JP2000223470A - ウェットエッチング装置 - Google Patents

ウェットエッチング装置

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JP2000223470A
JP2000223470A JP11023116A JP2311699A JP2000223470A JP 2000223470 A JP2000223470 A JP 2000223470A JP 11023116 A JP11023116 A JP 11023116A JP 2311699 A JP2311699 A JP 2311699A JP 2000223470 A JP2000223470 A JP 2000223470A
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JP
Japan
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wet etching
pipe
tank
wafer
processing tank
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JP11023116A
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English (en)
Inventor
Hirotaka Ikenaga
広貴 池永
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NEC Kyushu Ltd
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NEC Kyushu Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/08Apparatus, e.g. for photomechanical printing surfaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67063Apparatus for fluid treatment for etching
    • H01L21/67075Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching
    • H01L21/67086Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェハへの塵埃の付着を防止し処理されたウ
ェハ上に製造される半導体装置の歩留まりを向上させる
ことができるウェットエッチング装置を提供する。 【解決手段】 ウェットエッチング装置には、複数枚の
ウェハ1及びエッチング液が入れられる処理槽2及びこ
の底部に中心軸を回転軸として回転可能に配置され側面
に複数個の孔が穿設された噴流パイプ7が設けられてい
る。また、モータ、このモータの回転を噴流パイプ7に
伝達するベルト及び前記モータの回転を制御するモータ
ドライバが設けられている。更に、処理槽2から溢れ出
たエッチング液が溜められるオーバーフロー槽3、これ
に溜められたエッチング液を噴流パイプ7に送給するポ
ンプ5、オーバーフロー槽3と処理槽2との間に設けら
れオーバーフロー槽3に溜められたエッチング液中の塵
埃を除去するフィルタ6が設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置を製造す
る際に行うウェットエッチング工程で使用されるウェッ
トエッチング装置に関し、特に、ウェハへの塵埃の付着
が防止されたウェットエッチング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体装置を製造するための多結
晶シリコン膜のパターニング工程等にウェットエッチン
グ装置が使用されている。例えば、実開平1−1361
66号公報にエッチングの高効率化を図った従来のウェ
ットエッチング装置が開示されている。この従来のウェ
ットエッチング装置には、被エッチング材であるウェハ
が配置されたキャリアの底部から内部にエッチング液を
供給する供給手段が設けられている。
【0003】これにより、それまでのウェットエッチン
グ装置よりもウェハと接するエッチング液量が増加し、
エッチング効率が向上している。しかし、この従来のウ
ェットエッチング装置は、所期の目的を達成することは
できたものの、ウェハ表面に均一にエッチング液を供給
することが困難であるという欠点があった。
【0004】そこで、エッチング液をウェハ表面に均一
に供給することが可能なウェットエッチング装置が提案
されている(特開平4−162723号公報)。
【0005】図3は特開平4−162723号公報に記
載された従来のウェットエッチング装置を示す模式的断
面図である。この公報に記載された従来のウェットエッ
チング装置には、ウェハ21のウェットエッチングが行
われる処理槽22及びこの処理槽22から溢れ出たエッ
チング液が溜められるオーバーフロー槽23が設けられ
ている。処理槽22の内部には、ウェハ21が収納され
たキャリア24が配置される。また、オーバーフロー槽
23に溜められたエッチング液を再度処理槽22に供給
するためのポンプ25及び再利用されるエッチング液中
の塵埃等を除去するためのフィルタ26が設けられてい
る。更に、処理槽22の底部には、側面に多数の孔が穿
設されポンプ25に配管を介して連結されたパイプ27
が配設されている。このパイプ27はモータ29により
その中心軸を回転軸として回転(自転)する。
【0006】このように構成された特開平4−1627
23号公報に記載された従来のウェットエッチング装置
においては、モータ29からの動力によりパイプ27が
自転するので、パイプ27に穿設された孔から噴流が吹
き上げられると同時に、図3中の矢印で示すように、処
理槽22内のエッチング液が攪拌される。このため、ウ
ェットエッチング処理における均一性が向上した。
【0007】また、ウェットエッチング処理後の洗浄に
使用され洗浄液である超純水をウェハ表面に均一に供給
することが可能な洗浄装置が提案されている(特開平6
−177104号公報)。
【0008】図4は特開平6−177104号公報に記
載された従来の洗浄装置を示す模式的断面図である。こ
の公報に記載された従来の洗浄装置においては、ウェハ
31の洗浄が行われる洗浄槽32の底部に、側面に多数
の孔が2列に穿設された2本のパイプ37が複数の前記
孔が内壁側を向くように配設されている。また、洗浄槽
32の内側壁には、内壁に沿って下降する水流を洗浄槽
32の中央に案内する水流ガイド33が設けられてい
る。
【0009】このように構成された従来の洗浄装置にお
いては、パイプ37に穿設された底面側の1列の孔から
噴出された超純水が底部に沿って対流した後、洗浄槽3
2の中心部で上昇する。そして、水面で外側に向かって
対流し、水流ガイド33により洗浄槽32の中心部に案
内される。この結果、洗浄槽32内の超純水が効率よく
攪拌されるので、ウェハ31表面に接する超純水量が増
加し、洗浄の均一性が向上した。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
4−162723号公報に記載された従来のウェットエ
ッチング装置においては、所期の目的は達成できたもの
の、塵埃がウェハに付着する等して、このようにして処
理されたウェハ上に製造される半導体装置について所望
の歩留まりを得ることができないという問題点がある。
【0011】また、特開平6−177104号公報に記
載された従来の洗浄装置においても、所望の洗浄効率が
得られず、これに若干の改良を加えてウェットエッチン
グ装置として使用したとしても、所望の歩留まりを得る
ことはできない。
【0012】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、ウェハへの塵埃の付着を防止し処理された
ウェハ上に製造される半導体装置の歩留まりを向上させ
ることができるウェットエッチング装置を提供すること
を目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明に係るウェットエ
ッチング装置は、複数枚のウェハ及びエッチング液が入
れられる処理槽と、この処理槽の底部に中心軸を回転軸
として回転可能に配置され側面に複数個の孔が穿設され
たパイプと、このパイプ内にエッチング液を供給する供
給手段と、前記孔が複数枚の前記ウェハが配置されてい
る領域と対向する範囲内で前記パイプを往復させながら
回転させる回転手段と、を有することを特徴とする。
【0014】本発明においては、供給手段からエッチン
グ液がパイプ内に供給されると、その側面に穿設された
複数個の孔からエッチング液が処理槽内に噴出される。
このとき、回転手段により孔が複数枚のウェハが配置さ
れている領域と対向する範囲内でパイプが自転するの
で、ウェハの表面には孔から噴出されたばかりの清浄な
エッチング液がほぼ均一に接触する。このため、エッチ
ング処理の効率が高い。また、孔から噴出されたエッチ
ング液は処理槽の底部方向には進行しないので、そこに
溜まっている塵埃の巻き上げが抑制され、ウェハへのそ
の付着が抑制される。
【0015】本発明においては、前記回転手段は、モー
タと、このモータの回転を前記パイプに伝達するベルト
と、前記モータの回転を制御するモータドライバと、を
有することができる。
【0016】また、前記供給手段は、前記処理槽から溢
れ出たエッチング液が溜められるオーバーフロー槽と、
このオーバーフロー槽に溜められたエッチング液を前記
パイプに送給するポンプと、前記オーバーフロー槽と前
記処理槽との間に設けられ前記オーバーフロー槽に溜め
られたエッチング液中の塵埃を除去するフィルタと、を
有することができる。
【0017】更に、前記パイプは、前記処理槽の底部に
複数本配置されていてもよい。
【0018】更にまた、複数本の前記パイプは相互に平
行に配置され前記回転手段により相互に同方向に回転さ
せられてもよい。
【0019】また、前記ウェハが前記エッチング液に浸
漬されていることを検出するセンサと、このセンサによ
る検出結果に関連付けて前記回転手段及び前記供給手段
の動作を制御する制御装置と、を有することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】本願発明者等が前記課題を解決す
べく、鋭意実験研究を重ねた結果、前述の従来のウェッ
トエッチング装置及び洗浄装置では、槽の中を全体的に
攪拌してしまっているため、槽の底部に溜まっていた塵
埃を巻き上げていることに想到した。即ち、両装置にお
いて、孔が穿設されたパイプから槽の底部に向かって噴
出液を噴出しているので、底部に溜まっていた塵埃が巻
き上げられ、ウェハの表面に付着しているのである。こ
のため、これらの装置を使用して処理されたウェハ上に
