JP2000113146A - 非接触式icカード - Google Patents

非接触式icカード

Info

Publication number
JP2000113146A
JP2000113146A JP28648298A JP28648298A JP2000113146A JP 2000113146 A JP2000113146 A JP 2000113146A JP 28648298 A JP28648298 A JP 28648298A JP 28648298 A JP28648298 A JP 28648298A JP 2000113146 A JP2000113146 A JP 2000113146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
card
line
operation area
lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP28648298A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4154629B2 (ja
Inventor
Hironobu Ishizaka
裕宣 石坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP28648298A priority Critical patent/JP4154629B2/ja
Publication of JP2000113146A publication Critical patent/JP2000113146A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4154629B2 publication Critical patent/JP4154629B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】カードへの曲げ、押し荷重に対するICチップ
の割れおよび/またはICチップと線路の断線の発生を
抑制できる、非接触式ICカードを提供する。 【解決手段】アンテナコイルと、ICチップと、必要な
場合に他の電子部品と、これらを電気的に接続する線路
と、プラスチックフィルム又はシート等からなる被覆部
材等により構成されるICカードであって、前記ICチ
ップには回路を形成した動作エリアとその動作エリアの
周囲にダミーエリアが設けられ、動作エリアとダミーエ
リアの境界にハーフカットの溝を有するものを用いた非
接触式ICカードおよび/または、ICチップのバンプ
に接続される線路が、少なくとも同じ接続を行う線路と
して2本以上である非接触式ICカード。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、誘導電磁界を伝送
媒体として情報伝達するための非接触式ICカードに関
する。
【0002】
【従来の技術】非接触式ICカードは、伝送媒体により
電磁結合方式、電磁誘導方式、電波方式等に分類され
る。このうち、電磁結合及び電磁誘導方式の構成は、巻
線コイルとIC及びコンデンサ等の電子部品を実装した
回路板を、プラスチック樹脂よりなるハウジングに収納
したものが一般的であった。
【0003】しかし、巻線コイルを用いた場合は、カー
ドの薄型化および組立て工数の低減が困難であり、昨今
では図4に示すような、プラスチックフィルム7b上に
エッチングや印刷法によりアンテナコイル6と線路4を
形成し、バンプ3が形成されたICチップ1を異方導電
性接着剤5により前記線路4の上にフェースダウンにて
ベアチップ実装し、これらを接着剤8a、8bとプラス
チックフィルム7a、7cで被覆した非接触式ICカー
ドが提案され、実用化されてきている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図4に
示すような非接触式ICカードに、曲げ耐久試験とIC
チップ1の周辺部への押し荷重耐久試験を行うと、IC
チップ1が割れたりまたはICチップ1のバンプ3とア
ンテナコイル6を接続する線路4とが断線することがあ
るという課題があった。
【0005】本発明は、このようなカードへの曲げ、押
し荷重に対するICチップの割れおよび/またはICチ
ップと線路の断線の発生を抑制できる、非接触式ICカ
ードを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の非接触式ICカ
ードは、アンテナコイルと、ICチップと、必要な場合
に他の電子部品と、これらを電気的に接続する線路と、
プラスチックフィルム又はシート等からなる被覆部材等
により構成されるICカードであって、前記ICチップ
には回路を形成した動作エリアとその動作エリアの周囲
にダミーエリアが設けられ、動作エリアとダミーエリア
の境界にハーフカットの溝を有するものを用いたことを
特徴とする。
【0007】また、本発明の非接触式ICカードは、ア
ンテナコイルと、ICチップと、必要な場合に他の電子
部品と、これらを電気的に接続する線路と、プラスチッ
クフィルム又はシート等からなる被覆部材等により構成
されるICカードであって、ICチップのバンプに接続
される線路が、少なくとも同じ接続を行う線路として2
本以上であることを特徴とする。
【0008】前期、回路を形成した動作エリアとその動
作エリアの周囲にダミーエリアが設けられ、動作エリア
とダミーエリアの境界にハーフカットの溝を有するIC
チップのバンプに接続される線路も、少なくとも同じ接
続を行う線路として2本以上であることが好ましい。
【0009】ICチップのバンプに接続される2本以上
の線路のうち、少なくとも2本の線路がICチップのバ
ンプを交点として直行する方向に形成されていれば、よ
り好ましい。
【0010】線路と、ICチップ及び必要な場合の他の
電子部品とは、異方導電性接着剤によって接続されてい
ることが好ましい。
【0011】少なくとも、アンテナコイルとICチップ
とは、直接、異方導電性接着剤によって、フェイスダウ
ンに接続されていることが好ましい。
【発明の実施の形態】
【0012】本発明に用いるアンテナコイルは、導電性
インクをシクルクスクリーン印刷することによって形成
することもでき、また、金属箔の不要な箇所をエッチン
グ除去することによっても形成することができる。
【0013】ICチップは、通常の回路を形成した動作
エリアとその周囲のダミーエリアを備え、その間にハー
フカットの溝を形成したものを用いることが好ましく、
動作エリアの部分を、ダミーエリアの間隔だけ広くした
ピッチでウエハ上に形成したものをダイシングソーなど
によって切り分け、そのときに、同じダイシングソーを
用いて、ハーフカットの溝を形成することによって作製
することができる。
【0014】必要な場合の他の電子部品は、例えば、ア
ンテナ回路の共振用のコンデンサ、非接触式ICカード
との信号を伝達するリーダ/ライタからの信号を整流す
るダイオード、その整流された信号を平滑化する平滑コ
ンデンサなどがあり、これらを、個別の部品として搭載
することもでき、また、ICチップの中に作り込むこと
もできる。
【0015】アンテナコイルとICチップと必要な場合
に他の電子部品を電気的に接続する線路は、アンテナコ
イルと同時に同じ方法で形成することが好ましく、アン
テナコイルを跨ぐ部分のみ、裏面の回路をスルーホール
を用いて接続したり、アンテナコイルを跨ぐように絶縁
樹脂を形成してその上に導体を形成することができる。
【0016】プラスチックフィルム又はシート等からな
る被覆部材は、ポリエチレンテレフタレートフィルムな
どの安価な材料を用いることが好ましい。
【0017】ICチップのバンプに接続される線路を、
少なくとも同じ接続を行う線路として2本以上とするこ
とが、1本の線路が断線しても他方が残る可能性が高
く、この、ICチップのバンプに接続される2本以上の
線路のうち、少なくとも2本の線路がICチップのバン
プを交点として直行する方向に形成されていれば、2本
以上の線路が断線するときに加わる力が分散できより好
ましい。
【0018】線路と、ICチップ及び必要な場合の他の
電子部品とは、異方導電性接着剤を用いて接続すること
ができる。この異方導電性接着剤は、エポキシ樹脂など
と導電粒子からなるものであり、フィルム状のものをラ
ミネートする方法、または、接着剤を塗布する方法によ
って線路の上に形成でき、接続するICチップまたは電
子部品を重ねて、加熱・加圧することにより接続するこ
とができる。
【0019】ICチップを動作エリアとその周囲のダミ
ーエリアとを備え、その境界にハーフカットの溝を設け
ることによって、ICカードに曲げ、押し荷重等が加わ
りICが割れる際、まずICのハーフカットの溝の部分
で割れが生じ、その後は、ダミーエリアが動作エリアの
保護部材として機能するため、動作エリアの割れが生じ
にくくなる。
【0020】また、ICチップの1つのバンプに接続さ
れる線路を2本以上とすることにより、ICカードに曲
げ等が加わりICチップのバンプに接続される線路に断
線が生じた場合でも、複数の線路が接続されているの
で、カードとしての機能は保たれる。
【0021】
【実施例】図3に示すように、厚さ50μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルム(以下、PETという。)
からなるプラスチックフィルム7bの面上に導電性イン
クをスクリーン印刷することにより、アンテナコイル6
と、IC1のバンプ3に対して2方向から布線される形
の線路4を形成した。このときに、アンテナコイル6を
跨ぐ箇所は、間にソルダーレジストインクをスクリーン
印刷して、その上に導電性インクをスクリーン印刷して
接続した。前記IC1のサイズは、外形6mm角、厚さ
280μmとし、外周1.5mmをダミーエリア1b、
中央部の3mm角を動作エリア1aとし、境界の0.2
5mm幅にダイシング加工時にデバイス面側から深さ1
80μmのハーフカットの溝2を設け、更に接続パッド
上にAuめっきによるバンプ3を形成した。前記IC1
の前記線路4への実装は、異方導電性接着剤5を介し
て、フェースダウンによるベアチップ実装とした。前記
ICを実装した前記プラスチックフィルム7bをプラス
チックフィルム7a、7cおよび接着剤8a、8bを積
層することにより被覆し、所定の寸法に打抜くことによ
り、非接触式ICカードを形成した。
【0022】このようにして作製した非接触式ICカー
ドを、曲げ耐久試験とICチップ1の周辺部への押し荷
重耐久試験を行ったところ、100枚で、ICチップの
割れと線路の断線は全く発生しなかった。
【0023】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によっ
て、カードへの曲げ、荷重負荷によるICチップの割れ
または線路の断線の発生を抑制できる、非接触式ICカ
ードを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すICチップの構成図。
【図2】本発明の他の実施例を示す線路の構成図。
【図3】本発明の一実施例を示す非接触式ICカードの
構成図。
【図4】従来例を説明するための非接触式ICカードの
構成図。
【符号の説明】
1.ICチップ 1a.
動作エリア 1b.ダミーエリア 2.ハ
ーフカットの溝 3.バンプ 4.線
路 5.異方導電性接着剤 6.ア
ンテナコイル 7a、7b、7c.プラスチックフィルム 8a、
8b.接着剤

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アンテナコイルと、ICチップと、必要な
    場合に他の電子部品と、これらを電気的に接続する線路
    と、プラスチックフィルム又はシート等からなる被覆部
    材等により構成されるICカードであって、前記ICチ
    ップには回路を形成した動作エリアとその動作エリアの
    周囲にダミーエリアが設けられ、動作エリアとダミーエ
    リアの境界にハーフカットの溝を有するものを用いたこ
    とを特徴とする非接触式ICカード。
  2. 【請求項2】アンテナコイルと、ICチップと、必要な
    場合に他の電子部品と、これらを電気的に接続する線路
    と、プラスチックフィルム又はシート等からなる被覆部
    材等により構成されるICカードであって、ICチップ
    のバンプに接続される線路が、少なくとも同じ接続を行
    う線路として2本以上であることを特徴とする非接触式
    ICカード。
  3. 【請求項3】ICチップのバンプに接続される線路が、
    少なくとも同じ接続を行う線路として2本以上であるこ
    とを特徴とする請求項1に記載の非接触式ICカード。
  4. 【請求項4】ICチップのバンプに接続される2本以上
    の線路のうち、少なくとも2本の線路がICチップのバ
    ンプを交点として直行する方向に形成されていることを
    特徴とする請求項2または3に記載の非接触式ICカー
    ド。
  5. 【請求項5】線路と、ICチップ及び必要な場合の他の
    電子部品とが、異方導電性接着剤によって接続されてい
    ることを特徴とする請求項1〜4のうちいずれかに記載
    の非接触式ICカード。
  6. 【請求項6】少なくとも、アンテナコイルとICチップ
    とが、直接、異方導電性接着剤によって、フェイスダウ
    ンに接続されていることを特徴とする請求項1〜5のう
    ちいずれかに記載の非接触式ICカード。
JP28648298A 1998-10-08 1998-10-08 非接触式icカード Expired - Fee Related JP4154629B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28648298A JP4154629B2 (ja) 1998-10-08 1998-10-08 非接触式icカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28648298A JP4154629B2 (ja) 1998-10-08 1998-10-08 非接触式icカード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000113146A true JP2000113146A (ja) 2000-04-21
JP4154629B2 JP4154629B2 (ja) 2008-09-24

Family

ID=17704977

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28648298A Expired - Fee Related JP4154629B2 (ja) 1998-10-08 1998-10-08 非接触式icカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4154629B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006043685A1 (en) * 2004-10-19 2006-04-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having antenna and method for manufacturing thereof
JP2006146890A (ja) * 2004-10-19 2006-06-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd アンテナおよびその作製方法並びに当該アンテナを備えた半導体装置およびその作製方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006043685A1 (en) * 2004-10-19 2006-04-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having antenna and method for manufacturing thereof
JP2006146890A (ja) * 2004-10-19 2006-06-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd アンテナおよびその作製方法並びに当該アンテナを備えた半導体装置およびその作製方法
US8178958B2 (en) 2004-10-19 2012-05-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having antenna and method for manufacturing thereof
KR101176027B1 (ko) * 2004-10-19 2012-08-24 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 안테나를 구비한 반도체장치 및 그 제조 방법
US9559129B2 (en) 2004-10-19 2017-01-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having antenna and method for manufacturing thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP4154629B2 (ja) 2008-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100416410B1 (ko) 비접촉식ic카드및그제조방법
EP1976060B1 (en) Antenna built-in module, card type information device and methods for manufacturing them
JP2004310619A (ja) Icカードの製造方法
EP1538559A1 (en) Method of manufacturing RFID
KR20010005659A (ko) 납땜 와이어로 접속된 안테나를 갖는 무접촉 카드 제조 방법
JP2007193598A (ja) Icカード
JP4154629B2 (ja) 非接触式icカード
JP3661482B2 (ja) 半導体装置
JP2000113144A (ja) 非接触式icカード
JPH10337982A (ja) 非接触式icカード
JPH11175676A (ja) 非接触式icカード
JP3753984B2 (ja) 非接触通信機器用モジュール及びその製造方法
KR101037639B1 (ko) Rfid 태그 및 rfid 태그 제조 방법
JPH11259615A (ja) Icカード
JP4693295B2 (ja) 回路の形成方法
JP2001056850A (ja) 非接触交信機能付きicモジュールと接触型非接触型共用icカード
JP5377225B2 (ja) 通信システム、rfidタグの製造方法及びrfidタグ
JPH104122A (ja) 半導体装置
JP2005354110A (ja) 非接触通信機器用モジュール、icカード、非接触通信機器用モジュールの製造方法
JP4734742B2 (ja) Icモジュールとその製造方法
JP3764213B2 (ja) Icカード及びその製造方法
JP4518921B2 (ja) Icカード及びその製造方法
JP4783997B2 (ja) 接触・非接触兼用型icモジュールとその製造方法
JP2002133385A (ja) 非接触、接触両用型icモジュール及びicカード
JP2004206194A (ja) 非接触型icカード

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051006

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071213

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080212

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080311

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080512

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080612

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080625

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110718

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110718

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110718

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120718

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees