JP2000147552A - 電気光学装置用基板、電気光学装置及びそれを用いた電子機器 - Google Patents
電気光学装置用基板、電気光学装置及びそれを用いた電子機器Info
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Abstract
得るためには、あらゆる角度からの入射光に対し、表示
画面に垂直な方向へ散乱する光の強度を増加させる必要
があり、そのためには、最適な反射特性を有する反射電
極を作成することが必要となっていた。 【解決手段】このため液晶パネル用基板の反射電極13
の下方に形成された絶縁膜11aには、液晶画素駆動回
路と反射電極13の接続部12を形成し、前記絶縁膜1
1aにおける接続部12以外の領域には不規則な配置の
凹部11bを形成した。
Description
を構成する反射電極側基板の構造、及びその基板を用い
て構成される電気光学装置に関し、さらにはその電気光
学装置を用いた電子機器に関する。
携帯機器等の情報表示デバイスとして電気光学装置の一
例である液晶パネルが用いられている。また、近年、表
示する情報の内容は、キャラクタ表示程度だったものか
ら、一度に多くの情報を表示するためにドットマトリク
ス型の液晶パネルが用いられ、画素数も次第に多くなり
高デューティとなってきた。
イスとして単純マトリクス型液晶パネルが用いられてい
た。しかし、単純マトリクス型液晶パネルではマルチプ
レックス駆動を行う際に、行走査線の選択信号として、
高デューティになるほど高い電圧が必要となる。従っ
て、少しでも消費電力を減らしたいという要求の強いバ
ッテリー駆動を行う携帯機器においては大きな問題とな
っていた。
基板を半導体基板とし、半導体基板にメモリ回路を画素
毎に形成し、メモリ回路の保持データに基づいて表示制
御を行うスタティック駆動型の反射型液晶パネルが提案
されている。
表示を行う反射型液晶パネルは、光源であるバックライ
トが不要であるため消費電力が低く、薄型であり軽量化
が可能となることで注目されている。
またそれを用いた電子機器は、コントラストが高い,応
答速度が比較的速い,駆動電圧が低い,階調表示が容易
であるなど、ディスプレイとして基本的に必要とされる
諸特性をバランス良く具備しているが、一方では、原理
的に視野角が狭い,明るい表示に適さないなどの難点を
有している。
ためには、あらゆる角度からの入射光に対し、表示画面
に垂直な方向へ散乱する光の強度を増加させる必要があ
る。そのためには、最適な反射特性を有する反射電極を
作成することが必要となる。
いて、上述の問題を解決し、最適な反射特性を有する反
射電極を容易に、かつ再現性良く作成することができ、
表示品位が向上する反射型液晶パネルを提供することに
ある。
置用基板は、上記の目的を達成するため、反射電極の下
方に形成された絶縁膜に、液晶画素駆動回路と反射電極
との接続部を形成するとともに、前記絶縁膜における該
接続部以外の領域には不規則な配置の凹部を形成してな
ることを主要な特徴とするものである。さらに詳細には
次の通りである。
およびこの列走査線と直交する複数の行走査線が配置さ
れ、前記複数の列走査線と行走査線の交点毎に画素電極
となる反射電極が配置され、各反射電極にはスイッチン
グ制御回路および液晶画素駆動回路を具備した電気光学
装置用基板において、前記反射電極の下方に形成された
絶縁膜には、液晶画素駆動回路と反射電極との接続部が
形成され、該絶縁膜における該接続部以外の領域には不
規則な配置の凹部が形成されてなることを特徴とする電
気光学装置用基板を提供するものである。
凹部の形成された絶縁膜に反射電極が形成されているた
め、前記絶縁膜の凹凸に沿って反射電極も凹凸を有する
ようになる。従って、この凹凸により光を拡散すること
ができ、プロセスを増加させることなく、最適な反射特
性を有する反射電極を容易に、かつ再現性良く作成する
ことができ、表示品位が向上することができる。
素駆動回路と反射電極との接続部と、この接続部以外の
領域に形成された不規則な配置の凹部は、異なるマスク
を使用して形成してもよい。
えば単結晶シリコンにより構成することが出来る。
ばガラスにより構成する事もできる。
い。また、このSOG膜はエッチバックしてもよい。こ
のようにすることで、良好な反射特性を有する反射電極
が形成される。
