JP2000243987A - 太陽電池装置およびその製造方法 - Google Patents

太陽電池装置およびその製造方法

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JP2000243987A
JP2000243987A JP11044429A JP4442999A JP2000243987A JP 2000243987 A JP2000243987 A JP 2000243987A JP 11044429 A JP11044429 A JP 11044429A JP 4442999 A JP4442999 A JP 4442999A JP 2000243987 A JP2000243987 A JP 2000243987A
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film
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Satoshi Nakayama
諭 中山
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 PIN型太陽電池装置において、透明酸化物
電極2とp型半導体層4間の界面調整層であるところの
シリコン窒化膜は、各層のイオンの相互拡散層として機
能するが、絶縁膜であるため、高照度下で抵抗性分とし
て特性を劣化させてしまう。 【解決手段】 絶縁性基板1上に透明酸化物電極2のパ
ターンを形成した後に表面処理を行い、該透明酸化物電
極2表面を化学的に安定化させてから、発電層、金属電
極8を順次積層する事を特徴とする太陽電池装置を形成
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は太陽電池およびその
製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図7に従来の太陽電池装置の断面構造図
を示す。透明酸化物電極2は、絶縁性基板1から入射す
る光をp型半導体層4と真性半導体層6とn型半導体層
7に導き、かつp型半導体層4とのオーム性接触を保つ
ための電極である。調整層であるシリコンチッ化膜3
は、透明酸化物電極2とp型半導体層4に混入するイオ
ンの相互拡散を抑制する為の絶縁層である。
【0003】p型半導体層4は、真性半導体層6で生成
された電荷担体を透明酸化物電極2に導くための半導体
層である。バッファー層5は、p型不純物による禁制帯
幅の狭小化を防ぐための層である。真性半導体層6は、
光照射によって電荷担体となる電子および正孔を生成す
るための半導体層である。n型半導体層7は、真性半導
体層6で生成された電荷担体を金属電極8へ導くための
半導体層である。
【0004】図7を用いて従来の太陽電池装置の製造方
法を説明する。絶縁性基板1に透明酸化物電極2として
インジウムスズ酸化物(以下ITOと記載する。)をス
パッタ(真空蒸着)法にて成膜し、太陽電池装置を作る
領域に透明酸化物電極が残るように感光性樹脂を塗布
し、所定のマスクを用いて露光及び現像処理を行う。次
に、この感光性樹脂をエッチングマスクとして反応性イ
オンエッチング法により透明酸化物電極2を得る。
【0005】その後、感光性樹脂を除去してから、プラ
ズマCVD(化学気相体積)法により窒素、モノシラン
(SiH4)を原料ガスとしてシリコン窒化膜3を形成
する。ここで、シリコン窒化膜3の代わりにシリコン酸
化膜を用いても良い。次に、連続してp型半導体層4を
同法により原料ガスとしてモノシラン(SiH4)およ
びジボラン(B2H6)を用いて形成する。この時、同
時にメタンガス(CH4)を導入し、p型半導体層4の
炭化珪素化を行い、禁制帯幅の狭小化を防ぎ変換効率の
低下を防止する。引き続き、バッファー層5をモノシラ
ン(SiH4)及びメタン(CH4)を用いてプラズマ
CVD法により堆積する。次に、真性半導体層6を原料
ガスとしてモノシラン(SiH4 )、水素(H2)を用
いてプラズマCVD法により形成する。さらに、n型半
導体層7を原料ガスとしてモノシラン(SiH4 )及
