JP2000150805A - 半導体集積回路装置及びその信号伝送回路 - Google Patents

半導体集積回路装置及びその信号伝送回路

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JP2000150805A JP11319635A JP31963599A JP2000150805A JP 2000150805 A JP2000150805 A JP 2000150805A JP 11319635 A JP11319635 A JP 11319635A JP 31963599 A JP31963599 A JP 31963599A JP 2000150805 A JP2000150805 A JP 2000150805A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】負荷調節部を持つ半導体集積回路装置の信号伝
送回路を提供する。 【解決手段】本発明による信号伝送回路の信号伝送線1
1nには負荷調節部13が接続されており、負荷調節部
13により信号伝送回路の伝送時間及びキャパシタンス
が調節される。負荷調節部は、ヒューズ13a、伝送ト
ランジスタ13b及びキャパシタ13cを備える。ヒュ
ーズ13aは、信号伝送線11nに接続され、伝送トラ
ンジスタ13bは、制御信号CONTに応答してターン
オンされる。キャパシタ13cは、内部または外部電圧
端子VSSと伝送トランジスタ13bとの間に形成され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路装置
及びその信号伝送回路に関する。
【0002】
【従来の技術】多くの半導体装置は、信号伝送回路を用
いる。信号伝送回路を用いる代表的な回路として遅延同
期ループが挙げられる。ここでは、一例として、遅延同
期ループについて、信号伝送回路及び伝送時間制御の必
要性を検討する。最近の汎用の複合メモリ装置(MM
L:Merged Memory with Logi
c)、ラムバスDRAM(RDRAM:Rambus
DRAM)、ダブルデータレートシンクロナスDRAM
(DDR:Double Data Rate Syn
chronous DRAM)等は、外部から入力され
る基準クロック信号に同期して動作する。
【0003】遅延同期ループは、基準クロック信号を受
け取って、内部クロック信号を生成する。内部クロック
信号は基準クロック信号に位相が合わせられ、半導体メ
モリ装置の内部回路は内部クロック信号を基準にして動
作する。すなわち、遅延同期ループの最終端から出力さ
れる内部クロック信号は、半導体メモリ装置の全体に分
配されて、回路動作に必要とされるクロック信号が提供
される。
【0004】しかしながら、遅延同期ループからの出力
信号は、集積回路上の様々な回路に提供されるため、極
めて大きい出力負荷を駆動する必要がる。かかる大きい
出力負荷が原因で、遅延同期ループは一回の駆動だけで
も多量の電力を消耗する場合がある。このため、MM
L、RDRAM、DDRなどの集積回路は、余計な電力
消耗を抑えるために、集積回路の動作に応じて遅延同期
ループの動作モードを分類し、各モードに応じた出力信
号を選択的に提供する。また、場合によっては、遅延同
期ループの全ての出力信号が提供される状況もある。こ
のとき、集積回路の各内部回路が正確に動作するには、
入力信号として作用する遅延同期ループからの複数の出
力信号の間で位相が正確に一致する必要がある。遅延同
期ループからの複数の出力信号の間で位相が正確に一致
しない限り、集積回路の正確な制御ができない。その結
果、集積回路全体としての動作速度が顕著に低下した
り、誤動作が発生したりする。
【0005】これを防止するために、遅延同期ループの
中には、伝送時間を調節可能な信号伝送回路を含ものが
ある。図1は、従来の信号伝送回路を示す図面であっ
て、この信号伝送回路は、ヒューズ(F)を用い、入力
信号S1に対する出力信号S2の伝送時間を短縮させる
ことができる。図2は、図1の信号伝送回路の動作を説
明するための図面である。時刻t=0で、入力信号S1
