JP2000146710A - 低電圧/低電力温度センサ - Google Patents
低電圧/低電力温度センサInfo
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- JP2000146710A JP2000146710A JP11316291A JP31629199A JP2000146710A JP 2000146710 A JP2000146710 A JP 2000146710A JP 11316291 A JP11316291 A JP 11316291A JP 31629199 A JP31629199 A JP 31629199A JP 2000146710 A JP2000146710 A JP 2000146710A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/01—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 精度を向上させた温度センサを提供する。
【解決手段】 コンデンサへ印加される充電電圧及び放
電電圧を発生する電流源を使用するCMOS回路が設け
られている。これらの電圧は電流源内の抵抗の温度係数
に依存する。充電時間及び放電時間を使用して、該抵抗
の温度係数に依存する周波数を決定する。従って、該回
路の出力周波数に基づいて温度が検知される。
電電圧を発生する電流源を使用するCMOS回路が設け
られている。これらの電圧は電流源内の抵抗の温度係数
に依存する。充電時間及び放電時間を使用して、該抵抗
の温度係数に依存する周波数を決定する。従って、該回
路の出力周波数に基づいて温度が検知される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、装置の温度を決定
する回路に関するものである。更に詳細には、コンデン
サへ印加される充電電圧及び放電電圧を発生するための
電流源を使用する相補的・金属・酸化物・半導体(CM
OS)回路が提供される。これらの電圧は該電流源にお
ける抵抗の温度係数に依存する。従って、充電時間及び
放電時間は、該抵抗の温度に依存する周波数を決定する
ために使用される。従って、該回路の出力周波数に基づ
いて温度が検知される。
する回路に関するものである。更に詳細には、コンデン
サへ印加される充電電圧及び放電電圧を発生するための
電流源を使用する相補的・金属・酸化物・半導体(CM
OS)回路が提供される。これらの電圧は該電流源にお
ける抵抗の温度係数に依存する。従って、充電時間及び
放電時間は、該抵抗の温度に依存する周波数を決定する
ために使用される。従って、該回路の出力周波数に基づ
いて温度が検知される。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ及びデータ処理技術におい
ては、より速い処理速度及び並列的に複数個のタスクを
実施することが可能なシステムに対する要求が益々増加
している。しばしば、この増加された処理性能に関連す
るトレードオフ即ち利益衡量が存在している。1つの例
は電力消費レベルの増加とそれに対応して特定の装置又
はICによって発生される熱の量の増加とである。
ては、より速い処理速度及び並列的に複数個のタスクを
実施することが可能なシステムに対する要求が益々増加
している。しばしば、この増加された処理性能に関連す
るトレードオフ即ち利益衡量が存在している。1つの例
は電力消費レベルの増加とそれに対応して特定の装置又
はICによって発生される熱の量の増加とである。
【0003】温度センサは多くの適用例を有している。
今日の電子装置における多数の回路及び/又は機能的ユ
ニットは温度に敏感であり且つ温度が上昇し過ぎる場合
に補正動作を行うために正確且つ信頼性のある温度情報
を必要とする。例えば、ある温度スレッシュホールドに
到達した場合に、その温度を臨界点以下に減少させるた
めにシステム周波数を減少させることが可能である。更
に、小型の電子装置(ゲーム、ラップトップ、ノートブ
ックコンピュータ、パーソナルデジタルアシスタント)
等のシステム等は電力消費に敏感であり且つ温度の関数
である電力があるレベルに到達する場合にはそれらの動
作の全て又は一部をシャットダウンすることを必要とす
る場合がある。更に、温度が所定のレベルに到達する場
合には幾つかの個別的な回路を切断するか又はシャット
ダウンさせることが必要な場合がある。別の適用例は、
例えば周波数依存性であるクリスタルオシレータ等のオ
シレータ即ち発振器である。この場合には、出力周波数
の精度を調節するために温度センサが必要とされる。再
充電可能なバッテリ適用例は更に別の部門であって、そ
の場合には正確且つ信頼性のある温度センサが有益的で
ある。
今日の電子装置における多数の回路及び/又は機能的ユ
ニットは温度に敏感であり且つ温度が上昇し過ぎる場合
に補正動作を行うために正確且つ信頼性のある温度情報
を必要とする。例えば、ある温度スレッシュホールドに
到達した場合に、その温度を臨界点以下に減少させるた
めにシステム周波数を減少させることが可能である。更
に、小型の電子装置(ゲーム、ラップトップ、ノートブ
ックコンピュータ、パーソナルデジタルアシスタント)
等のシステム等は電力消費に敏感であり且つ温度の関数
である電力があるレベルに到達する場合にはそれらの動
作の全て又は一部をシャットダウンすることを必要とす
る場合がある。更に、温度が所定のレベルに到達する場
合には幾つかの個別的な回路を切断するか又はシャット
ダウンさせることが必要な場合がある。別の適用例は、
例えば周波数依存性であるクリスタルオシレータ等のオ
シレータ即ち発振器である。この場合には、出力周波数
の精度を調節するために温度センサが必要とされる。再
充電可能なバッテリ適用例は更に別の部門であって、そ
の場合には正確且つ信頼性のある温度センサが有益的で
ある。
【0004】従来の温度検知技術は、典型的に、トラジ
スタスレッシュホールド電圧の所定値に基づいている。
実際には、集積回路(IC)製造プロセスはウエハのグ
ループ毎、又はロット毎に正確に一貫性を有するもので
はない。従って、ウエハの特定のロットにおいてのトラ
ンジスタに対するスレッシュホールド電圧は別のロット
におけるトランジスタに対するスレッシュホールド電圧
と同一ではない。従って、周波数と温度との間の相関は
異なるロットにおいて製造されたセンサ間において一貫
したものではない。種々のデータ処理動作を実施するた
めに温度に依存する機能的ユニットは異なる温度で動作
する場合があり、その結果異なるロットにおいて製造さ
れた同一の装置において一貫性のない結果を発生する。
スタスレッシュホールド電圧の所定値に基づいている。
実際には、集積回路(IC)製造プロセスはウエハのグ
ループ毎、又はロット毎に正確に一貫性を有するもので
はない。従って、ウエハの特定のロットにおいてのトラ
ンジスタに対するスレッシュホールド電圧は別のロット
におけるトランジスタに対するスレッシュホールド電圧
と同一ではない。従って、周波数と温度との間の相関は
異なるロットにおいて製造されたセンサ間において一貫
したものではない。種々のデータ処理動作を実施するた
めに温度に依存する機能的ユニットは異なる温度で動作
する場合があり、その結果異なるロットにおいて製造さ
れた同一の装置において一貫性のない結果を発生する。
【0005】従って、精度を増加させた温度依存性出力
信号を供給するために異なる時間において及び異なるロ
ットにおいて製造される場合により高い一貫性を提供す
る温度センサに対する必要性が存在していることを理解
することが可能である。
信号を供給するために異なる時間において及び異なるロ
ットにおいて製造される場合により高い一貫性を提供す
る温度センサに対する必要性が存在していることを理解
することが可能である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の点に
鑑みなされたものであって、上述した如き従来技術の欠
点を解消し、向上した精度を有する温度センサを提供す
ることを目的とする。
鑑みなされたものであって、上述した如き従来技術の欠
点を解消し、向上した精度を有する温度センサを提供す
ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、異なる
装置毎に異なる所定のスレッシュホールド電圧ではな
く、回路内のデバイス即ち装置の実際の温度係数に基づ
く温度センサが提供される。
装置毎に異なる所定のスレッシュホールド電圧ではな
く、回路内のデバイス即ち装置の実際の温度係数に基づ
く温度センサが提供される。
【0008】広義においては、本発明はデバイス即ち装
置の温度を決定する回路を提供している。より詳細に
は、CMOS回路が提供され、それはコンデンサへ印加
される充電電圧及び放電電圧を発生するための電流源を
使用している。これらの電圧は電流源内の抵抗の温度係
数に依存する。従って、該抵抗の温度に依存する周波数
を決定するために充電時間及び放電時間を使用する。従
って、本回路の出力周波数に基づいて温度が検知され
る。
置の温度を決定する回路を提供している。より詳細に
は、CMOS回路が提供され、それはコンデンサへ印加
される充電電圧及び放電電圧を発生するための電流源を
使用している。これらの電圧は電流源内の抵抗の温度係
数に依存する。従って、該抵抗の温度に依存する周波数
を決定するために充電時間及び放電時間を使用する。従
って、本回路の出力周波数に基づいて温度が検知され
る。
【0009】
【発明の実施の形態】種々のデータ処理システムが本発
明の機能を使用するために、システムを構成する集積回
路又はチップのうちの選択したものの中に温度センサを
設ける。例えば、本発明の温度センサはクロック部分内
の応用特定集積回路(ASIC)上に設けることが可能
である。このように、クロック回路からの周波数出力
は、本発明のセンサが、所定のスレッシュホールドを超
える温度に到達したことを決定する場合に、低下させる
ことが可能である。従って、チップの温度を規制するた
めに、フェーズロックループ(PLL)等のクロック回
路へ制御信号を供給することが可能である。このクロッ
ク回路は、ASIC上に埋め込まれているマイクロプロ
セサ、マイクロコントローラ、デジタルプロセサ(DS
P)等の周波数を駆動するために使用することが可能で
ある。別の適用例においては、電力消費及び対応する温
度を減少させるためにICの種々の非臨界的な部分をタ
ーンオフさせるために、本発明のセンサは温度スレッシ
ュホールドにいつ到達したかを決定することが可能であ
る。当業者は、本発明の温度センサの多数のその他の使
用について容易に想起することが可能である。
明の機能を使用するために、システムを構成する集積回
路又はチップのうちの選択したものの中に温度センサを
設ける。例えば、本発明の温度センサはクロック部分内
の応用特定集積回路(ASIC)上に設けることが可能
である。このように、クロック回路からの周波数出力
は、本発明のセンサが、所定のスレッシュホールドを超
える温度に到達したことを決定する場合に、低下させる
ことが可能である。従って、チップの温度を規制するた
めに、フェーズロックループ(PLL)等のクロック回
路へ制御信号を供給することが可能である。このクロッ
ク回路は、ASIC上に埋め込まれているマイクロプロ
セサ、マイクロコントローラ、デジタルプロセサ(DS
P)等の周波数を駆動するために使用することが可能で
ある。別の適用例においては、電力消費及び対応する温
度を減少させるためにICの種々の非臨界的な部分をタ
ーンオフさせるために、本発明のセンサは温度スレッシ
ュホールドにいつ到達したかを決定することが可能であ
る。当業者は、本発明の温度センサの多数のその他の使
用について容易に想起することが可能である。
【0010】図1を参照すると、典型的なデータ処理シ
ステムが示されており、それは本発明に関連して使用す
ることが可能である。このデータ処理システムは、ラッ
プトップコンピュータ、PDA、デスクトップコンピュ
ータ等を包含するその中に包含されている装置又は回路
の温度を規制することを必要とする事実上任意のシステ
ムを包含することが可能である。例えばペンチアム(P
entium)IIマイクロプロセサ等のインテルコー
ポレイションから市販されている中央処理装置(CP
U)10を設けることが可能であるが、例えばIBMコ
ーポレイションから市販されているパワーPCマイクロ
プロセサ等のその他の製造業者から市販されているその
他のマイクロプロセサを使用することも可能である。マ
イクロプロセサ10はシステムバス12によって種々の
その他のコンポーネントへ相互接続されており、リード
オンリメモリ(ROM)16がバス12を介してCPU
10へ接続しており且つ基本的なコンピュータ機能を制
御する基本入力/出力システム(BIOS)を有してい
る。ランダムアクセスメモリ(RAM)14、I/Oア
ダプタ18、通信アダプタ34もシステムバス12へ相
互接続している。I/Oアダプタ18はディスク格納装
置20と通信を行う小型コンピュータシステムインター
フェース(SCSI)アダプタとすることが可能であ
る。
ステムが示されており、それは本発明に関連して使用す
ることが可能である。このデータ処理システムは、ラッ
プトップコンピュータ、PDA、デスクトップコンピュ
ータ等を包含するその中に包含されている装置又は回路
の温度を規制することを必要とする事実上任意のシステ
ムを包含することが可能である。例えばペンチアム(P
entium)IIマイクロプロセサ等のインテルコー
ポレイションから市販されている中央処理装置(CP
U)10を設けることが可能であるが、例えばIBMコ
ーポレイションから市販されているパワーPCマイクロ
プロセサ等のその他の製造業者から市販されているその
他のマイクロプロセサを使用することも可能である。マ
イクロプロセサ10はシステムバス12によって種々の
その他のコンポーネントへ相互接続されており、リード
オンリメモリ(ROM)16がバス12を介してCPU
10へ接続しており且つ基本的なコンピュータ機能を制
御する基本入力/出力システム(BIOS)を有してい
る。ランダムアクセスメモリ(RAM)14、I/Oア
ダプタ18、通信アダプタ34もシステムバス12へ相
互接続している。I/Oアダプタ18はディスク格納装
置20と通信を行う小型コンピュータシステムインター
フェース(SCSI)アダプタとすることが可能であ
る。
【0011】通信アダプタ34はバス12を外側のネッ
トワークと相互接続し、本データ処理システムを例えば
インターネット、ローカルエリアネットワーク(LA
N)等を介して他のこのようなシステムと通信を行うこ
とを可能とする。入力/出力装置もユーザインターフェ
ースアダプタ22及びディスプレイアダプタ36を介し
てシステムバス12へ接続している。キーボード24、
トラックボール32、マウス26、スピーカ28がユー
ザインターフェースアダプタ22を介してバス12と相
互接続している。ディスプレイモニタ38はディスプレ
イアダプタ36によってシステムバス12へ接続してい
る。このように、ユーザはキーボード24、トラックボ
ール32、又はマウス26を介してシステムへ入力を行
い且つスピーカ28及びディスプレイ38を介してシス
テムから出力を受取ることが可能である。更に、マイク
ロソフトコーポレイションから市販されているウインド
ウズのバージョンのうちの1つのようなオペレーティン
グシステムを使用して図1に示した種々のコンポーネン
トの機能を統一化させる。
トワークと相互接続し、本データ処理システムを例えば
インターネット、ローカルエリアネットワーク(LA
N)等を介して他のこのようなシステムと通信を行うこ
とを可能とする。入力/出力装置もユーザインターフェ
ースアダプタ22及びディスプレイアダプタ36を介し
てシステムバス12へ接続している。キーボード24、
トラックボール32、マウス26、スピーカ28がユー
ザインターフェースアダプタ22を介してバス12と相
互接続している。ディスプレイモニタ38はディスプレ
イアダプタ36によってシステムバス12へ接続してい
る。このように、ユーザはキーボード24、トラックボ
ール32、又はマウス26を介してシステムへ入力を行
い且つスピーカ28及びディスプレイ38を介してシス
テムから出力を受取ることが可能である。更に、マイク
ロソフトコーポレイションから市販されているウインド
ウズのバージョンのうちの1つのようなオペレーティン
グシステムを使用して図1に示した種々のコンポーネン
トの機能を統一化させる。
【0012】図2を参照すると、本発明温度センサの好
適実施例が示されている。この実施例においては、温度
センサをターンオン及びターンオフさせることを可能と
するスイッチング機構が示されている。ある場合におい
ては、温度センサが動作しているか否かを制御する能力
を有することが有益的である。例えば、データ処理シス
テムが低電力又は「スリープ」モードにある場合には、
温度センサが動作状態にあることは必要ではない。何故
ならば、「スリープ」モード期間中においては、システ
ムの殆どの機能はターンオフされ且つ温度は許容可能な
レベルにあるからである。
適実施例が示されている。この実施例においては、温度
センサをターンオン及びターンオフさせることを可能と
するスイッチング機構が示されている。ある場合におい
ては、温度センサが動作しているか否かを制御する能力
を有することが有益的である。例えば、データ処理シス
テムが低電力又は「スリープ」モードにある場合には、
温度センサが動作状態にあることは必要ではない。何故
ならば、「スリープ」モード期間中においては、システ
ムの殆どの機能はターンオフされ且つ温度は許容可能な
レベルにあるからである。
【0013】より詳細に説明すると、全体的な電力消費
を更に減少させるために温度センサをディスエーブル即
ち動作不能状態とさせるためにシステムマイクロプロセ
サ又はコントローラによって使用することの可能なスイ
ッチング回路が示されている。入力信号が第一インバー
タ51へのノード50上に供給される。更に、第二イン
バータ53、遅延回路55、第三インバータ57も該ス
イッチング回路の一部である。P型トランジスタ58の
ゲートはインバータ51の出力端へ接続している。P型
装置は、論理「0」(電圧の不存在)がそのゲートへ供
給される場合に、導通状態となる。N型トランジスタ5
