JP2000217347A - 電流制御回路 - Google Patents

電流制御回路

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JP2000217347A
JP2000217347A JP11013702A JP1370299A JP2000217347A JP 2000217347 A JP2000217347 A JP 2000217347A JP 11013702 A JP11013702 A JP 11013702A JP 1370299 A JP1370299 A JP 1370299A JP 2000217347 A JP2000217347 A JP 2000217347A
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JP
Japan
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load
circuit
current
transistor
control circuit
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Application number
JP11013702A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiro Karaki
俊郎 唐木
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Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電流制御回路ごとにオフセットキャンセルを
行うための0点保持レジスタといった回路要素が追加さ
れた場合、配線を増加することなく、半導体チップ面積
の増大を防ぐことによって、コストダウンを図ること。 【解決手段】 各オペアンプの差動入力トランジスタ対
(60と61、62と63、64と65)及び前記差動
入力トランジスタの負荷トランジスタ対(66と67、
68と69、70と71)を、配置関係を揃え直近に配
置し、各オペアンプの入力オフセット電圧の方向、絶対
値を同じとし、さらに各電流センス回路の他の構成要素
も直近に配置し、これらの周囲に熱分離帯75を配置
し、各電流センス回路内の温度勾配を少なくして、各電
流制御回路にそれぞれ必要だった0点保持レジスタを共
用する構成とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体回路に関
し、特に負荷に流れる電流を制御する電流制御回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】図4に、電流回路の具体的な適用例を示
す。これは動作指令に応じて三つのインダクタンスを駆
動するシステムである。ここでは三つのインダクタンス
によって構成される負荷を三層モータとし、以下説明す
る。
【0003】まず、本システムの構成について説明す
る。
【0004】本システムは、全体制御回路100と、電
流制御回路101、105、109と、負荷インダクタ
ンス102、106、110から構成される負荷114
と、出力MOSトランジスタ103、107、111
と、電流センス抵抗104、108、112とから構成
される。
【0005】例えばある動作指令が全体制御回路100
に入力されると、動作指令に応じた各負荷インダクタン
スの電流指令値が全体制御回路100で計算され、各電
流制御回路に与えられる。その値に応じて各電流制御回
路が各負荷インダクタンスに流れる電流値をコントロー
ルし、負荷であるモータが所望の動作をする。
【0006】このような負荷に流れる電流値をコントロ
ールする電流制御回路の一例を図5に示す。この回路は
電流指令値に応じて、出力MOSトランジスタをPWM
駆動し、更に実際流れている電流を電流センス抵抗を用
いて検出し、フィードバック制御を行う回路である。ま
ず本回路の構成を説明する。電流制御回路101はオペ
アンプ125及び抵抗124、126、127、128