が“L”レベルから“H”レベルに立ち上がると、時刻
t=0からキャパシタCに蓄積された電荷の放電が始ま
る。しかし、出力信号S2は暫く“L”レベルを維持し
続ける。そして、時刻t=Tdで、キャパシタノードn
1の電圧がトランジスタG2のしきい値電圧まで降下す
ると、出力信号S2は“H”レベルとなる。このため、
出力信号S2は、入力信号S1がTdだけ遅延した信号
となる。ここで、図1のヒューズを切断すると、キャパ
シタノードn1ではキャパシタC成分の影響がないた
め、伝送時間Tdが短縮される。しかし、従来の信号伝
送回路は、回路設計の際に決定された伝送時間を短縮す
ることしかできない。そのため、従来の信号伝送回路
は、伝送時間を延ばすことができず、伝送時間の正確な
制御ができないという問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記事情に鑑
みて成されたものであり、その目的は、例えば、使用者
による信号伝送時間のより正確な制御を可能にすること
である。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、信号伝送線を介して所定の信号を伝送す
る半導体集積回路装置及びその信号伝送回路を提供す
る。
【0008】本発明の好適な実施の形態によると、前記
信号伝送回路は、前記信号伝送線に接続された少なくと
も1つの負荷調節部を備える。前記負荷調節部は、キャ
パシタと、互いに直列に接続された伝送部及びヒューズ
であって所定の制御信号に応答して前記信号伝送線に前
記キャパシタを接続させる前記伝送部と、前記半導体集
積回路装置に印加される電源電圧に応答するパワーアッ
プ感知信号を生成するパワー−アップ感知信号生成回路
及び前記パワー−アップ感知信号に応答して前記制御信
号を生成するプログラマブル部を含む制御信号生成回路
とを備える。
【0009】本発明の半導体集積回路装置及びその信号
伝送回路によると、例えば、入力信号に対する出力信号
の伝送時間を使用者がより正確に制御することができ
る。
【0010】さらに、本発明の好適な実施の形態に係る
マルチ伝送信号生成回路によると、例えば、多数個の伝
送信号について、スキューの影響を排除することができ
る。
【0011】さらに、本発明の信号伝送回路の信号線の
キャパシタンスは、使用者により正確に制御され得る。
【0012】さらに、本発明によれば、半導体製造工程
に関して設計を変更することなく、ヒューズの切断また
はパッケージ以降のテスト状態でも信号線のキャパシタ
ンスが調節することができるため、伝送時間の短縮及び
延長が簡単であり、また、製造工数を短縮することがで
きる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら本
発明の好適な実施の形態を説明する。
【0014】図3は、本発明の第1の実施の形態による
信号伝送回路を示す図面である。
【0015】図3に示すように、本発明の好適な実施の
形態に係る信号伝送回路10は、信号伝達部11及び負
荷調節部13を備える。
【0016】信号伝送回路10は、例えば、半導体集積
回路装置にその内部回路として組み込まれる。信号伝達
部11は、第1端11aに入力される入力信号S1を遅
延経路11nを通して出力信号S2として出力する。出
力信号S2は、入力信号S1に対して、所定の遅延時間
Tdだけ遅延する。信号伝達部11の第1端11a及び
第2端11bは、例えばインバータで構成することがで
きる。
【0017】他の適用例を挙げると、この信号伝送回路
は、半導体集積回路装置の外部から入力される外部入力
信号S1を第1端(入力パッド)で受信し、所定の遅延
経路11nを通してその入力信号S1を第2端(入力回
路)に伝送し内部入力信号S2として出力しても良い。
さらに他の適用例を挙げると、この信号伝送回路は、半
導体集積回路装置の内部で生成される内部信号S1を第
1端(出力回路)で受信し、所定の遅延経路11nを通
して第2端(出力パッド)に伝送し外部信号S2として
出力しても良い。また、このほか、信号伝達部11が各
種の形態に変形可能なことは当業者にとって自明であ
る。
【0018】負荷調節部13は、信号伝達部11の遅延
経路11nに接続されて、遅延時間Tdを制御する。負
荷調節部13は、具体的には、ヒューズ13a、伝送ト
ランジスタ13b及びキャパシタ13cを備える。
【0019】ヒューズ13aは、その一端が信号伝達部
11の遅延経路11nに接続される。また、ヒューズ1
3aは、パッケージ状態でも使用者により切断可能なこ
とから、製造過程が容易に短縮される。
【0020】伝送トランジスタ13bは、制御信号CO
NTに応答してターンオンされ、ヒューズ13aの他端
13mの信号を伝送する。好ましくは、伝送トランジス
タ13bは、CMOSトランジスタで構成することがで
きるが、NMOSまたはPMOSトランジスタだけで構
成することもできる。また、制御信号CONTは、内部
回路で生成してもよいし、外部から印加してもよい。
【0021】キャパシタ13cは、外部電圧端子と伝送
トランジスタ13bの一端13nとの間に形成される。
好ましくは、キャパシタ13cは、MOSトランジスタ
で構成される。
【0022】キャパシタ13cは、図3に示されたよう
に、ゲート端子が伝送トランジスタ13bの一端13n
に接続され、ソース/ドレイン端子が接地電圧VSSに
共通に接続されるNMOSトランジスタで構成すること
ができる。
【0023】また、キャパシタ13cは、ゲート端子が
伝送トランジスタ13bの一端13nに接続され、ソー
ス/ドレイン端子が電源電圧VCCに共通に接続される
PMOSトランジスタで構成することもできる。
【0024】図3に示された、本発明の第1実施の形態
による信号伝送回路10は、ヒューズ13aの開閉及び
制御信号CONTの活性/非活性に応じて、遅延経路1
1nの負荷が減少または増加する。換言すると、ヒュー
ズ13aの開閉及び制御信号CONTの活性/非活性に
応じて、信号伝達部11の遅延時間Tdが延長または短
縮される。
【0025】特に、RDRAMに代表される超高速で動
作する製品においては、信号間の僅かなスキューが製品
全体としての誤動作を引き起こす場合がある。この観点
から、本発明の好適な実施の形態によると、図1に示さ
れた従来技術による、ヒューズだけでの負荷調節よりも
信号の伝送時間の調節がさらに容易になる。
【0026】好ましくは、信号伝送回路10は、制御信
号CONTを生成する制御信号生成部15をさらに備え
る。ここで、図3に示す回路からヒューズを削除した負
荷調節部を持つ信号伝送回路も、構成が単純であるとい
う観点等で、有用である。
【0027】図3において、信号伝達部11の他の適用
例では、第1端11aが半導体集積回路装置の外部から
入力される信号S1を受け取るパッドとして構成され、
第2端11bがその信号S1を所定の伝送経路11nを
通して伝送する入力回路として構成される。
【0028】この場合において、パッドには、例えば、
データ入力信号、アドレス信号、クロック信号、指令信
号(COMMAND)などの信号が印加され得る。ここ
で、メモリ装置の各アドレス(Ai)ピンがもつキャパ
シタンスの差は、設計上は0に設定されるが、製造過程
における工程の変化等が原因で、各ピンがもつキャパシ
タンスに違いが生じる場合がある。また、このキャパシ
タンスの違いは、接続されたメモリデバイスが多いほど
大きくなる。その結果、各メモリデバイスのアドレス
(Ai)ピン間の動作速度にばらつきが生じ得る。
【0029】図3に示されたように、本発明の好適な実
施の形態によると、各メモリデバイスのアドレス(A
i)ピンラインがもつキャパシタンスは、ヒューズの切
断、制御信号の活性化などの操作を通じて、使用者によ
り調節され得る。 図3における信号伝達部11のさら
に他の適用例では、第1端11aには半導体集積回路装
置の出力回路からの内部信号S1が入力され、その信号
が所定の伝送経路11nを通って第2端11bとしての
パッドを介して信号S2として外部に出力される。この
場合において、パッドは、データを出力するために使用
される。
【0030】図4は、図3の制御信号生成部15の具体
的な構成例を占めず図である。同図を参照すると、制御
信号CONTの活性/非活性は、イネーブルヒューズ1
9の開閉により決定される。イネーブルヒューズ19が
切断されていない場合は、制御信号CONTは、NMO
Sトランジスタ18に印加されるパワーアップ感知信号
PWUPの活性化により“H”レベルに活性化される。
パワーアップ感知信号PWUPは、パワー(電源電圧)
がターンオンされるとき、パワーアップ感知信号生成回
路14により生成されるパルス信号である。制御信号C
ONTを生成する回路は、多種多様に変形可能なことは
当業者にとって自明である。
【0031】図5Aは、図3の制御信号生成部15の他
の具体的な構成例を示す図である。同図を参照すると、
制御信号生成部15’は、制御レジスタ16及びパワー
アップ感知信号生成回路17を備える。この構成例で
は、制御レジスタ16は、多数の制御アドレス(ADD
R0、ADDR1、ADDR2)を生成する制御アドレ
ス生成部16_1及びプログラマブル部16_2で構成
される。ここでは、説明上の便宜のため、制御アドレス
ADDR0によってのみプログラムされるプログラマブ
ル部16_2の例について述べる。
【0032】図5Bは、図5Aの制御アドレス生成部1
6_1をより具体的に示す図である。同図を参照する
と、制御アドレス生成部16_1は、直列接続された多
数のフリップフロップロジックゲート(F/F)16
a、16b、16cを備える。第1F/F16aは、デ
ータ信号SIOを入力信号とし、クロック信号SCKを
クロック入力として、第1制御アドレスADDR0を出
力信号として生成する。また、第2F/F16bは、第
1F/F16aからの反転出力信号を入力信号とし、ク
ロック信号SCKをクロック入力として、第2制御アド
レスADDR1を出力信号として生成する。また、第3
F/F16cの動作も第2F/F16bの動作に準じて
いる。指令信号CMDは、制御アドレス生成部16_1
をイネーブルさせる信号である。
【0033】パワーアップ感知信号生成回路17は、集
積回路に供給される電源電圧VCCに応答して、パワー
アップ感知信号PWUPを生成する。
【0034】図5Cは、図5Aのプログラマブル部16
_2をより具体的に示す図である。同図を参照すると、
プログラマブル部16_2は、抵抗RESが切断されて
いない状態では、制御アドレスADDR0に応答する制
御信号CONTを生成する。しかし、抵抗RESが切断
された状態では、制御信号CONTは制御アドレスAD
DR0に応答しない。抵抗RESは、例えば、所定の電
流量以上が流れるときに切断される電気的ヒューズで構
成され得る。
【0035】図6は、本発明の第2の実施の形態による
信号伝送回路を示す図であって、この信号伝送回路は、
図3に示された第1の実施の形態の変形例である。この
信号伝送回路20は、信号伝達部21及び負荷調節部2
3を備える。図6の信号伝達部21は、図3の信号伝達
部11と略同一の構成及び機能を有するため、それにつ
いての詳しい説明は省略する。
【0036】また、図6の負荷調節部23及び図3の負
荷調節部13を対比すると、以下のような違いがある。
すなわち、図3の負荷調節部13のキャパシタ13b
は、ソース/ドレイン端子が接地端子VSSまたは電源
端子VCCに共通に接続されている。これに対し、図6
の負荷調節部23のキャパシタ23cは、伝送トランジ
スタ23bの制御を司る制御信号CONT1を生成する
制御信号生成部25からの他の出力信号CONT2がキ
ャパシタ23cを構成するMOSトランジスタのソース
/ドレイン端子に共通に接続されている。
【0037】好ましくは、制御信号生成部25からの出
力信号CONT2は、接地VSSまたは電源電圧VCC
レベルを持つ信号である。キャパシタ23cのキャパシ
タンスは、キャパシタ23cを構成するMOSトランジ
スタのソース/ドレイン端子に印加される電圧レベルに
応じて変化する。このため、使用者は、製造過程以降の
パッケージ段階以前にヒューズを切断することもできる
し、パッケージ段階以降に所定のテスト過程を経て信号
伝送線のキャパシタンスを調節することもできる。その
結果、信号伝送回路20の信号伝送時間Tdが正確に制
御可能となる。
