JP2000156515A - パターン状薄膜層の形成方法 - Google Patents
パターン状薄膜層の形成方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 マスク層材料の耐熱性が高く、又薄膜形成時
の処理温度下での分解ガスの発生もなく、さらに、剥離
性が良好なリフトオフ方式のパターン状薄膜層の形成方
法を提供する。 【解決手段】 高い耐熱性と分解ガス発生のないマスク
層材料を選定し、かつ、マスク層5をフィルム基板1か
ら容易に剥離できるように、フィルム基板1の材料とマ
スク層5の材料の組み合わせを特定すること(例えば、
フィルム基板材料をポリアミドとし、マスク層材料をポ
リアミドイミドと特定する等)により、もしくは、マス
ク層を第1のマスク層6と第2のマスク層7の2層構造
とし、第2のマスク層7は第1のマスク層6から容易に
剥離でき、かつ第1のマスク層6はフィルム基板1と密
着性が良好な組み合わせにして、リフトオフ方式のパタ
ーン状薄膜層の形成を行う。
の処理温度下での分解ガスの発生もなく、さらに、剥離
性が良好なリフトオフ方式のパターン状薄膜層の形成方
法を提供する。 【解決手段】 高い耐熱性と分解ガス発生のないマスク
層材料を選定し、かつ、マスク層5をフィルム基板1か
ら容易に剥離できるように、フィルム基板1の材料とマ
スク層5の材料の組み合わせを特定すること(例えば、
フィルム基板材料をポリアミドとし、マスク層材料をポ
リアミドイミドと特定する等)により、もしくは、マス
ク層を第1のマスク層6と第2のマスク層7の2層構造
とし、第2のマスク層7は第1のマスク層6から容易に
剥離でき、かつ第1のマスク層6はフィルム基板1と密
着性が良好な組み合わせにして、リフトオフ方式のパタ
ーン状薄膜層の形成を行う。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、リフトオフ法に
よるパターン状薄膜層の形成方法、特に、電気絶縁性の
フレキシブルフィルム基板上に、光電変換層及び電極層
を備えた光電変換素子が複数直列接続されてなる光電変
換装置用の薄膜層の形成方法に関する。
よるパターン状薄膜層の形成方法、特に、電気絶縁性の
フレキシブルフィルム基板上に、光電変換層及び電極層
を備えた光電変換素子が複数直列接続されてなる光電変
換装置用の薄膜層の形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、環境保護の立場から、クリーンな
エネルギーの研究開発が進められている。中でも、太陽
電池はその資源(太陽光)が無限であること、無公害で
あることから注目を集めている。
エネルギーの研究開発が進められている。中でも、太陽
電池はその資源(太陽光)が無限であること、無公害で
あることから注目を集めている。
【0003】薄膜太陽電池は、薄型で軽量、製造コスト
の安さ、大面積化が容易であることなどから、今後の太
陽電池の主流となると考えられる。
の安さ、大面積化が容易であることなどから、今後の太
陽電池の主流となると考えられる。
【0004】従来の薄膜太陽電池はガラス基板を用いて
いたが、軽量化、施工性、量産性においてプラスチック
フィルムおよび金属フィルムを用いたフレキシブルタイ
プの太陽電池の研究開発がすすめられている。このフレ
キシブル性を生かし、ロールツーロール方式の製造方法
により大量生産が可能となった。
いたが、軽量化、施工性、量産性においてプラスチック
フィルムおよび金属フィルムを用いたフレキシブルタイ
プの太陽電池の研究開発がすすめられている。このフレ
キシブル性を生かし、ロールツーロール方式の製造方法
により大量生産が可能となった。
【0005】上記の薄膜太陽電池は、フレキシブルな電
気絶縁性フィルム基板上に第1電極、薄膜半導体層から
なる光電変換層および第2電極が積層されてなる光電変
換素子(またはセル)が複数形成されている。ある光電
変換素子の第1電極と隣接する光電変換素子の第2電極
を電気的に接続することを繰り返すことにより、最初の
光電変換素子の第1電極と最後の光電変換素子の第2電
極とに必要な電圧を出力させることができる。例えば、
インバータにより交流化し商用電力源として交流100
Vを得るためには、薄膜太陽電池の出力電圧は100V
以上が望ましく、実際には数10個以上の素子が直列接
続される。
気絶縁性フィルム基板上に第1電極、薄膜半導体層から
なる光電変換層および第2電極が積層されてなる光電変
換素子(またはセル)が複数形成されている。ある光電
変換素子の第1電極と隣接する光電変換素子の第2電極
を電気的に接続することを繰り返すことにより、最初の
光電変換素子の第1電極と最後の光電変換素子の第2電
極とに必要な電圧を出力させることができる。例えば、
インバータにより交流化し商用電力源として交流100
Vを得るためには、薄膜太陽電池の出力電圧は100V
以上が望ましく、実際には数10個以上の素子が直列接
続される。
【0006】このような光電変換素子とその直列接続
は、電極層と光電変換層の成膜と各層のパターニングお
よびそれらの組み合わせ手順により形成される。少数の
光電変換素子を直列接続した薄膜太陽電池により従来技
