JP2000148284A - 半導体集積回路装置及びその信号供給方法 - Google Patents

半導体集積回路装置及びその信号供給方法

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JP2000148284A
JP2000148284A JP10316146A JP31614698A JP2000148284A JP 2000148284 A JP2000148284 A JP 2000148284A JP 10316146 A JP10316146 A JP 10316146A JP 31614698 A JP31614698 A JP 31614698A JP 2000148284 A JP2000148284 A JP 2000148284A
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signal
module
clock
input
semiconductor integrated
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Mahomi Morimoto
真保美 森本
Takeshi Yamaguchi
毅 山口
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NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 消費電力の低減を実現することができ、モジ
ュール単位でクロック信号供給の判定を行い、クロック
イネーブル信号の供給タイミングの設計を簡便化できる
半導体集積回路装置及びその信号供給方法を提供する。 【解決手段】 半導体集積回路装置は、クロック信号C
LK1とクロック信号CLK1のモジュール13への取
り込みを許可するクロックイネーブル信号CKEとが入
力される論理ブロック12と、入力信号の変化に対応し
て、論理ブロック12へのクロックイネーブル信号CK
Eの有効/無効を切り替える信号切替え手段(19、2
5、38)と、信号切替え手段によってクロックイネー
ブル信号CKEが有効にされたとき、論理ブロック12
から出力されるクロック信号CLK2とを取り込んでカ
ウントを開始するカウンタ17と、モジュール13での
信号処理に必要な時間が予め設定され、カウンタ17に
よるカウント時間と信号処理必要時間とを比較し、カウ
ント時間と信号処理必要時間とが一致したとき、クロッ
クイネーブル信号CKEを無効にする比較器18とを備
える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロコンピュ
ータ等の半導体集積回路装置及びその信号供給方法に関
し、特に、消費電力の低減を可能にした半導体集積回路
装置及びその信号供給方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体集積回路装置では、機能
別にまとめられた電子回路から成るモジュールが作動し
ていない場合でも、モジュールには絶えずクロック信号
が供給されるため、作動していないモジュールにおいて
も不要な電力が消費されることになる。このため、特
に、半導体集積回路の大規模化が進む昨今では、回路の
消費電力の低減化を考慮せずには設計することができな
い。
【0003】従来、消費電力の低減を目的としたクロッ
ク供給制御機能付き回路におけるクロック供給制御方法
が知られている。このクロック供給制御方法では、回路
外部若しくは回路内部の制御信号生成回路から、クロッ
ク供給制御信号(クロックイネーブル信号)を供給する。
【0004】図6は、回路内部からクロックイネーブル
信号を供給する従来のクロック供給制御方法を説明する
ための概略ブロック図である。半導体集積回路装置にお
ける要部回路(回路16)は、モジュール41と、制御
回路43と、論理ブロック14とを有する。モジュール
41に供給されるクロック信号42は、制御回路43が
生成したクロックイネーブル信号CEが論理ブロック4
4に入力されることによって制御される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このため、回路設計者
は、モジュールと、対応する制御回路とを多数組有する
半導体集積回路装置を設計する場合、複数のモジュール
を含めたシステム全体の動作を理解した上で、各制御回
路からのクロックイネーブル信号の供給タイミングを夫
々設定しなければならず、設計が極めて煩雑になってい
た。つまり、上記従来のクロック供給制御方法では、夫
々にアドレス等の判定信号を与え、システム全体のタイ
ムスケジュールにおいてモジュールが「何時」動作する
かが予め設定されなければならず、設計者はシステム全
体の動作を熟知していなければならない。例えば、クロ
ックに同期していれば、どのタイミングで動作するのか
といった詳細なタイムスケジュールが必要であった。
【0006】また、モジュールへのクロック供給を半導
体集積回路装置全体の動作を考慮しつつ制御する場合
に、例えば1つの回路16に設計変更が生じると、変更
箇所だけでなく、この変更箇所の動作に関連する箇所に
も、クロックイネーブル信号の供給タイミングの変更が
必要になる。特に、複数の人数で分担して同じ回路を設
計する場合には、クロックイネーブル信号の供給タイミ
