JP2000188460A - Manufacture of wiring substrate - Google Patents

Manufacture of wiring substrate

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JP2000188460A JP36595598A JP36595598A JP2000188460A JP 2000188460 A JP2000188460 A JP 2000188460A JP 36595598 A JP36595598 A JP 36595598A JP 36595598 A JP36595598 A JP 36595598A JP 2000188460 A JP2000188460 A JP 2000188460A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate etching residue and etching irregularity of an electroless plating layer when a wiring layer of a wiring substrate is formed by a semiadditive method. SOLUTION: In a wiring layer formation process by a semiadditive method, an electroless copper plating layer 9 is heated previously and thereafter the exposed electroless copper plating layer 9 is removed by etching. It is possible to eliminate etching residue and prevent over etching without applying guard plating by making the electroless copper plating layer 9 0.3 to 0.9 μm thick.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば基板表面に
無電解メッキ層および電解メッキ層からなる配線層を有
する配線基板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a wiring board having, for example, a wiring layer comprising an electroless plating layer and an electrolytic plating layer on a substrate surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、例えば樹脂製配線基板の表面
に配線層を形成する場合には、通常、無電解メッキや電
解メッキによって配線層を形成しており、この配線層の
形成方法として、セミアディティブ法と呼ばれる方法が
知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, when a wiring layer is formed on the surface of a resin wiring board, the wiring layer is usually formed by electroless plating or electrolytic plating. A method called a semi-additive method is known.

【0003】このセミアディティブ法によれば、例え
ば、以下のような手法で例えば銅からなる銅配線層が形
成される(図3参照)。 基板表面全体にパラジウム(Pd)のメッキ触媒核を
つける。 無電解銅(Cu)メッキにより、基板表面全体に1〜
2μm厚の無電解銅(Cu)メッキ層を形成する。 感光性フィルムを貼り、露光・現像を行う。 基板端に電極をつけて、露出した無電解銅(Cu)メ
ッキ層上に電解銅メッキ(硫酸銅メッキ)を行って、無
電解銅(Cu)メッキ層上に15μm厚の電解銅(C
u)メッキ層を形成する。 感光性フィルムを剥がし、ソフトエッチングでフィル
ム下の無電解銅(Cu)メッキ層を除去し、銅配線層
(Cu配線)を完成する。
According to the semi-additive method, for example, a copper wiring layer made of, for example, copper is formed by the following method (see FIG. 3). A plating catalyst core of palladium (Pd) is provided on the entire surface of the substrate. By electroless copper (Cu) plating,
An electroless copper (Cu) plating layer having a thickness of 2 μm is formed. A photosensitive film is stuck and exposed and developed. An electrode is attached to the end of the substrate, electrolytic copper plating (copper sulfate plating) is performed on the exposed electroless copper (Cu) plating layer, and a 15 μm thick electrolytic copper (C) is
u) Form a plating layer. The photosensitive film is peeled off, and the electroless copper (Cu) plating layer under the film is removed by soft etching to complete a copper wiring layer (Cu wiring).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記したセミ
アディティブ法では、配線層を形成する場合には、余分
な無電解メッキ層を除去するために、エッチング(ソフ
トエッチング)を行うが、このとき、エッチングが不足
すると配線層間にエッチング残りが生じ、ショートの原
因となる。
However, in the above-described semi-additive method, when a wiring layer is formed, etching (soft etching) is performed to remove an extra electroless plating layer. Insufficient etching causes etching residue between wiring layers, which causes a short circuit.

【0005】また、余分な無電解メッキ層を完全に除去
するために。過剰にエッチングを行うと、オーバーエッ
チングが生じ、配線層の細り、断線、剥がれ等の不具合
が発生してしまう。
In order to completely remove an unnecessary electroless plating layer. Excessive etching causes over-etching, and causes problems such as thinning, disconnection, and peeling of the wiring layer.

【0006】また、このようなエッチング残りはオーバ
ーエッチングは、同じ配線基板内で同時に発生すること
もある。すなわち、一つの配線基板内でも、ある部分に
おいてはオーバーエッチングが生じ、他の部分ではエッ
チング残りが生じることがある。これは、無電解メッキ
層内の金属粒子の配列が、配線基板内では必ずしも一様
ではなく、微妙な相違があるため、それが影響してエッ
チング速度が基板内でも差を生じるものと推察される。
[0006] In addition, such etching residue and over-etching may occur simultaneously in the same wiring board. That is, even within one wiring board, over-etching may occur in a certain portion, and etching residue may occur in another portion. This is presumed to be because the arrangement of metal particles in the electroless plating layer is not always uniform in the wiring board, and there is a slight difference, so that the etching rate is affected to cause a difference in the board. You.

