JP2000162143A - 回路パターンの検査装置および検査方法 - Google Patents

回路パターンの検査装置および検査方法

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JP2000162143A JP34029298A JP34029298A JP2000162143A JP 2000162143 A JP2000162143 A JP 2000162143A JP 34029298 A JP34029298 A JP 34029298A JP 34029298 A JP34029298 A JP 34029298A JP 2000162143 A JP2000162143 A JP 2000162143A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】セル領域の設定を使い勝手がよく、かつ迅速に
行うことのできる回路パターンの検査装置および検査方
法を提供することを目的とする。 【解決手段】図8は、セル情報の設定に使用するマップ
内マップ画面を表わす。セル情報の画面では、チップ内
に配列されているセル領域を、画像で指定しながら設定
していく。さらに、セル領域内のセルピッチを入力す
る。回路パターンの検査装置は、セル領域の設定手段を
有し、セル領域の設定のための作成ツールを、ウエハマ
ップを表示する画面と共に表示する表示装置を有し、か
つ該作成ツールは、(ア)矩形,矩形ライン,矩形エリ
ア,ミラー反転設定(イ)複写,削除,移動,トレース
機能を使用した後戻りによる設定(ウ)セル領域のグル
ープ化機能による複写,削除,移動設定から構成される
個々の組合せの1つまたは2つ以上のセル領域作成手段
を有する。このようなセル領域の設定は「SEM」画像
によるばかりでなく「光顕」画像あるいはレーザ光画像
についても適用できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置や液晶等
微細な回路パターンを有する基板製造方法及び装置に係
わり、特に半導体装置やフォトマスクのパターン検査技
術に係わり、半導体装置製造過程途中のウエハ上のパタ
ーン検査技術,電子線を使用して比較検査する技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハの検査を一例として説明す
る。
【0003】半導体装置は、半導体ウエハ上にホトマス
クに形成されたパターンをリソグラフィー処理およびエ
ッチング処理により転写する工程を繰り返すことにより
製造される。半導体装置の製造過程において、リソグラ
フィー処理やエッチング処理その他の良否,異物発生等
は、半導体装置の歩留まりに大きく影響を及ぼすため、
異常や不良発生を早期にあるいは事前に検知するために
製造過程の半導体ウエハ上のパターンを検査する方法は
従来から実施されている。
【0004】半導体ウエハ上のパターンに存在する欠陥
を検査する方法としては、半導体ウエハに白色光を照射
し、光学画像を用いて複数のLSIの同種の回路パター
ンを比較する欠陥検査装置が実用化されており、検査方
式の概要は「月間セミコンダクタワールド」1995年
8月号pp96−99に述べられている。また、光学画
像を用いた検査方法では、特開平3−167456 号公報に
記載されているように、基板上の光学照明された領域を
時間遅延積分センサで結像し、その画像と予め入力され
ている設計特性を比較することにより欠陥を検出する方
式や、特公平6−58220 号公報に記載されているよう
に、画像取得時の画像劣化をモニタしそれを画像検出時
に補正することにより安定した光学画像での比較検査を
行う方法が開示されている。このような光学式の検査方
式で製造過程における半導体ウエハを検査した場合、光
が透過してしまうシリコン酸化膜や感光性フォトレジス
ト材料を表面に有するパターンの残渣や欠陥は検出でき
なかった。また、光学系の分解能以下となるエッチング
残りや微小導通穴の非開口不良は検出できなかった。さ
らに、配線パターンの段差底部に発生した欠陥は検出で
きなかった。
【0005】上記のように、回路パターンの微細化や回
路パターン形状の複雑化,材料の多様化に伴い、光学画
像による欠陥検出が困難になってきたため、光学画像よ
りも分解能の高い電子線画像を用いて回路パターンを比
較検査する方法が提案されてきている。電子線画像によ
り回路パターンを比較検査する場合に、実用的な検査時
間を得るためには走査電子顕微鏡(Scanning Electron M
icroscopy、以下SEMと略す)による観察と比べて非常に
高速に画像を取得する必要がある。そして、高速で取得
した画像の分解能と画像のSN比を確保する必要があ
る。
【0006】電子線を用いたパターンの比較検査装置と
して、J. Vac. Sci. Tech. B, Vol.9,No.6, pp.3005
−3009(1991)、J. Vac. Sci. Tech. B, Vol.10,No.6,
pp.2511−2515(1992)、および特開平5−258703 号公報
とUSP5,502,306に、通常のSEMの100倍以上(10
nA以上)の電子線電流をもった電子線を導電性基板
(X線マスク等)に照射し、発生する二次電子・反射電
子・透過電子のいずれかを検出し、その信号から形成さ
れた画像を比較検査することにより欠陥を自動検出する
方法が開示されている。
【0007】また、絶縁物を有する回路基板を電子線で
検査あるいは観察する方法としては、特開昭59−155941
号公報および「電子,イオンビームハンドブック」(日
刊工業新聞社)pp622−623に、帯電の影響を少な
くするために、2keV以下の低加速電子線照射により
安定な画像を取得する方法が開示されている。さらに、
特開平2−15546号公報には半導体基板の裏からイオンを
照射する方法、特開平6−338280 号公報には光を半導体
基板の表面に照射することにより、絶縁物への帯電を打
ち消す方法が開示されている。
【0008】また、大電流でなおかつ低加速の電子線で
は、空間電荷効果により高分解能な画像を得ることが困
難となるが、これを解決する方法として、特開平5−258
703号公報に、試料直前で高加速電子線を減速し、試料
上で実質的に低加速電子線として照射する方法が開示さ
れている。
【0009】高速に電子線画像を取得する方法として
は、試料台を連続的に移動しながら試料台上の半導体ウ
エハに電子線を連続照射し取得する方法が特開昭59−16
0948号および特開平5−258703 号公報に開示されてい
る。また、従来のSEMで用いられてきた二次電子の検
出装置として、シンチレータ(Al蒸着された蛍光体)
とライトガイドと光電子増倍管による構成が用いられて
いるが、このタイプの検出装置は、蛍光体による発光を
検出するため、周波数応答性が悪く、高速に電子線画像
を形成するには不適切である。この問題を解決するため
に、高周波の二次電子信号を検出する検出装置として、
半導体検出器を用いた検出手段が特開平5−258703号公
報に開示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来の装置にあって
は、ウエハ外観検査装置の画面機能が充分に生かされて
いなかった。そのためウエハ外観検査が必ずしも容易に
行われるものとは限らず、使い勝手が悪かった。
【0011】本発明はかかる点に鑑みてなさたれたもの
で、ウエハ外観検査装置の画面機能を改良し、使い勝手
のよい回路パターンの検査装置および検査方法を提供す
ることを目的とする。特に、セル領域の設定を使い勝手
がよく、かつ迅速に行うことのできる回路パターンの検
査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【0012】SEMを使用したパターン付きウエハ検査
装置には、次のような問題点がある。検査対象であるパ
ターンを構成する材料が導電性を有する材料である必要
があるため、ウエハ上にレジストやシリコン酸化膜等の
絶縁性を有する材料によって形成されたパターン、およ
び絶縁性を有する材料によって形成された部分と導電性
を有する材料によって形成された部分とが混在するパタ
ーンについては、SEMによる電子線画像形成には極めて
長い時間を要するため、ICの製造方法において実用す
ることができない。すなわち、SEMを使用したパター
ン付きウエハ検査装置によってウエハ全面のパターンを
検査すると、極めて膨大な時間が消費され、その間製造
が停滞するため、SEMを使用したパターン付きウエハ
検査方法は実用に供することができない。検査中に製造
を進行させると、ICの製造プロセスにおいてランダム
に発生した不良を未然に検出することができないため、
不良発生率を低減することができず、結局、生産性の向
上に寄与することができない。つまり、ICの製造方法
におけるプロセス条件変動や、装置誤動作等による不良
発生を早期に的確に検出することにより、プロセス条件
や装置条件,管理方法等へ対策をフィードバックし、以
って不良発生率を低減させることができない。
【0013】本発明は、光学的に検出困難な微細構造
で、しかも絶縁性を有する材料によって形成されたパタ
ーンおよび絶縁性を有する材料と導電性を有する材料と
によって形成されたパターンについてもSEMによって
検査することができる検査技術を提供することにある。
【0014】本発明は、この検査技術を用いて実用に供
すことのできる検査装置を提供し、パターン付きウエハ
を検査し、その結果を製造条件に反映することができる
半導体集積回路装置の製造方法および装置を提供するこ
とにある。
【0015】従来の装置にあっては、ウエハ外観検査装
置の画面機能が充分に生かされていなかったため、実用
的にウエハ外観検査が必ずしも容易に行われるものとは
限らず、使い勝手が悪かった。
【0016】本発明は、かかる点にも鑑みてなされたも
のであって、ウエハ外観検査装置の断面機能を改良し、
実用的に使い勝手のよい回路パターンの検査装置および
検査方法を提供するものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】レジストパターン,CO
NT系開口パターン,エッチング後Fineパターン(拡散
系),エッチング後Fineパターン(配線系)などの項目
について欠陥画像を記憶し、これらの画像を同一の画面
に対応して形成表示するようにした。
【0018】尚、本発明においてセル領域とは、検査対
象となる領域の一つの単位(ユニット)を意味し、ウエ
ハ上のチップの一つ一つを意味する場合から、チップ内
の特定プロセス領域を意味する場合までユーザの検査要
求により変化する。本発明においては、ユーザの検査要
求領域の個々を総称してセル領域と呼んで使用する。
【0019】本発明は具体的には次に掲げる装置および
方法を提供する。
【0020】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、セル領域の設定手段を有し、セル領域の
設定のための作成ツールを、ウエハマップを表示する画
面と共に表示する表示装置を有する回路パターンの検査
装置を提供する。
【0021】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、セル領域の設定手段を有し、セル領域の
設定のための作成ツールを、ウエハマップを表示する画
面と共に表示する表示装置を有し、かつ該作成ツール
は、(ア)矩形,矩形ライン,矩形エリア,ミラー反転
設定(イ)複写,削除,移動,トレース機能を使用した
後戻りによる設定(ウ)セル領域のグループ化機能によ
る複写,削除,移動設定(エ)非検査セル領域の設定か
ら構成される個々の組合せの1つまたは2つ以上を含む
セル領域作成手段を有する回路パターンの検査装置を提
供する。
【0022】本発明は更に、前記セル領域は、光学顕微
鏡による「光顕」画像で入力した領域のデータを、SE
M画像でトレースして再入力して設定された領域である
回路パターンの検査装置を提供する。
【0023】本発明は更に、前記セル領域は、光学顕微
鏡によるSEM低倍率画像で入力した領域のデータを、
SEM高倍率画像でトレースして再入力して設定された
領域である回路パターンの検査装置を提供する。
【0024】本発明は更に、セル領域デフォルトを有す
る品種ファイルおよび該品種ファイルに付属する工程フ
ァイル手段を有し、新規品種の表示であるときにデフォ
ルト領域をかつ工程表示であるときに設定済のセル領域
を検査領域として表示する回路パターンの検査装置を提
供する。
【0025】本発明は更に、セル領域ファイルを有する
品種ファイルおよび該品種ファイルに付属する工程ファ
イル手段を有し、工程ファイルのパラメータを表示する
ときに設定済のパラメータを表示し、該パラメータを変
更したときに新たな工程ファイルとして登録する登録手
段を有する回路パターンの検査装置を提供する。
【0026】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、チップマトリクス,セル領域,電子線照
射条件,キャリブレーション条件,アライメント条件,
検査領域,感度条件および合否判定ファイルからなるフ
ァイルグループ手段を有し、前記チップマトリクスおよ
びセル領域ファイルでもって品種ファイルを構成し、他
のファイルでもって工程ファイルを構成し、品種ファイ
ルの下位に工程ファイルを有する構造として各ファイル
についてのパラメータを設定するようにした回路パター
ンの検査装置を提供する。
【0027】本発明は更に、前記セル領域ファイルは、
セル領域数,セル領域座標およびセルピッチファイルか
らなる回路パターンの検査装置を提供する。
【0028】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、検査領域の設定手段を有し、かつその先
端を欠陥位置に位置させるナビゲート線を表示するナビ
ゲート表示手段を有する回路パターンの検査装置を提供
する。
【0029】本発明は更に、前記欠陥位置を色変化表示
する回路パターンの検査装置を提供する。
【0030】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、検査領域の設定手段を有し、かつウエハ
マップを任意に拡大および縮小して表示する拡大/縮小
表示手段を有する回路パターンの検査装置を提供する。
【0031】本発明は、回路パターンが形成された基板
表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射し、照射
によって基板から発生する信号を検出し、検出された信
号を画像化して記憶し、記憶された画像を他の同一回路
の回路パターンから形成された画像と比較し、比較結果
から回路パターン上の欠陥を判別する回路パターンの検
査方法において、セル領域を設定して設定されたセル領
域について前記画像化して記憶し、かつ該設定されたセ
ル領域から検査領域を設定するときにセル領域表示画面
と検査領域表示画面とを独立して表示して検査を行う回
路パターンの検査方法を提供する。
【0032】本発明は、回路パターンが形成された基板
表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射し、照射
によって基板から発生する信号を検出し、検出された信
号を画像化して記憶し、記憶された画像を他の同一回路
の回路パターンから形成された画像と比較し、比較結果
から回路パターン上の欠陥を判別する回路パターンの検
査方法において、同一回路の回路パターンを画像化する
ときに、光学顕微鏡による複数の「光顕」画像またはSE
M低倍率で入力した画像データと1回の照射によって得
られたSEM高倍率画像で入力した画像データとを使用
して画像取得する回路パターンの検査方法を提供する。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例の検査方
法、および装置の一例について、図面を参照しながら詳
細に説明する。
【0034】実施例の回路パターン検査装置1の構成を
図1に示す。回路パターン検査装置1は、室内が真空排
気される検査室2と、検査室2内に被検査基板9を搬送
するための予備室(本実施例では図示せず)を備えてお
り、この予備室は検査室2とは独立して真空排気できる
ように構成されている。また、回路パターン検査装置1
は上記検査室2と予備室の他に制御部6,画像処理部5
から構成されている。検査室2内は大別して、電子光学
系3,二次電子検出部7,試料室8,光学顕微鏡部4か
ら構成されている。電子光学系3は、電子銃10,電子
線引き出し電極11,コンデンサレンズ12,ブランキ
ング偏向器13,走査偏向器15,絞り14,対物レン
ズ16,反射板17,ExB偏向器18から構成されて
いる。二次電子検出部7のうち、二次電子検出器20が
検査室2内の対物レンズ16の上方に配置されている。
二次電子検出器20の出力信号は、検査室2の外に設置
されたプリアンプ21で増幅され、AD変換機22によ
りデジタルデータとなる。試料室8は、試料台30,X
ステージ31,Yステージ32,回転ステージ33,位
置モニタ測長器34,被検査基板高さ測定器35から構
成されている。光学顕微鏡部4は、検査室2の室内にお
ける電子光学系3の近傍であって、互いに影響を及ぼさ
ない程度離れた位置に設備されており、電子光学系3と
光学顕微鏡部4の間の距離は既知である。そして、Xス
テージ31またはYステージ32が電子光学系3と光学
顕微鏡部4の間の既知の距離を往復移動するようになっ
ている。光学顕微鏡部4は光源40,光学レンズ41,
CCDカメラ42により構成されている。画像処理部5
は、第一画像記憶部46,第二画像記憶部47,演算部
48,欠陥判定部49より構成されている。取り込まれ
た電子線画像あるいは光学画像はモニタ50に表示され
る。装置各部の動作命令および動作条件は、制御部6か
ら入力される。制御部6には、あらかじめ電子線発生時
の加速電圧,電子線偏向幅,偏向速度,二次電子検出装
置の信号取り込みタイミング,試料台移動速度等々の条