びホスフィン(PH3 )を用いてプラズマCVD法に
より形成する。その後、スパッタ法を用いて金属電極8
を形成する。ここで用いる、金属電極は反射率60%以
上の材質であり、チタン(Ti)、2層Ti/アルミニ
ウム(Al)構造、Al、モリブデン(Mo)、2層M
o/Al、クロム(Cr)、白金(Pt)、金(Au)
などを用いる。
【0006】次に、感光性樹脂を塗布し、所定のマスク
を用いて露光および現像処理を行い、太陽電池装置を形
成する領域に感光性樹脂を残存させる。この感光性樹脂
をエッチングマスクとして金属電極8、n型半導体層
7、真性半導体層6、バッファー層5及びp型半導体層
4を反応性イオンエッチング法により除去し、太陽電池
装置を形成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】図7の従来の方法によ
り形成した高効率の太陽電池装置には、透明酸化物電極
2とp型半導体層4の界面に界面調整の為の調整層であ
るところのシリコン窒化膜3やシリコン酸化膜が必要で
あった。つまり、透明酸化物電極2中のインジウムや酸
素原子と、窓層であるp型半導体層に混入したボロンが
太陽電池装置の製造プロセス中の加熱処理で界面層を境
に相互拡散し、電気特性の低下を引き起こす現象を抑制
する為に、バリア層として導入していた。つまり、酸素
イオンがITOから移動する事で透明酸化物電極膜2の
表面抵抗が増大し、p型半導体層4からボロンが移動す
る事で、特性変動が起こす。
【0008】前記イオンの相互拡散を抑えるためのシリ
コン窒化膜3の厚みは、10から20nmで十分である
が、高照度の光が照射されて太陽電池装置に高電流が流
れる場合、シリコン窒化膜3は膜抵抗が高いため、電流
値特性が悪化する。
【0009】また、太陽電池の発電層に用いるアモルフ
ァスシリコン層は、その禁制帯幅を広げ、欠陥の少ない
緻密な膜を得るために、CVD成膜温度を最低でも15
0度以上に加熱する必要がある。また、通常太陽電池装
置の初期特性への復元を目的として、素子形成後に10
0度前後で約20分間熱処理を行う。このように、前記
発電層の成膜温度や素子形成後の熱処理工程などを行っ
ても、透明酸化物電極2とp型半導体層4の界面付近の
相互イオン拡散を抑える事ができ、しかも高抵抗膜であ
るバリア層が太陽電池装置に挟まれていない事が望まし
い。
【0010】本発明の目的は、前記欠点を除去すること
により、電流値損失を少なくした太陽電池装置およびそ
の製造方法を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の太陽電池装置とその製造方法は、下記記載の手
段を採用する。
【0012】絶縁性基板1上に透明酸化物電極2のパタ
ーンを形成した後に表面処理を行い、該透明酸化物電極
2表面を化学的に安定化させてから、発電層、金属電極
8を順次積層する事を特徴とする太陽電池装置を形成す
る。
【0013】透明酸化物電極2の表面処理法は、水分や
残留イオンの吸着材として知られる、ゲッター膜10を
透明酸化物電極2上に成膜し、加熱処理してからゲッタ
ー膜10を除去する。つぎに膜表面を酸素プラズマ処理
して、順次発電層と金属電極8を形成する工程とを有す
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図9を用いて本発明の最適
な実施の形態について説明する。図9に本発明の太陽電
池を組み込んだ太陽電池時計の断面図を示す。風防ガラ
ス31を透過して入射した光を採光して太陽光発電を行
えるように、太陽電池を配設する。前記太陽電池時計
は、ムーブメント35と対向する透過性の文字盤33に
太陽電池34を係着し、風防ガラス31、文字盤33を
透過した光を太陽電池34に当て、光電変換を行い時計
を駆動させることができる。太陽電池34は文字盤33
またはムーブメント35枠に係着し固定したり、文字盤
33の裏側に直接太陽電池を作り込んで使用する。
【0015】また、風防ガラス31と対向する文字盤3
3に太陽電池34を配設して風防ガラス31を透過した
光を利用して光電変換を行い時計を駆動させてもよい。
【0016】つぎに、図6、7を用いて本発明の最適な
