JP2000121548A - 水質計測器 - Google Patents
水質計測器Info
- Publication number
- JP2000121548A JP2000121548A JP10294846A JP29484698A JP2000121548A JP 2000121548 A JP2000121548 A JP 2000121548A JP 10294846 A JP10294846 A JP 10294846A JP 29484698 A JP29484698 A JP 29484698A JP 2000121548 A JP2000121548 A JP 2000121548A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- water quality
- light receiving
- light source
- quality measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Physical Water Treatments (AREA)
- Treatment Of Water By Oxidation Or Reduction (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 検出部を小型化させるとともに、非接触で検
出部の洗浄を行って、検出部の耐久性を向上させる。 【解決手段】 検出部本体１０の内部には、半導体レー
ザーダイオード１１を収納し、このダイオード１１から
発光されたレーザー光１２を、二酸化チタンコーティン
グ膜１４が被覆された透過窓１５を透過させて試料水中
に照射する。単色受光素子１６は、レーザー光１２と直
交する検出部本体１０内に設けられ、受光素子１６に
は、二酸化チタンコーティング膜１７が被覆された受光
窓１８が設けられる。受光素子１６と対向配置された位
置には、分光ランプ１９が設けられ、このランプ１９か
らの光線２０をコーティング膜１４、１７で被覆されて
いる透過窓１５と受光窓１８に照射して、光触媒反応を
生じさせ、強い酸化力により膜に付着した物質を分解さ
せて、両窓１５、１８の汚れを洗浄する。
出部の洗浄を行って、検出部の耐久性を向上させる。 【解決手段】 検出部本体１０の内部には、半導体レー
ザーダイオード１１を収納し、このダイオード１１から
発光されたレーザー光１２を、二酸化チタンコーティン
グ膜１４が被覆された透過窓１５を透過させて試料水中
に照射する。単色受光素子１６は、レーザー光１２と直
交する検出部本体１０内に設けられ、受光素子１６に
は、二酸化チタンコーティング膜１７が被覆された受光
窓１８が設けられる。受光素子１６と対向配置された位
置には、分光ランプ１９が設けられ、このランプ１９か
らの光線２０をコーティング膜１４、１７で被覆されて
いる透過窓１５と受光窓１８に照射して、光触媒反応を
生じさせ、強い酸化力により膜に付着した物質を分解さ
せて、両窓１５、１８の汚れを洗浄する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、水質検出器の光
学部の洗浄に改良を加えた浄水場の急速ろ過池における
水質計測器に関する。
学部の洗浄に改良を加えた浄水場の急速ろ過池における
水質計測器に関する。
【０００２】
【従来の技術】日本の浄水場における現状の主プロセス
は、凝集沈殿＋砂ろ過＋塩素消毒である。原水中に含ま
れている濁質分や、近年問題となっているクリプトスポ
リジウムなどの原虫は、凝集沈殿＋砂ろ過で除去する必
要がある。その中でも、ろ過池は、マイクロフロックや
有機物の吸着、原虫などの漏出の安全弁的な機能を果た
している重要なプロセスである。ろ過池は、これらの機
能を維持するため、洗浄を行う必要があり、この洗浄
は、ろ過池の運転管理上最も重要である。ろ過池の洗浄
は、一般的には、ろ過継続時間およびろ過抵抗値到達時
に実施しており、物理的な要因のみが指標として用いら
れているのが実状である。一方、上述したとおり、クリ
プトスポリジウムの混入といった問題点があり、水質的
な面からも、ろ過池の運転管理を行って行く必要が出て
きている。厚生省では、このような背景の下、ろ過池の
水質やろ過池のろ過操作、洗浄操作などについて、以下
のような通達を出している。
は、凝集沈殿＋砂ろ過＋塩素消毒である。原水中に含ま
れている濁質分や、近年問題となっているクリプトスポ
リジウムなどの原虫は、凝集沈殿＋砂ろ過で除去する必
要がある。その中でも、ろ過池は、マイクロフロックや
有機物の吸着、原虫などの漏出の安全弁的な機能を果た
している重要なプロセスである。ろ過池は、これらの機
能を維持するため、洗浄を行う必要があり、この洗浄
は、ろ過池の運転管理上最も重要である。ろ過池の洗浄
は、一般的には、ろ過継続時間およびろ過抵抗値到達時
に実施しており、物理的な要因のみが指標として用いら
れているのが実状である。一方、上述したとおり、クリ
プトスポリジウムの混入といった問題点があり、水質的
な面からも、ろ過池の運転管理を行って行く必要が出て
きている。厚生省では、このような背景の下、ろ過池の
水質やろ過池のろ過操作、洗浄操作などについて、以下
のような通達を出している。
【０００３】（１）共通事項：各ろ過池ごとに、十分調
整された濁度計を用いて濁度を測定すること、（２）ろ
過池流出水の水質：ろ過池流出水の濁度の常時把握およ
びその濁度を0.1度に維持すること、（３）洗浄排水の
水質：最終濁度2度以下を目標とすること、（４）ろ過
開始直後の水質：ろ過池流出水0.1度になるまで捨て水
を実施すること。
整された濁度計を用いて濁度を測定すること、（２）ろ
過池流出水の水質：ろ過池流出水の濁度の常時把握およ
びその濁度を0.1度に維持すること、（３）洗浄排水の
水質：最終濁度2度以下を目標とすること、（４）ろ過
開始直後の水質：ろ過池流出水0.1度になるまで捨て水
を実施すること。
【０００４】ろ過機能を維持するには、適切な洗浄方法
で、ろ過池を洗浄してやる必要がある。ろ過池洗浄方式
には、表面洗浄、逆洗水による洗浄、両者の組み合わせ
があり、ろ過池が砂層のみの単層ろ過か、砂層とアンス
ラサイトを組み合わせた複合ろ過かによって洗浄方法や
時間、洗浄水流量が変わってくる。
で、ろ過池を洗浄してやる必要がある。ろ過池洗浄方式
には、表面洗浄、逆洗水による洗浄、両者の組み合わせ
があり、ろ過池が砂層のみの単層ろ過か、砂層とアンス
ラサイトを組み合わせた複合ろ過かによって洗浄方法や
時間、洗浄水流量が変わってくる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した厚生省からの
通達によるクリプトスポリジウム暫定対策指針の概略
（１）〜（４）の中で、特に（３）に示した洗浄排水濁
度の最終濁度を２度以下にするためには、プロセス用の
濁度計が必要になる。しかしながら、現状の急速ろ過池
の洗浄排水濁度を連続監視している例はほとんどない。
通達によるクリプトスポリジウム暫定対策指針の概略
（１）〜（４）の中で、特に（３）に示した洗浄排水濁
度の最終濁度を２度以下にするためには、プロセス用の
濁度計が必要になる。しかしながら、現状の急速ろ過池
の洗浄排水濁度を連続監視している例はほとんどない。
【０００６】この理由としては、以下に示す問題点をク
リアする必要があるためである。 （１）中塩素処理を行うと工程水中の鉄、マンガンが塩
素剤と反応して析出し、計測装置に付着して電極や光学
部が汚れる。 （２）ろ過池の構造上、洗浄排水を測定するためには、
ろ過池付近に水質検出器を設置しなければならない。
（投げ込み式、浸漬式） 上記検出器、特にプロセス用水質計測器では、検水中の
浮遊物質が付着したり、水温と測定器の温度差により、
光学面に気泡が付着し易くなるため洗浄機構を具備して
いる。特に浸漬形の水質計測器には、ブラシ洗浄機構、
ワイパー洗浄機構などによって光学部を洗浄している。
しかしながら、洗浄機構を設けると装置全体が大きくな
る割に、洗浄効果があまり期待できない問題がある。
リアする必要があるためである。 （１）中塩素処理を行うと工程水中の鉄、マンガンが塩
素剤と反応して析出し、計測装置に付着して電極や光学
部が汚れる。 （２）ろ過池の構造上、洗浄排水を測定するためには、
ろ過池付近に水質検出器を設置しなければならない。
（投げ込み式、浸漬式） 上記検出器、特にプロセス用水質計測器では、検水中の
浮遊物質が付着したり、水温と測定器の温度差により、
光学面に気泡が付着し易くなるため洗浄機構を具備して
いる。特に浸漬形の水質計測器には、ブラシ洗浄機構、
ワイパー洗浄機構などによって光学部を洗浄している。
しかしながら、洗浄機構を設けると装置全体が大きくな
る割に、洗浄効果があまり期待できない問題がある。
【０００７】この発明は上記の事情に鑑みてなされたも
ので、機械的洗浄機構に比較して検出部を小型化するこ
とができるとともに、非接触で検出部の洗浄を行って、
検出部の耐久性の向上を図り、かつ検出部への気泡など
の付着が防止できる水質計測器を提供することを課題と
する。
ので、機械的洗浄機構に比較して検出部を小型化するこ
とができるとともに、非接触で検出部の洗浄を行って、
検出部の耐久性の向上を図り、かつ検出部への気泡など
の付着が防止できる水質計測器を提供することを課題と
する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を達成するために、第１発明は、浄水場のろ過池の水質
を水質検出器で計測する水質計測器において、水中に没
せられる水質検出器の検出部本体内に設けられ、試料水
中に光線を透過窓を介して照射する第１光源体と、前記
検出部本体内に設けられ、前記第１光源体からの光線の
照射により水中の粒子で散乱した散乱光を検出する受光
素子と、この受光素子の散乱光受光側に設けられた受光
窓と、この受光窓と前記透過窓のそれぞれの水中側に被
覆された光触媒反応物質と、前記検出部本体内に設けら
れ、前記光触媒反応物質に光触媒反応を起こさせる光線
を発光する第２光源体とからなることを特徴とするもの
である。
を達成するために、第１発明は、浄水場のろ過池の水質
を水質検出器で計測する水質計測器において、水中に没
せられる水質検出器の検出部本体内に設けられ、試料水
中に光線を透過窓を介して照射する第１光源体と、前記
検出部本体内に設けられ、前記第１光源体からの光線の
照射により水中の粒子で散乱した散乱光を検出する受光
素子と、この受光素子の散乱光受光側に設けられた受光
窓と、この受光窓と前記透過窓のそれぞれの水中側に被
覆された光触媒反応物質と、前記検出部本体内に設けら
れ、前記光触媒反応物質に光触媒反応を起こさせる光線
を発光する第２光源体とからなることを特徴とするもの
である。
【０００９】第２発明は、前記第１光源体が、レーザー
光源または可視光源からなることを特徴とするものであ
る。第３発明は、前記第２光源体が、波長600nm以下の
光源からなることを特徴とするものである。第４発明
は、前記受光素子が、波長600nm以上の単色波長だけに
感度を有することを特徴とするものである。第５発明
は、前記光触媒反応物質が、二酸化チタンからなること
を特徴とするものである。
光源または可視光源からなることを特徴とするものであ
る。第３発明は、前記第２光源体が、波長600nm以下の
光源からなることを特徴とするものである。第４発明
は、前記受光素子が、波長600nm以上の単色波長だけに
感度を有することを特徴とするものである。第５発明
は、前記光触媒反応物質が、二酸化チタンからなること
を特徴とするものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下この発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１はこの発明の実施の形態を示
す構成説明図で、この実施の形態では、レーザーを光源
としたネフェロメトリー（側方散乱光法）の濁度計を例
にとって説明する。図１において、１０は濁度計の検出
部本体で、この検出部本体１０の内部には、半導体レー
ザーダイオード（波長：670nm）１１が収納されてい
る。このダイオード１１は赤色レーザー光を発光し、そ
のレーザー光１２は、凸レンズ１３、二酸化チタンコー
ティング膜１４が被覆されたレーザー透過窓１５を透過
して試料水中に照射される。１６はシリコンフォトセル
からなる単色受光素子（単色波長650nmだけに分光感度
のある素子）で、この受光素子１６は、レーザー光１２
と直交する検出部本体１０内に設けられる。受光素子１
６の受光部には、二酸化チタンコーティング膜１７が被
覆された受光窓１８を設ける。
に基づいて説明する。図１はこの発明の実施の形態を示
す構成説明図で、この実施の形態では、レーザーを光源
としたネフェロメトリー（側方散乱光法）の濁度計を例
にとって説明する。図１において、１０は濁度計の検出
部本体で、この検出部本体１０の内部には、半導体レー
ザーダイオード（波長：670nm）１１が収納されてい
る。このダイオード１１は赤色レーザー光を発光し、そ
のレーザー光１２は、凸レンズ１３、二酸化チタンコー
ティング膜１４が被覆されたレーザー透過窓１５を透過
して試料水中に照射される。１６はシリコンフォトセル
からなる単色受光素子（単色波長650nmだけに分光感度
のある素子）で、この受光素子１６は、レーザー光１２
と直交する検出部本体１０内に設けられる。受光素子１
６の受光部には、二酸化チタンコーティング膜１７が被
覆された受光窓１８を設ける。
【００１１】１９は受光素子１６と対向配置された検出
部本体１０内に設けられる分光ランプ（例えば、低圧水
銀ランプやブラックライト）で、この分光ランプ１９
は、波長600nm以下の光線２０を凹レンズ２１を介して
二酸化チタンコーティング膜１４、１７で被覆されてい
る透過窓１５と受光窓１８に照射する。透過窓１５と受
光窓１８に被覆されている二酸化チタンは、波長400nm
以下の光線により光触媒反応を起こし、強い酸化力によ
り付着物質を分解する機能をもっている。
部本体１０内に設けられる分光ランプ（例えば、低圧水
銀ランプやブラックライト）で、この分光ランプ１９
は、波長600nm以下の光線２０を凹レンズ２１を介して
二酸化チタンコーティング膜１４、１７で被覆されてい
る透過窓１５と受光窓１８に照射する。透過窓１５と受
光窓１８に被覆されている二酸化チタンは、波長400nm
以下の光線により光触媒反応を起こし、強い酸化力によ
り付着物質を分解する機能をもっている。
【００１２】上記のように構成された濁度計において、
半導体レーザーダイオード１１から細く収束された波長
670nmの赤色レーザー光線が試料中に照射される。試料
中に照射された光束内に捕捉された濁度成分粒子からの
反射／屈折による散乱光が光束と直角方向に配置された
受光素子１６によって検出される。受光素子１６は検出
した散乱光の強度に比例した電気出力を送出する。
半導体レーザーダイオード１１から細く収束された波長
670nmの赤色レーザー光線が試料中に照射される。試料
中に照射された光束内に捕捉された濁度成分粒子からの
反射／屈折による散乱光が光束と直角方向に配置された
受光素子１６によって検出される。受光素子１６は検出
した散乱光の強度に比例した電気出力を送出する。
【００１３】受光素子１６は単色波長650nmだけに分光
感度のある素子であるため、600nm以下の短い波長の光
は吸収できない。このため、分光ランプ１９から発光さ
れる波長600nm以下の光が受光素子１６に照射されても
吸収されないが、レーザー光１２の光束内に捕捉された