その後製造される半導体装置の歩留まりを低下させてい
るのである。
【0021】また、ウェハ表面に供給される液は、パイ
プから噴出された新しい清浄な液であることが理想的で
あるが、図3に示す従来のウェットエッチング装置にお
いては、下を向いた孔から噴出された液は直接ウェハ表
面には達することができず、槽内に既に存在し新しく噴
出された液により対流させられた古い液がウェハの表面
に接触してしまっている。同様に、図4に示す従来の洗
浄装置においては、新しい液は常に底部を向けてパイプ
から噴出されるので、既に槽内にあった液しかウェハの
表面に接しない。従って、これらの理由によっても、従
来の装置では、ウェハに接触する液の濃度等がばらつく
ので、均一な処理が行われていないのである。
【0022】そこで、本願発明者等が更に鋭意研究を重
ねた結果、パイプから噴出される液を槽の底部を対流さ
せることなく直接ウェハの表面に供給することにより、
塵埃の付着を防止し、半導体装置の歩留まりを向上させ
ることができることを見い出した。
【0023】以下、本発明の実施例に係るウェットエッ
チング装置について、添付の図面を参照して具体的に説
明する。図1は本発明の実施例に係るウェットエッチン
グ装置の構造を正面側から示す模式的断面図であり、図
2は同じく本発明の実施例に係るウェットエッチング装
置の構造を側面側から示す模式的断面図である。なお、
図2においては、簡略化のため、オーバーフロー槽、フ
ィルタ、ポンプ及びこれらのを連結する配管は省略して
ある。
【0024】本実施例には、複数枚のウェハ1のウェッ
トエッチングが行われる処理槽2及びこの処理槽2から
溢れ出たエッチング液が溜められるオーバーフロー槽3
が設けられている。処理槽2の内部には、ウェハ1が収
納されたキャリア4が配置される。また、オーバーフロ
ー槽3に溜められたエッチング液を再度処理槽2に供給
するためのポンプ5及び再利用されるエッチング液中の
塵埃等を除去するためのフィルタ6が設けられている。
【0025】更に、処理槽2の底部には、ベアリング8
が設けられており、側面に多数の孔が穿設された2本の
噴流パイプ7がベアリング8によりその軸線を中心軸と
して円周方向に回転可能に支持されている。噴流パイプ
7の一端は開口され他端は閉口されている。そして、噴
流パイプ7の開口端には、ベアリング8近傍でポンプ5
に連結された配管12aが連結されている。なお、この
連結部においては、配管12a及び噴流パイプ7内の薬
液(エッチング液)が外部に漏れないようにシール材等
を使用して連結がなされている。
【0026】また、オーバーフロー槽3の外部には、モ
ータ9が設けられており、このモータ9によりベルト1
0を介してパイプ7が所定の範囲内で回転させられる。
モータ9には、モータドライバ11が接続されており、
このモータドライバ11によりモータ9の回転方向及び
回転速度等が制御される。
【0027】なお、ポンプ5とフィルタ6とが配管12
bにより連結され、フィルタ6とオーバーフロー槽3と
が配管12cにより連結されている。
【0028】次に、このように構成された本実施例に係
るウェットエッチング装置を使用してウェハのウェット
エッチングを行う方法について説明する。
【0029】ウェットエッチングを行う際には、先ず、
図1及び2に示すように、キャリア4内に複数枚のウェ
ハ1を収納し、キャリア4を処理槽2の中に入れる。薬
液(エッチング液)の中にウェハ1が完全に浸漬した
後、モータドライバ9によりモータ9を作動させ、噴流
パイプ7に往復運動で回転させる。また、同時にポンプ
5も作動させ、噴流パイプ7に穿設された孔から薬液を
噴出させる。このとき、図1中の矢印A及びB間で噴流
パイプ7に穿設された孔の位置が往復するように、即
ち、孔の位置がウェハ1が配置されている領域と対向す
る範囲内にあるように、噴流パイプ7の回転角度を制御
する。この範囲は、噴出された薬液がウェハ1の表面に
当たり処理槽2の底部等の他の部位から塵埃がほとんど
巻き上がらないような範囲である。この制御は、均一な
ウェットエッチング処理を実行する上で重要である。
【0030】その後、ウェットエッチングに必要な時間
が経過した後、噴流パイプ7の回転と薬液の噴出を停止
し、キャリア4ごとウェハ1を引き上げて処理を終了す
る。
【0031】このように、本実施例に係るウェットエッ
チング装置によれば、噴流パイプ7の回転角度の範囲を
ウェハ1に噴流が当たるために必要最小限のものに限定
して薬液を噴出することが可能であるので、処理槽2の
底部又はその他の部品等に溜まった塵埃の巻き上げを最
小限にし、ウェハ1への薬液の接触を均一にすることが
できる。従って、ゴミの付着量を最小限にし、エッチン
グ及び洗浄工程におけるの面内バラツキを低減すること
が可能であり、歩留まり向上の効果が得られる。
【0032】なお、ウェハ1をウェットエッチングする
処理時間、噴流パイプ7から吹き出す薬液の流量、噴流
パイプ7の回転速度等の処理条件は、処理が行われるウ
ェハ1の種類及び薬液の種類等によって適宜調節するこ
とが可能である。
【0033】また、前述の実施例では、2本の噴流パイ
プ7を設けているが、その本数は1本でも3本以上であ
ってもよい。更に、噴流パイプを複数本設ける場合に
は、その回転を噴流が相互に交差するように同期させて
もよいが、自動車のワイパーのように相互に同じ円周方
向に回転させた方がよりウェハと薬液との接触量の均一
性を向上させることができる。
【0034】更に、前述の実施例においては、モータド
ライバ11を使用して噴流パイプ7の回転を電気的に制
御するような構成としているが、カム及びギア等を使用
して機械的に噴流パイプ7を回転させるような構成とし
てもよい。但し、前者の場合には、噴流パイプの回転範
囲及び回転速度等を任意に設定すること可能であるた
め、容易に最適な条件に設定することが可能であり好ま
しい。
【0035】更にまた、処理槽の上部にウェハの位置を
検知するセンサ及びこのセンサによる検出結果によりモ
ータドライバ及びポンプの動作を制御する制御装置を設
けてもよい。このようなセンサ及び制御装置を設けるこ
とにより、ウェットエッチング処理前には、ウェハが収
納されたキャリアが液面に近づいたこと検知し、噴流パ
イプの回転及び薬液の噴出を開始させ、処理終了後に
は、ウェハが収納されたキャリアが完全に薬液から出さ
れたことを検知し、噴流パイプの回転及び薬液の噴出を
終了させることが可能となる。これにより、ウェハが処
理槽に浸漬される以前からウェハが浸される部分の液の
濃度をより均一にすることが可能となる。
【0036】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
ウェハの表面には孔から噴出されたばかりの清浄なエッ
チング液がほぼ均一に接触するので、エッチング処理の
効率を向上させることができる。また、側面に孔が穿設
されたパイプの回転範囲を適切に規定しているので、孔
から噴出されたエッチング液を処理槽の底部方向には進
行することを抑制し、そこに溜まっている塵埃の巻き上
げを抑制することができる。これにより、ウェハへの塵
埃(ゴミ)の付着を抑制することができるので、エッチ
ング工程における面内バラツキを低減し、このウェハを
使用して製造した半導体装置の歩留まりを向上させるこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係るウェットエッチング装置
の構造を正面側から示す模式的断面図である。
【図2】同じく本発明の実施例に係るウェットエッチン
グ装置の構造を側面側から示す模式的断面図である。
【図3】特開平4−162723号公報に記載された従
来のウェットエッチング装置を示す模式的断面図であ
る。
【図4】特開平6−177104号公報に記載された従
来の洗浄装置を示す模式的断面図である。
【符号の説明】
1、21、31;ウェハ 2、22;処理槽 3、23;オーバーフロー槽 4、24;キャリア 5、25;ポンプ 6、26;フィルタ 7;噴流パイプ 8;ベアリング 9、29;モータ 10;ベルト 11;モータドライバ 12a、12b、12c;配管 27、37;パイプ 32;洗浄槽 33;水流ガイド

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数枚のウェハ及びエッチング液が入れ
    られる処理槽と、この処理槽の底部に中心軸を回転軸と
    して回転可能に配置され側面に複数個の孔が穿設された
    パイプと、このパイプ内にエッチング液を供給する供給
    手段と、前記孔が複数枚の前記ウェハが配置されている
    領域と対向する範囲内で前記パイプを往復させながら回
    転させる回転手段と、を有することを特徴とするウェッ
    トエッチング装置。
  2. 【請求項2】 前記回転手段は、モータと、このモータ
    の回転を前記パイプに伝達するベルトと、前記モータの
    回転を制御するモータドライバと、を有することを特徴
    とする請求項1に記載のウェットエッチング装置。
  3. 【請求項3】 前記供給手段は、前記処理槽から溢れ出
    たエッチング液が溜められるオーバーフロー槽と、この
    オーバーフロー槽に溜められたエッチング液を前記パイ
    プに送給するポンプと、前記オーバーフロー槽と前記処
    理槽との間に設けられ前記オーバーフロー槽に溜められ
    たエッチング液中の塵埃を除去するフィルタと、を有す
    ることを特徴とする請求項1又は2に記載のウェットエ
    ッチング装置。
  4. 【請求項4】 前記パイプは、前記処理槽の底部に複数
    本配置されていることを特徴とする請求項1乃至3のい
    ずれか1項に記載のウェットエッチング装置。
  5. 【請求項5】 複数本の前記パイプは相互に平行に配置
    され前記回転手段により相互に同方向に回転させられる
    ことを特徴とする請求項4に記載のウェットエッチング
    装置。
  6. 【請求項6】 前記ウェハの位置を検出するセンサと、
    このセンサによる検出結果に関連付けて前記回転手段及
    び前記供給手段の動作を制御する制御装置と、を有する
    ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載
    のウェットエッチング装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006037154A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Yokohama Rubber Co Ltd:The アルミハニカムコアの製造方法及びその装置、アルミハニカムコアの箔厚制御方法
KR101267929B1 (ko) 2011-09-20 2013-05-27 주식회사 제우스 기판 처리장치 및 이의 기판 개별 수납/인출 방법
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