実施の形態について説明する。 (太陽電池装置の構造:図6)図6に示すように、絶縁
性基板1上に、下部電極として透明酸化物電極(IT
O)2を設け、該透明酸化物電極2の表面を安定化させ
た後、該表面処理層11上に、発電層としてp型半導体
層4とバッファー層5と真性半導体層6とn型半導体層
7とを順次設け、n型半導体層7の上に上部電極として
金属電極8とを備える。
【0017】図6に示す透明酸化物電極2は、絶縁性基
板1から入射する光をp型半導体層4と真性半導体層6
とn型半導体層7に導き、かつp型半導体層4とのオー
ム性接触を保つための透明酸化物電極2である。表面処
理層11は、透明酸化物電極膜2の表面を化学的に安定
化させた層である。p型半導体層4は、真性半導体層6
生成された電荷担体を透明酸化物電極2に導くための半
導体層である。バッファー層5は、p型不純物による禁
制帯幅の狭小化を防ぐために導入している。真性半導体
層6は、光照射によって電荷担体となる電子及び正孔を
生成するための半導体層である。n型半導体層7は、真
性半導体層6で生成された電荷担体を金属電極8に導く
ための半導体層である。
【0018】従来法で形成した太陽電池装置を図7に示
す。図7に示すように、透明酸化物電極2と発電層であ
るp型半導体層4界面でのイオン拡散を抑えるために、
界面調整のための調整層であるところのシリコン窒化膜
3やシリコン酸化膜を挿入していた。しかし、図6に示
すように、本発明により形成する太陽電池装置はシリコ
ン窒化膜を用いていないが、その界面が非常に安定であ
るので、低照度、高照度特性ともに良好な太陽電池装置
を提供する事ができる。
【0019】つぎに、前記太陽電池装置の製造方法を示
す。絶縁性基板1上に形成する透明酸化物電極2である
ITO膜の抵抗が最小値になるように酸素流量を設定し
膜を形成する。その後スパッタリング法にてゲッター膜
10であるチタンを連続成膜し、加熱処理を行いITO
表面の酸素イオンをチタン膜に移動させる。電極表面の
酸素イオンが除かれるので、見かけ上電極の界面抵抗が
増大する。次に反応性ドライエッチング法にて、チタン
を除去し、そのまま真空中で加熱しながら酸素プラズマ
で電極表面を処理し、表面処理層11を形成する。
【0020】続けて、CVD法によりp型半導体層4、
バッファー層5、真性半導体層6、n型半導体層7を順
次積層する。このように、一連の作業を大気暴露せず
に、真空中で行うので、電極の自然酸化による表面改質
や、水分吸着を起こさず、安定した界面を有する太陽電
池装置を作成する事ができる。また、電極表面が安定化
するので、p型半導体層4中のボロンイオンの拡散も併
せて最小限に抑える事ができる。
【0021】このように界面を安定化させてから発電層
を成膜すると電流損失の少ない太陽電池装置を作成する
事ができる。
【0022】
【実施例】(実施例1)時計に本発明の太陽電池を配設
した場合の事例を図9を用いて説明する。図9に示すよ
うに、ムーブメントと対向する透光性の文字盤33に太
陽電池34を配設して風防ガラス31と文字盤33を透
過した光を利用して光電変換を行い時計を駆動させる。
文字盤33に対向する面のムーブメント35枠に太陽電
池34を係着したり、ムーブメント35の対向する面の
文字盤33にを係着したり、文字盤33を基板として太
陽電池34を直接作り込んで使用してもよい。
【0023】また、風防ガラス31に対向する面の文字
盤33上に太陽電池34を係着してもよい。何れの方法
も、太陽電池とムーブメントとの接続をリード線で行
い、ムーブメント35に配設した2次電池に蓄電し、時
計を駆動する。
【0024】(実施例2)以下、図1〜6を用いて本発
明の太陽電池装置の製造方法を説明する。
【0025】(太陽電池装置の製造方法:図1〜図6)
以下、本発明の最適な実施の形態の製造方法について図
1〜図6を用いて説明する。まず、図1に示すように、
絶縁性基板1上に過剰の酸素ガスを添加ガスにAr(8
0sccm)と酸素(1sccm)を用い、反応室圧力
を5mTorrとし、200度に加熱しながら1kWで
DCマグネトロンスパッタリング法にて、膜厚さ900
nmのITOを成膜する。次に、ITO表面に膜厚2.