【0007】そのため、従来では、このような問題を回
避するため、例えば下記に示すような対策を施す必要が
あった(図4参照)。 基板表面全面に、無電解銅(Cu)メッキ層を形成す
る。 無電解メッキ層の表面に、レジストパターンを形成す
る。 レジストパターンの開口部の無電解銅(Cu)メッキ
層上に電解銅(Cu)メッキ層を形成する。 電解銅(Cu)メッキ層上に、エッチングガード用の
マスキングを施す。 レジストパターンを除去する。 エッチングにより、無電解銅(Cu)メッキ層を除去
する。 マスキング(層)を除去して、銅配線層(Cu配線)
を完成する。 銅配線層(Cu配線)に黒化処理を施す。
[0007] Therefore, conventionally, in order to avoid such a problem, it is necessary to take the following countermeasures (see FIG. 4). An electroless copper (Cu) plating layer is formed on the entire surface of the substrate. A resist pattern is formed on the surface of the electroless plating layer. An electrolytic copper (Cu) plating layer is formed on the electroless copper (Cu) plating layer in the opening of the resist pattern. Masking for etching guard is performed on the electrolytic copper (Cu) plating layer. The resist pattern is removed. The electroless copper (Cu) plating layer is removed by etching. After removing the masking (layer), a copper wiring layer (Cu wiring)
To complete. A blackening process is performed on the copper wiring layer (Cu wiring).

【0008】つまり、この方法は、銅配線層を保護する
ためのオーバーエッチング対策として、電解銅メッキ層
の上にマスキングやガードメッキを施してエッチングを
行うものである。しかし、この方法では、マスキングや
ガードメッキを施す必要があり、配線層を形成する工程
が非常に複雑化し、コスト高を招くという問題があっ
た。
That is, in this method, as a countermeasure for over-etching for protecting the copper wiring layer, etching is performed by applying masking or guard plating on the electrolytic copper plating layer. However, in this method, it is necessary to perform masking and guard plating, and there is a problem that a process of forming a wiring layer becomes very complicated and cost is increased.

【0009】本発明は、前記課題に鑑み、配線基板を製
造する場合に、作業が容易で、しかも、オーバーエッチ
ングやエッチング残り等の不具合を効果的に防止できる
配線基板の製造方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and provides a method of manufacturing a wiring board which can be easily operated and effectively prevent problems such as overetching and remaining etching when manufacturing the wiring board. With the goal.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1の発明は、無電解メッキ層上に電解メッキ層
を形成した構造を有する配線基板において、前記基板表
面に、無電解メッキにより無電解メッキ層を形成する工
程と、前記無電解メッキ層上に、所定パターンの開口部
を有するメッキレジスト層を形成する工程と、前記パタ
ーンの開口部に対応した無電解メッキ層上に、電解メッ
キにより電解メッキ層を形成する工程と、前記メッキレ
ジスト層を除去する工程と、前記無電解メッキ層に加熱
処理を施す加熱工程と、前記メッキレジスト層を除去し
た箇所に対応する余分な無電解メッキ層を除去するエッ
チング工程と、を有することを特徴とする配線基板の製
造方法を要旨とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a wiring board having a structure in which an electroplating layer is formed on an electroless plating layer. A step of forming an electroless plating layer, and a step of forming a plating resist layer having an opening of a predetermined pattern on the electroless plating layer, and on the electroless plating layer corresponding to the opening of the pattern, A step of forming an electrolytic plating layer by electrolytic plating, a step of removing the plating resist layer, a heating step of performing a heat treatment on the electroless plating layer, and an extra step corresponding to a portion where the plating resist layer is removed. A method for manufacturing a wiring board, comprising: an etching step of removing an electrolytic plating layer.