濁度成分粒子からの反射／屈折による散乱光は選択的に
吸収でき、分光ランプ１９を連続点灯下においても影響
（バックグランド）されることなく濁度測定ができる。
感度のある素子であるため、600nm以下の短い波長の光
は吸収できない。このため、分光ランプ１９から発光さ
れる波長600nm以下の光が受光素子１６に照射されても
吸収されないが、レーザー光１２の光束内に捕捉された
濁度成分粒子からの反射／屈折による散乱光は選択的に
吸収でき、分光ランプ１９を連続点灯下においても影響
（バックグランド）されることなく濁度測定ができる。
【００１４】一方、分光ランプ１９から発光される波長
600nm以下の光が、透過窓１５と受光窓１８に被覆され
ている二酸化チタンコーティング膜１４、１７に照射さ
れると、光触媒反応を起こし、強い酸化力によりコーテ
ィング膜に付着した物質を分解して、両窓１５、１８の
汚れを洗浄する。このため、濁度測定が常に良好の状態
で行うことができる。なお、上記実施の形態において
は、光触媒反応を起こす物質として二酸化チタンを例に
掲げたが、波長600nmで光触媒反応を起こす物質であれ
ばどのようなものでも良い。また、上記実施の形態で
は、ネフェロメトリーの場合について述べて来たが、透
過光測定、前方散乱光測定、後方散乱光測定等の各方式
に適用することができる。
600nm以下の光が、透過窓１５と受光窓１８に被覆され
ている二酸化チタンコーティング膜１４、１７に照射さ
れると、光触媒反応を起こし、強い酸化力によりコーテ
ィング膜に付着した物質を分解して、両窓１５、１８の
汚れを洗浄する。このため、濁度測定が常に良好の状態
で行うことができる。なお、上記実施の形態において
は、光触媒反応を起こす物質として二酸化チタンを例に
掲げたが、波長600nmで光触媒反応を起こす物質であれ
ばどのようなものでも良い。また、上記実施の形態で
は、ネフェロメトリーの場合について述べて来たが、透
過光測定、前方散乱光測定、後方散乱光測定等の各方式
に適用することができる。
【００１５】上記半導体レーザー光線を使用する水質計
測器に代えて、ハロゲンランプ等の可視光を光源とした
水質計測器を使用する場合において、透過窓と受光窓を
具備している測定系では、受光素子１６に影響を与えて
しまうため、分光ランプ１９の連続点灯照射はできな
い。従って、透過窓１５と受光窓１８の洗浄を行うとき
には、図示しない測定回路によって制限する。例えば、
シーケンス上で洗浄開始時に、その毎正時の出力をホー
ルド状態に分光ランプ１９を必要時間点灯することで測
定データに影響しないようにする。なお、この機能は、
透過光測定、前方散乱光測定、後方散乱光測定等の各方
式に適用することができる。
測器に代えて、ハロゲンランプ等の可視光を光源とした
水質計測器を使用する場合において、透過窓と受光窓を
具備している測定系では、受光素子１６に影響を与えて
しまうため、分光ランプ１９の連続点灯照射はできな
い。従って、透過窓１５と受光窓１８の洗浄を行うとき
には、図示しない測定回路によって制限する。例えば、
シーケンス上で洗浄開始時に、その毎正時の出力をホー
ルド状態に分光ランプ１９を必要時間点灯することで測
定データに影響しないようにする。なお、この機能は、
透過光測定、前方散乱光測定、後方散乱光測定等の各方
式に適用することができる。
【００１６】図２は濁度計をろ過池内に設置したときの
概略構成図で、図２において、３１はろ過池、３２は洗
浄排水用トラフ、３３は前述した検出部本体１０に設け
られた遮光カバー、３４は防水管、３５は中継ボック
ス、３６は演算増幅器装置である。
概略構成図で、図２において、３１はろ過池、３２は洗
浄排水用トラフ、３３は前述した検出部本体１０に設け
られた遮光カバー、３４は防水管、３５は中継ボック
ス、３６は演算増幅器装置である。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
透過窓と受光窓に二酸化チタンのコーティング膜を形成
することにより、機械的洗浄機構を設ける必要がないた
めに、検出部本体の小型化を図ることができるととも
に、非接触で窓の洗浄ができるため、検出部の耐久性を
向上させることができる。また、二酸化チタン膜は、分
光ランプからの光照射により、表面が親水化され気泡等
の付着が防止できる利点もある。
透過窓と受光窓に二酸化チタンのコーティング膜を形成
することにより、機械的洗浄機構を設ける必要がないた
めに、検出部本体の小型化を図ることができるととも
に、非接触で窓の洗浄ができるため、検出部の耐久性を
向上させることができる。また、二酸化チタン膜は、分
光ランプからの光照射により、表面が親水化され気泡等
の付着が防止できる利点もある。
【図１】この発明の実施の形態を示す構成説明図。
【図２】濁度計をろ過池内に設置したときの概略構成
図。
図。