ングを各設計者が完全に制御することは難しい。
【0007】本発明は、上記に鑑み、消費電力の低減を
実現できるものでありながらも、半導体集積回路装置全
体の動作からクロック信号の供給を制御する必要がな
く、モジュール単位でクロック信号供給の判定を行い、
クロックイネーブル信号の供給タイミングの設計を簡便
化できる半導体集積回路装置及びその信号供給方法を提
供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、モジュー
ルにおける信号処理動作の終了時間の与え方として、モ
ジュールが最大何クロック後に処理を終了すれば良いか
を条件として与えれば、設計者がシステム全体の動作を
熟知しなくても問題がないこと、及び、入力信号の変化
がなければ通常全てのモジュールは動作を停止している
ので低消費電力に十分な効果を得ることができることを
確かめ、本発明をなすに至った。
【0009】上記目的を達成するために、本発明の半導
体集積回路装置は、入力されるクロック信号で入力信号
を取り込んで信号処理するモジュールを備えた半導体集
積回路装置において、前記クロック信号と該クロック信
号の前記モジュールへの取り込みを許可するクロックイ
ネーブル信号とが入力される論理ブロックと、入力信号
の変化に対応して前記論理ブロックへのクロックイネー
ブル信号の有効/無効を切り替える信号切替え手段と、
前記信号切替え手段によって前記クロックイネーブル信
号が有効にされたとき、前記論理ブロックから出力され
るクロック信号を取り込んで、前記モジュールでの信号
処理時間をカウント開始するカウンタと、最大何クロッ
ク後に前記モジュールでの処理を終了するかの信号処理
必要時間が予め設定され、前記カウンタのカウント時間
と前記信号処理必要時間とを比較し、双方の時間が一致
したときに前記クロックイネーブル信号を無効にする比
較手段とを備えることを特徴とする。
【0010】本発明の半導体集積回路装置では、システ
ム全体のタイムスケジュールに拘わらず、モジュールが
「何時」動作するのかを入力信号の変化で検知してクロ
ックイネーブル信号の有効/無効を切り替えることがで
きる。これにより、設計者は、煩雑なシステム全体のタ
イムスケジュールを熟知しなくても回路設計を容易に行
うことができる。また、モジュールでの信号処理の不要
時、つまり、入力信号が入力されない際にはクロック信
号は供給されずモジュールの作動が停止するので、回路
の消費電力が低減する。
【0011】ここで、前記モジュールに複数の入力信号
が供給され、前記信号切替え手段は、前記各入力信号を
夫々受け取って、対応する入力信号の立上がり又は立下
がりの変化を夫々検出する複数の信号変化検出回路と、
前記各信号変化検出回路からの出力に基づいて前記クロ
ックイネーブル信号の有効/無効を切り替える信号を出
力する切替え信号出力手段とを備えることが好ましい。
この場合、判定条件の数の制限を無くし、1つのモジュ
ールで複数の入力信号を処理することができる。
【0012】更に好ましくは、前記切替え信号出力手段
がANDゲートから成ることが好ましい。この場合、複
数の判定条件の全てが条件を満たしたときに動作を開始
する構成が実現する。
【0013】或いは、上記に代えて、前記1切替え信号
出力手段がORゲートから成ることも好ましい態様であ
る。この場合、複数の判定条件のいずれか1つが条件を
満たしたときにANDゲートの場合と同様の動作を開始
する構成が実現し、複数のクロック供給判定条件の設定
ができ、より複雑な制御が可能となる。
【0014】本発明の半導体集積回路装置は、入力され
るクロック信号で入力信号を取り込んで信号処理するモ
ジュールを備えた半導体集積回路装置において、前記モ
ジュールでの処理に最大何クロックを要するかの信号処
理必要時間を予め設定し、前記モジュールで開始された
信号処理の時間と前記信号処理必要時間とを比較し、双
方の時間が一致したときに、前記モジュールへのクロッ
ク信号を無効にすることを特徴とする。
【0015】本発明の半導体集積回路装置では、消費電
力の低減を実現できるものでありながらも、半導体集積
回路装置全体の動作からクロック信号の供給を制御する
必要がない。従って、モジュール単位でクロック信号供
給の判定を行い、クロック信号の有効/無効のタイミン
グの設計を簡便化できる。
【0016】本発明の半導体集積回路装置の信号供給方
法は、入力されるクロック信号で入力信号を取り込んで
信号処理するモジュールを備えた半導体集積回路装置の
信号供給方法において、前記モジュールでの処理に最大
何クロックを要するかの信号処理必要時間を予め設定
し、前記モジュールで開始された信号処理の時間と前記
信号処理必要時間とを比較し、前記信号処理時間と前記
信号処理必要時間とが一致したときに、前記モジュール
へのクロック信号を無効にすることを特徴とする。
【0017】本発明の半導体集積回路装置の信号供給方
法によると、消費電力の低減を実現できるものでありな
がらも、半導体集積回路装置全体の動作からクロック信
号の供給を制御する必要がなく、モジュール単位でクロ
ック信号供給の判定を行って、クロック信号の有効/無
効のタイミングの設計を簡便に行うことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】図面を参照して本発明を更に詳細
に説明する。図1は、本発明の第1実施形態例における