【0011】本発明によれば、加熱処理を施すことによ
り、後のエッチング工程におけるエッチング速度のバラ
ツキがなくなり、基板全体にわたってほぼ均一な速度で
エッチングされるので、基板内で局部的にオーバーエッ
チングになったり、あるいはエッチング残りが生じるこ
とがなくなる。この理由は、加熱処理によって、無電解
メッキ層中の金属粒子の配列が均一になり、エッチング
速度も均一化されるものと推察される。
According to the present invention, by performing the heat treatment, there is no variation in the etching rate in the subsequent etching step, and the etching is performed at a substantially uniform rate over the entire substrate. And no etching residue occurs. The reason is presumed that the heat treatment makes the arrangement of the metal particles in the electroless plating layer uniform and also makes the etching rate uniform.

【0012】さらに、請求項2の発明は、前記無電解メ
ッキ層の厚さが、0.3〜0.9μmであることを特徴
とする請求項1に記載の配線基板の製造方法を要旨とす
る。本発明は、オーバーエッチングやエッチング残り、
さらにはピンホールのない好適な配線基板を製造する方
法を示している。
Further, the invention of claim 2 provides a method of manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the thickness of the electroless plating layer is 0.3 to 0.9 μm. I do. The present invention, over-etching and etching residue,
Furthermore, a method for manufacturing a suitable wiring board without pinholes is shown.

【0013】具体的には、まず、基板表面に厚さ0.3
〜0.9μmの厚さの無電解メッキ層を形成し、その無
電解メッキ層上にメッキレジスト層(感光性レジスト)
を形成する。そして、メッキレジスト層の開口部におけ
る無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成し、メッキレ
ジスト層を除去した後に、無電解メッキ層に加熱処理を
施し、その後、エッチングにより余分な無電解メッキ層
を除去する。
More specifically, first, a thickness of 0.3
An electroless plating layer having a thickness of ~ 0.9 µm is formed, and a plating resist layer (photosensitive resist) is formed on the electroless plating layer.
To form Then, an electroplating layer is formed on the electroless plating layer in the opening of the plating resist layer, and after the plating resist layer is removed, a heat treatment is applied to the electroless plating layer. Is removed.

【0014】つまり、本発明では、無電解メッキ層には
エッチング前に加熱処理が施されており、さらに、無電
解メッキ層の厚みが0.9μm以下と薄いので、わずか
の時間のエッチングを施すだけで、マスキングやガード
メッキを施さずとも、電解メッキ層を損なうことなく、
速やかに電解メッキ層を除去できる。しかも、配線基板
全体にわたって均一なエッチング速度でエッチングされ
るので、エッチング条件を厳しくコントロールしなくて
も、オーバーエッチング(図2(a)参照)やエッチン
グ残りの恐れがないので、その点からも作業能率は大き
く向上する。また、マスキングやガードメッキを施す必
要がないので製造工程を単純化することができる。ま
た、無電解メッキ層の厚みを0.9μmと薄くしたの
で、無電解メッキ層を形成する時間を短くすることがで
き、製造コストの低減にも寄与することができる。
That is, according to the present invention, the electroless plating layer is subjected to a heat treatment before etching, and the electroless plating layer has a thickness as small as 0.9 μm or less. Even without applying masking or guard plating, without damaging the electrolytic plating layer,
The electrolytic plating layer can be quickly removed. In addition, since the etching is performed at a uniform etching rate over the entire wiring substrate, there is no risk of over-etching (see FIG. 2A) or remaining etching even if the etching conditions are not strictly controlled. Efficiency is greatly improved. Also, since there is no need to apply masking or guard plating, the manufacturing process can be simplified. Further, since the thickness of the electroless plating layer is reduced to 0.9 μm, the time for forming the electroless plating layer can be shortened, which can contribute to a reduction in manufacturing cost.

【0015】さらに、無電解メッキ層の厚さは、0.3
μm以上であるので、無電解メッキにより、基板表面を
確実に覆うことができる。その為、後に電解メッキを行
っても、形成される配線層にピンホール(図2(b)参
照)を生じることがない。
Further, the thickness of the electroless plating layer is 0.3
Since it is at least μm, the substrate surface can be reliably covered by electroless plating. Therefore, even if electrolytic plating is performed later, a pinhole (see FIG. 2B) does not occur in the formed wiring layer.

【0016】さらに、請求項3に記載の発明は、前記エ
ッチング工程の後に、基板表面をエッチングすることを
特徴とする請求項1または2に記載の配線基板の製造方
法を要旨とする。
Further, the invention according to claim 3 has a gist of the method of manufacturing a wiring board according to claim 1 or 2, wherein the substrate surface is etched after the etching step.

