JP2000126162A - 放射線画像処理装置 - Google Patents
放射線画像処理装置Info
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Landscapes
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】良好な放射線画像を得ると共に画像欠陥の位置
を容易に判別可能とする。 【解決手段】２次元的に配列された複数の放射線検出素
子からの出力信号に基づいて画像データを生成する。こ
の画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出
し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域
４４ａに記憶する。この欠陥情報に基づいて画像欠陥を
補正して新たな１画像分の画像データを作成する。補正
前と補正後の画像データを対として画像表示装置５６に
表示する。補正後の画像データに基づいて良好な放射線
画像を画像表示装置５６に表示させることができると共
に、補正前の画像データに基づく放射線画像を画像表示
装置５６に表示することにより補正が行われた画像欠陥
の位置も容易に判別できる。
を容易に判別可能とする。 【解決手段】２次元的に配列された複数の放射線検出素
子からの出力信号に基づいて画像データを生成する。こ
の画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出
し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域
４４ａに記憶する。この欠陥情報に基づいて画像欠陥を
補正して新たな１画像分の画像データを作成する。補正
前と補正後の画像データを対として画像表示装置５６に
表示する。補正後の画像データに基づいて良好な放射線
画像を画像表示装置５６に表示させることができると共
に、補正前の画像データに基づく放射線画像を画像表示
装置５６に表示することにより補正が行われた画像欠陥
の位置も容易に判別できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は放射線画像処理装
置に関する。
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、疾病の診断等のため、放射線画像
を得ることができる放射線画像処理装置が知られてい
る。この放射線画像処理装置では、例えば放射線エネル
ギーの一部を蓄積して、その後可視光等の励起光を照射
すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す輝
尽性蛍光体をシート状とした輝尽性蛍光体シートが用い
られる。この輝尽性蛍光体シートを用いる装置では、被
写体を透過した放射線を輝尽性蛍光体シートに照射する
ことで被写体の放射線画像情報を記録し、この情報が記
録された輝尽性蛍光体シートにレーザ光等を照射して得
られる輝尽発光を集光して光電素子で電気信号に変換す
ることにより、この電気信号に基づいて放射線画像の画
像データが生成される。さらに、Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ
Ｄｅｔｅｃｔｏｒ(ＦＰＤ)と呼ばれる、２次元的に配列
された複数の検出素子で照射された放射線の線量に応じ
た電気信号を生成し、この電気信号に基づいて画像デー
タが生成される装置も使用される。
を得ることができる放射線画像処理装置が知られてい
る。この放射線画像処理装置では、例えば放射線エネル
ギーの一部を蓄積して、その後可視光等の励起光を照射
すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す輝
尽性蛍光体をシート状とした輝尽性蛍光体シートが用い
られる。この輝尽性蛍光体シートを用いる装置では、被
写体を透過した放射線を輝尽性蛍光体シートに照射する
ことで被写体の放射線画像情報を記録し、この情報が記
録された輝尽性蛍光体シートにレーザ光等を照射して得
られる輝尽発光を集光して光電素子で電気信号に変換す
ることにより、この電気信号に基づいて放射線画像の画
像データが生成される。さらに、Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ
Ｄｅｔｅｃｔｏｒ(ＦＰＤ)と呼ばれる、２次元的に配列
された複数の検出素子で照射された放射線の線量に応じ
た電気信号を生成し、この電気信号に基づいて画像デー
タが生成される装置も使用される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、複数の検出
素子が２次元的に配列されているＦＰＤでは、照射され
た放射線の線量に対する電気信号の信号レベル（信号
値）が全ての検出素子で均一ではなく、破損した素子や
不良な素子など信号レベルが他の検出素子とは異なった
レベル、すなわち異常なレベルとなってしまう検出素子
（以下「欠陥画素」という）を含む場合がある。このよ
うな欠陥画素を含む場合には、ＦＰＤから読み出された
信号に基づく画像データにおいて画像欠陥が生じてしま
うことから、撮影画像から病変等の読影をする際に、そ
の妨げとなってしまう場合が生じてしまう。
素子が２次元的に配列されているＦＰＤでは、照射され
た放射線の線量に対する電気信号の信号レベル（信号
値）が全ての検出素子で均一ではなく、破損した素子や
不良な素子など信号レベルが他の検出素子とは異なった
レベル、すなわち異常なレベルとなってしまう検出素子
（以下「欠陥画素」という）を含む場合がある。このよ
うな欠陥画素を含む場合には、ＦＰＤから読み出された
信号に基づく画像データにおいて画像欠陥が生じてしま
うことから、撮影画像から病変等の読影をする際に、そ
の妨げとなってしまう場合が生じてしまう。
【０００４】また、画像欠陥が生じたときに補正を行う
ものとした場合、補正後の画像データからは補正が行わ
れた位置を判別することができないことから、補正が行
われた位置を確認することができなくなってしまう。
ものとした場合、補正後の画像データからは補正が行わ
れた位置を判別することができないことから、補正が行
われた位置を確認することができなくなってしまう。
【０００５】そこで、この発明では、画像欠陥が生じた
場合であっても良好な見やすい放射線画像を得ることが
できると共に、画像欠陥の位置を容易に判別することが
できる放射線画像処理装置を提供するものである。
場合であっても良好な見やすい放射線画像を得ることが
できると共に、画像欠陥の位置を容易に判別することが
できる放射線画像処理装置を提供するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る放射線画
像処理装置は、２次元的に配列された複数の放射線検出
素子からの出力信号に基づいて画像データを作成する画
像データ作成手段と、画像データ作成手段で作成された
第１の画像データを用いて画像欠陥を検出すると共に、
検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠
陥検出手段と、欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記
憶する欠陥情報記憶手段と、欠陥情報記憶手段に記憶し
た欠陥情報に基づき、被写体を透過した放射線を複数の
放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データの
画像欠陥を補正して第３の画像データを作成する欠陥補
正手段とを有する放射線画像処理装置であって、第２の
画像データと第３の画像データを１つの画像データとし
て処理する画像データ処理手段を有するものである。
像処理装置は、２次元的に配列された複数の放射線検出
素子からの出力信号に基づいて画像データを作成する画
像データ作成手段と、画像データ作成手段で作成された
第１の画像データを用いて画像欠陥を検出すると共に、
検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠
陥検出手段と、欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記
憶する欠陥情報記憶手段と、欠陥情報記憶手段に記憶し
た欠陥情報に基づき、被写体を透過した放射線を複数の
放射線検出素子に照射して作成した第２の画像データの
画像欠陥を補正して第３の画像データを作成する欠陥補
正手段とを有する放射線画像処理装置であって、第２の
画像データと第３の画像データを１つの画像データとし
て処理する画像データ処理手段を有するものである。
【０００７】また、画像表示手段と、画像表示手段に画
像データを供給する画像データ供給手段とを備え、画像
データ供給手段では、第２の画像データあるいは第３の
画像データのいずれかを切り換えて画像表示手段に供給
し、あるいは両方を画像表示手段に供給し、画像表示手
段では、画像データ供給手段から供給された画像データ
に基づく放射線画像を表示するものである。
像データを供給する画像データ供給手段とを備え、画像
データ供給手段では、第２の画像データあるいは第３の
画像データのいずれかを切り換えて画像表示手段に供給
し、あるいは両方を画像表示手段に供給し、画像表示手
段では、画像データ供給手段から供給された画像データ
に基づく放射線画像を表示するものである。
【０００８】また、画像データを出力する画像データ出
力手段とを備え、画像データ出力手段では、第２の画像
データ及び第３の画像データの両方の画像データを１枚
の媒体に出力可能となるよう処理して出力するものであ
る。
力手段とを備え、画像データ出力手段では、第２の画像
データ及び第３の画像データの両方の画像データを１枚
の媒体に出力可能となるよう処理して出力するものであ
る。
【０００９】この発明においては、画像欠陥の補正が行
われる前の画像データと補正が行われた後の画像データ
が対として処理されて、この対とされた画像データに基
づき補正前の放射線画像と補正後の放射線画像が同時に
あるいは切り換えて表示される。また、対とされた画像
データがまとめて出力される。さらに補正前の画像デー
タあるいは補正後の画像データに代えて、画像欠陥の位
置を示す情報が用いられて、画像欠陥の位置を示す表示
あるいは画像欠陥の位置を示す情報の出力が行われる。
ここで、例えば放射線画像を表示する表示手段の画素数
が表示する画像データの画素数よりも少ない場合には、
画像欠陥が最も少なくなるように画像データの間引きが
行われる。また、画像データを１枚の媒体に放射線画像
として出力する外部機器において、１枚の媒体に対して
出力できる画素数が、画像データの画素数よりも少ない
場合には、この外部機器に応じて画像欠陥が最も少なく
なるように間引きを行った画像データが放射線画像処理
装置から外部機器に出力される。
われる前の画像データと補正が行われた後の画像データ
が対として処理されて、この対とされた画像データに基
づき補正前の放射線画像と補正後の放射線画像が同時に
あるいは切り換えて表示される。また、対とされた画像
データがまとめて出力される。さらに補正前の画像デー
タあるいは補正後の画像データに代えて、画像欠陥の位
置を示す情報が用いられて、画像欠陥の位置を示す表示
あるいは画像欠陥の位置を示す情報の出力が行われる。
ここで、例えば放射線画像を表示する表示手段の画素数
が表示する画像データの画素数よりも少ない場合には、
画像欠陥が最も少なくなるように画像データの間引きが
行われる。また、画像データを１枚の媒体に放射線画像
として出力する外部機器において、１枚の媒体に対して
出力できる画素数が、画像データの画素数よりも少ない
場合には、この外部機器に応じて画像欠陥が最も少なく
なるように間引きを行った画像データが放射線画像処理
装置から外部機器に出力される。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の一形態に
ついて図を用いて詳細に説明する。図１は、放射線画像
処理装置の構成を示す図である。放射線発生装置１０は
コントローラ４０によって制御される。この放射線発生
装置１０から放射された放射線は、被写体５を通して放
射線画像読取装置２０の撮像パネルに照射される。放射
線画像読取装置２０では、照射された放射線の強度に基
づく画像データを生成する。コントローラ４０では、放
射線画像読取装置２０で生成された画像データを用い
て、放射線画像の処理や表示あるいは記録等を行う。
ついて図を用いて詳細に説明する。図１は、放射線画像
処理装置の構成を示す図である。放射線発生装置１０は
コントローラ４０によって制御される。この放射線発生
装置１０から放射された放射線は、被写体５を通して放
射線画像読取装置２０の撮像パネルに照射される。放射
線画像読取装置２０では、照射された放射線の強度に基
づく画像データを生成する。コントローラ４０では、放
射線画像読取装置２０で生成された画像データを用い
て、放射線画像の処理や表示あるいは記録等を行う。
【００１１】図２は、放射線画像読取装置２０の構成を
示している。この放射線画像読取装置２０では、照射さ
れた放射線の線量に応じて電気信号を出力する検出素子
ＤＴ-(1,1)〜ＤＴ-(m,n)が２次元配置されて撮像パネル
２２が構成されている。
示している。この放射線画像読取装置２０では、照射さ
れた放射線の線量に応じて電気信号を出力する検出素子
ＤＴ-(1,1)〜ＤＴ-(m,n)が２次元配置されて撮像パネル
２２が構成されている。
【００１２】ここで、検出素子ＤＴは、照射された放射
線の線量に応じた電気信号を出力するものであれば良
い。例えば放射線が照射されたときに電子−正孔対が生
成されて抵抗値が変化する光導電層を用いて検出素子が
形成されている場合、この光導電層で生成された放射線
量に応じた量の電荷が電荷蓄積コンデンサに蓄えられ
て、この電荷蓄積コンデンサに蓄えられた電荷を電気信
号として出力する。なお、光導電層としては暗抵抗値が
高いものが望ましく、アモルファスセレン、酸化鉛、硫
化カドミウム、ヨウ化第２水銀、または光導電性を示す
有機材料（Ｘ線吸収コンパウンドが添加された光伝導性
ポリマを含む）などが用いられ、特にアモルファスセレ
ンが望ましい。
線の線量に応じた電気信号を出力するものであれば良
い。例えば放射線が照射されたときに電子−正孔対が生
成されて抵抗値が変化する光導電層を用いて検出素子が
形成されている場合、この光導電層で生成された放射線
量に応じた量の電荷が電荷蓄積コンデンサに蓄えられ
て、この電荷蓄積コンデンサに蓄えられた電荷を電気信
号として出力する。なお、光導電層としては暗抵抗値が
高いものが望ましく、アモルファスセレン、酸化鉛、硫
化カドミウム、ヨウ化第２水銀、または光導電性を示す
有機材料（Ｘ線吸収コンパウンドが添加された光伝導性
ポリマを含む）などが用いられ、特にアモルファスセレ
ンが望ましい。
【００１３】また、検出素子ＤＴが、例えば放射線が照
射されることにより蛍光を生ずるシンチレータ等を用い
て形成されている場合、フォトダイオードにおいて、こ
のシンチレータで生じた蛍光強度に基づく電気信号を生
成して信号選択部２５に供給するものとしてもよい。な
お、シンチレータとしては、Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、ＭＸ：
Ｔｌ（Ｍ＝Ｒｂ、Ｃｓ：Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＢａＦ
Ｘ：Ｅｕ（Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＬａＯＢｒ：Ａ（Ａ
＝Ｔｂ、Ｔｍ）、ＹＴａＯ4、〔Ｙ,Ｓｒ〕ＴａＯ4：Ｎ
ｂ、ＣａＷＯ4などが用いられ、特にＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔ
ｂ、ＣｓＩ：Ｔｌ、ＢａＦＣｌ：Ｅｕが望ましい。
射されることにより蛍光を生ずるシンチレータ等を用い
て形成されている場合、フォトダイオードにおいて、こ
のシンチレータで生じた蛍光強度に基づく電気信号を生
成して信号選択部２５に供給するものとしてもよい。な
お、シンチレータとしては、Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、ＭＸ：
Ｔｌ（Ｍ＝Ｒｂ、Ｃｓ：Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＢａＦ
Ｘ：Ｅｕ（Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＬａＯＢｒ：Ａ（Ａ
＝Ｔｂ、Ｔｍ）、ＹＴａＯ4、〔Ｙ,Ｓｒ〕ＴａＯ4：Ｎ
ｂ、ＣａＷＯ4などが用いられ、特にＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔ
ｂ、ＣｓＩ：Ｔｌ、ＢａＦＣｌ：Ｅｕが望ましい。
【００１４】撮像パネル２２の検出素子ＤＴ間には、走
査線２２２-1〜２２２-mと信号線２２４-1〜２２４-nが
例えば直交するように配設される。この走査線２２２-1
〜２２２-mは走査駆動部２４と接続されており、走査駆
動部２４では後述する読取制御部２７から供給された制
御信号ＣＴＡに基づき読出信号ＲＳを生成して走査線２
２２-1〜２２２-mのうちの１つ走査線２２２-p（pは1〜
mのいずれかの値）に出力する。また信号線２２４-1〜
２２４-nには電荷検出部２２６-1〜２２６-nが接続され
ており、電荷検出部２２６-1〜２２６-nでは、検出素子
ＤＴから読み出した電荷の電荷量に応じた電圧信号ＳＶ
を生成する。
査線２２２-1〜２２２-mと信号線２２４-1〜２２４-nが
例えば直交するように配設される。この走査線２２２-1
〜２２２-mは走査駆動部２４と接続されており、走査駆
動部２４では後述する読取制御部２７から供給された制
御信号ＣＴＡに基づき読出信号ＲＳを生成して走査線２
２２-1〜２２２-mのうちの１つ走査線２２２-p（pは1〜
mのいずれかの値）に出力する。また信号線２２４-1〜
２２４-nには電荷検出部２２６-1〜２２６-nが接続され
ており、電荷検出部２２６-1〜２２６-nでは、検出素子
ＤＴから読み出した電荷の電荷量に応じた電圧信号ＳＶ
を生成する。
【００１５】ここで、読出信号ＲＳによって、走査線２
２２-pに接続された検出素子ＤＴ-(p,1)〜ＤＴ-(p,n)か
ら、照射された放射線の線量に応じて電荷蓄積コンデン
サに蓄積された電荷が読み出されると、電荷検出部２２
６-1〜２２６-nでは、読み出した電荷の電荷量に応じた
電圧信号ＳＶ-1〜ＳＶ-nを生成する。この電荷検出部２
２６-1〜２２６-nで生成された電圧信号ＳＶ-1〜ＳＶ-n
は信号選択部２５に供給される。
２２-pに接続された検出素子ＤＴ-(p,1)〜ＤＴ-(p,n)か
ら、照射された放射線の線量に応じて電荷蓄積コンデン
サに蓄積された電荷が読み出されると、電荷検出部２２
６-1〜２２６-nでは、読み出した電荷の電荷量に応じた
電圧信号ＳＶ-1〜ＳＶ-nを生成する。この電荷検出部２
２６-1〜２２６-nで生成された電圧信号ＳＶ-1〜ＳＶ-n
は信号選択部２５に供給される。
【００１６】信号選択部２５は、複数のレジスタ２５ａ
を用いて構成されており、電荷検出部２２６-1〜２２６
-nがレジスタ２５ａの数に応じて区分されて、１つのレ
ジスタには隣接する所定の数の電荷検出部から電圧信号
が供給される。各レジスタ２５ａにはＡ／Ｄ変換器２５
ｂが接続されており、レジスタ２５ａでは、後述する読
取制御部２７からの制御信号ＣＴＢに基づき、供給され
た電圧信号ＳＶを順次選択してＡ／Ｄ変換器２５ｂに供
給することにより、例えば１２ビットないし１４ビット