１０…検出部本体 １１…半導体レーザーダイオード １２…レーザー光 １３…凸レンズ １４、１７…二酸化チタンコーティング膜 １５…レーザー透過窓 １６…単色受光素子 １８…受光窓 １９…分光ランプ ２０…波長600nm以下の光線 ２１…凹レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池田 一治 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 小西 隆裕 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式会 社明電舎内 Ｆターム(参考） 2G057 AA01 AA02 AA10 AB01 AB06 AB08 AC01 BA01 BB01 CB01 DB08 DC01 JA20 2G059 AA02 BB05 CC19 EE01 EE02 FF07 GG02 GG03 HH02 JJ11 KK01 LL04 NN07 4D037 AA02 AB02 BA16 BB02 CA11 CA16 4D050 AA03 AB06 AB07 AB11 BB20 BC06 BC09 BD08 CA07 CA20
Claims (5)
- 【請求項１】 浄水場のろ過池の水質を水質検出器で計
測する水質計測器において、 水中に没せられる水質検出器の検出部本体内に設けら
れ、試料水中に光線を透過窓を介して照射する第１光源
体と、前記検出部本体内に設けられ、前記第１光源体か
らの光線の照射により水中の粒子で散乱した散乱光を検
出する受光素子と、この受光素子の散乱光受光側に設け
られた受光窓と、この受光窓と前記透過窓のそれぞれの
水中側に被覆された光触媒反応物質と、前記検出部本体
内に設けられ、前記光触媒反応物質に光触媒反応を起こ
させる光線を発光する第２光源体とからなることを特徴
とする水質計測器。 - 【請求項２】 前記第１光源体は、レーザー光源または
可視光源からなることを特徴とする請求項１記載の水質
計測器。 - 【請求項３】 前記第２光源体は、波長600nm以下の光
源からなることを特徴とする請求項１、２記載の水質計
測器。 - 【請求項４】 前記受光素子は、波長600nm以上の単色
波長だけに感度を有することを特徴とする請求項１記載
の水質計測器。 - 【請求項５】 前記光触媒反応物質は、二酸化チタンか
らなることを特徴とする請求項１記載の水質計測器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29484698A JP3817936B2 (ja) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | 水質計測器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29484698A JP3817936B2 (ja) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | 水質計測器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000121548A true JP2000121548A (ja) | 2000-04-28 |
| JP3817936B2 JP3817936B2 (ja) | 2006-09-06 |
Family
ID=17813021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29484698A Expired - Fee Related JP3817936B2 (ja) | 1998-10-16 | 1998-10-16 | 水質計測器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3817936B2 (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002311011A (ja) * | 2001-04-18 | 2002-10-23 | Kosu:Kk | 全窒素および／または全りん測定装置 |
| EP1355391A2 (en) * | 2002-03-25 | 2003-10-22 | Fanuc Ltd | Laser oscillator |
| GB2391307A (en) * | 2003-03-13 | 2004-02-04 | Delphi Tech Inc | Self-cleaning optical sensor |
| JP2006343293A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Toyota Motor Corp | 排ガス分析装置 |
| JP2008157728A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Toyota Motor Corp | 燃料性状検出装置 |
| US7551654B2 (en) * | 2004-03-10 | 2009-06-23 | Panasonic Corporation | Coherent light source and optical system |
| JPWO2008105146A1 (ja) * | 2007-02-28 | 2010-06-03 | サントリーホールディングス株式会社 | 液中投入型吸光度センサ素子及びそれを用いた吸光光度計 |