3μmの感光性樹脂9を回転塗布法により塗布する。そ
の後、透明酸化物電極2を形成する目的で、所定のマス
クを用いて露光現像処理を行って、この目的の感光性樹
脂9のパターンを形成する。その後、図2に示すように
この感光性樹脂9をエッチングマスクとして、ITOを
ヨウ化水素(HI)とアルゴン(Ar)を原料ガスとし
て反応性ドライエッチング法にてエッチングしてから、
感光性樹脂9を除去する。
【0026】続けて、図3に示すように、室温で添加ガ
スにアルゴン(80sccm)を用い、反応室圧力を5
mTorrとし、3kwで、チタン(Ti)をDCスパ
ッタリング法で200nm堆積させてから、100度で
加熱処理を10分間行い、ゲッター膜10を成膜する。
次に、反応性エッチング法にてチタンを3塩化ホウ素
(BCl3)と塩素(Cl2)の2:3の混合ガスで1
3.56GHz高周波電力1kWを印加して、反応室圧
力10mTorrでゲッター膜10を反応性イオンエッ
チング法で除去する。
【0027】次に、酸素(O2)とアルゴン(Ar)と
を原料ガスとして流量比6:1で13.56MHzの高
周波電力を300W印加し、反応室圧力を100mTo
rrとし、100度で2分間プラズマ雰囲気に曝して表
面処理層11を形成する。
【0028】その後、図3に示すように大気暴露せず
に、p型半導体層4をモノシラン(SiH4 )とメタ
ン(CH4 )とジボラン(B2H6)とを原料ガスと
して、プラズマCVD法により225度下で膜厚10n
m成長させる。p型半導体層4は、一部炭化珪素化し
て、禁制帯幅の狭小化を防いで光吸収効率の低下を避け
るようにしている。
【0029】次に、図3に示すようにバッファー層5を
モノシラン(SiH4)とメタン(CH4 )と水素
(H2 )とを原料ガスとしてプラズマCVD法によっ
て、225度下で膜厚13nm形成する。このバッファ
ー層5は、半導体層を一部炭化珪素としてp型半導体層
4から真性半導体層6への硼素(B)の拡散を抑制し、
禁制帯幅の狭小化を防いで光吸収効率の低下を防ぐため
に形成する。
【0030】その後、図3に示すようにモノシラン(S
iH4 )、水素(H2)を原料ガスとして、プラズマC
VD法によって、225度下で非晶質の真性半導体層2
2を膜厚600nm堆積する。次に、n型半導体層7を
モノシラン(SiH4)とホスフィン(PH3)とを原
料ガスとしてプラズマCVD法により、225度下で膜
厚40nm成長させる。
【0031】次に、図3に示すようにスパッタリング法
によってチタン(Ti)を200nm堆積させ、金属電
極8を形成する。さらに、感光性樹脂9を回転塗布法に
より、膜厚1.2μmで塗布する。
【0032】ついで、太陽電池装置を形成する領域に、
感光性樹脂9が残存するように所定のマスクを用いて露
光現像処理を行って、この感光性樹脂をパターニングす
る。
【0033】その後、図4に示すようにこの感光性樹脂
9をエッチングマスクとして、塩素(Cl2 )と三塩
化ホウ素(BCl3 )とを流量比2:3で反応性イオ
ンエッチング装置の反応室に導入し、周波数2.45G
Hzのマイクロ波電力1kW、周波数13.56MHz
の高周波電力50Wを印加して、反応室圧力10mTo
rrの条件下でプラズマを発生させ、チタン(Ti)を
エッチングして金属電極8を形成する。
【0034】次に、図4に示すように同じ感光性樹脂3
0と金属電極26とをエッチングマスクとして、六フッ
化イオウ(SF6 )と塩素(Cl2 )とを原料ガスと
した反応性イオンエッチング装置によってn型半導体層
7、真性半導体層6、バッファー層5、p型半導体層4
とを自己整合的にエッチングし、その後、感光性樹脂9
を除去する。
【0035】前記ゲッター膜10としてチタンを用いた
が、バナジウム(V)、ジルコニウム(Zr)を用いて
も良い。また、シリコンをゲルマン(Ge)、セレン
(Se)に代えて、発電層領域を作成したり、上部電極
に反射率60%以上の金属膜として、2層Ti/アルミ
ニウム(Al)、Al、モリブデン(Mo)、2層Mo
