JP2000125076A - 測定機用取り込み回路 - Google Patents
測定機用取り込み回路Info
- Publication number
- JP2000125076A JP2000125076A JP10291158A JP29115898A JP2000125076A JP 2000125076 A JP2000125076 A JP 2000125076A JP 10291158 A JP10291158 A JP 10291158A JP 29115898 A JP29115898 A JP 29115898A JP 2000125076 A JP2000125076 A JP 2000125076A
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- signals
- circuit
- output
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数、例えば3つのの被測定信号R、
G、Bを同時に取り込んで一個の出力信号として入力チ
ャンネルが一つしかない測定機2に入力できるように
し、測定時間の短縮を可能にする。 【解決手段】 被測定信号R、G、Bを受けるバッファ
回路41、42、43と、サンプリング回路51、52、53
を各被測定信号R、G、B毎に設け、更に全サンプリン
グ回路51、52、53からの全被測定信号R、G、Bを
受け、制御信号により制御されてその全被測定信号R、
G、Bを一つの信号に合成する出力合成回路6を設けて
なる。
G、Bを同時に取り込んで一個の出力信号として入力チ
ャンネルが一つしかない測定機2に入力できるように
し、測定時間の短縮を可能にする。 【解決手段】 被測定信号R、G、Bを受けるバッファ
回路41、42、43と、サンプリング回路51、52、53
を各被測定信号R、G、B毎に設け、更に全サンプリン
グ回路51、52、53からの全被測定信号R、G、Bを
受け、制御信号により制御されてその全被測定信号R、
G、Bを一つの信号に合成する出力合成回路6を設けて
なる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、取り込みが1チャ
ンネルしかない測定機へ複数の被測定信号を取り込む測
定機用取り込み回路に関する。
ンネルしかない測定機へ複数の被測定信号を取り込む測
定機用取り込み回路に関する。
【0002】
【従来の技術】リニアセンサを測定する測定機は、一般
に一つのチャンネルでしか取り込むことができないよう
になっている。しかし、リニアセンサの中には出力端子
が三つあり、三つの信号(例えば赤R、緑G、青Bの三
原色の信号)が同時に出力されるものがある。従って、
1チャンネルでしか取り込みができない測定機でそのよ
うな出力端子が複数、例えば3個あるリニアセンサを測
定する場合、従来においては図3に示すような測定機用
取り込み回路aをリニアセンサbと、測定機cとの間に
介在させていた。
に一つのチャンネルでしか取り込むことができないよう
になっている。しかし、リニアセンサの中には出力端子
が三つあり、三つの信号(例えば赤R、緑G、青Bの三
原色の信号)が同時に出力されるものがある。従って、
1チャンネルでしか取り込みができない測定機でそのよ
うな出力端子が複数、例えば3個あるリニアセンサを測
定する場合、従来においては図3に示すような測定機用
取り込み回路aをリニアセンサbと、測定機cとの間に
介在させていた。
【0003】dはリレーで、リニアセンサbの3個の出
力、即ち出力1、出力2、出力3を切り換えて出力す
る。eはそのリレーdによって切り換えて出力された信
号を受けるバッファ回路、fは該バッファ回路eからの
信号をサンプルホールドするサンプリング回路で、その
出力が測定機cに入力される。
力、即ち出力1、出力2、出力3を切り換えて出力す
る。eはそのリレーdによって切り換えて出力された信
号を受けるバッファ回路、fは該バッファ回路eからの
信号をサンプルホールドするサンプリング回路で、その
出力が測定機cに入力される。
【0004】要するに、従来においては、リニアセンサ
bの3個の出力、出力1、出力2、出力3をリレーdに
より切り換えてバッファ回路e、サンプリング回路f経
由で測定機cに入力させるようにしていた。
bの3個の出力、出力1、出力2、出力3をリレーdに