【0038】図7は、本発明の第3の実施の形態による
信号伝送回路を示す図面であって、この信号伝送回路
は、図4の第1の実施の形態の変形例である。ここで、
信号伝送回路31は、信号伝達部31及び負荷調節部3
3を備える。この信号伝達部31は、図7の信号伝達部
11に略同一の構成及び機能を有するため、それについ
ての詳しい説明は省略する。
【0039】また、図7の負荷調節部33及び図3の負
荷調節部13を対比すると、以下のような違いがでてく
る。図3の負荷調節部13は、1つの伝送トランジスタ
13bのみを備える。これに対し、図7の負荷調節部3
3は、直列接続された2つ以上の伝送トランジスタ33
b1、33b2を備える。伝送トランジスタ33b1、
33b2の各ゲートの制御を司る信号CONT1、CO
NT2もそれぞれの制御信号生成部により独立して生成
可能である。ここで、伝送トランジスタ33b1の寸法
(幅W1、長さL1)及び伝送トランジスタ33b2の
寸法(幅W2、長さL2)をそれぞれ異ならしめても良
い。
【0040】負荷調節部33の各伝送トランジスタ33
b1、33b2の制御を司る制御信号CONT1、CO
NT2の活性化は、使用者により各種の段階で制御可能
である。すなわち、パッケージ段階前にヒューズを切断
することもできるし、パッケージ段階後に所定のテスト
過程を経て制御信号CONT1、CONT2を制御する
こともできる。このように、ヒューズの切断または制御
信号の制御を通じて、信号伝送回路30の信号伝送時間
Tdの正確な制御が可能となる。
【0041】伝送トランジスタ33b1、33b2の個
数は、必要に応じて2つ以上の多数個に増やす場合もあ
る。これにより、さらなる遅延時間Tdの調節が可能と
なる。
【0042】図8は、本発明の好適な実施の形態に係る
信号伝送回路を適用したマルチ信号伝送回路を示す図で
ある。ここでは、説明上の便宜のために、図8に示され
たマルチ信号伝送回路100が入力信号INを遅延させ
て多数の伝送信号DCLK1、DCLK2、DCLK3
を生成する例について述べる。3つの伝送信号DCLK
1、DCLK2、DCLK3は、それぞれ3つの回路ブ
ロック103a、103b、103cに入力される信号
である。また、図8に示された信号伝送回路101a、
101b、101cは、図3から図7において説明され
た本発明の好適な実施の形態に係る信号伝送回路のいず
れか1つである。
【0043】このように、1つの入力信号に同期する多
数の伝送信号を生成して用いることにより、電力消耗を
抑えることができる。例えば、A回路ブロック103a
だけを駆動するモードでは、Aブロック制御信号ENA
だけを活性化させ、且つBブロック制御信号ENB及び
Cブロック制御信号ENCは非活性化させる。その結
果、本発明の好適な実施の形態に係るマルチ信号伝送回
路は、動作モードに応じた制御信号を活性化させること
により、電力消耗が格段に低減される。
【0044】また、2つまたは3つの伝送信号を同時に
活性化させるモードが選択される場合において、伝送信
号間には、伝送時間スキューを0に設定しておいたのに
も拘わらず、製造過程における工程の変化が原因で伝送
経路の寄生キャパシタンスの違いができ、その結果伝送
時間スキューが生じうる。かかる伝送時間スキューは、
図3から図7において説明されたように、ヒューズの開
閉、制御信号の活性化/非活性化によって無くすことが
できる。
【0045】図9は、図3に示された本発明の好適な実
施の形態に係る信号伝送回路10を用いる信号伝送時間
の調節方法を示すフローチャートである。最初に目標伝
送時間Ttgを設定し(ステップ203)、信号伝送回
路の実際の伝送時間Trelを測定する(ステップ20
5)。
【0046】続けて、実際の伝送時間Trelと目標伝
送時間Ttgとの比較を行い(ステップ207)、実際
の伝送時間Trelと目標伝送時間Ttgとの差分が許
容範囲から外れているか否かを判断する(ステップ20
9)。
【0047】もし、実際の伝送時間Trelと目標伝送
時間Ttgとの差分が許容範囲以内であれば、調節ヒュ
ーズ1aまたは制御信号CONTを初期の状態に維持す
る。