術を説明する(特願平9−37207号参照)。
は、電極層と光電変換層の成膜と各層のパターニングお
よびそれらの組み合わせ手順により形成される。少数の
光電変換素子を直列接続した薄膜太陽電池により従来技
術を説明する(特願平9−37207号参照)。
【0007】図4は、上記特許出願明細書に記載された
薄膜太陽電池の一例を示し、(a)は平面図、(b)は
(a)における線ABCDおよびBQCに沿っての断面
図であり、(c)は(a)におけるEE断面図を示す。
薄膜太陽電池の一例を示し、(a)は平面図、(b)は
(a)における線ABCDおよびBQCに沿っての断面
図であり、(c)は(a)におけるEE断面図を示す。
【0008】電気絶縁性でフレキシブルな樹脂からなる
長尺のフィルム基板上に、順次、第1電極層、光電変換
層、第2電極層が積層され、フィルム基板の反対側(裏
面)には第3電極層、第4電極層が積層され、裏面電極
が形成されている。光電変換層は例えばアモルファスシ
リコンのpin接合である。フィルム基板用材料として
は、ポリイミドのフィルムが用いられている。
長尺のフィルム基板上に、順次、第1電極層、光電変換
層、第2電極層が積層され、フィルム基板の反対側(裏
面)には第3電極層、第4電極層が積層され、裏面電極
が形成されている。光電変換層は例えばアモルファスシ
リコンのpin接合である。フィルム基板用材料として
は、ポリイミドのフィルムが用いられている。
【0009】製造工程の概要につき以下に説明する。
【0010】先ず、フィルム基板にパンチを用いて、接
続孔h1を開け、基板の片側(表側とする)に第1電極
層として、スパッタにより銀を成膜し、これと反対の面
(裏側とする)には、第3電極層として、同じく銀電極
を成膜する。接続孔h1の内壁で第1電極層と第3電極
層とは重なり、導通する。
続孔h1を開け、基板の片側(表側とする)に第1電極
層として、スパッタにより銀を成膜し、これと反対の面
(裏側とする)には、第3電極層として、同じく銀電極
を成膜する。接続孔h1の内壁で第1電極層と第3電極
層とは重なり、導通する。
【0011】成膜後、表側では、第1電極層を所定の形
状にレーザ加工して、下電極l1〜l6をパターニング
する。下電極l1〜l6の隣接部は一本の分離線g2
を、二列の直列接続の光電変換素子間および周縁導電部
fとの分離のためには二本の分離線g2を形成し、下電
極l1〜l6は分離線により囲まれるようにする。再度
パンチを用いて、集電孔h2を開けた後、表側に、光電
変換層pとしてa-Si層をプラズマCVDにより成膜す
る。マスクを用いて幅W2の成膜とし、レーザ加工によ
り二列素子の間だけに第1電極層と同じ分離線を形成す
る。
状にレーザ加工して、下電極l1〜l6をパターニング
する。下電極l1〜l6の隣接部は一本の分離線g2
を、二列の直列接続の光電変換素子間および周縁導電部
fとの分離のためには二本の分離線g2を形成し、下電
極l1〜l6は分離線により囲まれるようにする。再度
パンチを用いて、集電孔h2を開けた後、表側に、光電
変換層pとしてa-Si層をプラズマCVDにより成膜す
る。マスクを用いて幅W2の成膜とし、レーザ加工によ
り二列素子の間だけに第1電極層と同じ分離線を形成す
る。
【0012】さらに第2電極層として表側にITO層を
成膜する。但し、二つの素子列の間とこれに平行な基板
の両側端部にはマスクを掛け接続孔h1には成膜しない
ようにし、素子部のみに成膜する。次いで裏面全面に第
4電極層として銀電極を成膜する。第4電極の成膜によ
り、集電孔h2の内壁で第2電極と第4電極とが重な
り、導通する。表側では、レーザ加工により下電極と同
じパターンの分離線を入れ、個別の第2電極u1〜u6
を形成し、裏側では第3電極と第4電極とを同時にレー
ザ加工し、接続電極e12〜e56、および電力取り出
し電極o1,o2を個別化し、基板の周縁部では表側の
分離線g3と重なるように分離線g2を形成し、隣接電
極間には一本の分離線を形成する。
成膜する。但し、二つの素子列の間とこれに平行な基板
の両側端部にはマスクを掛け接続孔h1には成膜しない
ようにし、素子部のみに成膜する。次いで裏面全面に第
4電極層として銀電極を成膜する。第4電極の成膜によ
り、集電孔h2の内壁で第2電極と第4電極とが重な
り、導通する。表側では、レーザ加工により下電極と同
じパターンの分離線を入れ、個別の第2電極u1〜u6
を形成し、裏側では第3電極と第4電極とを同時にレー
ザ加工し、接続電極e12〜e56、および電力取り出
し電極o1,o2を個別化し、基板の周縁部では表側の
分離線g3と重なるように分離線g2を形成し、隣接電
極間には一本の分離線を形成する。
【0013】全ての薄膜太陽電池素子を一括して囲う周
縁、および二列の直列接続太陽電池素子の隣接する境界
には(周縁導電部fの内側)分離線g3がある。分離線
g3の中にはどの層も無い。裏側では、全ての電極を一
括して囲う周縁、および二列の直列接続電極の隣接する
境界には(周縁導電部fの内側)分離線g2がある。分
離線g2の中にはどの層も無い。
縁、および二列の直列接続太陽電池素子の隣接する境界
には(周縁導電部fの内側)分離線g3がある。分離線
g3の中にはどの層も無い。裏側では、全ての電極を一