より切り換えてバッファ回路e、サンプリング回路f経
由で測定機cに入力させるようにしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3に示す
ような従来の技術によれば、リニアセンサbの三つの出
力端子から同時に出力される三つの信号を同時に取り込
んで測定することはできなかった。即ち、時分割的に取
り込んで処理していた。そして、その三つの信号を切り
換えて取り込み、サンプリングの処理をするようにして
いたので、測定時間が長くなるという問題があった。
ような従来の技術によれば、リニアセンサbの三つの出
力端子から同時に出力される三つの信号を同時に取り込
んで測定することはできなかった。即ち、時分割的に取
り込んで処理していた。そして、その三つの信号を切り
換えて取り込み、サンプリングの処理をするようにして
いたので、測定時間が長くなるという問題があった。
【0006】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、複数の被測定信号を同時に取り込ん
で一個の出力信号として入力チャンネルが一つしかない
測定機に入力できるようにし、測定時間の短縮を可能に
することを目的とする。
されたものであり、複数の被測定信号を同時に取り込ん
で一個の出力信号として入力チャンネルが一つしかない
測定機に入力できるようにし、測定時間の短縮を可能に
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の測定機用取り
込み回路は、被測定信号を受けるバッファ回路と、サン
プリング回路を各被測定信号毎に設け、更に全サンプリ
ング回路からの全被測定信号を受け、制御信号により制
御されてその全被測定信号を一つの信号に合成する出力
合成回路を設けてなるものである。
込み回路は、被測定信号を受けるバッファ回路と、サン
プリング回路を各被測定信号毎に設け、更に全サンプリ
ング回路からの全被測定信号を受け、制御信号により制
御されてその全被測定信号を一つの信号に合成する出力
合成回路を設けてなるものである。
【0008】従って、請求項1の測定機用取り込み回路
によれば、被測定信号をバッファ回路経由でサンプリン
グ回路に入力して取り込む処理を各被測定信号毎に同時
に並行して行い、それを出力合成回路で一つの信号に合
成して測定機に入力することができるので、測定時間の
短縮を図ることができる。
によれば、被測定信号をバッファ回路経由でサンプリン
グ回路に入力して取り込む処理を各被測定信号毎に同時
に並行して行い、それを出力合成回路で一つの信号に合
成して測定機に入力することができるので、測定時間の
短縮を図ることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明測定機用取り込み回路は、
基本的には、取り込みが一つのチャンネルしかない測定
機へ複数、例えば3つの被測定信号を取り込む測定機用
取り込み回路であって、複数の被測定信号それぞれに対
応して設けられ、その被測定信号が入力されるバッファ
回路と、該各バッファ回路に対応して設けられ、その出
力信号をサンプルホールドするサンプリング回路と、該
各サンプリング回路から出力された信号を受け、これら
複数の信号を、受ける制御信号に制御されて一つのチャ
ンネルの信号として合成する一つの出力合成回路と、か
らなる。制御信号は例えば1個乃至複数、例えば2個で
ある。因みに、被測定信号の数が3個の場合には、制御
信号は2個(2ビット)必要である。3つの被測定信号
のうちのどれを出力するかを特定するには最低2ビット
の信号が必要であるからである。被測定信号の数が2個
の場合は制御信号の数は1個(1ビット)で良い。
基本的には、取り込みが一つのチャンネルしかない測定
機へ複数、例えば3つの被測定信号を取り込む測定機用
取り込み回路であって、複数の被測定信号それぞれに対
応して設けられ、その被測定信号が入力されるバッファ
回路と、該各バッファ回路に対応して設けられ、その出
力信号をサンプルホールドするサンプリング回路と、該
各サンプリング回路から出力された信号を受け、これら
複数の信号を、受ける制御信号に制御されて一つのチャ
ンネルの信号として合成する一つの出力合成回路と、か
らなる。制御信号は例えば1個乃至複数、例えば2個で
ある。因みに、被測定信号の数が3個の場合には、制御
信号は2個(2ビット)必要である。3つの被測定信号