【0017】本発明では、エッチング工程の後に、基板
表面をエッチングするので、基板表面に残存した無電解
メッキ層が点在していても、これを基板表面の樹脂と一
緒に除去できる。基板表面のエッチング液は、基板表面
の材質に応じて、適宜選定して用いればよいが、例えば
過マンガン酸カリウム溶液などが用いられる。
In the present invention, since the substrate surface is etched after the etching step, even if the electroless plating layer remaining on the substrate surface is scattered, it can be removed together with the resin on the substrate surface. The etchant for the substrate surface may be appropriately selected and used according to the material of the substrate surface, and for example, a potassium permanganate solution or the like is used.

【0018】本発明のメッキレジスト層の材料として
は、例えば、感光性エポキシ樹脂等の感光性樹脂が好適
である。すなわち、この感光性樹脂に対して、露光現像
等の処理を行うことにより、所望のレジストパターン、
すなわち、形成する配線パターンの周囲を形成するいわ
ゆるネガパターンを形成することができる。
As a material of the plating resist layer of the present invention, for example, a photosensitive resin such as a photosensitive epoxy resin is preferable. That is, by performing processing such as exposure and development on the photosensitive resin, a desired resist pattern,
That is, a so-called negative pattern that forms the periphery of the wiring pattern to be formed can be formed.

【0019】なお、感光性樹脂を基板表面に配置する方
法としては、感光性樹脂をスクリーン印刷やスピンコー
ト等により塗布する方法や、感光性樹脂からなる感光性
フィルムを貼り付ける方法が採用できる。
As a method of disposing the photosensitive resin on the substrate surface, a method of applying the photosensitive resin by screen printing or spin coating, or a method of attaching a photosensitive film made of the photosensitive resin can be adopted.

【0020】前記配線層の種類としては、銅、ニッケ
ル、金、銀等の導電性を有する金属からなる配線層が挙
げられるので、無電解メッキ層や電解メッキ層は、これ
らの配線に用いられる金属から構成されている。また、
前記無電解メッキを行う場合には、その前処理として、
無電解メッキ層を形成する場所(開口部)に対して、無
電解メッキの成長核(Pd、Au等)を付着させておく
方法が採用できる。
Examples of the type of the wiring layer include a wiring layer made of a conductive metal such as copper, nickel, gold, and silver. Therefore, an electroless plating layer or an electrolytic plating layer is used for these wirings. It is made of metal. Also,
When performing the electroless plating, as a pretreatment,
A method in which a growth nucleus (Pd, Au, or the like) for electroless plating is adhered to a place (opening) where an electroless plating layer is to be formed.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】次に、本発明の配線基板の製造方
法の実施の形態の例(実施例)について、図1および図
2を参照して、順次説明する。なお、本実施例の配線基
板の製造方法は、いわゆるセミアディティブ法を改良し
たものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment (embodiment) of a method of manufacturing a wiring board according to the present invention will be sequentially described with reference to FIGS. The method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment is an improvement of the so-called semi-additive method.

【0022】(1)最初に、下地を形成するために、B
T基板3の表面にエポキシ樹脂(プロビコート;商品
名)を塗布し、150℃で1時間加熱して硬化させ、下
地層5を形成する。 (2)次に、形成する銅配線層7との密着性を高めるた
めに、前記下地のエポキシ樹脂を過マンガン酸カリウム
水溶液により樹脂エッチングして、表面を粗化する処理
を行う。これにより、図1(a)に示すようにBT基板
3と下地層5からなる基板Sを作成しておく。
(1) First, in order to form a base, B
An epoxy resin (Provicoat; trade name) is applied to the surface of the T substrate 3 and is heated and cured at 150 ° C. for 1 hour to form a base layer 5. (2) Next, in order to enhance the adhesion to the copper wiring layer 7 to be formed, the surface of the base epoxy resin is etched with a potassium permanganate aqueous solution to roughen the surface. Thus, a substrate S including the BT substrate 3 and the underlayer 5 is prepared as shown in FIG.