【0048】これに対し、ステップ209において、実
際の伝送時間Trelと目標伝送時間Ttgとの差分が
許容範囲から外れた場合には、実際の伝送時間Trel
と目標伝送時間Ttgとの大小を比較する(ステップ2
11)。ここで、実際の伝送時間Trelが目標伝送時
間Ttgよりも大であれば、調節ヒューズ13aを切断
して(ステップ213)、信号伝送回路の伝送時間を短
縮させる。また、ステップ211において、実際の伝送
時間Trelが目標伝送時間Ttgよりも小であれば、
制御信号CONTを活性化させて(ステップ215)、
信号伝送回路の伝送時間を延ばす。
【0049】このように、図9に示された本発明の好適
な実施の形態に係る信号伝送時間の調節方法によれば、
調節ヒューズ13aを切断したり、制御信号CONTを
活性化させたりすることにより、実際の伝送時間を目標
伝送時間に一致させることができる。
【0050】図10は、図3に示された本発明の好適な
実施の形態に係る信号伝送回路10を用いる信号伝送線
のキャパシタンス調節方法を示すフローチャートであ
る。最初に目標キャパシタンスCtgを設定し(ステッ
プ303)、信号伝送線の実際のキャパシタンスCre
lを測定する(ステップ305)。
【0051】続けて、実際のキャパシタンスCrelと
目標キャパシタンスCtgとの比較を行い(ステップ3
07)、実際のキャパシタンスCrelと目標キャパシ
タンスCtgとの違いがが許容範囲から外れているか否
かを判断する(ステップ309)。
【0052】もし、実際のキャパシタンスCrelと目
標キャパシタンスCtgとの違いが許容範囲以内であれ
ば、調節ヒューズ13aまたは制御信号CONTを初期
の状態に維持する。
【0053】これに対し、ステップ309において、実
際のキャパシタンスCrelと目標キャパシタンスCt
gとの違いが許容範囲から外れたならば、実際キャパシ
タンスCrelと目標キャパシタンスCtgとの大小を
比較する(ステップ311)。ここで、実際キャパシタ
ンスCrelが目標キャパシタンスCtgよりも大であ
れば、調節ヒューズ13aを切断して(ステップ31
3)、信号伝送線のキャパシタンスを減少させる。ま
た、ステップ311において実際のキャパシタンスCr
elが目標キャパシタンスCtgよりも小であれば、制
御信号CONTを活性化させて(ステップ315)、信
号伝送線のキャパシタンスを増大させる。
【0054】このように、図10に示された本発明の好
適な実施の形態に係る信号伝送線のキャパシタンス調節
方法によれば、調節ヒューズ13aを切断したり、制御
信号CONTを活性化させたりすることにより、実際キ
ャパシタンスを目標キャパシタンスに一致させることが
できる。
【0055】図11は、多数の半導体メモリ装置のパッ
ド信号が単一の信号線で共有される半導体モジュール装
置を示す図であって、この半導体モジュール装置の各半
導体メモリ装置には、上記した本発明の好適な実施の形
態に係る信号伝送回路が適用可能である。ここで、それ
ぞれの半導体メモリ装置のパッド信号は、メモリコント
ローラの入出力信号線に共通に接続されている。かかる
構造を持つ半導体集積回路装置は、メモリコントローラ
の入出力信号線に共通に接続されるメモリデバイスの数
が多いほど、各メモリデバイスのパッド信号(データ入
出力信号、アドレスなどの入力信号、クロック信号な
ど)が持つキャパシタンスは所定値以内に固定される必
要がある。すなわち、同一種類のパッド信号伝送線が持
つキャパシタンスにΔC分の誤差があると仮定すると、
各パッド信号伝送線間におけるキャパシタンスの差は、
メモリコントローラの入出力信号線に接続されたメモリ
デバイスの数をかけた値、すなわちn×ΔCとなる。か
かるキャパシタンスの違いは、例えば、複数のデータ出
力間または各アドレス間に伝送時間の違いをもたらし、
モジュール装置の動作速度を低下させる原因となる。
【0056】ところが、図11に示された各メモリデバ
イスの出力ピン信号DQiラインが持つキャパシタンス
は、ヒューズの切断、制御信号の活性化などを通じて使
用者が調節することができる。このように、出力ピン信
号DQiラインが持つキャパシタンスを調節することに
