JP2000228624A - 電圧制御遅延回路及び電圧制御遅延方法 - Google Patents

電圧制御遅延回路及び電圧制御遅延方法

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JP2000228624A
JP2000228624A JP11028602A JP2860299A JP2000228624A JP 2000228624 A JP2000228624 A JP 2000228624A JP 11028602 A JP11028602 A JP 11028602A JP 2860299 A JP2860299 A JP 2860299A JP 2000228624 A JP2000228624 A JP 2000228624A
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nmos
voltage
voltage control
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gate electrode
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Yasushi Wakayama
康司 若山
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で、電源変動による難遅延時間の
変動を防止するようにする。 【解決手段】 ゲート電極に入力端子1が接続された第
一のPMOS2及び第一のNMOS3と、ドレイン電極
が第一のNMOS3のソース電極に接続された第二及び
第三のNMOS5,6とを備え、電圧制御入力端子7
を、第二のNMOS5のゲート電極及び第五のNMOS
11のゲート電極に接続し、バイアス電圧は、第三のN
MOS6のゲート電極に印加されるようにし、電圧制御
入力端子7の電位が上昇し、第五のNMOS11がオン
すると、第三のNMOS6をオフするようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電源変動による難
遅延時間の変動防止に適した電圧制御遅延回路及び電圧
制御遅延方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の電圧制御遅延回路を、図5に示
す。
【0003】図5に示す電圧制御遅延回路は、第一のP
MOS2、第一のNMOS3、第二のNMOS5、第三
のNMOS6、第二のPMOS8及び第四のNMOS9
を備えている。
【0004】正電源10、第二のPMOS8、第四のN
MOS9及び負電源11は、電圧発生回路を構成してい
る。第一のPMOS2、第一のNMOS3、第二のNM
OS5及び第三のNMOS6は、可変遅延回路を構成し
ている。
【0005】第一のPMOS2及び第一のNMOS3の
ゲート電極には、信号が入力される入力端子1が接続さ
れている。第一のPMOS2のドレイン電極は、第一の
NMOS3のドレイン電極及び出力端子4に接続されて
いる。
【0006】第一のNMOS3のソース電極は、第二の
NMOS5及び第三のNMOS6のドレイン電極に接続
されている。第二のNMOS5のゲート電極には、電圧
制御入力端子7が接続されている。
【0007】第一のPMOS2のソース電極には、正電
源10及び第二のPMOS8のソース電極が接続されて
いる。第二のPMOS8のゲート電極は、ドレイン電極
に接続されている。
【0008】第二のPMOS8のドレイン電極は、第四
のNMOS9のドレイン電極と、第三のNMOS6のゲ
ート電極とに接続されている。
【0009】第四のNMOS9のゲート電極は、ドレイ
ン電極に接続されている。第二のNMOS5、第三のN
MOS6及び第四のNMOS9のソース電極には、負電
源11が接続されている。
【0010】このような電圧制御遅延回路での立下がり
遅延時間は、第二のNMOS5及び第三のNMOS6の
ドレイン電極〜ソース電極間に流れる電流によって決定
される。また、そのドレイン電極〜ソース電極間に流れ
る電流は、出力端子4の寄生容量による電荷の放電によ
る影響を受ける。
【0011】つまり、第二のNMOS5及び第三のNM
OS6のドレイン電極〜ソース電極間に流れる電流が多
くなると、立下がり遅延時間が小さくなる。逆に、その