| JP2011033351A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-17 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガス分析装置 |
| EP2653857A3 (de) * | 2012-04-19 | 2016-04-13 | Diehl Metering GmbH | Trübungssensor sowie Durchflusszähler für Fluid |
| JP2018503552A (ja) * | 2014-12-30 | 2018-02-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 生物汚損防止システム |
| WO2019189117A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-03 | 住友金属鉱山株式会社 | 気泡測定装置および気泡測定方法 |
| CN113087306A (zh) * | 2021-04-19 | 2021-07-09 | 安徽省圣丹生物化工有限公司 | 一种氯代苯氧酸类除草剂生产用废水处理系统 |
-
1998
- 1998-10-16 JP JP29484698A patent/JP3817936B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002311011A (ja) * | 2001-04-18 | 2002-10-23 | Kosu:Kk | 全窒素および／または全りん測定装置 |
| JP4691266B2 (ja) * | 2001-04-18 | 2011-06-01 | 株式会社 堀場アドバンスドテクノ | 全窒素および／または全りん測定装置 |
| EP1355391A2 (en) * | 2002-03-25 | 2003-10-22 | Fanuc Ltd | Laser oscillator |
| EP1355391A3 (en) * | 2002-03-25 | 2006-11-15 | Fanuc Ltd | Laser oscillator |
| GB2391307A (en) * | 2003-03-13 | 2004-02-04 | Delphi Tech Inc | Self-cleaning optical sensor |
| US7551654B2 (en) * | 2004-03-10 | 2009-06-23 | Panasonic Corporation | Coherent light source and optical system |
| JP4566070B2 (ja) * | 2005-06-10 | 2010-10-20 | トヨタ自動車株式会社 | 排ガス分析装置 |
| JP2006343293A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Toyota Motor Corp | 排ガス分析装置 |
| JP2008157728A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Toyota Motor Corp | 燃料性状検出装置 |
| JPWO2008105146A1 (ja) * | 2007-02-28 | 2010-06-03 | サントリーホールディングス株式会社 | 液中投入型吸光度センサ素子及びそれを用いた吸光光度計 |
| JP2012255806A (ja) * | 2007-02-28 | 2012-12-27 | Suntory Holdings Ltd | 液中投入型吸光度センサ素子を用いた吸光光度計 |
| JP2011033351A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-17 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガス分析装置 |
| EP2653857A3 (de) * | 2012-04-19 | 2016-04-13 | Diehl Metering GmbH | Trübungssensor sowie Durchflusszähler für Fluid |
| JP2018503552A (ja) * | 2014-12-30 | 2018-02-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 生物汚損防止システム |
| WO2019189117A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-03 | 住友金属鉱山株式会社 | 気泡測定装置および気泡測定方法 |
| JPWO2019189117A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2021-06-10 | 住友金属鉱山株式会社 | 気泡測定装置および気泡測定方法 |