と、基準電圧123からなる差動増幅回路と、演算回路
120と、PWM駆動回路121と、ADコンバータ1
22と、から構成されている。
【0007】次に図6及び図7を用いて回路の動作を説
明する。ここで電流指令値はデジタル値とし、オペアン
プ125の+IN端子には抵抗124を介してある基準
電圧123が入力されるものとする。負荷インダクタン
ス131に流れる実電流は、電流センス抵抗133の両
端に発生する電圧として検出され、差動増幅回路で増幅
された後、ADコンバータ122でデジタル値に変換さ
れる。また演算回路120は電流指令値と負荷に流れて
いる実電流値を比較演算して、その結果をPWM駆動回
路121に渡し、出力MOSトランジスタ132をPW
M駆動する。
【0008】例えばシステム全体がリセットされ、ある
電流指令値が電流制御回路101に入力されたとする。
PWM駆動回路121はあらかじめ設定されたPWMd
uty(図6中、PWM出力1)で出力MOSトランジ
スタ132をオンすると、負荷インダクタンスに電流が
流れ、その実電流に相当する電圧がADコンバータに入
力され、あるAD変換時間の後、実電流のデジタル値が
演算回路120に入力される。ここで目標値である電流
指令値と実電流値が比較され、次のPWMdutyを計
算し、この結果に応じて次のPWM出力が決まる。以上
のサイクルを繰り返すことにより、負荷インダクタンス
の実電流値は、電流指令値になるようにフィードバック
制御される。
【0009】本回路において重要なことは、電流指令値
に対し実電流値をいかに近づけるかという点である。そ
の制御精度を決める大きな要因として、実電流の検知精
度が上げられる。更に量産を考慮すれば、各回路要素の
製造ばらつきを考慮しなければならない。特に本回路を
半導体チップ内に作製した場合、回路要素の中でオペア
ンプの入力オフセットバラツキは実電流の検知バラツキ
に直結し、その影響は非常に大きい。なぜなら電流セン
ス抵抗は本来負荷の駆動に何ら関係ないものであり、そ
の抵抗値は出来るだけ低く設定される。その結果、電流
センス抵抗の両端電圧は小さくなるので、差動増幅回路
のゲインを大きくすることとなり、入力オフセットの影
響はゲイン倍されてでてきてしまう。量産を考慮した場
合、この入力オフセットの影響は半導体チップの歩留ま
りすなわちコストに直結するため、これを減らすことが
重要なポイントとなる。
【0010】図7に一般的なCMOSオペアンプの回路
例を示す。CMOSオペアンプはPch−MOS−Tr
141と抵抗150による電流源と、 Pch−MOS
−Tr142、146、147とNch−MOS−Tr
151、152による差動入力手段と、Pch−MOS
−Tr143とNch−MOSTr153による出力段
とで構成される。オフセットのもっとも大きな発生要因
は差動入力手段のトランジスタ対(例えばM1対M2、
M3対M4)の特性の相対バラツキによるものである。
【0011】このオフセットは製造上発生するものであ
り、ゼロにすることは困難である。この影響を減らすた
めの具体的な回路構成として、図8に示すような回路が
ある。この回路は動作開始時つまり負荷に電流が流され
ていないときのオペアンプ出力の値(オフセット分)を
専用レジスタに保管しておき、実際の演算の際にこの分
を差し引いて計算する回路である。
【0012】まず回路構成を説明する。本回路は第1セ
レクタ160と、第2セレクタ161と、0点保持レジ
スタ166と、ADコンバータ165と、オペアンプ1
69及び抵抗168、170、171、172からなる
差動増幅回路とから構成される。
【0013】次に図9を用いて回路の動作を説明する。
ここで各回路要素の動作は図9に示した動作シ−ケンス
で動くものとする。例えばシステム全体がリセットさ
れ、ある電流指令値がこの電流制御回路に入力されたと
する。まずシーケンス1では、PWM駆動回路163は
オフ信号を出力する。このときADコンバータ166の
スタート信号が出て、電流ゼロの状態のAD変換を行
う。電流がゼロなので差動増幅回路は、電流ゼロに相当
する電圧を出力するはずが、オペアンプのオフセットが