ドレイン電極〜ソース電極間に流れる電流が少なくなる
と、立下がり遅延時間が大きくなる。
【0012】立上がり遅延時間は、第一のPMOS2の
スイッチング速度で決まる。第一のPMOS2のスイッ
チング速度は、立下がり遅延時間に比べて十分に小さく
されている。
【0013】また、第二のPMOS8及び第四のNMO
S9によって発生される電圧は、第三のNMOS6のゲ
ート電極に与えられることにより、第三のNMOS6に
一定電流が流れるようになっている。これにより、第三
のNMOS6は、電圧制御入力端子7の電位が低く、第
二のNMOS5がオフ状態のときにも遅延回路として動
作する。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の電圧制御遅延回路では、第四のNMOS9のドレイ
ン電圧が正電源10の電源変動によって変動すると、正
電源10、第二のPMOS8、第四のNMOS9及び負
電源11から構成される電圧発生回路の出力が変動す
る。
【0015】この場合、第一のPMOS2、第一のNM
OS3、第二のNMOS5及び第三のNMOS6から構
成される電圧制御遅延回路の遅延時間が変動する。
【0016】このようなことから、このような電圧制御
遅延回路を、たとえば電圧制御発振器に用いると、電源
変動により電圧制御遅延回路の遅延時間が変動すること
により、発振周波数が変動するという問題がある。
【0017】また、第三のNMOS6のゲート電極に与
える電圧を、電源変動による出力電圧の変動影響の小さ
いバンドギャップレファレンス回路等を用いて発生させ
ることも可能であるが、集積回路のレイアウト面積の増
加や消費電力の増加を招いてしまう。
【0018】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たものであり、簡単な構成で、電源変動による難遅延時
間の変動を防止することができる電圧制御遅延回路及び
電圧制御遅延方法を提供することができるようにするも
のである。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の電圧制
御遅延回路は、電圧制御入力端子からの電圧によって遅
延時間が可変とされる可変遅延回路と、可変遅延回路に
対してバイアス電圧を印加する電圧発生回路とを備え、
可変遅延回路による遅延時間の可変動作時に、電圧発生
回路からの電圧印加をオフとすることを特徴とする。ま
た、可変遅延回路は、入力端子からの信号に応じてスイ
ッチング動作を行うMOS型の第一のスイッチング手段
と、電圧制御入力端子からの電圧によって立上がり及び
立下がりの遅延動作を行うMOS型の第二のスイッチン
グ手段とを備え、電圧発生回路は、第二のスイッチング
手段のゲート電極にバイアス電圧を印加するMOS型の
トランジスタを備えるようにすることができる。また、
第一のスイッチング手段は、ゲート電極に入力端子が接
続された第一のPMOS及び第一のNMOSと、ドレイ
ン電極が第一のNMOSのソース電極に接続された第二
及び第三のNMOSとを備え、電圧制御入力端子は、第
二のNMOSのゲート電極及びトランジスタのゲート電
極に接続され、バイアス電圧は、第三のNMOSのゲー
ト電極に印加され、電圧制御入力端子の電位が上昇し、
トランジスタがオンすると、第三のNMOSがオフされ
るようにすることができる。また、第一のスイッチング
手段は、ソース電極に正電源が接続された第一及び第二
のPMOSとゲート電極に正信号及び反転信号のそれぞ
れが印加される第一及び第二のNMOSと、ドレイン電
極が第一及び第二のNMOSのソース電極に接続された
第三及び第四のNMOSとを備え、電圧制御入力端子
は、第三のNMOSのゲート電極及びトランジスタのゲ
ート電極に接続され、バイアス電圧は、第四のNMOS
のゲート電極に印加され、電圧制御入力端子の電位が上
昇し、トランジスタがオンすると、第四のNMOSがオ
フされるようにすることができる。請求項5に記載の電
圧制御遅延方法は、電圧制御入力端子からの電圧によっ
て遅延時間を可変する第1の工程と、遅延時間の可変動
作のためのバイアス電圧を印加する第2の工程と、遅延
時間の可変動作時に、バイアス電圧の印加をオフとする
第3の工程とを備えることを特徴とする。また、第1の
工程には、入力端子からの信号に応じてMOS型の第一