より、各メモリデバイスのピンライン間で動作速度を一
致させるできる。
【0057】以上述べたように、本発明の好適な実施の
形態に係る信号伝送回路及び信号伝送調節方法による
と、使用者に、入力信号に対する伝送信号の伝送時間を
調節するための新たな選択肢を与えることにより、伝送
時間の正確な制御が可能となる。
【0058】また、本発明の好適な実施の形態に係るマ
ルチ信号伝送回路によると、多数の伝送信号について、
スキューの影響を排除することができる。
【0059】また、本発明の好適な実施の形態による
と、半導体集積回路装置の製造過程にお関して設計を変
更することなく、ヒューズの切断またはパッケージ状態
でのテストモードにより伝送時間の短縮及び延長が可能
なため、製造過程を短縮することができる。
【0060】さらに、本発明の好適な実施の形態に係る
信号伝送回路及び信号伝送線の負荷調節方法によると、
使用者に、伝送線のキャパシタンスを調節するための新
たな選択肢を与えることにより、信号伝送線のキャパシ
タンスを正確に制御することができる。
【0061】また、本発明の好適な実施の形態による
と、半導体集積回路装置の製造過程に関して設計を変更
することなく、ヒューズの切断またはパッケージ状態で
のテストモードにより信号伝送線のキャパシタンスの減
少及び増大が可能なため、メモリデバイスの各ピン間の
動作速度を簡単に一致させることができる。
【0062】本発明は図面に示された実施の形態に基づ
いて説明されたが、これは単なる例示的なものに過ぎ
ず、本技術分野の通常の知識を有する者であれば、これ
らに基づいて種々の変形及び均等な他の実施形式を採用
することが可能なことは言うまでもない。よって、本発
明の真の技術的な保護範囲は、特許請求の範囲の技術的
な思想によって定まるべきである。
【0063】
【発明の効果】本発明によれば、使用者による信号伝送
時間のより正確な制御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の信号伝送回路を示す図である。
【図2】図1の信号伝送回路の伝送時間を説明するため
の図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態による信号伝送回路
を示す図である。
【図4】図3の制御信号生成部を具体的に示す図であ
る。
【図5A】図3の制御信号生成部を具体的に示す他の図
である。
【図5B】図5Aの制御アドレス生成部をより具体的に
示す図である。
【図5C】図5Aのプログラマブル部をより具体的に示
す図である。
【図6】本発明の第2の実施の形態による信号伝送回路
を示す図である。
【図7】本発明の第3の実施の形態による信号伝送回路
を示す図である。
【図8】本発明の信号伝送回路を適用したマルチ信号伝
送回路を示す図である。
【図9】本発明の好適な実施の形態に係る信号伝送線の
伝送時間調節方法を示すフローチャートである。
【図10】本発明のの好適な実施の形態に係る信号伝送
線のキャパシタンス調節方法を示すフローチャートであ
る。
【図11】多数の半導体メモリ装置のパッド信号が単一
の信号線で共有される半導体モジュール装置を示す図で
ある。
【符号の説明】
10…信号伝送回路、 11…信号伝達部、 13…負荷調節部、 13a…ヒューズ、 13m…ヒューズの他側、 13b…伝送トランジスタ、 13n…一側接合、 13c…キャパシタ、 VSS…接地電圧 CONT…制御信号、 S1…入力信号、 S2…出力信号

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 信号伝送線を介して所定の信号を伝送す
    る半導体集積回路装置の信号伝送回路において、 前記信号伝送回路は、前記信号伝送線に接続された少な
    くとも1つの負荷調節部を有し、 前記負荷調節部は、 キャパシタと、 互いに直列に接続された伝送部及びヒューズであって、
    所定の制御信号に応答して前記信号伝送線に前記キャパ
    シタを接続させる前記伝送部と、 前記半導体集積回路装置に印加される電源電圧に応答す
    るパワーアップ感知信号を生成するパワーアップ感知信