括して囲う周縁、および二列の直列接続電極の隣接する
境界には(周縁導電部fの内側)分離線g2がある。分
離線g2の中にはどの層も無い。
【0014】こうして、電力取り出し電極o1−集電孔
h2−上電極u1、光電変換層、下電極l1−接続孔h
1−接続電極e12−上電極u2、光電変換層、下電極
l2−接続電極e23−・・・−上電極u6、光電変換
層、下電極l6−接続孔h1−電力取出し電極o2の順
の光電変換素子の直列接続が完成する。
h2−上電極u1、光電変換層、下電極l1−接続孔h
1−接続電極e12−上電極u2、光電変換層、下電極
l2−接続電極e23−・・・−上電極u6、光電変換
層、下電極l6−接続孔h1−電力取出し電極o2の順
の光電変換素子の直列接続が完成する。
【0015】以上薄膜太陽電池を例として説明したが、
従来のレーザ加工法によると、パターニングラインを1
本ごとに加工していくため、大面積レベルの量産化への
時間的ロスが問題になっていた。また、電極のパターニ
ングにレーザ加工法を用いると、片面電極のパターニン
グにおいて、透過レーザ光により、裏面の薄膜がダメー
ジをうけることから、基板の光透過率、太陽電池の膜構
成等についてレーザ光が透過しないようにするため選択
する材料に制限があった。
従来のレーザ加工法によると、パターニングラインを1
本ごとに加工していくため、大面積レベルの量産化への
時間的ロスが問題になっていた。また、電極のパターニ
ングにレーザ加工法を用いると、片面電極のパターニン
グにおいて、透過レーザ光により、裏面の薄膜がダメー
ジをうけることから、基板の光透過率、太陽電池の膜構
成等についてレーザ光が透過しないようにするため選択
する材料に制限があった。
【0016】そこで、上記の問題に対する改善策とし
て、電極の個別化や分離線の形成をレーザ加工によら
ず、フィルム基板上に、所定パターンのリフトオフ用マ
スク層を形成した後、前記基板およびマスク層の両面上
にまたがって所定パターンの薄膜層を形成し、前記マス
ク層を前記基板との界面から剥離することにより、マス
ク層上の薄膜層をマスク層と共に除去して所望パターン
の薄膜層を形成する方法、いわゆる、リフトオフ方式の
薄膜形成方法も、前述の特願平9−37207号におい
て提案されている。リフトオフ方式の薄膜形成方法は、
他にも、特開昭62−171169号公報にも記載され
ており、よく知られた方法である。
て、電極の個別化や分離線の形成をレーザ加工によら
ず、フィルム基板上に、所定パターンのリフトオフ用マ
スク層を形成した後、前記基板およびマスク層の両面上
にまたがって所定パターンの薄膜層を形成し、前記マス
ク層を前記基板との界面から剥離することにより、マス
ク層上の薄膜層をマスク層と共に除去して所望パターン
の薄膜層を形成する方法、いわゆる、リフトオフ方式の
薄膜形成方法も、前述の特願平9−37207号におい
て提案されている。リフトオフ方式の薄膜形成方法は、
他にも、特開昭62−171169号公報にも記載され
ており、よく知られた方法である。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記リフト
オフ方式を適用した場合には、以下のような問題があっ
た。まず、マスク層材料自体の問題である。マスク層
は、薄膜を形成する工程において250℃〜300℃な
いしはその前後の温度の高温度にさらされるが、材料の
耐熱性が乏しいと基板に溶着して、マスク層を基板から
剥離(リフトオフ)できない。また、溶着しないまで
も、基板とマスク層との材料の組み合わせが不適切な場
合、剥離性が極めて悪く、リフトオフが有効に機能しな
い場合がある。さらに、上記高温度にさらされた場合、
マスク層材料から分解ガスが発生して薄膜自体に悪影響
を与えたり、あるいはその後の処理工程に悪影響を与え
る問題などがある。
オフ方式を適用した場合には、以下のような問題があっ
た。まず、マスク層材料自体の問題である。マスク層
は、薄膜を形成する工程において250℃〜300℃な
いしはその前後の温度の高温度にさらされるが、材料の
耐熱性が乏しいと基板に溶着して、マスク層を基板から
剥離(リフトオフ)できない。また、溶着しないまで
も、基板とマスク層との材料の組み合わせが不適切な場
合、剥離性が極めて悪く、リフトオフが有効に機能しな
い場合がある。さらに、上記高温度にさらされた場合、
マスク層材料から分解ガスが発生して薄膜自体に悪影響
を与えたり、あるいはその後の処理工程に悪影響を与え
る問題などがある。
【0018】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、本発明の課題は、マスク層材
料の耐熱性が高く、かつ、分解ガスの発生がなく、さら
に、基板との剥離性が良好なリフトオフ方式のパターン
状薄膜層の形成方法、ならびに、除去を必要とする薄膜
部を容易にリフトオフ可能な新規のパターン状薄膜層の
形成方法を提供することにある。
るためになされたもので、本発明の課題は、マスク層材
料の耐熱性が高く、かつ、分解ガスの発生がなく、さら
に、基板との剥離性が良好なリフトオフ方式のパターン
状薄膜層の形成方法、ならびに、除去を必要とする薄膜
部を容易にリフトオフ可能な新規のパターン状薄膜層の