のディジタルの画像データＳＤを生成する。この信号選
択部２５で生成された１画像分の画像データＳＤ-(1,1)
〜ＳＤ-(m,n)は、読取制御部２７を介してコントローラ
４０に供給される。
を用いて構成されており、電荷検出部２２６-1〜２２６
-nがレジスタ２５ａの数に応じて区分されて、１つのレ
ジスタには隣接する所定の数の電荷検出部から電圧信号
が供給される。各レジスタ２５ａにはＡ／Ｄ変換器２５
ｂが接続されており、レジスタ２５ａでは、後述する読
取制御部２７からの制御信号ＣＴＢに基づき、供給され
た電圧信号ＳＶを順次選択してＡ／Ｄ変換器２５ｂに供
給することにより、例えば１２ビットないし１４ビット
のディジタルの画像データＳＤを生成する。この信号選
択部２５で生成された１画像分の画像データＳＤ-(1,1)
〜ＳＤ-(m,n)は、読取制御部２７を介してコントローラ
４０に供給される。
【００１７】なお、撮像パネル２２の検出素子ＤＴを複
数のブロックに分割して、各ブロックで並列して画像デ
ータを生成するものとすれば、１画像分の画像データＳ
Ｄ-(1,1)〜ＳＤ-(m,n)を速やかに得ることができる。
数のブロックに分割して、各ブロックで並列して画像デ
ータを生成するものとすれば、１画像分の画像データＳ
Ｄ-(1,1)〜ＳＤ-(m,n)を速やかに得ることができる。
【００１８】読取制御部２７には、コントローラ４０が
接続されており、読取制御部２７ではコントローラ４０
からの制御信号ＭＣＡに基づき、放射線発生装置１０で
の動作と同期して各種の制御信号、例えば放射線照射前
に撮像パネル２２の電荷蓄積コンデンサに蓄えられてい
る電荷を排出させるための初期化動作や、撮像パネル２
２に照射された放射線に基づき電荷蓄積コンデンサに蓄
えられた電荷を読み出して画像データＳＤを生成する処
理等を行うための制御信号ＣＴＡ，ＣＴＢを生成する。
接続されており、読取制御部２７ではコントローラ４０
からの制御信号ＭＣＡに基づき、放射線発生装置１０で
の動作と同期して各種の制御信号、例えば放射線照射前
に撮像パネル２２の電荷蓄積コンデンサに蓄えられてい
る電荷を排出させるための初期化動作や、撮像パネル２
２に照射された放射線に基づき電荷蓄積コンデンサに蓄
えられた電荷を読み出して画像データＳＤを生成する処
理等を行うための制御信号ＣＴＡ，ＣＴＢを生成する。
【００１９】図３はコントローラ４０の構成を示してお
り、コントローラ４０の動作を制御するためのＣＰＵ(C
entral Processing Unit)４１には、システムバス４２
と画像バス４３が接続される。なお、コントローラ４０
の動作を制御するためのＣＰＵ４１は、メモリ４４に記
憶された制御プログラムに基づいて動作制御を行う。
り、コントローラ４０の動作を制御するためのＣＰＵ(C
entral Processing Unit)４１には、システムバス４２
と画像バス４３が接続される。なお、コントローラ４０
の動作を制御するためのＣＰＵ４１は、メモリ４４に記
憶された制御プログラムに基づいて動作制御を行う。
【００２０】システムバス４２と画像バス４３には、メ
モリ４４、撮影制御部４６、画像メモリ制御部４８、表
示制御部５５、ディスク制御部６１、出力インタフェー
ス６０が接続されると共に、システムバス４２には欠陥
検出部５０と欠陥補正部５２が接続されており、システ
ムバス４２を利用してＣＰＵ４１によって各部の動作が
制御されると共に、画像バス４３を介して各部間での画
像データの転送等が行われる。また、撮影制御部４６を
介して放射線発生装置１０での放射線の照射や放射線画
像読取装置２０での放射線画像の読み取りの制御が行わ
れる。
モリ４４、撮影制御部４６、画像メモリ制御部４８、表
示制御部５５、ディスク制御部６１、出力インタフェー
ス６０が接続されると共に、システムバス４２には欠陥
検出部５０と欠陥補正部５２が接続されており、システ
ムバス４２を利用してＣＰＵ４１によって各部の動作が
制御されると共に、画像バス４３を介して各部間での画
像データの転送等が行われる。また、撮影制御部４６を
介して放射線発生装置１０での放射線の照射や放射線画
像読取装置２０での放射線画像の読み取りの制御が行わ
れる。
【００２１】放射線画像読取装置２０から供給された１
画像分の画像データＳＤは、撮影制御部４６や画像メモ
リ制御部４８を介して画像メモリ４９に記憶される。こ
の画像メモリ制御部４８には、欠陥検出部５０と欠陥補
正部５２が接続されており、欠陥検出部５０では、画像
メモリ４９に書き込まれている画像データＳＤを用い
て、検出素子からの電気信号の信号レベルが他の検出素
子とは異なるレベルとなる検出素子の検出、すなわち画
像欠陥の検出を行う。ここで、欠陥検出部５０で画像欠
陥を検出したときには、画像欠陥の位置を示す情報ＦＤ
を生成してメモリ４４の欠陥情報記憶領域４４ａに記憶
する。
画像分の画像データＳＤは、撮影制御部４６や画像メモ
リ制御部４８を介して画像メモリ４９に記憶される。こ
の画像メモリ制御部４８には、欠陥検出部５０と欠陥補
正部５２が接続されており、欠陥検出部５０では、画像
メモリ４９に書き込まれている画像データＳＤを用い
て、検出素子からの電気信号の信号レベルが他の検出素
子とは異なるレベルとなる検出素子の検出、すなわち画
像欠陥の検出を行う。ここで、欠陥検出部５０で画像欠
陥を検出したときには、画像欠陥の位置を示す情報ＦＤ
を生成してメモリ４４の欠陥情報記憶領域４４ａに記憶
する。
【００２２】欠陥補正部５２では、放射線を被写体に照
射して作成された画像データＳＤが画像メモリ４９に書
き込まれたときには、メモリ４４の欠陥情報記憶領域４
４ａに記憶されている画像欠陥の位置を示す情報ＦＤを
用いて、画像メモリ４９の画像欠陥の画像データの補正
を行い、新たな１画像分の画像データを生成して画像メ
モリ４９に記憶する。
射して作成された画像データＳＤが画像メモリ４９に書
き込まれたときには、メモリ４４の欠陥情報記憶領域４
４ａに記憶されている画像欠陥の位置を示す情報ＦＤを
用いて、画像メモリ４９の画像欠陥の画像データの補正
を行い、新たな１画像分の画像データを生成して画像メ
モリ４９に記憶する。
【００２３】画像メモリ４９に記憶された画像データ
は、読み出されて表示制御部５５やディスク制御部６１
に供給される。
は、読み出されて表示制御部５５やディスク制御部６１
に供給される。
【００２４】表示制御部５５には画像表示装置５６が接
続されており、この画像表示装置５６の画面上には表示
制御部５５に供給された画像データやメモリ４４の欠陥
情報記憶領域４４ａに記憶された情報に基づき、例えば
画像欠陥の補正前後の放射線画像や画像欠陥の位置が表
示される。
続されており、この画像表示装置５６の画面上には表示
制御部５５に供給された画像データやメモリ４４の欠陥
情報記憶領域４４ａに記憶された情報に基づき、例えば
画像欠陥の補正前後の放射線画像や画像欠陥の位置が表
示される。
【００２５】また、放射線画像読取装置２０の画素数よ
りも画像表示装置５６の表示画素数が少ない場合には、
ＣＰＵ４１によって画像データの間引きを行うことによ
り、画像表示装置５６の画面上に撮影画像全体を表示さ
せることができる。また、画像表示装置５６の表示画素
数分に相当する領域の画像データを読み出すものとすれ
ば、所望の位置の撮影画像を詳細に表示させることがで
きる。
りも画像表示装置５６の表示画素数が少ない場合には、
ＣＰＵ４１によって画像データの間引きを行うことによ
り、画像表示装置５６の画面上に撮影画像全体を表示さ
せることができる。また、画像表示装置５６の表示画素
数分に相当する領域の画像データを読み出すものとすれ
ば、所望の位置の撮影画像を詳細に表示させることがで
きる。
【００２６】画像メモリ４９からディスク制御部６１に
画像データを供給する際には、例えば連続して画像デー
タを読み出してディスク制御部６１内のＦＩＦＯメモリ
に書き込み、その後順次ディスク装置６２に記録する。
画像データを供給する際には、例えば連続して画像デー
タを読み出してディスク制御部６１内のＦＩＦＯメモリ
に書き込み、その後順次ディスク装置６２に記録する。
【００２７】さらに、画像メモリ４９から読み出された
画像データやディスク装置６２から読み出された画像デ
ータを出力インタフェース６０を介して外部機器１００
に供給することもできる。この外部機器１００では、供
給された画像データを例えば１枚のフィルムなどの媒体
に放射線画像として出力する。
画像データやディスク装置６２から読み出された画像デ
ータを出力インタフェース６０を介して外部機器１００
に供給することもできる。この外部機器１００では、供
給された画像データを例えば１枚のフィルムなどの媒体
に放射線画像として出力する。
【００２８】また、ＣＰＵ４１には入力インタフェース
６３を介してキーボード等の入力装置６４が接続されて
おり、入力装置６４を操作することで放射線画像の撮影
や処理等が行われる。
６３を介してキーボード等の入力装置６４が接続されて
おり、入力装置６４を操作することで放射線画像の撮影
や処理等が行われる。
【００２９】このコントローラ４０で画像データの複写
や転送、削除等の処理を行う場合、放射線画像読取装置
２０から供給された補正前の画像データと、欠陥補正部
５２で画像欠陥の補正が行われた新たな１画像分の画像
データを対として処理する。
や転送、削除等の処理を行う場合、放射線画像読取装置
２０から供給された補正前の画像データと、欠陥補正部
５２で画像欠陥の補正が行われた新たな１画像分の画像
データを対として処理する。
【００３０】なお、上述の実施の形態では、コントロー
ラ４０で放射線発生装置１０と放射線画像読取装置２０
の動作を制御するものとしたが、放射線画像読取装置２
０の動作を放射線発生装置１０に同期させるものとし、
放射線画像読取装置２０で画像データが得られたとき
に、この画像データをコントローラ４０に供給するもの
としても良いことは勿論である。
ラ４０で放射線発生装置１０と放射線画像読取装置２０
の動作を制御するものとしたが、放射線画像読取装置２
０の動作を放射線発生装置１０に同期させるものとし、
放射線画像読取装置２０で画像データが得られたとき
に、この画像データをコントローラ４０に供給するもの
としても良いことは勿論である。
【００３１】次に動作について説明する。放射線画像の
撮影を行う場合、放射線未照射画像データＳＤＡや放射
線一様照射画像データＳＤＢあるいは放射線被写体照射
画像データＳＤＣを放射線画像読取装置２０からコント
ローラ４０に供給するものとして、コントローラ４０の
欠陥検出部５０で画像欠陥の検出を行う。
撮影を行う場合、放射線未照射画像データＳＤＡや放射
線一様照射画像データＳＤＢあるいは放射線被写体照射
画像データＳＤＣを放射線画像読取装置２０からコント
ローラ４０に供給するものとして、コントローラ４０の
欠陥検出部５０で画像欠陥の検出を行う。
【００３２】ここで、放射線未照射画像データＳＤＡ
は、撮像パネル２２の初期化動作、すなわち検出素子Ｄ
Ｔの電荷蓄積コンデンサに蓄えられている電荷を排出さ
せる動作を実施した後に、放射線未照射状態で生成され
た画像データである。また、放射線一様照射画像データ
ＳＤＢは、初期化動作を実施し放射線を一様に照射して
から生成された画像データであり、放射線被写体照射画
像データＳＤＣは、初期化動作を実施した後に被写体を
透過させて放射線を照射してから生成された画像データ
である。
は、撮像パネル２２の初期化動作、すなわち検出素子Ｄ
Ｔの電荷蓄積コンデンサに蓄えられている電荷を排出さ
せる動作を実施した後に、放射線未照射状態で生成され
た画像データである。また、放射線一様照射画像データ
ＳＤＢは、初期化動作を実施し放射線を一様に照射して
から生成された画像データであり、放射線被写体照射画
像データＳＤＣは、初期化動作を実施した後に被写体を
透過させて放射線を照射してから生成された画像データ
である。
【００３３】この画像欠陥の検出では、放射線未照射画
像データＳＤＡや放射線一様照射画像データＳＤＢある
いは放射線被写体照射画像データＳＤＣのいずれか１種
類の画像データを用いて画像欠陥の検出を行っても良
く、また複数種類の画像データを用いて画像欠陥の検出
を行っても良い。さらに、画像データとして放射線未照
射画像データＳＤＡ、放射線一様照射画像データＳＤＢ
のいずれか１つあるいは両方の画像データを用いること
が望ましい。
像データＳＤＡや放射線一様照射画像データＳＤＢある
いは放射線被写体照射画像データＳＤＣのいずれか１種
類の画像データを用いて画像欠陥の検出を行っても良
く、また複数種類の画像データを用いて画像欠陥の検出
を行っても良い。さらに、画像データとして放射線未照
射画像データＳＤＡ、放射線一様照射画像データＳＤＢ
のいずれか１つあるいは両方の画像データを用いること
が望ましい。
【００３４】図４は第１の画像欠陥の検出方法を説明す
るための図である。図４Ａは、画像メモリ４９に書き込
まれている１画像分の画像データを示しており、この画
像メモリ４９から例えば横方向に画像データを順次読み
出し、図４Ｂに示すように、しきい値ＴＡＨ，ＴＡＬと
比較して画像欠陥の検出が行われる。
るための図である。図４Ａは、画像メモリ４９に書き込
まれている１画像分の画像データを示しており、この画
像メモリ４９から例えば横方向に画像データを順次読み
出し、図４Ｂに示すように、しきい値ＴＡＨ，ＴＡＬと
比較して画像欠陥の検出が行われる。
【００３５】しきい値ＴＡＨ，ＴＡＬは例えば図５に示
すように画像データのヒストグラムに基づいて設定され
る。正常な画像データの分布が図５の斜線部で示すよう
な分布となる場合、低レベル側しきい値ＴＡＬは正常な
画像データの分布よりも低レベル側に設定されると共
に、高レベル側しきい値ＴＡＨは正常な画像データの分
布よりも高レベル側に設定される。ここで、画像データ
のレベルが高レベル側しきい値ＴＡＨよりも大きくなる
画素Ｐ(a,ba)や低レベル側しきい値ＴＡＬよりも小さく
なる画素Ｐ(a,bb)は、画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別
されて、画素Ｐ(a,ba)，Ｐ(a,bb)の位置情報が画像欠陥
の位置を示す情報としてメモリ４４の欠陥情報記憶領域
４４ａに記憶される。
すように画像データのヒストグラムに基づいて設定され
る。正常な画像データの分布が図５の斜線部で示すよう
な分布となる場合、低レベル側しきい値ＴＡＬは正常な
画像データの分布よりも低レベル側に設定されると共
に、高レベル側しきい値ＴＡＨは正常な画像データの分
布よりも高レベル側に設定される。ここで、画像データ
のレベルが高レベル側しきい値ＴＡＨよりも大きくなる
画素Ｐ(a,ba)や低レベル側しきい値ＴＡＬよりも小さく
なる画素Ｐ(a,bb)は、画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別
されて、画素Ｐ(a,ba)，Ｐ(a,bb)の位置情報が画像欠陥
の位置を示す情報としてメモリ４４の欠陥情報記憶領域
４４ａに記憶される。
【００３６】図６は画像欠陥の第２の検出方法を説明す
るための図である。図６Ａは、画像メモリ４９に書き込
まれている１画像分の画像データを示しており、欠陥画
素が生ずるか否かの判別が行われる画素Ｐ(c,d)に対し
て、例えば図６Ｂの斜線で示す周辺の８画素の画像デー
タの平均レベルＭＤ(c,d)を求め、画素Ｐ(c,d)の画像デ
ータＳＤ(c,d）が平均レベルＭＤ(c,d)に対して所定範
囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）であるか否かの
判別が行われる。ここで、画像データＳＤ(c,d）が所定
範囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）で無いときに
は画素Ｐ(c,d)が画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別され
て、画像欠陥の位置、すなわち画素Ｐ(c,d)の位置を示
す情報が欠陥情報記憶領域４４aに記憶される。なお、
平均レベルを算出するために用いられる画素の画像デー
タは、図６Ｂの斜線で示す部分の８画素に限られるもの
でなく、例えばハッチングで示す部分を含めた２４画素
の画像データ等を用いても良い。また、「Ｗ」はもとも
との画像データがもつレベル変動（ノイズなどに依存す
る）を検出せずに画像欠陥を検出する範囲で、任意に決
めることができる。
るための図である。図６Ａは、画像メモリ４９に書き込
まれている１画像分の画像データを示しており、欠陥画
素が生ずるか否かの判別が行われる画素Ｐ(c,d)に対し
て、例えば図６Ｂの斜線で示す周辺の８画素の画像デー
タの平均レベルＭＤ(c,d)を求め、画素Ｐ(c,d)の画像デ
ータＳＤ(c,d）が平均レベルＭＤ(c,d)に対して所定範
囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）であるか否かの
判別が行われる。ここで、画像データＳＤ(c,d）が所定
範囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）で無いときに
は画素Ｐ(c,d)が画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別され
て、画像欠陥の位置、すなわち画素Ｐ(c,d)の位置を示
す情報が欠陥情報記憶領域４４aに記憶される。なお、
平均レベルを算出するために用いられる画素の画像デー
タは、図６Ｂの斜線で示す部分の８画素に限られるもの
でなく、例えばハッチングで示す部分を含めた２４画素
の画像データ等を用いても良い。また、「Ｗ」はもとも
との画像データがもつレベル変動（ノイズなどに依存す
る）を検出せずに画像欠陥を検出する範囲で、任意に決
めることができる。
【００３７】ところで、上述の第１および第２の画像欠
陥の検出方法では、１画素毎に画像欠陥であるか否かを
判別するものであるが、欠陥画素と正常画素の画像デー
タのレベル差が大きくない場合には、レベル差が正常画
素の画像データのレベル変動であるか画像欠陥であるか
判別することが困難である。そこで、画像欠陥がライン
状であるときには、欠陥画素と正常画素の画像データの
レベル差が大きくない場合であっても画像欠陥を検出で
きる方法を第３の画像欠陥の検出方法として説明する。
陥の検出方法では、１画素毎に画像欠陥であるか否かを
判別するものであるが、欠陥画素と正常画素の画像デー
タのレベル差が大きくない場合には、レベル差が正常画
素の画像データのレベル変動であるか画像欠陥であるか
判別することが困難である。そこで、画像欠陥がライン
状であるときには、欠陥画素と正常画素の画像データの
レベル差が大きくない場合であっても画像欠陥を検出で
きる方法を第３の画像欠陥の検出方法として説明する。
【００３８】図７は第３の画像欠陥の検出方法を説明す
るための図である。図７Ａは、画像メモリ４９に書き込
まれている１画像分の画像データを示しており、この１
画像分の画像データから、縦方向あるいは横方向に隣接
する複数ライン分の画像データを読み出すことにより、
読み出し方向と直交する方向での平均レベルが求められ
る。この求められた平均レベルが上述の第１の画像欠陥
の検出方法と同様にしきい値と比較されて画像欠陥の検
出が行われる。
るための図である。図７Ａは、画像メモリ４９に書き込
まれている１画像分の画像データを示しており、この１
画像分の画像データから、縦方向あるいは横方向に隣接
する複数ライン分の画像データを読み出すことにより、
読み出し方向と直交する方向での平均レベルが求められ
る。この求められた平均レベルが上述の第１の画像欠陥
の検出方法と同様にしきい値と比較されて画像欠陥の検
出が行われる。
【００３９】例えば、図７Ａに示すように横方向のｅラ
インから（ｅ＋ｆ）ラインまでの（ｆ＋１）ライン分の
画像データが画像メモリ４９から読み出されて、縦方向
の画素列毎の平均レベルが算出されて、図７Ｂに示すよ
うに（ｆ＋１）ライン分の画像データを平均した１ライ
ンの画像データが算出される。ここで、画像欠陥が縦方
向のライン状である場合、欠陥画素と正常画素の画像デ
ータのレベル差が大きくない場合であっても、平均レベ
ルを算出することによって正常画素の画像データのレベ
ル信号の変動分を小さくすることができる。このため、
図７Ｃに示すように１ライン分の画像データでは検出し
にくい画素Ｐ(e+h,g)の画像欠陥も、（ｆ＋１）ライン
分の画像データの平均レベルを算出することで、図７Ｂ
に示すように画素Ｐ(e〜e+f,g)に相当する画像データを
正常画素の画像データとは異なるレベルとすることがで
きるので、複数ライン分の画像データの平均レベルに応
じて設定された低レベル側しきい値ＴＢＬおよび高レベ
ル側しきい値ＴＢＨと求められた平均レベルを比較し、
求められた平均レベルが設定された低レベル側しきい値
ＴＢＬから高レベル側しきい値ＴＢＨまでの範囲内であ
るか否かを判別することによって容易にライン状の画像
欠陥を検出することができる。
インから（ｅ＋ｆ）ラインまでの（ｆ＋１）ライン分の
画像データが画像メモリ４９から読み出されて、縦方向
の画素列毎の平均レベルが算出されて、図７Ｂに示すよ
うに（ｆ＋１）ライン分の画像データを平均した１ライ
ンの画像データが算出される。ここで、画像欠陥が縦方
向のライン状である場合、欠陥画素と正常画素の画像デ
ータのレベル差が大きくない場合であっても、平均レベ
ルを算出することによって正常画素の画像データのレベ
ル信号の変動分を小さくすることができる。このため、
図７Ｃに示すように１ライン分の画像データでは検出し
にくい画素Ｐ(e+h,g)の画像欠陥も、（ｆ＋１）ライン
分の画像データの平均レベルを算出することで、図７Ｂ
に示すように画素Ｐ(e〜e+f,g)に相当する画像データを
正常画素の画像データとは異なるレベルとすることがで
きるので、複数ライン分の画像データの平均レベルに応
じて設定された低レベル側しきい値ＴＢＬおよび高レベ
ル側しきい値ＴＢＨと求められた平均レベルを比較し、
求められた平均レベルが設定された低レベル側しきい値
ＴＢＬから高レベル側しきい値ＴＢＨまでの範囲内であ
るか否かを判別することによって容易にライン状の画像
欠陥を検出することができる。
【００４０】また、求められた平均レベルがｅラインや
（ｅ＋ｆ）ラインの周囲の画像データの平均レベルに対
して所定範囲内であるか否かによってもライン状の画像
欠陥を検出することができる。ここで、画像欠陥と判別
されたときには、縦方向に（ｆ＋１）行分の画素すなわ
ち画素Ｐ(e〜e+f,g)が欠陥画素と判別されて、画素Ｐ(e
〜e+f,g)の位置を示す情報が欠陥情報記憶領域４４ａに
記憶される。
（ｅ＋ｆ）ラインの周囲の画像データの平均レベルに対
して所定範囲内であるか否かによってもライン状の画像
欠陥を検出することができる。ここで、画像欠陥と判別
されたときには、縦方向に（ｆ＋１）行分の画素すなわ
ち画素Ｐ(e〜e+f,g)が欠陥画素と判別されて、画素Ｐ(e
〜e+f,g)の位置を示す情報が欠陥情報記憶領域４４ａに
記憶される。
【００４１】画像メモリ４９から読み出される画像デー
タのヒストグラムが広い幅をもち、例えば図８Ａに示す
ように１ラインの放射線被写体照射画像データＳＤＣの
信号レベルが広い範囲にある場合、画像メモリ４９から
読み出された画像データと、しきい値ＴＣＬおよびしき
い値ＴＣＨを比較しただけでは画素Ｐ(q,r)の画像欠陥
を検出することができない。そこで、被写体に応じた画
像データから一様な勾配や低周波成分を除去するトレン
ド除去を行い、上述の第１〜第３の画像欠陥の検出方法
を用いることにより、正しく画像欠陥の検出を行うこと
ができる。
タのヒストグラムが広い幅をもち、例えば図８Ａに示す
ように１ラインの放射線被写体照射画像データＳＤＣの
信号レベルが広い範囲にある場合、画像メモリ４９から
読み出された画像データと、しきい値ＴＣＬおよびしき
い値ＴＣＨを比較しただけでは画素Ｐ(q,r)の画像欠陥
を検出することができない。そこで、被写体に応じた画
像データから一様な勾配や低周波成分を除去するトレン
ド除去を行い、上述の第１〜第３の画像欠陥の検出方法
を用いることにより、正しく画像欠陥の検出を行うこと
ができる。
【００４２】このトレンド除去の一例としては、１ライ
ン分の画像データからスムージングを行って高周波成分
を除くものとし、元の画像データからスムージングによ
って得られた画像データを減算あるいは除算することよ
って、図８Ｂに示すように低周波成分を除いた高周波成
分だけの画像データＨＳＤＣが生成される。
ン分の画像データからスムージングを行って高周波成分
を除くものとし、元の画像データからスムージングによ
って得られた画像データを減算あるいは除算することよ
って、図８Ｂに示すように低周波成分を除いた高周波成
分だけの画像データＨＳＤＣが生成される。
【００４３】また、トレンド除去を行った場合には、図
５と比較して図９の斜線で示すように正常な画像データ
のヒストグラムの幅が狭いものとされる。このため、低
レベル側しきい値ＴＤＬから高レベル側しきい値ＴＤＨ
までの幅も、トレンド除去を行う前よりも狭く設定する
ことができるので、画像欠陥の検出を精度良く行うこと
ができる。また、画像データＨＳＤＣを用いて上述の第
２および第３の画像欠陥の検出方法を行うことにより、
画像欠陥を検出することができることは勿論である。
５と比較して図９の斜線で示すように正常な画像データ
のヒストグラムの幅が狭いものとされる。このため、低
レベル側しきい値ＴＤＬから高レベル側しきい値ＴＤＨ
までの幅も、トレンド除去を行う前よりも狭く設定する
ことができるので、画像欠陥の検出を精度良く行うこと
ができる。また、画像データＨＳＤＣを用いて上述の第
２および第３の画像欠陥の検出方法を行うことにより、
画像欠陥を検出することができることは勿論である。
【００４４】このようにして、欠陥検出部５０で画像欠
陥を検出したときには、画像欠陥の位置を示す情報ＦＤ
をメモリ４４の欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。な
お、画像欠陥の検出では、上述の第１〜第３の画像欠陥
の検出方法のいずれか１つの方法あるいは複数の検出方
法を用いて画像欠陥の検出を行っても良く、更に他の方
法を用いるものとしても良いことは勿論である。
陥を検出したときには、画像欠陥の位置を示す情報ＦＤ
をメモリ４４の欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。な
お、画像欠陥の検出では、上述の第１〜第３の画像欠陥
の検出方法のいずれか１つの方法あるいは複数の検出方
法を用いて画像欠陥の検出を行っても良く、更に他の方
法を用いるものとしても良いことは勿論である。
【００４５】ここで、欠陥情報記憶領域４４ａには、画
像欠陥の位置を示す情報ＦＤとして例えば画像欠陥を生
ずる画素のアドレスを記憶する。また欠陥情報記憶領域
４４ａに、マップ形式で画像欠陥の位置を示す情報ＦＤ
を記憶するものとしてもよい。すなわち、欠陥情報記憶
領域４４ａとして１画像分の画素と対応する領域を設け
るものとし、画像欠陥が検出されたときには、この画像
欠陥を生ずる画素の位置と対応する領域内の位置に所定
のデータ値を書き込むものとしてもよい。例えば、正常
画素の信号レベルを「１」、欠陥画素の信号レベルを
「０」などとすることができる。
像欠陥の位置を示す情報ＦＤとして例えば画像欠陥を生
ずる画素のアドレスを記憶する。また欠陥情報記憶領域
４４ａに、マップ形式で画像欠陥の位置を示す情報ＦＤ
を記憶するものとしてもよい。すなわち、欠陥情報記憶
領域４４ａとして１画像分の画素と対応する領域を設け
るものとし、画像欠陥が検出されたときには、この画像
欠陥を生ずる画素の位置と対応する領域内の位置に所定
のデータ値を書き込むものとしてもよい。例えば、正常
画素の信号レベルを「１」、欠陥画素の信号レベルを
「０」などとすることができる。
【００４６】欠陥補正部５２では、欠陥情報記憶領域４
４ａに記憶されている画像欠陥の情報ＦＤを読み出して
欠陥の位置を判別し、この判別された画像欠陥の画像デ
ータの補正を行う。ここで、画像欠陥の位置を示す情報
として画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶されてい
るときには、記憶されたアドレスを順次読み出すことで
画像欠陥の位置が判別される。またマップ形式で画像欠
陥の位置を示す情報が欠陥情報記憶領域４４ａに記憶さ
れているときには、領域４４ａ内のデータ値が所定のデ
ータ値であるか否かを順次検出することにより画像欠陥
であるか否かを判別することができる。
４ａに記憶されている画像欠陥の情報ＦＤを読み出して
欠陥の位置を判別し、この判別された画像欠陥の画像デ
ータの補正を行う。ここで、画像欠陥の位置を示す情報
として画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶されてい
るときには、記憶されたアドレスを順次読み出すことで
画像欠陥の位置が判別される。またマップ形式で画像欠
陥の位置を示す情報が欠陥情報記憶領域４４ａに記憶さ
れているときには、領域４４ａ内のデータ値が所定のデ
ータ値であるか否かを順次検出することにより画像欠陥
であるか否かを判別することができる。
【００４７】次に、欠陥情報記憶領域４４ａに画像欠陥
の位置を示す情報ＦＤが記憶されているときに、画像メ
モリ４９に放射線被写体照射画像データＳＤＣが書き込
まれると、欠陥情報記憶領域４４ａに記憶された画像欠
陥の位置を示す情報ＦＤに基づき画像メモリ４９に書き
込まれている放射線被写体照射画像データＳＤＣを用い
て欠陥補正部５２で画像欠陥の位置の画像データの補正
を行う。
の位置を示す情報ＦＤが記憶されているときに、画像メ
モリ４９に放射線被写体照射画像データＳＤＣが書き込
まれると、欠陥情報記憶領域４４ａに記憶された画像欠
陥の位置を示す情報ＦＤに基づき画像メモリ４９に書き
込まれている放射線被写体照射画像データＳＤＣを用い
て欠陥補正部５２で画像欠陥の位置の画像データの補正
を行う。
【００４８】欠陥補正部５２では、欠陥情報記憶領域４
４ａに記憶されている画像欠陥の情報ＦＤを読み出して
欠陥の位置を判別し、この判別された画像欠陥の画像デ
ータの補正を行う。ここで、画像欠陥の位置を示す情報
として画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶されてい
るときには、記憶されたアドレスを順次読み出すことで
画像欠陥の位置が判別される。またマップ形式で画像欠
陥の位置を示す情報が欠陥情報記憶領域４４ａに記憶さ
れているときには、メモリ領域内のデータ値が所定のデ
ータ値であるか否かを順次検出することにより画像欠陥
であるか否かを判別することができる。
４ａに記憶されている画像欠陥の情報ＦＤを読み出して
欠陥の位置を判別し、この判別された画像欠陥の画像デ
ータの補正を行う。ここで、画像欠陥の位置を示す情報
として画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶されてい
るときには、記憶されたアドレスを順次読み出すことで
画像欠陥の位置が判別される。またマップ形式で画像欠
陥の位置を示す情報が欠陥情報記憶領域４４ａに記憶さ
れているときには、メモリ領域内のデータ値が所定のデ
ータ値であるか否かを順次検出することにより画像欠陥
であるか否かを判別することができる。
【００４９】この欠陥補正部５２で画像欠陥の位置が判
別されると、画像欠陥を生ずる画素の周囲の正常画素の
画像データを画像メモリ４９から読み出し、この読み出
した画像データを用いて補正を行う。補正方法の一例と
して、周囲の正常画素の画像データの平均レベルを欠陥
画素の画像データとする、というものがある。図１０Ａ
に示すように、画像欠陥を生ずる画素Ｐ(s,t)の周囲が
正常画素であるときには、画素Ｐ(s,t)の上下方向と左
右方向に隣接する４画素、あるいは斜線で示す斜め方向
に隣接する画素を含めた８画素、またはハッチングで示
す部分を含めた２４画素の画像データの平均レベルが算
出されて、この平均レベルが補正後の画素Ｐ(s,t)の画
像データとされる。なお、欠陥画素が周囲にある場合に
は、この欠陥画素を除いた正常画素の画像データのみを
用いて補正を行う。
別されると、画像欠陥を生ずる画素の周囲の正常画素の
画像データを画像メモリ４９から読み出し、この読み出
した画像データを用いて補正を行う。補正方法の一例と
して、周囲の正常画素の画像データの平均レベルを欠陥
画素の画像データとする、というものがある。図１０Ａ
に示すように、画像欠陥を生ずる画素Ｐ(s,t)の周囲が
正常画素であるときには、画素Ｐ(s,t)の上下方向と左
右方向に隣接する４画素、あるいは斜線で示す斜め方向
に隣接する画素を含めた８画素、またはハッチングで示
す部分を含めた２４画素の画像データの平均レベルが算
出されて、この平均レベルが補正後の画素Ｐ(s,t)の画
像データとされる。なお、欠陥画素が周囲にある場合に
は、この欠陥画素を除いた正常画素の画像データのみを
用いて補正を行う。
【００５０】また、画像欠陥を補正する場合には、画素
Ｐ(s,t)からの距離によって画像データの重み付けを行
うものとし、重み付けがなされた画像データの平均レベ
ルを補正後の画像データとすることもできる。例えば図
１０Ｂに示すように、画素Ｐ(s,t)の中心から上下左右
の画素の中心までの距離を「１」としたとき斜めの画素
の中心までの距離が「√２」であることから、斜めの画
素の画像データを（１／√２）倍して重み付けを行い、
重み付けがなされた画像データの平均レベルが補正後の
画像データとされる。
Ｐ(s,t)からの距離によって画像データの重み付けを行
うものとし、重み付けがなされた画像データの平均レベ
ルを補正後の画像データとすることもできる。例えば図
１０Ｂに示すように、画素Ｐ(s,t)の中心から上下左右
の画素の中心までの距離を「１」としたとき斜めの画素
の中心までの距離が「√２」であることから、斜めの画
素の画像データを（１／√２）倍して重み付けを行い、
重み付けがなされた画像データの平均レベルが補正後の
画像データとされる。
【００５１】なお、欠陥補正部５２での補正方法は、上
述の方法に限られるものではなく、例えば『「Restorin
g Spline Interpolation of CT Images」IEEE TRANSACT
IONON MEDICAL IMAGING VOL.MI-2,NO3 SEPTEMBER 1983
、「Cubic Convolution forDigital Image Processing
IEEE TRANSACTION ON ACOUSTICS AND SIGNAL PROCESSI
NG VOL.ASSP-29」』に記載されているニアレスト・ネイ
バー補間、ベルースプライン補間、リニア補間、キュー
ビック・コンボリュージョン補間等によって得られた画
像データを補正後の画像データとして用いるものとして
もよい。
述の方法に限られるものではなく、例えば『「Restorin
g Spline Interpolation of CT Images」IEEE TRANSACT
IONON MEDICAL IMAGING VOL.MI-2,NO3 SEPTEMBER 1983
、「Cubic Convolution forDigital Image Processing
IEEE TRANSACTION ON ACOUSTICS AND SIGNAL PROCESSI
NG VOL.ASSP-29」』に記載されているニアレスト・ネイ
バー補間、ベルースプライン補間、リニア補間、キュー
ビック・コンボリュージョン補間等によって得られた画
像データを補正後の画像データとして用いるものとして
もよい。
【００５２】このようにして得られた補正後の１画像分
の画像データは、画像メモリ４９に書き込まれている補
正前の１画像分の画像データと対として処理する。例え
ば、画像データの複写や転送等の処理は補正前および補
正後の画像データが１つの画像データとして扱われる。
また、画像データの消去の際に画像欠陥の補正前の画像
データだけを消去する処理を禁止することにより、消去
が禁止された画像欠陥の補正前の画像データを用いて、
種々の方法で画像欠陥の検出や補正を行って最適な撮影
画像を得ることができる。さらに、画像欠陥の補正前の
画像データが残されることにより、もともと画像欠陥で
あった画素の位置がわからなくなってしまうことを防止
できる。
の画像データは、画像メモリ４９に書き込まれている補
正前の１画像分の画像データと対として処理する。例え
ば、画像データの複写や転送等の処理は補正前および補
正後の画像データが１つの画像データとして扱われる。
また、画像データの消去の際に画像欠陥の補正前の画像
データだけを消去する処理を禁止することにより、消去
が禁止された画像欠陥の補正前の画像データを用いて、
種々の方法で画像欠陥の検出や補正を行って最適な撮影
画像を得ることができる。さらに、画像欠陥の補正前の
画像データが残されることにより、もともと画像欠陥で
あった画素の位置がわからなくなってしまうことを防止
できる。
【００５３】なお、画像欠陥の検出および画像欠陥の補
正は、画像メモリ４９に書き込まれた画像データを用い
て行われる場合に限られるものではなく、既に撮影され
た画像データ、例えばディスク装置６２に記憶されてい
る画像データ等を画像メモリ４９に書き込むものとすれ
ば、上述したように画像欠陥の検出および画像欠陥の補
正を行うことで、既に撮影された画像データからも良好
な放射線画像を得ることができる。
正は、画像メモリ４９に書き込まれた画像データを用い
て行われる場合に限られるものではなく、既に撮影され
た画像データ、例えばディスク装置６２に記憶されてい
る画像データ等を画像メモリ４９に書き込むものとすれ
ば、上述したように画像欠陥の検出および画像欠陥の補
正を行うことで、既に撮影された画像データからも良好
な放射線画像を得ることができる。
【００５４】さらに、上述の実施の形態では、欠陥検出
部５０で自動的に画像欠陥の検出を行い、検出された画
像欠陥の位置を示す情報ＦＤを欠陥情報記憶領域４４ａ
に記憶するものとしたが、図示しない画像表示装置の画
面上に撮影画像を表示させて、ユーザが表示された撮影
画像から画像欠陥を検出したときには、この検出された
画像欠陥の位置を情報ＦＤとして欠陥情報記憶領域４４
ａに書き込むことができるようにしてもよい。この場
合、欠陥検出部５０で検出することができない画像欠陥
が生じていても画像欠陥の補正を行うことができるの
で、更に良好な放射線画像を得ることができる。また、
画像欠陥の自動検出とユーザが画像欠陥を検出する方法
を合わせて行うことものとすれば更に有効である。
部５０で自動的に画像欠陥の検出を行い、検出された画
像欠陥の位置を示す情報ＦＤを欠陥情報記憶領域４４ａ
に記憶するものとしたが、図示しない画像表示装置の画
面上に撮影画像を表示させて、ユーザが表示された撮影
画像から画像欠陥を検出したときには、この検出された
画像欠陥の位置を情報ＦＤとして欠陥情報記憶領域４４
ａに書き込むことができるようにしてもよい。この場
合、欠陥検出部５０で検出することができない画像欠陥
が生じていても画像欠陥の補正を行うことができるの
で、更に良好な放射線画像を得ることができる。また、
画像欠陥の自動検出とユーザが画像欠陥を検出する方法
を合わせて行うことものとすれば更に有効である。
【００５５】コントローラ４０では、対とされた補正前
と補正後の各１画像分の画像データを表示制御部５５に
供給することにより、図１１Ａに示すように画像表示装
置５６の画面上に補正前の画像データに基づく放射線画
像と補正後の画像データに基づく放射線画像を同時に表
示することで、良好な放射線画像を得ることができるだ
けでなく画像欠陥の位置を確認することができる。な
お、補正前の放射線画像と補正後の放射線画像を切り換
えて表示するれば、放射線画像を大きく表示することも
できる。
と補正後の各１画像分の画像データを表示制御部５５に
供給することにより、図１１Ａに示すように画像表示装
置５６の画面上に補正前の画像データに基づく放射線画
像と補正後の画像データに基づく放射線画像を同時に表
示することで、良好な放射線画像を得ることができるだ
けでなく画像欠陥の位置を確認することができる。な
お、補正前の放射線画像と補正後の放射線画像を切り換
えて表示するれば、放射線画像を大きく表示することも
できる。
【００５６】さらに、欠陥情報記憶領域４４ａに記憶さ
れている情報を表示制御部５５やコントローラ４０に供
給することにより、図１１Ｂに示すように画像表示装置
５６の画面上に補正後の画像データに基づく画像と欠陥
画素の位置を示す表示を同時に表示しても、良好な放射
線画像を得ることができるだけでなく画像欠陥の補正の
効果も容易に確認することができる。なお、この場合に
も、補正後の放射線画像や欠陥画素の位置を切り換えて
表示するれば、放射線画像を大きく表示することができ
ると共に、欠陥画素の位置を容易に確認できる。
れている情報を表示制御部５５やコントローラ４０に供
給することにより、図１１Ｂに示すように画像表示装置
５６の画面上に補正後の画像データに基づく画像と欠陥
画素の位置を示す表示を同時に表示しても、良好な放射
線画像を得ることができるだけでなく画像欠陥の補正の
効果も容易に確認することができる。なお、この場合に
も、補正後の放射線画像や欠陥画素の位置を切り換えて
表示するれば、放射線画像を大きく表示することができ
ると共に、欠陥画素の位置を容易に確認できる。
【００５７】また、欠陥画素の位置を示す際には、正常
な画素を白あるいは黒で表示するものとし、欠陥画素は
表示を反転させることで容易に欠陥画素の位置を判別す
ることができる。
な画素を白あるいは黒で表示するものとし、欠陥画素は
表示を反転させることで容易に欠陥画素の位置を判別す
ることができる。
【００５８】このように、補正前の撮影画像や欠陥画素
の位置を表示可能とすることで、いずれの画素の画像デ
ータが補正されたかを容易に確認することができ、医師
等は欠陥画素の位置を把握しながら読影を行うことがで
きる。
の位置を表示可能とすることで、いずれの画素の画像デ
ータが補正されたかを容易に確認することができ、医師
等は欠陥画素の位置を把握しながら読影を行うことがで
きる。
【００５９】さらに、画像データの間引きを行い撮影画
像を画面上に表示する際には、欠陥情報記憶領域４４ａ
に記憶されている欠陥情報に基づき、画像欠陥がいずれ
の位置にあるかを判別して画像欠陥の位置の画像データ
を除いて放射線画像を表示すれば、補正された画素の数
が少なく良好な放射線画像を得ることができる。
像を画面上に表示する際には、欠陥情報記憶領域４４ａ
に記憶されている欠陥情報に基づき、画像欠陥がいずれ
の位置にあるかを判別して画像欠陥の位置の画像データ
を除いて放射線画像を表示すれば、補正された画素の数
が少なく良好な放射線画像を得ることができる。
【００６０】例えば、１００画素×１００画素の画像デ
ータを（１／１０）に間引く場合、１画素目から１０画
素毎に画像データを用いたときの画像欠陥の欠陥数を判
別し、次に２画素目から１０画素毎に画像データを用い
たときの欠陥数を判別する。以下同様に１０画素目から
１０画素毎に画像データを用いたときの欠陥数を判別
し、最も欠陥数が少なくなるように画像データを１０画
素毎に用いることで、良好な放射線画像を得ることがで
きる。
ータを（１／１０）に間引く場合、１画素目から１０画
素毎に画像データを用いたときの画像欠陥の欠陥数を判
別し、次に２画素目から１０画素毎に画像データを用い
たときの欠陥数を判別する。以下同様に１０画素目から
１０画素毎に画像データを用いたときの欠陥数を判別
し、最も欠陥数が少なくなるように画像データを１０画
素毎に用いることで、良好な放射線画像を得ることがで
きる。
【００６１】また、画像表示装置５６の画面上に複数の
画像を表示する場合、例えば補正前の放射線画像と補正
後の放射線画像を表示する場合に、画像データの間引き
を行うときには、同じ画素位置の画像データを間引いた
ものを表示する。このように同じ画素位置の画像データ
を間引くことにより、表示された２つの画像が同じ画素
位置の画像データに基づく放射線画像を得ることができ
るので、画像欠陥の補正した位置を確認することができ
る。
画像を表示する場合、例えば補正前の放射線画像と補正
後の放射線画像を表示する場合に、画像データの間引き
を行うときには、同じ画素位置の画像データを間引いた
ものを表示する。このように同じ画素位置の画像データ
を間引くことにより、表示された２つの画像が同じ画素
位置の画像データに基づく放射線画像を得ることができ
るので、画像欠陥の補正した位置を確認することができ
る。
【００６２】さらに、上述の実施の形態では、画像表示
装置５６に画像欠陥の補正が行われる前の放射線画像や
補正が行われた後の放射線画像を合わせて表示したり画
像欠陥の位置を示す表示と補正が行われた後の放射線画
像を合わせて表示する場合について説明したが、画像欠
陥の補正が行われる前の放射線画像の画像データと補正
が行われた後の放射線画像の画像データをコントローラ
４０から出力インタフェース６０を介して外部機器１０
０に供給したり、メモリ４４の欠陥情報記憶手段４４ａ
に記憶した欠陥情報に基づいて生成した画像欠陥の位置
を示す画像データと補正が行われた後の放射線画像の画
像データを外部機器１００に供給するものとしてもよ
い。ここで、外部機器１００では、供給された画像デー
タを１枚のフイルムなどの媒体に放射線画像として出力
する。さらに、画像欠陥の補正が行われる前の放射線画
像の画像データや補正が行われた後の放射線画像の画像
データあるいは画像欠陥の位置を示す画像データを外部
機器１００に出力する場合、１枚の媒体に放射線画像を
出力可能となるように画像データを処理して出力するも
のとして良い。すなわち、外部機器１００で１枚の媒体
に対して出力できる画素数が画像データの画素数よりも
少ないときには、同じ画素位置の画像データを外部機器
１００の出力できる画素数に応じて間引きして出力して
も良いことは勿論である。
装置５６に画像欠陥の補正が行われる前の放射線画像や
補正が行われた後の放射線画像を合わせて表示したり画
像欠陥の位置を示す表示と補正が行われた後の放射線画
像を合わせて表示する場合について説明したが、画像欠
陥の補正が行われる前の放射線画像の画像データと補正
が行われた後の放射線画像の画像データをコントローラ
４０から出力インタフェース６０を介して外部機器１０
０に供給したり、メモリ４４の欠陥情報記憶手段４４ａ
に記憶した欠陥情報に基づいて生成した画像欠陥の位置
を示す画像データと補正が行われた後の放射線画像の画
像データを外部機器１００に供給するものとしてもよ
い。ここで、外部機器１００では、供給された画像デー
タを１枚のフイルムなどの媒体に放射線画像として出力
する。さらに、画像欠陥の補正が行われる前の放射線画
像の画像データや補正が行われた後の放射線画像の画像
データあるいは画像欠陥の位置を示す画像データを外部
機器１００に出力する場合、１枚の媒体に放射線画像を
出力可能となるように画像データを処理して出力するも
のとして良い。すなわち、外部機器１００で１枚の媒体
に対して出力できる画素数が画像データの画素数よりも
少ないときには、同じ画素位置の画像データを外部機器
１００の出力できる画素数に応じて間引きして出力して
も良いことは勿論である。
【００６３】なお、上述の実施の形態では、画像メモ
リ、欠陥検出部、欠陥補正部および画像表示装置がコン
トローラ４０に設けられている場合について説明した
が、これらを放射線画像読取装置２０に設けるものとし
て、放射線画像読取装置側で良好な放射線画像を表示し
たり、画像欠陥の位置を容易に判別可能とすることもで
きる。
リ、欠陥検出部、欠陥補正部および画像表示装置がコン
トローラ４０に設けられている場合について説明した
が、これらを放射線画像読取装置２０に設けるものとし
て、放射線画像読取装置側で良好な放射線画像を表示し
たり、画像欠陥の位置を容易に判別可能とすることもで
きる。
【００６４】
【発明の効果】この発明によれば、画像欠陥の補正が行
われる前の放射線画像の画像データと補正が行われた後
の放射線画像の画像データが対として処理されて、放射
線画像の表示あるいは画像データの出力が行われるの
で、補正が行われた位置の確認を容易とすることができ
る。また、補正前の画像データに代えて、画像欠陥の位
置を示す情報が用いられたときにも同様に、補正が行わ
れた位置の確認を容易に行うことができる。さらに画像
データを間引きして放射線画像の表示あるいは画像デー
タの出力を行う場合に、画像欠陥が最も少なくなるよう
に間引きが行われるので、間引き後の画像データを用い
ても補正が行われた画素の少ない良好な放射線画像を得
ることができる。
われる前の放射線画像の画像データと補正が行われた後
の放射線画像の画像データが対として処理されて、放射
線画像の表示あるいは画像データの出力が行われるの
で、補正が行われた位置の確認を容易とすることができ
る。また、補正前の画像データに代えて、画像欠陥の位
置を示す情報が用いられたときにも同様に、補正が行わ
れた位置の確認を容易に行うことができる。さらに画像
データを間引きして放射線画像の表示あるいは画像デー
