JP2000111595A - リレー診断装置および診断方法 - Google Patents
リレー診断装置および診断方法Info
- Publication number
- JP2000111595A JP2000111595A JP10280691A JP28069198A JP2000111595A JP 2000111595 A JP2000111595 A JP 2000111595A JP 10280691 A JP10280691 A JP 10280691A JP 28069198 A JP28069198 A JP 28069198A JP 2000111595 A JP2000111595 A JP 2000111595A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- relay
- contact
- power supply
- measured
- supply voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/0015—Means for testing or for inspecting contacts, e.g. wear indicator
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
でも、グループ単位でも測定可能とする診断装置及び方
法の提供。 【解決手段】被測定リレー10のリレー接点16の一端
15に電源電圧Vccを印可し被測定リレーの駆動コイ
ル11にはスイッチ28を介して電源電圧を印可し、リ
レー接点の他端14が、トランジスタ26のベースに接
続され、リレー接点動作時に、リレー接点の他端14)
を介してトランジスタ27のベースに電源電圧が印可さ
れトランジスタ27がオンしLED26が発光する。
Description
関し、特にリレー接点の動作試験を行なう装置及び方法
に関する。
の技術の構成を示す図であり、特開平9−17304号
公報に提案される方法を示した図である。図4を参照す
ると、テストヘッド部42に、リレー駆動電圧可変用の
電源コントロール部42cと、テスタ本体部41からの
リレー劣化診断プログラムによって制御されるリレー測
定部42aとを有し、このリレー測定部42aは、リレ
ー接点の動作時間、接触抵抗、動作電圧、リレー劣化状
態を把握してその良否を判定する。すなわち、リレー駆
動信号がコイルに印加されてから接点が動作するまでの
時間、または、印加されなくなってから接点が動作する
までの時間や、接点の接触抵抗、またはリレーの動作電
圧(接点が動作する最低の印加電圧)あるいは接点間の
リーク電流等を測定し、それぞれの基準値と、比較する
ことで、リレーの劣化状態を判定し、劣化している場
合、警報信号を出力する。
置の動作を簡単に説明する。テスト診断プログラムで、
被測定リレーのコイルに電圧をかけるテストパターンを
作成して、リレー接点55に対応するコイルに電位をか
ける。その電位によってリレー接点55がクローズして
電流が流れる。その時の電流等をDC判定部57で測定
する。
診断装置には劣化診断プログラム部(テストパターン)
が必ず必要であり、その為にテスタ本体部41と、テス
トヘッド42が必要である。さらに、プログラムを動作
させるのでリレーは必ず基板上に装着されていなければ
ならない。
は、テスタ本体部41側の不良か、テストヘッド部42
の不良か、基板の不良か、リレーの劣化であるのか、直
ちに特定することができない場合もあり、各々のテスト
を単独で行わないと、不良の真の原因は特定できない。
さらに、テスタ本体が必要なので装置が大型になるとい
う欠点もある。
てなされたものであって、その目的は、テストパターン
を要することなく、リレー単体でも測定可能とする診断
装置及び方法を提供することにある。
−97481号には、被試験リレー接点の両端子間に挿
入される擬似負荷回路が、直流電源、定電流回路、フォ
トカプラを備えた装置が開示されている。また特開平3
−103775号公報には、電子部品の動作の良否を発
光ダイオードの点灯により判定する方法が開示されてい
る。
明は、被測定リレーのリレー接点の一端に電源電圧を印
可し、前記被測定対象の駆動コイルにはスイッチを介し
て電源電圧を印可し、前記リレー接点の他端が、リレー
の動作状態を示す手段に接続され、前記リレー接点動作
時に、前記リレー接点の他端を介して、前記電源電圧
が、前記リレーの動作状態を示す手段に供給される。
する。被測定リレー(図2の10)のリレー接点(図2
の16)の一端(図2の15)に電源電圧(Vcc)を