のスイッチング手段によりスイッチング動作を行わせる
工程と、電圧制御入力端子からの電圧によってMOS型
の第二のスイッチング手段により立上がり及び立下がり
の遅延動作を行わせる工程とが含まれ、第2の工程に
は、第二のスイッチング手段のゲート電極にMOS型の
トランジスタによってバイアス電圧を印加させる工程が
含まれるようにすることができる。また、第1の工程に
は、第一のPMOS及び第一のNMOSによってスイッ
チング動作を行わせる工程と、ドレイン電極が第一のN
MOSのソース電極に接続された第二及び第三のNMO
Sによって遅延動作を行わせる工程とが含まれ、第2の
工程には、電圧制御信号を印加する工程が含まれ、第3
の工程には、電圧制御信号の電位が上昇したとき、第三
のNMOSをオフする工程が含まれるようにすることが
できる。また、第1の工程には、ゲート電極に正信号及
び反転信号のそれぞれが印加される第一及び第二のNM
OSによってスイッチング動作を行わせる工程と、ドレ
イン電極が第一及び第二のNMOSのソース電極に接続
された第三及び第四のNMOSによって遅延動作を行わ
せる工程とが含まれ、第3の工程には、電圧制御信号の
電位が上昇したとき、第四のNMOSをオフする工程が
含まれるようにすることができる。本発明に係る電圧制
御遅延回路及び電圧制御遅延方法においては、電圧制御
入力端子からの電圧によって遅延時間が可変とされる可
変遅延回路と、可変遅延回路に対してバイアス電圧を印
加する電圧発生回路を備えるとともに、可変遅延回路に
よる遅延時間の可変動作時に、電圧発生回路からの電圧
印加をオフとするようにする。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。なお、以下に説明する図において、図5と
共通する部分には同一符号を付すものとする。
【0021】(第1の実施の形態)図1は、本発明の電
圧制御遅延回路の一実施の形態を示すブロック図、図2
は、図1の電圧制御遅延回路の詳細を示す回路図であ
る。
【0022】図1に示す電圧制御遅延回路は、電圧発生
回路A及び可変遅延回路Bを備えている。電圧発生回路
Aには、電圧制御入力端子7が接続されている。可変遅
延回路Bには、信号が入力される入力端子1及び信号が
出力される出力端子4が接続されている。
【0023】電圧発生回路A及び可変遅延回路Bの詳細
を、図2に示す。
【0024】電圧発生回路Aは、正電源10、第二のP
MOS8、第四のNMOS9、第五のNMOS11及び
負電源12を備えている。可変遅延回路Bは、第一のP
MOS2、第一のNMOS3、第二のNMOS5及び第
三のNMOS6を備えている。
【0025】ここで、第一のPMOS2及び第一のNM
OS3は、第一のスイッチング手段とされている。ま
た、第二のNMOS5及び第三のNMOS6は、第二の
スイッチング手段とされている。
【0026】第一のPMOS2及び第一のNMOS3の
ゲート電極には、入力端子1が接続されている。第一の
PMOS2のドレイン電極は、第一のNMOS3のドレ
イン電極及び出力端子4に接続されている。
【0027】第一のNMOS3のソース電極は、第二の
NMOS5及び第三のNMOS6のドレイン電極に接続
されている。第二のNMOS5のゲート電極には、遅延
制御を行うための電圧が印加される電圧制御入力端子7
が接続されている。
【0028】第一のPMOS2ソース電極には、正電源
10及び第二のPMOS8のソース電極が接続されてい
る。第二のPMOS8のゲート電極は、ドレイン電極に
接続されている。
【0029】第二のPMOS8のドレイン電極は、第四
のNMOS9及び第五のNMOS10のドレイン電極
と、第三のNMOS6のゲート電極に接続されている。
【0030】第四のNMOS9のゲート電極は、ドレイ
ン電極に接続されている。第二のNMOS5、第三のN
MOS6、第四のNMOS9及び第五のNMOS11の
ソース電極には、負電源12が接続されている。第二の
NMOS5のゲート電極は、第五のNMOS11のゲー
ト電極に接続されている。
【0031】次に、このような構成の電圧制御遅延回路
の動作について説明する。
【0032】まず、電圧制御遅延回路の立下がり遅延時
間は、第二のNMOS5及び第三のNMOS6のドレイ
ン電極〜ソース電極間に流れる電流によって決定され