| US11391658B2 (en) | 2018-03-28 | 2022-07-19 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Air bubble measurement device and air bubble measurement method |
| JP7294324B2 (ja) | 2018-03-28 | 2023-06-20 | 住友金属鉱山株式会社 | 気泡測定装置 |
| CN113087306A (zh) * | 2021-04-19 | 2021-07-09 | 安徽省圣丹生物化工有限公司 | 一种氯代苯氧酸类除草剂生产用废水处理系统 |
| CN113087306B (zh) * | 2021-04-19 | 2022-09-02 | 安徽省圣丹生物化工有限公司 | 一种氯代苯氧酸类除草剂生产用废水处理系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3817936B2 (ja) | 2006-09-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2000121548A (ja) | 水質計測器 | |
| JP3230751B2 (ja) | 濁度の測定 | |
| CA2924771C (en) | Nephelometric turbidimeter and method for detection of the contamination of a sample cuvette of a nephelometric turbidimeter | |
| JPH08504033A (ja) | 螢光を誘起しかつ検出するための装置および方法 | |
| EP0581157B1 (en) | Water purification method and apparatus | |
| JP2005517175A (ja) | 液体の検査方法並びにその装置 | |
| JP2003520959A (ja) | 装置、試料キュベット、及び光学測定方法 | |
| JP2019037450A (ja) | 流体殺菌装置 | |
| JP3920504B2 (ja) | 紫外線殺菌装置 | |
| JP2002174596A (ja) | 水質汚染度測定装置 | |
| JP2003057230A (ja) | 水質計測器 | |
| JPH10142141A (ja) | 水質計測器 | |
| JPH0989758A (ja) | 濁度センサーの測定セル | |
| JPH0658323B2 (ja) | 水のｃｏｄ測定装置 | |
| CN111742078B (zh) | 无荧光的经涂黑光学组件 | |
| JP2008249363A (ja) | 濁度計 | |
| JP3407538B2 (ja) | 光学式水質測定器における測定セルの洗浄方法 | |
| JP4642211B2 (ja) | 被測定成分濃度の測定方法 | |
| KR101957804B1 (ko) | 흡광광도법을 이용한 농도 측정 장치 및 방법 | |
| JPS5934135A (ja) | 光学式水質測定装置 | |
| JPH09127005A (ja) | 水中化合物の分析方法 | |
| JP2001083095A (ja) | 水質測定装置 | |
| JPH0493638A (ja) | 低濃度吸光度連続測定装置 | |
| JP2010091309A (ja) | 非接触水質測定方法および装置 | |
| JP2000258411A (ja) | 尿検査機能付き便座 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040823 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060221 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060417 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060523 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060605 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090623 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100623 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110623 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110623 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120623 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130623 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |