになり読み出し用プリチャージトランジス
タ10が導通し、読み出し用プリチャージ電源からビッ
ト線対に電流が流れビット線対の電位がVDD/2−α
になる。このときカウンタB12を0にクリアする。同
様に読み出しの毎サイクルVDD/2までプリチャージ
する従来の半導体メモリでは2回までのプリチャージに
消費する電荷量は2Cβである。これに対し本発明の2
回目までの読み出しサイクルでのプリチャージに消費す
る電荷量は2βCである。よって読み出しの毎サイクル
でビット線対をVDD/2にプリチャージする場合にく
らべてαCだけ電荷量を低減することができる。
チャージが終った後さらに読み出しを続ける場合の動作
である。カウンタB12にPRRの立ち上がりをトリガ
として2回目の読み出しサイクルで活性化する信号を出
力するようにセットしておくと(13)のサイクルでC
TBがHighになる。これにより(14)においてP
RRがLowになり読み出し用プリチャージトランジス
タ10が導通し、読み出し用プリチャージ電源からビッ
ト線対に電流が流れビット線対の電位がVDD/2−α
になる。このときカウンタB12を0にクリアする。同
様に読み出しの毎サイクルVDD/2までプリチャージ
する従来の半導体メモリでは2回までのプリチャージに
消費する電荷量は2Cβである。これに対し本発明の2
回目までの読み出しサイクルでのプリチャージに消費す
る電荷量は2βCである。よって読み出しの毎サイクル
でビット線対をVDD/2にプリチャージする場合にく
らべてαCだけ電荷量を低減することができる。
【0011】なお、書き込み用プリチャージ電源及び読
み出し用プリチャージ電源の電圧を電源電圧間の任意の
値に設定してもよい。
み出し用プリチャージ電源の電圧を電源電圧間の任意の
値に設定してもよい。
【0012】
【発明の効果】上述したように本発明によればプリチャ
ージ時の電流を削減し低消費電力の半導体メモリを実現
できる。
ージ時の電流を削減し低消費電力の半導体メモリを実現
できる。
【図1】本発明の一実施形態における回路図
【図2】本発明の一実施形態におけるタイミング図
【図3】従来のプリチャージ方法を示した回路図
1 メモリセル 2 イコライズトランジスタ 3 イコライズ信号 4 ビットライン 5 ビットライン 6 書き込み用プリチャージ電源 7 書き込み用プリチャージトランジスタ 8 書き込み用プリチャージ信号 9 読み出し用プリチャージ電源 10 読み出し用プリチャージトランジスタ 11 カウンタA 12 カウンタB 13 プリチャージ信号 14 プリチャージ信号 15 カラムセレクタ 16 カラムセレクト信号 17 読み出し書き込み回路
Claims (3)
- 【請求項1】 メモリセルとイコライズ回路とビット線
対を具備し、前記メモリセルと前記ビット線対を接続
し、前記イコライズ回路と前記ビット線対を接続し、前
記メモリセルの読み出し及び書き込みの後、前記イコラ
イズ回路のみにより前記ビット線対を等電位にすること
を特徴とする半導体メモリ。 - 【請求項2】 読み出し用プリチャージ電源回路と読み
出しサイクルを数えるカウンタを具備し、前記読み出し
用プリチャージ電源回路と前記ビット線対を接続し、書
き込み後イコライズ回路によりビット線対を電源電圧の
中間電位に等電位化し、読み出し後、カウンタにセット
された回数の読み出しサイクル期間中はイコライズ回路
のみによりビット線対を等電位にし、カウンタにセット
された回数の読み出し後、イコライズ回路および読み出
し用プリチャージ電源回路でビット線対の電位を前記中
間電位より小さい電位にプリチャージすることを特徴と
する請求項1記載の半導体メモリ。 - 【請求項3】 読み出し動作のプリチャージにおいて書
き込みプリチャージ後の読み出しサイクル数と読み出し
プリチャージ後の読み出しサイクル数が異なることを特
徴とする請求項2記載の半導体メモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11050018A JP2000251477A (ja) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | 半導体メモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11050018A JP2000251477A (ja) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | 半導体メモリ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000251477A true JP2000251477A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=12847269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11050018A Pending JP2000251477A (ja) | 1999-02-26 | 1999-02-26 | 半導体メモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000251477A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007066509A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Sony Computer Entertainment Inc | Sramのメモリシステムおよびその制御方法 |
-
1999
- 1999-02-26 JP JP11050018A patent/JP2000251477A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007066509A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Sony Computer Entertainment Inc | Sramのメモリシステムおよびその制御方法 |
JP4519112B2 (ja) * | 2005-09-01 | 2010-08-04 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | Sramのメモリシステムおよびその制御方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6721220B2 (en) | Bit line control and sense amplification for TCCT-based memory cells | |
US4785427A (en) | Differential bit line clamp | |
KR100228621B1 (ko) | 기록 주기동안 데이터의 변화에 따라 등화하는 열을 가지는 반도체 메모리 | |
US6373745B2 (en) | Semiconductor memory cell and semiconductor memory device | |
US3909631A (en) | Pre-charge voltage generating system | |
US5539691A (en) | Semiconductor memory device and method for reading and writing data therein | |
US8817562B2 (en) | Devices and methods for controlling memory cell pre-charge operations | |
CN105761747B (zh) | 静态随机存储器位线预充电路 | |
KR0184088B1 (ko) | 반도체기억장치 | |
US6337821B1 (en) | Dynamic random access memory having continuous data line equalization except at address translation during data reading | |
JP4532951B2 (ja) | 半導体集積回路の使用方法および半導体集積回路 | |
EP0499256A1 (en) | Semiconductor memory device | |
JPH03272087A (ja) | 半導体記憶装置 | |
EP1619690B1 (en) | Semiconductor memory device | |
JPS6383991A (ja) | スタテイツク型メモリ | |
JP2001084760A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2000251477A (ja) | 半導体メモリ | |
EP0199458B1 (en) | Memory circuit having an improved writing scheme | |
US6115308A (en) | Sense amplifier and method of using the same with pipelined read, restore and write operations | |
JP3256868B2 (ja) | スタティック形半導体メモリ | |
US6188601B1 (en) | Ferroelectric memory device having single bit line coupled to at least one memory cell | |
JP2001307479A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
CN115547383B (zh) | 一种存储电路及磁性随机存储器读关键电路 | |
US12080704B2 (en) | Memory cell array and method of operating same | |
JPH05234366A (ja) | 半導体記憶装置 |