件が、目的に応じて任意にあるいは選択して設定できる
よう入力されている。制御部6は、補正制御回路43を
用いて、位置モニタ測長器34,被検査基板高さ測定器
35の信号から位置や高さのずれをモニタし、その結果
より補正信号を生成し、電子線が常に正しい位置に照射
されるよう対物レンズ電源45や走査信号発生器44に
補正信号を送る。
【0035】被検査基板9の画像を取得するためには、
細く絞った一次電子線19を該被検査基板9に照射し、
二次電子51を発生させ、これらを一次電子線19の走
査およびステージ31,32の移動と同期して検出する
ことで該被検査基板9表面の画像を得る。本発明の課題
で述べたように、本発明の自動検査では検査速度が速い
ことが必須となる。従って、通常のSEMのようにpA
オーダーの電子線電流の電子線を低速で走査したり、多
数回の走査および各々の画像の重ね合せは行わない。ま
た、絶縁材料への帯電を抑制するためにも、電子線走査
は高速で一回あるいは数回程度にする必要がある。そこ
で本実施例では、通常SEMに比べ約100倍以上の、
例えば100nAの大電流電子線を一回のみ走査するこ
とにより画像を形成する構成とした。走査幅は100μ
mとし、1画素は0.1μmとし、1回の走査を1μ
sで行うようにした。
【0036】電子銃10には拡散補給型の熱電界放出電
子源が使用されている。この電子銃10を用いることに
より、従来の例えばタングステン(W)フィラメント電
子源や、冷電界放出型電子源に比べて安定した電子線電
流を確保することができるため、明るさ変動の少ない電
子線画像が得られる。また、この電子銃10により電子
線電流を大きく設定することができるため、後述するよ
うな高速検査を実現できる。一次電子線19は、電子銃
10と引き出し電極11との間に電圧を印加することで
電子銃10から引き出される。一次電子線19の加速
は、電子銃10に高電圧の負の電位を印加することでな
される。これにより、一次電子線19はその電位に相当
するエネルギーで試料台30の方向に進み、コンデンサ
レンズ12で収束され、さらに対物レンズ16により細
く絞られて試料台30上のX−Yステージ31,32の
上に搭載された被検査基板9(半導体ウエハ,チップあ
るいは液晶,マスク等微細回路パターンを有する基板)
に照射される。なお、ブランキング偏向器13には、走
査信号およびブランキング信号を発生する走査信号発生
器44が接続され、コンデンサレンズ12および対物レ
ンズ16には、各々レンズ電源45が接続されている。
被検査基板9には、リターディング電源36により負の
電圧を印加できるようになっている。このリターディン
グ電源36の電圧を調節することにより一次電子線を減
速し、電子銃10の電位を変えずに被検査基板9への電
子線照射エネルギーを最適な値に調節することができ
る。
【0037】被検査基板9上に一次電子線19を照射す
ることによって発生した二次電子51は、被検査基板9
に印加された負の電圧により加速される。被検査基板9
上方に、ExB偏向器18が配置され、これにより加速
された二次電子51は所定の方向へ偏向される。ExB
偏向器18にかける電圧と磁界の強度により、偏向量を
調整することができる。また、この電磁界は、試料に印
加した負の電圧に連動させて可変させることができる。
ExB偏向器18により偏向された二次電子51は、所
定の条件で反射板17に衝突する。この反射板17は、
試料に照射する電子線(以下一次電子線と呼ぶ)の偏向
器のシールドパイプと一体で円錐形状をしている。この
反射板17に加速された二次電子51が衝突すると、反
射板17からは数V〜50eVのエネルギーを持つ第二
の二次電子52が発生する。
【0038】二次電子検出部7は、真空排気された検査
室2内には二次電子検出器20が、検査室2の外にはプ
リアンプ21,AD変換器22,光変換手段23,光伝
送手段24,電気変換手段25,高圧電源26,プリア
ンプ駆動電源27,AD変換器駆動電源28,逆バイア
ス電源29から構成されている。既に記述したように、
二次電子検出部7のうち、二次電子検出器20が検査室
2内の対物レンズ16の上方に配置されている。二次電
子検出器20,プリアンプ21,AD変換器22,光変
換手段23,プリアンプ駆動電源27,AD変換器駆動
電源28は、高圧電源26により正の電位にフローティ
ングしている。上記反射板17に衝突して発生した第二
の二次電子52は、この吸引電界により二次電子検出器
20へ導かれる。二次電子検出器20は、一次電子線1
9が被検査基板9に照射されている間に発生した二次電
子51がその後加速されて反射板17に衝突して発生し
た第二の二次電子52を、一次電子線19の走査のタイ
ミングと連動して検出するように構成されている。二次
電子検出器20の出力信号は、検査室2の外に設置され
たプリアンプ21で増幅され、AD変換器22によりデ
ジタルデータとなる。AD変換器22は、二次電子検出
器20が検出したアナログ信号をプリアンプ21によっ
て増幅された後に直ちにデジタル信号に変換して、画像
処理部5に伝送するように構成されている。検出したア
ナログ信号を検出直後にデジタル化してから伝送するの
で、従来よりも高速で且つSN比の高い信号を得ること
ができる。
【0039】X−Yステージ31,32上には被検査基
板9が搭載されており、検査実行時にはX−Yステージ
31,32を静止させて一次電子線19を二次元に走査
する方法と、検査実行時にX−Yステージ31,32を
Y方向に連続して一定速度で移動されるようにして一次
電子線19をX方向に直線に走査する方法のいずれかを
選択できる。ある特定の比較的小さい領域を検査する場
合には前者のステージを静止させて検査する方法、比較
的広い領域を検査するときは、ステージを連続的に一定
速度で移動して検査する方法が有効である。なお、一次
電子線19をブランキングする必要がある時には、ブラ
ンキング偏向器13により一次電子線19が偏向され
て、電子線が絞り14を通過しないように制御できる。
【0040】位置モニタ測長器34として、本実施例で
はレーザ干渉による測長計を用いた。Xステージ31お
よびYステージ32の位置が実時間でモニタでき、制御
部6に転送されるようになっている。また、Xステージ
31,Yステージ32、そして回転ステージ33のモー
タの回転数等のデータも同様に各々のドライバから制御
部6に転送されるように構成されており、制御部6はこ
れらのデータに基づいて一次電子線19が照射されてい
る領域や位置が正確に把握できるようになっており、必
要に応じて実時間で一次電子線19の照射位置の位置ず
れを補正制御回路43より補正するようになっている。
また、被検査基板毎に、電子線を照射した領域を記憶で
きるようになっている。
【0041】被検査基板高さ測定器35は、電子ビーム
以外の測定方式である光学式測定器、例えばレーザ干渉
測定器や反射光の位置で変化を測定する反射光式測定器
が使用されており、X−Yステージ上31,32に搭載
された被検査基板9の高さを実時間で測定するように構
成されている。本実施例では、スリットを通過した細長
い白色光を透明な窓越しに該被検査基板9に照射し、反
射光の位置を位置検出モニタにて検出し、位置の変動か
ら高さの変化量を算出する方式を用いた。この被検査基
板高さ測定器35の測定データに基づいて、一次電子線
19を細く絞るための対物レンズ16の焦点距離がダイ
ナミックに補正され、常に非検査領域に焦点が合った一
次電子線19を照射できるようになっている。また、被
検査基板9の反りや高さ歪みを電子線照射前に予め測定
しており、そのデータをもとに対物レンズ16の検査領
域毎の補正条件を設定するように構成することも可能で
ある。
【0042】画像処理部5は第一画像記憶部46と第二
画像記憶部47,演算部48,欠陥判定部49,モニタ
50により構成されている。上記二次電子検出器20で
検出された被検査基板9の画像信号は、プリアンプ21
で増幅され、AD変換器22でデジタル化された後に光
変換手段23で光信号に変換され、光伝送手段24によ
って伝送され、電気変換手段25にて再び電気信号に変
換された後に第一画像記憶部46あるいは第二画像記憶
部47に記憶される。演算部48は、この記憶された画
像信号をもう一方の記憶部の画像信号との位置合わせ,
信号レベルの規格化,ノイズ信号を除去するための各種
画像処理を施し、双方の画像信号を比較演算する。欠陥
判定部49は、演算部48にて比較演算された差画像信
号の絶対値を所定のしきい値と比較し、所定のしきい値
よりも差画像信号レベルが大きい場合にその画素を欠陥
候補と判定し、モニタ50にその位置や欠陥数等を表示
する。
【0043】これまで回路パターン検査装置1の全体の
構成について説明してきたが、このうちの二次電子51
の検出手段について、その構成と作用をさらに詳細に説
明する。一次電子線19は、固体に入射すると内部に進
入しながらそれぞれの深さにおいて殻内電子を励起して
エネルギーを失っていく。また、それとともに一次電子
線が後方に散乱された反射電子が、やはり固体内で電子
を励起させながら表面へ向かって進む現象が生ずる。こ
れら複数の過程を経て、殻内電子は固体表面から表面障
壁を超えて二次電子となって数V〜50eVのエネルギ
ーを持って真空中へ出る。一次電子線と固体表面のなす
角度が浅いほど、一次電子線の進入距離とその位置から
固体表面までの距離との比が小さくなり、二次電子が表
面から放出されやすくなる。したがって、二次電子の発
生は一次電子線と固体表面の角度に依存しており、二次
電子発生量が試料表面の凹凸や材料を示す情報となる。
【0044】図2は二次電子51の検出するための電子
光学系3,二次電子検出部7の主要構成図を示す。一次
電子線19は被検査基板9へ照射され、被検査基板9表
面にて二次電子51を発生させる。この二次電子51
は、被検査基板9に印加された負の高電圧により加速さ
れる。二次電子51は、加速されるとともに対物レンズ
16,ExB偏向器18により収束,偏向され反射板1
7に衝突する。この反射板17は、検出器への印加電圧
等が一次電子線に影響を及ぼずのを防止するためのシー
ルドパイプと一体でテーパーをもった円錐状をしてい
る。平均で照射電子数の約5倍の二次電子を放出させる
ような構成として二次電子増倍効果を持たせた。上記の
加速された二次電子51が衝突することにより、反射板
17からは数V〜50eVのエネルギーを持つ第二の二
次電子52が発生する。この第二の二次電子52は、二
次電子検出器20と二次電子検出器20に取り付けた吸
引電極53により生成される吸引電界により二次電子検
出器20前面へ吸引される。
【0045】ExB偏向器18の電磁界は、被検査基板
9に印加する負の高電圧に連動して可変設定することが
できる。以上の構成により、被検査基板9表面で発生し
た二次電子51がExB偏向器18を通過する際に95
%以上が通過できるようにし、反射板17にてこの95
%の二次電子51が約5倍の量に増倍されて第二の二次
電子52が発生することができる。
【0046】二次電子検出器20として、本実施例では
PIN型半導体検出器を用いた。
【0047】PIN型半導体検出器は通常のPN型半導
体検出器よりも応答性が速く、逆バイアス電圧電源によ
り逆バイアス電圧を印加することによりサンプリング周
波数が〜100MHzの高周波の二次電子信号を検出す
ることができる。この二次電子検出器20および検出回
路であるプリアンプ21,AD変換器22,光変換手段
23を正の電圧にフローティングしている。上記反射板
17で生じた第二の二次電子52は、吸引電界により二
次電子検出器20に吸引され、高エネルギー状態で二次
電子検出器20に入射して表面層で一定のエネルギーを
消失した後に電子正孔対を生成し、電流となって電気信
号に変換される。本実施例で用いた二次電子検出器20
は、信号検出感度も非常に高く、表面層でのエネルギー
損失を考慮すると、吸引電界により加速されて入射した
第二の二次電子52は約1000倍に増幅された電気信
号になる。この電気信号はプリアンプ21によりさらに
増幅され、この増幅された信号(アナログ信号)はAD
変換器22によりデジタル信号に変換される。そして、
AD変換器22の出力を各ビット毎に光変換手段23,
光伝送手段24,電気変換手段25をそれぞれ設け、パ
ラレルで伝送した。この構成によれば、個々の伝送手段
はAD変換器22のクロック周波数と同じ伝送速度があ
れば良い。さて、光変換手段23により光デジタル信号
に変換された信号は、光伝送手段24により電気変換手
段25へ伝送され、ここで光デジタル信号から再び電気
信号に変換され、画像処理部5へ送られる。このように
光信号に変換してから伝送するのは、二次電子検出器2
0から光変換手段23までの構成要素が高電圧電源26
により正の高電位にフローティングされているからであ
り、本実施例の構成により、高電位レベルの信号をアー
スレベルの信号に変換できる。また、本実施例では、光
変換手段23として電気信号を光信号に変換する発光素
子を、光伝送手段24として光信号を伝送する光ファイ
バケーブルを、電気変換手段25として光信号を電気信
号に変換する受光素子を用いた。光ファイバケーブルは
高絶縁材料で形成されているため、高電位レベルの信号
をアース電位レベルの信号に容易に変換できる。さら
に、デジタル信号を光伝送しているため、光伝送時にお
ける信号の劣化が全くない。その結果、従来の技術であ
るアナログ信号を光伝送する構成と比べてノイズの影響
の少ない画像を得ることができる。
【0048】なお、上記の実施例では、二次電子検出器
20は逆バイアス電源29により逆バイアス電圧を印加
されていたが、逆バイアス電圧を印加しない構成にして
も良い。また、本実施例では二次電子検出器20にPI
N型半導体検出器を用いたが、他のタイプの半導体検出
器、例えばショットキー型半導体検出器やアバランシェ
型半導体検出器等を用いても良い。また、応答性,感度
等の条件を満たせば、MCP(マイクロチャネルプレー
ト)を検出器として用いることも可能である。
【0049】次に、前記回路パターン検査装置1により
被検査基板9として製造過程のパターン加工が施された
半導体ウエハを検査した場合の作用について説明する。
まず、図1には記載されていないが、被検査基板9の搬
送手段により半導体ウエハは試料交換室へロードされ
る。そこでこの被検査基板9は試料ホルダに搭載され、
保持固定された後に真空排気され、試料交換室がある程
度の真空度に達したら検査のための検査室2に移載され
る。検査室2では、試料台30,X−Yステージ31,
32,回転ステージ33の上に試料ホルダごと載せら
れ、保持固定される。セットされた被検査基板9は、予
め登録された所定の検査条件に基づきX−Yステージ3
1,32のXおよびY方向の移動により光学顕微鏡部4
の下の所定の第一の座標に配置され、モニタ50により
被検査基板9上に形成された回路パターンの光学顕微鏡
画像が観察され、位置回転補正用に予め記憶された同じ
位置の同等の回路パターン画像と比較され、第一の座標
の位置補正値が算出される。次に第一の座標から一定距
離離れ第一の座標と同等の回路パターンが存在する第二
の座標に移動し、同様に光学顕微鏡画像が観察され、位
置回転補正用に記憶された回路パターン画像と比較さ
れ、第二の座標の位置補正値および第一の座標に対する
回転ずれ量が算出される。この算出された回転ずれ量
分、回転ステージ33は回転し、その回転量を補正す
る。なお、本実施例では回転ステージ33の回転により
回転ずれ量を補正しているが、回転ステージ33無し
で、算出された回転ずれの量に基づき電子線の走査偏向
量を補正する方法でも補正できる。この光学顕微鏡画像
観察においては、光学顕微鏡画像のみならず電子線画像
でも観察可能な回路パターンが選定される。また、今後
の位置補正のために、第一の座標,光学顕微鏡画像観察
による第一の回路パターンの位置ずれ量,第二の座標,
光学顕微鏡画像観察による第二の回路パターンの位置ず
れ量が記憶され、制御部6に転送される。
【0050】さらに、光学顕微鏡による画像が用いられ
て、被検査基板9上に形成された回路パターンが観察さ
れ、被検査基板9上の回路パターンのチップの位置やチ
ップ間の距離、あるいはメモリセルのような繰り返しパ
ターンの繰り返しピッチ等が予め測定され、制御部6に
測定値が入力される。また、被検査基板9上における被
検査チップおよびチップ内の被検査領域が光学顕微鏡の
画像から設定され、上記と同様に制御部6に入力され
る。光学顕微鏡の画像は、比較的低い倍率によって観察
が可能であり、また、被検査基板9の表面が例えばシリ
コン酸化膜等により覆われている場合には下地まで透過
して観察可能であるので、チップの配列やチップ内の回
路パターンのレイアイトを簡便に観察することができ、
検査領域の設定を容易にできるためである。
【0051】以上のようにして光学顕微鏡部4による所
定の補正作業や検査領域設定等の準備作業が完了する
と、Xステージ31およびYステージ32の移動によ
り、被検査基板9が電子光学系3の下に移動される。被
検査基板9が電子光学系3の下に配置されると、上記光
学顕微鏡部4により実施された補正作業や検査領域の設
定と同様の作業を電子線画像により実施する。この際の
電子線画像の取得は、次の方法でなされる。上記光学顕
微鏡画像による位置合せにおいて記憶され補正された座
標値に基づき、光学顕微鏡部4で観察されたものと同じ
回路パターンに、一次電子線19が走査信号発生器44
によりXY方向に二次元に走査されて照射される。この
電子線の二次元走査により、被観察部位から発生する二
次電子51が上記の二次電子検出のための各部の構成お
よび作用によって検出されることにより、電子線画像が
取得される。既に光学顕微鏡画像により簡便な検査位置
確認や位置合せ、および位置調整が実施され、且つ回転
補正も予め実施されているため、光学画像に比べ分解能
が高く高倍率で高精度に位置合せや位置補正,回転補正
を実施することができる。なお、一次電子線19を被検
査試料9に照射すると、その箇所が帯電する。検査の際
にその帯電の影響を避けるために、上記位置回転補正あ
るいは検査領域設定等の検査前準備作業において一次電