    号生成回路及び前記パワーアップ感知信号に応答して前
    記制御信号を生成するプログラマブル部を含む制御信号
    生成回路とを備えることを特徴とする半導体集積回路装
    置の信号伝送回路。
  2. 【請求項2】 前記信号伝送線は、前記半導体集積回路
    装置の内部に形成されており、入力された信号を所定の
    伝送時間をかけて伝送することを特徴とする請求項1に
    記載の半導体集積回路装置の信号伝送回路。
  3. 【請求項3】 前記信号伝送線は、前記半導体集積回路
    装置の内部から前記半導体集積回路装置のパッドにデー
    タを伝送する出力信号線であることを特徴とする請求項
    1に記載の半導体集積回路装置の信号伝送回路。
  4. 【請求項4】 前記信号伝送線は、前記半導体集積回路
    装置の外部から前記半導体集積回路装置のパッドに印加
    される外部信号を受け取り、該外部信号を前記半導体集
    積回路装置の内部に伝送するパッド信号の伝送線である
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路装置
    の信号伝送回路。
  5. 【請求項5】 前記伝送部は、前記制御信号がゲート端
    子に接続されたMOSトランジスタであることを特徴と
    する請求項1に記載の半導体集積回路装置の信号伝送回
    路。
  6. 【請求項6】 前記伝送部は、直列接続された少なくと
    も2つの伝送トランジスタを備えることを特徴とする請
    求項1に記載の半導体集積回路装置の信号伝送回路。
  7. 【請求項7】 前記各伝送トランジスタは、寸法が互い
    に異なることを特徴とする請求項6に記載の半導体集積
    回路装置の信号伝送回路。
  8. 【請求項8】 前記キャパシタは、前記伝送部により伝
    送された信号がゲート端子に印加され、ソース/ドレイ
    ン端子が電圧供給端子に共通に接続されたMOSトラン
    ジスタであることを特徴とする請求項1に記載の半導体
    集積回路装置の信号伝送回路。
  9. 【請求項9】 前記キャパシタは、 前記伝送部により伝送された信号がドレイン端子に印加
    され、ソース/ゲート端子が電圧供給端子に共通に接続
    されたMOSトランジスタであることを特徴とする請求
    項1に記載の半導体集積回路装置の信号伝送回路。
  10. 【請求項10】 前記伝送部は、所定のイネーブルヒュ
    ーズの切断によって活性化される前記制御信号を提供す
    る制御信号生成部をさらに備えることを特徴とする請求
    項1に記載の半導体集積回路装置の信号伝送回路。
  11. 【請求項11】 前記伝送部は、パッケージ状態でも所
    定の外部信号に応答して前記制御信号を提供する制御信
    号生成部をさらに備え、前記制御信号生成部は、前記外
    部信号に応答するレジスタを備えることを特徴とする請
    求項1に記載の半導体集積回路装置の信号伝送回路。
  12. 【請求項12】 前記レジスタは、フリップフロップで
    あることを特徴とする請求項11に記載の半導体集積回
    路装置の信号伝送回路。
  13. 【請求項13】 信号伝送線を介して所定の信号を伝送
    する信号伝送回路を含む半導体集積回路装置であって、
    前記信号伝送回路は、前記信号伝送線に接続された負荷
    調節部を有し、前記負荷調節部は、 キャパシタと、 互いに直列に接続された伝送部及びヒューズであって、
    所定の制御信号に応答して前記信号伝送線に前記キャパ
    シタを接続させる前記伝送部と、 外部から印加される電源電圧に応答してパワーアップ感
    知信号を生成するパワーアップ感知信号生成回路及び前
    記パワーアップ感知信号に応答して前記制御信号を生成
    するプログラマブル部を含む制御信号生成回路とを備え
    ることを特徴とする半導体集積回路装置。
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