学装置用基板のいずれかと、入射側の透明基板とが間隙
を有して配置されるとともに、前記液晶パネル用基板と
前記透明基板との間隙内に液晶が挟持されて構成される
電気光学装置を提供するものである。
用いた電子機器を提供するものである。
基づいて説明する。尚、本実施形態では、電気光学装置
の一例として液晶パネルを用いて説明する。
電極側基板の構成 図1は、本発明を適用した反射型液晶パネルの反射電極
側基板の画素領域の第1の実施形態の断面図を示す。
示されるように、基板1上に各種の層を形成してなるも
のである。本実施形態では、この基板1として、半導体
基板を用いている。なお、この基板1の材料は本実施形
態に限定されるものではなく、例えばガラス基板のよう
な透明基板を用いてもよい。
理解を容易にするため、その説明に先立って、まず、本
発明が適用される反射型液晶パネルの全体構成について
その概要を説明する。
反射型液晶パネルにおいては、反射電極側の基板1(3
2)の中央部に画素領域20が設けられ、この画素領域
20に行走査線と列走査線がマトリックス状に配置され
ている。そして、行走査線と列走査線との各交点に対応
して各画素が配置され、各画素には、後述するように、
反射電極13と液晶画素駆動回路101(図7および図
8参照)が設けられている。
査線に行走査信号を供給する行走査線駆動回路23、列
走査線に列走査信号を供給する列走査線駆動回路21、
パッド領域26を介して外部から入力データを取り込む
入力データ線22が配置される。
概略である。
に共通電極33が形成されたガラスからなる対向基板3
5が、シール材36により領域(実線と一点鎖線で挟ま
れた領域)36にて接着固定されている。そして、反対
電極側基板1(32)と対向基板35との間隙に液晶3
7が封入されて液晶パネルが構成されている。なお、点
線にて挟まれた領域25は画素領域周辺を遮光する遮光
膜を示す。
て説明する。この図1では、図面の煩雑化を防ぐため、
上記画素領域20内の一部の領域に対応した断面構造が
示されている。図1において、基板1は単結晶シリコン
のようなP型半導体基板(N型半導体基板でもよい)で
ある。N型ウェル領域2は、基板1の表面に形成され、
基板より不純物濃度の高い領域である。このN型ウェル
領域2は、図9の液晶パネル平面図に示される列走査線
駆動回路21や行走査線駆動回路23、入力データ線2
2等の周辺回路を構成する素子が形成される部分のウェ
ル領域とは分離して形成してもよい。
のフィールド酸化膜(いわゆるLOCOS)である。こ
のフィールド酸化膜3は選択熱酸化によって形成され
る。そして、フィールド酸化膜3には開口部が形成され
ており、この開口部の内側中央には、シリコン基板表面
の熱酸化により形成されるゲート酸化膜を介してポリシ
リコンまたはメタルシリサイド等からなるゲート電極5
が形成され、このゲート電極5の両側の基板表面には不
純物層(以下、ドーピング層という)からなるソース・
ドレイン領域6a,6bが形成され、電界効果トランジ
スタ(以下、FETという)が構成されている。このF
ETが、上述した液晶画素駆動回路101を構成する各
FETの中の1つである。
6bの上方には、BPSG(BoronPhosphorus Silica G
rass)膜のような第1層間絶縁膜7を介してアルミニウ
ム層あるいはタンタル層からなる第1の導電層8a,8
bが形成されている。このアルミニウム層あるいはタン
タル層は、本実施形態ではスパッタ法で500nm堆積
させた。
されたコンタクトホールを介してソース領域(またはド
レイン領域)6aと電気的に接続され、FETのソース
電極(またはドレイン電極)を構成している。また、第
1の導電層8bは、上記絶縁膜7に形成されたコンタク
トホールにてFETのドレイン領域(またはソース領
域)6bに電気的に接続され、ドレイン電極(またはソ
ース電極)を構成している。
には、シリコン酸化膜からなる第2層間絶縁膜9が形成
されている。この第2層間絶縁膜9は、例えばスパッタ
法、あるいはTEOS(テトラエチルオルソシリケー
ト)を用いたプラズマCVD法により形成できる。本実
施形態においては、シリコン酸化膜をTEOSのプラズ
マCVDにより1100nm堆積させた。
クトホール9bが形成され、さらにその上方にはアルミ
ニウム層あるいはタンタル層からなる第2の導電層10
aおよび10bが形成されている。このアルミニウム層