/Al、クロム(Cr)、白金(Pt)、金(Au)な
どを用いても良い。
【0036】以上の工程により、図4に示すように透明
酸化物電極2上に表面処理層11、p型半導体層4、バ
ッファー層5、真性半導体層6、n型半導体層7、金属
電極8とを形成し、太陽電池装置を製造することができ
る。
【0037】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本法に
より形成する太陽電池装置は透明酸化物電極2と発電層
間に界面調整のための調整層であるところの絶縁膜を用
いておらず、その界面が非常に安定である。
【0038】その太陽電池の高照度下(5万ルクス)で
の動作電気特性を示す線図を図8に示す。本発明を採用
する事で、界面調整層の抵抗を最小限に抑えた太陽電池
装置を提供する事ができるので、抵抗成分にほとんど寄
与しない低照度の動作特性はほとんど変動しないが、高
照度の光が太陽電池に当たり太陽電池に高電流が流れる
と、最適動作時の電流電圧値から算出される曲線因子F
Fが低下する。つまり、線図8から本法を採用する事
で、従来法による曲性因子FFを0.34から0.40
まで向上させることができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の最適な実施形態における太陽電池装置
の製造方法を示す断面図である。
【図2】本発明の最適な実施形態における太陽電池装置
の製造方法を示す断面図である。
【図3】本発明の最適な実施形態における太陽電池装置
の製造方法を示す断面図である。
【図4】本発明の最適な実施形態における太陽電池装置
の製造方法を示す断面図である。
【図5】本発明の最適な実施形態における太陽電池装置
の製造方法とを示す断面図である。
【図6】本発明の最適な実施形態における太陽電池装置
の構成とその製造方法とを示す断面図である。
【図7】従来例における太陽電池装置の断面図である。
【図8】動作時のIV曲線を示してなる線図である。
【図9】実施例を示してなる断面図である。
【符号の説明】
1 絶縁性基板 2 透明酸化物電極 3 シリコン窒化膜 4 p型半導体層 5 バッファー層 6 真性半導体層 7 n型半導体層 8 金属電極 9 感光性樹脂 10 ゲッター膜 11 表面処理層 21 本法の太陽電池装置のIV曲線 22 従来の太陽電池装置のIV曲線 31 風防ガラス 32 指針 33 文字盤 34 太陽電池 35 ムーブメント 36 裏蓋

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性基板と下部電極である透明酸化物
    電極と調整層と発電層であるp型半導体層とバッファー
    層と真性半導体層とn型半導体層と上部電極である金属
    電極とが順次配設してなる太陽電池装置であって、前記
    調整層は表面処理を施した表面処理層が形成されてなる
    事を特徴とする太陽電池装置。
  2. 【請求項2】 絶縁性基板と下部電極である透明酸化物
    電極と調整層と発電層であるp型半導体層とバッファー
    層と真性半導体層とn型半導体層と上部電極である金属
    電極が順次配設してなり、前記調整層は表面処理を施し
    た表面処理層が形成されてなる事を特徴とする太陽電池
    装置の製造方法であって、前記表面処理層は、絶縁性基
    板上に透明酸化物電極のパターン形成した後に酸素プラ
    ズマで表面処理を行い安定した電極表面を形成し、その
    後、発電層、金属電極を順次積層する事を特徴とする太
    陽電池装置の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100418379B1 (ko) * 2001-06-05 2004-02-11 학교법인고려중앙학원 인듐주석산화막 표면개질을 이용한 박막 광전지 및 그 제조방법
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