JP2000113410A - 磁気ヘッド - Google Patents

磁気ヘッド

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JP2000113410A
JP2000113410A JP10280315A JP28031598A JP2000113410A JP 2000113410 A JP2000113410 A JP 2000113410A JP 10280315 A JP10280315 A JP 10280315A JP 28031598 A JP28031598 A JP 28031598A JP 2000113410 A JP2000113410 A JP 2000113410A
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JP
Japan
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magnetic
thin film
magnetic head
substrate
metal
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JP10280315A
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English (en)
Inventor
Takashi Tamura
孝 田村
Tadashi Saito
正 斎藤
Seiichi Ogata
誠一 小形
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 磁気ヘッド作製時における基板とガラスとの
反応を防ぐことにより、電磁変換特性を良好なものとす
る。 【解決手段】 基板上に金属磁性薄膜が斜めに成膜され
るとともに、薄膜コイルが形成された凹部を有し、ガラ
スにより突合せ面が平坦化されてなる一対の磁気コア半
体を備え、金属磁性薄膜の前部突合せ面同士が非磁性材
料を介して対向するように突き合わされて磁気ギャップ
が形成された磁気ヘッドにおいて、基板は、CaO、T
iO2及びNiOを主成分とする非磁性材料からなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属磁性薄膜によ
り磁路を形成した磁気ヘッドに関し、詳しくは、金属磁
性薄膜を形成して磁路を短くすることによってインピー
ダンスを小さくした磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ヘッドは、例えばビデオテープレコ
ーダ(以下、VTRという。)等の磁気記録再生装置に
搭載されて、磁気記録媒体に対して情報信号の記録及び
/又は再生(以下、記録再生という。)を行うものであ
る。
【0003】磁気ヘッドにおいては、単結晶フェライト
等からなる一対の磁気コア半体のそれぞれの磁気ギャッ
プ形成面に金属磁性薄膜を成膜し、この一対の磁気コア
半体を磁気ギャップ形成面を突き合わせて接合一体化し
てなる、いわゆるメタル・イン・ギャップ(MIG)型
磁気ヘッドや、非磁性セラミック基板で金属磁性薄膜を
挟み込んだ形の、いわゆる積層型磁気ヘッドが提案さ
れ、実用化されている。
【0004】磁気ヘッドは、磁気記録の分野における記
録信号の高密度化やデジタル化に対応するために、より
高周波帯域で良好な電磁変換特性を示すことができるも
のが望まれている。また、VTR用の磁気ヘッドとして
は、小さなドラムに複数個搭載して装置の小型化・高性
能化に対応するために、小型化されることが望まれてい
る。
【0005】上述したMIG型磁気ヘッドは、インピー
ダンスが大きく高周波帯域での使用に適さない。また、
積層型磁気ヘッドは、記録信号の高密度化によるトラッ
ク幅の減少に伴い、磁路を形成する金属磁性薄膜の膜厚
を減少させる必要があるため、再生効率が低下してしま
う上に、ヘッドの小型化にも限界がある。
【0006】そこで、磁気ヘッドにおいては、高周波帯
域で良好な電磁変換特性を示すことのできる磁気ヘッド
として、例えば特開平6−259717号公報「磁気ヘ
ッド及びその製造方法」に記載されているように、金属
磁性薄膜を形成して磁路を短くすることによってインピ
ーダンスを小さくした、いわゆるバルク薄膜型磁気ヘッ
ドが提案されている。
【0007】バルク薄膜型磁気ヘッドは、基板上に金属
磁性薄膜が斜めに成膜されるとともに、薄膜コイルが形