子線19を照射する回路パターンは予め被検査領域外に
存在する回路パターンを選択するか、あるいは被検査チ
ップ以外のチップにおける同等の回路パターンを制御部
6から自動的に選択できるようにしておく。これによ
り、検査時に上記検査前準備作業により一次電子線19
を照射した影響が検査画像に及ぶことはない。
【0052】次に、検査が実施される。検査時に被検査
基板9に照射する一次電子線19の条件は、以下の方法
にて求めた。まず、一般に電子線画像におけるSN比
は、試料に照射する電子線の単位画素あたりの照射電子
数Sの平方根と相関がある。画像同士を比較検査する場
合には、電子線画像のSN比は正常部と欠陥部の信号量
を検知できる値である必要があり、最低SN比は10以
上が必要であり、好ましくは50以上が必要である。前
述のように、電子線画像のSN比は、試料に照射する電
子線の単位画素あたりの照射電子数Sの平方根と相関が
あるため、SN比10を得るためには単一画素あたり少
なくとも100個以上の電子が必要となり、SN比50
を得るためには少なくとも2500個以上の電子が照射
されなくてはならない。
【0053】また、この回路パターン検査方法を適用す
るねらいは、前述の通り光学式パターン検査方法では検
出が不可能な微小の欠陥を検知することであり、すなわ
ち微小な画素における画像間の差を認識する必要があっ
た。これを達成するために、本実施例では画素サイズを
0.1μm とした。従って、最低限必要とされる単一画
素あたりの電子数と上記画素サイズから、必要とされる
単位面積あたりの電子線照射量は0.16μC/cm
なり、好ましくは4μC/cm となる。この電子照射
量を通常のSEMの電子線電流(数pAから数百pA程
度)により得ようとすると、例えば20pAの電子線電
流によって1cm の領域に0.16μC/cmの電子を
照射するには8000秒を要し、さらに4μC/cm
の電子を照射するには20万秒を要する。しかしなが
ら、回路パターンの検査、例えば半導体ウエハの検査に
おいて要求される検査速度は600s/cm 以下、好
ましくは300s/cm 以下であり、これよりも検査
時間が長くなると半導体製造においては検査の実用性が
きわめて低くなる。したがって、これらの条件を満た
し、実用的な検査時間で必要な電子線を試料に照射する
ためには、電子線電流を最低でも270pA(1.6μ
C/cm,600s/cm )以上、好ましくは13n
A(4μC/cm,300s/cm)以上に設定する必
要がある。そこで、本実施例の回路パターンの検査方法
では、13nA以上の大電流電子線を用いて一回の走査
により電子線画像を形成することにした。
【0054】そして、通常のSEMに比べ約100倍以
上の大電流(270nA以上、好ましくは13nA以
上)の電子線を用いてただ一回の走査によって電子線画
像を形成することは、検査速度の点から必要とされるだ
けでなく、以下に述べる理由により、下地膜あるいは表
面パターンが絶縁材料により形成された回路パターンを
検査するのに必要である。
【0055】絶縁材料を有する回路パターンの電子線画
像を通常のSEMにより取得すると、帯電の影響により
実際の形状とは異なる電子線画像が得られたり、視野倍
率によりコントラストがまったく異なることが多い。こ
れは、微弱な電子線電流(数pAから数百pA)を局所
的に繰り返し走査することにより、あるいは視野倍率を
変える際に焦点や非点補正のために画像形成に必要な電
子線量以上に電子線を局所的に走査することにより、電
子線照射量がある一ヶ所に集中して照射され、その部分
の帯電が不均等になるためである。その結果、絶縁材料
で形成されたパターンの電子線画像の品質は、視野によ
り全く異なってしまうので、このような画像は電子線画
像を比較する検査には適用できない。従って、絶縁材料
を有する回路パターンについても導電性の材料の回路パ
ターンと同様に検査できるようにするために、通常のS
EMに比べ約100倍以上の大電流電子線を用いて一回
の走査により電子線画像を形成することとした。すなわ
ち、本実施例では、単位面積あたり、および単位時間あ
たりの試料への電子線照射量が一定であって、比較検査
を行うのに足る画質を形成するために必要な電子線量に
より、しかも、半導体ウエハ等の検査方法の実用性に適
した走査速度により、電子線を一回走査することで電子
線画像を取得することとした。そして、上記のように通
常のSEMに比べ約100倍以上の大電流電子線を用い
て一回の走査により絶縁材料を有する回路パターンの電
子線画像を取得したところ、一視野内の電子線画像を構
成する各種回路パターンの構成材料や構造に依存して帯
電量や画像のコントラストがそれぞれ異なること、同種
の材料の同等のパターン同士では同様な画像コントラス
トが得られることを確認した。なお、大電流電子線によ
る走査は本実施例では一回のみとしているが、実質的に
前述の作用が実現される範囲て数回の場合もあり得る。
【0056】次に、電子線画像のコントラストに影響す
る照射条件について述べる。電子線画像のコントラスト
は、試料に照射した電子線により発生し検出される二次
電子の量により形成され、例えば材料等の相違により二
次電子の発生量が異なることにより明るさの差となる。
図3(a)と図3(b)は、電子線照射条件のコントラ
ストへの影響を示すグラフであり、図3(a)は照射条
件が適切な場合を示し図3(b)は照射条件が不適切な
場合を示している。また、縦軸は画像の明るさと相関が
大である帯電の程度、横軸には電子線の照射時間であ
る。実線Aは、試料にホトレジストを用いた場合、点線
Bは試料に配線材料を用いた場合である。
【0057】図3(a)より、照射時間が少ない時間領
域Cでは各材料の明るさ変動が少なく、照射時間が比較
的多くなってくる時間領域Dだと照射時間による明るさ
の変化が大きくなり、最終的に照射時間が多い時間領域
Eでは再び照射時間による明るさ変動が少なくなる。ま
た、図3(b)より、照射条件が適切でない場合には、
照射時間が少ない時間領域Cにおいても、照射時間に対
する明るさ変動が大きく、安定した画像を得るのが困難
である。従って、高速に且つ安定した電子線画像を取得
するためには図3(a)の照射条件にて画像を取得する
ことが重要である。
【0058】上記電子線の試料への照射条件としては、
単位面積あたりの電子線の照射量,電子線電流値,電子
線の走査速度,試料に照射する電子線の照射エネルギー
が挙げられる。そのため、これらパラメータは回路パタ
ーンの形状や材料毎にその最適値を求める必要がある。
そのためには、試料に照射する電子線の照射エネルギー
を自由に調整制御する必要がある。そのため、前述のよ
うに本実施例では試料である被検査基板9にリターディ
ング電源36により一次電子を減速するための負の電圧
を印加し、この電圧を調整することにより一次電子線1
9の照射エネルギーを適宜調整できるように構成してい
る。これにより、電子銃10に印加する加速電圧を変化
させる場合には一次電子線19の軸変化が発生し各種調
整が必要になるのに対し、本実施例ではそのような調整
を行わずに同様の効果を得ることができる。
【0059】次に、検査を行うための電子線画像を形成
する一次電子線19の走査方法について述べる。通常の
SEMでは、ステージが静止した状態で電子線を二次元
に走査し、ある領域の画像を形成する。この方法による
と、広領域をくまなく検査する場合には、画像取得領域
毎に、静止して電子線を走査する時間の他に、移動時間
としてステージの加速・減速・位置整定を加算した時間
がかかる。そのため、検査時間全体では長時間を要して
しまう。そのため、本発明では、ステージを一方向に連
続的に定速で移動しながら、電子線をステージ移動方向
と直交または交叉する向きに高速に一方向に走査するこ
とにより、被検査領域の画像を取得する検査方法を用い
た。これにより、所定距離の一走査幅分の電子線取得時
間は、所定距離をステージが移動する時間のみとなる。
【0060】図4(a)には、上記方法によりYステー
ジ32がY方向に連続して定速移動している際に一次電
子線19が走査する方法の一例を示している。一次電子
線19を走査信号発生器44により走査する際に、実線
で示した一方向のみ電子線を試料である被検査基板9に
照射し、破線で示した電子線の振り戻しの間は被検査基
板9に一次電子線19が照射されないようにブランキン
グすることにより、被検査基板9上に空間的,時間的に
均一に電子線を照射することができる。ブランキング
は、ブランキング偏向器13により一次電子線19を偏
向して、絞り14を通過しないようにすることにより実
施される。
【0061】図4(b)には、別の走査方法の一例とし
て、一次電子線19が等速度で往復走査する方法を示し
ている。一次電子線19が一端から他端まで等速度で走
査されると、X−Yステージ31,32が一ピッチ送ら
れ、電子線が反対の向きに元の端まで等速度で走査され
る。この方法の場合には、電子線の振り戻し時間を省略
することができる。
【0062】なお、電子線が照射されている領域または
位置は、X−Yステージ31,32に設置された位置モ
ニタ測長器34の測定データが時々刻々と制御部6に転
送されることにより、詳細に把握される。本実施例では
レーザ干渉計を採用している。同様に、一次電子線19
が照射されている領域あるいは位置の高さの変動は、被
検査基板高さ測定器35の測定データが時々刻々と制御
部6に転送されることにより詳細に把握される。これら
のデータに基づき、電子線の照射位置や焦点位置のずれ
を演算し、補正制御回路43によりこれらの位置ずれを
自動的に補正する。従って、高精度で精密な電子線の操
作方法が確保される。
【0063】以上の一次電子線19の走査方法により、
試料である被検査基板9の全面あるいは予め設定した検
査領域に電子線が照射され、前述した原理により二次電
子51が発生し、前述した方法により二次電子51,5
2が検出される。前述の各部の構成およびその作用によ
り、良質の画像を得ることができる。例えば、前述の構
成および方法で反射板17に照射することにより約20
倍の二次電子増倍効果を得ることができるとともに、従
来の方法よりも一次電子線への収差の影響を抑制するこ
とができる。また、同様の構成でExB偏向器にかける
電磁界を調節することにより、被検査基板9表面から発
生した反射電子を二次電子と同様に反射板17に照射し
て得られた第二の二次電子52を検出することも容易に
行える。また、ExB偏向器18の電界および磁界を、
試料に印加する負の高電圧に連動して調整制御すること
で、試料毎に異なる照射条件においても二次電子を効率
良く検出できる。また、二次電子検出器20を用いて二
次電子を検出し、検出された画像信号を検出直後にデジ
タル化してから光伝送する方法により、各種変換・伝送
において発生するノイズの影響を小さくし、SN比の高
い画像信号データを得ることができる。検出した信号か
ら電子線画像を形成する過程においては、画像処理部5
が制御部6から指定された電子線照射位置の所望の画素
に、対応した時間毎の検出信号を、その信号レベルに応
じた明るさ階調値として第一の記憶部46または第二画
像記憶部47に逐次記憶させる。電子線照射位置と、検
出時間で対応づけられた二次電子量が対応されることに
より、試料回路パターンの電子線画像が二次元的に形成
される。このようにして、高精度でSN比の高い良質な
電子線画像を取得できるようになった。
【0064】画像処理部5へ画像信号が転送されると、
第一の領域の電子線画像が第一記憶部46に記憶され
る。演算部48は、この記憶された画像信号をもう一方
の記憶部の画像信号との位置合せ,信号レベルの規格
化,ノイズ信号を除去するための各種画像処理を施す。
続いて、第二の領域の電子線画像が第二画像記憶部47
に記憶され、同様の演算処理を施されながら、第二の領
域の電子線画像と第一の電子線画像の同一の回路パター
ンおよび場所の画像信号を比較演算する。欠陥判定部4
9は、演算部48にて比較演算された差画像信号の絶対
値を所定のしきい値と比較し、所定のしきい値よりも差
画像信号レベルが大きい場合にその画素を欠陥候補と判
定し、モニタ50にその位置や欠陥数等を表示する。次
いで、第三に領域の電子線画像が第一記憶部46に記憶
され、同様の演算を施されながら先に第二画像記憶部4
7に記憶された第二の領域の電子線画像と比較演算さ
れ、欠陥判定される。以降、この動作が繰り返されるこ
とにより、すべての検査領域について画像処理が実行さ
れていく。
【0065】前述の検査方法により、高精度で良質な電
子線画像を取得し比較検査することにより、微細な回路
パターン上に発生した微小な欠陥を、実用性に則した検
査時間で検出することができる。また、電子線を用いて
画像を取得することにより、光学式パターン検査方法で
は光が透過してしまい検査できなかったシリコン酸化膜
やレジスト膜で形成されたパターンやこれらの材料の異
物・欠陥が検査できるようになる。さらに、回路パター
ンを形成している材料が絶縁物の場合にも安定して検査
を実施することができる。
【0066】次に、この回路パターン検査装置1および
方法を用いて半導体ウエハを検査した適用例について述
べる。図5は半導体装置の製造プロセスを示している。
図5に示すように、半導体装置は多数のパターン形成工
程を繰り返している。パターン形成工程は、大まかに、
成膜・感光レジスト塗布・感光・現像・エッチング・レ
ジスト除去・洗浄の各ステップにより構成されている。
この各ステップにおいて加工のための製造条件が最適化
されていないと基板上に形成する半導体装置の回路パタ
ーンが正常に形成されない。図6(a)および図6
(b)に製造過程における半導体ウエハ上に形成された
回路パターンの概略を示す。図6(a)は正常に加工さ
れた回路パターン、図6(b)は加工不良が発生したパ
ターンを示す。例えば図5の成膜過程で異常が発生する
とパーティクルが発生し、半導体ウエハ表面に付着し、
図6(b)中の孤立欠陥等になる。また、感光時に感光
のための露光装置の焦点や露光時間等の条件が最適でな
いと、レジストの照射する光の量や強さが多すぎる箇所
や足りない箇所が発生し、図6(b)中のショートや断
線,パターン細りとなる。感光時のマスク・レチクルに
欠陥があると、感光単位であるショット毎に同一箇所に
同様のパターン形状異常が発生する。またエッチング量
が最適化されていない場合およびエッチング途中に生成
された薄膜やパーティクルにより、ショートや突起,孤
立欠陥,開口不良等が発生する。洗浄時には、洗浄層の
汚れや剥離した膜や異物の再付着により微小なパーティ
クルが発生し、乾燥時の水切れ条件により表面に酸化膜
の厚さむらを発生し易い。
【0067】従って、実施例1の回路パターン検査方法
および装置1を半導体装置の製造プロセスに適用するこ
とにより、異常の発生を高精度且つ早期に検知すること
ができ、当該工程に異常対策処置を講ずることができ、
これらの不良が発生しないよう加工条件を最適化するこ
とができるようになる。例えば、現像工程後に回路パタ
ーン検査工程が実施されて、ホトレジストパターンの欠
陥や断線が検出された場合には、感光工程の露光装置の
露光条件や焦点条件が最適でないという事態が推定さ
れ、焦点条件あるいは露光量の調整等によってこれらの
条件が即座に改善される。また、これらの欠陥が各ショ
ット間で共通して発生しているか否かを欠陥分布から調
べることにより、パターン形成に用いられているホトマ
スク・レチクルの欠陥が推定され、ホトマスク・レチク
ルの検査や交換がいち早く実施される。その他の工程に
ついても同様であり、本発明の回路パターンの検査方法
および装置を適用し、検査工程を実施することにより、
各種欠陥が検出され、検出された欠陥の内容によって各
製造工程の異常の原因が推定される。
【0068】このように半導体装置の製造過程において
回路パターン検査方法および装置1をインラインで実施
することにより、各種製造条件の変動や異常発生を検査
実時間内に検知することができるため、多量の不良発生
を未然に防ぐことができる。また、回路パターンの検査
方法および装置を適用し、検出された欠陥の程度や発生
頻度等から当該半導体装置全体の良品取得率を予測する
ことができ、半導体装置の生産性を高めることができる
ようになる。
【0069】図7は、セル情報画面図である。図は、セ
ル情報定義画面である。アクション/処理内容は次の通
りである。
【0070】 NO アクション/処理 処 理 内 容 1 画面の構築 (1) 画面を生成する (2) 手動のステージ移動操作の許可 (3) 光顕画像切替え(初期) (4) 画像切替えボタンdisable表示 (5) ウエハマップ表示(初期表示) 2 〈1〉ウエハマッ セル領域定義の対象とするチップをマップ上から選択 プ する(ダブルクリック又はチップを選択してチップ内 マップボタンで切替える) 3 〈1〉チップ内マ (1) 定義した領域を表示する ップ (2) 確定した場合は色を変えて表示する (3) カレントの画像位置をマークする 4 〈2〉作成ツール ・光顕画像からマウスでセル領域をトレースして領域 の情報を作成して行く ・クリックされた座標を算出する ・入力された点は、画像,マップ共にマーキングする ・入力完了後、マップと画像部は図形を表示 (1) 矩形 ・領域のサイズを示す、対角の2点を入力 ガイダンス“左上点を入力”,“右下点を入力” (2) 矩形ライン ・領域を一列に複数個定義するコマンド ガイダンス“最初の領域左上点入力” “最初の領域右下点入力” “次の領域左上点入力” “最後の領域左上点入力” (3) 矩形エリア ・領域を行列で定義 ガイダンス“最初の領域左上点入力” “最初の領域右下点入力” “次行の領域左上点入力” “最終行の領域左上点入力” “次列の領域左上点入力” “最終列の領域左上点入力” (4) 領域確定 作成ツールで作成した図形を確定するボタン 5 〈3〉トレース 定義された領域を確定して行くコマンド (1) SEM高倍に画像切替え 手動のステージ移動ロック (2) 画像上にトレースポイントをガイダンスとして表 示する (3) 項番4で入力されたデータの各座標点に、最終ト レースの為、自動的に移動する 座標が入力されると次の座標に移動する (4) 確定された領域図形の色を変え(マップ)、画像 上では矩形を描く (5) 項番4で入力され、未確定分のコマンド単位で、 上記(2) 〜(4) を繰り返す (6) 確定完了すれば、元の光顕画像に切替え、手動の ステージ移動ロックを外す 6 〈6〉操作取消 座標入力中は座標を1点戻し、コマンド完了後は前回 の操作をキャンセルする(コマンド単位は一回分のみ) 。 7 選択操作 セル領域マップで矩形(作成ツールコマンドで作成さ れたグループ単位)を選択する。 選択されたオブジェクトを強調表示。 8 〈7〉削除 上記で選択されたデータを消す。 9 〈3〉セルピッチ (1) 画像をSEM高倍に切替える(最後に入力した位 入力 置) (2) セルピッチ入力Dialogが開く (3) セルの位置を画像から入力 ガイダンス“最初のセル右上点入力” ガイダンス“最後のセル右上点入力” (4) 〈10〉セルの個数を入力 (5) 〈11〉計算ボタンが押されたらセルの2点座標と 個数からピッチを求める (6) 〈9〉のOKボタンが押されたらピッチをレシピ に取込み、〈12〉キャンセルであればデータを破 棄。ダイアログを消去する 10 〈4〉設定 (1) この画面で設定したデータSAVE (2) 手動のステージ移動,焦点,光量操作のロック (3) 画像表示の中止 (4) 検査領域画面へ 11 〈8〉キャンセル (1) 設定した情報を破棄 (2) 画面を最初の状態にする