半導体集積回路装置の要部回路(回路15A)の一構成
例を示すブロック図である。同図は、クロックイネーブ
ル信号の供給判定条件は1個で、クロック供給開始と判
定した場合に、クロックイネーブル信号CKEに“1”
が出力される例である。
【0019】回路15Aは、機能部としてのモジュール
13と、判定制御回路11と、ANDゲートから成る論
理ブロック12とを有する。判定制御回路11は、モジ
ュール13に入力される入力信号14aの条件によって
クロック信号の供給を判定し制御するもので、クロック
イネーブル信号CKEを生成する。つまり、判定制御回
路11は、モジュール13に入力されて信号処理される
入力信号14aの立上がり又は立下がりの変化を検出
し、クロックイネーブル信号CKEと、変化が検出され
た入力信号14bとを夫々出力する。論理ブロック12
は、判定制御回路11で生成されたクロックイネーブル
信号CKEによってクロック信号CLK1の有効と無効
とを切り替える。
【0020】入力信号14bは、入力信号14aと同じ
信号であり、モジュール13内のフリップフロップ24
に入力される。クロックイネーブル信号CKE及びクロ
ック信号CLK1は論理ブロック12に入力され、クロ
ックイネーブル信号CKEが“1”のときにクロック信
号CLK1を有効にする。論理ブロック12から出力さ
れたクロック信号CLK2は、モジュール13に入力さ
れると共に、クロック信号CLK3として判定制御回路
11に供給される。
【0021】モジュール13で入力信号14bの信号処
理が開始されると、判定制御回路11は、モジュール1
3に供給されたクロック信号CLK2と同じクロック信
号CLK3によって、モジュール13で信号処理が終了
するまでの時間をカウントする。判定制御回路11は、
モジュール13における信号処理が終了するまでの時間
が経過した時点で、クロックイネーブル信号CLKに
“0”を出力し、論理ブロック12に入力されるクロッ
ク信号CLK1を無効にする。
【0022】図2は、本実施形態例における判定制御回
路11の具体的設計例を示す回路図であり、この設計例
は、クロックイネーブル信号CKEを有効にする条件が
1個の場合である。
【0023】判定制御回路11は、Dフリップフロップ
から成るフリップフロップ19、25、10及び15
と、XORゲートから成る論理ブロック38と、カウン
タ17と、比較器18とを有する。フリップフロップ1
9、25及び15の各データ入力線(D)には、VDD
が供給される。
【0024】入力信号14aが、フリップフロップ19
及び25に夫々供給されると、フリップフロップ19は
入力信号14aの立上がりの変化を、フリップフロップ
25は入力信号34aの立下がりの変化を夫々検出す
る。
【0025】フリップフロップ19及び25によって、
入力信号14aに立上がり又は立下がりのいずれかの変
化が検出されたとき、論理ブロック38が立上がり変化
の信号を出力する。この出力信号は、フリップフロップ
19とフリップフロップ25とに供給されて双方のフリ
ップフロップ19及び25を夫々初期化すると共に、フ
リップフロップ10及び15にクロックとして供給され
る。
【0026】論理ブロック38から供給されるクロック
としての信号の立上がりエッジで、フリップフロップ1
0は入力信号14aを取り込み、入力信号14bをモジ
ュール13(図1)に出力する。フリップフロップ39
の出力信号が、クロックイネーブル信号CKEとして論
理ブロック12に供給されると、論理ブロック12はク
ロック信号CLK1を有効にし、クロック信号CLK2
として出力する。
【0027】クロック信号CLK2は、モジュール13
(図1)とカウンタ17とに同時に供給される。カウン
タ17は、クロック信号CLK2に基づいて、モジュー
ル13の信号処理経過時間をカウントし、その結果(モ
ジュール信号処理時間)を比較器18に与える。
【0028】比較器18には、モジュール13での信号
処理に必要な時間(信号処理必要時間)が予め設定され
ている。この信号処理必要時間は、モジュール13が最
大何クロック後に処理を終了すれば良いかを条件として
設定されている。比較器18は、カウンタ17から与え
られたモジュール13での信号処理時間と、予め設定さ
れた信号処理必要時間とを比較する。比較により双方の
時間が一致したとき、比較器18は初期化信号(EN
D)をフリップフロップ39及びカウンタ17に出力
し、これらフリップフロップ39及びカウンタ17を夫
々初期化する。カウンタ17は、初期化されると、モジ
ュール信号処理経過時間のカウントを終了する。一方、
フリップフロップ39は、初期化されると論理ブロック
12に“0”を出力するので、論理ブロック12は、ク
ロック信号CLK1を無効にする。
【0029】次に、図2の回路動作について図3を参照
して説明する。図3は、図2の回路動作を示すタイミン
グチャートである。
【0030】図3において、横軸は時間経過、縦軸は各
信号を夫々示し、各信号はクロック信号CLK1を基準
に書かれている。図の上から順に、クロック信号CLK
1、入力信号14a、フリップフロップ19の出力信号
(FF19)、フリップフロップ25の出力信号(FF25)、
論理ブロック38の出力信号(XOR13)、入力信号14
b、フリップフロップ39の出力信号であるクロックイ
ネーブル信号CKE(FF15)、クロック信号CLK2、及
び、比較器18の出力信号(END)を示す。