2は、そのゲートをインバータ53の出力端へ接続して
いる。N型トランジスタは、論理「1」(電圧)がその
ゲートへ印加される場合に導通状態となる。P型トラン
ジスタ54は、そのゲートを遅延回路55の出力端へ接
続しており、且つN型トランジスタ56はそのゲートを
インバータ57の出力端へ接続している。
を更に減少させるために温度センサをディスエーブル即
ち動作不能状態とさせるためにシステムマイクロプロセ
サ又はコントローラによって使用することの可能なスイ
ッチング回路が示されている。入力信号が第一インバー
タ51へのノード50上に供給される。更に、第二イン
バータ53、遅延回路55、第三インバータ57も該ス
イッチング回路の一部である。P型トランジスタ58の
ゲートはインバータ51の出力端へ接続している。P型
装置は、論理「0」(電圧の不存在)がそのゲートへ供
給される場合に、導通状態となる。N型トランジスタ5
2は、そのゲートをインバータ53の出力端へ接続して
いる。N型トランジスタは、論理「1」(電圧)がその
ゲートへ印加される場合に導通状態となる。P型トラン
ジスタ54は、そのゲートを遅延回路55の出力端へ接
続しており、且つN型トランジスタ56はそのゲートを
インバータ57の出力端へ接続している。
【0014】ノード50へ入力される「ストップ(st
op)」信号が論理1と等しく設定されると、トランジ
スタ101,102,103,104と抵抗105によ
って形成される電流源がターンオフされる。特に、イン
バータ51の出力が「1」から「0」へ遷移する場合
に、トランジスタ58は導通状態となり且つノード60
をVccへプル即ち引っ張る。ノード50への入力がセ
ットされると、インバータ53の出力は「1」である。
従って、トランジスタ52は導通状態となり且つノード
61を基準電圧、この場合にはVssへプルダウンす
る。ノード60がVccにある場合には、トランジスタ
101及び102は導通状態とはならず且つ温度センサ
が動作するのに必要な電流を供給することは不可能であ
る。トランジスタ106,107,108,109はP
型トランジスタであり且つカレントミラーを形成してい
る。これらのトランジスタの各々はそのゲートをノード
60へ接続しており、従って、電流源のトランジスタ1
01及び102がオフである場合には、それらもターン
オフされる。
op)」信号が論理1と等しく設定されると、トランジ
スタ101,102,103,104と抵抗105によ
って形成される電流源がターンオフされる。特に、イン
バータ51の出力が「1」から「0」へ遷移する場合
に、トランジスタ58は導通状態となり且つノード60
をVccへプル即ち引っ張る。ノード50への入力がセ
ットされると、インバータ53の出力は「1」である。
従って、トランジスタ52は導通状態となり且つノード
61を基準電圧、この場合にはVssへプルダウンす
る。ノード60がVccにある場合には、トランジスタ
101及び102は導通状態とはならず且つ温度センサ
が動作するのに必要な電流を供給することは不可能であ
る。トランジスタ106,107,108,109はP
型トランジスタであり且つカレントミラーを形成してい
る。これらのトランジスタの各々はそのゲートをノード
60へ接続しており、従って、電流源のトランジスタ1
01及び102がオフである場合には、それらもターン
オフされる。
【0015】システムが温度センサをターンオンさせる
ことを所望する場合には、ノード50における入力制御
信号が高(1)から低(0)へスイッチされる。このこ
とはトランジスタ54のゲートにおいてパルスを発生さ
せる(遅延回路55から)。又、パルスはインバータ5
7からトランジスタ56のゲートへ供給される。トラン
ジスタ54が導通状態となると、ノード61はVccへ
プルアップされ、電流源のトランジスタ103及び10
4を導通状態とさせる。同様に、トランジスタ56が導
通状態を開始し且つトランジスタ101及び102も導
通状態を開始する場合にノード60はVssへプルダウ
ンされ、且つ該電流源が動作する。
ことを所望する場合には、ノード50における入力制御
信号が高(1)から低(0)へスイッチされる。このこ
とはトランジスタ54のゲートにおいてパルスを発生さ
せる(遅延回路55から)。又、パルスはインバータ5
7からトランジスタ56のゲートへ供給される。トラン
ジスタ54が導通状態となると、ノード61はVccへ
プルアップされ、電流源のトランジスタ103及び10
4を導通状態とさせる。同様に、トランジスタ56が導
通状態を開始し且つトランジスタ101及び102も導
通状態を開始する場合にノード60はVssへプルダウ
ンされ、且つ該電流源が動作する。
【0016】次に、図2を参照して温度センサの動作に
ついて説明する。上述したように、トランジスタ10
1,102,103,104及び抵抗105は電流源を
形成しており、それはトランジスタ102,104及び
抵抗105を介して電流を供給する。トランジスタ10
1,102,103,104の全ては弱い反転で動作す
る。
ついて説明する。上述したように、トランジスタ10
1,102,103,104及び抵抗105は電流源を
形成しており、それはトランジスタ102,104及び
抵抗105を介して電流を供給する。トランジスタ10
1,102,103,104の全ては弱い反転で動作す
る。
【0017】ノード62における電圧(Va)は以下の
式を使用して決定することが可能である。
式を使用して決定することが可能である。
【0018】 (1) Va=kT/qlnS104S101/S103S102 尚、kはボルツマン定数であり、qは電荷であり、且つ
Tは°K単位での温度である。この定数(kT/q)は
300°Kにおいて約26mVである。式(1)におい
て、「S」は電流源におけるトランジスタ(101,1
02,103,104)に対するトランジスタ寸法、即
ち幅/長さ(W/L)を表わしている。カレントミラー
がトランジスタ106によって形成されており、その場
合にトランジスタ102,104及び抵抗105を介し
て流れるのと同一の電流がトランジスタ106及び抵抗
109及び110を介して流れる。
Tは°K単位での温度である。この定数(kT/q)は
300°Kにおいて約26mVである。式(1)におい
て、「S」は電流源におけるトランジスタ(101,1
02,103,104)に対するトランジスタ寸法、即
ち幅/長さ(W/L)を表わしている。カレントミラー
がトランジスタ106によって形成されており、その場
合にトランジスタ102,104及び抵抗105を介し
て流れるのと同一の電流がトランジスタ106及び抵抗
109及び110を介して流れる。
【0019】ノード63における電圧(Vd)は以下の
式に従って決定することが可能である。
式に従って決定することが可能である。
【0020】 (2) Vd=(S106/S102)(R110/R105)(Va) 及び、ノード64における電圧(Vc)は次式によって
決定することが可能である。
決定することが可能である。
【0021】 (3) Vc=(S106/S102)((R109+R110)/R105)(Va)Vc は抵抗109及び抵抗110を横断しての電圧降下であ
り、且つVdは抵抗110を横断しての電圧である。
り、且つVdは抵抗110を横断しての電圧である。
【0022】本発明の好適実施例においては、コンデン
サはN型デプリション型トランジスタを使用して実現さ
れる。即ち、N型トランジスタのソース及びドレインを
互いに結合させ且つ該トランジスタのゲートと接続され
たソース/ドレインとを横断して容量即ちコンデンサが
形成される。コンデンサ120,121,122はこの
ようなNデプリション型トランジスタである。従って、
本発明の温度センサは出力周波数を決定するためにコン
デンサ120を使用している。より詳細に説明すると、
電流源がアクティブ即ち活性状態にある場合には、トラ
ンジスタ108がターンオンされて導通状態となる。N
型トランジスタ115がオンである場合には、コンデン
サ120を充電するために電流が使用される。トランジ
スタ108がターンオンされる場合にはP型トランジス
タ107も導通状態となる。このことはトランジスタ1
11及び112をして導通状態とさせ、従ってコンデン
サ120は放電電流に対しVssへの経路を有する。コ
ンデンサを充電するために使用される電流は次式によっ
て表わされる。
サはN型デプリション型トランジスタを使用して実現さ
れる。即ち、N型トランジスタのソース及びドレインを
互いに結合させ且つ該トランジスタのゲートと接続され
たソース/ドレインとを横断して容量即ちコンデンサが
形成される。コンデンサ120,121,122はこの
ようなNデプリション型トランジスタである。従って、
本発明の温度センサは出力周波数を決定するためにコン
デンサ120を使用している。より詳細に説明すると、
電流源がアクティブ即ち活性状態にある場合には、トラ
ンジスタ108がターンオンされて導通状態となる。N
型トランジスタ115がオンである場合には、コンデン
サ120を充電するために電流が使用される。トランジ
スタ108がターンオンされる場合にはP型トランジス
タ107も導通状態となる。このことはトランジスタ1
11及び112をして導通状態とさせ、従ってコンデン
サ120は放電電流に対しVssへの経路を有する。コ
ンデンサを充電するために使用される電流は次式によっ
て表わされる。
【0023】 (4) Ic=(S108/S102)(Va/R105) コンデンサ120からの放電電流は次式の如くに特性づ
けることが可能である。 (5) Id=(S112/S111)(S107/S102)(Va/R105) 上述したように、電圧Vc及びVdは、夫々、充電電圧
及び放電電圧である。
けることが可能である。 (5) Id=(S112/S111)(S107/S102)(Va/R105) 上述したように、電圧Vc及びVdは、夫々、充電電圧
及び放電電圧である。
【0024】ノード71における電圧は2つのN型トラ
ンジスタパスゲート146及び147を介してVcとV
dとの間でスイッチされる。パスゲート146がターン
オンされると、ノード71上の電圧はVc(充電)であ
る。又、トランジスタ146がターンオンされると、N
型パスゲートトランジスタ115もターンオンされ、コ
ンデンサ120がノード70を介してVc電圧レベルへ
充電されることを許容する。ノード70における電圧が
ノード71における電圧よりも高い間は、ノード72に
おける電圧は例えばトランジスタ130等のN型トラン
ジスタのスレッシュホールド電圧(Vtn)とほぼ同一
であり、且つノード73における電圧は実質的にゼロ
(0)である。次の遷移において、ノード75は高
(1)へ移行し且つパスゲート147及びN型パスゲー
トランジスタ117をターンオンさせる。この場合に
は、ノード71における電圧はVd(放電)レベルへス
イッチする。パスゲート117がターンオンすると、ノ
ード70はVd電圧レベルへ放電を開始し且つその放電
電流はトランジスタ112を介してVssへ流れる。
ンジスタパスゲート146及び147を介してVcとV
dとの間でスイッチされる。パスゲート146がターン
オンされると、ノード71上の電圧はVc(充電)であ
る。又、トランジスタ146がターンオンされると、N
型パスゲートトランジスタ115もターンオンされ、コ
ンデンサ120がノード70を介してVc電圧レベルへ
充電されることを許容する。ノード70における電圧が
ノード71における電圧よりも高い間は、ノード72に
おける電圧は例えばトランジスタ130等のN型トラン
ジスタのスレッシュホールド電圧(Vtn)とほぼ同一
であり、且つノード73における電圧は実質的にゼロ
(0)である。次の遷移において、ノード75は高
(1)へ移行し且つパスゲート147及びN型パスゲー
トランジスタ117をターンオンさせる。この場合に
は、ノード71における電圧はVd(放電)レベルへス
イッチする。パスゲート117がターンオンすると、ノ
ード70はVd電圧レベルへ放電を開始し且つその放電
電流はトランジスタ112を介してVssへ流れる。
【0025】本発明の好適実施例においては、電流対周
波数変換器として比較器が使用されている。より詳細に
説明すると、該比較器はアナログ電流出力センサ信号を
デジタル制御信号へ変換する。該比較器はN型トランジ
スタ127,128,129,130と共にP型トラン
ジスタ109,125,126によって形成されてお
り、その場合にトランジスタ128及び129は、好適
実施例においては、トランジスタ127及び130に対
してより多くの利得を付加するために設けられている。
図4によってより詳細に示されるように、ノード72及
び73における波形は180°フェーズシフトされてい
る準方形波である。これらの方形波の周波数は温度情報
を担持している。この周波数は所定期間にわたって方形
波パルスをカウントすることによってデジタル数値へ変
換することが可能である。
波数変換器として比較器が使用されている。より詳細に
説明すると、該比較器はアナログ電流出力センサ信号を
デジタル制御信号へ変換する。該比較器はN型トランジ
スタ127,128,129,130と共にP型トラン
ジスタ109,125,126によって形成されてお
り、その場合にトランジスタ128及び129は、好適
実施例においては、トランジスタ127及び130に対
してより多くの利得を付加するために設けられている。
図4によってより詳細に示されるように、ノード72及
び73における波形は180°フェーズシフトされてい
る準方形波である。これらの方形波の周波数は温度情報
を担持している。この周波数は所定期間にわたって方形
波パルスをカウントすることによってデジタル数値へ変
換することが可能である。
【0026】次いで、本発明の好適実施例においては、
差動対単一変換器(レベルシフタ)を使用して、差動型
波形を単一温度依存性信号へ変換する。この変換器はN
型トランジスタ132,135と関連してP型トランジ
スタ133,134によって形成されている。図4から
理解することが可能であるように、ノード73がN型ト
ランジスタのスレッシュホールド電圧(Vtn)にある
場合には、ノード72は低であり、且つその逆も又真で
ある。ノード72がVtnレベルにある時間期間中に、
トランジスタ132はターンオンされ、トランジスタ1
33及び134のゲートをVcc−Vtpへプルさせ
る。即ち、これらのトランジスタのゲートは入力電圧
(Vcc)−P型トランジスタのスレッシュホールド電
圧(Vtp)の電圧レベルへプルされる。このことは、
ノード74をして電圧Vccへプルアップさせる。ノー
ド74は実効的には本発明の温度センサの出力端であ
る。然しながら、このノードはノード74上の信号の速
度を増加させるために使用されている一連のインバータ
へ接続されている。好適実施例においては、4個のイン
バータが接続されている。これらのインバータは、夫
々、N型トランジスタ137,139,141,143
と接続しているPトランジスタ136,138,14
0,142によって形成されている。従って、ノード7
2がVtnレベルにある場合には、ノード74は高状態
であり且つノード145における温度センサの出力も高
である。この同一の時間期間中に、ノード73は低であ
り且つトランジスタ135をターンオンさせることはな
い。然しながら、次の時間期間中に、ノード73はVt
n電圧レベルにあり、そのことはトランジスタ135を
ターンオンさせ、そのことはノード74をVssへ向か
ってプルダウンさせ、それによりP型トランジスタ13
6がターンオンされる。このことはインバータ(トラン
ジスタ136及び137によって形成されている)の出
力を高(1)とさせる。この場合には、ノード145に
おける温度センサの出力は低(0)である。従って、ノ
ード73が高状態であると、ノード145における出力
は低状態である。
差動対単一変換器(レベルシフタ)を使用して、差動型
波形を単一温度依存性信号へ変換する。この変換器はN
型トランジスタ132,135と関連してP型トランジ
スタ133,134によって形成されている。図4から
理解することが可能であるように、ノード73がN型ト
ランジスタのスレッシュホールド電圧(Vtn)にある
場合には、ノード72は低であり、且つその逆も又真で
ある。ノード72がVtnレベルにある時間期間中に、
トランジスタ132はターンオンされ、トランジスタ1
33及び134のゲートをVcc−Vtpへプルさせ
る。即ち、これらのトランジスタのゲートは入力電圧
(Vcc)−P型トランジスタのスレッシュホールド電
圧(Vtp)の電圧レベルへプルされる。このことは、
ノード74をして電圧Vccへプルアップさせる。ノー
ド74は実効的には本発明の温度センサの出力端であ
る。然しながら、このノードはノード74上の信号の速
度を増加させるために使用されている一連のインバータ
へ接続されている。好適実施例においては、4個のイン
バータが接続されている。これらのインバータは、夫
々、N型トランジスタ137,139,141,143
と接続しているPトランジスタ136,138,14
0,142によって形成されている。従って、ノード7
2がVtnレベルにある場合には、ノード74は高状態
であり且つノード145における温度センサの出力も高
である。この同一の時間期間中に、ノード73は低であ
り且つトランジスタ135をターンオンさせることはな
い。然しながら、次の時間期間中に、ノード73はVt
n電圧レベルにあり、そのことはトランジスタ135を
ターンオンさせ、そのことはノード74をVssへ向か
ってプルダウンさせ、それによりP型トランジスタ13
6がターンオンされる。このことはインバータ(トラン
ジスタ136及び137によって形成されている)の出
力を高(1)とさせる。この場合には、ノード145に
おける温度センサの出力は低(0)である。従って、ノ
ード73が高状態であると、ノード145における出力
は低状態である。
【0027】このように、本発明の温度センサは回路内
の種々のコンポーネントの温度に依存する周波数を持っ
た出力信号をノード145に供給する。出力における周
波数は2つの時間期間、即ちコンデンサ120を充電す
るための時間及び該コンデンサを放電するのにかかる時
間の2つに基づいている。コンデンサを充電するための
時間は次式によって示される。
の種々のコンポーネントの温度に依存する周波数を持っ
た出力信号をノード145に供給する。出力における周
波数は2つの時間期間、即ちコンデンサ120を充電す
るための時間及び該コンデンサを放電するのにかかる時
間の2つに基づいている。コンデンサを充電するための
時間は次式によって示される。
【0028】 (6) tc=(C120)(Vcd/Ic) (7) Vcd=Vc−Vd=(S106/S102)(R109/R105)(Va) センサが放電するための時間期間は次式によって決定さ
れる。
れる。
【0029】 (8) td=(C120)(Vcd/Id) 出力端における周波数は次式で示される。
【0030】(9) 周波数=1/(tc+td) 従って、式(4),(5),(6),(7),(8)を
式(9)内に代入すると、次式が得られる。
式(9)内に代入すると、次式が得られる。
【0031】 (10) Frequency=[(S108/S102)(S112/S111)(S10 7 /S102)]/[(S120)(S106/S102)(R109)][(S108/S102)+ (S112/S111)(S107/S102)] 従って、式(10)において、R109が唯一の温度依存
性要素であることを理解することが可能である。トラン
ジスタの温度係数(TCR)は既知であるので、周波数
出力はTCRに逆比例する。周波数をモニタすることに
よって、回路の温度を決定することが可能である。即
ち、周波数が変化する場合に、チップ温度を検知する。
当業者によって理解されるように、例えばカウンタ等の
装置を出力ノード145へ接続して出力信号の周波数、
即ち与えられた時間期間にわたってコンデンサ120が
充電及び放電する回数をモニタすることが可能である。
正のTCRを有する物質の場合には、温度が増加するに
従い、周波数は減少する。同様に、温度が減少するに従
い、周波数は対応して増加する。従って、周波数は検知
回路の温度に逆比例し、即ち抵抗R109に対する抵抗値
の熱的効果に逆比例する。周波数が検知されると、その
温度が所定のスレッシュホールドレベルより高いか否か
を決定することが可能である。高い場合には、装置内の
種々の機能をシャットオフし、装置全体をターンオフさ
せる等の補正動作をとることが可能である。周波数が減
少して所定のスレッシュホールドより低い温度に対応す
ることとなる場合には、これらの機能は再度ターンオン
させることが可能である。勿論、本発明においては、1
つを超える数の所定のスレッシュホールドレベルを設け
ることを意図しており、その場合に各レベルは該装置上
の異なる機能に対応することが可能である。
性要素であることを理解することが可能である。トラン
ジスタの温度係数(TCR)は既知であるので、周波数
出力はTCRに逆比例する。周波数をモニタすることに
よって、回路の温度を決定することが可能である。即
ち、周波数が変化する場合に、チップ温度を検知する。
当業者によって理解されるように、例えばカウンタ等の
装置を出力ノード145へ接続して出力信号の周波数、
即ち与えられた時間期間にわたってコンデンサ120が
充電及び放電する回数をモニタすることが可能である。
正のTCRを有する物質の場合には、温度が増加するに
従い、周波数は減少する。同様に、温度が減少するに従
い、周波数は対応して増加する。従って、周波数は検知
回路の温度に逆比例し、即ち抵抗R109に対する抵抗値
の熱的効果に逆比例する。周波数が検知されると、その
温度が所定のスレッシュホールドレベルより高いか否か
を決定することが可能である。高い場合には、装置内の
種々の機能をシャットオフし、装置全体をターンオフさ
せる等の補正動作をとることが可能である。周波数が減
少して所定のスレッシュホールドより低い温度に対応す
ることとなる場合には、これらの機能は再度ターンオン
させることが可能である。勿論、本発明においては、1
つを超える数の所定のスレッシュホールドレベルを設け
ることを意図しており、その場合に各レベルは該装置上
の異なる機能に対応することが可能である。
【0032】本発明温度センサの1つの利点は、周波数
が実質的に供給電圧とは独立的であるという点である。
更に、本発明はトランジスタモデル独立性である。更に
詳細には、本発明の温度センサはトランジスタのスレッ
シュホールド電圧に依存するものではなく、それはスレ
ッシュホールド電圧(Vt)独立性である。式(10)
は回路内のN型及びP型装置に対する所定のスレッシュ
ホールド電圧値ではなく回路コンポーネントの実際の特
性に完全に依存する。
が実質的に供給電圧とは独立的であるという点である。
更に、本発明はトランジスタモデル独立性である。更に
詳細には、本発明の温度センサはトランジスタのスレッ
シュホールド電圧に依存するものではなく、それはスレ
ッシュホールド電圧(Vt)独立性である。式(10)
は回路内のN型及びP型装置に対する所定のスレッシュ
ホールド電圧値ではなく回路コンポーネントの実際の特
性に完全に依存する。
【0033】本発明は非常に低い電圧において機能す
る。何故ならば、電流源が単一のP型トランジスタ10
1及び102を有するに過ぎないからである。従って、
電流は、これらのトランジスタを横断してのスレッシュ
ホールド電圧(Vtp)+付加的な小さな大きさの電圧
(数百mVの程度)のみを印加することによって供給す
ることが可能である。理解することが可能であるよう
に、本発明によって消費される電力の量も温度センサ回
路が動作するのに必要な電圧が小さいために、比較的低
いものである。即ち、パワー即ち電力は電圧に直接的に
比例する(P=VA)。
る。何故ならば、電流源が単一のP型トランジスタ10
1及び102を有するに過ぎないからである。従って、
電流は、これらのトランジスタを横断してのスレッシュ
ホールド電圧(Vtp)+付加的な小さな大きさの電圧
(数百mVの程度)のみを印加することによって供給す
ることが可能である。理解することが可能であるよう
に、本発明によって消費される電力の量も温度センサ回
路が動作するのに必要な電圧が小さいために、比較的低
いものである。即ち、パワー即ち電力は電圧に直接的に
比例する(P=VA)。
【0034】本発明の別の好適実施例においては、定周
波数オシレータを設けることが可能である。このオシレ
ータも、図3のスイッチング回路の前述した説明に従っ
て、低パワー低電圧システムである。特定の環境温度に
おいてゼロ(0)の抵抗値の温度係数を有するように例
えばN型抵抗等の抵抗R109を適切に選択することによ
って、本回路の周波数出力は一定である。従って、正確
な周波数レベルを維持することが可能である。当業者に
よって理解されるように、例えば、室温における基準周
波数を得るためにレーザトリミング等によって対応する
温度に対しTCRを変化させることが必要である場合が
ある。
波数オシレータを設けることが可能である。このオシレ
ータも、図3のスイッチング回路の前述した説明に従っ
て、低パワー低電圧システムである。特定の環境温度に
おいてゼロ(0)の抵抗値の温度係数を有するように例
えばN型抵抗等の抵抗R109を適切に選択することによ
って、本回路の周波数出力は一定である。従って、正確
な周波数レベルを維持することが可能である。当業者に
よって理解されるように、例えば、室温における基準周
波数を得るためにレーザトリミング等によって対応する
温度に対しTCRを変化させることが必要である場合が
ある。
【0035】図3を参照すると、本発明のスイッチング
回路のより詳細な概略図が示されており、図3を図2と
関連して説明する。インバータ51及び53が遅延回路
を有するパルス発生器55へ接続されている。この遅延
回路は直列接続されている5個の付加的なインバータ3
00,301,302,303,304を有している。
パルス発生器回路55への入力は、又、NORゲート3
05への一方の入力として供給され、インバータ304
からの直列接続されているインバータの出力がNORゲ
ート305の他方の入力である。図2に示されるよう
に、パルス発生器回路55の出力はインバータ57へ供
給される。
回路のより詳細な概略図が示されており、図3を図2と
関連して説明する。インバータ51及び53が遅延回路
を有するパルス発生器55へ接続されている。この遅延
回路は直列接続されている5個の付加的なインバータ3
00,301,302,303,304を有している。
パルス発生器回路55への入力は、又、NORゲート3
05への一方の入力として供給され、インバータ304
からの直列接続されているインバータの出力がNORゲ
ート305の他方の入力である。図2に示されるよう
に、パルス発生器回路55の出力はインバータ57へ供
給される。
【0036】より詳細に説明すると、論理ゼロ(0)が
ノード50に入力されると、インバータ51は図2のト
ランジスタ58へ論理1(1)を出力し且つインバータ
53へ1を入力し、インバータ53は0をトランジスタ
52及びパルス発生器回路55へ出力する。この場合に
は、0がノードAにおいてNORゲート305へ入力さ
れ、一方1がインバータ304から出力され且つノード
BにおいてNORゲート305へ入力される。当業者に
よって理解されるように、インバータ300への二進入
力が各インバータ300,301,302,303,3
04によって処理され、次いで、論理1としてNORゲ
ート305へ出力される場合に、時間遅延が発生する。
このように、0がノード50へ入力されると、0がイン
バータ300へ入力され且つNORゲート305のノー
ドAへ入力される。遅延インバータ300,301,3
02,303,304はNORゲート305のノードB
に1を入力させる。この時間において、0がNORゲー
ト305から出力され且つ1がP型トランジスタ54へ
出力され、0がN型トランジスタ56へ出力される。こ
の時間期間中に、トランジスタ52,54,56,58
のいずれもがターンオンされることはない。論理1
(1)がノード50に入力されると、1がトランジスタ
52(オン)及び54へ出力され、且つ0がトランジス
タ56及び58へ出力され、即ちトランジスタ54及び
56はターンオンされず、一方トランジスタ52及び5
8はオンされてセンサをオフ状態に維持する。特に、ノ
ードA上のNORゲート305へ入力される1及びノー
ドB上でNORゲート305へ入力される0はインバー
タ306へ0を出力させる。このことはP型トランジス
タ54(オフ)及びインバータ57へ1を入力させる。
インバータ57の出力は0であり、それはN型トランジ
スタ56(オフ)へ入力される。
ノード50に入力されると、インバータ51は図2のト
ランジスタ58へ論理1(1)を出力し且つインバータ
53へ1を入力し、インバータ53は0をトランジスタ
52及びパルス発生器回路55へ出力する。この場合に
は、0がノードAにおいてNORゲート305へ入力さ
れ、一方1がインバータ304から出力され且つノード
BにおいてNORゲート305へ入力される。当業者に
よって理解されるように、インバータ300への二進入
力が各インバータ300,301,302,303,3
04によって処理され、次いで、論理1としてNORゲ
ート305へ出力される場合に、時間遅延が発生する。
このように、0がノード50へ入力されると、0がイン
バータ300へ入力され且つNORゲート305のノー
ドAへ入力される。遅延インバータ300,301,3
02,303,304はNORゲート305のノードB
に1を入力させる。この時間において、0がNORゲー
ト305から出力され且つ1がP型トランジスタ54へ
出力され、0がN型トランジスタ56へ出力される。こ
の時間期間中に、トランジスタ52,54,56,58
のいずれもがターンオンされることはない。論理1
(1)がノード50に入力されると、1がトランジスタ
52(オン)及び54へ出力され、且つ0がトランジス
タ56及び58へ出力され、即ちトランジスタ54及び
56はターンオンされず、一方トランジスタ52及び5
8はオンされてセンサをオフ状態に維持する。特に、ノ
ードA上のNORゲート305へ入力される1及びノー
ドB上でNORゲート305へ入力される0はインバー
タ306へ0を出力させる。このことはP型トランジス
タ54(オフ)及びインバータ57へ1を入力させる。
インバータ57の出力は0であり、それはN型トランジ
スタ56(オフ)へ入力される。
【0037】本発明の温度センサをターンオンさせるこ
とが所望される場合には、ノード50における入力が論
理0へ遷移し、そのことがNORゲート305のノード
A上にゼロを与え、同時に、前の論理0はいまだにNO
Rゲート305のノードB上に存在している。従って、
0を遅延インバータ(300,301,302,30
3,304)をトラバースさせるために論理1に対して
必要とされる遅延時間期間中(今ノード50へ入力され
る論理0のために)、0がNORゲート305のノード
A及びB上に存在する。この時間期間中に、論理1出力
パルスがNORゲート305から発生される。このパル
スはインバータ300への0の入力が遅延インバータを
トラバースするのに必要な時間の量と実質的に等しい期
間を有している。従って、NORゲート305からの出
力パルスは本発明の温度センサをして動作を開始させ
る。即ち、NORゲート305から論理1が出力され、
従ってインバータ306からP型トランジスタ54へ論
理0を供給させ、そのことはこのトランジスタをターン
オンさせる。更に、インバータ57から1が出力され、
それはN型トランジスタ56の導通状態を開始させる。
前述したように、トランジスタ54はトランジスタ10
3,104のゲートへVccを入力し且つトランジスタ
56はトランジスタ101,102のゲートをVssへ
プルして、それをターンオンさせる。従って、温度セン
サの電流源は動作を開始する。発生器55からの出力パ
ルスの期間の後に、トランジスタ52及び58がターン
オフされてノード50への入力が論理0へ変化されるま
でスイッチング機構はオフ状態を維持し、且つノード5
0において論理1への遷移が発生し且つその後にノード
50への入力を0へ変化させることによってNORゲー
ト305からパルスが発生されるまで電流発生器は動作
を終了する。
とが所望される場合には、ノード50における入力が論
理0へ遷移し、そのことがNORゲート305のノード
A上にゼロを与え、同時に、前の論理0はいまだにNO
Rゲート305のノードB上に存在している。従って、
0を遅延インバータ(300,301,302,30
3,304)をトラバースさせるために論理1に対して
必要とされる遅延時間期間中(今ノード50へ入力され
る論理0のために)、0がNORゲート305のノード
A及びB上に存在する。この時間期間中に、論理1出力
パルスがNORゲート305から発生される。このパル
スはインバータ300への0の入力が遅延インバータを
トラバースするのに必要な時間の量と実質的に等しい期
間を有している。従って、NORゲート305からの出
力パルスは本発明の温度センサをして動作を開始させ
る。即ち、NORゲート305から論理1が出力され、
従ってインバータ306からP型トランジスタ54へ論
理0を供給させ、そのことはこのトランジスタをターン
オンさせる。更に、インバータ57から1が出力され、
それはN型トランジスタ56の導通状態を開始させる。
前述したように、トランジスタ54はトランジスタ10
3,104のゲートへVccを入力し且つトランジスタ
56はトランジスタ101,102のゲートをVssへ
プルして、それをターンオンさせる。従って、温度セン
サの電流源は動作を開始する。発生器55からの出力パ
ルスの期間の後に、トランジスタ52及び58がターン
オフされてノード50への入力が論理0へ変化されるま
でスイッチング機構はオフ状態を維持し、且つノード5
0において論理1への遷移が発生し且つその後にノード
50への入力を0へ変化させることによってNORゲー
ト305からパルスが発生されるまで電流発生器は動作
を終了する。
【0038】これらの出力信号に基づく温度センサのス
イッチング動作については図2を参照して上に説明し
た。従って、電力を節約するために本発明の温度センサ
をシャットオフさせる入力信号をノード50へ供給する
ために制御回路を使用することが可能である。
イッチング動作については図2を参照して上に説明し
た。従って、電力を節約するために本発明の温度センサ
をシャットオフさせる入力信号をノード50へ供給する
ために制御回路を使用することが可能である。
【0039】図4は図2の温度センサ回路におけるノー
ドの種々のものにおいて存在する波形を示したタイミン
グ線図である。理解されるように、ノード70において
存在する第一波形は実質的に鋸歯状波形であり、それは
充電電圧Vcがノード71上に存在する時間期間中にお
ける充電状態(上方勾配)及び次いで放電電圧Vdがノ
ード71上に存在する放電(下方勾配)におけるコンデ
ンサ120を表わしている。ノード70上の波形はコン
デンサの周波数及び抵抗R2の温度係数に基づいてい
る。この信号は、周波数をモニタすることが可能である
ようにデジタル信号へ変換され、従って、基本的に出力
ノード145における信号遷移をカウントすることによ
って電流が検知される。
ドの種々のものにおいて存在する波形を示したタイミン
グ線図である。理解されるように、ノード70において
存在する第一波形は実質的に鋸歯状波形であり、それは
充電電圧Vcがノード71上に存在する時間期間中にお
ける充電状態(上方勾配)及び次いで放電電圧Vdがノ
ード71上に存在する放電(下方勾配)におけるコンデ
ンサ120を表わしている。ノード70上の波形はコン
デンサの周波数及び抵抗R2の温度係数に基づいてい
る。この信号は、周波数をモニタすることが可能である
ようにデジタル信号へ変換され、従って、基本的に出力
ノード145における信号遷移をカウントすることによ
って電流が検知される。
【0040】第二波形はノード71上の電圧を示してい
る。充電電圧Vcはコンデンサ120の充電動作に対応
しており、それはパスゲートのトランジスタ146がタ
ーンオンされる場合に発生する。電圧Vdはコンデンサ
120の放電に対応しており、且つパスゲートのトラン
ジスタ147がターンオンされる場合に発生する。
る。充電電圧Vcはコンデンサ120の充電動作に対応
しており、それはパスゲートのトランジスタ146がタ
ーンオンされる場合に発生する。電圧Vdはコンデンサ
120の放電に対応しており、且つパスゲートのトラン
ジスタ147がターンオンされる場合に発生する。
【0041】第三波形はノード72上の電圧を示してお
り、それはトランジスタ125,126,127,12
8,129,130によって形成される差動比較器回路
の出力である。第四波形はノード73上の電圧を表わし
ており、それは該比較器回路の別の出力である。図4か
ら理解することが可能であるように、ノード72及び7
3における出力信号は互いに180度位相がずれてい
る。これらの信号はトランジスタ132,133,13
4,135によって形成されている差動対単一変換器回
路への入力である。ノード74はこの変換器回路の出力
端であり且つ4個のインバータに対する出力信号を供給
する。
り、それはトランジスタ125,126,127,12
8,129,130によって形成される差動比較器回路
の出力である。第四波形はノード73上の電圧を表わし
ており、それは該比較器回路の別の出力である。図4か
ら理解することが可能であるように、ノード72及び7
3における出力信号は互いに180度位相がずれてい
る。これらの信号はトランジスタ132,133,13
4,135によって形成されている差動対単一変換器回
路への入力である。ノード74はこの変換器回路の出力
端であり且つ4個のインバータに対する出力信号を供給
する。
【0042】第五波形は温度センサ回路出力である。そ
れはノード72における波形に追従する。より詳細に説
明すると、ノード72がVtnにある場合には、トラン
ジスタ132がターンオンされ且つN型トランジスタ1
34のゲートへ基準の電圧を入力させ、そのことはノー
ド74上に論理1を発生させる。このことはノード14
5上に論理1を出力させる(ノード74と145との間
には偶数個のインバータが存在している)。ノード73
がVtnであると、N型トランジスタ135がターンオ
ンされ、ノード74上に基準電圧(論理0)を出力させ
且つ究極的にノード145上に出力させる。従って、ノ
ード145上の出力はノード72上の波形に追従する
が、ノード73上の波形とは補間関係にある。
れはノード72における波形に追従する。より詳細に説
明すると、ノード72がVtnにある場合には、トラン
ジスタ132がターンオンされ且つN型トランジスタ1
34のゲートへ基準の電圧を入力させ、そのことはノー
ド74上に論理1を発生させる。このことはノード14
5上に論理1を出力させる(ノード74と145との間
には偶数個のインバータが存在している)。ノード73
がVtnであると、N型トランジスタ135がターンオ
ンされ、ノード74上に基準電圧(論理0)を出力させ
且つ究極的にノード145上に出力させる。従って、ノ
ード145上の出力はノード72上の波形に追従する
が、ノード73上の波形とは補間関係にある。
【0043】以上、本発明の具体的実施の態様について
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ制限
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論であ
る。
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ制限
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論であ
る。
【図1】 本発明を実現することの可能なコンポーネン
トを包含するデータ処理システムを示した概略ブロック
図。
トを包含するデータ処理システムを示した概略ブロック
図。
【図2】 本発明の好適実施例を構成する要素を示した
概略図。
概略図。
【図3】 本発明の活性化機構を示した概略図。
【図4】 図2の回路における種々のノードにおいて存
在する特定の時間においての波形を示したタイミング線
図。
在する特定の時間においての波形を示したタイミング線
図。
10 中央処理装置(CPU) 12 システムバス 14 ランダムアクセスメモリ(RAM) 16 リードオンリメモリ(ROM) 18 I/Oアダプタ 20 ディスク格納(記憶)装置 22 インターフェースアダプタ 24 キーボード 26 マウス 28 スピーカ 32 トラックボール 36 ディスプレイアダプタ 38 ディスプレイモニタ
Claims (13)
- 【請求項1】 温度センサにおいて、 複数個のトランジスタと少なくとも1個の抵抗とを具備
する電流源、 前記電流源からの電流出力を温度依存性周波数信号へ変
換する手段、を有しており、前記温度依存性周波数信号
が前記複数個のトランジスタのうちのいずれのトランジ
スタを横断してのスレッシュホールド電圧とも独立的で
あることを特徴とする温度センサ。 - 【請求項2】 請求項1において、前記温度依存性周波
数信号が前記少なくとも1個の抵抗の抵抗値の熱係数に
基づいていることを特徴とする温度センサ。 - 【請求項3】 請求項2において、前記温度依存性周波
数信号の周波数が前記少なくとも1個の抵抗の温度に比
例していることを特徴とする温度センサ。 - 【請求項4】 請求項1において、前記変換する手段
が、 前記少なくとも1個の抵抗の抵抗値に関連している充電
電圧及び放電電圧に夫々比例する充電電流及び放電電流
を有している前記電流源の出力端へ結合されているコン
デンサと、 前記コンデンサから入力信号を受取り且つそれに基づい
て差動フェーズシフト制御信号を出力する比較器と、 前記差動フェーズシフト制御信号を結合し且つ前記温度
依存性周波数信号を出力する回路と、を有していること
を特徴とする温度センサ。 - 【請求項5】 請求項4において、更に、前記温度依存
性周波数信号をモニタし且つ所定の温度レベルに基づい
てその他の回路の動作を規制する手段を有していること
を特徴とする温度センサ。 - 【請求項6】 請求項5において、更に、外部制御信号
に基づいて前記温度センサを不活性化させる手段を有し
ていることを特徴とする温度センサ。 - 【請求項7】 集積回路装置における温度を検知する方
法において、 前記集積回路装置内に設けられており複数個のトランジ
スタと少なくとも1個の抵抗とを具備する電流源から電
流を供給し、 前記電流源からの電流出力を温度依存性周波数信号へ変
換させる、上記各ステップを有しており、前記温度依存
性周波数信号が前記複数個のトランジスタのうちのいず
れのトランジスタを横断してのスレッシュホールド電圧
とも独立的であることを特徴とする方法。 - 【請求項8】 請求項7において、前記温度依存性周波
数信号が前記少なくとも1個の抵抗の抵抗値の熱係数に
基づいていることを特徴とする方法。 - 【請求項9】 請求項8において、前記温度依存性周波
数信号の周波数が前記少なくとも1個の抵抗の温度に比
例していることを特徴とする方法。 - 【請求項10】 請求項9において、前記変換するステ
ップにおいて、 前記少なくとも1個の抵抗の抵抗値に関連している充電
電圧及び放電電圧に夫々比例する充電電流及び放電電流
を有している前記電流源の出力端に結合しているコンデ
ンサを設け、 比較器によって前記コンデンサからの入力信号を受取り
且つ前記比較器によってそれに基づいて差動フェーズシ
フト制御信号を出力し、 前記差動フェーズシフト制御信号を結合し且つ前記温度
依存性周波数信号を出力する、ことを特徴とする方法。 - 【請求項11】 請求項10において、更に、 前記温度依存性周波数信号をモニタし、 所定の温度レベルに基づいてその他の回路の動作を規制
する、上記各ステップを有していることを特徴とする方
法。 - 【請求項12】 請求項11において、更に、外部制御
信号に基づいて前記温度センサを不活性化させるステッ
プを有していることを特徴とする方法。 - 【請求項13】 データ処理システム内に設けられてい
るコンポーネントの電力消費を規制するデータ処理シス
テムにおいて、 前記データ処理システムにおけるデータ処理機能のうち
の一部を実施する少なくとも1個の集積回路装置、 複数個のトランジスタと少なくとも1個の抵抗とを具備
している電流源を有しており、前記電流源からの電流出
力を温度依存性周波数信号へ変換する手段を包含してお
り、前記温度依存性周波数信号が前記複数個のトランジ
スタのうちのいずれのトランジスタを横断してのスレッ
シュホールド電圧とも独立的である温度センサ、 前記温度依存性周波数信号がいつ所定レベルに到達した
かを決定し且つそれに基づいて前記少なくとも1個の集
積回路の動作を制御するモニタ、を有していることを特
徴とするデータ処理システム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/187,502 US6421626B1 (en) | 1998-11-06 | 1998-11-06 | Low voltage/low power temperature sensor |
US09/187502 | 1998-11-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000146710A true JP2000146710A (ja) | 2000-05-26 |
Family
ID=22689252
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11316291A Pending JP2000146710A (ja) | 1998-11-06 | 1999-11-08 | 低電圧/低電力温度センサ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6421626B1 (ja) |
EP (1) | EP0999435A3 (ja) |
JP (1) | JP2000146710A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256694A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Korea Univ Industrial & Academic Collaboration Foundation | 発振回路を利用した温度測定装置及び方法 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6702457B1 (en) * | 2001-12-20 | 2004-03-09 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for a thermal wake-up circuit |
US7004625B2 (en) * | 2002-05-21 | 2006-02-28 | Acrolon Technologies, Inc. | System and method for temperature sensing and monitoring |
FR2845781B1 (fr) | 2002-10-09 | 2005-03-04 | St Microelectronics Sa | Generateur de tension de type a intervalle de bande |
FR2845767B1 (fr) * | 2002-10-09 | 2005-12-09 | St Microelectronics Sa | Capteur numerique de temperature integre |
US7069459B2 (en) * | 2003-03-10 | 2006-06-27 | Sun Microsystems, Inc. | Clock skew reduction technique based on distributed process monitors |
JP2007500356A (ja) * | 2003-05-28 | 2007-01-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | シグナルインテグリティ自己テストアーキテクチャ |
US7084695B2 (en) | 2004-08-31 | 2006-08-01 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for low voltage temperature sensing |
US7127368B2 (en) * | 2004-11-19 | 2006-10-24 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte. Ltd. | On-chip temperature sensor for low voltage operation |
US7460932B2 (en) | 2005-11-29 | 2008-12-02 | International Business Machines Corporation | Support of deep power savings mode and partial good in a thermal management system |
ES2691624T3 (es) | 2006-10-09 | 2018-11-28 | Incide, S.A. | Sensor de temperatura inalámbrico |
ITUD20070076A1 (it) | 2007-04-26 | 2008-10-27 | Eurotech S P A | Dispositivo di visualizzazione interattivo e procedimento di configurazione con unita' di calcolo |
TWI358622B (en) * | 2008-04-23 | 2012-02-21 | Nanya Technology Corp | Temperature detector and the method using the same |
JP5213175B2 (ja) * | 2008-11-14 | 2013-06-19 | セイコーインスツル株式会社 | 温度センサ |
US7898295B1 (en) | 2009-03-19 | 2011-03-01 | Pmc-Sierra, Inc. | Hot-pluggable differential signaling driver |
JP5736744B2 (ja) * | 2010-01-26 | 2015-06-17 | セイコーエプソン株式会社 | 熱センサーデバイス及び電子機器 |
US8931953B2 (en) | 2010-05-27 | 2015-01-13 | The Hong Kong University Of Science And Technology | Low voltage low power CMOS temperature sensor circuit |
US9590638B2 (en) | 2012-09-07 | 2017-03-07 | University Of Virginia Patent Foundation | Low power clock source |
US9749739B2 (en) | 2015-09-18 | 2017-08-29 | Qualcomm Incorporated | Protection of a speaker from thermal damage |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5217754A (en) * | 1975-07-31 | 1977-02-09 | Meisei Electric Co Ltd | Multivibrator |
US4150573A (en) * | 1976-12-03 | 1979-04-24 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Electronic digital thermometer |
US4277975A (en) * | 1979-11-13 | 1981-07-14 | General Electric Company | Digital thermometer |
US4618816A (en) * | 1985-08-22 | 1986-10-21 | National Semiconductor Corporation | CMOS ΔVBE bias current generator |
JPH104318A (ja) * | 1996-04-15 | 1998-01-06 | Mitsumi Electric Co Ltd | 温度補償型水晶発振器 |
US6005408A (en) * | 1997-07-31 | 1999-12-21 | Credence Systems Corporation | System for compensating for temperature induced delay variation in an integrated circuit |
-
1998
- 1998-11-06 US US09/187,502 patent/US6421626B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-11-01 EP EP99308648A patent/EP0999435A3/en not_active Withdrawn
- 1999-11-08 JP JP11316291A patent/JP2000146710A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256694A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Korea Univ Industrial & Academic Collaboration Foundation | 発振回路を利用した温度測定装置及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0999435A3 (en) | 2003-01-08 |
US6421626B1 (en) | 2002-07-16 |
US20020022941A1 (en) | 2002-02-21 |
EP0999435A2 (en) | 2000-05-10 |
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