印可し、被測定リレーの駆動コイル(図2の11)には
スイッチ(図2の28)を介して電源電圧を印可し、リ
レー接点の他端(図2の14)が、リレーの動作状態を
示す手段(図2の、トランジスタ27、LED26)に
接続され、リレー接点動作時に、前記リレー接点の他端
(図2の14)を介して、電源電圧(Vcc)が、リレ
ーの動作状態を示す手段に供給される。すなわち、LE
D(図2の26)と電源電圧との間に挿入されたトラン
ジスタ(図2の27)のベースに前記リレー接点の他端
(図2の14)が接続され、前記リレー接点(図2の1
6)がクローズした(閉じた)ときに、トランジスタ
(図2の27)がオンしLED(図2の26)のカソー
ドに前記電源電圧が印可される。
ーの端子(図2の12〜15)は、前記スイッチ、前記
リレーの動作状態を示す手段が搭載された試験装置基板
にピンジャック方式で接続される(図1参照)。
コイルに接続する一の端子と、前記リレー接点に接続す
る一端を棒状のプローブから電源電圧を供給し、前記リ
レー接点の他端に接続する端子をプローブを介して、前
記リレーの動作状態を示す手段に接続するようにしても
よい。
子には、電圧可変型電源からの電圧を供給するようにし
てもよい。
ンを要しないので、リレーを基板に装着する必要がな
く、リレー単体でも診断できる。また、リレーと診断装
置の接続には、挿入するタイプのほかに、テスター棒の
ようなものを使ってプローブする方式とすることで、基
板に装着したままでもリレー単体としてのテストが出来
る。
に説明する。図1は、本発明の一実施例の構成を示す図
であり、一つのリレーを診断する装置の最も簡単な装置
構成を示す図である。
ー10の接続端子に対応する位置に、リレー端子(ピ
ン)が挿入されるコンタクト部(ジャック)22、2
3、24、25が設けられており、リレー10の接点1
6を駆動するコイル(ソレノイドコイル)11に接続さ
れる端子22は、不図示のスイッチ(図2の28)を介
して電源電位Vccに接続している。
接続する端子24はLED(発光ダイオード)ランプ2
1を介して、リレー10の駆動コイル11に接続する端
子12に接続したものと同じ電源電位(Vcc)が接続
されている。
駆動コイル11に接続する端子にはスイッチを介して電
源電位を接続しているが、リレーの動作電圧を詳細に測
定する場合には、印加電圧を制御できる電源回路を介し
て電源電位と接続する。
施例において、リレーを基板20に実装した際の回路構
成を示す図である。
レノイドコイル11に電流が流れたときに、その電流の
向きによって発生する電磁力よって、クローズ/オープ
ン(オン/オフ)する。
てコイル11の一端12を電源電位(Vcc)に接続
し、他端13は接地電位に接続する。
5(基板のジャック25)は、電源電位(Vcc)に接
続し、他端14(基板のジャック24)はトランジスタ
27のベースに接続している。
(Vcc)に、エミッタをLEDランプ26のカソード
に接続しており、スイッチ28をオン状態とし、リレー
接点16がクローズすると、トランジスタ27のベース
にVCCが印可されてオンし、LEDランプ26が点灯
する。またスイッチ28をオフすると、リレー接点16
はオープンする。
形図であり、リレー10の駆動コイル11の端子間にか
かる電圧と、その時に対応して、リレーの接点16に流
れる電流との対応を、正常なリレーと、劣化したリレー
とで比較して示した波形図である。
電圧が高くなるとリレーの接点16が電磁石に引き寄せ
られて、接点16がクローズして電流が流れる。この接
点16がクローズするときのリレーのコイル11端子1
2、13間に印可される電圧がリレーの動作開始電圧と
してデータシート等に製品仕様として記載されている電
圧である。この電圧が一定の値にないと、リレー動作
は、製品不良となり、誤動作の原因となる。
は、接点16のばね(弾性力)が劣化し弱くなっている
ために、コイル11端子間にかかる電圧が、正常なリレ
ーの場合と比べて、低い電圧で接点16がクローズ(オ
ン)する。同様の理由で、劣化したリレーでは、オープ
ンになる場合も、接点のばねの弾性力が弱くなっている
ため、コイル11端子間にかかる電圧は低い電圧で接点
16がオープンとなる。
例として、リレーの端子と診断装置(基板)との接続
は、挿入式のピン・ジャック方式、もしくはZIF(Ze
ro Insertion Force)ソケット等を用いて構成されて
いるが、テスター棒(プローブ)等のように、被試験対
象リレー端子に接触して電気的導通を得ることが出来る
もので、端子挿入式のもの以外のものであってもよい。
まま、リレー単体の診断が出来るという利点があり、リ
レーの種類、実装基板の種類に関係なく、リレーの診断
が出来る。
を介して電源電位に接続しているが、電圧が可変に設定
可能な電源を接続してもよい。この場合、どの電圧レベ
ルでリレー10の接点16がクローズするのかという詳
細な試験が行なえる。
Dランプ26は電流が流れたことを表示するためのもの
であり、テスタ等の電流計であってもよい。
リレーを診断するためのテストパターンを用いていない
ため、診断の結果不良になったときに、リレー不良であ
るのかテストパターン発生器不良によるものか、アイソ
レートすることが不要とされ、試験を簡易化するという
効果を奏する。
生器が不要であるため、リレー診断装置を小型化するこ
とができる。
いてリレー端子をプローブすることにより、実機の基板
にリレーを装着したままでもリレー単体としてのテスト
が出来るという効果を奏する。
ミング図である。
である。
である。
3)
明は、リレー接点の一端が電源に接続され駆動コイルの
一端が前記電源にスイッチを介して接続された被測定リ
レーと、コレクタが前記電源に接続されベースが前記リ
レー接点の他端に接続されたバイポーラトランジスタ
と、前記バイポーラトランジスタのエミッタに接続され
前記リレーの動作状態を示す動作状態表示手段と、を含
み、前記リレー接点の動作時に、前記バイポーラトラン
ジスタがオン状態となり、前記電源からの電圧が前記動
作状態表示手段に供給される、ことを特徴とする。
する。被測定リレー(図2の10)のリレー接点(図2
の16)の一端(図2の15)に電源電圧(Vcc)を
印加し、被測定リレーの駆動コイル(図2の11)には
スイッチ(図2の28)を介して電源電圧を印加し、リ
レー接点の他端(図2の14)が、リレーの動作状態を
示す手段(図2の、トランジスタ27、LED26)に
接続され、リレー接点動作時に、前記リレー接点の他端
(図2の14)を介して、電源電圧(Vcc)が、リレ
ーの動作状態を示す手段に供給される。すなわち、LE
D(図2の26)と電源電圧との間に挿入されたトラン
ジスタ(図2の27)のベースに前記リレー接点の他端
(図2の14)が接続され、前記リレー接点(図2の1
6)がクローズした(閉じた)ときに、トランジスタ
(図2の27)がオンしLED(図2の26)のカソー
ドに前記電源電圧が印加される。
(Vcc)に、エミッタをLEDランプ26のカソード
に接続しており、スイッチ28をオン状態とし、リレー
接点16がクローズすると、トランジスタ27のベース
にVCCが印加されてオンし、LEDランプ26が点灯
する。またスイッチ28をオフすると、リレー接点16
はオープンする。
電圧が高くなるとリレーの接点16が電磁石に引き寄せ
られて、接点16がクローズして電流が流れる。この接
点16がクローズするときのリレーのコイル11端子1
2、13間に印加される電圧がリレーの動作開始電圧と
してデータシート等に製品仕様として記載されている電
圧である。この電圧が一定の値にないと、リレー動作
は、製品不良となり、誤動作の原因となる。 ─────────────────────────────────────────────────────
13)
明は、リレー接点と駆動コイルとを有する被測定リレー
を診断するリレー診断装置において、前記被測定リレー
のリレー接点の一端に接続されるとともに、前記被測定
リレーの駆動コイルの一端にスイッチを介して接続され
る電源と、コレクタが前記電源に接続されベースが前記
リレー接点の他端に接続されるバイポーラトランジスタ
と、前記バイポーラトランジスタのエミッタに接続され
前記被測定リレーの動作状態を示す動作状態表示手段
と、を含み、前記リレー接点の動作時に、前記バイポー
ラトランジスタがオン状態となり、前記電源からの電圧
が前記動作状態表示手段に供給される。
ーの端子(図2の12〜15)は、前記スイッチ、前記
リレーの動作状態を示す手段が搭載された診断装置の基
板にピンジャック方式で接続される(図1参照)。
コイルに接続する一の端子と、前記リレー接点の一端に
接続する一の端子とに、棒状のプローブから電源電圧を
供給し、前記リレー接点の他端に接続する端子をプロー
ブを介して前記リレーの動作状態を示す手段に接続する
ようにしてもよい。
ー10の接続端子に対応する位置に、リレー端子(ピ
ン)が挿入されるコンタクト部(ジャック)22、2
3、24、25が設けられており、リレー10の接点1
6を駆動するコイル(ソレノイドコイル)11に接続さ
れる端子22は、不図示のスイッチ(図2の28)を介
して電源電位Vccに接続している。
の回路構成を示す図であり、図1のリレー10を診断装
置の基板20に実装した際の回路構成の一具体例を示す
図である。
Claims (8)
- 【請求項1】被測定リレーのリレー接点の一端に電源電
圧を印可し、 前記被測定リレーの駆動コイルにはスイッチを介して電
源電圧が印可され、 前記リレー接点の他端が、リレーの動作状態を示す手段
に接続され、 前記リレー接点動作時に、前記リレー接点の他端を介し
て、前記電源電圧が、前記リレーの動作状態を示す手段
に供給される、ことを特徴とするリレー診断装置。 - 【請求項2】前記リレーの動作状態を示す手段が、LE
D、もしくは、電流計よりなる、ことを特徴とする請求
項1記載のリレー診断装置。 - 【請求項3】前記LEDと電源電圧との間に挿入された
スイッチ・トランジスタのベースに前記リレー接点の他
端が接続され、前記リレー接点がクローズしたときに、
前記トランジスタがオンし前記LEDのカソードに前記
電源電圧が印可される、ことを特徴とする請求項1記載
のリレー診断装置。 - 【請求項4】前記被測定リレーの端子が、前記スイッ
チ、前記リレーの動作状態を示す手段が搭載された試験
装置にピンジャック方式で接続される、ことを特徴とす
る請求項1乃至3のいずれか一に記載のリレー診断装
置。 - 【請求項5】前記被測定リレーのリレーの駆動コイルに
接続する一の端子と、前記リレー接点に接続する一端を
棒状のプローブから電源電圧を供給し、前記リレー接点
の他端に接続する端子をプローブを介して、前記リレー
の動作状態を示す手段に接続する、ことを特徴とする請
求項1乃至3のいずれか一に記載のリレー診断装置。 - 【請求項6】前記被測定リレーの駆動コイルには電圧可
変型電源からの電圧を供給することを特徴とする請求項
1乃至5のいずれか一に記載のリレー診断装置。 - 【請求項7】被測定リレーのリレーの駆動コイルと、リ
レー接点の一端に電源電圧を印可し、 前記リレー接点の他端を、LED、もしくは、電流計よ
りなるリレーの動作状態を示す表示手段に接続し、 前記リレー接点動作時に、前記リレー接点の他端を介し
て、前記電源電圧が、前記表示手段に供給され、その動
作状態が表示される、ことを特徴とするリレー診断方
法。 - 【請求項8】前記被測定リレーのリレーの駆動コイルに
接続する一の端子と、前記リレー接点に接続する一端を
棒状のプローブから電源電圧を供給し、前記リレー接点
の他端に接続する端子をプローブを介して、前記表示部
に接続する、ことを特徴とする請求項7記載のリレー診
断方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10280691A JP3071768B2 (ja) | 1998-10-02 | 1998-10-02 | リレー診断装置および診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10280691A JP3071768B2 (ja) | 1998-10-02 | 1998-10-02 | リレー診断装置および診断方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000111595A true JP2000111595A (ja) | 2000-04-21 |
JP3071768B2 JP3071768B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=17628608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10280691A Expired - Fee Related JP3071768B2 (ja) | 1998-10-02 | 1998-10-02 | リレー診断装置および診断方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3071768B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190041259A (ko) * | 2017-10-12 | 2019-04-22 | 주식회사 엘지화학 | 컨택터 코일 전류를 이용한 컨택터 수명 진단 시스템 및 방법 |
KR102293128B1 (ko) * | 2020-10-15 | 2021-08-25 | 주식회사 무하기술 | 릴레이 성능시험 시스템 |
KR102461682B1 (ko) * | 2022-03-11 | 2022-10-31 | 송규호 | 다층구조 계전기 통합 시험장치 |