成された凹部を有し、非磁性材料により突合せ面が平坦
化されてなる一対の磁気コア半体を備え、金属磁性薄膜
の突合せ面同士が非磁性薄膜を介して対向するようにこ
れら磁気コア半体が突き合わされて磁気ギャップが形成
されてなる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した磁
気ヘッドにおいては、記録信号に対応した磁界変化と電
流変化とを変換する薄膜コイルが、非磁性材料であるガ
ラスに形成された凹部内に形成されている。そのため、
このような磁気ヘッドを製造する際には、磁気コアとし
て金属磁性薄膜が斜めに形成された基板に対して、ガラ
スを完全に充填する必要がある。ガラスが完全に充填さ
れていない場合には、薄膜コイルを精度よく形成するこ
とが困難となり、磁気ヘッドにおける電磁変換特性が優
れたものとならない。したがって、充填されるガラスと
しては、融点の低い低融点ガラスが用いられている。
【0009】しかしながら、従来の磁気ヘッドにおいて
は、このような低融点ガラスを用いているために、非磁
性基板と低融点ガラスとが反応し、この基板又は低融点
ガラスの強度が劣化してしまうといった問題があった。
【0010】また、ヘッドの良好な電磁変換特性を得る
ためには、作製工程中に生じる低融点ガラスの残留応力
をできるだけ低くする必要があり、金属磁性薄膜及び低
融点ガラスに適した熱膨張係数を有する基板を用いる必
要がある。
【0011】そこで、本発明はこのような従来の実情に
鑑みて提案されたものであり、磁気ヘッド作製時におけ
る基板とガラスとの反応を防ぐことにより、電磁変換特
性を良好なものとした磁気ヘッドを提供することを目的
とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この目的を達成する本発
明に係る磁気ヘッドは、基板上に金属磁性薄膜が斜めに
成膜されるとともに、薄膜コイルが形成された凹部を有
し、ガラスにより突合せ面が平坦化されてなる一対の磁
気コア半体を備え、金属磁性薄膜の突合せ面同士が非磁
性薄膜を介して対向するようにこれら磁気コア半体が突
き合わされて磁気ギャップが形成された磁気ヘッドにお
いて、基板は、CaO、TiO2及びNiOを主成分と
する非磁性材料からなることを特徴とする。
【0013】以上のように本発明に係る磁気ヘッドによ
れば、基板が、CaO、TiO2及びNiOを主成分と
する非磁性材料からなることから、基板とガラスとの反
応が抑えられ、この基板又はガラスの強度が劣化するの
を防ぐことができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。本発明の実施
の形態として示す磁気ヘッド1は、図1及び図2に示す
ように、金属拡散接合により接合された一対の磁気コア
半体2、3から構成されている。この一対の磁気コア半
体2、3は、CaO、TiO2及びNiOを主成分とす
る非磁性材料からなる非磁性基板4と、この非磁性基板
4の傾斜面4a上に形成された金属磁性薄膜5と、この
非磁性基板4上に金属磁性薄膜5を覆うように形成され
た粘性係数が、102〜106Pa・sである低融点ガラ
ス6とからそれぞれ形成されている。また、一対の磁気
コア半体2、3は、少なくとも一方に、励磁用及び/又
は誘導起電圧検出用の薄膜コイル7(なお、図2におい
ては、薄膜コイル7の図示を省略する。)が形成されて
なる。
【0015】磁気ヘッド1においては、一対の磁気コア
半体2、3が非磁性薄膜であるギャップ材Gを介して接
合された状態で、金属磁性薄膜5が磁気コア8を形成す
る。磁気ヘッド1は、図中矢印Aで示す方向に磁気記録
媒体が摺動することにより、磁気記録媒体に記録された
信号磁界を磁気コア8が再生又は信号磁界を磁気コア8
が磁気記録媒体に記録して動作する。
【0016】また、この磁気ヘッド1は、磁気記録媒体
との当たり状態を調節するために、磁気記録媒体との摺
動面9が、磁気記録媒体の摺動方向Aと平行に、円弧状
に形成される。また、この磁気ヘッド1は、磁気記録媒
体との接触面積を調節するために、当たり幅規制溝10
が形成されている。この当たり幅規制溝10は、磁気記
録媒体の摺動方向Aと平行に、磁気ヘッド1の両側面に
形成されている。
【0017】この磁気ヘッド1において、金属磁性薄膜
5は、非磁性基板4上に所定の角度を以て斜めに形成さ
れた傾斜面4a上に形成されている。このため、磁気コ
ア8は、金属磁性薄膜5が形成された一対の磁気コア半
体2、3がギャップ材Gを介して接合されると、磁気記
