JP2000222715A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JP2000222715A JP2000222715A JP2325699A JP2325699A JP2000222715A JP 2000222715 A JP2000222715 A JP 2000222715A JP 2325699 A JP2325699 A JP 2325699A JP 2325699 A JP2325699 A JP 2325699A JP 2000222715 A JP2000222715 A JP 2000222715A
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- magnetic
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 OW特性およびオフトラック特性を劣化させ
ることなくSNR、PW50を向上でき、しかも十分な
耐コロージョン性を有する磁気記録媒体の提供。 【解決手段】 非磁性基板1上に、非磁性下地膜2と、
磁気記録膜3と、軟磁性膜4と、保護膜5を有し、保磁
力が2500Oe以上とされ、かつ軟磁性膜4の膜厚が
5〜50Åとされている。
ることなくSNR、PW50を向上でき、しかも十分な
耐コロージョン性を有する磁気記録媒体の提供。 【解決手段】 非磁性基板1上に、非磁性下地膜2と、
磁気記録膜3と、軟磁性膜4と、保護膜5を有し、保磁
力が2500Oe以上とされ、かつ軟磁性膜4の膜厚が
5〜50Åとされている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
などに用いられる磁気記録媒体に関し、特にインダクテ
ィブ−MR複合ヘッドに代表される磁気抵抗効果を利用
する再生素子を使用したヘッドを用いた場合に優れた特
性を発揮する磁気記録媒体に関するものである。
などに用いられる磁気記録媒体に関し、特にインダクテ
ィブ−MR複合ヘッドに代表される磁気抵抗効果を利用
する再生素子を使用したヘッドを用いた場合に優れた特
性を発揮する磁気記録媒体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気ディスク装置などの高記録密
度化に伴い、信号対ノイズ比(以下SNR)の改善、さ
らにPRMLチャンネル処理のため孤立波半値幅(以下
PW50)の狭小化が求められている。高SNR化およ
び狭PW50化を達成するには、高保磁力化することが
有効であり、高保磁力化するには、磁気記録層材料を高
Ku化するのが有効である。高Ku化により高保磁力化
することは、近年問題となっている熱揺らぎ問題、すな
わち一度記録された信号が時間の経過とともに減少する
という問題に対しても有効な解決法となり得る。しかし
ながら、SNRおよびPW50を改善するために保磁力
(Hc)を高くすると、一度記録された信号が上書きし
ても消えない(オーバーライト(以下OWという)特性
の悪化)、トラックエッジまで信号が書き込まれない
(オフトラック特性の悪化)といった問題を招くおそれ
がある。これらの問題の解決するために、書き込みに最
適化したインダクティブヘッドと、磁気抵抗効果を利用
する再生素子を使用し読み出し感度を向上させたヘッド
とを複合させたインダクティブ−MR複合ヘッドが用い
られている。
度化に伴い、信号対ノイズ比(以下SNR)の改善、さ
らにPRMLチャンネル処理のため孤立波半値幅(以下
PW50)の狭小化が求められている。高SNR化およ
び狭PW50化を達成するには、高保磁力化することが
有効であり、高保磁力化するには、磁気記録層材料を高
Ku化するのが有効である。高Ku化により高保磁力化
することは、近年問題となっている熱揺らぎ問題、すな
わち一度記録された信号が時間の経過とともに減少する
という問題に対しても有効な解決法となり得る。しかし
ながら、SNRおよびPW50を改善するために保磁力
(Hc)を高くすると、一度記録された信号が上書きし
ても消えない(オーバーライト(以下OWという)特性
の悪化)、トラックエッジまで信号が書き込まれない
(オフトラック特性の悪化)といった問題を招くおそれ
がある。これらの問題の解決するために、書き込みに最
適化したインダクティブヘッドと、磁気抵抗効果を利用
する再生素子を使用し読み出し感度を向上させたヘッド
とを複合させたインダクティブ−MR複合ヘッドが用い
られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一方、近年では、軟磁
性層、いわゆるキーパーレイヤーを磁気記録媒体に設け
ることによって、電磁変換特性、熱揺らぎ特性の改善を
図るという試みがなされている。軟磁性層を有する磁気
記録媒体の例としては、B. Gooch, R. Niedermeyer, R.
Wood, and R. Pisharody, IEEE Transactions on magn
etics, 1991, vol.27. No.6, p.4549(文献A)、特開
平7−169037号公報、特開平10−116412
号公報に開示されたものを挙げることができる。上記文
献Aに開示された磁気記録媒体は、記録再生時に軟磁性
層を飽和させるためのバイアス磁束をインダクティブヘ
ッド書き込みコアから付加させなければ、媒体表面から
漏れ磁束を誘起させられず、良好な再生信号を得ること
ができない。そのため、上記磁気記録媒体では、現在広
く用いられている上記インダクティブ−MR複合ヘッド
を使用することができなかった。また特開平7−169
037号公報に開示された磁気記録媒体は、バイアス電
流0の読み込み−書き込みヘッド(例えばインダクティ
ブヘッド)に対応したものとされ、高記録密度化および
低ノイズ化を図るのが難しかった。
性層、いわゆるキーパーレイヤーを磁気記録媒体に設け
ることによって、電磁変換特性、熱揺らぎ特性の改善を
図るという試みがなされている。軟磁性層を有する磁気
記録媒体の例としては、B. Gooch, R. Niedermeyer, R.