る。そのドレイン電極〜ソース電極間に流れる電流は、
出力端子4の寄生容量の電荷の放電による影響を受け
る。
【0033】つまり、第二のNMOS5及び第三のNM
OS6のドレイン電極〜ソース電極間に流れる電流が多
くなると、立下がり遅延時間が小さくなる。逆に、第二
のNMOS5及び第三のNMOS6のドレイン電極〜ソ
ース電極間に流れる電流が少なくなると、立下がり遅延
時間が大きくなる。
【0034】ここで、第二のPMOS8、第四のNMO
S9及び第五のNMOS11によって発生される電圧が
第三のNMOS6のゲート電極に与えられる。これによ
り、第三のNMOS6は、電圧制御入力端子7の電位が
低く、第二のNMOS5がオフ状態のときにも遅延回路
として動作する。
【0035】そして、電圧制御入力端子7の電位が上昇
し、第二のNMOS5のドレイン電極〜ソース電極間に
流れる電流が増加して立下がり遅延時間が小さくなると
きは、第五のNMOS11もオン状態となる。このと
き、第三のNMOS6のゲート電圧が低下し、第三のN
MOS6がオフ状態となる。
【0036】つまり、第二のNMOS5がオン状態にあ
るとき、立下がり遅延時間を決定するのは、第二のNM
OS5のソース電極〜ドレイン電極間に流れる電流のみ
となる。これは、第二のNMOS5のソース電極〜ドレ
イン電極間に流れる電流が、外部から供給される電圧制
御入力端子7の電圧のみにより決定されることを示して
いる。
【0037】これにより、第四のNMOS9のドレイン
電圧が正電源10の電源変動によって変動しても、出力
端子4からの信号の変動が防止される。
【0038】このように、第1の実施の形態では、ゲー
ト電極に入力端子1が接続された第一のPMOS2及び
第一のNMOS3と、ドレイン電極が第一のNMOS3
のソース電極に接続された第二及び第三のNMOS5,
6とを備え、電圧制御入力端子7を、第二のNMOS5
のゲート電極及び第五のNMOS11のゲート電極に接
続し、バイアス電圧は、第三のNMOS6のゲート電極
に印加されるようにし、電圧制御入力端子7の電位が上
昇し、第五のNMOS11がオンすると、第三のNMO
S6をオフするようにしたので、第四のNMOS9のド
レイン電圧が正電源10の電源変動によって変動して
も、出力端子4からの信号の変動を防止することができ
る。
【0039】また、第三のNMOS6のゲート電極に
は、第四のNMOS9のドレイン電圧を印加するように
したので、電源変動による出力電圧の変動影響の小さい
バンドギャップレファレンス回路等の使用が不要である
ため、回路構成の簡素も図れる。
【0040】(第2の実施の形態)図3は、図1及び図
2の電圧制御遅延回路を、電圧制御発振器に適用した場
合の第2の実施の形態を示すブロック図である。
【0041】図3に示す電圧制御発振器は、第一〜第三
の電圧制御遅延回路C〜Eを備えている。第一の電圧制
御遅延回路Cの出力は、第二の電圧制御遅延回路Dの入
力に接続されている。第二の電圧制御遅延回路Dの出力
は、第三の電圧制御遅延回路Eの入力に接続されてい
る。第三の電圧制御遅延回路Eの出力は、第一の電圧制
御遅延回路Cの入力に接続されている。第一〜第三の電
圧制御遅延回路C〜Dには、第一の電圧制御入力端子7
aが接続されている。
【0042】このような構成の電圧制御発振器は、次の
ような動作を行う。
【0043】まず、発振周波数を決定する第一〜第三の
電圧制御遅延回路C〜Eの立下がり遅延時間は、第一の
電圧制御入力端子7aの電圧によって決まる。このた
め、上述したように、正電源10の電源変動が生じて
も、出力端子4からの信号の変動が防止さるため、電圧
制御発振器からの発振周波数の変動も防止される。
【0044】なお、第一〜第三の電圧制御遅延回路C〜
Eの立上がり遅延時間は、立下がり遅延時間に比べて十
分小さいため、電源変動の影響は無視できる。これによ
り、第一〜第三の電圧制御遅延回路C〜Eにおける立下
がり及び立上がり時における変動が防止されるため、電
圧制御発振器の出力する発振周波数の電源変動に対する
影響は小さくされる。
【0045】(第3の実施の形態)図4は、本発明の電
圧制御遅延回路の第3の実施の形態を示す回路図であ
る。
【0046】図4に示す電圧制御遅延回路は、第三のP
MOS8a、第五のNMOS11及び第六のNMOS1
1aからなる電圧発生回路を備えている。