【0023】(3)次に、図1(b)に示すように、無
電解メッキの前処理として、周知のキャタリスト処理お
よびアクセラレーター処理で、基板Sの表面全体にPd
核を付着させる。 (4)次に、図1(c)に示すように、無電解銅メッキ
材料(メルテックス社製のエンプレートCu406A;
商品名)を用いて、Pd核を付着させた部分(つまり基
板Sの表面全体)に周知の無電解メッキを行い、厚さ
0.3〜0.9μmの範囲の(例えば、厚さ0.7μ
m)の無電解銅メッキ層9を形成する。
(3) Next, as shown in FIG. 1B, as a pretreatment for electroless plating, Pd is applied to the entire surface of the substrate S by a well-known catalyst treatment and accelerator treatment.
Attach nuclei. (4) Next, as shown in FIG. 1C, an electroless copper plating material (Emplate Cu406A manufactured by Meltex Co., Ltd .;
A known electroless plating is performed on the portion where the Pd nucleus is adhered (namely, the entire surface of the substrate S) using a trade name (trade name), and the thickness is in the range of 0.3 to 0.9 μm (for example, the thickness of 0.1 μm). 7μ
m) An electroless copper plating layer 9 is formed.

【0024】つまり、このときに、無電解銅メッキ層9
の厚さを0.7μmに制御するのであるが、具体的に
は、メッキ時間をコントロールし、更にメッキ液の組成
を安定させるために自動分析補充装置によるメッキ液管
理を行うことにより、無電解銅メッキ層9の厚さを調節
する。
That is, at this time, the electroless copper plating layer 9
The thickness is controlled to 0.7 μm. Specifically, the plating time is controlled, and the plating solution is controlled by an automatic analyzer and replenisher to stabilize the composition of the plating solution. The thickness of the copper plating layer 9 is adjusted.

【0025】(5)次に、図1(d)に示すように、無
電解銅メッキ層9上にドライフィルムを20μmの厚み
で貼り付け、感光性エポキシ樹脂層13を形成する。 (6)次に、フォトマスク(図示しない)を用いて、前
記感光性エポキシ樹脂層13に対してUV露光を行い、
銅配線層7を形成する部分以外の箇所を硬化させる。
(5) Next, as shown in FIG. 1D, a dry film is adhered on the electroless copper plating layer 9 to a thickness of 20 μm to form a photosensitive epoxy resin layer 13. (6) Next, using a photomask (not shown), the photosensitive epoxy resin layer 13 is subjected to UV exposure,
The part other than the part where the copper wiring layer 7 is formed is cured.

【0026】(7)次に、図1(e)に示すように、炭
酸ナトリウム1%水溶液で、未露光部分(つまり、銅配
線層7形成部分)のエポキシ樹脂を溶解させて除去す
る。したがって、前記感光性エポキシ樹脂層13のう
ち、溶解除去されない部分が、後述するメッキ処理にお
けるメッキレジスト層15となる。
(7) Next, as shown in FIG. 1E, the unexposed portion (that is, the portion where the copper wiring layer 7 is formed) is dissolved and removed with a 1% aqueous solution of sodium carbonate. Therefore, a portion of the photosensitive epoxy resin layer 13 that is not dissolved and removed becomes a plating resist layer 15 in a plating process described later.

【0027】(8)次に、図1(f)に示すように、無
電解銅メッキ層9に対して電流を流して、電解銅メッキ
液(ワールドメタル社製の硫酸銅メッキ液 ACB−9
0;商品名)を用いて、周知の電解メッキを行い、15
μmの厚さの電解銅メッキ層11を、無電解銅メッキ層
9上に形成する。
(8) Next, as shown in FIG. 1 (f), an electric current is applied to the electroless copper plating layer 9 so that an electrolytic copper plating solution (World Metal Corporation copper sulfate plating solution ACB-9) is applied.
0; trade name) and performing well-known electrolytic plating.
An electrolytic copper plating layer 11 having a thickness of μm is formed on the electroless copper plating layer 9.

【0028】なお、上述したメッキ方法は、周知の多層
プリント配線板のメッキ方法と同様であるので詳述しな
い(例えば、「多層プリント配線板ステップ365」;
藤平・藤森共著;工業調査会;1989年発行参照)。
The above-mentioned plating method is the same as a well-known plating method for a multilayer printed wiring board, and will not be described in detail (for example, “multilayer printed wiring board step 365”;
Co-authored by Fujihira and Fujimori; Industrial Research Committee; published in 1989).

【0029】(9)次いで、周知の水酸化ナトリウム水
溶液を用いて、図1(g)に示すように、メッキレジス
ト層15を除去し、メッキレジスト層15を除去した箇
所の無電解銅メッキ層9を露出させ、150℃で120
分間の加熱処理を施す。
(9) Next, as shown in FIG. 1 (g), the plating resist layer 15 is removed by using a well-known aqueous sodium hydroxide solution, and the electroless copper plating layer at the position where the plating resist layer 15 is removed. 9 and exposed at 150 ° C. for 120
Heat treatment for a minute.

【0030】(10)次に、硫酸ナトリウム系のエッチ
ング液(荏原ユージーライトPB−228:商品名)を
用いてメッキレジスト層15を除去した箇所の無電解銅
メッキ層9を除去する(図1(h)参照)。その後、エ
ッチング液(メックエッチボンド CZ−8100:商
品名)を用いて、電解銅メッキ層11の表面を粗化処理
する。 (11)その後、上記無電解銅メッキ層9のエッチング
工程において露出した下地層5の表面を過マンガン酸カ
リウム溶液により樹脂エッチングを行い、下地層5の表
面の不要な付着物を下地層5の表面の樹脂とともに除去
し、銅配線層7を完成する。このようにして形成された
銅配線層7は、銅配線層7上にさらに積層される樹脂絶
縁層(図示しない)と、従来の黒化処理と比べて同等以
上の密着強度を得ることができる。
(10) Next, the electroless copper plating layer 9 where the plating resist layer 15 has been removed is removed by using a sodium sulfate-based etching solution (EBARA UZelite PB-228: trade name) (FIG. 1). (H)). After that, the surface of the electrolytic copper plating layer 11 is roughened by using an etching solution (MEC etch bond CZ-8100: trade name). (11) Then, the surface of the underlayer 5 exposed in the etching step of the electroless copper plating layer 9 is subjected to resin etching using a potassium permanganate solution to remove unnecessary deposits on the surface of the underlayer 5. It is removed together with the resin on the surface to complete the copper wiring layer 7. The copper wiring layer 7 formed in this way can obtain an adhesion strength equal to or higher than that of a conventional blackening treatment with a resin insulating layer (not shown) further laminated on the copper wiring layer 7. .

【0031】このように、本実施例では、無電解銅メッ
キ層9のエッチング処理前に、150℃で120分間の
加熱処理を施したので、無電解銅メッキ層9のエッチン
グ工程でのエッチング速度を基板全面にわたりほぼ均一
とすることができる。したがって、局部的に無電解メッ
キ層9のエッチング残りが発生したりすることがない。
As described above, in the present embodiment, since the heating treatment is performed at 150 ° C. for 120 minutes before the etching treatment of the electroless copper plating layer 9, the etching rate in the etching step of the electroless copper plating layer 9 is increased. Can be made substantially uniform over the entire surface of the substrate. Therefore, the etching residue of the electroless plating layer 9 does not occur locally.

【0032】また、本実施例では、銅配線層7以外の箇
所にて露出した無電解銅メッキ層9が、0.9μm以下
と薄いので、その無電解銅メッキ層9をエッチングによ
り短時間でしかも十分に除去することができる。また、
マスキングやガードメッキも不要であるので、作業工程
を簡易化でき、製造コストを低減できる。
In this embodiment, since the electroless copper plating layer 9 exposed at portions other than the copper wiring layer 7 is as thin as 0.9 μm or less, the electroless copper plating layer 9 is etched in a short time. Moreover, it can be sufficiently removed. Also,
Since neither masking nor guard plating is required, the working process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.

【0033】なお、前記実施例では、基板Sの表面に配
線層を形成した例を示したが、以下の(12)〜(1
8)の工程を適宜繰り返すことにより、所望の多層配線
基板をえることができる。 (12)銅配線層7(図1(h)参照)上に感光性を有
する樹脂絶縁層を形成する。 (13)周知のフォトリソグラフィ技術により、この樹
脂絶縁層にビアホールを形成し、銅配線層7の一部を露
出させる。 (14)露出した銅配線層7上面、ビアホール内周面、
および樹脂絶縁層上に0.3〜0.9μmの無電解銅メ
ッキ層を形成する。 (15)前記無電解銅メッキ層上に、所定パターンの開
口部を有するメッキレジスト層を形成する。 (16)前記パターンの開口部に対応した無電解メッキ
層上に、電解銅メッキにより電解銅メッキ層を形成す
る。 (17)前記メッキレジスト層を除去する。 (18)前記電解銅メッキ層の表面を粗化するととも
に、前記メッキレジスト層を除去した箇所に対応する余
分な無電解銅メッキ層を除去し、銅配線層を形成する。
In the above embodiment, the example in which the wiring layer is formed on the surface of the substrate S has been described, but the following (12) to (1)
By appropriately repeating the step 8), a desired multilayer wiring board can be obtained. (12) A photosensitive resin insulating layer is formed on the copper wiring layer 7 (see FIG. 1H). (13) Via holes are formed in the resin insulating layer by a known photolithography technique, and a part of the copper wiring layer 7 is exposed. (14) The exposed upper surface of the copper wiring layer 7, the inner peripheral surface of the via hole,
Then, an electroless copper plating layer of 0.3 to 0.9 μm is formed on the resin insulating layer. (15) A plating resist layer having openings of a predetermined pattern is formed on the electroless copper plating layer. (16) An electrolytic copper plating layer is formed by electrolytic copper plating on the electroless plating layer corresponding to the opening of the pattern. (17) The plating resist layer is removed. (18) The surface of the electrolytic copper plating layer is roughened, and an excess electroless copper plating layer corresponding to a portion where the plating resist layer has been removed is removed to form a copper wiring layer.

【0034】なお、本実施例の配線層表面粗化処理で用
いられるエッチング液としては、前記したメック社製の
メックエッチボンド(商品名)の他、荏原電産社製のネ
オブラウン(商品名)なども用いることができる。エッ
チング液の材料としては、オキソ酸として硫酸を、過酸
化物として過酸化水素あるいはペルオキソ(一)酸
(塩)を、助剤として塩素を塩化ナトリウムにより、ま
た、アゾールとして、ピロロール、オキサゾール、チア
ゾール等を配合したものを用いることができる。
The etchant used in the surface roughening treatment of the wiring layer in this embodiment includes, in addition to the above-mentioned MEC etch bond (trade name) manufactured by MEC, neo-brown (trade name) manufactured by EBARA ) Can also be used. Materials for the etchant include sulfuric acid as oxo acid, hydrogen peroxide or peroxo (mono) acid (salt) as peroxide, chlorine as sodium chloride as auxiliary, and pyrrolol, oxazole, thiazole as azole. And the like can be used.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上、詳述したように、本発明の配線基
板の製造方法によれば、無電解メッキ層のエッチング速
度のバラツキが低減し、したがって、無電解メッキ層の
エッチング残りや、電解メッキ層のオーバーエッチング
の発生率を大幅に低減できる。
As described above in detail, according to the method of manufacturing a wiring board of the present invention, the variation in the etching rate of the electroless plating layer is reduced, and therefore, the etching residue of the electroless plating layer and the electrolytic etching are reduced. The occurrence rate of over-etching of the plating layer can be greatly reduced.

【0036】さらに、配線層の表面の粗化処理と不要な
無電解メッキ層の除去処理とを同一の工程で行うことが
でき、さらに、マスキングやガードメッキも不要である
ので、作業工程を簡易化でき、製造コストを低減でき
る。
Further, the surface roughening treatment of the wiring layer and the unnecessary electroless plating layer removal treatment can be performed in the same process, and furthermore, since masking and guard plating are not required, the working process can be simplified. And manufacturing costs can be reduced.

【0037】また、配線層の表面の粗化処理の後で、下
地層5の表面を樹脂エッチングするので、表面の不要な
付着物(点在して残存する無電解銅メッキ層(金属粒
子)やパラジウム等のメッキ触媒核、さらには配線層の
表面粗化処理時に配線層より溶出し下地層5の上に付着
した金属粒子など)を、その下の樹脂と一緒に確実に除
去できる。さらに、無電解メッキ層の厚さが0.3μm
以上と十分厚いため、ピンホールの発生を防止でき、し
かも、0.9μm以下と薄いので、オーバーエッチン
グ、エッチング残り等の不具合を効果的に防止すること
ができる。
After the surface of the wiring layer is roughened, the surface of the underlayer 5 is etched with a resin, so that unnecessary deposits on the surface (electroless copper plating layer (metal particles) remaining scattered and remaining) are formed. And plating catalyst nuclei such as palladium, and metal particles eluted from the wiring layer during the surface roughening treatment of the wiring layer and adhered to the underlayer 5) can be reliably removed together with the underlying resin. Furthermore, the thickness of the electroless plating layer is 0.3 μm
Since the thickness is sufficiently large as described above, the occurrence of pinholes can be prevented. Further, since the thickness is as small as 0.9 μm or less, problems such as over-etching and residual etching can be effectively prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例の配線基板の製造方法を示す説明図であ
る。
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating a method for manufacturing a wiring board according to an embodiment.