Wood, and R. Pisharody, IEEE Transactions on magn
etics, 1991, vol.27. No.6, p.4549(文献A)、特開
平7−169037号公報、特開平10−116412
号公報に開示されたものを挙げることができる。上記文
献Aに開示された磁気記録媒体は、記録再生時に軟磁性
層を飽和させるためのバイアス磁束をインダクティブヘ
ッド書き込みコアから付加させなければ、媒体表面から
漏れ磁束を誘起させられず、良好な再生信号を得ること
ができない。そのため、上記磁気記録媒体では、現在広
く用いられている上記インダクティブ−MR複合ヘッド
を使用することができなかった。また特開平7−169
037号公報に開示された磁気記録媒体は、バイアス電
流0の読み込み−書き込みヘッド(例えばインダクティ
ブヘッド)に対応したものとされ、高記録密度化および
低ノイズ化を図るのが難しかった。
【0004】現在のように高記録密度が望まれている状
況では、インダクティブヘッドを用いるという方法、M
R、GMRヘッドのような磁気抵抗効果を利用した読み
込み素子を再生に利用できない方法は、もはや現実的で
ない。なぜなら、インダクティブヘッド等を用いた場合
には、低ノイズ化、高記録密度化の点で一定の限界があ
るのに対し、MR、GMRヘッドに代表される磁気抵抗
効果を利用したヘッドを使用した場合には、ヘッドの再
生感度が高く、得られる孤立波出力がインダクティブヘ
ッドの例えば3〜10倍も高くなるため磁気記録膜を薄
くすることができ、これによって低ノイズ化、高記録密
度化を実現することが可能となるためである。
況では、インダクティブヘッドを用いるという方法、M
R、GMRヘッドのような磁気抵抗効果を利用した読み
込み素子を再生に利用できない方法は、もはや現実的で
ない。なぜなら、インダクティブヘッド等を用いた場合
には、低ノイズ化、高記録密度化の点で一定の限界があ
るのに対し、MR、GMRヘッドに代表される磁気抵抗
効果を利用したヘッドを使用した場合には、ヘッドの再
生感度が高く、得られる孤立波出力がインダクティブヘ
ッドの例えば3〜10倍も高くなるため磁気記録膜を薄
くすることができ、これによって低ノイズ化、高記録密
度化を実現することが可能となるためである。
【0005】また特開平10−116412号公報に開
示された磁気記録媒体は、市販のインダクティブ−MR
複合ヘッドを使用できるとしているが、およそ100〜
1000という低透磁率の軟磁性層を使用するため、現
在広く用いられている高記録密度用の高保磁力磁気記録
媒体では、記録特性の改善が得られず、電磁変換特性も
不十分であった。さらに、軟磁性層をもたない従来の磁
気記録媒体では、非磁性基板表面のNiP膜中のNi等
がキズやピットのような欠陥を通して磁気記録媒体表面
から拡散し、これがコロージョンの原因となることがあ
った。
示された磁気記録媒体は、市販のインダクティブ−MR
複合ヘッドを使用できるとしているが、およそ100〜
1000という低透磁率の軟磁性層を使用するため、現
在広く用いられている高記録密度用の高保磁力磁気記録
媒体では、記録特性の改善が得られず、電磁変換特性も
不十分であった。さらに、軟磁性層をもたない従来の磁
気記録媒体では、非磁性基板表面のNiP膜中のNi等
がキズやピットのような欠陥を通して磁気記録媒体表面
から拡散し、これがコロージョンの原因となることがあ
った。
【0006】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、OW特性およびオフトラック特性を劣化させること
なくSNR、PW50を向上でき、しかも十分な耐コロ
ージョン性を有する磁気記録媒体を提供することを目的
とする。
で、OW特性およびオフトラック特性を劣化させること
なくSNR、PW50を向上でき、しかも十分な耐コロ
ージョン性を有する磁気記録媒体を提供することを目的
とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題は、非磁性基板
上に、非磁性下地膜と、磁気記録膜と、軟磁性膜と、保
護膜を有する磁気記録媒体であって、保磁力が2500
Oe以上とされ、かつ軟磁性膜の膜厚が5〜50Åとさ
れた磁気記録媒体によって解決することができる。また
本発明の磁気記録媒体は、Ni抽出量が基板単位面積に
対して0.08ng/cm2以下であるものとすること
ができる。また軟磁性膜の最大透磁率は、1000〜1
000000とするのが好ましい。また本発明では、磁
気記録膜の直下に非磁性中間膜を設けることができる。
また本発明の磁気記録媒体は、磁気抵抗効果を利用する
再生素子を使用したヘッドとともに用いることができ
る。
上に、非磁性下地膜と、磁気記録膜と、軟磁性膜と、保
護膜を有する磁気記録媒体であって、保磁力が2500
Oe以上とされ、かつ軟磁性膜の膜厚が5〜50Åとさ
れた磁気記録媒体によって解決することができる。また
本発明の磁気記録媒体は、Ni抽出量が基板単位面積に
対して0.08ng/cm2以下であるものとすること
ができる。また軟磁性膜の最大透磁率は、1000〜1
000000とするのが好ましい。また本発明では、磁
気記録膜の直下に非磁性中間膜を設けることができる。
また本発明の磁気記録媒体は、磁気抵抗効果を利用する
再生素子を使用したヘッドとともに用いることができ
る。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の磁気記録媒体の
一実施形態を示すもので、ここに示す磁気記録媒体は、
非磁性基板1上に非磁性下地膜2、磁気記録膜3、軟磁
性膜4、保護膜5を順次形成したものである。非磁性基
板1としては、磁気記録媒体用基板として一般に用いら
れるNiPメッキ膜が形成されたアルミニウム合金基板
(以下、NiPメッキAl基板)、ガラス基板、セラミ
ック基板、可撓性樹脂基板、またはこれらの基板にNi
Pをメッキあるいはスパッタ法により蒸着せしめた基板
などを用いることができる。また基板1の表面には、よ
り良好な電磁変換特性を得る、面内磁気異方性を付与し
て熱揺らぎ特性をよくする、研磨痕を消す等の目的でテ
クスチャ処理を施してもよい。
一実施形態を示すもので、ここに示す磁気記録媒体は、
非磁性基板1上に非磁性下地膜2、磁気記録膜3、軟磁
性膜4、保護膜5を順次形成したものである。非磁性基
板1としては、磁気記録媒体用基板として一般に用いら
れるNiPメッキ膜が形成されたアルミニウム合金基板
(以下、NiPメッキAl基板)、ガラス基板、セラミ
ック基板、可撓性樹脂基板、またはこれらの基板にNi
Pをメッキあるいはスパッタ法により蒸着せしめた基板
などを用いることができる。また基板1の表面には、よ
り良好な電磁変換特性を得る、面内磁気異方性を付与し
て熱揺らぎ特性をよくする、研磨痕を消す等の目的でテ
クスチャ処理を施してもよい。
【0009】非磁性下地膜2としては、従来公知の非磁
性下地膜、例えばCr、Ti、Ni、Si、Ta、Wな
どの単一組成膜、または結晶性を損なわない範囲で他の
元素をこれらに含有させた合金からなる膜を使用でき
る。なかでも特に、Cr(単一組成)、またはCrにM
o、W、V、Ti、Nbのうち1種または2種以上を含
有させた材料を用いると、磁気記録膜3中の結晶配向性
を良好なものとすることができるため好ましい。上記材
料を用いる場合、その組成は、CrzYとするのが好ま
しい。ここでY=Mo、W、V、Ti、Nbのうち1種
または2種以上とする。Y含有量(z)は30at%以
下とするのが好ましい。この含有量が30at%を越え