形成方法を提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め、請求項1の発明は、リフトオフ方式において、基板
の材料をポリアミドとし、前記マスク層の材料をポリア
ミドイミド、又はポリイミド、もしくはポリベンゾイミ
ダゾールとすることとする。また請求項2の発明では、
基板の材料をポリイミドとし、前記マスク層の材料をポ
リアミドイミド、又はポリベンゾイミダゾールとするこ
ととする。これにより、マスク層材料の耐熱性は高く、
分解ガスの発生もなく、さらに、基板との剥離性が良好
なパターン状薄膜層の形成方法を提供することができ
る。
め、請求項1の発明は、リフトオフ方式において、基板
の材料をポリアミドとし、前記マスク層の材料をポリア
ミドイミド、又はポリイミド、もしくはポリベンゾイミ
ダゾールとすることとする。また請求項2の発明では、
基板の材料をポリイミドとし、前記マスク層の材料をポ
リアミドイミド、又はポリベンゾイミダゾールとするこ
ととする。これにより、マスク層材料の耐熱性は高く、
分解ガスの発生もなく、さらに、基板との剥離性が良好
なパターン状薄膜層の形成方法を提供することができ
る。
【0020】請求項3の発明は、新規のパターン状薄膜
層の形成方法を提供するもので、電気絶縁性フィルム基
板上に、第1のマスク層および第2のマスク層を順次積
層した所定パターンの2層構造のマスク層を形成した
後、前記基板および第2のマスク層の両面上にまたがっ
て所定パターンの薄膜層を形成し、前記第2のマスク層
を前記第1のマスク層との界面から剥離することによ
り、第2のマスク層上の薄膜層を第2のマスク層と共に
除去して所望パターンの薄膜層を形成することとする。
また請求項4の発明では、基板の材料をポリアミド又は
ポリアミドイミドとし、第1のマスク層の材料をシリコ
ン系樹脂とし、第2のマスク層の材料をポリイミドとす
ることとする。これにより、除去を必要とする薄膜部を
第2のマスク層と共に容易に除去して所望パターンの薄
膜層を形成することができる。
層の形成方法を提供するもので、電気絶縁性フィルム基
板上に、第1のマスク層および第2のマスク層を順次積
層した所定パターンの2層構造のマスク層を形成した
後、前記基板および第2のマスク層の両面上にまたがっ
て所定パターンの薄膜層を形成し、前記第2のマスク層
を前記第1のマスク層との界面から剥離することによ
り、第2のマスク層上の薄膜層を第2のマスク層と共に
除去して所望パターンの薄膜層を形成することとする。
また請求項4の発明では、基板の材料をポリアミド又は
ポリアミドイミドとし、第1のマスク層の材料をシリコ
ン系樹脂とし、第2のマスク層の材料をポリイミドとす
ることとする。これにより、除去を必要とする薄膜部を
第2のマスク層と共に容易に除去して所望パターンの薄
膜層を形成することができる。
【0021】請求項5の発明は、比較的大面積の薄膜層
を形成するのに好適な方法を提供することを目的とする
もので、リフトオフ用のマスク層の内部に、金属または
耐熱性に優れた樹脂等からなる骨組み部材を備えること
とする。これにより、マスク層の引っ張り強度、曲げ強
度が向上し、大面積のマスク層および除去すべき薄膜層
を一括剥離する際、強度が弱くて一部が切断する問題が
解消する。
を形成するのに好適な方法を提供することを目的とする
もので、リフトオフ用のマスク層の内部に、金属または
耐熱性に優れた樹脂等からなる骨組み部材を備えること
とする。これにより、マスク層の引っ張り強度、曲げ強
度が向上し、大面積のマスク層および除去すべき薄膜層
を一括剥離する際、強度が弱くて一部が切断する問題が
解消する。
【0022】請求項6の発明は、薄膜層を、光電変換装
置用の薄膜層とするもので、請求項1ないし請求項5の
発明を適用することにより、従来のレーザ加工法による
パターニンの問題点を解消した、好適な光電変換装置用
の薄膜層を、容易に得ることが可能となる。
置用の薄膜層とするもので、請求項1ないし請求項5の
発明を適用することにより、従来のレーザ加工法による
パターニンの問題点を解消した、好適な光電変換装置用
の薄膜層を、容易に得ることが可能となる。
【0023】
【発明の実施の形態】図面に基づき、本発明の実施の形
態について以下にのべる。
態について以下にのべる。
【0024】図1は、請求項1,2および6の発明の実
施の形態を説明するために、光電変換装置を一部概念的
に示した図である。図1により、実施例を述べる。厚さ
50μmの電気絶縁性フィルム基板1上に、スクリーン
印刷法(版:ステンレスメッシュ#200)を用いて、
所定パターンのリフトオフ用のマスク層5を形成する。
フィルム基板1の材料としては、ポリアミドを使用し、
マスク層5の材料としては、ポリアミドイミド(ガラス
転移点300℃)を使用する。マスク層塗布後、90℃
〜100℃の恒温槽内にて3分、140℃の恒温槽内に
て2分乾燥する。マスク層の厚さは、8〜10μmであ
る。
施の形態を説明するために、光電変換装置を一部概念的
に示した図である。図1により、実施例を述べる。厚さ
50μmの電気絶縁性フィルム基板1上に、スクリーン
印刷法(版:ステンレスメッシュ#200)を用いて、