のうちのどれを出力するかを特定するには最低2ビット
の信号が必要であるからである。被測定信号の数が2個
の場合は制御信号の数は1個(1ビット)で良い。
【0010】
【実施例】以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説
明する。図1は本発明測定機用取り込み回路の第1の実
施例を示す回路図、図2は図1に示す回路の動作を説明
するタイムチャートである。図面において、1はリニア
センサで、三原色の信号R、G、Bを同時に出力する。
その赤の信号Rを出力するのが出力1、緑の信号Gを出
力するのが出力2、青の信号Bを出力するのが出力3で
ある。2は取り込みチャンネルが一つしかないリニアセ
ンサ用測定機である。
明する。図1は本発明測定機用取り込み回路の第1の実
施例を示す回路図、図2は図1に示す回路の動作を説明
するタイムチャートである。図面において、1はリニア
センサで、三原色の信号R、G、Bを同時に出力する。
その赤の信号Rを出力するのが出力1、緑の信号Gを出
力するのが出力2、青の信号Bを出力するのが出力3で
ある。2は取り込みチャンネルが一つしかないリニアセ
ンサ用測定機である。
【0011】3は測定機用取り込み回路で、リニアセン
サ1の各出力に対応して設けられたバッファ回路41、
42、43と、該各バッファ回路41、42、43に対応し
て設けられたサンプリング回路51、52、53と、該各
サンプリング回路51、52、53からの信号を受け、二
つの制御信号1、2により制御されてこのサンプリング
回路51、52、53からの三つ信号を合成して一つの信
号を得る出力合成回路6からなる。
サ1の各出力に対応して設けられたバッファ回路41、
42、43と、該各バッファ回路41、42、43に対応し
て設けられたサンプリング回路51、52、53と、該各
サンプリング回路51、52、53からの信号を受け、二
つの制御信号1、2により制御されてこのサンプリング
回路51、52、53からの三つ信号を合成して一つの信
号を得る出力合成回路6からなる。
【0012】本測定機用取り込み回路3によれば、図2
に示すように、リニアセンサ1から同時に出力された三
つの信号R、G、Bを同時に各バッファ回路41、42、
43を介してサンプリング回路51、52、53に送って同
時にサンプリングし、出力合成回路6において二つの制
御信号1、2によって制御されて一つの信号に合成し、
その合成した信号を一つのチャンネルでしか信号を入力
できない測定機2へ送出する。
に示すように、リニアセンサ1から同時に出力された三
つの信号R、G、Bを同時に各バッファ回路41、42、
43を介してサンプリング回路51、52、53に送って同
時にサンプリングし、出力合成回路6において二つの制
御信号1、2によって制御されて一つの信号に合成し、
その合成した信号を一つのチャンネルでしか信号を入力
できない測定機2へ送出する。
【0013】即ち、或る期間1において各サンプリング
回路51、52、53から同時にサンプリングした信号R
1、G1、B1が出力されるが、それを受ける出力合成
回路6は制御信号1、2により制御されてその期間1と
同じ長さの期間内にR1、G1、B1の順に一つのチャ
ンネルを通じて送る。具体的にはその期間内の最初の3
分の1の期間は制御信号1、2が共に「ロー」になり、
R1がその一つのチャンネルに出力され、次の3分の1
の期間は制御信号1が「ハイ」、制御信号2が「ロー」
になり、G1がそのチャンネルに出力され、最後の3分
の1の期間は制御信号1が「ロー」、制御信号2が「ハ
イ」になり、B1がそのチャンネルに出力される。
回路51、52、53から同時にサンプリングした信号R
1、G1、B1が出力されるが、それを受ける出力合成
回路6は制御信号1、2により制御されてその期間1と
同じ長さの期間内にR1、G1、B1の順に一つのチャ
ンネルを通じて送る。具体的にはその期間内の最初の3
分の1の期間は制御信号1、2が共に「ロー」になり、
R1がその一つのチャンネルに出力され、次の3分の1
の期間は制御信号1が「ハイ」、制御信号2が「ロー」
になり、G1がそのチャンネルに出力され、最後の3分
の1の期間は制御信号1が「ロー」、制御信号2が「ハ
イ」になり、B1がそのチャンネルに出力される。
【0014】このような動作が以後の各期間2、3、・
・・においても同様に繰り返される。従って、このよう
な測定機用取り込み回路によれば、三つの信号を同時に
送出するリニアセンサ1のその三つの信号についてバッ
ファ回路4とサンプリング回路5からなる三つの回路系
により同時に取り込みができ、それを出力合成回路6に
より一つのチャンネルの信号に合成することができるの
で、一つのチャンネルを通じてしか被測定信号を取り込
めない測定機によっても測定ができ、測定時間を短縮す
ることができる。
・・においても同様に繰り返される。従って、このよう
な測定機用取り込み回路によれば、三つの信号を同時に
送出するリニアセンサ1のその三つの信号についてバッ
ファ回路4とサンプリング回路5からなる三つの回路系
により同時に取り込みができ、それを出力合成回路6に
より一つのチャンネルの信号に合成することができるの
で、一つのチャンネルを通じてしか被測定信号を取り込
めない測定機によっても測定ができ、測定時間を短縮す
ることができる。
【0015】
【発明の効果】請求項1の測定機用取り込み回路によれ
ば、被測定信号をバッファ回路経由でサンプリング回路
に入力して取り込む処理を各被測定信号毎に同時に並行
して行い、それを出力合成回路で一つの信号に合成して
測定機に入力することができるので、測定時間の短縮を
図ることができる。
ば、被測定信号をバッファ回路経由でサンプリング回路
に入力して取り込む処理を各被測定信号毎に同時に並行
して行い、それを出力合成回路で一つの信号に合成して
測定機に入力することができるので、測定時間の短縮を
図ることができる。
【図1】本発明測定機用取り込み回路の第1の実施例を
示す回路図である。
示す回路図である。
【図2】図1に示す測定機用取り込み回路の回路動作を
示すタイムチャートである。
示すタイムチャートである。
【図3】測定機用取り込み回路の従来例を示す回路図で
ある。
ある。
1・・・リニアセンサ、2・・・測定機、3・・・測定
機用取り込み回路、4・・・バッファ回路、 5・・・
サンプリング回路、6・・・出力合成回路。
機用取り込み回路、4・・・バッファ回路、 5・・・
サンプリング回路、6・・・出力合成回路。
Claims (1)
- 【請求項1】 取り込みが1チャンネルしかない測定機
へ複数の被測定信号を取り込む測定機用取り込み回路で
あって、 複数の被測定信号それぞれに対応して設けられ、その対
応する被測定信号が入力されるバッファ回路と、 上記各バッファ回路に対応して設けられ、その対応する
バッファ回路の出力信号をサンプルホールドするサンプ
リング回路と、 上記各サンプリング回路から出力された信号を受け、こ
れら複数の信号を、受ける制御信号に制御されて一つの
チャンネルの信号として合成する一つの出力合成回路
と、 からなることを特徴とする測定機用取り込み回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10291158A JP2000125076A (ja) | 1998-10-13 | 1998-10-13 | 測定機用取り込み回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10291158A JP2000125076A (ja) | 1998-10-13 | 1998-10-13 | 測定機用取り込み回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000125076A true JP2000125076A (ja) | 2000-04-28 |
Family
ID=17765206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10291158A Pending JP2000125076A (ja) | 1998-10-13 | 1998-10-13 | 測定機用取り込み回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000125076A (ja) |
-
1998
- 1998-10-13 JP JP10291158A patent/JP2000125076A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20041019 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20050131 |