あるいはタンタル層は、本実施形態ではスパッタ法で5
00nm堆積させた。この第2の導電層10aおよび1
0bのうち導電層10bは、コンタクトホール9bを介
して第1の導電層8bと電気的に接続されている。
される第2の導電層10aは、ドレイン電極8bと反射
電極13の接続部である第2の導電層10bを除いた、
画素領域のほぼ全域を遮光するように形成されている。
これは、入射する光が基板の半導体層側に入り込んでF
ETが光リークしないようにするためである。
10bは、コンタクトホール9bを介して上記第1の導
電層8bに直接接続したが、タングステン等の高融点金
属からなる接続プラグを用いて接続しても良い。
層間絶縁膜11aが形成されている。本実施形態におい
て、この第3層間絶縁膜11aは、TEOSのプラズマ
CVDによる1100nmのシリコン酸化膜とした。こ
の第3層間絶縁膜11aを形成した後、上記第2の導電
層10bと反射電極13の接続部以外の領域に不規則に
配置された凹部11bをドライエッチングにより形成し
た。そして、この凹部11bを形成した後、SOG膜1
1cを厚さ320nm堆積させた。なお、SOG膜11
cの厚さは、本実施形態に限定されるものではない。た
だし、第2の導電層10bと反射電極13の接続部以外
の領域に適当な凹部を形成するためには、SOG膜11
cの厚さは、100〜500nmであることが望まし
い。また、SOG膜11cを形成した後、このSOG膜
11cと第3層間絶縁膜11aを、選択性のない条件あ
るいは任意の条件でエッチングしても良い。本実施形態
では、SOG膜11cと第3層間絶縁膜11aを、選択
性のない条件で500nmエッチングした。なお、この
ときのエッチ量は、本実施形態に限定されるものではな
いが、100〜500nmであることが望ましい。この
とき、第2の導電層10bと反射電極13の接続部以外
の領域に形成された凹部のテーパは、なだらかな曲線形
状となり、良好な反射特性を有する反射電極が形成され
る。
には円を適用した。穴の直径は0.5〜5μmが望まし
く、この範囲の任意のサイズあるいは数種類のサイズで
あっても良い。また、凹部の形状は本実施形態に限定さ
れるものではない。例えば正八角形のような多角形を適
用しても良い。
2の導電層10bと反射電極13との接続は、第3層間
絶縁膜11a,およびSOG膜11cに開口されたコン
タクトホールに、タングステン等の高融点金属からなる
接続プラグ12をCVD法等で埋め込み形成して行われ
る。
3には第3の導電層からなるアルミニウムを低温スパッ
タ法により形成した。
凹状に設けた上に反射電極を形成することにより、第3
層間絶縁膜の凹凸に沿って反射電極も凹凸を有するよう
になる。このため、光を拡散することができ、プロセス
を増加させることなく、最適な反射特性を有する反射電
極を容易に、かつ再現性良く作成することができ、表示
品位が向上する反射型液晶パネルを提供することができ
た。
反射型液晶パネルの反射電極側基板における画素領域の
凹部ならびに遮光層の配置を説明する。
晶パネルの反射電極側基板における画素領域の凹部の配
置を示す。この図5(a)において、凹部11bは、第
2の導電層10bと反射電極13の接続部以外の領域に
不規則に配置されている。また、接続プラグ12は、第
2の導電層10bと反射電極13とを接続している。ま
た、凹部11bは、この図5(a)に示すように、第2
の導電層10bと反射電極13の接続部以外のほぼ全域
に配置することができ、これにより、最適な反射特性を
有する反射電極を容易に、かつ再現性良く作成すること
ができる。
晶パネルの遮光層の第1の構成例を示す平面図である。
この図5(b)に示すように、第1の導電層8bと反射
電極13の接続部となる第2の導電層10bを除いたほ
ぼ全域にわたって遮光層として第2の導電層10aを形
成することができる。
他の構成例 図2は、本発明を適用した反射型液晶パネルの反射電極
側基板の画素領域の第2の実施形態の断面図を示す。本
実施形態では、接続プラグを用いず、第二の導電層10
bと反射電極13を直接接続した。本実施形態は、工程
プロセスの簡略化という点において、非常に有効であ
る。
ルの反射電極側基板の画素領域の第3の実施形態の断面
図を示す。本実施形態では、ドレイン領域(またはソー
ス領域)6bと反射電極13を、接続プラグ12により