【0071】セル領域設定(定義」)について更に詳述
する。
【0072】前述のようにアライメント設定画面が「設
定」ボタンにより設定されるとセル情報定義画面に基づ
いてセル情報の設定を行う。
【0073】図8は、セル情報の設定に使用するマップ
内マップ画面を表わす。セル情報の画面では、チップ内
に配列されているセル領域を、画像で指定しながら設定
していく。さらに、セル領域内のセルピッチを入力す
る。
【0074】基本操作について説明する。
【0075】(i)図において、ウエハマップ上に表示
されている画面から、セル領域を設定するチップをクリ
ックで選択する。次に「チップ」ボタン(2)をクリッ
クして、選択したチップ内のマップの画面に切替える。
または、設定対象のチップをダブルクリックし、画面を
チップ内にマップの表示に切替える。
【0076】(ii)チップ内マップには、設定されたセ
ル領域(1)が、スーパーインポーズ画面に対応する位
置に表示されていく。ウエハを移動するには、ジョイス
ティックを使用するか、移動モード(3)に切替えて、
チップ内マップをクリックすることで、該当位置に移動
することができる。
【0077】(iii)セル情報画面で設定した内容を確認
する場合、「設定」ボタン(7)をクリックする。それ
によって画面が検査領域に切替わる。
【0078】(iv)セル情報画面で設定した内容をすべ
て取り消す場合、「キャンセル」ボタン(10)をクリ
ックする。そうするとセル情報画面の初期状態に戻る。
【0079】図9に示すフローチャートは、作成ツール
(図22において(2))を使用してセル領域の情報作
成方法を示す。
【0080】図において、「光顕」画像201で、使用
するツールボタン「矩形」202,「矩形エリア」20
3,「矩形ライン」204のいずれかをクリックして領
域を設定する点を入力204する。作成ツールの「領域
確定」ボタンをクリックして、入力204した点の領域
(図形)を確定205する。
【0081】作成ツールの「トレース」ボタン(5)を
クリックし、確定204した領域の点を「SEM高倍」
画像207で再入力し、トレース206を行う。これに
よって各点の入力208を行う。「領域確定」ボタンを
クリックしてスレースで入力した点の領域(図形)を確
定209する。
【0082】次のセル領域の作成について判断し21
0、作成する場合(YES)は、再度各点の入力204
から行う。領域作成の次の処理に進む場合(NO)は、
セルピッチ入力211を行う。
【0083】図10は、工程ファイルを増加させる方法
を示す。
【0084】図において、新たな検査要求が新規品種2
21であるかを判定し、新規品種である場合(YES)
には品種パラメータを表示222し、新規工程223の
ファイルを作成する。新規品種でない場合(NO)には
新規工程224であるかを判定し、新規工程である場合
(YES)には設定済のパラメータを表示225し、パ
ラメータ変更すなわち修正226を行う。これにより新
規工程ファイル227を作成する。新規工程でない場合
(NO)には設定パラメータを表示228する。
【0085】このようにして設定されたパラメータに基
づき、実際の検査領域の設定229を行う。
【0086】225で設定済パラメータを表示し、これ
を226で修正を加えることによって、すなわち改めて
工程を作成しなくても単なる修正によって新たな工程フ
ァイルを作成することができる。
【0087】図11は、検査領域の表示ならびに設定に
ついて説明するフローチャートである。
【0088】図において、新たな検査要求が新規品種2
31であるかを判定し、新規品種である場合(YES)
にはデフォルトの領域を表示232する。新規品種でな
い場合(NO)には新規工程234であるかを判定し、
新規工程である場合(YES)には既存の工程と同じ検査
領域を表示235する。新規工程でない場合(NO)に
は設定した検査領域を表示236する。表示された領域
を修正237する。ついで、実際の検査領域を設定23
8する。
【0089】設定されるセル領域から任意に検査領域を
設定することができる。このことによって両画面は独立
したものとなって柔軟な対応を可能とする。
【0090】作成ツールの使用方法について説明する。
【0091】図7および図8において、作成ツール
(2)は、「光顕」画像からマウスでセル領域をトレー
スして領域の情報を作成するものである。作成ツールで
は、画像上でクリックされた座標と、ウエハの現在位置
から実際の座標を算出する。また作成ツールの「矩形」
「矩形ライン」「矩形エリア」のボタンは、スーパーイ
ンポーズ画面から点を入力してセル領域を設定する。以
下にこれらのボタン操作によるセル領域の設定について
説明する。
【0092】(a)矩形 図12において、セル領域を示す矩形の対角の2点を入
力する。左上点P1を入力し、右下点P2を入力するこ
とによってセル領域を確定することができる。
【0093】(b)矩形ライン 図13において、矩形ラインは領域を1列に複数固定で
設定・入力される。最初の領域左上点P1を入力し、最
初の領域右下点P2を入力し、かつ次の領域左上点P3
を入力し、最後の領域左上点P4を入力することによっ
て矩形ライン領域を確定することができる。
【0094】(c)矩形エリア 図14において、矩形エリアは領域を行う列とで設定・
入力される。最初の領域左上点P1を入力し、最初の領
域右下点P2を入力し;次行の領域左上点P3を入力
し、最終行の領域左上点P4を入力し;かつ次列の領域
左上点P5を入力し、最終列の領域左上点P6を入力す
ることによって矩形エリア領域を確定することができ
る。
【0095】(d)領域確定 「領域確定」ボタンをクリックして、作成した図形を確
定する。確定前であれば「操作取消」ボタン(6)を1
回クリックする毎に、入力した座標を元に戻すことがで
きる。
【0096】(e)トレース トレースは、「光顕」画像で入力したセル領域データを
「SEM高倍」で再入力することで精度を上げたデータ
を作成する機能である。「トレース」ボタン(5)をク
リックすると自動的にSEM画像に切替わり、前に「光
顕」画像で入力し、領域確定したデータの最初の入力座
標点に移動する。ガイダンスに従って、再度座標を入力
する。すべての座標点の再入力が完了したら、「領域確
定」ボタンをクリックする。「領域確定」ボタンを押す
前であれば「操作取消」ボタン(6)をクリックするこ
とにより、クリックした回数分トレース座標で前に戻る
ことができる。
【0097】(f)操作取消し 「領域確定」ボタンで図形の確定を行う前であれば、
「操作取消」ボタン(6)をクリックすることにより、
クリックした回数分だけ入力した座標を前に戻ることが
できる。
【0098】(g)削除 チップ内マップ表示状態で、オブジェクト選択に切替え
るものである。マップ内の図形をマウスで選択し(図形
の枠が赤に変化する。)、「削除」ボタン(9)をクリ
ックすることにより、図形を削除することができる。
【0099】(h)オプション 将来の拡張用ボタンである。
【0100】(i)セルピッチ入力 セルピッチの入力をする前に、「光顕」画像でセルピッ
チを入力するための位置に移動する。ついで、「セルピ
ッチ入力」ボタン(3)をクリックする。「光顕」画像
であれば自動的に「SEM高倍」画像に切替わる。セル
の位置を画像から入力する。
【0101】(j)設定 セル情報画面で設定した内容を確定する場合、「設定」
ボタン(4)をクリックする画面が検査領域に切替わ
る。
【0102】(k)キャンセル セル情報画面で設定した内容をすべて取り消す場合、
「キャンセル」ボタン(8)をクリックする。セル情報
画面の初期状態に戻る。
【0103】(l)その他のセル領域の設定手段 複写,削除,移動,トレース機能や使用した後戻りによ
る設定ができる機能を設けることができる。セル領域の
グループ化を図り(グループ化機能)、グループ化され
たセル領域の複写,削除,移動設定ができる機能を設け
ることができる。行あるいは列あるいはこれらの組み合
せのセル領域をミラー反転により対象的に設定する機能
を設けることができる。よってセル領域の具体的設定手
段は次のようになる。
【0104】(ア)矩形,矩形ライン,矩形エリア,ミ
ラー反転設定 (イ)複写,削除,移動,トレース機能を使用した後戻
りによる設定 (ウ)セル領域のグループ化機能による複写,削除,移
動設定 (ア)(イ)(ウ)に表示する個々の1つまたは2つ以
上の設定項目を選択し、それらについてセル領域を作成
することは任意である。また、(ア)(イ)(ウ)のい
ずれかを選択することもできる。
【0105】このようなセル領域の設定は「SEM」画
像によるばかりでなく「光顕」画像あるいはレーザ光画
像についても適用できることは勿論である。
【0106】図15は、最終試し検査(1)画面図であ
る。この図は、試し検査用チップ設定画面である。
【0107】作成したレシピを基に、実際の検査と同じ
処理を行ってレシピデータを確認するものである。
【0108】(1)検査チップ設定 必要であれば、検査対象とするチップを再設定する。こ
こで設定した検査チップレシピは試し検査専用に一時的
に作成されるもので、正式な検査対象チップとは成らな
い。 (2)最終試し検査 検査開始ボタンを押す事で、実行が開始される。検査と
欠陥確認が完了すると、この画面に戻って来る。
【0109】アクション/処理および処理内容は次の通
りである。
【0110】 NO アクション/処理 処 理 内 容 1 画面の構築 (1) 画面を生成し、レシピによる描画を行う (2) 光顕画像切替え (3) 画像表示開始 2 〈1〉ウエハマッ マウスの左ボタンか矩形ドラックにより検査の対象を プ操作 ON/OFFする。 (検査領域と同じ) 同時に検査チップ数,検査面積を計算して表示。 更に検査予想時間を概略計算して表示する。 3 〈3〉サンプリン 検査を間引く比率。入力されると、検査面積及び検査 グ率 予想時間を再計算して表示する。 (100%,50%,25%,12.5%,6.25% ,3.175%) 4 〈2〉設定 (1) 設定した情報をSAVEする。 5 〈4〉キャンセル 設定されたデータを破棄し、最初の状態にする。 6 〈5〉検査開始 (1) 試し検査開始
【0111】図16は欠陥確認画面図である。
【0112】ウエハマップ上でマウスにより該当する欠
陥位置を指定するか、欠陥IDフィールドからIDを指
定すると、左下に該当する欠陥の情報が表示される。こ
の状態で右側のスーパインポーズ画面に欠陥の画像が表
示される。
【0113】ウエハマップと欠陥IDフィールドは連動
しており、マップ上で指定されれば、欠陥IDフィール
ドの該当するIDが表示され、欠陥IDフィールドを入
力すればマップ上の該当する位置がマーキングされる。
【0114】該当する欠陥の分類がわかればこのフィー
ルドに入力する。
【0115】図17は、ウエハマップについての拡大機
能および表示欠陥のナビゲード機能を示す。図におい
て、「拡大/縮少」ボタン(1)をクリックすることに
よってチップおよびチップ内を任意に拡大することがで
きる。これによってマップに表示される欠陥位置を重な
りなく表示することができる。
【0116】「ナビ」ボタン(2)をクリックすること
によってナビゲート線(3)の先端を欠陥位置に位置さ
せることができる。色変化による欠陥位置表示に加える
ことによって、現在表示している欠陥位置を更に強調す
ることができる。また、右側の画面に表示されるSEM
画像の表示を待つことなくウエハマップ上における欠陥
情報を次々に見ることができ、迅速な欠陥情報が得られ
る。
【0117】また、ウエハマップ表示画面およびSEM
画像表示画面上にスケール(4),(5)を表示するこ
とができる。これによってマップ拡大に伴った場合のス
ケール表示ならびにSEM画像についてのスケール表示
が可能になって、欠陥の大きさがよく確実に把握するこ
とができる。
【0118】チップ数はチップ表示(6)によって見る
ことができる。
【0119】ウエハ外観検査装置の検査方法について 画像比較について 本装置では、隣接する同一パターンや隣接するチップの
同一箇所を画像比較することで欠陥を検出する。この理
由は、半導体はほとんど繰り返しパターンの組み合わせ
で形成されているためこの方法が最も効率が良いからで
ある。例えばメモリではセルと呼ばれる数μmピッチの
繰り返しパターンが無数に存在するメモリセルと呼ばれ
る部分が大きな割合を占める。したがって繰り返し画面
を比較することで欠陥が容易に発見できる。このメモリ
セルの周囲に存在する周辺回路も同一パターンの繰り返
しであり同様に繰り返し画面を比較すればよい。さらに
ウエハ上には多数の同一チップが形成されており隣接す
るチップの同一箇所を比較することも可能である。
【0120】
【発明の効果】本発明によれば、チップ検査,ウエハ抜
き取り頻度検査を画面を見ながら迅速に行うことがで
き、製品全体に及ぶ欠陥あるいは特定領域における欠陥
を迅速に検知することができ、プロセス条件の変動を確
実に検知し、プロセスにフィードバックすると同時に差
工数や払い出し予算の調整にフィードバックすることが
できる。
【0121】また、本発明によれば、微細パターン形成 工程/レジスト現像後、微細パターン 形成工程/エッチング後、穴パターン 形成工程,洗浄後の検査欠陥を画面表示によって迅速に
検知することができる。
【0122】本検査を基板製品プロセスへ適用すること
により、上記従来技術では検出し得なかった欠陥、すな
わち製品装置や条件等の異常を画面形成表示手段によっ
て形成された画面を参照することによって早期に且つ高
精度に発見することができるため、基板製造プロセスに
いち早く異常対策処理を溝ずることができ、その結果半
導体装置その他の基板の不良率を低減し生産性を高める
ことができる。また、上記検査を適用することにより、
異常発生をいち早く検知することができるので、多量の
不良発生を未然に防止することができ、さらにその結
果、不良の発生そのものを低減させることができるの
で、半導体装置等の信頼性を高めることができ、新製品
等の開発効率が向上し、且つ製造コストが削減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】回路パターン検査装置の装置構成を示す図。
【図2】電子光学系と二次電子検出部の主要部構成を示
す図。
【図3】電子線照射条件のコントラストへの影響を説明
する図。
【図4】電子線の走査方法を説明する図。
【図5】半導体装置製造プロセスフローを説明する図。
【図6】半導体装置回路パターンと欠陥内容を説明する
図。
【図7】レシピ作成GUIコマンドレベル機能仕様画面
図。
【図8】レシピ作成GUIコマンドレベル機能仕様画面
図。
【図9】フローチャート図。
【図10】フローチャート図。
【図11】フローチャート図。
【図12】セル領域設定説明図。
【図13】セル領域設定説明図。
【図14】セル領域設定説明図。
【図15】レシピ作成GUIコマンドレベル機能仕様画
面図。
【図16】欠陥確認モニタGUIの機能仕様画面図。
【図17】欠陥確認モニタGUIの機能仕様画面図。
【符号の説明】
1…回路パターン検査装置、2…検査室、3…電子光学
系、4…光学顕微鏡部、5…画像処理部、6…制御部、
7…二次電子検出部、8…試料室、9…被検査基板、1
0…電子銃、11…引き出し電極、12…コンデンサレ
ンズ、13…ブランキング偏向器、14…絞り、15…
走査偏向器、16…対物レンズ、17…反射板、18…
ExB偏向器、19…一次電子線、20…二次電子検出
器、21…プリアンプ、22…AD変換機、23…光変
換手段、24…光伝送手段、25…電気変換手段、26
…高圧電源、27…プリアンプ駆動電源、28…AD変
換器駆動電源、29…逆バイアス電源、30…試料台、
31…Xステージ、32…Yステージ、33…回転ステ
ージ、34…位置モニタ測長器、35…被検査基板高さ
測定器、36…リターディング電源、40…白色光源、
41…光学レンズ、42…CCDカメラ、43…補正制
御回路、44…走査信号発生器、45…対物レンズ電
源、46…第一記憶部、47…第二画像記憶部、48…
演算部、49…欠陥判定部、50…モニタ、71…イン
プット、72…工程1、73…完成(電気テスト)、7
4…検査、80…全体システム、81…測定装置群、8
2…データ収集解析システム、83…バス、84…QC
データ収集システム、85…テスタ、86…サーバ、8
7…事務所内パソコン、91…レビューSEM、92…
レビューステーション、93…異物検査装置、94…外
観検査装置、95…側長SEM、96…合せ精度測定装
置、97…膜厚測定装置。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年12月28日(1999.12.
28)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 回路パターンの検査装置および検査方
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置や液晶等
微細な回路パターンを有する基板製造方法及び装置に係
わり、特に半導体装置やフォトマスクのパターン検査技
術に係わり、半導体装置製造過程途中のウエハ上のパタ
ーン検査技術,電子線を使用して比較検査する技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハの検査を一例として説明す
る。
【0003】半導体装置は、半導体ウエハ上にホトマス
クに形成されたパターンをリソグラフィー処理およびエ
ッチング処理により転写する工程を繰り返すことにより
製造される。半導体装置の製造過程において、リソグラ
フィー処理やエッチング処理その他の良否,異物発生等
は、半導体装置の歩留まりに大きく影響を及ぼすため、
異常や不良発生を早期にあるいは事前に検知するために
製造過程の半導体ウエハ上のパターンを検査する方法は
従来から実施されている。
【0004】半導体ウエハ上のパターンに存在する欠陥
を検査する方法としては、半導体ウエハに白色光を照射
し、光学画像を用いて複数のLSIの同種の回路パター
ンを比較する欠陥検査装置が実用化されており、検査方
式の概要は「月間セミコンダクタワールド」1995年
8月号pp96−99に述べられている。また、光学画
像を用いた検査方法では、特開平3−167456号公報に記
載されているように、基板上の光学照明された領域を時
間遅延積分センサで結像し、その画像と予め入力されて
いる設計特性を比較することにより欠陥を検出する方式
や、特公平6−58220 号公報に記載されているように、
画像取得時の画像劣化をモニタしそれを画像検出時に補
正することにより安定した光学画像での比較検査を行う
方法が開示されている。このような光学式の検査方式で
製造過程における半導体ウエハを検査した場合、光が透
過してしまうシリコン酸化膜や感光性フォトレジスト材
料を表面に有するパターンの残渣や欠陥は検出できなか
った。また、光学系の分解能以下となるエッチング残り
や微小導通穴の非開口不良は検出できなかった。さら
に、配線パターンの段差底部に発生した欠陥は検出でき
なかった。
【0005】上記のように、回路パターンの微細化や回
路パターン形状の複雑化,材料の多様化に伴い、光学画
像による欠陥検出が困難になってきたため、光学画像よ
りも分解能の高い電子線画像を用いて回路パターンを比
較検査する方法が提案されてきている。電子線画像によ
り回路パターンを比較検査する場合に、実用的な検査時
間を得るためには走査電子顕微鏡(Scanning Electron M
icroscopy、以下SEMと略す)による観察と比べて非常に
高速に画像を取得する必要がある。そして、高速で取得
した画像の分解能と画像のSN比を確保する必要があ
る。
【0006】電子線を用いたパターンの比較検査装置と
して、J. Vac. Sci. Tech. B, Vol.9,No.6, pp.3005
−3009(1991)、J. Vac. Sci. Tech. B, Vol.10,No.6,
pp.28042808(1992)、および特開平5−258703 号公報
とUSP5,502,306に、通常のSEMの100倍以上(10
nA以上)の電子線電流をもった電子線を導電性基板
(X線マスク等)に照射し、発生する二次電子・反射電
子・透過電子のいずれかを検出し、その信号から形成さ
れた画像を比較検査することにより欠陥を自動検出する
方法が開示されている。
【0007】また、絶縁物を有する回路基板を電子線で
検査あるいは観察する方法としては、特開昭59−155941
号公報および「電子,イオンビームハンドブック」(日
刊工業新聞社)pp622−623に、帯電の影響を少な
くするために、2keV以下の低加速電子線照射により
安定な画像を取得する方法が開示されている。さらに、
特開平2−15546号公報には半導体基板の裏からイオンを
照射する方法、特開平6−338280号公報には光を半導体
基板の表面に照射することにより、絶縁物への帯電を打
ち消す方法が開示されている。
【0008】また、大電流でなおかつ低加速の電子線で
は、空間電荷効果により高分解能な画像を得ることが困
難となるが、これを解決する方法として、特開平5−258
703号公報に、試料直前で高加速電子線を減速し、試料
上で実質的に低加速電子線として照射する方法が開示さ
れている。
【0009】高速に電子線画像を取得する方法として
は、試料台を連続的に移動しながら試料台上の半導体ウ
エハに電子線を連続照射し取得する方法が特開昭59−16
0948号および特開平5−258703号公報に開示されてい
る。また、従来のSEMで用いられてきた二次電子の検
出装置として、シンチレータ(Al蒸着された蛍光体)
とライトガイドと光電子増倍管による構成が用いられて
いるが、このタイプの検出装置は、蛍光体による発光を
検出するため、周波数応答性が悪く、高速に電子線画像
を形成するには不適切である。この問題を解決するため
に、高周波の二次電子信号を検出する検出装置として、
半導体検出器を用いた検出手段が特開平5−258703号公
報に開示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来の装置にあって
は、ウエハ外観検査装置の画面機能が充分に生かされて
いなかった。そのためウエハ外観検査が必ずしも容易に
行われるものとは限らず、使い勝手が悪かった。
【0011】本発明はかかる点に鑑みてなさたれたもの
で、ウエハ外観検査装置の画面機能を改良し、使い勝手
のよい回路パターンの検査装置および検査方法を提供す
ることを目的とする。特に、セル領域の設定を使い勝手
がよく、かつ迅速に行うことのできる回路パターンの検
査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【0012】SEMを使用したパターン付きウエハ検査
装置には、次のような問題点がある。検査対象であるパ
ターンを構成する材料が導電性を有する材料である必要
があるため、ウエハ上にレジストやシリコン酸化膜等の
絶縁性を有する材料によって形成されたパターン、およ
び絶縁性を有する材料によって形成された部分と導電性
を有する材料によって形成された部分とが混在するパタ
ーンについては、SEMによる電子線画像形成には極め
て長い時間を要するため、ICの製造方法において実用
することができない。すなわち、SEMを使用したパタ
ーン付きウエハ検査装置によってウエハ全面のパターン
を検査すると、極めて膨大な時間が消費され、その間製
造が停滞するため、SEMを使用したパターン付きウエ
ハ検査方法は実用に供することができない。検査中に製
造を進行させると、ICの製造プロセスにおいてランダ
ムに発生した不良を未然に検出することができないた
め、不良発生率を低減することができず、結局、生産性
の向上に寄与することができない。つまり、ICの製造
方法におけるプロセス条件変動や、装置誤動作等による
不良発生を早期に的確に検出することにより、プロセス
条件や装置条件,管理方法等へ対策をフィードバック
し、以って不良発生率を低減させることができない。
【0013】本発明は、光学的に検出困難な微細構造
で、しかも絶縁性を有する材料によって形成されたパタ
ーンおよび絶縁性を有する材料と導電性を有する材料と
によって形成されたパターンについてもSEMによって
検査することができる検査技術を提供することにある。
【0014】本発明は、この検査技術を用いて実用に供
すことのできる検査装置を提供し、パターン付きウエハ
を検査し、その結果を製造条件に反映することができる
半導体集積回路装置の製造方法および装置を提供するこ
とにある。
【0015】従来の装置にあっては、ウエハ外観検査装
置の画面機能が充分に生かされていなかったため、実用
的にウエハ外観検査が必ずしも容易に行われるものとは
限らず、使い勝手が悪かった。
【0016】本発明は、かかる点にも鑑みてなされたも
のであって、ウエハ外観検査装置の断面機能を改良し、
実用的に使い勝手のよい回路パターンの検査装置および
検査方法を提供するものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】レジストパターン,CO
NT系開口パターン,エッチング後Fineパターン
(拡散系),エッチング後Fineパターン(配線系)など
の項目について欠陥画像を記憶し、これらの画像を同一
の画面に対応して形成表示するようにした。
【0018】尚、本発明においてセル領域とは、検査対
象となる領域の一つの単位(ユニット)を意味し、ウエ
ハ上のチップの一つ一つを意味する場合から、チップ内
の特定プロセス領域を意味する場合までユーザの検査要
求により変化する。本発明においては、ユーザの検査要
求領域の個々を総称してセル領域と呼んで使用する。
【0019】本発明は具体的には次に掲げる装置および
方法を提供する。
【0020】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、セル領域の設定手段を有し、セル領域の
設定のための作成ツールを、ウエハマップを表示する画
面と共に表示する表示装置を有する回路パターンの検査
装置を提供する。
【0021】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、セル領域の設定手段を有し、セル領域の
設定のための作成ツールを、ウエハマップを表示する画
面と共に表示する表示装置を有し、かつ該作成ツール
は、(ア)矩形,矩形ライン,矩形エリア,ミラー反転
設定(イ)複写,削除,移動,トレース機能を使用した
後戻りによる設定(ウ)セル領域のグループ化機能によ
る複写,削除,移動設定(エ)非検査セル領域の設定か
ら構成される個々の組合せの1つまたは2つ以上を含む
セル領域作成手段を有する回路パターンの検査装置を提
供する。
【0022】本発明は更に、前記セル領域は、光学顕微
鏡による「光顕」画像で入力した領域のデータを、SE
M画像でトレースして再入力して設定された領域である
回路パターンの検査装置を提供する。
【0023】本発明は更に、前記セル領域は、光学顕微
またはSEM低倍率画像で入力した領域のデータを、
SEM高倍率画像でトレースして再入力して設定された
領域である回路パターンの検査装置を提供する。
【0024】本発明は更に、セル領域デフォルトを有す
る品種ファイルおよび該品種ファイルに付属する工程フ
ァイル手段を有し、新規品種の表示であるときにデフォ
ルト領域をかつ工程表示であるときに設定済のセル領域
を検査領域として表示する回路パターンの検査装置を提
供する。
【0025】本発明は更に、セル領域ファイルを有する
品種ファイルおよび該品種ファイルに付属する工程ファ
イル手段を有し、工程ファイルのパラメータを表示する
ときに設定済のパラメータを表示し、該パラメータを変
更したときに新たな工程ファイルとして登録する登録手
段を有する回路パターンの検査装置を提供する。
【0026】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、チップマトリクス,セル領域,電子線照
射条件,キャリブレーション条件,アライメント条件,
検査領域,感度条件および合否判定ファイルからなるフ
ァイルグループ手段を有し、前記チップマトリクスおよ
びセル領域ファイルでもって品種ファイルを構成し、他
のファイルでもって工程ファイルを構成し、品種ファイ
ルの下位に工程ファイルを有する構造として各ファイル
についてのパラメータを設定するようにした回路パター
ンの検査装置を提供する。
【0027】本発明は更に、前記セル領域ファイルは、
セル領域数,セル領域座標およびセルピッチファイルか
らなる回路パターンの検査装置を提供する。
【0028】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、検査領域の設定手段を有し、かつその先
端を欠陥位置に位置させるナビゲート線を表示するナビ
ゲート表示手段を有する回路パターンの検査装置を提供
する。
【0029】本発明は更に、前記欠陥位置を色変化表示
する回路パターンの検査装置を提供する。
【0030】本発明は、ウエハの回路パターンが形成さ
れた基板表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射
する照射手段と、該照射によって基板から発生する信号
を検出する検出手段と、該検出手段によって検出された
信号を画像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画
像を他の同一の回路パターンから形成された画像と比較
する比較手段と、および比較結果から回路パターン上の
欠陥を判別する判別手段とを備えた回路パターンの検査
装置において、検査領域の設定手段を有し、かつウエハ
マップを任意に拡大および縮小して表示する拡大/縮小
表示手段を有する回路パターンの検査装置を提供する。
【0031】本発明は、回路パターンが形成された基板
表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射し、照射
によって基板から発生する信号を検出し、検出された信
号を画像化して記憶し、記憶された画像を他の同一回路
の回路パターンから形成された画像と比較し、比較結果
から回路パターン上の欠陥を判別する回路パターンの検
査方法において、セル領域を設定して設定されたセル領
域について前記画像化して記憶し、かつ該設定されたセ
ル領域から検査領域を設定するときにセル領域表示画面
と検査領域表示画面とを独立して表示して検査を行う回
路パターンの検査方法を提供する。
【0032】本発明は、回路パターンが形成された基板
表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射し、照射
によって基板から発生する信号を検出し、検出された信
号を画像化して記憶し、記憶された画像を他の同一回路
の回路パターンから形成された画像と比較し、比較結果
から回路パターン上の欠陥を判別する回路パターンの検
査方法において、同一回路の回路パターンを画像化する
ときに、光学顕微鏡による複数の「光顕」画像またはSE
M低倍率で入力した画像データと1回の照射によって得
られたSEM高倍率画像で入力した画像データとを使用
して画像取得する回路パターンの検査方法を提供する。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例の検査方
法、および装置の一例について、図面を参照しながら詳
細に説明する。
【0034】実施例の回路パターン検査装置1の構成を
図1に示す。回路パターン検査装置1は、室内が真空排
気される検査室2と、検査室2内に被検査基板9を搬送
するための予備室(本実施例では図示せず)を備えてお
り、この予備室は検査室2とは独立して真空排気できる
ように構成されている。また、回路パターン検査装置1
は上記検査室2と予備室の他に制御部6,画像処理部5
から構成されている。検査室2内は大別して、電子光学
系3,二次電子検出部7,試料室8,光学顕微鏡部4か
ら構成されている。電子光学系3は、電子銃10,電子
線引き出し電極11,コンデンサレンズ12,ブランキ
ング偏向器13,走査偏向器15,絞り14,対物レン
ズ16,反射板17,ExB偏向器18から構成されて
いる。二次電子検出部7のうち、二次電子検出器20が
検査室2内の対物レンズ16の上方に配置されている。
二次電子検出器20の出力信号は、検査室2の外に設置
されたプリアンプ21で増幅され、AD変換機22によ
りデジタルデータとなる。試料室8は、試料台30,X
ステージ31,Yステージ32,回転ステージ33,位
置モニタ測長器34,被検査基板高さ測定器35から構
成されている。光学顕微鏡部4は、検査室2の室内にお
ける電子光学系3の近傍であって、互いに影響を及ぼさ
ない程度離れた位置に設備されており、電子光学系3と
光学顕微鏡部4の間の距離は既知である。そして、Xス
テージ31またはYステージ32が電子光学系3と光学
顕微鏡部4の間の既知の距離を往復移動するようになっ
ている。光学顕微鏡部4は光源40,光学レンズ41,
CCDカメラ42により構成されている。画像処理部5
は、第一画像記憶部46,第二画像記憶部47,演算部
48,欠陥判定部49より構成されている。取り込まれ
た電子線画像あるいは光学画像はモニタ50に表示され
る。装置各部の動作命令および動作条件は、制御部6か
ら入力される。制御部6には、あらかじめ電子線発生時
の加速電圧,電子線偏向幅,偏向速度,二次電子検出装
置の信号取り込みタイミング,試料台移動速度等々の条
件が、目的に応じて任意にあるいは選択して設定できる
よう入力されている。制御部6は、補正制御回路43を
用いて、位置モニタ測長器34,被検査基板高さ測定器
35の信号から位置や高さのずれをモニタし、その結果
より補正信号を生成し、電子線が常に正しい位置に照射
されるよう対物レンズ電源45や走査信号発生器44に
補正信号を送る。
【0035】被検査基板9の画像を取得するためには、
細く絞った一次電子線19を該被検査基板9に照射し、
二次電子51を発生させ、これらを一次電子線19の走
査およびXステージ31,Yステージ32の移動と同期
して検出することで該被検査基板9表面の画像を得る。
本発明の課題で述べたように、本発明の自動検査では検
査速度が速いことが必須となる。従って、通常のSEM
のようにpAオーダーの電子線電流の電子線を低速で走
査したり、多数回の走査および各々の画像の重ね合せは
行わない。また、絶縁材料への帯電を抑制するために
も、電子線走査は高速で一回あるいは数回程度にする必
要がある。そこで本実施例では、通常SEMに比べ約1
00倍以上の、例えば100nAの大電流電子線を一回
のみ走査することにより画像を形成する構成とした。走
査幅は100μmとし、1画素は0.1μmとし、1
回の走査を1μsで行うようにした。
【0036】電子銃10には拡散補給型の熱電界放出電
子源が使用されている。この電子銃10を用いることに
より、従来の例えばタングステン(W)フィラメント電
子源や、冷電界放出型電子源に比べて安定した電子線電
流を確保することができるため、明るさ変動の少ない電
子線画像が得られる。また、この電子銃10により電子
線電流を大きく設定することができるため、後述するよ
うな高速検査を実現できる。一次電子線19は、電子銃
10と引き出し電極11との間に電圧を印加することで
電子銃10から引き出される。一次電子線19の加速
は、電子銃10に高電圧の負の電位を印加することでな
される。これにより、一次電子線19はその電位に相当
するエネルギーで試料台30の方向に進み、コンデンサ
レンズ12で収束され、さらに対物レンズ16により細
く絞られて試料台30上のXステージ31、Yステージ
32の上に搭載された被検査基板9(半導体ウエハ,チ
ップあるいは液晶,マスク等微細回路パターンを有する
基板)に照射される。なお、ブランキング偏向器13に
は、走査信号およびブランキング信号を発生する走査信
号発生器44が接続され、コンデンサレンズ12および
対物レンズ16には、各々レンズ電源45が接続されて
いる。被検査基板9には、リターディング電源36によ
り負の電圧を印加できるようになっている。このリター
ディング電源36の電圧を調節することにより一次電子
線を減速し、電子銃10の電位を変えずに被検査基板9
への電子線照射エネルギーを最適な値に調節することが
できる。
【0037】被検査基板9上に一次電子線19を照射す
ることによって発生した二次電子51は、被検査基板9
に印加された負の電圧により加速される。被検査基板9
上方に、ExB偏向器18が配置され、これにより加速
された二次電子51は所定の方向へ偏向される。ExB
偏向器18にかける電圧と磁界の強度により、偏向量を
調整することができる。また、この電磁界は、試料に印
加した負の電圧に連動させて可変させることができる。
ExB偏向器18により偏向された二次電子51は、所
定の条件で反射板17に衝突する。この反射板17は、
試料に照射する電子線(以下一次電子線と呼ぶ)の偏向
器のシールドパイプと一体で円錐形状をしている。この
反射板17に加速された二次電子51が衝突すると、反
射板17からは数V〜50eVのエネルギーを持つ第二
の二次電子52が発生する。
【0038】二次電子検出部7は、真空排気された検査
室2内には二次電子検出器20が、検査室2の外にはプ
リアンプ21,AD変換器22,光変換手段23,光伝
送手段24,電気変換手段25,高圧電源26,プリア
ンプ駆動電源27,AD変換器駆動電源28,逆バイア
ス電源29から構成されている。既に記述したように、
二次電子検出部7のうち、二次電子検出器20が検査室
2内の対物レンズ16の上方に配置されている。二次電
子検出器20,プリアンプ21,AD変換器22,光変
換手段23,プリアンプ駆動電源27,AD変換器駆動
電源28は、高圧電源26により正の電位にフローティ
ングしている。上記反射板17に衝突して発生した第二
の二次電子52は、この吸引電界により二次電子検出器
20へ導かれる。二次電子検出器20は、一次電子線1
9が被検査基板9に照射されている間に発生した二次電
子51がその後加速されて反射板17に衝突して発生し
た第二の二次電子52を、一次電子線19の走査のタイ
ミングと連動して検出するように構成されている。二次
電子検出器20の出力信号は、検査室2の外に設置され
たプリアンプ21で増幅され、AD変換器22によりデ
ジタルデータとなる。AD変換器22は、二次電子検出
器20が検出したアナログ信号をプリアンプ21によっ
て増幅された後に直ちにデジタル信号に変換して、画像
処理部5に伝送するように構成されている。検出したア
ナログ信号を検出直後にデジタル化してから伝送するの
で、従来よりも高速で且つSN比の高い信号を得ること
ができる。
【0039】Xステージ31、Yステージ32上には被
検査基板9が搭載されており、検査実行時にはXステー
ジ31、Yステージ32を静止させて一次電子線19を
二次元に走査する方法と、検査実行時にXステージ3
1、Yステージ32をY方向に連続して一定速度で移動
されるようにして一次電子線19をX方向に直線に走査
する方法のいずれかを選択できる。ある特定の比較的小
さい領域を検査する場合には前者のステージを静止させ
て検査する方法、比較的広い領域を検査するときは、ス
テージを連続的に一定速度で移動して検査する方法が有
効である。なお、一次電子線19をブランキングする必
要がある時には、ブランキング偏向器13により一次電
子線19が偏向されて、電子線が絞り14を通過しない
ように制御できる。
【0040】位置モニタ測長器34として、本実施例で
はレーザ干渉による測長計を用いた。Xステージ31お
よびYステージ32の位置が実時間でモニタでき、制御
部6に転送されるようになっている。また、Xステージ
31,Yステージ32、そして回転ステージ33のモー
タの回転数等のデータも同様に各々のドライバから制御
部6に転送されるように構成されており、制御部6はこ
れらのデータに基づいて一次電子線19が照射されてい
る領域や位置が正確に把握できるようになっており、必
要に応じて実時間で一次電子線19の照射位置の位置ず
れを補正制御回路43より補正するようになっている。
また、被検査基板毎に、電子線を照射した領域を記憶で
きるようになっている。
【0041】被検査基板高さ測定器35は、電子ビーム
以外の測定方式である光学式測定器、例えばレーザ干渉
測定器や反射光の位置で変化を測定する反射光式測定器
が使用されており、Xステージ31、Yステージ32に
搭載された被検査基板9の高さを実時間で測定するよう
に構成されている。本実施例では、スリットを通過した
細長い白色光を透明な窓越しに該被検査基板9に照射
し、反射光の位置を位置検出ニタにて検出し、位置の変
動から高さの変化量を算出する方式を用いた。この被検
査基板高さ測定器35の測定データに基づいて、一次電
子線19を細く絞るための対物レンズ16の焦点距離が
ダイナミックに補正され、常に非検査領域に焦点が合っ
た一次電子線19を照射できるようになっている。ま
た、被検査基板9の反りや高さ歪みを電子線照射前に予
め測定しており、そのデータをもとに対物レンズ16の
検査領域毎の補正条件を設定するように構成することも
可能である。
【0042】画像処理部5は第一画像記憶部46と第二
画像記憶部47,演算部48,欠陥判定部49,モニタ
50により構成されている。上記二次電子検出器20で
検出された被検査基板9の画像信号は、プリアンプ21
で増幅され、AD変換器22でデジタル化された後に光
変換手段23で光信号に変換され、光伝送手段24によ
って伝送され、電気変換手段25にて再び電気信号に変
換された後に第一画像記憶部46あるいは第二画像記憶
部47に記憶される。演算部48は、この記憶された画
像信号をもう一方の記憶部の画像信号との位置合わせ,
信号レベルの規格化,ノイズ信号を除去するための各種
画像処理を施し、双方の画像信号を比較演算する。欠陥
判定部49は、演算部48にて比較演算された差画像信
号の絶対値を所定のしきい値と比較し、所定のしきい値
よりも差画像信号レベルが大きい場合にその画素を欠陥
候補と判定し、モニタ50にその位置や欠陥数等を表示
する。
【0043】これまで回路パターン検査装置1の全体の
構成について説明してきたが、このうちの二次電子51
の検出手段について、その構成と作用をさらに詳細に説
明する。一次電子線19は、固体に入射すると内部に進
入しながらそれぞれの深さにおいて殻内電子を励起して
エネルギーを失っていく。また、それとともに一次電子
線が後方に散乱された反射電子が、やはり固体内で電子
を励起させながら表面へ向かって進む現象が生ずる。こ
れら複数の過程を経て、殻内電子は固体表面から表面障
壁を超えて二次電子となって数V〜50eVのエネルギ
ーを持って真空中へ出る。一次電子線と固体表面のなす
角度が浅いほど、一次電子線の進入距離とその位置から
固体表面までの距離との比が小さくなり、二次電子が表
面から放出されやすくなる。したがって、二次電子の発
生は一次電子線と固体表面の角度に依存しており、二次
電子発生量が試料表面の凹凸や材料を示す情報となる。
【0044】図2は二次電子51の検出するための電子
光学系3,二次電子検出部7の主要構成図を示す。一次
電子線19は被検査基板9へ照射され、被検査基板9表
面にて二次電子51を発生させる。この二次電子51
は、被検査基板9に印加された負の高電圧により加速さ
れる。二次電子51は、加速されるとともに対物レンズ
16,ExB偏向器18により収束,偏向され反射板1
7に衝突する。この反射板17は、検出器への印加電圧
等が一次電子線に影響を及ぼのを防止するためのシー
ルドパイプと一体でテーパーをもった円錐状をしてい
る。平均で照射電子数の約5倍の二次電子を放出させる
ような構成として二次電子増倍効果を持たせた。上記の
加速された二次電子51が衝突することにより、反射板
17からは数V〜50eVのエネルギーを持つ第二の二
次電子52が発生する。この第二の二次電子52は、二
次電子検出器20と二次電子検出器20に取り付けた吸
引電極53により生成される吸引電界により二次電子検
出器20前面へ吸引される。
【0045】ExB偏向器18の電磁界は、被検査基板
9に印加する負の高電圧に連動して可変設定することが
できる。以上の構成により、被検査基板9表面で発生し
た二次電子51がExB偏向器18を通過する際に95
%以上が通過できるようにし、反射板17にてこの95
%の二次電子51が約5倍の量に増倍されて第二の二次
電子52が発生することができる。
【0046】二次電子検出器20として、本実施例では
PIN型半導体検出器を用いた。
【0047】PIN型半導体検出器は通常のPN型半導
体検出器よりも応答性が速く、逆バイアス電圧電源によ
り逆バイアス電圧を印加することによりサンプリング周
波数が〜100MHzの高周波の二次電子信号を検出す
ることができる。この二次電子検出器20および検出回
路であるプリアンプ21,AD変換器22,光変換手段
23を正の電圧にフローティングしている。上記反射板
17で生じた第二の二次電子52は、吸引電界により二
次電子検出器20に吸引され、高エネルギー状態で二次
電子検出器20に入射して表面層で一定のエネルギーを
消失した後に電子正孔対を生成し、電流となって電気信
号に変換される。本実施例で用いた二次電子検出器20
は、信号検出感度も非常に高く、表面層でのエネルギー
損失を考慮すると、吸引電界により加速されて入射した
第二の二次電子52は約1000倍に増幅された電気信
号になる。この電気信号はプリアンプ21によりさらに
増幅され、この増幅された信号(アナログ信号)はAD
変換器22によりデジタル信号に変換される。そして、
AD変換器22の出力を各ビット毎に光変換手段23,
光伝送手段24,電気変換手段25をそれぞれ設け、パ
ラレルで伝送した。この構成によれば、個々の伝送手段
はAD変換器22のクロック周波数と同じ伝送速度があ
れば良い。さて、光変換手段23により光デジタル信号
に変換された信号は、光伝送手段24により電気変換手
段25へ伝送され、ここで光デジタル信号から再び電気
信号に変換され、画像処理部5へ送られる。このように
光信号に変換してから伝送するのは、二次電子検出器2
0から光変換手段23までの構成要素が高電圧電源26
により正の高電位にフローティングされているからであ
り、本実施例の構成により、高電位レベルの信号をアー
スレベルの信号に変換できる。また、本実施例では、光
変換手段23として電気信号を光信号に変換する発光素
子を、光伝送手段24として光信号を伝送する光ファイ
バケーブルを、電気変換手段25として光信号を電気信
号に変換する受光素子を用いた。光ファイバケーブルは
高絶縁材料で形成されているため、高電位レベルの信号
をアース電位レベルの信号に容易に変換できる。さら
に、デジタル信号を光伝送しているため、光伝送時にお
ける信号の劣化が全くない。その結果、従来の技術であ
るアナログ信号を光伝送する構成と比べてノイズの影響
の少ない画像を得ることができる。
【0048】なお、上記の実施例では、二次電子検出器
20は逆バイアス電源29により逆バイアス電圧を印加
されていたが、逆バイアス電圧を印加しない構成にして
も良い。また、本実施例では二次電子検出器20にPI
N型半導体検出器を用いたが、他のタイプの半導体検出
器、例えばショットキー型半導体検出器やアバランシェ
型半導体検出器等を用いても良い。また、応答性,感度
等の条件を満たせば、MCP(マイクロチャネルプレー
ト)を検出器として用いることも可能である。
【0049】次に、前記回路パターン検査装置1により
被検査基板9として製造過程のパターン加工が施された
半導体ウエハを検査した場合の作用について説明する。
まず、図1には記載されていないが、被検査基板9の搬
送手段により半導体ウエハは試料交換室へロードされ
る。そこでこの被検査基板9は試料ホルダに搭載され、
保持固定された後に真空排気され、試料交換室がある程
度の真空度に達したら検査のための検査室2に移載され
る。検査室2では、試料台30,Xステージ31、Yス
テージ32,回転ステージ33の上に試料ホルダごと載
せられ、保持固定される。セットされた被検査基板9
は、予め登録された所定の検査条件に基づきX−Yステ
ージ31,32のXおよびY方向の移動により光学顕微
鏡部4の下の所定の第一の座標に配置され、モニタ50
により被検査基板9上に形成された回路パターンの光学
顕微鏡画像が観察され、位置回転補正用に予め記憶され
た同じ位置の同等の回路パターン画像と比較され、第一
の座標の位置補正値が算出される。次に第一の座標から
一定距離離れ第一の座標と同等の回路パターンが存在す
る第二の座標に移動し、同様に光学顕微鏡画像が観察さ
れ、位置回転補正用に記憶された回路パターン画像と比
較され、第二の座標の位置補正値および第一の座標に対
する回転ずれ量が算出される。この算出された回転ずれ
量分、回転ステージ33は回転し、その回転量を補正す
る。なお、本実施例では回転ステージ33の回転により
回転ずれ量を補正しているが、回転ステージ33無し
で、算出された回転ずれの量に基づき電子線の走査偏向
量を補正する方法でも補正できる。この光学顕微鏡画像
観察においては、光学顕微鏡画像のみならず電子線画像
でも観察可能な回路パターンが選定される。また、今後
の位置補正のために、第一の座標,光学顕微鏡画像観察
による第一の回路パターンの位置ずれ量,第二の座標,
光学顕微鏡画像観察による第二の回路パターンの位置ず
れ量が記憶され、制御部6に転送される。
【0050】さらに、光学顕微鏡による画像が用いられ
て、被検査基板9上に形成された回路パターンが観察さ
れ、被検査基板9上の回路パターンのチップの位置やチ
ップ間の距離、あるいはメモリセルのような繰り返しパ
ターンの繰り返しピッチ等が予め測定され、制御部6に
測定値が入力される。また、被検査基板9上における被
検査チップおよびチップ内の被検査領域が光学顕微鏡の
画像から設定され、上記と同様に制御部6に入力され
る。光学顕微鏡の画像は、比較的低い倍率によって観察
が可能であり、また、被検査基板9の表面が例えばシリ
コン酸化膜等により覆われている場合には下地まで透過
して観察可能であるので、チップの配列やチップ内の回
路パターンのレイアイトを簡便に観察することができ、
検査領域の設定を容易にできるためである。
【0051】以上のようにして光学顕微鏡部4による所
定の補正作業や検査領域設定等の準備作業が完了する
と、Xステージ31およびYステージ32の移動によ
り、被検査基板9が電子光学系3の下に移動される。被
検査基板9が電子光学系3の下に配置されると、上記光
学顕微鏡部4により実施された補正作業や検査領域の設
定と同様の作業を電子線画像により実施する。この際の
電子線画像の取得は、次の方法でなされる。上記光学顕
微鏡画像による位置合せにおいて記憶され補正された座
標値に基づき、光学顕微鏡部4で観察されたものと同じ
回路パターンに、一次電子線19が走査信号発生器44
によりXY方向に二次元に走査されて照射される。この
電子線の二次元走査により、被観察部位から発生する二
次電子51が上記の二次電子検出のための各部の構成お
よび作用によって検出されることにより、電子線画像が
取得される。既に光学顕微鏡画像により簡便な検査位置
確認や位置合せ、および位置調整が実施され、且つ回転
補正も予め実施されているため、光学画像に比べ分解能
が高く高倍率で高精度に位置合せや位置補正,回転補正
を実施することができる。なお、一次電子線19を被検
査試料9に照射すると、その箇所が帯電する。検査の際
にその帯電の影響を避けるために、上記位置回転補正あ
るいは検査領域設定等の検査前準備作業において一次電
子線19を照射する回路パターンは予め被検査領域外に
存在する回路パターンを選択するか、あるいは被検査チ
ップ以外のチップにおける同等の回路パターンを制御部
6から自動的に選択できるようにしておく。これによ
り、検査時に上記検査前準備作業により一次電子線19
を照射した影響が検査画像に及ぶことはない。
【0052】次に、検査が実施される。検査時に被検査
基板9に照射する一次電子線19の条件は、以下の方法
にて求めた。まず、一般に電子線画像におけるSN比
は、試料に照射する電子線の単位画素あたりの照射電子
数Sの平方根と相関がある。画像同士を比較検査する場
合には、電子線画像のSN比は正常部と欠陥部の信号量
を検知できる値である必要があり、最低SN比は10以
上が必要であり、好ましくは50以上が必要である。前
述のように、電子線画像のSN比は、試料に照射する電
子線の単位画素あたりの照射電子数Sの平方根と相関が
あるため、SN比10を得るためには単一画素あたり少
なくとも100個以上の電子が必要となり、SN比50
を得るためには少なくとも2500個以上の電子が照射
されなくてはならない。
【0053】また、この回路パターン検査方法を適用す
るねらいは、前述の通り光学式パターン検査方法では検
出が不可能な微小の欠陥を検知することであり、すなわ
ち微小な画素における画像間の差を認識する必要があっ
た。これを達成するために、本実施例では画素サイズを
0.1μmとした。従って、最低限必要とされる単一画
素あたりの電子数と上記画素サイズから、必要とされる
単位面積あたりの電子線照射量は0.16μC/cm
なり、好ましくは4μC/cmとなる。この電子照射量
を通常のSEMの電子線電流(数pAから数百pA程度)
により得ようとすると、例えば20pAの電子線電流に
よって1cmの領域に0.16μC/cmの電子を照射
するには8000秒を要し、さらに4μC/cmの電子
を照射するには20万秒を要する。しかしながら、回路
パターンの検査、例えば半導体ウエハの検査において要
求される検査速度は600s/cm以下、好ましくは3
00s/cm以下であり、これよりも検査時間が長くな
ると半導体製造においては検査の実用性がきわめて低く
なる。したがって、これらの条件を満たし、実用的な検
査時間で必要な電子線を試料に照射するためには、電子
線電流を最低でも270pA(1.6μC/cm,60
0s/cm)以上、好ましくは13nA(4μC/c
m,300s/cm)以上に設定する必要がある。そ
こで、本実施例の回路パターンの検査方法では、13n
A以上の大電流電子線を用いて一回の走査により電子線
画像を形成することにした。
【0054】そして、通常のSEMに比べ約100倍以
上の大電流(270nA以上、好ましくは13nA以
上)の電子線を用いてただ一回の走査によって電子線画
像を形成することは、検査速度の点から必要とされるだ
けでなく、以下に述べる理由により、下地膜あるいは表
面パターンが絶縁材料により形成された回路パターンを
検査するのに必要である。
【0055】絶縁材料を有する回路パターンの電子線画
像を通常のSEMにより取得すると、帯電の影響により
実際の形状とは異なる電子線画像が得られたり、視野倍
率によりコントラストがまったく異なることが多い。こ
れは、微弱な電子線電流(数pAから数百pA)を局所
的に繰り返し走査することにより、あるいは視野倍率を
変える際に焦点や非点補正のために画像形成に必要な電
子線量以上に電子線を局所的に走査することにより、電
子線照射量がある一ヶ所に集中して照射され、その部分
の帯電が不均等になるためである。その結果、絶縁材料
で形成されたパターンの電子線画像の品質は、視野によ
り全く異なってしまうので、このような画像は電子線画
像を比較する検査には適用できない。従って、絶縁材料
を有する回路パターンについても導電性の材料の回路パ
ターンと同様に検査できるようにするために、通常のS
EMに比べ約100倍以上の大電流電子線を用いて一回
の走査により電子線画像を形成することとした。すなわ
ち、本実施例では、単位面積あたり、および単位時間あ
たりの試料への電子線照射量が一定であって、比較検査
を行うのに足る画質を形成するために必要な電子線量に
より、しかも、半導体ウエハ等の検査方法の実用性に適
した走査速度により、電子線を一回走査することで電子
線画像を取得することとした。そして、上記のように通
常のSEMに比べ約100倍以上の大電流電子線を用い
て一回の走査により絶縁材料を有する回路パターンの電
子線画像を取得したところ、一視野内の電子線画像を構
成する各種回路パターンの構成材料や構造に依存して帯
電量や画像のコントラストがそれぞれ異なること、同種
の材料の同等のパターン同士では同様な画像コントラス
トが得られることを確認した。なお、大電流電子線によ
る走査は本実施例では一回のみとしているが、実質的に
前述の作用が実現される範囲数回の場合もあり得る。
【0056】次に、電子線画像のコントラストに影響す
る照射条件について述べる。電子線画像のコントラスト
は、試料に照射した電子線により発生し検出される二次
電子の量により形成され、例えば材料等の相違により二
次電子の発生量が異なることにより明るさの差となる。
図3(a)と図3(b)は、電子線照射条件のコントラ
ストへの影響を示すグラフであり、図3(a)は照射条
件が適切な場合を示し図3(b)は照射条件が不適切な
場合を示している。また、縦軸は画像の明るさと相関が
大である帯電の程度、横軸には電子線の照射時間であ
る。実線Aは、試料にホトレジストを用いた場合、点線
Bは試料に配線材料を用いた場合である。
【0057】図3(a)より、照射時間が少ない時間領