録媒体の摺動方向Aに対して斜めに配されることとな
る。
【0018】なお、金属磁性薄膜5は、単一層からなる
金属磁性薄膜により構成されてもよいが、非磁性薄膜層
と磁性薄膜層とを交互に積層した構成にすることが望ま
しい。このことにより、磁気ヘッド1は、より高周波領
域において、感度が高いものとすることができる。
【0019】金属磁性薄膜5においては、その断面形状
が略コ字状を呈するように形成されている。すなわち、
金属磁性薄膜5は、磁気コア半体2、3の接合される面
側の端面の略中心部に凹部5aを有する。
【0020】このため、金属磁性薄膜5は、磁気コア半
体2、3の接合面2a,3aに前後方向に分断されて低
融点ガラス6から露出する、前部突合せ面11と後部突
合せ面12とを有することとなる。そして、一方の磁気
コア半体2の前部突合せ面11と、他方の磁気コア半体
3の前部突合せ面11とは、ギャップ材Gを介して突き
合わされてフロントギャップ13を構成する。また、一
方の磁気コア半体2の後部突合せ面12と、他方の磁気
コア半体3の後部突合せ面12とは、ギャップ材Gを介
して突き合わされてバックギャップ14を構成する。
【0021】また、金属磁性薄膜5は、接合面2a,3
aに、後部突合せ面12を略中心とした薄膜コイル7が
内部に形成されたコイル形成用凹部15を有する。この
コイル形成用凹部15には、後部突合せ面12の近傍に
コイル接続用端子16が形成されている。薄膜コイル7
は、このコイル形成用凹部15内に形成されて、中心側
の端部がコイル接続用端子16に接続されている。
【0022】コイル接続用端子16は、一対の磁気コア
半体2、3の接合面2a,3aと同一面を構成するよう
にそれぞれ高さ調節されて形成されている。そして、磁
気ヘッド1においては、一対の磁気コア半体2、3が接
合されると、一対のコイル接続用端子16も接合される
こととなる。これにより、この磁気ヘッド1において
は、一対の磁気コア半体2、3が接合されると、一対の
薄膜コイル7が電気的に接続されることとなる。
【0023】また、薄膜コイル7の外周側の端部は、磁
気記録媒体の摺動面9とは反対側へ導出されている。一
対の磁気コア半体2、3には、磁気記録媒体との摺動面
9とは反対側に、外部接続用端子17がそれぞれ形成さ
れている。そして、薄膜コイル7の外周側の端部は、こ
の外部接続用端子17と接続されている。
【0024】これら外部接続用端子17は、磁気ヘッド
1の側面に露出することによって、外部と薄膜コイル7
とを電気的に接続することができる。これら一対の外部
接続用端子17は、一対の磁気コア半体2、3を接合し
た際に短絡を発生させないように、一対の磁気コア半体
の2、3における高さが異なる位置にそれぞれ形成され
ている。
【0025】以上のように構成された磁気へッド1は、
磁気記録媒体に記録された磁気信号を再生する際に、磁
気記録媒体からの信号磁界がフロントギャップ13の周
辺に印加される。そして、印加される信号磁界の方向が
変化することによって、磁気コア8に流れる磁束の方向
が変化する。その結果、磁気ヘッド1では、電磁誘導が
起こり、薄膜コイル7に所定の電流が流れる。
【0026】また、この磁気ヘッド1を用いて磁気記録
媒体に磁気信号を記録する際には、薄膜コイル7に対し
て所定の電流が供給される。そして、この磁気ヘッド1
では、薄膜コイル7から発生する磁界により磁気コア8
に所定の磁束が流れる。これにより、この磁気ヘッド1
では、フロントギャップ13を挟んで漏れ磁界を発生す
る。磁気ヘッド1は、この漏れ磁界を磁気記録媒体に印
加することにより磁気信号を記録する。
【0027】次に、上述した磁気ヘッド1を作製する際
の製造方法について説明する。
【0028】先ず、磁気ヘッド1を作製する際には、図
3に示すように、略平板状の基板21を用意する。基板
21は、上述した磁気ヘッド1とした際の非磁性基板4
となるものであり、CaO、TiO2及びNiOを主成
分とし、その組成がCaO:40mol%、TiO2
50mol%、NiO:10mol%であり、且つ熱膨
張率が110×10-7[1/℃]であるセラミック基板
を用いた。また、基板21においては、その厚みを約2
mmとし、長さ及び幅を約30mmとした。
【0029】ここで、基板21として、CaO、TiO
2及びNiOを主成分とする非磁性材料を用いたのは、
この基板21に詳細を後述する低融点ガラスを充填する
際、この基板21と低融点ガラスとの反応を防ぐためで
ある。
【0030】また、基板21においては、その組成がC
aO:15〜45mol%、TiO2:40〜80mo
l%、NiO:5〜30mol%であり、且つ熱膨張率
が100×10-7〜130×10-7[1/℃]であるこ
とが好ましい。
【0031】CaOの含有量を15mol%以上とし、
TiO2の含有量を80mol%未満としたのは、Ca
Oの含有量が15mol%未満の場合、及びTiO2
含有量が80mol%を越える場合に、熱膨張係数が上
述した金属磁性薄膜5のそれよりもかなり小さくなって
しまうからである。また、CaOの含有量を45mol
%未満とし、TiO2の含有量を40mol%以上とし
たのは、CaOの含有量が45mol%を越える場合、
及びTiO2の含有量が40mol%未満の場合に、上
述した非磁性材料に気孔が多く発生してしまうからであ
る。
【0032】次に、図4に示すように、上述した基板2
1の一主面21aに対して、砥石等により、例えば、約
45度の角度を有するように複数の磁気コア形成溝22
を平行に形成する第1の溝加工を施す。そして、基板2
1には、磁気コア形成溝22が形成されることによっ
て、複数の傾斜面21bが形成されることとなる。
【0033】なお、ここで形成される傾斜面21bは、
円形状や多角形状であってもよい。また、傾斜面21b
は、基板21の平面に対して25〜60度程度の傾斜角
が望ましいが、疑似ギャップ防止やトラック幅精度を考
慮すると、35〜50度程度の傾斜角がより好ましい。
また、この第1の溝加工により形成する磁気コア形成溝
22は、例えばその深さを130μm程度とし、幅を1
50μm程度として形成した。
【0034】次に、図5に示すように、基板21の傾斜
面21bが形成された全面に対して、例えばBs=1.
5TのFe系微結晶膜からなる厚さ4μmの金属磁性薄
膜23を成膜する。この成膜工程においては、金属磁性
薄膜23を、例えばアルミナからなる厚さ0.15μm
の非磁性層を介して3層の金属磁性材料が積層されてな
るように成膜する(なお、図1及び図2においては、図
示を省略する。)。
【0035】金属磁性薄膜23を成膜するには、上述し
た金属磁性材料以外にも、センダスト(Fe−Al−S
i合金)等の軟磁性を示す材料を使用することができ、
これに類似した合金を使用することができる。具体的に
は、Fe−Ta−N合金、Fe−Al合金、Fe−Si
−Co合金、Fe−Ga−Si合金、Fe−Ga−Si
−Ru合金、Fe−Al−Ge合金、Fe−Ga−Ge
合金、Fe−Si−Ge合金、Fe−Co−Si−Al
合金、Fe−Ni合金等の結晶質合金を使用することが
できる。また、金属磁性材料としては、Fe,Co,N
iのうちの1以上の元素とP,C,B,Siのうちの1
以上の元素とからなる合金、又はこれを主成分としA
l,Ge,Be,Sn,In,Mo,W,Ti,Mn,
Cr,Zr,Hf,Nb等を含んだ合金等に代表される
メタル−メタロイド系アモルファス合金や、Co,H
f,Zr等の遷移金属と希土類元素を主成分とするメタ
ル−メタル系アモルファス合金等の非晶質合金を使用す
ることができる。さらに、金属磁性材料としては、窒化
系軟磁性合金又は炭化系軟磁性合金等を使用することが
できる。
【0036】また、金属磁性薄膜23を成膜する方法と
しては、マグネトロンスパッタリング法等のスパッタリ
ング法が好適であるが、真空蒸着法、分子線エピタキシ
ー(MBE)法等の他のPVD法(Physical vapor dep
osition method)、又はCVD法(Chemical vapor dep
osition method)等を用いることができる。
【0037】また、金属磁性薄膜23を複数層からなる
ように成膜する場合には、非磁性層として、アルミナを
使用したが、係る材料に限定されるものではなく、Si
2及びSiO等の材料を単独又は混合して使用するこ
とができる。この非磁性層の膜厚は、隣接して配される
金属磁性層間の絶縁を取れる程度とすることが好まし
い。
【0038】なお、金属磁性薄膜23においては、複数
層の金属磁性層を有するものに限定されず、単層の金属
磁性層からなるような構成であってもよい。しかしなが
ら、より高周波帯域で高い感度を得るためには、金属磁
性層を複数に分断した積層構造であることが好ましい。
これにより、金属磁性薄膜23は、渦電流損失が低減さ
れて、より高周波帯域で高い感度を得ることができる。
【0039】次に、図6に示すように、金属磁性薄膜2
3が形成された面に対して磁気コア形成溝22と略直交
する方向に第2の溝加工を施す。この第2の溝加工で
は、所定の大きさの磁気コアに分離するために形成され
る分離溝24と、この分離溝24により分離された各磁
気コアに磁気ギャップを形成するための巻線溝25とを
形成する。
【0040】また、このとき、傾斜面21b上に形成さ
れた金属磁性薄膜23以外の部分、すなわち、磁気コア
形成溝22の底部に形成された金属磁性薄膜23を研削
加工により除去する。
【0041】ここで、分離溝24は、磁気コアを基板2
1上で前後方向に磁気的に分離して各磁気コアを形成
し、各磁気コアに閉磁路を構成するための溝である。ま
た、この分離溝24は、図6の例示では2本形成されて
いるが、形成される磁気コア半体2、3の列の数だけ設
ける必要がある。また、この分離溝24は、前後方向に
並んで配される各磁気コアを磁気的に分離するため、金
属磁性薄膜23を完全に切断する程度の深さを有するよ
うに形成される必要がある。ここでは、分離溝24を磁
気コア形成溝22の底辺から150μmの深さとし、す
なわち、基板21の主面21aから280μmの深さと
した。
【0042】一方、巻線溝25は、上述した磁気ヘッド
1とした際の金属磁性薄膜5に形成された凹部5aとな
るものである。したがって、巻線溝25は、上述した磁
気ヘッド1とした際の前部突合せ面11と後部突合せ面
12とを有する磁気コア8を形成し、コイル形成用凹部
15を形成するために、金属磁性薄膜23を切断しない
程度の深さで形成する必要がある。このため、巻線溝2
5は、その表面に金属磁性薄膜23の断面が露出してな
る。
【0043】また、この巻線溝25は、その形状が前部
突合せ面11及び後部突合せ面12の長さに応じて決定
されるが、ここでは、幅を約140μmとし、前部突合
せ面11の長さが30μmとなり、後部突合せ面12の
長さが85μmとなるように形成した。なお、この巻線
溝25は、金属磁性薄膜23を切断することのない程度
の深さでよいが、深すぎると磁路長が長くなって磁束伝
達の効率が低下する虞がある。また、巻線溝25におい
ては、その深さが後述する工程で形成される薄膜コイル
7の厚みに依存するが、ここでは、20μmとした。
【0044】さらに、この巻線溝25は、その形状が限
定されるものではないが、ここでは、前部突合せ面11
側の側面を、例えば45度の傾斜面25aとした。これ
により、上述した磁気ヘッド1とした際、この磁気ヘッ
ド1の摺動面9に磁束が集中し、高い記録感度を得るこ
とができる。
【0045】次に、図7に示すように、磁気コア形成溝
22、分離溝24及び巻線溝25が形成された基板21
の一主面21aに、溶融した、例えばSiO2、Pb
O、B23及びBi23を主成分とし、520℃におけ
る粘度が約104.5Pa・sである低融点ガラス26
を充填させる。なお、金属磁性薄膜23においては、5
20℃の熱処理でHc≦30A/mの軟磁気特性が得ら
れる。
【0046】低融点ガラス26を充填するに際しては、
金属磁性薄膜23が良好な軟磁気特性を示す熱処理温度
で行うことが好ましい。これにより、金属磁性薄膜23
の熱処理工程と低融点ガラス26の充填工程とを同時に
行うことができる。
【0047】低融点ガラス26としては、金属磁性薄膜
23の熱処理温度での粘性が、102〜106Pa・sで
あるものを使用するが好ましい。さらに好ましくは、粘
性が103〜105Pa・sであるものを使用することが
好ましい。
【0048】ここで、上述した熱処理温度での粘度を1
2Pa・s以上としたのは、粘度が102Pa・sに満
たない場合に、この充填工程において金属磁性薄膜23
との反応が著しくなり、金属磁性薄膜23の磁気特性を
劣化させてしまうからである。また、上述した熱処理温
度での粘度を106Pa・s以下としたのは、粘度が1
6Pa・sを超えた場合に、基板21の隅々まで完全
に充填することが困難となってしまうからである。
【0049】これにより、金属磁性薄膜23が軟磁気特
性を失うことなく、基板21の一主面21aに形成され
た磁気コア形成溝22、分離溝24及び巻線溝25に、
低融点ガラス26を完全に充填することができる。
【0050】その後、この低融点ガラス26を冷却固化
させ、固化した低融点ガラス26の表面に対して平坦化
処理を施す。これにより、上述した磁気ヘッド1とした
際の金属磁性薄膜5の前部突合せ面11及び後部突合せ
面12が露出することになる。
【0051】なお、平坦化処理においては、研磨により
露出する金属磁性薄膜5の前部突合せ面11及び後部突
合せ面12の露出幅を大きくすると、薄膜コイル7を内
部に形成するためのコイル形成用凹部15を形成する
際、この基板21と低融点ガラス26とのエッチングレ
ートが異なることから、この基板21と低融点ガラス2
6との間に段差が生じることになる。したがって、この
平坦化処理においては、研磨により露出する金属磁性薄
膜5の前部突合せ面11及び後部突合せ面12の露出幅
を、形成される薄膜コイル7の最内周の幅よりも狭くす
ることが好ましい。
【0052】次に、図8に示すように、固化した低融点
ガラス26に対して砥石等を用いて研削加工を施すこと
により、端子溝27を形成する。この端子溝27は、上
述した分離溝24の直上に位置するように、例えばその
幅及び深さを100μmとして形成する。そして、この
端子溝27内に、例えばCu等の良導体を鍍金法等によ
り充填する。その後、再び平坦化処理を行う。この端子
溝27に充填されたCu等の良導体は、上述した磁気ヘ
ッド1とした際の外部接続用端子17となるものであ
る。
【0053】次に、図9に示すように、低融点ガラス2
6に対してエッチング加工を施すことにより上述した磁
気ヘッド1とした際のコイル形成用凹部15を形成す
る。
【0054】コイル形成用凹部15は、後部突合せ面1
2を略中心とする略矩形状として、後部突合せ面12及
び上述した磁気ヘッド1とした際のコイル接続用端子1
6となる部分を除いてエッチング加工を施すことにより
形成する。また、このコイル形成用凹部15は、その一
端から端子溝27に達する溝部15aを有している。
【0055】その後、コイル形成用凹部15内に上述し
た磁気ヘッド1とした際の薄膜コイル7を薄膜形成す
る。この薄膜コイル7は、一方端部7aをコイル接続用
端子16上に配し、後部突合せ面12を中心とした円を
描くように、多数回巻回された形状を有する。また、こ
の薄膜コイル7は、コイル形成用凹部15の一端に形成
された溝15a内に引き出され、他方端部7bを端子溝
27に充填された良導体からなる外部接続用端子17と
電気的に接続する。
【0056】この薄膜コイル7を形成する際には、先
ず、フォトレジストにより上述したようなコイル形状を
パターニングする。次に、コイル形成用凹部15にCu
等の良導体を電解鍍金等の手法によって、3μm程度の
厚みとなるように薄膜形成する。そして、フォトレジス
トを除去することによって、パターニングされたコイル
形状とされる薄膜コイル7を形成することができる。な
お、この薄膜コイル7を形成するに際して、上述した電
解鍍金法だけでなく、スパッタリング法や蒸着法等を用
いることができる。
【0057】次に、薄膜コイル7を外気との接触から保
護するための保護層(図示せず。)を形成する。この保
護層は、上述した薄膜コイル7を形成したコイル形成用
凹部15を埋め込むように形成される。なお、この保護
層は、酸素アッシング処理により除去されないような非
磁性絶縁材料から形成されることが好ましい。
【0058】具体的には、非磁性絶縁材料として、Al
23、Ta25、SiO2、ZrO2、TiO2等の酸化
物又はガラス等の無機物が挙げられる。ここでは、保護
膜としては、Al23をスパッタリングにより0.4μ
mの厚さで基板21全面に形成した。このとき、保護膜
は、基板21の一主面に露出した前部突合せ面11や後
部突合せ面12等も覆ってしまうが、後述する工程でこ
れらを覆う部分は除去される。なお、この保護膜は、い
わゆる、マスクスパッタ法やリフトオフ法を用いること
によって、所定の領域のみに形成することも可能であ
る。また、保護膜の形成法としては、スパッタリング法
の他に蒸着法や塗布型SiO2のスピンコーティング等
を挙げることができる。
【0059】さらに、薄膜コイル7を形成する工程の前
段において、低融点ガラス26等が露出する基板21の
一主面に対して、例えばCu、Au等の下地をスパッタ
リング等により形成してもよい。この下地としては、C
u,Auに限定されず、薄膜コイル7に用いられる材料
との密着性が良いものであればよい。
【0060】次に、図10に示すように、一主面に並列
して臨む前部突合せ面11を横切るように角状の溝であ
るサイド溝28を形成する。その後、上述した磁気ヘッ
ドとした際の磁気コア半体2、3が平行に複数列形成さ
れた基板21を一方の磁気コア半体2と他方の磁気コア
半体3とがそれぞれ一列毎となるように切断して磁気コ
ア半体ブロック29を形成する。
【0061】このサイド溝28は、研削加工により形成
され、例えばその深さを50μm、幅を400μmとさ
れる。このサイド溝28が形成されると、サイド溝28
の側面に前部突合せ面11の一端が露出することとな
る。このサイド溝30は、後述するように、一対の磁気
コア半体ブロック29を突き合わせる際に、位置決めの
指標として前部突合せ面11の上端部を露出させるため
に形成される。
【0062】そして、このサイド溝28が形成された
後、一主面に対して研磨加工を施すことにより、この一
主面を鏡面化する。このとき、保護膜により覆われた前
部突合せ面11や後部突合せ面12を外方へと露出させ
る。
【0063】次に、図11に示すように、一対の磁気コ
ア半体ブロック29を正確に位置決めして金属拡散接合
を行う。このとき、一対の磁気コア半体ブロック29
は、接合部に非磁性薄膜としてAuのパターニングを施
し、サイド溝28から臨む前部突合せ面11の上端部同
士を対向させることによって、正確に位置決めする。
【0064】このように、サイド溝28から臨む前部突
合せ面11の上端部を正確に対向させることにより、後
部突合せ面12やコイル接続用端子16(図示せず。)
を正確に対向させることができる。そして、突き合わせ
た一対の磁気コア半体ブロック29に対して所定の温度
及び圧力を印加することにより、金属拡散接合を行う。
【0065】なお、接合方法としては、Auのパターニ
ングを施して金属拡散接合を行ったが、非磁性薄膜とし
て、例えば接着剤や、水ガラス等を用いて一対の磁気コ
ア半体ブロック29を接合してもよい。
【0066】次に、図12に示すように、接合一体化さ
れた磁気ヘッドブロック30を個々の上述した磁気ヘッ
ド1となるように分離する。
【0067】このとき、先ず、磁気ヘッドブロック30
は、上述した磁気ヘッド1とした際の磁気記録媒体が摺
動する摺動面9となる表面を露出するために、長手方向
に切断加工する。そして、磁気ヘッドブロック30は、
この露出した表面に対して、円筒形を呈するように円筒
切削加工を施すことにより、この表面が摺動面9とな
る。その後、磁気ヘッドブロック30には、上述した磁
気ヘッド1とした際の当たり幅規制溝10を研削加工す
る。当たり幅規制溝10は、磁気ヘッドブロック30か
ら分離される摺動面9の両側面に相当する部位に形成さ
れることになる。
【0068】そして、磁気ヘッドブロック30、同図B
−B線で示す部分で切断することにより、個々の上述し
た磁気ヘッド1に分離する。
【0069】なお、個々の磁気ヘッド1とするに際して
は、基板21を一列毎となるように切断して磁気コア半
体ブロック29とし、この一対の磁気コア半体ブロック
29を接合一体化した磁気ヘッドブロック30を切断す
ることにより個々の磁気ヘッド1としたが、基板21を
個々の磁気コア半体とした後、これら磁気コア半体同士
を接合一体化して個々の磁気ヘッド1としてもよい。
【0070】ここで、比較例として従来用いられていた
熱膨張率が110×10-7[1/℃]のMnO−NiO
系セラミック基板を用いて磁気ヘッドを作製した。
【0071】この場合、MnO−NiO系セラミック基
板では、低融点ガラスを充填させた際、基板と低融点ガ
ラスとの界面付近において、この基板と低融点ガラスと
の反応が見られた。そのため、基板と低融点ガラスとの
間に割れが生じてしまい、磁気ヘッド作製時における歩
留りが上述した磁気ヘッド1の1/5以下であった。
【0072】このことから、基板21として、CaO、
TiO2及びNiOを主成分とする非磁性材料を用いる
ことは、磁気ヘッド作製時における歩留りを向上させる
上で有効であることが明らかとなった。
【0073】以上のように本発明に係る磁気ヘッド1に
よれば、非磁基板4となる基板21が、CaO、TiO
2及びNiOを主成分とする非磁性材料からなることか
ら、磁気ヘッド作製時における基板21と低融点ガラス
26との反応が抑えられ、この基板21又は低融点ガラ
ス26の強度が劣化することを防ぐことができ、良好な
電磁変換特性を得ることができる。
【0074】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明に係
る磁気ヘッドによれば、基板が、CaO、TiO2及び
NiOを主成分とする非磁性材料からなることから、磁
気ヘッド作製時における基板とガラスとの反応が抑えら
れ、この基板又はガラスの強度が劣化するのを防ぐこと
ができ、良好な電磁変換特性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る磁気ヘッドを示す分解斜視図であ
る。
【図2】同磁気ヘッドの摺動面を示す要部斜視図であ
る。
【図3】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、基板を示す斜視図である。
【図4】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、第1の溝加工を施した基板を示す斜視図である。
【図5】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、金属磁性薄膜を形成した基板を示す斜視図であ
る。
【図6】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、第2の溝加工を施した基板を示す斜視図である。
【図7】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、各溝に低融点ガラスを充填した状態の基板を示す
斜視図である。
【図8】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、低融点ガラスに端子溝を形成した基板を示す斜視
図である。
【図9】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図で
あり、コイル形成用凹部を形成した基板を示す要部斜視
図である。
【図10】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図
であり、磁気コア半体ブロックを示す斜視図である。
【図11】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図
であり、一対の磁気コア半体ブロックを突き合わせる状
態を示す斜視図である。
【図12】同磁気ヘッドの製造方法を説明するための図
であり、磁気ヘッドブロックを示す斜視図である。
【符号の説明】
1 磁気ヘッド、2 一方の磁気コア半体、2a 一方
の磁気コア半体の接合面、3 他方の磁気コア半体、3
a 他方の磁気コア半体の接合面、4 非磁性基板、5
金属磁性薄膜、6 低融点ガラス、7 薄膜コイル、
8 磁気コア、9 磁気記録媒体との摺動面、11 前
部突合せ面、12 後部突合せ面、13フロントギャッ
プ、14 バックギャップ、15 コイル形成用凹部、
16コイル接続用端子、17 外部接続用端子、21
基板、22 磁気コア形成溝、23 金属磁性薄膜、2
4 分離溝、25 巻線溝、26 低融点ガラス、27
端子溝、28 サイド溝、29 磁気コア半体ブロッ
ク、30 磁気ヘッドブロック
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小形 誠一 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 Fターム(参考) 5D093 AA01 BB05 BB18 BC07 BC18 BD01 BD08 FA12 FA21 HB15 JB10 5D111 AA22 BB31 BB37 BB48 FF15 FF21 FF44 FF46 FF47

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に金属磁性薄膜が斜めに成膜され
    るとともに、薄膜コイルが形成された凹部を有し、ガラ
    スにより突合せ面が平坦化されてなる一対の磁気コア半
    体を備え、上記金属磁性薄膜の上記突合せ面同士が非磁
    性薄膜を介して対向するように、これら磁気コア半体が
    突き合わされて磁気ギャップが形成された磁気ヘッドに
    おいて、 上記基板は、CaO、TiO2及びNiOを主成分とす
    る非磁性材料からなることを特徴とする磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 上記基板においては、その組成がCa
    O:15〜45mol%、TiO2:40〜80mol
    %、NiO:5〜30mol%であり、且つ熱膨張率が
    100×10-7〜130×10-7[1/℃]であること
    を特徴とする請求項1記載の磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 上記ガラスにおいては、上記金属磁性薄
    膜の熱処理温度での粘度が102〜106Pa・sである
    ことを特徴とする請求項1記載の磁気ヘッド。
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