ると、磁気記録膜3の保磁力、ノイズ特性が悪化する。
性下地膜、例えばCr、Ti、Ni、Si、Ta、Wな
どの単一組成膜、または結晶性を損なわない範囲で他の
元素をこれらに含有させた合金からなる膜を使用でき
る。なかでも特に、Cr(単一組成)、またはCrにM
o、W、V、Ti、Nbのうち1種または2種以上を含
有させた材料を用いると、磁気記録膜3中の結晶配向性
を良好なものとすることができるため好ましい。上記材
料を用いる場合、その組成は、CrzYとするのが好ま
しい。ここでY=Mo、W、V、Ti、Nbのうち1種
または2種以上とする。Y含有量(z)は30at%以
下とするのが好ましい。この含有量が30at%を越え
ると、磁気記録膜3の保磁力、ノイズ特性が悪化する。
【0010】非磁性下地膜2の厚さは、所定の保磁力が
得られる範囲であれば制限されるものでない。この厚さ
は、50〜400Åが好ましい範囲であり、100〜3
00Åとするとさらに好ましい。下地膜2の膜厚が50
Å未満の場合には、下地膜2上に形成される磁気記録膜
3(または非磁性中間膜)の結晶配向性が悪くなりSN
Rが低下する。逆に膜厚が400Åを越えると、下地膜
中の結晶粒子径が大きくなり、これに伴って下地膜2上
の磁気記録膜3(または非磁性中間膜)中の結晶粒子径
も大きくなり、SNRが低下する。
得られる範囲であれば制限されるものでない。この厚さ
は、50〜400Åが好ましい範囲であり、100〜3
00Åとするとさらに好ましい。下地膜2の膜厚が50
Å未満の場合には、下地膜2上に形成される磁気記録膜
3(または非磁性中間膜)の結晶配向性が悪くなりSN
Rが低下する。逆に膜厚が400Åを越えると、下地膜
中の結晶粒子径が大きくなり、これに伴って下地膜2上
の磁気記録膜3(または非磁性中間膜)中の結晶粒子径
も大きくなり、SNRが低下する。
【0011】非磁性下地膜2は、単層構造をなすものと
してもよいし、多層構造をなすものとしてもよい。多層
構造をなすものとする場合には、互いに同一または異な
る組成の複数の層を積層したものとすることができる。
特に、これら複数の層のうち少なくとも1つをNiAl
からなるものとした場合には、格段のSNR向上が達成
されることがある。また非磁性下地膜2をNiAlから
なる単層からなるものとすると、格段のSNR向上が達
成される場合がある。
してもよいし、多層構造をなすものとしてもよい。多層
構造をなすものとする場合には、互いに同一または異な
る組成の複数の層を積層したものとすることができる。
特に、これら複数の層のうち少なくとも1つをNiAl
からなるものとした場合には、格段のSNR向上が達成
されることがある。また非磁性下地膜2をNiAlから
なる単層からなるものとすると、格段のSNR向上が達
成される場合がある。
【0012】磁気記録膜3は、所定の保磁力(後述)が
得られるものであれば特に制限されるものでないが、a
CobCrcPtdTaeZrfCugNi(bは16
〜25at%、cは10at%以下、dは1〜7at
%、eは4at%以下、fは3at%以下、gは10a
t%以下、aは残部)で表されるCo合金からなるもの
とすると、高Ku化が可能となるため好ましい。各成分
の含有比率は、b:16〜22at%、c:6〜10a
t%、d:1〜3at%、e:2at%以下、f:2a
t%以下、g:8at%以下とするのがさらに好まし
い。特に、Zr、Cu、Niのうち少なくとも1つを含
む材料を用いると、保磁力、SNRを高めることができ
るため好ましい。
得られるものであれば特に制限されるものでないが、a
CobCrcPtdTaeZrfCugNi(bは16
〜25at%、cは10at%以下、dは1〜7at
%、eは4at%以下、fは3at%以下、gは10a
t%以下、aは残部)で表されるCo合金からなるもの
とすると、高Ku化が可能となるため好ましい。各成分
の含有比率は、b:16〜22at%、c:6〜10a
t%、d:1〜3at%、e:2at%以下、f:2a
t%以下、g:8at%以下とするのがさらに好まし
い。特に、Zr、Cu、Niのうち少なくとも1つを含
む材料を用いると、保磁力、SNRを高めることができ
るため好ましい。
【0013】Crの含有比率(b)を16〜25at%
とするのが好ましいとしたのは、この含有比率が16a
t%未満ではCrの偏析によるCo含有磁性粒子の分散
が不十分となり、磁性粒子間の磁気的結合に起因するノ
イズ特性の低下が起きやすくなり、25at%を越える
と、所定の保磁力が得られにくくなるためである。また
Ptの含有比率(c)を10at%以下とするのが好ま
しいとしたのは、この含有比率が10at%を越えると
SN比が悪化するためである。またTaの含有比率
(d)を1〜7at%とするのが好ましいとしたのは、
1at%未満ではノイズが増加する傾向があり、7at
%を越えると高い保磁力を得られにくくなるためであ
る。またZrの含有比率(e)を4at%以下とするの
が好ましいとしたのは、この含有比率が4at%を越え
ると、SNRが悪化するためである。またCuの含有比
率(f)を3at%以下とするのが好ましいとしたの
は、この含有比率が3at%を越えると、SNRが悪化
するためである。またNiの含有比率(g)を10at
%以下とするのが好ましいとしたのは、この含有比率が
10at%を越えると、SNRが悪化するためである。
とするのが好ましいとしたのは、この含有比率が16a
t%未満ではCrの偏析によるCo含有磁性粒子の分散
が不十分となり、磁性粒子間の磁気的結合に起因するノ
イズ特性の低下が起きやすくなり、25at%を越える
と、所定の保磁力が得られにくくなるためである。また
Ptの含有比率(c)を10at%以下とするのが好ま
しいとしたのは、この含有比率が10at%を越えると
SN比が悪化するためである。またTaの含有比率
(d)を1〜7at%とするのが好ましいとしたのは、
1at%未満ではノイズが増加する傾向があり、7at
%を越えると高い保磁力を得られにくくなるためであ
る。またZrの含有比率(e)を4at%以下とするの
が好ましいとしたのは、この含有比率が4at%を越え
ると、SNRが悪化するためである。またCuの含有比
率(f)を3at%以下とするのが好ましいとしたの
は、この含有比率が3at%を越えると、SNRが悪化
するためである。またNiの含有比率(g)を10at
%以下とするのが好ましいとしたのは、この含有比率が
10at%を越えると、SNRが悪化するためである。
【0014】磁気記録膜3の厚さは、特に限定されるも
のでないが、150〜400Åとするのが好ましい。特
に、250〜400Åとするのが好ましい。この厚さ
は、150Å未満とすると、良好なSNRおよび適切な
再生出力が得られず、400Åを越えるとSNRが低下
する。
のでないが、150〜400Åとするのが好ましい。特
に、250〜400Åとするのが好ましい。この厚さ
は、150Å未満とすると、良好なSNRおよび適切な
再生出力が得られず、400Åを越えるとSNRが低下
する。
【0015】磁気記録膜3の保磁力は2500Oe以
上、例えば2500〜6000Oeとされている。25
00Oe未満ではビット間遷移領域が広がり、PW50
が悪化するとともに、ノイズも増大しSNRが悪化す
る。また、現状では、保磁力が6000Oeを越える磁
気記録媒体用磁気記録膜を形成するのは難しい。磁気記
録膜3の保磁力は、信号を十分に書き込むことが可能な
ヘッドを使用した場合、高いほど好ましく、3000O
e以上、さらに好ましくは3500Oe以上とするのが
望ましい。
上、例えば2500〜6000Oeとされている。25
00Oe未満ではビット間遷移領域が広がり、PW50