タの出力を行う場合に、画像欠陥が最も少なくなるよう
に間引きが行われるので、間引き後の画像データを用い
ても補正が行われた画素の少ない良好な放射線画像を得
ることができる。
【図１】放射線画像処理装置の構成を示す図である。
【図２】放射線画像読取装置の構成を示す図である。
【図３】コントローラの構成を示す図である。
【図４】第１の欠陥画素検出方法を説明するための図で
ある。
ある。
【図５】しきい値の設定方法を説明するための図であ
る。
る。
【図６】第２の欠陥画素検出方法を説明するための図で
ある。
ある。
【図７】第３の欠陥画素検出方法を説明するための図で
ある。
ある。
【図８】トレンド除去を説明するための図である。
【図９】トレンド除去を行ったときのしきい値の設定方
法を説明するための図である。
法を説明するための図である。
【図１０】欠陥画素の画像データの補正方法を説明する
ための図である。
ための図である。
【図１１】表示画像を示す図である。
１０ 放射線発生装置 ２０ 放射線画像読取装置 ２２ 撮像パネル ２４ 走査駆動部 ２５ 信号選択部 ２７ 読取制御部 ２９ パネル駆動部 ４０ コントローラ ４１ ＣＰＵ(Central Processing Unit) ４４ メモリ ４４ａ 欠陥情報記憶領域 ４８ 画像メモリ制御部 ４９ 画像メモリ ５０ 欠陥検出部 ５２ 欠陥補正部 ５５ 表示制御部 ５６ 画像表示装置
Claims (10)
- 【請求項１】 ２次元的に配列された複数の放射線検出
素子からの出力信号に基づいて画像データを作成する画
像データ作成手段と、 前記画像データ作成手段で作成された第１の画像データ
を用いて画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠
陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥
情報記憶手段と、 前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被
写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照
射して前記画像データ作成手段で作成した第２の画像デ
ータの画像欠陥を補正して第３の画像データを作成する
欠陥補正手段とを有する放射線画像処理装置において、 前記第２の画像データと前記第３の画像データを１つの
画像データとして処理する画像データ処理手段を有する
ことを特徴とする放射線画像処理装置。 - 【請求項２】 前記画像データ処理手段では、１つの画
像データとした前記第２の画像データと前記第３の画像
データから前記第２の画像データのみの消去を禁止する
ことを特徴とする請求項１記載の放射線画像処理装置。 - 【請求項３】 ２次元的に配列された複数の放射線検出
素子からの出力信号に基づいて画像データを作成する画
像データ作成手段と、 前記画像データ作成手段で作成された第１の画像データ
を用いて画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠
陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥
情報記憶手段と、 前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被
写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照
射して前記画像データ作成手段で作成した第２の画像デ
ータの画像欠陥を補正して第３の画像データを作成する
欠陥補正手段とを有する放射線画像処理装置において、 画像表示手段と、 前記画像表示手段に画像データを供給する画像データ供
給手段とを備え、前記画像データ供給手段では、前記第
２の画像データあるいは前記第３の画像データのいずれ
かを切り換えて前記画像表示手段に供給し、あるいは両
方を前記画像表示手段に供給し、 前記画像表示手段では、前記画像データ供給手段から供
給された画像データに基づく放射線画像を表示すること
を特徴とする放射線画像処理装置。 - 【請求項４】 前記画像データ供給手段では、前記第２
の画像データあるいは前記第３の画像データのいずれか
一方あるいは両方の画像データと共に、あるいは切り換
えて前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づい
て生成した画像欠陥の位置を示す第４の画像データを前
記画像表示手段に供給することを特徴とする請求項３記
載の放射線画像処理装置。 - 【請求項５】 前記画像データ供給手段では、前記第２
の画像データと前記第３の画像データと前記第４の画像
データを間引きして前記画像表示手段に供給すると共
に、前記画像データの間引きの際には前記欠陥検出手段
で検出された画像欠陥の数が最も少なくなるように間引
きを行うことを特徴とする請求項３あるいは請求項４記
載の放射線画像処理装置。 - 【請求項６】 前記画像データ供給手段および前記画像
表示手段では、複数の画像データから間引きを行う際に
は、同じ画素位置で間引きを行うことを特徴とする請求
項５記載の放射線画像処理装置。 - 【請求項７】 ２次元的に配列された複数の放射線検出
素子からの出力信号に基づいて画像データを作成する画
像データ作成手段と、 前記画像データ作成手段で作成された第１の画像データ
を用いて画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠
陥の位置を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥
情報記憶手段と、 前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被
写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照
射して前記画像データ作成手段で作成した第２の画像デ
ータの画像欠陥を補正して第３の画像データを作成する
欠陥補正手段とを有する放射線画像処理装置において、 画像データを出力する画像データ出力手段を備え、前記
画像データ出力手段では、前記第２の画像データ及び前
記第３の画像データの両方の画像データを１枚の媒体に
出力可能となるよう処理して出力することを特徴とする
放射線画像処理装置。 - 【請求項８】 前記画像データ出力手段では、前記第２
の画像データまたは前記第３の画像データと、前記欠陥
情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づいて生成した画
像欠陥の位置を示す第４の画像データを出力することを
特徴とする請求項７記載の放射線画像処理装置。 - 【請求項９】 前記画像データ供給手段では、前記第２
の画像データと前記第３の画像データと前記第４の画像
データを間引きして前記画像表示手段に供給すると共
に、前記画像データの間引きの際には前記欠陥検出手段
で検出された画像欠陥の数が最も少なくなるように間引
きを行うことを特徴とする請求項７または請求項８記載
の放射線画像処理装置。 - 【請求項１０】 前記画像データ出力手段では、前記複
数の画像データを間引きして出力する際には同じ画素位
置で間引きを行うことを特徴とする請求項９記載の放射
線画像処理装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30139198A JP3700419B2 (ja) | 1998-10-22 | 1998-10-22 | 放射線画像処理装置 |
| US09/385,558 US6529618B1 (en) | 1998-09-04 | 1999-08-30 | Radiation image processing apparatus |
| EP99307026A EP0984393B1 (en) | 1998-09-04 | 1999-09-03 | Radiation image processing apparatus |
| DE69942133T DE69942133D1 (de) | 1998-09-04 | 1999-09-03 | Röntgenbildverarbeitungsgerät |
| DE69935640T DE69935640D1 (de) | 1998-09-04 | 1999-09-03 | Röntgenbildverarbeitungsgerät |
| EP07001835A EP1777657B1 (en) | 1998-09-04 | 1999-09-03 | Radiation image processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30139198A JP3700419B2 (ja) | 1998-10-22 | 1998-10-22 | 放射線画像処理装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000126162A true JP2000126162A (ja) | 2000-05-09 |
| JP2000126162A5 JP2000126162A5 (ja) | 2005-05-19 |
| JP3700419B2 JP3700419B2 (ja) | 2005-09-28 |
Family
ID=17896316
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30139198A Expired - Fee Related JP3700419B2 (ja) | 1998-09-04 | 1998-10-22 | 放射線画像処理装置 |
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