【0031】フリップフロップ19は、入力信号14a
の立上がりを検出し、フリップフロップ25は入力信号
14aの立下がりを検出する。入力信号14aに立上が
り又は立下がりの変化が発生したとき、フリップフロッ
プ19及び25のいずれか一方が、入力信号14aの変
化の条件に応じて信号の変化を検出し、論理ブロック3
8に“1”を入力する。このとき、他方のフリップフロ
ップは変化しないので、論理ブロック38の出力は
“0”→“1”の変化をする。
【0032】論理ブロック38の出力は、フリップフロ
ップ10とフリップフロップ25とを夫々初期化する。
その結果、論理ブロック38は、“0”→“1”→
“0”の波形を形成する。この波形は、フリップフロッ
プ10及び15にクロックとして夫々入力されるので、
フリップフロップ10では入力信号14aを取り込んで
出力し、フリップフロップ39は“1”を出力する。
【0033】フリップフロップ10の出力は、モジュー
ル13の入力信号に相当する入力信号14bであり、入
力信号14aと等しい。フリップフロップ39は、入力
信号14aの信号変化の検出後に、クロックイネーブル
信号CKEを出力し続けるため、論理ブロック12はク
ロック信号CLK1を有効にする。論理ブロック12が
クロックイネーブル信号CKEでクロック信号CLK1
を制御することによって、低消費電力化が実現される。
【0034】論理ブロック12の出力は、クロック信号
CLK2としてモジュール13とカウンタ17とに同時
に供給される。これにより、モジュール13は信号処理
を開始し、カウンタ17はモジュール13の信号処理経
過時間のカウントを開始する。
【0035】比較器18は、予め与えられたモジュール
信号処理終了時間と、カウンタ17が出力する信号処理
経過時間とを比較し、双方の時間が一致したとき、比較
器18はフリップフロップ39及びカウンタ17を夫々
初期化する。比較器18からの信号を受けたフリップフ
ロップ39は、“0”を論理ブロック12に供給するた
め、論理ブロック12はクロック信号CLK1(CLK
2)の供給を停止する。比較器18からの信号を受けた
カウンタ17は、モジュール13の信号処理経過時間の
カウントを終了する。
【0036】以上のように、本実施形態例では、モジュ
ール入力信号の条件でモジュール単位のクロックイネー
ブル信号CKEの切替えを行うことにより、システム全
体の構成に拘わらずクロック信号を制御することができ
るので、回路設計が簡易化される。また、回路設計の簡
易化によって、回路及びテストパターンの開発期間の短
縮化を図ることができる。更に、クロック供給条件がモ
ジュール毎で完結しているので、回路の一部に変更が発
生した場合にも変更箇所以外への影響が無い。
【0037】次に、本発明の第2実施形態例について説
明する。図4は、本実施形態例における半導体集積回路
装置の要部回路(回路15B)の構成例を示すブロック
図である。回路15Bは、フリップフロップ40と、モ
ジュール13と、判定制御回路11と、ANDゲートか
ら成る論理ブロック12とを有しており、フリップフロ
ップ40以外の各要素は、第1実施形態例においての対
応する符号の各要素とほぼ同様の機能を有する。
【0038】フリップフロップ40の出力信号がモジュ
ール13の入力信号であり、この2つの信号間には、論
理反転等が発生する回路が存在しない。このような条件
下で、フリップフロップ40とモジュール13とが同相
のクロックで同期している場合に、フリップフロップ4
0への入力信号14aを判定制御回路11の判定条件と
することができる。
【0039】前述した第1実施形態例では、モジュール
13の入力信号、つまり、判定制御回路11内のフリッ
プフロップ10の出力信号(入力信号14b)を判定条
件としていたが、本実施形態例では、判定制御回路11
に内蔵されないフリップフロップ40の出力信号をモジ
ュールの入力信号として判定条件とする。
【0040】これにより、本実施形態例では、第1実施
形態例に比して、判定条件をクロック1周期分早く判定
することができるので、判定条件の判定により発生する
クロック1周期分の遅延を無くする効果が得られる。
【0041】次に、本発明の第3実施形態例について説
明する。図5は、本実施形態例における半導体集積回路
装置の要部回路(回路15C)の構成例を示すブロック
図である。
【0042】第1及び第2実施形態例では、クロック信
号供給判定条件となる入力信号が1つの場合を説明した
が、本実施形態例では、判定条件の数に制限はない。
【0043】1つのモジュールに対応する回路15C
は、複数の信号変化検出回路26a、26b・・・と、
複数の入力端子を有するANDゲートから成る論理ブロ
ック27と、信号変化検出回路26aに対応する、Dフ
リップフロップから成るフリップフロップ29と、26
b以降の信号変化検出回路に夫々対応する、Dフリップ
フロップから成る複数のフリップフロップ30(図では
1個のみ記載)とを有する。回路15Cは更に、カウン
タ17と、比較器18と、フリップフロップ39と、論
理ブロック12とを有し、これらの各要素は、第1実施
形態例においての対応する符号の各要素とほぼ同様の機
能を有する。回路15Cでは、クロック信号供給判定条
件となる入力信号34a、34b・・・が複数個存在
し、信号変化検出回路26a、26b・・・は複数個の
入力信号34a、34b・・・の夫々に対応する。