域Cでは各材料の明るさ変動が少なく、照射時間が比較
的多くなってくる時間領域Dだと照射時間による明るさ
の変化が大きくなり、最終的に照射時間が多い時間領域
Eでは再び照射時間による明るさ変動が少なくなる。ま
た、図3(b)より、照射条件が適切でない場合には、
照射時間が少ない時間領域Cにおいても、照射時間に対
する明るさ変動が大きく、安定した画像を得るのが困難
である。従って、高速に且つ安定した電子線画像を取得
するためには図3(a)の照射条件にて画像を取得する
ことが重要である。
【0058】上記電子線の試料への照射条件としては、
単位面積あたりの電子線の照射量,電子線電流値,電子
線の走査速度,試料に照射する電子線の照射エネルギー
が挙げられる。そのため、これらパラメータは回路パタ
ーンの形状や材料毎にその最適値を求める必要がある。
そのためには、試料に照射する電子線の照射エネルギー
を自由に調整制御する必要がある。そのため、前述のよ
うに本実施例では試料である被検査基板9にリターディ
ング電源36により一次電子を減速するための負の電圧
を印加し、この電圧を調整することにより一次電子線1
9の照射エネルギーを適宜調整できるように構成してい
る。これにより、電子銃10に印加する加速電圧を変化
させる場合には一次電子線19の軸変化が発生し各種調
整が必要になるのに対し、本実施例ではそのような調整
を行わずに同様の効果を得ることができる。
【0059】次に、検査を行うための電子線画像を形成
する一次電子線19の走査方法について述べる。通常の
SEMでは、ステージが静止した状態で電子線を二次元
に走査し、ある領域の画像を形成する。この方法による
と、広領域をくまなく検査する場合には、画像取得領域
毎に、静止して電子線を走査する時間の他に、移動時間
としてステージの加速・減速・位置整定を加算した時間
がかかる。そのため、検査時間全体では長時間を要して
しまう。そのため、本発明では、ステージを一方向に連
続的に定速で移動しながら、電子線をステージ移動方向
と直交または交叉する向きに高速に一方向に走査するこ
とにより、被検査領域の画像を取得する検査方法を用い
た。これにより、所定距離の一走査幅分の電子線取得時
間は、所定距離をステージが移動する時間のみとなる。
【0060】図4(a)には、上記方法によりYステー
ジ32がY方向に連続して定速移動している際に一次電
子線19が走査する方法の一例を示している。一次電子
線19を走査信号発生器44により走査する際に、実線
で示した一方向のみ電子線を試料である被検査基板9に
照射し、破線で示した電子線の振り戻しの間は被検査基
板9に一次電子線19が照射されないようにブランキン
グすることにより、被検査基板9上に空間的,時間的に
均一に電子線を照射することができる。ブランキング
は、ブランキング偏向器13により一次電子線19を偏
向して、絞り14を通過しないようにすることにより実
施される。
【0061】図4(b)には、別の走査方法の一例とし
て、一次電子線19が等速度で往復走査する方法を示し
ている。一次電子線19が一端から他端まで等速度で走
査されると、Xステージ31、Yステージ32が一ピッ
チ送られ、電子線が反対の向きに元の端まで等速度で走
査される。この方法の場合には、電子線の振り戻し時間
を省略することができる。
【0062】なお、電子線が照射されている領域または
位置は、Xステージ31、Yステージ32に設置された
位置モニタ測長器34の測定データが時々刻々と制御部
6に転送されることにより、詳細に把握される。本実施
例ではレーザ干渉計を採用している。同様に、一次電子
線19が照射されている領域あるいは位置の高さの変動
は、被検査基板高さ測定器35の測定データが時々刻々
と制御部6に転送されることにより詳細に把握される。
これらのデータに基づき、電子線の照射位置や焦点位置
のずれを演算し、補正制御回路43によりこれらの位置
ずれを自動的に補正する。従って、高精度で精密な電子
線の操作方法が確保される。
【0063】以上の一次電子線19の走査方法により、
試料である被検査基板9の全面あるいは予め設定した検
査領域に電子線が照射され、前述した原理により二次電
子51が発生し、前述した方法により二次電子51,5
2が検出される。前述の各部の構成およびその作用によ
り、良質の画像を得ることができる。例えば、前述の構
成および方法で反射板17に照射することにより約20
倍の二次電子増倍効果を得ることができるとともに、従
来の方法よりも一次電子線への収差の影響を抑制するこ
とができる。また、同様の構成でExB偏向器にかける
電磁界を調節することにより、被検査基板9表面から発
生した反射電子を二次電子と同様に反射板17に照射し
て得られた第二の二次電子52を検出することも容易に
行える。また、ExB偏向器18の電界および磁界を、
試料に印加する負の高電圧に連動して調整制御すること
で、試料毎に異なる照射条件においても二次電子を効率
良く検出できる。また、二次電子検出器20を用いて二
次電子を検出し、検出された画像信号を検出直後にデジ
タル化してから光伝送する方法により、各種変換・伝送
において発生するノイズの影響を小さくし、SN比の高
い画像信号データを得ることができる。検出した信号か
ら電子線画像を形成する過程においては、画像処理部5
が制御部6から指定された電子線照射位置の所望の画素
に、対応した時間毎の検出信号を、その信号レベルに応
じた明るさ階調値として第一の記憶部46または第二画
像記憶部47に逐次記憶させる。電子線照射位置と、検
出時間で対応づけられた二次電子量が対応されることに
より、試料回路パターンの電子線画像が二次元的に形成
される。このようにして、高精度でSN比の高い良質な
電子線画像を取得できるようになった。
【0064】画像処理部5へ画像信号が転送されると、
第一の領域の電子線画像が第一記憶部46に記憶され
る。演算部48は、この記憶された画像信号をもう一方
の記憶部の画像信号との位置合せ,信号レベルの規格
化,ノイズ信号を除去するための各種画像処理を施す。
続いて、第二の領域の電子線画像が第二画像記憶部47
に記憶され、同様の演算処理を施されながら、第二の領
域の電子線画像と第一の電子線画像の同一の回路パター
ンおよび場所の画像信号を比較演算する。欠陥判定部4
9は、演算部48にて比較演算された差画像信号の絶対
値を所定のしきい値と比較し、所定のしきい値よりも差
画像信号レベルが大きい場合にその画素を欠陥候補と判
定し、モニタ50にその位置や欠陥数等を表示する。次
いで、第三に領域の電子線画像が第一記憶部46に記憶
され、同様の演算を施されながら先に第二画像記憶部4
7に記憶された第二の領域の電子線画像と比較演算さ
れ、欠陥判定される。以降、この動作が繰り返されるこ
とにより、すべての検査領域について画像処理が実行さ
れていく。
【0065】前述の検査方法により、高精度で良質な電
子線画像を取得し比較検査することにより、微細な回路
パターン上に発生した微小な欠陥を、実用性に則した検
査時間で検出することができる。また、電子線を用いて
画像を取得することにより、光学式パターン検査方法で
は光が透過してしまい検査できなかったシリコン酸化膜
やレジスト膜で形成されたパターンやこれらの材料の異
物・欠陥が検査できるようになる。さらに、回路パター
ンを形成している材料が絶縁物の場合にも安定して検査
を実施することができる。
【0066】次に、この回路パターン検査装置1および
方法を用いて半導体ウエハを検査した適用例について述
べる。図5は半導体装置の製造プロセスを示している。
図5に示すように、半導体装置は多数のパターン形成工
程を繰り返している。パターン形成工程は、大まかに、
成膜・感光レジスト塗布・感光・現像・エッチング・レ
ジスト除去・洗浄の各ステップにより構成されている。
この各ステップにおいて加工のための製造条件が最適化
されていないと基板上に形成する半導体装置の回路パタ
ーンが正常に形成されない。図6(a)および図6
(b)に製造過程における半導体ウエハ上に形成された
回路パターンの概略を示す。図6(a)は正常に加工さ
れた回路パターン、図6(b)は加工不良が発生したパ
ターンを示す。例えば図5の成膜過程で異常が発生する
とパーティクルが発生し、半導体ウエハ表面に付着し、
図6(b)中の孤立欠陥等になる。また、感光時に感光
のための露光装置の焦点や露光時間等の条件が最適でな
いと、レジストの照射する光の量や強さが多すぎる箇所
や足りない箇所が発生し、図6(b)中のショートや断
線,パターン細りとなる。感光時のマスク・レチクルに
欠陥があると、感光単位であるショット毎に同一箇所に
同様のパターン形状異常が発生する。またエッチング量
が最適化されていない場合およびエッチング途中に生成
された薄膜やパーティクルにより、ショートや突起,孤
立欠陥,開口不良等が発生する。洗浄時には、洗浄層の
汚れや剥離した膜や異物の再付着により微小なパーティ
クルが発生し、乾燥時の水切れ条件により表面に酸化膜
の厚さむらを発生し易い。
【0067】従って、実施例1の回路パターン検査方法
および装置1を半導体装置の製造プロセスに適用するこ
とにより、異常の発生を高精度且つ早期に検知すること
ができ、当該工程に異常対策処置を講ずることができ、
これらの不良が発生しないよう加工条件を最適化するこ
とができるようになる。例えば、現像工程後に回路パタ
ーン検査工程が実施されて、ホトレジストパターンの欠
陥や断線が検出された場合には、感光工程の露光装置の
露光条件や焦点条件が最適でないという事態が推定さ
れ、焦点条件あるいは露光量の調整等によってこれらの
条件が即座に改善される。また、これらの欠陥が各ショ
ット間で共通して発生しているか否かを欠陥分布から調
べることにより、パターン形成に用いられているホトマ
スク・レチクルの欠陥が推定され、ホトマスク・レチク
ルの検査や交換がいち早く実施される。その他の工程に
ついても同様であり、本発明の回路パターンの検査方法
および装置を適用し、検査工程を実施することにより、
各種欠陥が検出され、検出された欠陥の内容によって各
製造工程の異常の原因が推定される。
【0068】このように半導体装置の製造過程において
回路パターン検査方法および装置1をインラインで実施
することにより、各種製造条件の変動や異常発生を検査
実時間内に検知することができるため、多量の不良発生
を未然に防ぐことができる。また、回路パターンの検査
方法および装置を適用し、検出された欠陥の程度や発生
頻度等から当該半導体装置全体の良品取得率を予測する
ことができ、半導体装置の生産性を高めることができる
ようになる。
【0069】図7は、セル情報画面図である。図は、セ
ル情報定義画面である。アクション/処理内容は次の通
りである。
【0070】 NO アクション/処理 処 理 内 容 1 画面の構築 (1) 画面を生成する (2) 手動のステージ移動操作の許可 (3) 光顕画像切替え(初期) (4) 画像切替えボタンdisable表示 (5) ウエハマップ表示(初期表示) 2 ウエハマップ セル領域定義の対象とするチップをウエハマップ上か ら選択する(ダブルクリック又はチップを選択してチ ップ内マップボタンで切替える) 3 チップ内マップ (1) チップ内マップ101に定義した領域を表示する ップ (2) 確定した場合は色を変えて表示する (3) カレントの画像位置をマークする 4 作成ツール領域 ・光顕画像からマウスでセル領域をトレースして領域 102 の情報を作成して行く ・クリックされた座標を算出する ・入力された点は、画像,マップ共にマーキングする ・入力完了後、マップと画像部は図形を表示 (1) 矩形 ・領域のサイズを示す、対角の2点を入力 ガイダンス“左上点を入力”,“右下点を入力” (2) 矩形ライン ・領域を一列に複数個定義するコマンド ガイダンス“最初の領域左上点入力” “最初の領域右下点入力” “次の領域左上点入力” “最後の領域左上点入力” (3) 矩形エリア 領域を行列で定義 ガイダンス“最初の領域左上点入力” “最初の領域右下点入力” “次行の領域左上点入力” “最終行の領域左上点入力” “次列の領域左上点入力” “最終列の領域左上点入力” (4) 領域確定 作成ツールで作成した図形を確定するボタン 5 トレース103 定義された領域を確定して行くコマンド (1) SEM高倍に画像切替え 手動のステージ移動ロック (2) 画像上にトレースポイントをガイダンスとして表 示する (3) 項番4で入力されたデータの各座標点に、最終ト レースの為、自動的に移動する 座標が入力されると次の座標に移動する (4) 確定された領域図形の色を変え(マップ)、画像 上では矩形を描く (5) 項番4で入力され、未確定分のコマンド単位で、 上記(2) 〜(4) を繰り返す (6) 確定完了すれば、元の光顕画像に切替え、手動の ステージ移動ロックを外す 6 操作取消104 座標入力中は座標を1点戻し、コマンド完了後は前回 の操作をキャンセルする(コマンド単位は一回分のみ) 。 7 選択操作 セル領域マップで矩形(作成ツールコマンドで作成さ れたグループ単位)を選択する。 選択されたオブジェクトを強調表示。 8 削105 上記で選択されたデータを消す。 9 セルピッチ入力 (1) 画像をSEM高倍に切替える(最後に入力した位 106 置) (2) セルピッチ入力Dialogが開く (3) セルの位置を画像から入力 ガイダンス“最初のセル右上点入力” ガイダンス“最後のセル右上点入力” (4) 〈10〉セルの個数を入力 (5) 〈11〉計算ボタンが押されたらセルの2点座標と 個数からピッチを求める (6) 〈9〉のOKボタンが押されたらピッチをレシピ に取込み、〈12〉キャンセルであればデータを破 棄。ダイアログを消去する 10 設107 (1) この画面で設定したデータSAVE (2) 手動のステージ移動,焦点,光量操作のロック (3) 画像表示の中止 (4) 検査領域画面へ 11 キャンセル108 (1) 設定した情報を破棄 (2) 画面を最初の状態にする セル領域設定(定義」)について更に詳述する。
【0071】前述のようにアライメント設定画面が「設
定」ボタンにより設定されるとセル情報定義画面に基づ
いてセル情報の設定を行う。
【0072】図8は、セル情報の設定に使用するチップ
内マップ画面を表わす。セル情報の画面では、チップ内
に配列されているセル領域を、画像で指定しながら設定
していく。さらに、セル領域内のセルピッチを入力す
る。
【0073】基本操作について説明する。
【0074】(i)ウエハマップ上に表示されている画
面から、セル領域を設定するチップをクリックで選択す
る。次にチップボタン109をクリックして、選択した
チップ内マップ101の画面に切替える。または、設定
対象のチップをダブルクリックし、画面をチップ内にマ
ップの表示に切替える。
【0075】(ii)チップ内マップ101には、設定さ
れたセル領域が、スーパーインポーズ画面110に対応
する位置に表示されていく。ウエハを移動するには、ジ
ョイスティックを使用するか、移動モード111に切替
えて、チップ内マップ101をクリックすることで、該
当位置に移動することができる。
【0076】(iii)セル情報画面で設定した内容を確認
する場合、設定ボタン107をクリックする。それによ
って画面が検査領域に切替わる。
【0077】(iv)セル情報画面で設定した内容をすべ
て取り消す場合、キャンセルボタン108をクリックす
る。そうするとセル情報画面の初期状態に戻る。
【0078】図9に示すフローチャートは、作成ツール
(図8の102)を使用してセル領域の情報作成方法を
示す。
【0079】図において、「光顕」画像201で、使用
するツールボタン「矩形」202,「矩形エリア」20
3,「矩形ライン」204のいずれかをクリックして領
域を設定する点を入力204する。作成ツールの「領域
確定」ボタンをクリックして、入力204した点の領域
(図形)を確定205する。
【0080】作成ツールの「トレース」ボタン(5)を
クリックし、確定204した領域の点を「SEM高倍」
画像207で再入力し、トレース206を行う。これに
よって各点の入力208を行う。「領域確定」ボタンを
クリックしてスレースで入力した点の領域(図形)を確
定209する。
【0081】次のセル領域の作成について判断し21
0、作成する場合(YES)は、再度各点の入力204
から行う。領域作成の次の処理に進む場合(NO)は、
セルピッチ入力211を行う。
【0082】図10は、工程ファイルを増加させる方法
を示す。
【0083】図において、新たな検査要求が新規品種2
21であるかを判定し、新規品種である場合(YES)
には品種パラメータを表示222し、新規工程223の
ファイルを作成する。新規品種でない場合(NO)には
新規工程224であるかを判定し、新規工程である場合
(YES)には設定済のパラメータを表示225し、パ
ラメータ変更すなわち修正226を行う。これにより新
規工程ファイル227を作成する。新規工程でない場合
(NO)には設定パラメータを表示228する。
【0084】このようにして設定されたパラメータに基
づき、実際の検査領域の設定229を行う。
【0085】225で設定済パラメータを表示し、これ
を226で修正を加えることによって、すなわち改めて
工程を作成しなくても単なる修正によって新たな工程フ
ァイルを作成することができる。
【0086】図11は、検査領域の表示ならびに設定に
ついて説明するフローチャートである。
【0087】図において、新たな検査要求が新規品種2
31であるかを判定し、新規品種である場合(YES)
にはデフォルトの領域を表示232する。新規品種でな
い場合(NO)には新規工程234であるかを判定し、
新規工程である場合(YES)には既存の工程と同じ検査
領域を表示235する。新規工程でない場合(NO)に
は設定した検査領域を表示236する。表示された領域
を修正237する。ついで、実際の検査領域を設定23
8する。
【0088】設定されるセル領域から任意に検査領域を
設定することができる。このことによって両画面は独立
したものとなって柔軟な対応を可能とする。
【0089】作成ツールの使用方法について説明する。
【0090】図7および図8において、作成ツール10
は、「光顕」画像からマウスでセル領域をトレースし
て領域の情報を作成するものである。作成ツールでは、
画像上でクリックされた座標と、ウエハの現在位置から
実際の座標を算出する。また作成ツールの「矩形」「矩
形ライン」「矩形エリア」のボタンは、スーパーインポ
ーズ画面から点を入力してセル領域を設定する。以下に
これらのボタン操作によるセル領域の設定について説明
する。
【0091】(a)矩形 図12において、セル領域を示す矩形の対角の2点を入
力する。左上点P1を入力し、右下点P2を入力するこ
とによってセル領域を確定することができる。
【0092】(b)矩形ライン 図13において、矩形ラインは領域を1列に複数固定で
設定・入力される。最初の領域左上点P1を入力し、最
初の領域右下点P2を入力し、かつ次の領域左上点P3
を入力し、最後の領域左上点P4を入力することによっ
て矩形ライン領域を確定することができる。
【0093】(c)矩形エリア 図14において、矩形エリアは領域を行う列とで設定・
入力される。最初の領域左上点P1を入力し、最初の領
域右下点P2を入力し;次行の領域左上点P3を入力
し、最終行の領域左上点P4を入力し;かつ次列の領域
左上点P5を入力し、最終列の領域左上点P6を入力す
ることによって矩形エリア領域を確定することができ
る。
【0094】(d)領域確定領域確定 ボタンをクリックして、作成した図形を確定す
る。確定前であれば操作取消ボタン104を1回クリッ
クする毎に、入力した座標を元に戻すことができる。
【0095】(e)トレース トレースは、「光顕」画像で入力したセル領域データを
「SEM低倍」または「SEM高倍」で再入力すること
で精度を上げたデータを作成する機能である。トレース
ボタン103をクリックすると自動的にSEM画像に切
替わり、前に「光顕」画像で入力し、領域確定したデー
タの最初の入力座標点に移動する。ガイダンスに従っ
て、再度座標を入力する。すべての座標点の再入力が完
了したら、領域確定ボタンをクリックする。領域確定
タンを押す前であれば操作取消ボタン104をクリック
することにより、クリックした回数分トレース座標で前
に戻ることができる。
【0096】(f)操作取消し領域確定 ボタンで図形の確定を行う前であれば、操作取
ボタン104をクリックすることにより、クリックし
た回数分だけ入力した座標を前に戻ることができる。
【0097】(g)削除 チップ内マップ表示状態で、オブジェクト選択に切替え
るものである。マップ内の図形をマウスで選択し(図形
の枠が赤に変化する。)、削除ボタン105をクリック
することにより、図形を削除することができる。
【0098】(h)オプション 将来の拡張用ボタンである。
【0099】(i)セルピッチ入力 セルピッチの入力をする前に、「光顕」画像でセルピッ
チを入力するための位置に移動する。ついで、セルピッ
チ入力ボタン106をクリックする。「光顕」画像であ
れば自動的に「SEM高倍」画像に切替わる。セルの位
置を画像から入力する。
【0100】(j)設定 セル情報画面で設定した内容を確定する場合、設定ボタ
107をクリックする画面が検査領域に切替わる。
【0101】(k)キャンセル セル情報画面で設定した内容をすべて取り消す場合、
ャンセルボタン108をクリックする。セル情報画面の
初期状態に戻る。
【0102】(l)その他のセル領域の設定手段 複写,削除,移動,トレース機能や使用した後戻りによ
る設定ができる機能を設けることができる。セル領域の
グループ化を図り(グループ化機能)、グループ化され
たセル領域の複写,削除,移動設定ができる機能を設け
ることができる。行あるいは列あるいはこれらの組み合
せのセル領域をミラー反転により対象的に設定する機能
を設けることができる。よってセル領域の具体的設定手
段は次のようになる。
【0103】(ア)矩形,矩形ライン,矩形エリア,ミ
ラー反転設定 (イ)複写,削除,移動,トレース機能を使用した後戻
りによる設定 (ウ)セル領域のグループ化機能による複写,削除,移
動設定 (ア)(イ)(ウ)に表示する個々の1つまたは2つ以
上の設定項目を選択し、それらについてセル領域を作成
することは任意である。また、(ア)(イ)(ウ)のい
ずれかを選択することもできる。
【0104】このようなセル領域の設定は「SEM」画
像によるばかりでなく「光顕」画像あるいはレーザ光画
像についても適用できることは勿論である。
【0105】図15は、最終試し検査(1)画面図であ
る。この図は、試し検査用チップ設定画面である。
【0106】作成したレシピを基に、実際の検査と同じ
処理を行ってレシピデータを確認するものである。
【0107】(1)検査チップ設定 必要であれば、検査対象とするチップを再設定する。こ
こで設定した検査チップレシピは試し検査専用に一時的
に作成されるもので、正式な検査対象チップとは成らな
い。
【0108】(2)最終試し検査 検査開始ボタン112を押す事で、実行が開始される。
検査と欠陥確認が完了すると、この画面に戻って来る。
【0109】アクション/処理および処理内容は次の通
りである。
【0110】 NO アクション/処理 処 理 内 容 1 画面の構築 (1) 画面を生成し、レシピによる描画を行う (2) 光顕画像切替え (3) 画像表示開始 2 ウエハマップ操作 マウスの左ボタンか矩形ドラックによりウエハマップ (検査領域と同じ) 113上で検査の対象をON/OFFする。 同時に検査チップ数,検査面積を計算して表示。 更に検査予想時間を概略計算して表示する。 3 サンプリング率 検査を間引く比率。サンプリング率入力領域114で サンプリング率が入力されると、検査面積及び検査予 想時間を再計算して表示する。 (100%,50%,25%,12.5%,6.25% ,3.175%) 4 設設定ボタン115で設定した情報をSAVEする。 5 キャンセル キャンセルボタン116で設定されたデータを破棄し 、 最初の状態にする。 6 検査開始 検査開始ボタン112で試し検査開始する。
【0111】図16は欠陥確認画面図である。
【0112】ウエハマップ113上でマウスにより該当
する欠陥位置を指定するか、欠陥IDフィールド117
からIDを指定すると、左下に該当する欠陥の情報が表
示される。この状態で右側のスーパインポーズ画面11
に欠陥の画像が表示される。
【0113】ウエハマップ113と欠陥IDフィールド
117は連動しており、マップ上で指定されれば、欠陥
IDフィールド117の該当するIDが表示され、欠陥
IDフィールド117を入力すればマップ上の該当する
位置がマーキングされる。
【0114】該当する欠陥の分類がわかればこのフィー
ルドに入力する。
【0115】図17は、ウエハマップ113についての
拡大機能および表示欠陥のナビゲード機能を示す。図に
おいて、拡大/縮少ボタン119をクリックすることに
よってチップおよびチップ内を任意に拡大することがで
きる。これによってマップに表示される欠陥位置を重な
りなく表示することができる。
【0116】ナビボタン120をクリックすることによ
ってナビゲート線121の先端を欠陥位置に位置させる
ことができる。色変化による欠陥位置表示に加えること
によって、現在表示している欠陥位置を更に強調するこ
とができる。また、右側のスーパーインポーズ画面11
に表示されるSEM画像の表示を待つことなくウエハ
マップ113上における欠陥情報を次々に見ることがで
き、迅速な欠陥情報が得られる。
【0117】また、ウエハマップ113の表示画面およ
右側のスーパーインポーズ画面110のSEM画像表
示画面上にスケール122123を表示することがで
きる。これによってマップ拡大に伴った場合のスケール
表示ならびにSEM画像についてのスケール表示が可能
になって、欠陥の大きさがよく確実に把握することがで
きる。
【0118】チップ数はチップボタン124によって見
ることができる。
【0119】ウエハ外観検査装置の検査方法における
像比較について以下説明する。
【0120】本装置では、隣接する同一パターンや隣接
するチップの同一箇所を画像比較することで欠陥を検出
する。この理由は、半導体はほとんど繰り返しパターン
の組み合わせで形成されているためこの方法が最も効率
が良いからである。例えばメモリではセルと呼ばれる数
μmピッチの繰り返しパターンが無数に存在するメモリ
セルと呼ばれる部分が大きな割合を占める。したがって
繰り返し画面を比較することで欠陥が容易に発見でき
る。このメモリセルの周囲に存在する周辺回路も同一パ
ターンの繰り返しであり同様に繰り返し画面を比較すれ
ばよい。さらにウエハ上には多数の同一チップが形成さ
れており隣接するチップの同一箇所を比較することも可
能である。
【0121】
【発明の効果】本発明によれば、チップ検査,ウエハ抜
き取り頻度検査を画面を見ながら迅速に行うことがで
き、製品全体に及ぶ欠陥あるいは特定領域における欠陥
を迅速に検知することができ、プロセス条件の変動を確
実に検知し、プロセスにフィードバックすると同時に差
工数や払い出し予算の調整にフィードバックすることが
できる。
【0122】また、本発明によれば、微細パターン形成 工程/レジスト現像後、微細パターン 形成工程/エッチング後、穴パターン 形成工程,洗浄後の検査欠陥を画面表示によって迅速に
検知することができる。
【0123】本検査を基板製品プロセスへ適用すること
により、上記従来技術では検出し得なかった欠陥、すな
わち製品装置や条件等の異常を画面形成表示手段によっ
て形成された画面を参照することによって早期に且つ高
精度に発見することができるため、基板製造プロセスに
いち早く異常対策処理を溝ずることができ、その結果半
導体装置その他の基板の不良率を低減し生産性を高める
ことができる。また、上記検査を適用することにより、
異常発生をいち早く検知することができるので、多量の
不良発生を未然に防止することができ、さらにその結
果、不良の発生そのものを低減させることができるの
で、半導体装置等の信頼性を高めることができ、新製品
等の開発効率が向上し、且つ製造コストが削減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】回路パターン検査装置の装置構成を示す図。
【図2】電子光学系と二次電子検出部の主要部構成を示
す図。
【図3】電子線照射条件のコントラストへの影響を説明
する図。
【図4】電子線の走査方法を説明する図。
【図5】半導体装置製造プロセスフローを説明する図。
【図6】半導体装置回路パターンと欠陥内容を説明する
図。
【図7】レシピ作成GUIコマンドレベル機能仕様画面
図。
【図8】レシピ作成GUIコマンドレベル機能仕様画面
図。
【図9】フローチャート。
【図10】フローチャート。
【図11】フローチャート。
【図12】セル領域設定説明図。
【図13】セル領域設定説明図。
【図14】セル領域設定説明図。
【図15】レシピ作成GUIコマンドレベル機能仕様画
面図。
【図16】欠陥確認モニタGUIの機能仕様画面図。
【図17】欠陥確認モニタGUIの機能仕様画面図。
【符号の説明】 1…回路パターン検査装置、2…検査室、3…電子光学
系、4…光学顕微鏡部、5…画像処理部、6…制御部、
7…二次電子検出部、8…試料室、9…被検査基板、1
0…電子銃、11…引き出し電極、12…コンデンサレ
ンズ、13…ブランキング偏向器、14…絞り、15…
走査偏向器、16…対物レンズ、17…反射板、18…
ExB偏向器、19…一次電子線、20…二次電子検出
器、21…プリアンプ、22…AD変換機、23…光変
換手段、24…光伝送手段、25…電気変換手段、26
…高圧電源、27…プリアンプ駆動電源、28…AD変
換器駆動電源、29…逆バイアス電源、30…試料台、
31…Xステージ、32…Yステージ、33…回転ステ
ージ、34…位置モニタ測長器、35…被検査基板高さ
測定器、36…リターディング電源、40…白色光源、
41…光学レンズ、42…CCDカメラ、43…補正制
御回路、44…走査信号発生器、45…対物レンズ電
源、46…第一記憶部、47…第二画像記憶部、48…
演算部、49…欠陥判定部、50…モニタ。
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図7
【補正方法】変更
【補正内容】
【図7】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図8
【補正方法】変更
【補正内容】
【図8】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図15
【補正方法】変更
【補正内容】
【図15】
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図16
【補正方法】変更
【補正内容】
【図16】
【手続補正6】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図17
【補正方法】変更
【補正内容】
【図17】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野副 真理 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 森岡 洋 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業本部内 (72)発明者 宇佐見 康継 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器事業部内 (72)発明者 広井 高志 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 Fターム(参考) 2F065 AA61 CC18 CC19 FF04 GG00 JJ03 JJ26 PP12 PP24 QQ24 QQ32 RR02 RR03 SS02 SS13 2G051 AA51 AB07 AC04 CA04 CB01 DA08 EA12 EA14 ED01 ED12 FA04 GC04 GC13 GD05 GD09

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウエハの回路パターンが形成された基板表
    面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射する照射手
    段と、該照射によって基板から発生する信号を検出する
    検出手段と、該検出手段によって検出された信号を画像
    化して記憶する記憶手段と、該記憶された画像を他の同
    一の回路パターンから形成された画像と比較する比較手
    段と、および比較結果から回路パターン上の欠陥を判別
    する判別手段とを備えた回路パターンの検査装置におい
    て、 セル領域の設定手段を有し、 セル領域の設定のための作成ツールを、ウエハマップを
    表示する画面と共に表示する表示装置を有することを特
    徴とする回路パターンの検査装置。
  2. 【請求項2】ウエハの回路パターンが形成された基板表
    面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射する照射手
    段と、該照射によって基板から発生する信号を検出する
    検出手段と、該検出手段によって検出された信号を画像
    化して記憶する記憶手段と、該記憶された画像を他の同
    一の回路パターンから形成された画像と比較する比較手
    段と、および比較結果から回路パターン上の欠陥を判別
    する判別手段とを備えた回路パターンの検査装置におい
    て、 セル領域の設定手段を有し、 セル領域の設定のための作成ツールを、ウエハマップを
    表示する画面と共に表示する表示装置を有し、かつ該作
    成ツールは、 ・矩形,矩形ライン,矩形エリア,ミラー反転設定 ・複写,削除,移動,トレース機能を使用した後戻りに
    よる設定 ・セル領域のグループ化機能による複写,削除,移動設
    定 ・非検査セル領域の設定 から構成される個々の組合せの1つまたは2つ以上を含
    むセル領域作成手段を有することを特徴とする回路パタ
    ーンの検査装置。
  3. 【請求項3】請求項1または2において、 前記セル領域は、光学顕微鏡による「光顕」画像で入力
    した領域のデータを、SEM画像でトレースして再入力
    して設定された領域であることを特徴とする回路パター
    ンの検査装置。
  4. 【請求項4】請求項1または2において、 前記セル領域は、光学顕微鏡によるSEM低倍率画像で
    入力した領域のデータを、SEM高倍率画像でトレース
    して再入力して設定された領域であることを特徴とする
    回路パターンの検査装置。
  5. 【請求項5】請求項1または2において、 セル領域デフォルトを有する品種ファイルおよび該品種
    ファイルに付属する工程ファイル手段を有し、新規品種
    の表示であるときにデフォルト領域をかつ工程表示であ
    るときに設定済のセル領域を検査領域として表示するこ
    とを特徴とする回路パターンの検査装置。
  6. 【請求項6】請求項1または2において、 セル領域ファイルを有する品種ファイルおよび該品種フ
    ァイルに付属する工程ファイル手段を有し、 工程ファイルのパラメータを表示するときに設定済のパ
    ラメータを表示し、該パラメータを変更したときに新た
    な工程ファイルとして登録する登録手段を有することを
    特徴とする回路パターンの検査装置。
  7. 【請求項7】ウエハの回路パターンが形成された基板表
    面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射する照射手
    段と、該照射によって基板から発生する信号を検出する
    検出手段と、該検出手段によって検出された信号を画像
    化して記憶する記憶手段と、該記憶された画像を他の同
    一の回路パターンから形成された画像と比較する比較手
    段と、および比較結果から回路パターン上の欠陥を判別
    する判別手段とを備えた回路パターンの検査装置におい
    て、 チップマトリクス,セル領域,電子線照射条件,キャリ
    ブレーション条件,アライメント条件,検査領域,感度
    条件および合否判定ファイルからなるファイルグループ
    手段を有し、前記チップマトリクスおよびセル領域ファ
    イルでもって品種ファイルを構成し、他のファイルでも
    って工程ファイルを構成し、品種ファイルの下位に工程
    ファイルを有する構造として各ファイルについてのパラ
    メータを設定するようにしたことを特徴とする回路パタ
    ーンの検査装置。
  8. 【請求項8】請求項7において、 前記セル領域ファイルは、セル領域数,セル領域座標お
    よびセルピッチファイルからなることを特徴とする回路
    パターンの検査装置。
  9. 【請求項9】ウエハの回路パターンが形成された基板表
    面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射する照射手
    段と、該照射によって基板から発生する信号を検出する
    検出手段と、該検出手段によって検出された信号を画像
    化して記憶する記憶手段と、該記憶された画像を他の同
    一の回路パターンから形成された画像と比較する比較手
    段と、および比較結果から回路パターン上の欠陥を判別
    する判別手段とを備えた回路パターンの検査装置におい
    て、 検査領域の設定手段を有し、かつその先端を欠陥位置に
    位置させるナビゲート線を表示するナビゲート表示手段
    を有することを特徴とする回路パターンの検査装置。
  10. 【請求項10】請求項9において、 前記欠陥位置を色変化表示することを特徴とする回路パ
    ターンの検査装置。
  11. 【請求項11】ウエハの回路パターンが形成された基板
    表面に光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射する照射
    手段と、該照射によって基板から発生する信号を検出す
    る検出手段と、該検出手段によって検出された信号を画
    像化して記憶する記憶手段と、該記憶された画像を他の
    同一の回路パターンから形成された画像と比較する比較
    手段と、および比較結果から回路パターン上の欠陥を判
    別する判別手段とを備えた回路パターンの検査装置にお
    いて、 検査領域の設定手段を有し、かつウエハマップを任意に
    拡大および縮小して表示する拡大/縮小表示手段を有す
    ることを特徴とする回路パターンの検査装置。
  12. 【請求項12】回路パターンが形成された基板表面に
    光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射し、照射によっ
    て基板から発生する信号を検出し、検出された信号を画
    像化して記憶し、記憶された画像を他の同一回路の回路
    パターンから形成された画像と比較し、比較結果から回
    路パターン上の欠陥を判別する回路パターンの検査方法
    において、 セル領域を設定して設定されたセル領域について前記画
    像化して記憶し、かつ該設定されたセル領域から検査領
    域を設定するときにセル領域表示画面と検査領域表示画
    面とを独立して表示して検査を行うことを特徴とする回
    路パターンの検査方法。
  13. 【請求項13】回路パターンが形成された基板表面に
    光,レーザ光あるいは荷電粒子線を照射し、照射によっ
    て基板から発生する信号を検出し、検出された信号を画
    像化して記憶し、記憶された画像を他の同一回路の回路
    パターンから形成された画像と比較し、比較結果から回
    路パターン上の欠陥を判別する回路パターンの検査方法
    において、 同一回路の回路パターンを画像化するときに、光学顕微
    鏡による複数の「光顕」画像またはSEM低倍率で入力
    した画像データと1回の照射によって得られたSEM高
    倍率画像で入力した画像データとを使用して画像取得す
    ることを特徴とする回路パターンの検査方法。
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