電気的に接続している。接続プラグにはタングステン等
の高融点金属を用いた。
層10aは、各画素における接続プラグ12の形成され
るコンタクトホールの周囲を除き、画素領域全域、さら
には画素領域全体にわたって形成することができるた
め、さらに好適な遮光機能を有する遮光層を形成するこ
とが可能となる。
ルの反射電極側基板の画素領域の第4の実施形態の断面
図を示す。図4において図1、図2および図3と同一符
号が付けられている箇所は、これらの図と同一機能を有
する層を示す。
アルカリ性のガラス基板であり、この絶縁基板上には単
結晶又は多結晶あるいはアモルファスのシリコン膜(6
a,6bの形成層)が形成されており、このシリコン膜
上には、例えば熱酸化して形成した酸化シリコン膜とC
VD法で堆積した窒化シリコンの二層構造からなる絶縁
膜が形成される。
は、N型不純物(またはP型不純物)がドーピングされ
て、TFTのソース・ドレイン領域6a,6bが形成さ
れ、絶縁膜上には、TFTのゲート電極5がポリシリコ
ンまたはメタルシリサイド等により形成される。
より形成される第1層間絶縁膜7が形成され、第1層間
絶縁膜7の上方には、一層目のアルミニウム層あるいは
タンタル層からなる第1の導電層8a,8bが形成さ
れ、第1の導電層8aは上記絶縁膜7に形成されたコン
タクトホールを介してソース領域(またはドレイン領
域)6aと電気的に接続され、FETのソース電極(ま
たはドレイン電極)を構成する。また、第1の導電層8
bは上記絶縁膜7に形成されたコンタクトホールにてF
ETのドレイン領域(またはソース領域)6bに電気的
に接続され、ドレイン電極(またはソース電極)を構成
する。
にはシリコン酸化膜からなる第2層間絶縁膜9が形成さ
れ、第2層間絶縁膜9にはコンタクトホール9bが形成
される。さらにその上方にはアルミニウム層あるいはタ
ンタル層からなる第2の導電層10aおよび10bを形
成した。第1の導電層8bと第2の導電層10bはコン
タクトホール9bを介して電気的に接続されている。
の半導体層側に入り込んでFETが光リークしないよう
に、遮光する機能を有している。また、本実施形態で
は、上記第2の導電層10bは、コンタクトホール9b
を介して上記第1の導電層8bに直接接続したが、タン
グステン等の高融点金属からなる接続プラグを用いて接
続しても良い。
縁膜11aを形成する。第3層間絶縁膜11aには、第
2の導電層10bと反射電極13の接続部以外の領域に
不規則に配置された凹部11bをドライエッチングによ
り形成した。前記凹部11bを形成した後、SOG膜1
1cを厚さ320nm堆積させた。なお、前記SOG膜
11cの厚さは、本実施形態に限定されるものではな
い。ただし、第2の導電層10bと反射電極13の接続
部以外の領域に適当な凹部を形成するためには、SOG
膜11cの厚さは、100〜500nmであることが望
ましい。また、SOG膜11cを形成した後、このSO
G膜11cと第3層間絶縁膜11aを、選択性のない条
件あるいは任意の条件でエッチングしても良い。本実施
形態では、SOG膜11cと第3層間絶縁膜11aを、
選択性のない条件で500nmエッチングした。なお、
このときのエッチ量は、本実施形態に限定されるもので
はなく、100〜500nmであることが望ましい。こ
のとき、第2の導電層10bと反射電極13の接続部以
外の領域に形成された凹部のテーパは、なだらかな曲線
形状となり、良好な反射特性を有する反射電極が形成さ
れる。
には円を適用した。穴の直径は0.5〜5μmが望まし
く、この範囲の任意のサイズあるいは数種類のサイズで
あっても良い。また、凹部の形状は本実施形態に限定さ
れるものではない。例えば正八角形のような多角形を適
用しても良い。
2の導電層10bと反射電極13の接続は、第3層間絶
縁膜11a,およびSOG膜11cに開口されたコンタ
クトホールに、タングステン等の高融点金属からなる接
続プラグ12をCVD法等で埋め込み形成して行われ
る。
3には第3の導電層からなるアルミニウムを低温スパッ
タ法により形成した。
凹状に設けた上に反射電極を形成することにより、第3
層間絶縁膜の凹凸に沿って反射電極も凹凸を有するよう
になる。このため、光を拡散することができ、プロセス
を増加させることなく、最適な反射特性を有する反射電
極を容易に、かつ再現性良く作成することができ、表示
品位が向上する反射型液晶パネルを提供することができ
る。
方に位置するトップゲートタイプであるが、ゲート電極
を先に形成し、ゲート絶縁膜を介した上にチャネルとな
るシリコン膜を配置するボトムゲートタイプにしてもよ
い。
動回路の説明 図7は、本発明の液晶パネルの画素及びその駆動回路な
どの一例を示すブロック図である。
10−n(nは行走査線の行を示す自然数)と列走査線
112−m(mは列走査線の列を示す自然数)がマトリ
クス状に配置され、互いの走査線の交差点に各画素の駆
動回路が構成される。また、画素領域には列走査線11
2−mに沿って入力データ線114から分岐した列デー
タ線115−d(dは列データ線の列を示す自然数)も
配置される。画素領域の行側の周辺領域には行走査線駆
動回路111が配置され、画素領域の列側の周辺領域に
は列走査線駆動回路113が配置される。
行走査線駆動回路111が制御され、選択された行走査
線110−nには選択信号が出力される。選択されない
行走査線は非選択電位に設定される。同様に、列走査線
駆動回路用制御信号121により列走査線駆動回路11
3が制御され、選択された列走査線112−mに選択信
号が出力され、非選択の列走査線は非選択電位に設定さ
れる。いずれの行走査線及びいずれの列走査線を選択す
るかは制御信号120,121により決められる。つま
り、制御信号120,121は選択画素を指定するアド
レス信号である。
た列走査線112−mの交差点近傍に配置されるスイッ
チング制御回路109は、両走査線の選択信号を受けて
オン信号を出力し、行走査線110−nと列走査線11
2−mの少なくとも一方が非選択となるとオフ信号を出
力する。すなわち、選択された行走査線と列走査線の交
差点に位置する画素のスイッチング制御回路109のみ
からオン信号が出力され、他のスイッチング制御回路か
らはオフ信号が出力される。本実施形態では、このスイ
ッチング制御回路109のオン、オフ信号により液晶画
素駆動回路101を制御する。
び動作を説明する。
御回路109のオン信号により導通状態となり、オフ信
号により非導通状態となる。スイッチング回路102は
導通状態となると、そこに接続されている列データ線1
15−dのデータ信号をスイッチング回路102を介し
てメモリ回路103に書き込む。一方、スイッチング回
路102はスイッチング制御回路109のオフ信号によ
り非導通状態となりメモリ回路103に書き込まれたデ
ータ信号を保持する。
は、画素毎に配置される液晶画素ドライバ104に供給
される。液晶画素ドライバ104は供給されたデータ信
号のレベルに応じて、第1の電圧信号線118に供給さ
れる第1の電圧116、又は第2の電圧信号線119に
供給される第2の電圧117のいずれかを液晶画素10
5の画素電極106に供給する。第1の電圧116は、
液晶パネルがノーマリーホワイト表示の場合に、液晶画
素105を黒表示状態とする電圧であり、一方第2の電
圧117は液晶画素105を白表示状態とする電圧であ
る。
がHレベルの場合は、液晶画素ドライバ104におい
て、ノーマリーホワイト表示の場合液晶を黒表示させる
第1の電圧信号線118に接続されるゲートが導通状態
となり、画素電極106に第1の電圧116が供給さ
れ、対向電極108に供給される基準電圧122との電
位差により液晶画素105が黒表示状態となる。同様
に、保持されたデータ信号がLレベルの場合は、液晶画
素ドライバ104において第2の電圧信号線119に接
続されるゲートが導通状態となり、画素電極106に第
2の電圧117が供給され液晶画素105が白表示状態
となる。
の電圧信号および基準電圧ともロジック電圧程度で駆動
でき、かつ画面表示の書き換えが必要ない場合はメモリ
回路のデータ保持機能により表示状態を保持できるので
ほとんど電流が流れない。
タ信号に応じて液晶画素ドライバ104から出力された
第1の電圧116或いは第2の電圧117のいずれか一
方が選択されて供給される画素電極106が画素毎に設
けられ、この画素電極106と対向電極108との間に
介在する液晶層107に両電極の電位差が印加され、こ
の電位差に応じた液晶分子の配向変化に応じて黒表示状
態(オン表示状態ともいう)と白表示状態(オフ表示状
態ともいう)となる。液晶パネルは、上述のように、半
導体基板とガラス等の光透過性基板との間に液晶を封入
して挟持し、半導体基板に、マトリクス状に画素電極を
配置し、その画素電極の下方に上記液晶画素駆動回路、
行走査線、列走査線、データ線、行走査線駆動回路、列
走査線駆動回路などを形成する。各画素は、画素電極1
06と、対向する光透過性基板の内面に形成された対向
電極108との間に画素毎に電圧を印加して、その間に
介在される画素毎の液晶層107に電圧供給し、液晶分
子の配向を各画素毎に変化させる。
いて、スイッチング制御回路109はCMOSトランジ
スタ構成のNORゲート回路109−1とCMOSトラ
ンジスタ構成のインバータ109−2の論理回路により
構成することができる。NORゲート回路109−1は
2入力とも負論理の選択信号が入力された時に正論理の
オン信号を出力し、インバータ109−2により負論理
のオン信号を出力する。また、スイッチング回路102
はCMOSトランジスタ構成のトランスミッションゲー
ト102−1により構成することができる。トランスミ
ッションゲート102−1はスイッチング制御回路10
9のオン信号に基づいて導通して列データ線115とメ
モリ回路103を繋ぎ、オフ信号に基づいて非導通とな
る。メモリ回路103はCMOSトランジスタ構成のク
ロックドインバータ103−1とCMOSトランジスタ
構成のインバータ103−2を帰還接続した構成とする
ことができる。データ信号はスイッチング制御回路10
6のオン信号によりスイッチング回路102からメモリ
回路103に取り込まれ、インバータ103−2により
反転され、スイッチング制御回路106のオフ信号によ
り動作するクロックドインバータ103−1により出力
を帰還してデータ信号を保持する。液晶画素ドライバ1
04は2個のCMOSトランジスタ構成のトランスミッ
ションゲート104−1、104−2により構成するこ
とができる。メモリ回路103に保持されたデータ信号
がHレベルの場合は、液晶画素ドライバ104におい
て、ノーマリーホワイト表示の場合液晶を黒表示させる
第1の電圧信号線118に接続されるトランスミッショ
ンゲート104−1が導通状態となり、画素電極106
に第1の電圧116が供給され、対向電極108に供給
される基準電圧122との電位差により液晶画素105
が黒表示状態となる。同様に、保持されたデータ信号が
Lレベルの場合は、第2の電圧信号線119に接続され
るトランスミッションゲート104−2が導通状態とな
り、画素電極106に第2の電圧117が供給され液晶
画素105が白表示状態となる。
ネル用基板(反射電極側基板)1の全体の平面図を示
す。
においては、基板の周縁部に設けられている周辺回路に
光が入射するのを防止する遮光膜25が設けられてい
る。画素を駆動する回路は、上記画素電極がマトリック
ス状に配置された画素領域20の周辺および画素領域中
に設けられ、上記列走査線8aに列走査信号を供給する
列走査線駆動回路21や行走査線5に行走査信号を供給
する行走査線駆動回路23、パッド領域26を介して外
部から入力データを取り込む入力データ線22、これら
の回路はスイッチング制御回路109およびスイッチン
グ回路102のスイッチング素子とし、これにメモリ回
路103と液晶画素ドライバ104を組み合わせること
で構成される。なお、36は対向するガラス基板との接
着固定を行うシール材の形成領域である。
は、図1に示されている反射電極13同一工程で形成さ
れる第3の導電層で構成され、LC共通電極電位等の所
定電位が印加されるように構成されている。26は電源
電圧を供給するために使用されるパッドもしくは端子が
形成されたパッド領域である。
た反射型液晶パネルの断面構成を示す。図9および図1
0に示すように、上記液晶パネル基板31(1)は、そ
の裏面にガラスもしくはセラミック等からなる基板32
が接着剤により接着されている。これとともに、その表
面側には、LC共通電極電位が印加される透明導電膜
(ITO)からなる対向電極(共通電極ともいう)33
を有する入射側のガラス基板35が適当な間隔をおいて
配置され、周囲を図6のシール材形成領域36に形成し
たシール材36で接着された間隙内に周知のTN(Twis
ted Nematic)型液晶または電圧無印加状態で液晶分子
がほぼ垂直配向されたSH(Super Homeotropic)型液
晶37などが充填されて液晶パネル30として構成され
ている。なお、外部から信号を入力したり、パッド領域
26は上記シール材36の外側に来るようにシール材を
設ける位置が設定されている。
在して対向電極33と対向されるように構成されてい
る。そして、遮光膜25にLC共通電極電位を印加すれ
ば、対向電極33にはLC共通電極電位が印加されるの
で、その間に介在する液晶には直流電圧が印加されなく
なる。よってTN型液晶であれば常に液晶分子がほぼ9
0°ねじれたままとなり、SH型液晶であれば常に垂直
配向された状態に液晶分子が保たれる。
なる上記液晶パネル基板31は、その裏面にガラスもし
くはセラミック等からなる基板が接着剤により接合され
ているため、その強度が著しく高められる。その結果、
液晶パネル基板31に基板32を接合させてから対向基
板との貼り合わせを行うようにすると、パネル全体にわ
たって液晶層のギャップが均一になるという利点があ
る。
の説明 次に、本発明の反射型液晶パネルを表示装置として用い
た電子機器の例を説明する。
る。1000は携帯電話本体を示し、そのうちの100
1は本発明の反射型液晶パネルを用いた液晶表示部であ
る。
図である。1100は時計本体を示す斜視図である。1
101は本発明の反射型液晶パネルを用いた液晶表示部
である。この液晶パネルは、従来の時計表示部に比べて
高精細の画素を有するので、テレビ画像表示も可能とす
ることができ、腕時計型テレビを実現できる。
携帯型情報処理装置を示す図である。1200は情報処
理装置を示し、1202はキーボード等の入力部、12
06は本発明の反射型液晶パネルを用いた表示部、12
04は情報処理装置本体を示す。各々の電子機器は電池
により駆動される電子機器であるので、光源ランプを持
たない反射型液晶パネルを使えば、電池寿命を延ばすこ
とが出来る。また、本発明のように、周辺回路をパネル
基板に内蔵できるので、部品点数が大幅に減り、より軽
量化・小型化できる。
光学装置用基板は、反射電極の下方に形成された絶縁膜
に、液晶画素駆動回路と反射電極の接続部が形成され、
前記絶縁膜における該接続部以外の領域には不規則な配
置の凹部が形成されている。このため、本発明の電気光
学装置用基板によれば、最適な反射特性を有する反射電
極を容易に、かつ再現性良く作成することができ、表示
品位が向上する反射型液晶パネルを提供することができ
る。
側基板の第1の実施の形態の断面図である。
側基板の第2の実施の形態の断面図である。
側基板の第3の実施の形態の断面図である。
側基板の第4の実施の形態の断面図である。
側基板の第1,第2および第4の実施の形態を示す平面
図(a)および本発明を適用した反射型液晶パネルの反
射電極側基板の第1,第2および第4の実施形態におけ
る第2の導電層の構成例を示す平面図(b)である。
側基板の第3の実施形態における第2の導電層の構成例
を示す平面図である。
を示すブロック図である。
た反射型液晶パネルの一例を示す平面図である。
した反射型液晶パネルの一例を示す断面図である。
電話を示す図(A)、腕時計型テレビを示す図(B)お
よびパーソナルコンピュータの外観図(C)である。
域) 7 第1層間絶縁膜 8a,8b 第1の導電層(ソース・ドレイン電極) 9 第2層間絶縁膜 9b コンタクトホール 10a,10b 第2の導電層 11a 第3層間絶縁膜 11b 凹部 11c SOG膜 12 接続プラグ 13 第3の導電層(反射電極) 20 画素領域 21 列走査線駆動回路 22 入力データ線 23 行走査線駆動回路 25 遮光膜(第3の導電層) 26 パッド領域 31 液晶パネル基板 32 基板 33 対向電極 35 入射側のガラス基板 36 シール材 37 液晶 101 液晶画素駆動回路 102 スイッチング回路 103 メモリ回路 104 液晶画素ドライバ 105 液晶画素 106 画素電極 107 液晶層 108 対向電極 109 スイッチング制御回路 110 行走査線 111 行走査線駆動回路 112 列走査線 113 列走査線駆動回路 114 入力データ線 115 列データ線 116 第1の電圧 117 第2の電圧 118 第1の電圧信号線 119 第2の電圧信号線 120 行走査線駆動回路用制御信号 121 列走査線駆動回路用制御信号 122 基準電圧 1000 携帯電話 1001 本発明の反射型液晶パネルを用いた液晶表示
部 1100 時計 1101 本発明の反射型液晶パネルを用いた液晶表示