が悪化するとともに、ノイズも増大しSNRが悪化す
る。また、現状では、保磁力が6000Oeを越える磁
気記録媒体用磁気記録膜を形成するのは難しい。磁気記
録膜3の保磁力は、信号を十分に書き込むことが可能な
ヘッドを使用した場合、高いほど好ましく、3000O
e以上、さらに好ましくは3500Oe以上とするのが
望ましい。
【0016】軟磁性膜4は、特に限定されるものでない
が、Fe、Ni、Coの単一組成膜、またはFe、N
i、Coに他の元素を含有させた合金からなるものとす
るのが好ましい。軟磁性膜4の材料の具体例としては、
Ni−Fe、Ni−Fe−Mo、Ni−Fe−Cr、N
i−Fe−Si、Fe−C、Fe−Si、Fe−P、F
e−Al、Fe−Al−Si、Co−Cr、Ni−C
r、Fe−Cr−Ti、Fe−Cr−Cu、Fe−Co
−V、Fe−Al−Si−Cr、Fe−Al−Si−T
i−Ru、Co−Zr−Nb、Co−Ta−Zr、Fe
−Ta、Fe−Ta−C、Fe−Nb、Fe−Hf等の
各種合金を挙げることができる。
が、Fe、Ni、Coの単一組成膜、またはFe、N
i、Coに他の元素を含有させた合金からなるものとす
るのが好ましい。軟磁性膜4の材料の具体例としては、
Ni−Fe、Ni−Fe−Mo、Ni−Fe−Cr、N
i−Fe−Si、Fe−C、Fe−Si、Fe−P、F
e−Al、Fe−Al−Si、Co−Cr、Ni−C
r、Fe−Cr−Ti、Fe−Cr−Cu、Fe−Co
−V、Fe−Al−Si−Cr、Fe−Al−Si−T
i−Ru、Co−Zr−Nb、Co−Ta−Zr、Fe
−Ta、Fe−Ta−C、Fe−Nb、Fe−Hf等の
各種合金を挙げることができる。
【0017】なかでも特に、NiFe系合金(例えばパ
ーマロイ等)を用いることが好ましい。NiFe系合金
としては、NixFeを用いるのが好ましい。Feの含
有比率xは15〜60at%、好ましくは15〜25a
t%とするのが好適である。NiFe系合金を用いるの
が好ましいとしたのは、この材料を使用することによっ
て、耐コロージョン性を向上させる効果を高めることが
でき、かつより良い電磁変換特性が得られるためであ
る。
ーマロイ等)を用いることが好ましい。NiFe系合金
としては、NixFeを用いるのが好ましい。Feの含
有比率xは15〜60at%、好ましくは15〜25a
t%とするのが好適である。NiFe系合金を用いるの
が好ましいとしたのは、この材料を使用することによっ
て、耐コロージョン性を向上させる効果を高めることが
でき、かつより良い電磁変換特性が得られるためであ
る。
【0018】軟磁性膜4の最大透磁率は、1000〜1
000000、好ましくは8000〜500000、さ
らに好ましくは100000〜500000とするのが
望ましい。最大透磁率が1000未満であると、記録時
に磁気記録媒体への書き込みが不十分となり、書き込み
後の磁化遷移間の反磁界を緩和することができないため
十分な電磁変換特性を得られなくなるおそれがある。ま
た最大透磁率が1000000を越える軟磁性膜を作製
するのは技術的に難しい。
000000、好ましくは8000〜500000、さ
らに好ましくは100000〜500000とするのが
望ましい。最大透磁率が1000未満であると、記録時
に磁気記録媒体への書き込みが不十分となり、書き込み
後の磁化遷移間の反磁界を緩和することができないため
十分な電磁変換特性を得られなくなるおそれがある。ま
た最大透磁率が1000000を越える軟磁性膜を作製
するのは技術的に難しい。
【0019】上記最大透磁率は、次のように定義され
る。すなわち軟磁性体スパッタターゲット試験片を、例
えば振動式磁気特性装置(VSM)を用いて全く磁化さ
れていない状態から外部磁界を印加することにより徐々
に磁化していき、磁界を増加しても磁化の強さが増加し
ない状態に達するまでの磁化曲線中で、磁界の変化に対
する磁化の変化の割合のうち最大となったものを最大透
磁率とする。なお、透磁率はCGS単位系で表した値で
ある。
る。すなわち軟磁性体スパッタターゲット試験片を、例
えば振動式磁気特性装置(VSM)を用いて全く磁化さ
れていない状態から外部磁界を印加することにより徐々
に磁化していき、磁界を増加しても磁化の強さが増加し
ない状態に達するまでの磁化曲線中で、磁界の変化に対
する磁化の変化の割合のうち最大となったものを最大透
磁率とする。なお、透磁率はCGS単位系で表した値で
ある。
【0020】軟磁性膜4の膜厚は、5〜50Å、好まし
くは5〜30Å、より好ましくは5〜20Åとされてい
る。この膜厚が5Å未満であると、OW特性、オフトラ
ック特性が不十分となり、50Åを越えると、SNRが
低下する。また軟磁性膜4の膜厚は5Å以上10Å未満
とすることもできる。
くは5〜30Å、より好ましくは5〜20Åとされてい
る。この膜厚が5Å未満であると、OW特性、オフトラ
ック特性が不十分となり、50Åを越えると、SNRが
低下する。また軟磁性膜4の膜厚は5Å以上10Å未満
とすることもできる。
【0021】上記非磁性下地膜2、磁気記録膜3、軟磁
性膜4は、例えばスパッタリング法により形成すること
ができる。
性膜4は、例えばスパッタリング法により形成すること
ができる。
【0022】保護膜5は、ヘッドが接触することによる
媒体表面の損傷を防ぐために設けられたもので、その材
質は従来公知のものを使用でき、例えばC、SiO2、
ZrO2等の単一組成、またはこれらを主成分とし他元
素を含むものが使用可能である。保護膜5はスパッタリ
ング、イオンビーム、プラズマCVD法などを用いて形
成することができる。保護膜5の厚さは、1〜20nm
とすることができる。特に1〜9nmとすると、よりス
ペーシングロスを小さくすることができるため好まし
い。保護膜5の表面には、必要に応じて潤滑膜(図示
略)を形成することもできる。潤滑膜の材料としては、
PFPE(パーフルオロポリエーテル)等の弗化系液体
潤滑剤、脂肪酸等の固体潤滑剤が使用可能である。潤滑
膜形成方法としては、ディッピング法、スピンコート法
などの従来公知の方法を採用することができる。
媒体表面の損傷を防ぐために設けられたもので、その材
質は従来公知のものを使用でき、例えばC、SiO2、
ZrO2等の単一組成、またはこれらを主成分とし他元
素を含むものが使用可能である。保護膜5はスパッタリ
ング、イオンビーム、プラズマCVD法などを用いて形
成することができる。保護膜5の厚さは、1〜20nm
とすることができる。特に1〜9nmとすると、よりス
ペーシングロスを小さくすることができるため好まし
い。保護膜5の表面には、必要に応じて潤滑膜(図示
略)を形成することもできる。潤滑膜の材料としては、
PFPE(パーフルオロポリエーテル)等の弗化系液体
潤滑剤、脂肪酸等の固体潤滑剤が使用可能である。潤滑
膜形成方法としては、ディッピング法、スピンコート法
などの従来公知の方法を採用することができる。
【0023】上記磁気記録媒体は、上記軟磁性膜4の形
成によって、Ni抽出量を基板単位面積に対して0.0
8ng/cm2以下とすることができる。Ni抽出量
が、0.08ng/cm2を越えると、ヘッドが汚れる
など耐コロージョン性が悪いと判断されるため好ましく
ない。Ni抽出量とは、磁気記録媒体の外端部および内
端部をパラフィンで封止した後、80℃の純水中に30
分間浸漬した際に純水中に溶出した基板単位面積当たり
のNi量をいう。
成によって、Ni抽出量を基板単位面積に対して0.0
8ng/cm2以下とすることができる。Ni抽出量
が、0.08ng/cm2を越えると、ヘッドが汚れる
など耐コロージョン性が悪いと判断されるため好ましく
