JP2000188500A - リード付き電子部品の位置補正方法 - Google Patents

リード付き電子部品の位置補正方法

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JP2000188500A
JP2000188500A JP10365802A JP36580298A JP2000188500A JP 2000188500 A JP2000188500 A JP 2000188500A JP 10365802 A JP10365802 A JP 10365802A JP 36580298 A JP36580298 A JP 36580298A JP 2000188500 A JP2000188500 A JP 2000188500A
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JP10365802A
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Inventor
Atsushi Tanabe
敦 田邉
Kimiaki Sano
公昭 佐野
Masamichi Morimoto
正通 森本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ノズルで吸着する部分が取り外し可能な吸着
用蓋を介して実装するリード付き電子部品では、リード
と吸着用蓋が重なり、ウィンドウ内の投影データの明る
さの変化が小さく、リードを検出することが困難であ
り、検出精度が劣化してしまうのに加え、吸着用蓋に隠
れていないリードも検出しなくなる可能性があり、検査
の信頼性が低下する。 【解決手段】 吸着用蓋53を有するリード付き電子部
品60を吸着して撮像装置62で画像データ63を得て
リード位置66を求め、検出されなかったリードrがあ
るかどうかを判定し、リードrが検出されていなかった
場合、予め与えられているリードrの本数と実際に撮像
された本数を比較し、検出されなかったリードrにおい
てその間を等分してそれらの平均から代表点68の位置
を算出して部品中心69を求め、2点を結ぶ直線の傾き
から位置補正をする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品実装設備に
おいて、基板に、リードを有する電子部品を装着する際
の位置補正方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子部品実装分野では、電子部品
を高速かつ高精度に回路基板に実装する技術が必要とさ
れている。このために、電子部品を撮像して得られる画
像データを高速に処理して、電子部品の位置・回転量を
正確に検出し、電子部品の実装位置・回転量の補正を行
う画像認識技術が取り入れられている。さらに、電子部
品の多リード・細密化が進むにつれ、電子部品の個々の
リードが基板のランド上に正確に装着されるようにする
ため、リード位置を検出し補正を行う技術が用いられる
ようになってきた。
【0003】図5はリード付き電子部品20を基板22
に装着する様子を示したものである。リード付き電子部
品20は、供給位置からノズル21で吸着されて、基板
22上へ移動する。そして、ノズル21が回転ズレする
ことなくリード付き電子部品20の中心23を吸着した
場合、そのままノズル21を基板22の装置位置24に
下降させると、図6および図7に示すように、リードr
がランド26上にそれぞれ正確に装着されることにな
る。
【0004】しかし、実際には図8に示すように、ノズ
ル21が回転ズレすることなくリード付き電子部品20
の中心23を吸着するとは限らない。そこで、リード付
き電子部品20の吸着姿勢を画像認識してリード付き電
子部品20の中心と傾きを検出し、その情報をもとに補
正を行って基板22に装着する必要がある。
【0005】図9〜図14は、画像認識によってリード
付き電子部品20の中心と傾きを検出し、リード付き電
子部品20の位置補正方法する様子を説明したものであ
る。
【0006】まず、図9に示すようにリード付き電子部
品20を撮像装置31で撮像し、画像データ32を得
る。次に図10に示すように、上記で得られた画像デー
タ32に一定間隔のサンプリング点33を定める。これ
ら定めたサンプリング点33で明るさを重みとしてリー
ド付き電子部品20の重心を求め、それをリード付き電
子部品20の画像パターン34の粗く求めた中心(以下
「粗中心」という)35とする。
【0007】続いて、図11に示すように、リードrを
有する辺に対し、一定間隔のスキャンライン36を定め
る。この定めたスキャンライン36上で最初に大きく明
るさの変化があるエッジ点37を求める。そして、隣り
合うエッジ点37を結ぶ直線がなす角を求めθ1,θ
2,θ3,θ4などの角度を得る。これらの角度のうち
もっとも頻度の多い角度をリード付き電子部品20の画
像パターン34の粗く求めた傾き(以下「粗傾き」とい
う)とする。
【0008】粗中心35、粗傾きが求まった後、あらか
じめ与えられる部品のサイズを利用し、図12に示すよ
うにリードr列の両端にウィンドウ40を定める。この
ように定めたウィンドウ40内の明るさを図12に示す
ように投影して、投影データ41を得る。得られたそれ
ぞれの投影データ41において、明るさ変化の大きい位
置を求め、端点42を検出する。
【0009】続いて、検出した端点42をもとに図13
に示すようにウィンドウ43を定め、定めたウィンドウ
43内の明るさを図13に示す方向に投影し、投影デー
タ44を得る。得られた投影データ44においてリード
rに相当するデータの山の位置を検出し、リード位置4
5を得る。次に図14に示すように、それぞれ求まった
リード位置45を平均し、リードr群の中心46を求め
る。そして、求めたリードr群の中心46を部品寸法h
の半分(h/2)ずらし、部品中心47を得、これをノ
ズル21の中心として必要な角度分だけリード付き電子
部品20を回動させ正確な位置に位置補正する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、リード付き
電子部品20の中には図15に示すように、ノズル21
で吸着する部分51が嵌合部52になっているため取り
外し可能な吸着用蓋53を取り付けて実装する物があ
る。このようなリード付き電子部品20の場合、図16
に示すようにリードrの後ろに吸着用蓋53が重なり、
この重なり部分では、ウィンドウ55内の投影データ5
6の中央付近のリードrの明るさの変化が小さくなり、
リードrを検出することが困難となる。そのため、上記
従来の検出方法では部品の中心や・傾きを求めることが
出来ない。
【0011】また、吸着用蓋53は取り付け位置が正確
でないためどのリードrが隠れるかは部品毎に異なって
くる。そこで、端の数本のリードrだけを検出するよう
にすると、検出する本数が減ることにより、分検出精度
が劣化してしまう。加えて、吸着用蓋53に隠れていな
いリードrも検出しなくなる可能性があり、リード曲が
りなどの検査の信頼性も低下することになる。
【0012】そこで、本発明は、上記課題を解決し得る
リード付き電子部品の位置補正方法の提供を目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明における課題解決
手段は、リード付き電子部品の画像を撮像する第1行程
と、画像中のリードを検出する第2行程と、全てのリー
ドが検出されているかどうかを判定する第3行程と、検
出されなかったリードがある場合そのリード位置を推定
する第4行程と、推定したリードを含む全てのリード位
置からの部品の中心・傾きを計算する第5行程からなる
ものであり、リード付き電子部品を撮像装置で撮像し画
像データを得、次に、リード位置を検出する。ここで、
あらかじめ与えられたリード本数とリードピッチの情報
から検出されなかったリードがあるかどうかを判定し、
仮に、検出されないリードがあった場合、隣接する検出
されたリード位置から検出されなかったリード位置を算
出し、算出したリードを含めた全リード位置から部品の
中心・傾きを算出し、リード付き電子部品の位置補正を
確実に行う。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を示す
リード付き電子部品の位置補正方法を、図1〜図4に基
づいて説明する。
【0015】図2に示すように、リード付き電子部品6
0の画像を撮像する第1行程(画像入力行程ともいう)
として、吸着用蓋53を有するリード付き電子部品60
をノズル61で吸着し、撮像装置62で撮像し画像デー
タ63を得る。
【0016】次に、図3に示すように、画像データ63
中のリードrを検出する第2行程(リード位置検出行程
ともいう)として、得られた画像データ63を従来法と
同様の方法で処理してリードrの大まかの位置を求め、
ウィンドウ64を設定する。ウィンドウ64内の輝度を
リードrの延びている方向に平均し、投影データ65を
得る。そして、得られた投影データ65の変化の大きな
山を検出し、リード位置66を求める。
【0017】次に図4に示すように、全てのリードrが
検出されているかどうかを判定する第3行程(未検出リ
ード判定行程ともいう)として、検出されなかったリー
ドrがあるかどうかを判定する。図の場合、あらかじめ
与えられているリードrの本数(図では15本)と実際
の撮像された本数を比較すると、吸着用蓋53の影響
で、上側のリードが7本検出されなかったことが分か
る。ここで、どのリードrが検出されなかったかを判定
する必要がある。
【0018】そこで、検出されなかったリードrがある
場合、そのリード位置を推定する第4行程(未検出リー
ド位置推定行程ともいう)に移る。すなわち、撮像装置
62で検出されたリードrにおいて、L1−L2、L2
−L3、L3−L4、L5−L6、L6−L7、L7−
L8間の距離をあらかじめ与えられたリードピッチで割
った場合、リードrがある程度曲がっていたとしても全
て1前後の値となる。よって、その間には検出されなか
ったリードが存在しないと判定できる。しかし、L4−
L5間のリードrは検出されていないので、L4−L5
間の距離をリードピッチで割ると、8前後の値となる。
よってL4−L5間には7本のリードrが検出されなか
ったことが分かる。
【0019】ところで、先に求めたように検出されなか
ったリードは7本であるから、L4−L5間に7本のリ
ードがあれば、上側の辺は全てのリードrが検出された
と仮定できたことになる。そこで、仮定したリードrを
含む全てのリード位置からリード付き電子部品60の中
心・傾きを計算する第5行程(中心・傾き計算行程とも
いう)に移る。すなわち、この7本のリードrにおい
て、L4−L5間を8等分した位置を推定リード67の
位置とする。これにより上辺全てのリードが検出された
ことになるので、それらの平均から上辺の代表点68の
位置を算出する。同様にして下辺の代表点68を算出
し、それらの中点を部品中心69とし、2点を結ぶ直線
の傾きを部品傾きとし、リード付き電子部品60の位置
補正をする。
【0020】勿論、検出されないリードrがなかった場
合は、第4行程(未検出リード位置推定行程)から直接
第5行程(中心・傾き計算行程)へ進む。
【0021】このように、本発明の実施の形態によれ
ば、ノズル61で吸着する部分が嵌合部になっていて取
り外し可能な吸着用蓋53を取り付けて実装するリード
付き電子部品60である場合、撮像装置62で検出され
ないリードrがあっても、リード付き電子部品60を撮
像装置62で撮像し画像データ63を得、撮像できたリ
ードr位置を検出し、あらかじめ与えられたリード本数
とリードピッチの情報から検出されなかったリードrの
存在の有無を判定し、仮に、検出されないリードrがあ
った場合、隣接する検出されたリード位置から検出され
なかったリード位置を算出し、算出したリードrを含め
た全リード位置から部品の中心・傾きを算出し、リード
付き電子部品60の位置補正をすることができ、製品の
信頼性を向上させるとともに安定した不良品検査が行え
る。
【0022】
【発明の効果】以上のように、本発明は、リード付き電
子部品の画像を撮像する第1行程と、画像中のリードを
検出する第2行程と、全てのリードが検出されているか
どうかを判定する第3行程と、検出されなかったリード
がある場合そのリード位置を推定する第4行程と、推定
したリードを含む全てのリード位置からの部品の中心・
傾きを計算する第5行程からなるので、リードを覆い隠
す部材によって検出されなかったリードがあっても、こ
れを検出したリード位置から推定して確実にリードの位
置を算出し、算出したリードを含めた全リード位置か
ら、部品の中心・傾きを算出し、確実にリード付き電子
部品の位置補正をすることができ、製品の信頼性を向上
させることができるとともに安定した不良品検査が行え
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示すリード付き電子部品
の位置補正方法のフローチャートである。
【図2】同じくリード付き電子部品の撮像状態を示す説
明図である。
【図3】同じく画像データ中のリードを検出する際の説
明図である。
【図4】同じく検出されなかったリードがあるかどうか
を判定する際の説明図である。
【図5】従来のリード付き電子部品を基板に装着する前
の側面図である。
【図6】同じくリード付き電子部品を基板に装着し終え
た状態の側面図である。
【図7】同じく平面図である。
【図8】同じくリード付き電子部品が傾斜している場合
の平面図である。
【図9】同じくリード付き電子部品の撮像状態を示す説
明図である。
【図10】同じく画像データに一定間隔のサンプリング
点を定めた状態の平面図である。
【図11】同じくリードを有する辺に対し一定間隔のス
キャンラインを定めた状態の平面図である。
【図12】同じくリード列の両端にウィンドウを定めた
状態の平面図である。
【図13】同じく検出した端点をもとにウィンドウを定
めた状態の平面図である。
【図14】同じく求まったリード位置を平均しリード群
の中心を求める状態の平面図である。
【図15】同じく嵌合部を有するリード付き電子部品お
よびこれに吸着用蓋を取り付けた状態の平面図である。
【図16】同じくリードに吸着用蓋が重なりウィンドウ
内の投影データの中央付近のリードの明るさの変化が小
さくなった状態の側面図である。
【符号の説明】
20 リード付き電子部品 21 ノズル 22 基板 25 リード 26 ランド 31 撮像装置 32 画像データ 33 サンプリング点 34 画像パターン 35 粗く求めた中心 36 スキャンライン 37 エッジ点 40 ウィンドウ 41 投影データ 42 端点 43 ウィンドウ 44 投影データ 46 リード群の中心 47 部品中心 53 吸着用蓋 60 リード付き電子部品 61 ノズル 62 撮像装置 63 画像データ 64 ウィンドウ 65 投影データ 66 リード位置 67 推定リード 68 代表点 69 部品中心 r リード

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リード付き電子部品の画像を撮像する第
    1行程と、画像中のリードを検出する第2行程と、全て
    のリードが検出されているかどうかを判定する第3行程
    と、検出されなかったリードがある場合そのリード位置
    を推定する第4行程と、推定したリードを含む全てのリ
    ード位置からの部品の中心・傾きを計算する第5行程か
    らなるリード付き電子部品の位置補正方法。
JP10365802A 1998-12-24 1998-12-24 リード付き電子部品の位置補正方法 Pending JP2000188500A (ja)

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