【0047】また、第一のPMOS2、第二のPMOS
2a、第一のNMOS3、第二のNMOS3a、第三の
NMOS6及び第四のNMOS6aからなる可変遅延回
路を備えている。
【0048】第一のNMOS3のゲート電極には、入力
端子1が接続されている。第二のNMOS3aのゲート
電極には、反転信号入力端子1aが接続されている。第
一のNMOS3のソース電極及び第二のNMOS3aの
ソース電極は、第三のNMOS6及び第四のNMOS6
aのドレイン電極に接続されている。
【0049】また、第一のNMOS3及び第二のNMO
S3aのドレイン電極には、反転出力端子4a及び出力
端子4が接続されている。第一のNMOS3及び第二の
NMOS3aのドレイン電極は、第一のPMOS2及び
第二のPMOS2aのドレイン電極に接続されている。
第一のPMOS2及び第二のPMOS2aのゲート電極
は、ドレイン電極に接続されている。
【0050】第一のPMOS2及び第二のPMOS2a
のソース電極には、正電源10及び第三のPMOS8a
のソース電極が接続されている。第三のPMOS8aの
ドレイン電極は、ゲート電極に接続されている。
【0051】また、第三のPMOS8aのドレイン電極
は、第四のNMOS6aのゲート電極と、第五のNMO
S11及び第六のNMOS11aのドレイン電極とに接
続されている。第五のNMOS11のドレイン電極は、
ゲート電極に接続されている。
【0052】第六のNMOS11aのゲート電極は、第
三のNMOS6のゲート電極に接続されている。第五の
NMOS11及び第六のNMOS11aのソース電極
は、負電源12と、第三のNMOS6及び第四のNMO
S6aのソース電極とに接続されている。
【0053】このような構成では、可変遅延回路を構成
する第三のNMOS6及び第四のNMOS6aのソース
電極〜ドレイン電極間に流れる電流により、立上がり遅
延時間及び立下がり遅延時間が決定される。
【0054】ここで、電圧制御入力端子7の入力電圧が
オン状態のとき、第三のNMOS6及び第六のNMOS
11aがオンとなる。
【0055】このため、第四のNMOS6aのゲート電
極の電位は下がり、第四のNMOS6aはオフ状態とな
る。つまり、可変遅延回路の立下がり遅延時間及び立上
がり遅延時間は、第三のNMOS6のソース電極〜ドレ
イン電極間に流れる電流によって決まることになる。こ
のため、正電源10〜負電源12間の電圧変動の影響を
受けない。
【0056】
【発明の効果】以上の如く本発明に係る電圧制御遅延回
路及び電圧制御遅延方法によれば、電圧制御入力端子か
らの電圧によって遅延時間が可変とされる可変遅延回路
と、可変遅延回路に対してバイアス電圧を印加する電圧
発生回路とを備えるとともに、可変遅延回路による遅延
時間の可変動作時に、電圧発生回路からの電圧印加をオ
フとするようにするようにしたので、簡単な構成で、電
源変動による難遅延時間の変動を防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電圧制御遅延回路の一実施の形態を示
すブロック図である。
【図2】図1の電圧制御遅延回路の詳細を示す回路図で
ある。
【図3】図1及び図2の電圧制御遅延回路を、電圧制御
発振器に適用した場合の第2の実施の形態を示すブロッ
ク図である。
【図4】本発明の電圧制御遅延回路の第3の実施の形態
を示す回路図である。
【図5】従来の電圧制御遅延回路を示す回路図である。
【符号の説明】
1 入力端子 2 第一のPMOS 2a 第二のPMOS 3 第一のNMOS 3a 第二のNMOS 4 出力端子 4a 反転出力端子 5 第二のNMOS 6 第三のNMOS 6a 第四のNMOS 7 電圧制御入力端子 7a 第一の電圧制御入力端子 8 第二のPMOS 8a 第三のPMOS 9 第四のNMOS 10 正電源 11 第五のNMOS 11a 第六のNMOS 12 負電源 A 電圧発生回路 B 可変遅延回路 C 第一の電圧制御遅延回路 D 第二の電圧制御遅延回路 E 第三の電圧制御遅延回路

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電圧制御入力端子からの電圧によって遅
    延時間が可変とされる可変遅延回路と、 前記可変遅延回路に対してバイアス電圧を印加する電圧
    発生回路とを備え、 前記可変遅延回路による遅延時間の可変動作時に、前記
    電圧発生回路からの電圧印加をオフとすることを特徴と
    する電圧制御遅延回路。
  2. 【請求項2】 前記可変遅延回路は、 入力端子からの信号に応じてスイッチング動作を行うM
    OS型の第一のスイッチング手段と、 前記電圧制御入力端子からの電圧によって立上がり及び
    立下がりの遅延動作を行うMOS型の第二のスイッチン
    グ手段とを備え、 前記電圧発生回路は、 前記第二のスイッチング手段のゲート電極にバイアス電
    圧を印加するMOS型のトランジスタを備えることを特
    徴とする請求項1に記載の電圧制御遅延回路。
  3. 【請求項3】 前記第一のスイッチング手段は、 ゲート電極に前記入力端子が接続された第一のPMOS
    及び第一のNMOSと、 ドレイン電極が前記第一のNMOSのソース電極に接続
    された第二及び第三のNMOSとを備え、 前記電圧制御入力端子は、前記第二のNMOSのゲート
    電極及び前記トランジスタのゲート電極に接続され、前
    記バイアス電圧は、前記第三のNMOSのゲート電極に
    印加され、 前記電圧制御入力端子の電位が上昇し、前記トランジス
    タがオンすると、前記第三のNMOSがオフされること
    を特徴とする請求項2に記載の電圧制御遅延回路。
  4. 【請求項4】 前記第一のスイッチング手段は、 ソース電極に正電源が接続された第一及び第二のPMO
    Sと、 ゲート電極に正信号及び反転信号のそれぞれが印加され
    る第一及び第二のNMOSと、 ドレイン電極が前記第一及び第二のNMOSのソース電
    極に接続された第三及び第四のNMOSとを備え、 前記電圧制御入力端子は、前記第三のNMOSのゲート
    電極及び前記トランジスタのゲート電極に接続され、前
    記バイアス電圧は、前記第四のNMOSのゲート電極に
    印加され、 前記電圧制御入力端子の電位が上昇し、前記トランジス
    タがオンすると、前記第四のNMOSがオフされること
    を特徴とする請求項2に記載の電圧制御遅延回路。
  5. 【請求項5】 電圧制御入力端子からの電圧によって遅
    延時間を可変する第1の工程と、 前記遅延時間の可変動作のためのバイアス電圧を印加す
    る第2の工程と、 前記遅延時間の可変動作時に、前記バイアス電圧の印加
    をオフとする第3の工程とを備えることを特徴とする電
    圧制御遅延方法。
  6. 【請求項6】 前記第1の工程には、 入力端子からの信号に応じてMOS型の第一のスイッチ
    ング手段によりスイッチング動作を行わせる工程と、 前記電圧制御入力端子からの電圧によってMOS型の第
    二のスイッチング手段により立上がり及び立下がりの遅
    延動作を行わせる工程とが含まれ、 前記第2の工程には、 前記第二のスイッチング手段のゲート電極にMOS型の
    トランジスタによってバイアス電圧を印加させる工程が
    含まれることを特徴とする請求項5に記載の電圧制御遅
    延方法。
  7. 【請求項7】 前記第1の工程には、 第一のPMOS及び第一のNMOSによってスイッチン
    グ動作を行わせる工程と、 ドレイン電極が前記第一のNMOSのソース電極に接続
    された第二及び第三のNMOSによって遅延動作を行わ
    せる工程とが含まれ、 前記第2の工程には、電圧制御信号を印加する工程が含
    まれ、 前記第3の工程には、前記電圧制御信号の電位が上昇し
    たとき、前記第三のNMOSをオフする工程が含まれる
    ことを特徴とする請求項5に記載の電圧制御遅延方法。
  8. 【請求項8】 前記第1の工程には、 ゲート電極に正信号及び反転信号のそれぞれが印加され
    る第一及び第二のNMOSによってスイッチング動作を
    行わせる工程と、 ドレイン電極が前記第一及び第二のNMOSのソース電
    極に接続された第三及び第四のNMOSによって遅延動
    作を行わせる工程とが含まれ、 前記第3の工程には、前記電圧制御信号の電位が上昇し
    たとき、前記第四のNMOSをオフする工程が含まれる
    ことを特徴とする請求項5に記載の電圧制御遅延方法。
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