【図2】従来の配線基板の欠陥を示し、(a)はオーバ
ーエッチングによる配線層の欠陥を示す説明図、(b)
はピンホールによる配線層の欠陥を示す説明図である。
FIGS. 2A and 2B are explanatory diagrams showing a defect of a conventional wiring board, in which FIG.
FIG. 4 is an explanatory view showing a defect of a wiring layer due to a pinhole.

【図3】従来技術を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a conventional technique.

【図4】従来技術を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3:BT基板 5:下地層 7:銅配線層 9:無電解銅メッキ層 11:電解銅メッキ層 13:感光性エポキシ樹脂層 15:メッキレジスト層 S:基板 3: BT substrate 5: Underlayer 7: Copper wiring layer 9: Electroless copper plating layer 11: Electrolytic copper plating layer 13: Photosensitive epoxy resin layer 15: Plating resist layer S: Substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鬼頭 直樹 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 (72)発明者 平野 聡 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 Fターム(参考) 5E343 AA16 AA17 BB14 BB23 BB24 BB25 BB44 CC43 CC73 DD33 DD43 DD76 EE37 ER16 ER18 ER26 ER33 GG20  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Naoki Kito 14-18 Takatsuji-cho, Mizuho-ku, Nagoya-shi, Aichi Japan Inside Nihon Toku Toi Co., Ltd. (72) Inventor Satoshi Hirano 14th Takatsuji-cho, Mizuho-ku, Nagoya-shi, Aichi No. 18 F-term in Japan Special Ceramics Co., Ltd. (reference) 5E343 AA16 AA17 BB14 BB23 BB24 BB25 BB44 CC43 CC73 DD33 DD43 DD76 EE37 ER16 ER18 ER26 ER33 GG20

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 無電解メッキ層上に電解メッキ層を形成
した構造を有する配線基板において、 前記基板表面に、無電解メッキにより無電解メッキ層を
形成する工程と、 前記無電解メッキ層上に、所定パターンの開口部を有す
るメッキレジスト層を形成する工程と、 前記パターンの開口部に対応した無電解メッキ層上に、
電解メッキにより電解メッキ層を形成する工程と、 前記メッキレジスト層を除去する工程と、 前記無電解メッキ層に加熱処理を施す加熱工程と、 前記メッキレジスト層を除去した箇所に対応する余分な
無電解メッキ層を除去するエッチング工程と、 を有することを特徴とする配線基板の製造方法。
1. A wiring board having a structure in which an electrolytic plating layer is formed on an electroless plating layer, wherein: a step of forming an electroless plating layer on the substrate surface by electroless plating; Forming a plating resist layer having an opening of a predetermined pattern, on the electroless plating layer corresponding to the opening of the pattern,
A step of forming an electrolytic plating layer by electrolytic plating, a step of removing the plating resist layer, a heating step of performing a heat treatment on the electroless plating layer, and an extra step corresponding to a portion where the plating resist layer is removed. An etching step of removing an electrolytic plating layer, comprising:
【請求項2】 前記無電解メッキ層の厚さが、0.3〜
0.9μmであることを特徴とする請求項1に記載の配
線基板の製造方法。
2. The thickness of the electroless plating layer is 0.3 to 0.3.
The method of claim 1, wherein the thickness is 0.9 μm.
【請求項3】 前記エッチング工程の後に、前記基板表
面をエッチングすることを特徴とする請求項1または2
に記載の配線基板の製造方法。
3. The substrate according to claim 1, wherein the substrate surface is etched after the etching step.
3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2013136729A1 (en) * 2012-03-16 2013-09-19 住友ベークライト株式会社 Manufacturing method for laminated board and printed wiring board
US8847082B2 (en) 2010-05-18 2014-09-30 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Multilayer wiring substrate

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8847082B2 (en) 2010-05-18 2014-09-30 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Multilayer wiring substrate
WO2013136729A1 (en) * 2012-03-16 2013-09-19 住友ベークライト株式会社 Manufacturing method for laminated board and printed wiring board
JP2013219337A (en) * 2012-03-16 2013-10-24 Sumitomo Bakelite Co Ltd Laminated board, and method for manufacturing printed wiring board
KR101528444B1 (en) * 2012-03-16 2015-06-11 스미토모 베이클리트 컴퍼니 리미티드 Laminate and method for manufacturing printed circuit board

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