部 1200 情報処理装置 1202 キーボード等の入力部 1204 情報処理装置 1206 本発明の反射型液晶パネルを用いた表示部
Claims (10)
- 【請求項1】 基板上に複数の列走査線およびこの列走
査線と交差する複数の行走査線が配置され、前記複数の
列走査線と行走査線の交点毎に画素電極となる反射電極
が配置され、各画素電極にはスイッチング制御回路およ
び液晶画素駆動回路を具備した電気光学装置用基板にお
いて、 前記反射電極の下方に形成された絶縁膜には、前記液晶
画素駆動回路と反射電極の接続部が形成され、該絶縁膜
における該接続部以外の領域には不規則な配置の凹部が
形成されてなることを特徴とする電気光学装置用基板。 - 【請求項2】 前記液晶画素駆動回路と反射電極との接
続部と、前記液晶画素駆動回路と反射電極との接続部以
外の領域に不規則に配置された凹部が、異なるマスクを
使用して形成されてなることを特徴とする請求項1に記
載の電気光学装置用基板。 - 【請求項3】 前記基板が半導体基板であることを特徴
とする請求項1に記載の電気光学装置用基板。 - 【請求項4】 前記半導体基板が単結晶シリコンにより
構成されていることを特徴とする請求項3に記載の電気
光学装置用基板。 - 【請求項5】 前記基板が透明基板からなることを特徴
とする請求項1に記載の電気光学装置用基板。 - 【請求項6】 前記透明基板がガラスにより構成されて
いることを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置用
基板。 - 【請求項7】 前記絶縁膜における前記ソースドレイン
電極と反射電極との接続部以外の領域に形成された不規
則な配置の凹部にSOGが塗布されてなることを特徴と
する請求項1に記載の電気光学装置用基板。 - 【請求項8】 前記SOG膜がエッチバックされてなる
ことを特徴とする請求項7に記載の電気光学装置用基
板。 - 【請求項9】 請求項1〜8のいずれか1の請求項に記
載の電気光学装置用基板と、入射側の透明基板とが間隙
を有して配置されるとともに、前記電気光学装置用基板
と前記透明基板との間隙内に液晶が挟持されて構成され
ることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項10】 請求項9に記載の電気光学装置を用い
たことを特徴とする電子機器。
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---|---|---|---|
JP31903198A JP3740868B2 (ja) | 1998-11-10 | 1998-11-10 | 電気光学装置用基板及びその製造方法、電気光学装置並びにそれを用いた電子機器 |
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JP31903198A JP3740868B2 (ja) | 1998-11-10 | 1998-11-10 | 電気光学装置用基板及びその製造方法、電気光学装置並びにそれを用いた電子機器 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000147552A true JP2000147552A (ja) | 2000-05-26 |
JP3740868B2 JP3740868B2 (ja) | 2006-02-01 |
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JP (1) | JP3740868B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7522243B2 (en) | 2002-03-01 | 2009-04-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display device and method for fabricating the display device |
-
1998
- 1998-11-10 JP JP31903198A patent/JP3740868B2/ja not_active Expired - Fee Related
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