ない。Ni抽出量とは、磁気記録媒体の外端部および内
端部をパラフィンで封止した後、80℃の純水中に30
分間浸漬した際に純水中に溶出した基板単位面積当たり
のNi量をいう。
【0024】上記構成の磁気記録媒体では、OW特性お
よびオフトラック特性を劣化させることなくSNR、P
W50を向上できる。またNiP上にNiPよりも腐食
電位が貴であるような材料を使用した軟磁性膜を設ける
ことによって、基板表面のNiP膜中のNiや、基板材
料(ガラス、セラミック等)中の軽元素がキズやピット
などの欠陥を通して磁気記録媒体表面から拡散するのを
妨げ、耐コロージョン性を向上させることができる。
よびオフトラック特性を劣化させることなくSNR、P
W50を向上できる。またNiP上にNiPよりも腐食
電位が貴であるような材料を使用した軟磁性膜を設ける
ことによって、基板表面のNiP膜中のNiや、基板材
料(ガラス、セラミック等)中の軽元素がキズやピット
などの欠陥を通して磁気記録媒体表面から拡散するのを
妨げ、耐コロージョン性を向上させることができる。
【0025】また、上記構成の磁気記録媒体は、特にイ
ンダクティブ−MR複合ヘッドに台表される磁気抵抗効
果を利用する再生素子を使用したヘッド(以下磁気抵抗
効果利用ヘッドという)を用いた場合に優れた特性を発
揮する。これは以下に示す理由によるものであると考え
られる。磁気抵抗効果利用ヘッドを用いて上記磁気記録
媒体からの再生を行う場合には、該ヘッドによって生成
するバイアスフラックスによって軟磁性膜の一部が飽和
状態となり、この部分の透磁率が大気の透磁率を下回る
ため、この部分でもれ磁束が軟磁性膜の外部に出ること
になる。このため、シャープな磁気回路が形成され、ヘ
ッドがもれ磁束を捕捉する際の損失が少なくなる。また
記録時においても同様に、ヘッドが軟磁性膜の一部を飽
和させることにより、スペーシング損失の少ない磁気回
路が形成される。従って、磁気抵抗効果利用ヘッドを用
いることによって、優れた電磁変換特性を得ることがで
きる。
ンダクティブ−MR複合ヘッドに台表される磁気抵抗効
果を利用する再生素子を使用したヘッド(以下磁気抵抗
効果利用ヘッドという)を用いた場合に優れた特性を発
揮する。これは以下に示す理由によるものであると考え
られる。磁気抵抗効果利用ヘッドを用いて上記磁気記録
媒体からの再生を行う場合には、該ヘッドによって生成
するバイアスフラックスによって軟磁性膜の一部が飽和
状態となり、この部分の透磁率が大気の透磁率を下回る
ため、この部分でもれ磁束が軟磁性膜の外部に出ること
になる。このため、シャープな磁気回路が形成され、ヘ
ッドがもれ磁束を捕捉する際の損失が少なくなる。また
記録時においても同様に、ヘッドが軟磁性膜の一部を飽
和させることにより、スペーシング損失の少ない磁気回
路が形成される。従って、磁気抵抗効果利用ヘッドを用
いることによって、優れた電磁変換特性を得ることがで
きる。
【0026】図2は本発明の磁気記録媒体の他の実施形
態を示すもので、ここに示す磁気記録媒体は、非磁性下
地膜2と磁気記録膜3との間、すなわち磁気記録膜3の
直下に、非磁性中間膜6が設けられている点で図1に示
す磁気記録媒体と異なる。非磁性中間膜6の材料として
は、上記磁気記録膜3の材料組成に近い材料組成をも
ち、非磁性中間膜6に対しエピタキシャル成長する磁気
記録膜3の結晶配向性を良好なものとすることができる
ものが用いられる。またこの材料としてhcp構造をな
すものを用いると、磁気記録膜3の結晶配向性を向上さ
せる効果を高めることができるため好ましい。
態を示すもので、ここに示す磁気記録媒体は、非磁性下
地膜2と磁気記録膜3との間、すなわち磁気記録膜3の
直下に、非磁性中間膜6が設けられている点で図1に示
す磁気記録媒体と異なる。非磁性中間膜6の材料として
は、上記磁気記録膜3の材料組成に近い材料組成をも
ち、非磁性中間膜6に対しエピタキシャル成長する磁気
記録膜3の結晶配向性を良好なものとすることができる
ものが用いられる。またこの材料としてhcp構造をな
すものを用いると、磁気記録膜3の結晶配向性を向上さ
せる効果を高めることができるため好ましい。
【0027】具体的には、aCobCrcPtdTae
ZrfCuhB(bは25〜50at%、cは10at
%以下、dは10at%以下、eは5at%以下、fは
5at%以下、hは10at%以下、aは残部)で表さ
れるCo合金を用いるのが好ましい。各成分の含有比率
は、b:25〜40at%、c:10at%以下、d:
3at%以下、e:2at%以下、f:2at%以下、
h:8at%以下とするのがさらに好ましい。Crの含
有比率(b)が25at%未満である場合には、非磁性
中間膜6が磁性膜となってしまうため好ましくない。ま
た、Crの含有比率(b)、Pt含有比率(c)、Ta
の含有比率(d)、Zrの含有比率(e)、Cuの含有
比率(f)、およびBの含有比率(h)が上記範囲上限
値を越えると、非磁性中間膜6の組成が磁気記録膜3の
組成に対し大きく異なるものとなり、磁気記録膜3内の
結晶配向性が悪化し、保磁力、ノイズ特性向上効果が低
下する。
ZrfCuhB(bは25〜50at%、cは10at
%以下、dは10at%以下、eは5at%以下、fは
5at%以下、hは10at%以下、aは残部)で表さ
れるCo合金を用いるのが好ましい。各成分の含有比率
は、b:25〜40at%、c:10at%以下、d:
3at%以下、e:2at%以下、f:2at%以下、
h:8at%以下とするのがさらに好ましい。Crの含
有比率(b)が25at%未満である場合には、非磁性
中間膜6が磁性膜となってしまうため好ましくない。ま
た、Crの含有比率(b)、Pt含有比率(c)、Ta
の含有比率(d)、Zrの含有比率(e)、Cuの含有
比率(f)、およびBの含有比率(h)が上記範囲上限
値を越えると、非磁性中間膜6の組成が磁気記録膜3の
組成に対し大きく異なるものとなり、磁気記録膜3内の
結晶配向性が悪化し、保磁力、ノイズ特性向上効果が低
下する。
【0028】非磁性中間膜6を設けることによって、磁
気記録膜3内において、比較的結晶構造が乱れやすい初
期成長層を最小限に抑え、磁気記録膜3内の結晶配向性
を向上させ、高保磁力化、低ノイズ化を図ることができ
る。
気記録膜3内において、比較的結晶構造が乱れやすい初
期成長層を最小限に抑え、磁気記録膜3内の結晶配向性
を向上させ、高保磁力化、低ノイズ化を図ることができ
る。
【0029】また、本発明の磁気記録媒体は、図3およ
び図4に示す構造を有するものとすることもできる。図
3に示す磁気記録媒体は、軟磁性膜4が磁気記録膜3の
下面側に形成されている点で、図1に示す磁気記録媒体
と異なる。また、非磁性中間膜6は磁気記録膜3と軟磁
性膜4の間に設けることもできる。図4に示す磁気記録
媒体は、符号7で示す磁気記録膜が、第1および第2の
磁気記録層7a、7bからなるものとされ、軟磁性膜4
が、これら第1および第2の磁気記録層7a、7bの間
に設けられていることを特徴とするものである。また非
磁性中間膜は、第1および第2の磁気記録層7a、7b
のいずれかの直下に設けることもできるし、これら両方
の直下にそれぞれ設けることもできる。
び図4に示す構造を有するものとすることもできる。図
3に示す磁気記録媒体は、軟磁性膜4が磁気記録膜3の
下面側に形成されている点で、図1に示す磁気記録媒体
と異なる。また、非磁性中間膜6は磁気記録膜3と軟磁
性膜4の間に設けることもできる。図4に示す磁気記録
媒体は、符号7で示す磁気記録膜が、第1および第2の
磁気記録層7a、7bからなるものとされ、軟磁性膜4
が、これら第1および第2の磁気記録層7a、7bの間
に設けられていることを特徴とするものである。また非
磁性中間膜は、第1および第2の磁気記録層7a、7b
のいずれかの直下に設けることもできるし、これら両方
の直下にそれぞれ設けることもできる。
【0030】
【実施例】以下、具体例を示して本発明の作用効果を明
確化する。 (試験例1)図1に示すものと同様の構造の磁気記録媒
体を次のようにして作製した。NiPメッキ膜(厚さ1
0μm)を形成したアルミニウム合金基板(直径95m
m、厚さ0.8mm)に、表面平均粗さRaが6Åとな
るようにメカニカルテクスチャ加工を施した後、これを
DCマグネトロンスパッタ装置(アネルバ社製301
0)のチャンバ内にセットした。チャンバ内の真空度を
2×10-7とし、非磁性基板1を200℃まで加熱した
後、非磁性基板1上に表1に示す非磁性下地膜2、磁気
記録膜3、軟磁性膜4を順次形成した。次いで、プラズ
マCVD装置(アネルバ製)を用いてプラズマCVD法
により厚さ70Åのカーボン保護膜5を形成し、保護膜
5上に、ディッピング法によりPFPE潤滑剤を塗布
し、厚さ15Åの潤滑膜(図示略)を形成した。
確化する。 (試験例1)図1に示すものと同様の構造の磁気記録媒
体を次のようにして作製した。NiPメッキ膜(厚さ1
0μm)を形成したアルミニウム合金基板(直径95m
m、厚さ0.8mm)に、表面平均粗さRaが6Åとな
るようにメカニカルテクスチャ加工を施した後、これを
DCマグネトロンスパッタ装置(アネルバ社製301
0)のチャンバ内にセットした。チャンバ内の真空度を
2×10-7とし、非磁性基板1を200℃まで加熱した
後、非磁性基板1上に表1に示す非磁性下地膜2、磁気
記録膜3、軟磁性膜4を順次形成した。次いで、プラズ
マCVD装置(アネルバ製)を用いてプラズマCVD法
により厚さ70Åのカーボン保護膜5を形成し、保護膜
5上に、ディッピング法によりPFPE潤滑剤を塗布
し、厚さ15Åの潤滑膜(図示略)を形成した。
【0031】(試験例2〜6)軟磁性膜4の厚さを変え
たこと以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体を作製
した。
たこと以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体を作製
した。
【0032】(試験例7〜11)軟磁性膜4をCo(単
一組成)からなるものとし、表1に示すようにその膜厚
を変えたことに加え、LF出力が一定となるように磁気
記録膜3の膜厚を設定したこと以外は試験例1と同様に
して磁気記録媒体を作製した。
一組成)からなるものとし、表1に示すようにその膜厚
を変えたことに加え、LF出力が一定となるように磁気
記録膜3の膜厚を設定したこと以外は試験例1と同様に
して磁気記録媒体を作製した。
【0033】(試験例12〜16)軟磁性膜4をNi
(単一組成)からなるものとし、表1に示すようにその
膜厚を変えたこと以外は試験例1と同様にして磁気記録
媒体を作製した。
(単一組成)からなるものとし、表1に示すようにその
膜厚を変えたこと以外は試験例1と同様にして磁気記録
媒体を作製した。
【0034】(試験例17〜22)非磁性下地膜2をC
r(単一組成)からなるものとし、表1に示すように軟
磁性膜4の膜厚を変えたことに加え、LF出力が一定と
なるように磁気記録膜3の膜厚を設定したこと以外は試
験例1と同様にして磁気記録媒体を作製した。
r(単一組成)からなるものとし、表1に示すように軟
磁性膜4の膜厚を変えたことに加え、LF出力が一定と
なるように磁気記録膜3の膜厚を設定したこと以外は試
験例1と同様にして磁気記録媒体を作製した。
【0035】(試験例23〜24)磁気記録膜3を形成
する際に基板温度を適宜変化させることで媒体の保磁力
を変化させ、かつ軟磁性膜4の膜厚を20Åとしたこと
以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体を作製した。
する際に基板温度を適宜変化させることで媒体の保磁力
を変化させ、かつ軟磁性膜4の膜厚を20Åとしたこと
以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体を作製した。
【0036】(試験例25〜28)磁気記録膜3を表1
に示す材料からなるものとし、軟磁性膜4の膜厚を20
Åとしたこと以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体
を作製した。
に示す材料からなるものとし、軟磁性膜4の膜厚を20
Åとしたこと以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体
を作製した。
【0037】(試験例29〜31)図2に示すように、
磁気記録膜3の直下に非磁性中間膜6を設け、軟磁性膜
4の膜厚を20Åとしたこと以外は試験例1と同様にし
て磁気記録媒体を作製した。
磁気記録膜3の直下に非磁性中間膜6を設け、軟磁性膜
4の膜厚を20Åとしたこと以外は試験例1と同様にし
て磁気記録媒体を作製した。
【0038】(試験例32〜35)非磁性下地膜2を、
表1に示す材料からなるものとし、軟磁性膜4の膜厚を
20Åしたこと以外は試験例1と同様にして磁気記録媒
体を作製した。
表1に示す材料からなるものとし、軟磁性膜4の膜厚を
20Åしたこと以外は試験例1と同様にして磁気記録媒
体を作製した。
【0039】(試験例36)特開平7−169037号
公報の実施例の記載に基づいて磁気記録媒体を作製し
た。すなわち基板上に、Crからなる下地膜(厚さ30
0Å)を設け、その上にCo−13at%Cr−3at
%Ta(Co13Cr3Ta)からなる磁気記録膜(厚さ
500Å)を設け、その上にNi19Feからなる軟磁性
膜(厚さ50Å)を設けた。これら以外は試験例1と同
様にして磁気記録媒体を得た。
公報の実施例の記載に基づいて磁気記録媒体を作製し
た。すなわち基板上に、Crからなる下地膜(厚さ30
0Å)を設け、その上にCo−13at%Cr−3at
%Ta(Co13Cr3Ta)からなる磁気記録膜(厚さ
500Å)を設け、その上にNi19Feからなる軟磁性
膜(厚さ50Å)を設けた。これら以外は試験例1と同
様にして磁気記録媒体を得た。
【0040】(試験例37)特開平10−116412
号公報の実施例の記載に基づいて磁気記録媒体を作製し
た。すなわち基板上に、Crからなる下地膜(厚さ30
Å)を設け、その上にCo18CrPt3Taからなる磁
気記録膜(厚さ300Å)を設け、その上にFe2Al5
Siからなる軟磁性膜(厚さ130Å)を設けた。これ
ら以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体を得た。
号公報の実施例の記載に基づいて磁気記録媒体を作製し
た。すなわち基板上に、Crからなる下地膜(厚さ30
Å)を設け、その上にCo18CrPt3Taからなる磁
気記録膜(厚さ300Å)を設け、その上にFe2Al5
Siからなる軟磁性膜(厚さ130Å)を設けた。これ
ら以外は試験例1と同様にして磁気記録媒体を得た。
【0041】上記試験例1〜37の磁気記録媒体の静磁
気特性を、振動式磁気特性装置(VSM)を用いて評価
した。またこれら磁気記録媒体の電磁変換特性を、3種
類のヘッド、すなわち再生部に巨大磁気抵抗(GMR)
素子を有するインダクティブ−GMR複合型磁気記録ヘ
ッド、磁気抵抗効果(MR)素子を有するインダクティ
ブ−MR複合型磁気記録ヘッド、またはトラック方向に
対し垂直に配列した2本のMR素子を有するデュアルス
トライプMR(DSMR)素子を有するインダクティブ
−DSMR複合型磁気記録ヘッドを用いて評価した。ま
た、これら磁気記録媒体の電磁変換特性を、Guzik
社製リードライトアナライザRWA1632、およびス
ピンスタンドS1701MPを用いて評価した。LFT
AA測定は、線記録密度42kFCIで行い、OW測定
は、250kFCIと42kFCIの2つの線記録密度
で測定した。SNR測定には、シグナルとしてLFTA
A出力のBase−Peak値を用い、ノイズ測定に
は、250kFCIの線記録密度を用いた。オフトラッ
ク特性の評価には、トラック幅方向の各位置に対してP
R4MLでエラーレイトを測定し、いわゆるバスタブカ
ーブを得て、エラーレイト10-7での幅を2分した値を
用いた。表中、OTCとは、この値を意味するものであ
る。耐コロージョン性の評価は、Ni抽出量、すなわち
上記磁気記録媒体の外端部および内端部をパラフィンで
封止した後、80℃の純水中に30分間浸漬した際に純
水中に溶出した基板単位面積当たりのNi量をイオンク
ロマトグラフィーを用いて測定した値を指標とした。上
記各評価試験の結果を表1に示す。なお最大透磁率は、
Ni19Fe:300000、Co:5000、Ni:1
0000、Ni2Al5Si:100であった。
気特性を、振動式磁気特性装置(VSM)を用いて評価
した。またこれら磁気記録媒体の電磁変換特性を、3種
類のヘッド、すなわち再生部に巨大磁気抵抗(GMR)
素子を有するインダクティブ−GMR複合型磁気記録ヘ
ッド、磁気抵抗効果(MR)素子を有するインダクティ
ブ−MR複合型磁気記録ヘッド、またはトラック方向に
対し垂直に配列した2本のMR素子を有するデュアルス
トライプMR(DSMR)素子を有するインダクティブ
−DSMR複合型磁気記録ヘッドを用いて評価した。ま
た、これら磁気記録媒体の電磁変換特性を、Guzik
社製リードライトアナライザRWA1632、およびス
ピンスタンドS1701MPを用いて評価した。LFT
AA測定は、線記録密度42kFCIで行い、OW測定
は、250kFCIと42kFCIの2つの線記録密度
で測定した。SNR測定には、シグナルとしてLFTA
A出力のBase−Peak値を用い、ノイズ測定に
は、250kFCIの線記録密度を用いた。オフトラッ
ク特性の評価には、トラック幅方向の各位置に対してP
R4MLでエラーレイトを測定し、いわゆるバスタブカ
ーブを得て、エラーレイト10-7での幅を2分した値を
用いた。表中、OTCとは、この値を意味するものであ
る。耐コロージョン性の評価は、Ni抽出量、すなわち
上記磁気記録媒体の外端部および内端部をパラフィンで
封止した後、80℃の純水中に30分間浸漬した際に純
水中に溶出した基板単位面積当たりのNi量をイオンク
ロマトグラフィーを用いて測定した値を指標とした。上
記各評価試験の結果を表1に示す。なお最大透磁率は、
Ni19Fe:300000、Co:5000、Ni:1
0000、Ni2Al5Si:100であった。
【0042】
【表1】
【0043】表1より、PW50については、いずれの
ヘッドを用いた場合でも、軟磁性膜4の膜厚が5〜50
Åとした場合に極小となることがわかる。またOWにつ
いては、軟磁性膜4がない場合に低いOWを示すものほ
ど軟磁性膜4を設けることによるOWの改善が顕著であ
り、その効果は軟磁性膜4の膜厚が40〜50Å付近で
飽和することがわかる。またSNRについては、軟磁性
膜4の膜厚が40Åを越えるあたりから低下するものが
多いことがわかる。またOTCについては、軟磁性膜4
の膜厚が5〜50Åの範囲を外れると急激に悪化するこ
とがわかる。これらの結果から、軟磁性膜の膜厚を5〜
50Åとすると、SNR、PW50、OW、OTCの各
特性が良好となり、電磁変換特性が向上することがわか
る。
ヘッドを用いた場合でも、軟磁性膜4の膜厚が5〜50
Åとした場合に極小となることがわかる。またOWにつ
いては、軟磁性膜4がない場合に低いOWを示すものほ
ど軟磁性膜4を設けることによるOWの改善が顕著であ
り、その効果は軟磁性膜4の膜厚が40〜50Å付近で
飽和することがわかる。またSNRについては、軟磁性
膜4の膜厚が40Åを越えるあたりから低下するものが
多いことがわかる。またOTCについては、軟磁性膜4
の膜厚が5〜50Åの範囲を外れると急激に悪化するこ
とがわかる。これらの結果から、軟磁性膜の膜厚を5〜
50Åとすると、SNR、PW50、OW、OTCの各
特性が良好となり、電磁変換特性が向上することがわか
る。
【0044】また磁気抵抗効果を再生に利用した3種の
ヘッド、すなわちインダクティブ−MR複合型磁気記録
ヘッド、インダクティブ−GMR複合型磁気記録ヘッ
ド、およびインダクティブ−DSMR複合型磁気記録ヘ
ッドのいずれを用いた場合でも軟磁性膜の膜厚を5〜5
0Åとすることで電磁変換特性が良好なものとなること
がわかる。試験例1〜6と試験例23、24との比較よ
り、保磁力(Hc)が2500Oe未満であると、OW
は良好であるものの、SNRは低い値となることがわか
る。試験例2と25〜28との比較より、磁気記録膜3
の材料組成をこの範囲で変化させても電磁変換特性は悪
化せず、良好であることがわかる。試験例2と29〜3
1との比較より、非磁性中間膜6を設けた場合でも電磁
変換特性は悪化せず、良好であることがわかる。試験例
2と試験例32〜35の比較より、非磁性下地膜2の材
料組成をこの範囲で変化させても電磁変換特性は悪化せ
ず、良好であることがわかる。特開平7−169037
号公報の記載に基づいて作製した試験例36の磁気記録
媒体は、試験例1〜5、12〜16、25〜35に比較
して、LFTAA以外の全ての電磁変換特性において極
端に劣る結果となったことがわかる。この磁気記録媒体
では、磁気記録膜におけるCrの含有比率が低く磁気記
録膜内磁性粒子間の磁気的結合が強いためにノイズ、S
NRが悪く、磁気記録膜の膜厚が大きいためPW50お
よびOWが悪いと考えられる。特開平10−11641
2号公報の記載に基づいて作製した試験例37の磁気記
録媒体は、試験例1〜5、12〜16、25〜35に比
較して、特にPW50、SNRにおいて極端に劣る結果
となったことがわかる。この磁気記録媒体では、下地膜
の膜厚が小さいため高い保磁力が得られず、軟磁性膜の
最大透磁率が小さいためにPW50が悪く、SNRも悪
くなっているものと考えられる。また、耐コロージョン
性については、軟磁性膜4を設けていない試験例6、1
1、22の磁気記録媒体においてNiの溶出が起こった
のに対し、軟磁性膜4を設けたものでは、Niが全く抽
出されず、耐コロージョン性が格段に良好であることが
わかる。
ヘッド、すなわちインダクティブ−MR複合型磁気記録
ヘッド、インダクティブ−GMR複合型磁気記録ヘッ
ド、およびインダクティブ−DSMR複合型磁気記録ヘ
ッドのいずれを用いた場合でも軟磁性膜の膜厚を5〜5
0Åとすることで電磁変換特性が良好なものとなること
がわかる。試験例1〜6と試験例23、24との比較よ
り、保磁力(Hc)が2500Oe未満であると、OW
は良好であるものの、SNRは低い値となることがわか
る。試験例2と25〜28との比較より、磁気記録膜3
の材料組成をこの範囲で変化させても電磁変換特性は悪
化せず、良好であることがわかる。試験例2と29〜3
1との比較より、非磁性中間膜6を設けた場合でも電磁
変換特性は悪化せず、良好であることがわかる。試験例
2と試験例32〜35の比較より、非磁性下地膜2の材
料組成をこの範囲で変化させても電磁変換特性は悪化せ
ず、良好であることがわかる。特開平7−169037
号公報の記載に基づいて作製した試験例36の磁気記録
媒体は、試験例1〜5、12〜16、25〜35に比較
して、LFTAA以外の全ての電磁変換特性において極
端に劣る結果となったことがわかる。この磁気記録媒体
では、磁気記録膜におけるCrの含有比率が低く磁気記
録膜内磁性粒子間の磁気的結合が強いためにノイズ、S
NRが悪く、磁気記録膜の膜厚が大きいためPW50お
よびOWが悪いと考えられる。特開平10−11641
2号公報の記載に基づいて作製した試験例37の磁気記
録媒体は、試験例1〜5、12〜16、25〜35に比
較して、特にPW50、SNRにおいて極端に劣る結果
となったことがわかる。この磁気記録媒体では、下地膜
の膜厚が小さいため高い保磁力が得られず、軟磁性膜の
最大透磁率が小さいためにPW50が悪く、SNRも悪
くなっているものと考えられる。また、耐コロージョン
性については、軟磁性膜4を設けていない試験例6、1
1、22の磁気記録媒体においてNiの溶出が起こった
のに対し、軟磁性膜4を設けたものでは、Niが全く抽
出されず、耐コロージョン性が格段に良好であることが
わかる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気記録
媒体では、OW特性およびオフトラック特性を劣化させ
ることなくSNR、PW50を向上でき、しかも十分な
耐コロージョン性を有するものとなる。
媒体では、OW特性およびオフトラック特性を劣化させ
ることなくSNR、PW50を向上でき、しかも十分な
耐コロージョン性を有するものとなる。
【図1】 本発明の磁気記録媒体の一実施形態を示す一
部断面図である。
部断面図である。
【図2】 本発明の磁気記録媒体の他の実施形態を示す
一部断面図である。
一部断面図である。
【図3】 本発明の磁気記録媒体のさらに他の実施形態
を示す一部断面図である。
を示す一部断面図である。
【図4】 本発明の磁気記録媒体のさらに他の実施形態
を示す一部断面図である。
を示す一部断面図である。
1・・・非磁性基板、2・・・非磁性下地膜、3、7・・・磁気
記録膜、4・・・軟磁性膜、5・・・保護膜、6・・・非磁性中
間膜
記録膜、4・・・軟磁性膜、5・・・保護膜、6・・・非磁性中
間膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 酒井 浩志 千葉県市原市八幡海岸通5番の1 昭和電 工株式会社HD研究開発センター内 Fターム(参考) 5D006 AA02 AA05 AA06 BB02 BB07 DA03 FA09
Claims (5)
- 【請求項1】 非磁性基板上に、非磁性下地膜と、磁気
記録膜と、軟磁性膜と、保護膜を有する磁気記録媒体で
あって、保磁力が2500Oe以上とされ、かつ軟磁性
膜の膜厚が5〜50Åとされていることを特徴とする磁
気記録媒体。 - 【請求項2】 Ni抽出量が基板単位面積に対して0.
08ng/cm2以下であることを特徴とする請求項1
記載の磁気記録媒体。 - 【請求項3】 軟磁性膜の最大透磁率は、1000〜1
000000であることを特徴とする請求項1または2
記載の磁気記録媒体。 - 【請求項4】 磁気記録膜の直下に非磁性中間膜を設け
たことを特徴とする請求項1〜3のうちいずれか1項記
載の磁気記録媒体。 - 【請求項5】 磁気抵抗効果を利用する再生素子を使用
したヘッドとともに用いられるものであることを特徴と
する請求項1〜4のうちいずれか1項記載の磁気記録媒
体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2325699A JP2000222715A (ja) | 1999-01-29 | 1999-01-29 | 磁気記録媒体 |
SG200000242A SG97135A1 (en) | 1999-01-29 | 2000-01-14 | Magnetic recording medium |
US10/078,659 US6815097B2 (en) | 1999-01-29 | 2002-02-21 | Magnetic recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2325699A JP2000222715A (ja) | 1999-01-29 | 1999-01-29 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000222715A true JP2000222715A (ja) | 2000-08-11 |
Family
ID=12105532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2325699A Pending JP2000222715A (ja) | 1999-01-29 | 1999-01-29 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000222715A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004090873A1 (en) * | 2003-04-07 | 2004-10-21 | Showa Denko K. K. | Magnetic recording medum, production process therefor, and magnetic recording and reproducing apparatus |
US7101600B1 (en) | 2000-12-29 | 2006-09-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Perpendicular magnetic recording disk |
US7732069B1 (en) | 2004-06-10 | 2010-06-08 | Seagate Technology Llc | Thin SUL media with shielded pole head |
-
1999
- 1999-01-29 JP JP2325699A patent/JP2000222715A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7101600B1 (en) | 2000-12-29 | 2006-09-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Perpendicular magnetic recording disk |
US7214404B2 (en) | 2000-12-29 | 2007-05-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Perpendicular magnetic recording disk |
WO2004090873A1 (en) * | 2003-04-07 | 2004-10-21 | Showa Denko K. K. | Magnetic recording medum, production process therefor, and magnetic recording and reproducing apparatus |
US7732069B1 (en) | 2004-06-10 | 2010-06-08 | Seagate Technology Llc | Thin SUL media with shielded pole head |
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