所定パターンのリフトオフ用のマスク層5を形成する。
フィルム基板1の材料としては、ポリアミドを使用し、
マスク層5の材料としては、ポリアミドイミド(ガラス
転移点300℃)を使用する。マスク層塗布後、90℃
〜100℃の恒温槽内にて3分、140℃の恒温槽内に
て2分乾燥する。マスク層の厚さは、8〜10μmであ
る。
【0025】フィルム基板1とマスク層5の両面上にま
たがって全面にまたは部分的に、所定パターンの薄膜層
である第1電極層2と光電変換層3および第2電極層4
を積層して形成する。その後、前記マスク層を前記基板
との界面から剥離することにより、マスク層上の薄膜層
をマスク層と共に除去して所望パターンの薄膜層を形成
する。マスク層の基板からの剥離は、例えば、以下のよ
うに行う。粘着性フィルムを薄膜層上面に貼り付け、こ
の粘着性フィルムを機械的に引き剥がすことにより、薄
膜層およびマスク層を除去する。この場合、マスク層は
基板から容易に剥離するが、第1電極層2とフィルム基
板1との密着性は良いのでこの部分は剥離せず、フィル
ム基板上に残留し、所定のパターンの一部を形成するこ
ととなる。例えば、図4(b)においてg3の部分は、
マスク層とともに剥離した部分に該当し、g3の左右の
部分は、パターンの一部として、残留する部分に該当す
る。このようにして、良好なパターン状薄膜層を形成す
ることができる。
たがって全面にまたは部分的に、所定パターンの薄膜層
である第1電極層2と光電変換層3および第2電極層4
を積層して形成する。その後、前記マスク層を前記基板
との界面から剥離することにより、マスク層上の薄膜層
をマスク層と共に除去して所望パターンの薄膜層を形成
する。マスク層の基板からの剥離は、例えば、以下のよ
うに行う。粘着性フィルムを薄膜層上面に貼り付け、こ
の粘着性フィルムを機械的に引き剥がすことにより、薄
膜層およびマスク層を除去する。この場合、マスク層は
基板から容易に剥離するが、第1電極層2とフィルム基
板1との密着性は良いのでこの部分は剥離せず、フィル
ム基板上に残留し、所定のパターンの一部を形成するこ
ととなる。例えば、図4(b)においてg3の部分は、
マスク層とともに剥離した部分に該当し、g3の左右の
部分は、パターンの一部として、残留する部分に該当す
る。このようにして、良好なパターン状薄膜層を形成す
ることができる。
【0026】表1は、マスク材料の剥離性に関して、基
礎的に実験して評価した一例を示す。前述の耐熱性は、
剥離し易いか否かで定性的に同時に評価している。
礎的に実験して評価した一例を示す。前述の耐熱性は、
剥離し易いか否かで定性的に同時に評価している。
【0027】
【表1】 マスク層材料の剥離性(および耐熱性)を評価する方法
として、ポリアミド基板上に、3種類のマスク層を形成
し、その上に、電極層である銀層を積層し、粘着テープ
による剥離試験を行った。マスク層材料としては、シリ
コン系樹脂とガラス転移点が260℃、300℃のポリ
アミドイミド系樹脂1および2の3種類を用いた。これ
らを基板上に塗布し、70℃の恒温槽内で3分、その後
120℃の恒温槽内で3分乾燥した。その後、マスク層
上に、Ag層を100nm積層し、これを試料とした。
この試料を表1に示すように、加熱温度を250〜30
0℃、加熱時間を5〜30分の範囲で変化させ、耐熱性
および剥離性を比較した。その結果を表1に示す。
として、ポリアミド基板上に、3種類のマスク層を形成
し、その上に、電極層である銀層を積層し、粘着テープ
による剥離試験を行った。マスク層材料としては、シリ
コン系樹脂とガラス転移点が260℃、300℃のポリ
アミドイミド系樹脂1および2の3種類を用いた。これ
らを基板上に塗布し、70℃の恒温槽内で3分、その後
120℃の恒温槽内で3分乾燥した。その後、マスク層
上に、Ag層を100nm積層し、これを試料とした。
この試料を表1に示すように、加熱温度を250〜30
0℃、加熱時間を5〜30分の範囲で変化させ、耐熱性
および剥離性を比較した。その結果を表1に示す。
【0028】表1から明らかなように、ポリアミドイミ
ド系樹脂では、ガラス転移点300℃の試料が最も剥離
性が良好であった。次いで、ガラス転移点260℃のポ
リアミドイミド系樹脂の剥離性が良好であったが、加熱
条件が高温度になる程、剥離性は低下する。シリコン系
樹脂の場合、250℃以上の加熱において、剥離性は低
下し、剥離残さも多く見られた。
ド系樹脂では、ガラス転移点300℃の試料が最も剥離
性が良好であった。次いで、ガラス転移点260℃のポ
リアミドイミド系樹脂の剥離性が良好であったが、加熱
条件が高温度になる程、剥離性は低下する。シリコン系
樹脂の場合、250℃以上の加熱において、剥離性は低
下し、剥離残さも多く見られた。
【0029】発明者らの実験の結果によれば、基板の材
料をポリアミドとし、マスク層の材料をポリアミドイミ
ド、又はポリイミド、もしくはポリベンゾイミダゾール
とすること、さらに、基板の材料をポリイミドとし、マ
スク層の材料をポリアミドイミド、又はポリベンゾイミ
ダゾールとすることにより、マスク層材料の耐熱性は高
く、基板との剥離性が良好であることが確認されてい
る。
料をポリアミドとし、マスク層の材料をポリアミドイミ
ド、又はポリイミド、もしくはポリベンゾイミダゾール
とすること、さらに、基板の材料をポリイミドとし、マ
スク層の材料をポリアミドイミド、又はポリベンゾイミ
ダゾールとすることにより、マスク層材料の耐熱性は高
く、基板との剥離性が良好であることが確認されてい
る。
【0030】但し、基板の材料をポリアミドとし、マス
ク層の材料をポリイミドとした場合には、最も耐熱性に
優れ、発生ガス量も少ないが、300℃以上に加熱する
と、基板との密着性が増し、マスクの剥離性が低下す
る。また、基板の材料をポリアミドとし、マスク層の材
料をポリベンゾイミダゾールとした場合には、250℃
〜300℃付近で薄膜層を成膜した時に、マスク層の剥
離性が若干低下する。
ク層の材料をポリイミドとした場合には、最も耐熱性に
優れ、発生ガス量も少ないが、300℃以上に加熱する
と、基板との密着性が増し、マスクの剥離性が低下す
る。また、基板の材料をポリアミドとし、マスク層の材
料をポリベンゾイミダゾールとした場合には、250℃
〜300℃付近で薄膜層を成膜した時に、マスク層の剥
離性が若干低下する。
【0031】図2ならびに図3は、請求項3,4および
6ならびに請求項5および6の発明の実施の形態を説明
するために、図1と同様に、光電変換装置を一部概念的
に示した図である。図1と同じ部材には同一番号を付し
て説明を省略する。
6ならびに請求項5および6の発明の実施の形態を説明
するために、図1と同様に、光電変換装置を一部概念的
に示した図である。図1と同じ部材には同一番号を付し
て説明を省略する。
【0032】図2と図1の実施例における相違は、マス
ク層の形成方法が異なるのみで、他は同一である。図2
において、基板の材料はポリアミドとし、まず、第1の
マスク層として、シリコン系樹脂層2〜3μmをパター
ン印刷により形成し、90℃〜100℃の恒温槽内にて
3分加熱乾燥する。この第1のマスク層上に、同じ版を
用いて、ポリイミドからなる第2のマスク層を印刷し、
90℃〜100℃の恒温槽内にて3分、140℃の恒温
槽内にて2分乾燥する。第2のマスク層の厚さは8〜1
0μmである。
ク層の形成方法が異なるのみで、他は同一である。図2
において、基板の材料はポリアミドとし、まず、第1の
マスク層として、シリコン系樹脂層2〜3μmをパター
ン印刷により形成し、90℃〜100℃の恒温槽内にて
3分加熱乾燥する。この第1のマスク層上に、同じ版を
用いて、ポリイミドからなる第2のマスク層を印刷し、
90℃〜100℃の恒温槽内にて3分、140℃の恒温
槽内にて2分乾燥する。第2のマスク層の厚さは8〜1
0μmである。
【0033】基板および第2のマスク層の両面上にまた
がって全面にまたは部分的に、所定パターンの薄膜層を
形成し、第2のマスク層を前述と同様の方法により第1
のマスク層との界面から剥離することにより、第2のマ
スク層上の薄膜層を第2のマスク層と共に除去して所望
パターンの薄膜層を形成することができる。この場合、
第1のマスク層および第1電極層2は、基板との密着が
よく残留する。
がって全面にまたは部分的に、所定パターンの薄膜層を
形成し、第2のマスク層を前述と同様の方法により第1
のマスク層との界面から剥離することにより、第2のマ
スク層上の薄膜層を第2のマスク層と共に除去して所望
パターンの薄膜層を形成することができる。この場合、
第1のマスク層および第1電極層2は、基板との密着が
よく残留する。
【0034】上記の説明では、基板の材料をポリアミド
としたが、基板の材料をポリアミドイミドとしても同様
に良好なパターン形成ができる。この方法は、剥離し易
いマスク層材料同志の組み合わせであって、その内の一
方が基板と密着性がよいような材料を選定すればよく、
この発明の目的の範囲内で、様々な材料の組み合わせを
採用し得る。
としたが、基板の材料をポリアミドイミドとしても同様
に良好なパターン形成ができる。この方法は、剥離し易
いマスク層材料同志の組み合わせであって、その内の一
方が基板と密着性がよいような材料を選定すればよく、
この発明の目的の範囲内で、様々な材料の組み合わせを
採用し得る。
【0035】次に、図3について述べる。図3と図1の
実施例における相違は、図3のマスク層51が、その内
部に骨組み部材8を有する点で異なるのみで、他は同一
である。例えば、ステンレスチールワイヤの骨組み部材
がマスク層内に埋設されるようにマスク層51を形成す
る。マスク層厚さは20μm、骨組み部材の直径は、1
0〜15μmである。これにより、マスク層の引っ張り
強度、曲げ強度が向上し、大面積のマスク層および除去
すべき薄膜層を一括剥離する際、一部が切断する問題が
解消する。この方法は、大面積の光電変換装置用薄膜層
の形成に好適である。骨組み部材8の材料としては、金
属ワイヤ以外にグラスファイバーや高強度かつ高耐熱性
の樹脂なども採用し得る。
実施例における相違は、図3のマスク層51が、その内
部に骨組み部材8を有する点で異なるのみで、他は同一
である。例えば、ステンレスチールワイヤの骨組み部材
がマスク層内に埋設されるようにマスク層51を形成す
る。マスク層厚さは20μm、骨組み部材の直径は、1
0〜15μmである。これにより、マスク層の引っ張り
強度、曲げ強度が向上し、大面積のマスク層および除去