【0044】複数の信号変化検出回路26a、26b・
・・は相互に同じ構成を有するので、ここでは、信号変
化検出回路26aのみ詳細に説明する。信号変化検出回
路26aは、Dフリップフロップから成るフリップフロ
ップ35及び36と、XORゲートから成る論理ブロッ
ク37とを有しており、フリップフロップ35及び36
の各データ入力線(D)にはVDDが供給され、フリッ
プフロップ35のクロック入力線(C)には入力信号3
4aの反転信号が供給され、フリップフロップ36のク
ロック入力線(C)には入力信号34aが供給される。
【0045】入力信号34aが、フリップフロップ35
と36とに夫々供給されると、フリップフロップ35は
入力信号34aの立下がりの変化を、フリップフロップ
36は入力信号34aの立上がりの変化を夫々検出す
る。
【0046】フリップフロップ35及び36によって、
入力信号34aに立下がり又は立上がりのいずれかの変
化が検出されたとき、論理ブロック37が立上がり変化
の信号“1”を論理ブロック27に出力する。論理ブロ
ック27には、信号変化検出回路26a以外の信号変化
検出回路26b・・・から同様の信号が入力されるた
め、論理ブロック27は全ての信号が“1”になったと
き、つまり、全ての判定条件結果が“1”のとき、立上
がり変化の信号“1”を出力する。この出力信号は、フ
リップフロップ29と、複数のフリップフロップ30
と、フリップフロップ39とに夫々クロックとして供給
されると共に、フリップフロップ35及び36を夫々初
期化する。
【0047】論理ブロック27から供給される信号の立
上がりエッジで、フリップフロップ29は入力信号34
aを取り込み、入力信号34a1をモジュール13(図
1)に出力する。同様に、他の複数のフリップフロップ
30も入力信号34b・・を夫々取り込み、入力信号3
4b1・・をモジュール13に出力する。
【0048】また、論理ブロック27の出力信号に従っ
て、フリップフロップ39がクロックイネーブル信号C
KEを有効にするので、論理ブロック12はクロック信
号CLK1を有効にし、クロック信号CLK2として出
力すると共に、このクロック信号CLK2でカウンタ1
7を初期化する。以上の本実施形態例では、判定条件の
数の制限を無くし、1つのモジュールで複数の入力信号
を処理することができる。
【0049】図5では、論理ブロック27をANDゲー
トから構成したが、例えば、論理ブロック27をORゲ
ートから構成すると、複数の判定条件のいずれか1つが
条件を満たした場合に前述と同様の動作を開始する構成
が実現する。このように構成すると、複数のクロック供
給判定条件を設定することができ、より複雑な制御が可
能となる。
【0050】以上のように、第1〜第3の実施形態例に
おける半導体集積回路装置によれば、モジュール単位で
のクロック信号の供給判定ができ、モジュールでの信号
処理の不要時にはクロックが供給されずモジュールの動
作が停止するので、回路の消費電力が低減する。また、
モジュールの信号処理動作必要条件がモジュール単位で
設計され、システム全体の動作を考慮せずに設計できる
ので、回路設計時にクロックイネーブル信号供給の切替
えを容易に行うことができる。
【0051】更に、第1〜第3の実施形態例では、モジ
ュールの信号処理動作必要条件がモジュール単位で設計
されており、他のモジュールの動作の変更に依存しない
ので、回路変更が発生したときに、従来方法では発生し
た「変更箇所以外のクロックイネーブル信号切替タイミ
ングの再検討」が発生することはない。また、モジュー
ル単位で入力条件を設計することにより、システム全体
の動作を考慮する必要が無いので、従来方法のクロック
信号制御回路を設計するために必要としていた工数が殆
ど不要となる。
【0052】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明の半導体集積回路装置及びそ
の信号供給方法は、上記実施形態例の構成にのみ限定さ
れるものではなく、上記実施形態例の構成から種々の修
正及び変更を施した半導体集積回路装置及びその信号供
給方法も、本発明の範囲に含まれる。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体集
積回路装置及びその信号供給方法によると、消費電力の
低減を実現できるものでありながらも、半導体集積回路
装置全体の動作からクロック信号の供給を制御する必要
がなく、モジュール単位でクロック信号供給の判定を行
い、クロックイネーブル信号の供給タイミングの設計を
簡便化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態例における半導体集積回
路装置の要部回路の一構成例を示すブロック図である。
【図2】第1実施形態例における判定制御回路の具体的
設計例を示す回路図である。
【図3】図2の回路動作を示すタイミングチャートであ
る。
【図4】第2実施形態例における半導体集積回路装置の
要部回路の構成例を示すブロック図である。
【図5】第3実施形態例における半導体集積回路装置の
要部回路の構成例を示すブロック図である。
【図6】回路内部からクロックイネーブル信号を供給す
る従来のクロック供給制御方法を説明するための概略ブ
ロック図である。
【符号の説明】
10、15、19、25:フリップフロップ 11:判定制御回路 12:論理ブロック 13:モジュール 14a、14b、34a、34b:入力信号 15A、15B、15C:回路 17:カウンタ 18:比較器 24:フリップフロップ 26a、26b:信号変化検出回路 27:論理ブロック 29:フリップフロップ 30:フリップフロップ 35、36:フリップフロップ 37:論理ブロック 38:論理ブロック 40:フリップフロップ CKE:クロックイネーブル信号 CLK1、CLK2、CLK3:クロック信号
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年10月1日(1999.10.
1)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0004
【補正方法】変更
【補正内容】
【0004】図6は、回路内部からクロックイネーブル
信号を供給する従来のクロック供給制御方法を説明する
ための概略ブロック図である。半導体集積回路装置にお
ける要部回路(回路16)は、フリップフロップ15を
有するモジュール41と、制御回路43と、論理ブロッ
ク44とを有する。モジュール41に供給されるクロッ
ク信号42は、制御回路43が生成したクロックイネー
ブル信号CKEが論理ブロック44に入力されることに
よって制御される。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】上記目的を達成するために、本発明の半導
体集積回路装置は、入力されるクロック信号で入力信号
を取り込んで信号処理するモジュールと、前記クロック
信号と該クロック信号の前記モジュールへの取り込みを
許可するクロックイネーブル信号とが入力される論理ブ
ロックと、入力信号の変化がないときに前記論理ブロッ
クへのクロックイネーブル信号を無効に切り替える第1
の信号切替え手段と、入力信号の変化があるときに前記
論理ブロックへのクロックイネーブル信号を有効に切り
替える第2の信号切替え手段と、前記第2の信号切替え
手段によって前記クロックイネーブル信号が有効にされ
たとき、前記論理ブロックから出力されるクロック信号
を取り込んで、前記モジュールでの信号処理時間をカウ
ント開始するカウンタと、最大何クロック後に前記モジ
ュールでの処理を終了するかの信号処理必要時間が予め
設定され、前記カウンタのカウント時間と前記信号処理
必要時間とを比較し、双方の時間が一致したときに前記
モジュールへのクロック供給を停止する供給停止手段と
を備え、前記第2の信号切替え手段が、前記モジュール
に供給される複数の入力信号を受け取って、対応する入
力信号の変化を夫々検出する複数の信号変化検出回路
と、各信号変化検出回路からの出力に基づいて前記クロ
ックイネーブル信号を有効に切り替える信号を出力する
切替え信号出力手段とを備え、前記切替え信号出力手段
は、前記各信号変化検出回路からの複数の論理判定結果
の少なくとも1つが所定条件を満たしたとき前記クロッ
クイネーブル信号を有効にすることを特徴とする。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0010
【補正方法】変更
【補正内容】
【0010】本発明の半導体集積回路装置では、システ
ム全体のタイムスケジュールに拘わらず、モジュールが
「何時」動作するのかを入力信号の変化で検知してクロ
ックイネーブル信号の有効/無効を切り替えることがで
きる。これにより、設計者は、煩雑なシステム全体のタ
イムスケジュールを熟知しなくても回路設計を容易に行
うことができる。また、モジュールでの信号処理の不要
時、つまり、入力信号が入力されない際にはクロック信
号は供給されずモジュールの作動が停止するので、回路
の消費電力が低減する。更に、信号切替え手段が、複数
の信号変化検出回路と、切替え信号出力手段とを備える
ので、判定条件の数の制限を無くし、1つのモジュール
で複数の入力信号を処理することができる。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】ここで、前記複数の論理判定結果の全てが
所定条件を満たしたとき、前記クロックイネーブル信号
を有効にすることが好ましい。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】本発明の半導体集積回路装置の信号供給方
法は、入力されるクロック信号で複数の入力信号を取り
込んで信号処理するモジュールと、該モジュールに供給
される複数の入力信号を受け取って、対応する入力信号
の変化を夫々検出する複数の信号変化検出回路と、各信
号変化検出回路からの出力に基づいて、クロック信号の
前記モジュールへの取り込みを許可するクロックイネー
ブル信号の有効/無効を切り替える信号を出力する切替
え信号出力手段とを備えた半導体集積回路装置の信号供
給方法において、前記モジュールに複数の入力信号が供
給され、前記各信号変化検出回路からの複数の論理判定
結果の全てが所定条件を満たしたとき、前記切替え信号
出力手段によって前記クロックイネーブル信号を有効に
することを特徴とする。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】また、本発明の半導体集積回路装置の信号
供給方法は、入力されるクロック信号で複数の入力信号
を取り込んで信号処理するモジュールと、該モジュール
に供給される複数の入力信号を受け取って、対応する入
力信号の変化を夫々検出する複数の信号変化検出回路
と、各信号変化検出回路からの出力に基づいて、クロッ
ク信号の前記モジュールへの取り込みを許可するクロッ
クイネーブル信号の有効/無効を切り替える信号を出力
する切替え信号出力手段とを備えた半導体集積回路装置
の信号供給方法において、前記モジュールに複数の入力
信号が供給され、前記各信号変化検出回路からの複数の
論理判定結果のいずれか1つが所定条件を満たしたと
き、前記切替え信号出力手段によって前記クロックイネ
ーブル信号を有効にすることを特徴とする。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正内容】
【0014】本発明の半導体集積回路装置は、入力され
るクロック信号で複数の入力信号を取り込んで信号処理
するモジュールを備えた半導体集積回路装置において、
前記モジュールでの処理に最大何クロックを要するかの
信号処理必要時間を予め設定し、前記モジュールで開始
された信号処理の時間と前記信号処理必要時間とを比較
し、双方の時間が一致したときに、前記モジュールへの
クロック信号を無効にすることを特徴とする。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0016
【補正方法】変更
【補正内容】
【0016】本発明の半導体集積回路装置の信号供給方
法によると、入力されるクロック信号で複数の入力信号
を取り込んで信号処理するモジュールを備えた半導体集
積回路装置の信号供給方法において、前記モジュールで
の処理に最大何クロックを要するかの信号処理必要時間
を予め設定し、前記モジュールで開始された信号処理の
時間と前記信号処理必要時間とを比較し、前記信号処理
時間と前記信号処理必要時間とが一致したときに、前記
モジュールへのクロック信号を無効にすることを特徴と
する。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】モジュール13で入力信号14bの信号処
理が開始されると、判定制御回路11は、モジュール1
3に供給されたクロック信号CLK2と同じクロック信
号CLK3によって、モジュール13で信号処理が終了
するまでの時間をカウントする。判定制御回路11は、
モジュール13における信号処理が終了するまでの時間
が経過した時点で、クロックイネーブル信号CKEに
“0”を出力し、論理ブロック12に入力されるクロッ
ク信号CLK1を無効にする。
【手続補正11】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】判定制御回路11は、Dフリップフロップ
から成るフリップフロップ19、25、10及び39
と、XORゲートから成る論理ブロック38と、カウン
タ17と、比較器18とを有する。フリップフロップ1
9、25及び39の各データ入力線(D)には、VDD
が供給される。
【手続補正12】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0024
【補正方法】変更
【補正内容】
【0024】入力信号14aが、フリップフロップ19
及び25に夫々供給されると、フリップフロップ19は
入力信号14aの立上がりの変化を、フリップフロップ
25は入力信号14aの立下がりの変化を夫々検出す
る。
【手続補正13】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0025
【補正方法】変更
【補正内容】
【0025】フリップフロップ19及び25によって、
入力信号14aに立上がり又は立下がりのいずれかの変
化が検出されたとき、論理ブロック38が立上がり変化
の信号を出力する。この出力信号は、フリップフロップ
19とフリップフロップ25とに供給されて双方のフリ
ップフロップ19及び25を夫々初期化すると共に、フ
リップフロップ10及び39にクロックとして供給され
る。
【手続補正14】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】論理ブロック38の出力は、フリップフロ
ップ19とフリップフロップ25とを夫々初期化する。
その結果、論理ブロック38は、“0”→“1”→
“0”の波形を形成する。この波形は、フリップフロッ
プ10及び39にクロックとして夫々入力されるので、
フリップフロップ10では入力信号14aを取り込んで
出力し、フリップフロップ39は“1”を出力する。
【手続補正15】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態例における半導体集積回
路装置の要部回路の一構成例を示すブロック図である。
【図2】第1実施形態例における判定制御回路の具体的
設計例を示す回路図である。
【図3】図2の回路動作を示すタイミングチャートであ
る。
【図4】第2実施形態例における半導体集積回路装置の
要部回路の構成例を示すブロック図である。
【図5】第3実施形態例における半導体集積回路装置の
要部回路の構成例を示すブロック図である。
【図6】回路内部からクロックイネーブル信号を供給す
る従来のクロック供給制御方法を説明するための概略ブ
ロック図である。