あるため、オフセット分がゲイン倍された電圧が加わっ
たある電圧になる。この値をAD変換し、0点保持レジ
スタに保持する。
【0014】次のシーケンス(シーケンス2)では、図
5の回路と同様にあらかじめ設定されたPWMduty
で出力するMOSトランジスタ176をオンし、またこ
のシーケンス2でのAD変換がスタートする。AD変換
が終了したら、第1セレクタ160と第2セレクタ16
1を切り替えて、このAD変換値と0点保持レジスタの
値を演算回路162にて計算し、オペアンプ169のオ
フセット分をキャンセルした実電流値を補正値保持レジ
スタ164に保持する。そして第1セレクタ160と第
2セレクタ161を切り替えて、電流指令値とオフセッ
ト分をキャンセルした実電流値を比較し、次のシーケン
ス(シーケンス3)のPWMdutyを決定する。こう
した動作を行うことにより、製造バラツキに起因するオ
ペアンプ169のオフセットにより影響をキャンセルし
た動作が可能となる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】前記図8に示した回路
では、以下のような問題点を生じていた。
【0016】当然の事ながら、各電流制御回路ごとにオ
フセットキャンセルを行うための0点保持レジスタとい
った回路要素が追加され、更に配線も増加するため、半
導体チップ面積の増大すなわちコストアップにつながっ
ていた。特に図4のように電流制御回路を複数用いた場
合、その影響は当然大きくなる。
【0017】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
おいては、動作指令に基づいて電流指令値を出力する制
御回路と、前記制御回路からの電流指令値に基づいて、
第1の負荷を制御する第1電流制御回路と、前記制御回
路からの電流指令値に基づいて、第2の負荷を制御する
第2電流制御回路と、を備え、前記第2電流制御回路
は、少なくとも一つ以上設けられ、前記第1電流制御回
路は、前記第1の負荷を駆動させる第1の負荷駆動回路
と、前記第1の負荷に流れる実電流値を検出する第1の
負荷電流検出手段と、この第1の負荷電流検出手段で検
出された実電流値を増幅する第1のオペアンプを有する
第1の増幅回路と、この第1の増幅回路に基づいて、前
記第1のオペアンプのオフセットを検出するオフセット
検出手段と、このオフセット検出手段で検出されたオフ
セットを記憶するオフセット記憶手段と、前記第1の増
幅回路からの実電流値、及び前記制御回路からの電流指
令値、及び前記オフセット記憶手段に記憶されたオフセ
ットとに基づいて、補正値を演算し、前記第1の負荷駆
動回路へと補正値を出力する第1の演算回路と、を備
え、前記第2電流制御回路は、前記第2の負荷を駆動さ
せる第2の負荷駆動回路と、前記第2の負荷に流れる実
電流値を検出する第2の負荷電流検出手段と、この第2
の負荷電流検出手段で検出された実電流値を増幅する第
2のオペアンプを有する第2の増幅回路と、前記第2の
増幅回路からの実電流値、及び前記制御回路からの電流
指令値、及び前記第1電流制御回路に備えられたオフセ
ット記憶手段に記憶されたオフセットとに基づいて、前
記補正値を演算し、前記第2の負荷駆動回路へと補正値
を出力する第2の演算回路と、を備え、前記第1増幅回
路は、正入力側である第1トランジスタ及び負入力側で
ある第2トランジスタから構成される差動入力対と、前
記第1トランジスタの負荷である第1トランジスタ負荷
及び前記第2トランジスタの負荷である第2トランジス
タ負荷から構成される負荷対とを有し、前記第2増幅回
路は、正入力側である第3トランジスタ及び負入力側で
ある第4トランジスタから構成される差動入力対と、前
記第3トランジスタの負荷である第3トランジスタ負荷
及び前記第4トランジスタの負荷である第4トランジス
タ負荷から構成される負荷対とを有し、前記第1から第
4のトランジスタは、前記第1及び第2の増幅回路の各
入力オフセットが略等しくなるように、半導体基板の電
気的特性がリニアに変化すると近似できる距離内に配置
すると共に、前記第1から第4のトランジスタ負荷は、
半導体基板の電気的特性がリニアに変化すると近似でき
る距離内に配置され、前記第1及び第2演算増幅回路は
同一の半導体基板上で、熱分離されて形成される構成と
した。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。 (実施の形態1)図1は、本発明の実施の形態1によ
る、電流制御回路部を用いた三層モータ制御システムの
例である。まず回路構成を説明する。大まかな構成は図
8に示したオフセットキャンセル機能付きの電流制御回
路を三つ並べた構成となっているが、本例では0点保持
レジスタを一個としている点が異なる。まず回路構成を
説明する。
【0019】本回路は全体制御回路58と、第1セレク
タ2と、第2セレクタ3と、演算回路4と、PWM駆動
回路5と、補正値保持レジスタ6と、0点保持レジスタ
7と、ADコンバータ8と、第1オペアンプ11及び抵
抗10、12、13、14と、基準電圧9からなる電流
制御回路1と、第1セレクタ22と、第2セレクタ23
と、演算回路24と、PWM駆動回路25と、補正値保
持レジスタ26と、ADコンバータ27と、第2オペア
ンプ30及び抵抗29、31、32、33と、基準電圧
28からなる電流制御回路21と、第1セレクタ42
と、第2セレクタ43と、演算回路44と、PWM駆動
回路45と、補正値保持レジスタ46と、ADコンバー
タ47と、第3オペアンプ50及び抵抗49、51、5
2、53と、基準電圧48からなる電流制御回路41
と、負荷インダクタンス16、35、55と出力MOS
トランジスタ17、36、56と、電流センス抵抗1
8、37、57と、電源線15、34、54から構成さ
れる。
【0020】本例では、0点保持レジスタ7を三つの電
流制御回路1、21、41で兼用するために、各電流セ
ンス回路(オペアンプ+抵抗による差動増幅回路)内の
各オペアンプの差動入力部のトランジスタ対(入力トラ
ンジスタ及び負荷トランジスタ)を図2に示すような配
置とし、製造バラツキに起因する各オペアンプの入力オ
フセット電圧の発生方向と絶対値を揃えた。更に電流セ
ンス回路周囲の温度上昇による電流センス回路内部の温
度勾配を減らすため、電流センス回路部の周囲に熱分離
帯を配置した。なお図2中のオペアンプ回路部には、前
述したオペアンプ差動入力部以外のオペアンプ構成要素
と抵抗(例えば図10中の抵抗10、12、13、1
4)が含まれる。
【0021】次に図1に示した回路の動作を説明する。
ここで各回路要素の動作は、従来技術と同様に図9に示
した動作シーケンスで動く場合を例として説明する。こ
の図9では例えばシステム全体がリセットされ、ある動
作指令が全体制御回路58に入力され、電流指令値がそ
れぞれの指令タイミングによって電流制御回路1、2
1、41に入力された場合の説明を行う。
【0022】電流制御回路1について説明を行うと、ま
ずシーケンス1では、PWM駆動回路5はオフ信号を出
力する。このときADコンバータ8からスタート信号が
出力され、リセット状態(電流ゼロ)のAD変換を行
う。リセット状態、即ち電流がゼロであるので、差動増
幅回路201は電流ゼロに相当する電圧を出力するはず
であるが、オペアンプ11のオフセットが生じているた
めに、このオフセット分がゲイン倍された電圧が加わっ
た電圧となる。この電圧がADコンバータ8によってA
D変換され、このAD変換された変換値が0点保持レジ
スタ7に保持される。次のシーケンス2では、あらかじ
め設定されたPWMdutyで出力MOSトランジスタ
17をオンして、差動増幅回路201からの出力電圧値
をADコンバータ8にてAD変換を行う。このAD変換
が終了すると、第1セレクタ2と第2セレクタ3を切り
替えて、0点保持レジスタ7に保持された電流ゼロ点の
AD変換値と、シーケンス2において変換されたAD変
換値とを、演算回路4にて比較・演算し、電流ゼロ時の
オフセット分をキャンセルした値(電流値)を補正値保
持レジスタ6へと保持する。次に切り替えを行った第1
セレクタ2と第2セレクタ3を再度切り替えて元に戻
し、全体制御回路58からの電流指令値と、補正値保持
レジスタ6に保持した電流値とを比較し、次のシーケン
ス3で出力するPWMdutyを決定する。
【0023】次に電流制御回路21、41について説明
を行う。システムリセット時(シーケンス1)に、電流
制御回路1によって0点保持レジスタ7に保持された電
流ゼロ値のオペアンプのオフセット分が、電流制御回路
1から入力される。次のシーケンス2では、あらかじめ
設定されたPWMdutyで出力MOSトランジスタ3
6,56をオンして、差動増幅回路202,203から
の出力電圧値をADコンバータ27,47にてAD変換
を行う。以下の動作は、電流制御回路1の動作と同様で
ある。
【0024】即ち、電流制御回路21、41では自分自
身でオペアンプのオフセット分を演算せずに、電流制御
回路1が演算したオフセット分を利用するようにしてい
る。
【0025】次に、各オペアンプの入力オフセット電圧
の発生方向とその絶対値の規定について説明する。半導
体ウェハ上に例えばMOSトランジスタを形成すると、
製造バラツキに起因したしきい値電圧のバラツキが発生
する。ここで挙げた製造バラツキとは半導体ウェハ上の
不純物濃度や酸化膜厚等のバラツキである。オペアンプ
の入力オフセット電圧は、差動入力部の入力トランジス
タ対(第1オペアンプ+入力Tr60と第1オペアンプ
−入力Tr61)の間のしきい値電圧の差によって発生
する。また差動入力部の負荷トランジスタ対(第1オペ
アンプ+入力側負荷Tr66と第1オペアンプ−入力側
負荷Tr67)についても、同様にしきい値電圧の差が
オペアンプの入力オフセット電圧の原因となる。
【0026】通常、半導体ウェハ上の不純物濃度は二次
元的に緩やかに変化しており、その変化の度合いは、差
動入力部のトランジスタのサイズに比べて遙かに小さ
い。従って差動入力部のトランジスタから見ると不純物
濃度はリニアに変化しているといえる。また酸化膜のバ
ラツキについても同様のことがいえる。例えば第1オペ
アンプ+入力Tr60のしきい値電圧が、第1オペアン
プ−入力Tr61よりVa高くなっていたとすると、第
2オペアンプ+入力Tr62のしきい値電圧は第2オペ
アンプ−入力Tr63よりVa高くなると推定される。
これは半導体ウェハ上の不純物濃度当が、狭い範囲に限
って考えればリニアに変化すると考えられるからであ
る。同様に第1オペアンプ+入力側負荷Tr66のしき
い値電圧が、第1オペアンプ−入力側負荷Tr67より
Va高くなっていたとすると、第2オペアンプ+入力側
負荷Tr68のしきい値電圧は第1オペアンプ+入力側
負荷Tr69よりVa高くなると推定される。従って、
図2のように配置すれば第1オペアンプと第2オペアン
プと第3オペアンプの入力オフセット電圧の発生方向と
その絶対値はほぼ同じとなる。つまり各オペアンプの入
力オフセット電圧のサンプリングは一カ所で行えばよい
ことになる。
【0027】更に電流センス回路の周囲に熱分離帯を配
置したことについて説明する。電流センス回路のゲイン
は図10内に示された各抵抗の比で決まり、半導体回路
においては正確に実現することが可能である。しかしな
がら、何らかの理由で本回路に温度勾配があったとする
と(半導体チップ内部の発熱、半導体チップを実装して
いる部位からの熱伝導等)抵抗は一般的に温度依存性を
持つため、比を決めている抵抗間で温度勾配があると本
来の抵抗比が実現されず、ゲイン値にずれが生じ、正確
な0点保持が行えない。また。オペアンプの差動入力部
のトランジスタのしきい値についても温度依存性がある
ため、これら各電流センス回路部内では温度勾配は極力
少なくする必要がある。そこで熱伝導率の悪い材料(例
えば酸化シリコン等)を熱分離帯として、熱分離したい
部位を囲む構造とした。なお図3に半導体チップ全体内
で図2に示した部位を配置したイメージ図を示す。
【0028】以上説明してきたように、本発明では各電
流制御回路でそれぞれ必要だった0点保持レジスタを共
用するために、各電流センス回路の各オペアンプの差動
入力トランジスタ対及び、前記差動入力トランジスタの
負荷トランジスタ対を、配置関係を揃え直近に配置し、
これによって各オペアンプの入力オフセット電圧の方
向、絶対値を同じとした。更に各電流センス回路の構成
要素も直近に配置し、これらの周囲に熱分離帯を配置
し、各電流センス回路内の温度勾配を少なくする構成と
している。よって入力オフセット電圧のサンプリングは
一カ所で行えばよいことになり、従来技術では各電流制
御回路にそれぞれ必要だった0点保持レジスタが一つで
済み、半導体チップ面積の減少並びにコストダウンが可
能という効果が得られる。
【0029】
【発明の効果】本発明によれば、従来技術では各電流制
御回路にそれぞれ必要だった0点保持レジスタが一つで
済み、半導体チップ面積の減少並びにコストダウンが可
能という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態1である電流制御回路を複数用いた
システム図を示す。
【図2】実施の形態1である電流制御回路の電流センス
回路部分のレイアウトパターン図を示す。
【図3】実施の形態1である電流制御回路のレイアウト
パターン図を示す。
【図4】従来の電流制御回路を複数用いたシステム図を
示す。
【図5】従来の電流制御回路(その1)の回路図を示
す。
【図6】従来の電流制御回路(その1)の動作イメージ
図を示す。
【図7】オペアンプの回路図を示す。
【図8】従来の電流制御回路(その2)の回路図を示
す。
【図9】従来の電流制御回路(その2)の動作イメージ
図を示す。
【図10】図1中の差動増幅回路の回路図を示す。
【符号の説明】
1 電流制御回路 2 第1セレクタ 3 第2セレクタ 4 演算回路 5 PWM駆動回路 6 補正値保持レジスタ 7 0点保持レジスタ 8 ADコンバータ 9 基準電圧 10 抵抗 11 第1オペアンプ 12 抵抗 13 抵抗 14 抵抗 15 電源線 16 負荷インダクタンス 17 出力MOSトランジスタ 18 電流センス抵抗 21 電流制御回路 22 第1セレクタ 23 第2セレクタ 24 演算回路 25 PWM駆動回路 26 補正値保持レジスタ 27 ADコンバータ 28 基準電圧 29 抵抗 30 第2オペアンプ 31 抵抗 32 抵抗 33 抵抗 34 電源線 35 負荷インダクタンス 36 出力MOSトランジスタ 37 電流センス抵抗 41 電流制御回路 42 第1セレクタ 43 第2セレクタ 44 演算回路 45 PWM駆動回路 46 補正値保持レジスタ 47 ADコンバータ 48 基準電圧 49 抵抗 50 第3オペアンプ 51 抵抗 52 抵抗 53 抵抗 54 電源線 55 負荷インダクタンス 56 出力MOSトランジスタ 57 電流センス抵抗 60 第1オペアンプ+入力Tr 61 第1オペアンプ−入力Tr 62 第2オペアンプ+入力Tr 63 第2オペアンプ−入力Tr 64 第3オペアンプ+入力Tr 65 第3オペアンプ−入力Tr 66 第1オペアンプ+入力側負荷Tr 67 第1オペアンプ−入力側負荷Tr 68 第2オペアンプ+入力側負荷Tr 69 第2オペアンプ−入力側負荷Tr 70 第3オペアンプ+入力側負荷Tr 71 第3オペアンプ−入力側負荷Tr 72 第1電流センス回路部 73 第2電流センス回路部 74 第3電流センス回路部 75 熱分離帯 80 半導体チップ 81 熱分離帯 82 電流センス回路領域 83 回路領域 100 全体制御回路 101 電流制御回路 102 負荷インダクタンス 103 出力MOSトランジスタ 104 電流センス抵抗 105 電流制御回路 106 負荷インダクタンス 107 出力MOSトランジスタ 108 電流センス抵抗 109 電流制御回路 110 負荷インダクタンス 111 出力MOSトランジスタ 112 電流センス抵抗 113 電源線 114 負荷 115 電流制御部 120 演算回路 121 PWM駆動回路 122 ADコンバータ 123 基準電圧 124 抵抗 125 オペアンプ 126 抵抗 127 抵抗 128 抵抗 129 電流制御回路 130 電源線 131 負荷インダクタンス 132 出力MOSトランジスタ 133 電流センス抵抗 140 電源線 141 Pch−MOS−Tr 142 Pch−MOS−Tr 143 Pch−MOS−Tr 144 −IN端子 145 +IN端子 146 Pch−MOS−Tr 147 Pch−MOS−Tr 148 OUT端子 149 キャパシタ 150 抵抗 151 Pch−MOS−Tr 152 Pch−MOS−Tr 153 Pch−MOS−Tr 160 第1セレクタ 161 第2セレクタ 162 演算回路 163 PWM駆動回路 164 補正値保持レジスタ 165 0点保持レジスタ 166 ADコンバータ 167 基準電圧 168 抵抗 169 オペアンプ 170 抵抗 171 抵抗 172 抵抗 173 オフセットキャンセル付き電流制御回路 174 電源線 175 負荷インダクタンス 176 出力MOSトランジスタ 177 電流センス抵抗 201a 差動増幅回路 202b 差動増幅回路 203c 差動増幅回路 204 差動増幅回路 205 差動増幅回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 動作指令に基づいて電流指令値を出力す
    る制御回路と、前記制御回路からの電流指令値に基づい
    て、第1の負荷を制御する第1電流制御回路と、前記制
    御回路からの電流指令値に基づいて、第2の負荷を制御
    する第2電流制御回路と、を備え、前記第2電流制御回
    路は、少なくとも一つ以上設けられ、前記第1電流制御
    回路は、前記第1の負荷を駆動させる第1の負荷駆動回
    路と、前記第1の負荷に流れる実電流値を検出する第1
    の負荷電流検出手段と、この第1の負荷電流検出手段で
    検出された実電流値を増幅する第1のオペアンプを有す
    る第1の増幅回路と、この第1の増幅回路に基づいて、
    前記第1のオペアンプのオフセットを検出するオフセッ
    ト検出手段と、このオフセット検出手段で検出されたオ
    フセットを記憶するオフセット記憶手段と、前記第1の
    増幅回路からの実電流値、及び前記制御回路からの電流
    指令値、及び前記オフセット記憶手段に記憶されたオフ
    セットとに基づいて、補正値を演算し、前記第1の負荷
    駆動回路へと補正値を出力する第1の演算回路と、を備
    え、前記第2電流制御回路は、前記第2の負荷を駆動さ
    せる第2の負荷駆動回路と、前記第2の負荷に流れる実
    電流値を検出する第2の負荷電流検出手段と、この第2
    の負荷電流検出手段で検出された実電流値を増幅する第
    2のオペアンプを有する第2の増幅回路と、前記第2の
    増幅回路からの実電流値、及び前記制御回路からの電流
    指令値、及び前記第1電流制御回路に備えられたオフセ
    ット記憶手段に記憶されたオフセットとに基づいて、前
    記補正値を演算し、前記第2の負荷駆動回路へと補正値
    を出力する第2の演算回路と、を備え、前記第1増幅回
    路は、正入力側である第1トランジスタ及び負入力側で
    ある第2トランジスタから構成される差動入力対と、前
    記第1トランジスタの負荷である第1トランジスタ負荷
    及び前記第2トランジスタの負荷である第2トランジス
    タ負荷から構成される負荷対とを有し、前記第2増幅回
    路は、正入力側である第3トランジスタ及び負入力側で
    ある第4トランジスタから構成される差動入力対と、前
    記第3トランジスタの負荷である第3トランジスタ負荷
    及び前記第4トランジスタの負荷である第4トランジス
    タ負荷から構成される負荷対とを有し、前記第1から第
    4のトランジスタは、前記第1及び第2の増幅回路の各
    入力オフセットが略等しくなるように、半導体基板の電
    気的特性がリニアに変化すると近似できる距離内に配置
    すると共に、前記第1から第4のトランジスタ負荷は、
    半導体基板の電気的特性がリニアに変化すると近似でき
    る距離内に配置され、前記第1及び第2演算増幅回路は
    同一の半導体基板上で、熱分離されて形成されることを
    特徴とする電流制御回路。
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