すべき薄膜層を一括剥離する際、一部が切断する問題が
解消する。この方法は、大面積の光電変換装置用薄膜層
の形成に好適である。骨組み部材8の材料としては、金
属ワイヤ以外にグラスファイバーや高強度かつ高耐熱性
の樹脂なども採用し得る。
【0036】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、リフトオフ方
式において、基板の材料をポリアミドとし、前記マスク
層の材料をポリアミドイミド、又はポリイミド、もしく
はポリベンゾイミダゾールとすることとした。また請求
項2の発明によれば、基板の材料をポリイミドとし、前
記マスク層の材料をポリアミドイミド、又はポリベンゾ
イミダゾールとすることとした。これにより、マスク層
材料の耐熱性は高く、分解ガスの発生もなく、さらに、
基板との剥離性が良好なパターン状薄膜層の形成方法を
提供することができる。
式において、基板の材料をポリアミドとし、前記マスク
層の材料をポリアミドイミド、又はポリイミド、もしく
はポリベンゾイミダゾールとすることとした。また請求
項2の発明によれば、基板の材料をポリイミドとし、前
記マスク層の材料をポリアミドイミド、又はポリベンゾ
イミダゾールとすることとした。これにより、マスク層
材料の耐熱性は高く、分解ガスの発生もなく、さらに、
基板との剥離性が良好なパターン状薄膜層の形成方法を
提供することができる。
【0037】請求項3の発明によれば、電気絶縁性フィ
ルム基板上に、第1のマスク層および第2のマスク層を
順次積層した所定パターンの2層構造のマスク層を形成
した後、前記基板および第2のマスク層の両面上にまた
がって全面にまたは部分的に、所定パターンの薄膜層を
形成し、前記第2のマスク層を前記第1のマスク層との
界面から剥離することにより、第2のマスク層上の薄膜
層を第2のマスク層と共に除去して所望パターンの薄膜
層を形成することとし、また請求項4の発明によれば、
基板の材料をポリアミド又はポリアミドイミドとし、第
1のマスク層の材料をシリコン系樹脂とし、第2のマス
ク層の材料をポリイミドとすることとした。これによ
り、除去を必要とする薄膜部を第2のマスク層と共に容
易に除去して所望パターンの薄膜層を容易に形成するこ
とができる。
ルム基板上に、第1のマスク層および第2のマスク層を
順次積層した所定パターンの2層構造のマスク層を形成
した後、前記基板および第2のマスク層の両面上にまた
がって全面にまたは部分的に、所定パターンの薄膜層を
形成し、前記第2のマスク層を前記第1のマスク層との
界面から剥離することにより、第2のマスク層上の薄膜
層を第2のマスク層と共に除去して所望パターンの薄膜
層を形成することとし、また請求項4の発明によれば、
基板の材料をポリアミド又はポリアミドイミドとし、第
1のマスク層の材料をシリコン系樹脂とし、第2のマス
ク層の材料をポリイミドとすることとした。これによ
り、除去を必要とする薄膜部を第2のマスク層と共に容
易に除去して所望パターンの薄膜層を容易に形成するこ
とができる。
【0038】請求項5の発明によれば、リフトオフ用の
マスク層の内部に、金属または耐熱性に優れた樹脂等か
らなる骨組み部材を備えることとした。これにより、除
去すべき薄膜層を一括剥離する際、強度が弱くて一部が
切断する問題が解消し、比較的大面積の薄膜層を形成す
るのに好適な方法を提供することができる。
マスク層の内部に、金属または耐熱性に優れた樹脂等か
らなる骨組み部材を備えることとした。これにより、除
去すべき薄膜層を一括剥離する際、強度が弱くて一部が
切断する問題が解消し、比較的大面積の薄膜層を形成す
るのに好適な方法を提供することができる。
【0039】請求項6の発明によれば、請求項1ないし
請求項5の発明を光電変換装置用の薄膜層に適用するこ
とにより、従来のレーザ加工法により一部の薄膜がダメ
ージをうけるパターニングの問題点を解消した、好適な
光電変換装置用の薄膜層形成方法を提供することができ
る。
請求項5の発明を光電変換装置用の薄膜層に適用するこ
とにより、従来のレーザ加工法により一部の薄膜がダメ
ージをうけるパターニングの問題点を解消した、好適な
光電変換装置用の薄膜層形成方法を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1,2および6の発明の実施の形態を説
明するために、光電変換装置を一部概念的に示した図で
ある。
明するために、光電変換装置を一部概念的に示した図で
ある。
【図2】請求項3,4および6の発明の実施の形態を説
明するために、光電変換装置を一部概念的に示した図で
ある。
明するために、光電変換装置を一部概念的に示した図で
ある。
【図3】請求項5および6の発明の実施の形態を説明す
るために、光電変換装置を一部概念的に示した図であ
る。
るために、光電変換装置を一部概念的に示した図であ
る。
【図4】薄膜太陽電池の一例を示す図である。
1:フィルム基板、2:第1電極層、3:光電変換層、
4:第2電極層、5,51:マスク層、6:第1のマス
ク層、7:第2のマスク層、8:骨組み部材。
4:第2電極層、5,51:マスク層、6:第1のマス
ク層、7:第2のマスク層、8:骨組み部材。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 浩 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 (72)発明者 堀 弥一郎 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 Fターム(参考) 5F051 CB30 EA02 EA14 EA20 GA03 GA05
Claims (6)
- 【請求項1】 電気絶縁性フィルム基板上に、所定パタ
ーンのリフトオフ用マスク層を形成した後、前記基板お
よびマスク層の両面上にまたがって所定パターンの薄膜
層を形成し、前記マスク層を前記基板との界面から剥離
することにより、マスク層上の薄膜層をマスク層と共に
除去して所望パターンの薄膜層を形成するパターン状薄
膜層の形成方法において、前記基板の材料をポリアミド
とし、前記マスク層の材料をポリアミドイミド、又はポ
リイミド、もしくはポリベンゾイミダゾールとすること
を特徴とするパターン状薄膜層の形成方法。 - 【請求項2】 電気絶縁性フィルム基板上に、所定パタ
ーンのリフトオフ用マスク層を形成した後、前記基板お
よびマスク層の両面上にまたがって所定パターンの薄膜
層を形成し、前記マスク層を前記基板との界面から剥離
することにより、マスク層上の薄膜層をマスク層と共に
除去して所望パターンの薄膜層を形成するパターン状薄
膜層の形成方法において、前記基板の材料をポリイミド
とし、前記マスク層の材料をポリアミドイミド、又はポ
リベンゾイミダゾールとすることを特徴とするパターン
状薄膜層の形成方法。 - 【請求項3】 電気絶縁性フィルム基板上に、第1のマ
スク層および第2のマスク層を順次積層した所定パター
ンの2層構造のマスク層を形成した後、前記基板および
第2のマスク層の両面上にまたがって所定パターンの薄
膜層を形成し、前記第2のマスク層を前記第1のマスク
層との界面から剥離することにより、第2のマスク層上
の薄膜層を第2のマスク層と共に除去して所望パターン
の薄膜層を形成することを特徴とするパターン状薄膜層
の形成方法。 - 【請求項4】 請求項3記載の方法において、基板の材
料をポリアミド又はポリアミドイミドとし、第1のマス
ク層の材料をシリコン系樹脂とし、第2のマスク層の材
料をポリイミドとすることを特徴とするパターン状薄膜
層の形成方法。 - 【請求項5】 電気絶縁性フィルム基板上に、所定パタ
ーンのリフトオフ用マスク層を形成した後、前記基板お
よびマスク層の両面上にまたがって所定パターンの薄膜
層を形成し、前記マスク層を前記基板との界面から剥離
することにより、マスク層上の薄膜層をマスク層と共に
除去して所望パターンの薄膜層を形成するパターン状薄
膜層の形成方法において、前記マスク層はその内部に、
骨組み部材を備えることを特徴とするパターン状薄膜層
の形成方法。 - 【請求項6】 請求項1ないし5記載のいずれかの方法
において、薄膜層は、光電変換層及び電極層を備えた光
電変換素子が複数直列接続されてなる光電変換装置用の
薄膜層であることを特徴とするパターン状薄膜層の形成
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10330891A JP2000156515A (ja) | 1998-11-20 | 1998-11-20 | パターン状薄膜層の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10330891A JP2000156515A (ja) | 1998-11-20 | 1998-11-20 | パターン状薄膜層の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000156515A true JP2000156515A (ja) | 2000-06-06 |
Family
ID=18237669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10330891A Pending JP2000156515A (ja) | 1998-11-20 | 1998-11-20 | パターン状薄膜層の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000156515A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001127318A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | パターン状薄膜層の形成方法 |
-
1998
- 1998-11-20 JP JP10330891A patent/JP2000156515A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001127318A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | パターン状薄膜層の形成方法 |
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