【符号の説明】 10、19、25、39:フリップフロップ 11:判定制御回路 12:論理ブロック 13:モジュール 14a、14b、34a、34b:入力信号 15A、15B、15C:回路 17:カウンタ 18:比較器 24:フリップフロップ 26a、26b:信号変化検出回路 27、37、38:論理ブロック 29、30、35、36、40:フリップフロップ CKE:クロックイネーブル信号 CLK1、CLK2、CLK3:クロック信号
【手続補正16】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【手続補正17】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山口 毅 神奈川県川崎市中原区小杉町一丁目403番 53号 日本電気アイシーマイコンシステム 株式会社内 Fターム(参考) 5B079 AA07 BA12 BA15 BB04 BC01 DD13 DD17 DD20

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力されるクロック信号で入力信号を取
    り込んで信号処理するモジュールを備えた半導体集積回
    路装置において、 前記クロック信号と該クロック信号の前記モジュールへ
    の取り込みを許可するクロックイネーブル信号とが入力
    される論理ブロックと、 入力信号の変化に対応して前記論理ブロックへのクロッ
    クイネーブル信号の有効/無効を切り替える信号切替え
    手段と、 前記信号切替え手段によって前記クロックイネーブル信
    号が有効にされたとき、前記論理ブロックから出力され
    るクロック信号を取り込んで、前記モジュールでの信号
    処理時間をカウント開始するカウンタと、 最大何クロック後に前記モジュールでの処理を終了する
    かの信号処理必要時間が予め設定され、前記カウンタの
    カウント時間と前記信号処理必要時間とを比較し、双方
    の時間が一致したときに前記クロックイネーブル信号を
    無効にする比較手段とを備えることを特徴とする半導体
    集積回路装置。
  2. 【請求項2】 前記モジュールに複数の入力信号が供給
    され、 前記信号切替え手段は、前記各入力信号を夫々受け取っ
    て、対応する入力信号の立上がり又は立下がりの変化を
    夫々検出する複数の信号変化検出回路と、 前記各信号変化検出回路からの出力に基づいて前記クロ
    ックイネーブル信号の有効/無効を切り替える信号を出
    力する切替え信号出力手段とを備えることを特徴とする
    請求項1に記載の半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 前記切替え信号出力手段がANDゲート
    から成ることを特徴とする請求項2に記載の半導体集積
    回路装置。
  4. 【請求項4】 前記切替え信号出力手段がORゲートか
    ら成ることを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回
    路装置。
  5. 【請求項5】 入力されるクロック信号で入力信号を取
    り込んで信号処理するモジュールを備えた半導体集積回
    路装置において、 前記モジュールでの処理に最大何クロックを要するかの
    信号処理必要時間を予め設定し、前記モジュールで開始
    された信号処理の時間と前記信号処理必要時間とを比較
    し、双方の時間が一致したときに、前記モジュールへの
    クロック信号を無効にすることを特徴とする半導体集積
    回路装置。
  6. 【請求項6】 入力されるクロック信号で入力信号を取
    り込んで信号処理するモジュールを備えた半導体集積回
    路装置の信号供給方法において、 前記モジュールでの処理に最大何クロックを要するかの
    信号処理必要時間を予め設定し、 前記モジュールで開始された信号処理の時間と前記信号
    処理必要時間とを比較し、 前記信号処理時間と前記信号処理必要時間とが一致した
    ときに、前記モジュールへのクロック信号を無効にする
    ことを特徴とする半導体集積回路装置の信号供給方法。
JP10316146A 1998-11-06 1998-11-06 半導体集積回路装置及びその信号供給方法 Pending JP2000148284A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006229826A (ja) * 2005-02-21 2006-08-31 Oki Electric Ind Co Ltd デジタル回路装置、及び半導体装置
US7138878B2 (en) 2003-07-16 2006-11-21 Seiko Epson Corporation Semiconductor integrated circuit
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US8295122B2 (en) 2009-08-07 2012-10-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Input buffer circuit, semiconductor memory device and memory system

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