-
1998
- 1998-10-02 JP JP10280691A patent/JP3071768B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190041259A (ko) * | 2017-10-12 | 2019-04-22 | 주식회사 엘지화학 | 컨택터 코일 전류를 이용한 컨택터 수명 진단 시스템 및 방법 |
KR102295771B1 (ko) * | 2017-10-12 | 2021-08-31 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 컨택터 코일 전류를 이용한 컨택터 수명 진단 시스템 및 방법 |
US11287476B2 (en) | 2017-10-12 | 2022-03-29 | Lg Energy Solution, Ltd. | System and method for diagnosing contactor lifetime by using contactor coil current |
KR102293128B1 (ko) * | 2020-10-15 | 2021-08-25 | 주식회사 무하기술 | 릴레이 성능시험 시스템 |
KR102461682B1 (ko) * | 2022-03-11 | 2022-10-31 | 송규호 | 다층구조 계전기 통합 시험장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3071768B2 (ja) | 2000-07-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010170554A (ja) | 電気回路の機能検査方法 | |
JP4211368B2 (ja) | 表示駆動回路の試験方法 | |
JP3071768B2 (ja) | リレー診断装置および診断方法 | |
KR102185209B1 (ko) | 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 | |
US10937615B2 (en) | Testable sealed relay and self-diagnosing relay | |
US6541992B2 (en) | Apparatus and method for continuity testing of pogo pins in a probe | |
CN100390551C (zh) | 平面显示器的测试装置及其操作方法 | |
JP3588221B2 (ja) | 回路基板検査装置の計測部自己診断装置 | |
JPH11231022A (ja) | 半導体装置の検査方法および検査装置 | |
KR100385398B1 (ko) | 접속 점검 기능을 가진 집적 회로 번인 장치, 검사용 기판 및 접속 점검 방법 | |
JPH03252565A (ja) | 配線基板検査装置 | |
JPH0926451A (ja) | リレーコイルの劣化診断装置 | |
KR0175828B1 (ko) | 부하 자기진단장치 | |
JPH11160389A (ja) | 半導体試験装置 | |
JPH0637781U (ja) | プルアップ抵抗の検査装置 | |
JP2002090414A (ja) | 半導体試験装置 | |
JPH05142293A (ja) | Icテスト方法、及びそのテスタ | |
KR100441089B1 (ko) | 집적회로 검사장치 및 그 검사방법 | |
JP2006038791A (ja) | プローバ針切り換え装置、プローバ装置および半導体素子測定方法 | |
JP2002139543A (ja) | 検査装置 | |
JP2001318120A (ja) | 表示機能付き電子部品及び電子部品の異常表示方法 | |
JPH05312877A (ja) | エージング基板の検査装置及びそれを用いた検査方法 | |
KR100701374B1 (ko) | 반도체 소자의 아이디디큐 불량분석 방법 | |
KR20050023706A (ko) | 이디에스 검사 시스템 | |
KR950001311A (ko) | 릴레이 기능검사용 보조기구 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000509 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |